Seria XT H. Technologia X-ray i CT do zastosowań przemysłowych NIKON METROLOGY VISION BEYOUND PRECISION

Transkrypt

1 Seria XT H Technologia X-ray i CT do zastosowań przemysłowych NIKON METROLOGY VISION BEYOUND PRECISION

2 Uzyskaj obraz skomplikowanych części przemysłowych, poprzez wgląd w ich wewnętrzną strukturę. Następnie wykorzystaj możliwości CT do zakwalifikowania i wyznaczenia wymiarów wewnętrznych oraz zewnętrznych w prosty i nieniszczący sposób. Przemysłowe systemy X-ray i CT pozwalają uzyskać wysoką dokładność i możliwość jednoczesnego pomiaru wymiarów wewnętrznych oraz zewnętrznych bez konieczności niszczenia części. Co więcej, zapewniają, dodatkowy wgląd w czwarty wymiar - gęstość materiału i jego strukturę, dzięki czemu technologia CT jest niezbędnym narzędziem w przemyśle produkcyjnym. Wykazujące szeroki zakres zastosowań Technologia mikrofokus X-ray i CT rozwinęły się w ciągu ostatnich dziesięciu lat do tego stopnia, że jest to główny nurt technologii metrologicznej używanej w różnorodnych zastosowaniach. Zakres zastosowań stale rozszerza się poprzez przemysł samochodowy, lotniczy, energetyczny, a także dla sektora medycznego i odbiorców indywidualnych, tworzyw sztucznych, metali i materiałów egzotycznych. Ponad 25 lat doświadczenia w X-ray i CT Nikon Metrology, jako firma posiadająca kilkaset zainstalowanych systemów przemysłowych do kontroli jakości, dużo czasu poświęca na rozwój technologii mikrofokus X-ray i CT. Specjaliści od CT w mieście Tring w Anglii, opracowują kompletne systemy, zawierające własnej budowy lampy rentgenowskie mikrofokus, precyzyjne 5-osiowe w pełni programowalne manipulatory i szybki program do rekonstrukcji, który pracuje na stacjach roboczych. Komercyjne firmy i organizacje badawcze zakupują systemy X-ray i CT, które różnią się wielkością od najmniejszych do niestandardowych, 50-tonowych 450 kv pomieszczeń do inspekcji CT. Każdego dnia ponad 2500 systemów wykonuje przekroje 2D oraz skanuje trójwymiarowe chmury punktów począwszy od najmniejszych mikronowych komponentów do wielkich próbek.

3 Wprowadzenie do przemysłowych systemów mikrofokus X-ray i CT Technologia X-ray Technologia X-ray (lub radiografia) jest w zasadzie prostym procesem. Obiekt jest umieszczony na obrotowym stole pomiędzy lampą rentgenowską a detektorem. Wysokiej jakości lampa rentgenowska mikrofokus firmy Nikon, generuje wiązkę promieniowania rentgenowskiego, które przechodzi przez próbkę. Następnie cyfrowy, płaski detektor odbiera obraz składający się z wielu odcieni szarości, spowodowany absorpcją promieniowania rentgenowskiego przechodzącego przez obiekt w zależności od materiału i geometrii. Dla grubszego lub bardziej gęstego materiału takiego jak żelazo, miedź czy ołów obszar będzie ciemniejszy, niż dla cienkich lub lekkich materiałów takich jak tworzywo sztuczne papier czy powietrze. Przysunięcie próbki bliżej źródła promieniowania rentgenowskiego powoduje powiększenie otrzymywanego obrazu. Gdy obiekt jest obracany wokół własnej osi, podczas wykonywania zdjęć rentgenowskich generowany jest jego pełny trójwymiarowy obraz. Tomografia Komputerowa (CT) Do wygenerowania pełnego trójwymiarowego obrazu wykonywana jest seria kolejnych dwuwymiarowych zdjęć rentgenowskich 2D gdy obiekt obraca się o 360 stopni. Następnie przy użyciu skomplikowanego algorytmu oprogramowania do rekonstrukcji 3D zdjęcia te są rekonstruowane w obraz trójwymiarowy. Dodatkowo oprócz zewnętrznej powierzchni zrekonstruowany obraz zawiera wszystkie informacje dotyczące wewnętrznych powierzchni i struktury, a także informacje o czwartym wymiarze gęstości materiału. Jest zatem możliwe poruszanie się po każdym punkcie, we wszystkich płaszczyznach w całej objętości zrekonstruowanego obiektu. W rezultacie nawet wewnętrzne pomiary mogą być łatwo mierzalne, jak również możliwość zlokalizowania istotnych niedoskonałości struktury oraz wychwycenia ewentualnych błędów montażowych zwykle niewidocznych przy użyciu tradycyjnych metod badań nieniszczących NDT. Zastosowanie do wielu aplikacji Obrazowanie rentgenowskie w czasie rzeczywistym jest zazwyczaj stosowane do szybkich ręcznych lub automatycznych kontroli wizyjnych, skanowanie CT stosowane jest do dogłębnej analizy, wspierania badań i rozwiązywania problemów: kontrola defektów analiza porowatości kontrola montażu analiza uszkodzeń kontrola materiałów metrologia wymiarowa szybkie prototypowanie porównanie geometrii z modelem CAD Cząstki złota w kamieniu Kompozyty Piana Odlewy naczyniowe - wątroba Skamielina Puszka pianki do golenia Złącze Tłok Łopatka turbiny 3

4 At the heart of the image Lampy rentgenowskie Własnej produkcji To co wyróżnia tomografy firmy Nikon Metrology to ogromna wiedza oraz unikalna technologia w dziedzinie X-ray i CT, które pozwalają firmie Nikon Metrology uzyskać miejsce lidera wśród producentów i projektować kompletne oraz innowacyjne rozwiązania na potrzeby rynku, oferując przeszło 25-letnie doświadczenie. Wszystkie typy lamp rentgenowskich mają konstrukcję otwartą, co znacząco zmniejsza koszty utrzymania. Wszystkie typy tomografów począwszy od nisko- (130 kv) poprzez średnio- (225 kv) do wysokonapięciowych (450kV) gwarantują pomiary z dokładnością rzędu mikrometrów. 225 kv ultrafokus z tarczą obrotową Dzięki 225 kv oraz minimalną wielkością plamki 3 µm, 225 kv mikrofokus staje się najbardziej uniwersalną lampą Nikona. Elastyczne opracowanie do radzenia sobie z różną wielkością oraz gęstością próbek. Nikon Metrology jest jedyną firmą, która produkuje przemysłową lampę 225 kv z tarczą obrotową. Zastosowanie tarczy obrotowej powoduje, że wiązka elektronów pada na ruchomą zamiast na przytwierdzoną powierzchnię, czego efektem jest o wiele bardziej skuteczne chłodzenie. Pozwala to skanować obiekty szybciej lub bardziej gęstych z wyższą dokładnością, niż może to być wykonane za pomocą zwykłej 225 kv. 450 kv (high-brilliance) Jedyna na świecie lampa 450 kv typu mikrofokus wnosi do przemysłu najwyższą wydajność dla detali małych o wysokiej gęstości lub małych i średnich odlewów z niezrównaną dokładnością i rozdzielczością, dostarczając 25 µm powtarzalności i dokładności skanowania. Lampa firmy Nikon 450 kv high-brilliance dostarcza stałą moc 450W bez jakichkolwiek ograniczeń czasowych pomiaru, podczas gdy wielkość plamki pozostaje mniejsza co zdecydowanie skraca czas skanowania CT. Zbieranie danych do 5 razy szybciej, lub w podobnym czasie z lepszą dokładnością niż dla zwykłej lampy 450 kv. 180 kv lampa trnasmisyjna Stosowana do próbek mniejszych niż 10 mm takich jak małych rdzeni skalnych lub kości. Maksymalne napięcie lampy wynosi 180 kv uzyskując przy tym minimalną wielkość plamki 1 um, niezastąpioną do wysokiej dokładności skanów CT. Źródło 320 kv Lampa 320 kv jest wyjątkowym źródłem mikrofokus stosowana do próbek zbyt dużych lub gęstych dla 225 kv przy jednoczesnym zachowaniu małej wielkości plamki. Idealna dla rdzeni skalnych i małych odlewów. Lampa ta jest opcjonalna w XT H 225/320 LC. 4

5 Wejście w świat X-ray i CT XT H 225 Wszechstronna kontrola X-Ray i CT Wychwycenie szczegółów, pomiar wewnętrznych części i cech montażowych komponentów ma często kluczowe znaczenie dla kontroli jakości, analizy braków i badania materiału. Pierwsze systemy XT H 160 i uniwersalny XT H 225 posiadają lampy rentgenowskie mikrofokus, szeroki obszar skanowania, wysoką rozdzielczość otrzymanego obrazu i są gotowe do bardzo szybkiej rekonstrukcji CT. Obejmują one szeroki zakres zastosowań, w tym inspekcje elementów plastikowych, małych odlewów oraz złożonych mechanizmów, jak również badania materiałów i okazów naturalnych. Wymienne moduły tarcz transmisyjnych i odbiciowych Lampa rentgenowska 160kV lub 225kV mikrofokus Ergonomiczny załadunek próbki do badań Przestrzeń pomiarowa 200 x 300 x 610 mm Wymienne tarcze transmisyjne i odbiciowe Podwójny ekran do systemu sterowania i obrazowania Konstrukcja kompaktowa i niska waga ułatwia instalację Łatwa obsługa Użytkownicy są zdolni do pracy z urządzeniem po zaledwie kilku dniach szkolenia. Oprogramowanie prowadzi operatorów poprzez proces akwizycji danych. Konfigurowalne makra automatyzują przebieg procesu pomiaru oraz ścisła integracja ze standardem przemysłowym i post-processingiem usprawnia procesy decyzyjne. Elastyczność Specyficzne zastosowania wymagają bardziej szczegółowych obrazów lub lepszej dokładności. XT H 225 może być skonfigurowany z różnymi detektorami (Varian, Perkin Elmer) lub lampami rentgenowskimi (odbiciowa, transmisyjna), aby dostosować odpowiednią rozdzielczość do potrzeb próbek: pełny udział dla niskiej jasności i wysokiej rozdzielczości w określonym regionie zainteresowania. Płaskie detektory o wysokiej rozdzielczości i mały rozmiar plamki pozwalają uzyskać dobry i ostry obraz. Niski koszt utrzymania Niezależnie od wyboru tarczy system XT H 225 wykorzystuje lampę otwartą (open-tube), która gwarantuje niski koszt utrzymania. Otwarta lampa pozwala na konserwację wewnętrznych jej części, a nie całej lampy. Niezależny system XT H 225 pozwala na szybką jego instalację. Nie są wymagane żadne specjalne modyfikacje podłoża. 5

6 Wszechstronna kontrola X-Ray i CT XT H 225 ST XT H 225 ST jest systemem tomografii komputerowej (CT) idealnie nadającym się do szerokiego zakresu materiałów i rozmiaru próbek szczególnie tych, które są zbyt duże lub ciężkie dla innych systemów o tym zakresie. System posiada trzy wymienne lampy rentgenowskie: 225 kv z tarczą odbiciową, 180 kv z tarczą transmisyjną i 225 kv z tarczą obrotową. W połączeniu z szeroką gamą dostępnych detektorów system ST staje się elastycznym narzędziem dla laboratoriów jakości, zakładów produkcyjnych i działów badawczych. Duża przestrzeń pomiarowa System XT H 225 ST jest rozszerzoną wersją XT H 225, zdolnego do pomiaru różnego rodzaju próbek, które są zbyt duże lub ciężkie dla innych systemów w tym zakresie. Duża przestrzeń pomiarowa, wychylenie osi i możliwość wyboru lampy rentgenowskiej od 180 kv do 225 kv sprawia, że system ten jest wszechstronnym narzędziem do pomiaru od małych i lekkich do dużych i ciężkich próbek w każdej branży. Badania i rozwój Obrazy wysokiej jakości Próbki wielomateriałowe lub gorzej pochłaniające promieniowanie rentgenowskie są lepiej skanowane przy użyciu detektora Perkin Elmer posiadającego najwyższy zakres dynamiczny wśród oferowanych detektorów. Wysokiej jakości dane uzyskuje się w CT poprzez wysokiej rozdzielczości płaskie wielopikselowe panele. W obudowie tomografu ST można zamocować wysokiej rozdzielczości (2000 x 2000 pikseli) detektor Perkin Elmer, który oferuje dwa razy lepszą rozdzielczość niż mniejsze systemy XT H 160 i 225. Zmotoryzowany FID Zdolność do przesuwania detektora bliżej lampy rentgenowskiej może być kontrolowana za pomocą komputera w systemie ST. Tłumienie promieniowania X spada gdy wiązka przemieszcza się z punktu ogniskowania do detektora. Krótszy FID (odległość punktu ogniskowania do detektora) oznacza, że strumień promieniowania jest powiększony i co za tym idzie czas skanowania może być zredukowany. Alternatywnie krótszy FID może dawać jaśniejsze obrazy przy użyciu niskiej energii promieniowania rentgenowskiego. Oba te zjawiska są korzystne, gdy duże powiększenie nie jest czynnikiem ograniczającym. 6

7 Pierwszy krok w stronę wysokonapięciowego mikrofokus XT H 225/320 LC XT H 225/320 LC posiada dużą kabinę do skanowania rentgenowskiego i pomiarów dużych komponentów. System ten można wyposażyć w źródło 225 kv, 225 kv z tarczą obrotową lub 320 kv mikrofokus zapewniając do 320 W mocy. Płaski panel o wysokiej rozdzielczości jest używany do zbierania wysokiej jakości obrazów. System jest sterowany za pomocą programu Inspect-X, który sprawia, że zbieranie danych CT i konfiguracja pomiarów jest bardzo łatwa. System zapewnia możliwość zapisywania danych w formacie dostępnym dla standardowych programów przemysłowych. Pierwszy mikrofokus 320 kv Nikon Metrology otwiera nowe możliwości w mikro-ct dodając mocniejsze źródła mikrofokus do swojego portfolio. XT H 225/320 LC zapewnia silniejsze źródło promieniowania rentgenowskiego, które jest w stanie wykonać bardzo dokładną kontrolę gęstych, przemysłowych obiektów. Rozszerzona przestrzeń pomiarowa, oraz duże drzwi zapewniają możliwość skanowania obiektów znacznie większych, nawet do 100 kg, niż dla standardowego systemu XT H 225. Większe i bardziej gęste próbki Większość dostawców może zaoferować źródła mikrofokus do 225 kv, natomiast ich silniejsze źródła to już minifokusy. W przypadku skanowania większych próbek, często potrzeba większej mocy penetracyjnej i dlatego Nikon Metrology oferuje unikatową lampę rentgenowską 320 kv mikrofokus. Jako że wielkość plamki dla źródeł mikrofokus jest o rząd wielkości mniejsza niż dla źródeł minifokus, użytkownicy mogą korzystać z najwyższej rozdzielczości, dokładności oraz w szerszym zakresie mierzalnych części. Z wszystkimi systemami CT firmy Nikon Metrology możesz: Weryfikować złożone struktury wewnętrze Izolować i sprawdzać uwzględnione komponenty Zmierzyć wymiary wewnętrze bez cięcia próbki Automatycznie wykryć i zmierzyć wady wewnętrzne Z łatwością pokazać powierzchnie zewnętrze jak i wewnętrzne Zmniejszyć całkowity czas kontroli Zmniejszyć liczbę iteracji do dokładnej regulacji parametrów przedprodukcyjnych 7

8 Najwyższej mocy na świecie źródło X-ray mikrofokus XT H 450 Manipulator o dużej ładowności Masa części do 100kg System XT H 450 oferuję niezbędne źródło do penetracji części o dużej gęstości i generuje obrazy przestrzenne CT z dokładnością do mikronów. U podstaw tej potężnej maszyny jest lampa rentgenowska mikrofokus 450 kv, która zapewnia lepszą rozdzielczość i dokładność do mocy 450 W, jednocześnie oferując wystarczającą moc promieniowania by przeniknąć przez gęste próbki. System wyposażony jest w płaskipanel (do pomiarów 3D) lub firmową, zakrzywioną, liniową matrycę diodową (CLDA Curved Linear Diode Array) (do pomiarów 2D). Detektor ten optymalizuje zbieranie promieni rentgenowskich bez przechwytywania niepożądanych rozproszonych promieni X-ray. 450kV Mikrofokus Jedyna na rynku otwarta lampa rentgenowska 450 kv mikrofokus na tym poziomie energii dostarczająca +/- 25 µm dokładności pomiaru! Rozmiar plamki jest znacznie mniejszy od istniejących na rynku źródeł minifokus o podobnej mocy i co za tym idzie poziom dokładności jaki osiąga źródło mikrofokus jest nieporównywalnie lepszy od minifocusów. Ze źródłem high-brilliance (o podwyższonej dokładności) można zbierać dane do 5 razy szybciej nie tracąc jednocześnie na jakości otrzymanych obrazów lub zbierać dane z wyższą dokładnością przy podobnym czasie trwania skanowania. XT H 450 jest rozwiązaniem głównie dla przemysłu odlewniczego, lotniczego i samochodowego. Tomograf XT H 450 pozwala na bardzo precyzyjną kontrolę defektów wewnątrz elementów trudnych do pomiaru na tomografach o niższej mocy. Unikalna technologia CLDA Kiedy promienie rentgenowskie uderzają w obiekt są one nie tylko absorbowane, ale także i rozpraszane. Jest to niepożądane zjawisko, które pogarsza się wraz ze wzrostem gęstości badanego materiału. Rozproszenie pochodzące ze wszystkich punktów zmniejsza czułość kontrastu, co jest widoczne na panelach płaskich. Firma Nikon Metrology opracowała własny detektor liniowy CLDA, który optymalizuje zbieranie promieni rentgenowskich przechodzących przez obiekt bez przechwytywania niepożądanych, rozproszonych promieni. Poprzez uniknięcie zanieczyszczenia obrazu i związanego z tym zmniejszenia kontrastu CLDA realizuje doskonałą ostrość i kontrast obrazu. Liniowa matryca diodowa jest zakrzywiona w celu dalszej poprawy jakości, utrzymując stałą długość drogi promieni rentgenowskich do receptorów diodowych w linii prostej. Pozwala to na zwiększeniu stosunku sygnału do szumu. Niskie koszty utrzymania dzięki otwartej konstrukcji lampy Kontrola odlewów Źródła mikrofokus na tym poziomie energii są potrzebne do przeprowadzenia bardzo dokładnej kontroli dla gęstych przemysłowych obiektów, takich jak grube odlewy. XT H 450 3D to system zaprojektowany, aby zapewnić, wiodącą w branży, wydajność w skanowaniu dużych obiektów, w których rozproszenie nie jest czynnikiem ograniczającym tj. dużych odlewów o niskiej gęstości itd. System zawiera źródło 450 kv mikrofokus zapewniając do 450 W mocy, panel z amorficznego krzemu do zbierania wysokiej jakości zdjęć radiograficznych i precyzyjnego manipulatora CT. Dla odlewów o większej gęstości, które wykazują rozproszenie, XT H 450 może stworzyć odwzorowanie 3D obiektu poprzez łączenie przekrojów 2D otrzymanych przez detektor liniowy CLDA. 8

9 Obudowa ochronna - brak narażenia na szkodliwe promieniowanie Płaski panel i CLDA Możliwość wyboru płaskiego panelu lub CLDA lub obu, w zależności od zastosowań Dwa monitory Obrazowanie pełnoekranowe i sterowanie oprogramowaniem Nikon Metrology 450kV Jedyne w świecie źródło 450 kv mikrofokus, teraz dostępne także o podwyższonej dokładności (high-brilliance) Szerokie drzwi Dostęp do kabiny zapewniony przez duże, sterowane pneumatycznie drzwi Kontrola łopatek turbin XT H 450 stawia nowy punkt odniesienia dla pomiaru łopatki turbiny. Źródło 450 kv w połączeniu z technologia CLDA jest idealne do radiografii i kontroli CT jak również metrologii małych i średnich łopatek turbin ze stopów metalowych. System ten zapewnia wystarczającą moc, aby przeniknąć przez element i wygenerować nierozproszone odzwierciedlenie objętości CT. System jest przyjazny w środowisku produkcyjnym, zapewnia automatyczną akwizycję danych, wysoką szybkość rekonstrukcji CT i kontroli bazowanych na łopatkach turbin, generuje raporty zgodny/niezgodny dla każdego skanowanego detalu. Producenci łopatek mogą uruchomić szczegółową kontrolę metrologiczną swoich wyrobów (np. grubość ścianek) by zoptymalizować zużycie paliwa silników odrzutowych. Kiedy wykonywana jest radiografia i kontrola CT łopatek turbin, nieprzetworzone zdjęcia i szczegółowe informacje przedmiotu, takie jak profile łopatek oraz grubości ścianek wewnętrznych i zewnętrznych, są przechowywane do identyfikacji i późniejszej analizy. 9

10 Przetwarzanie o wysokiej wydajności Intuicyjna wizualizacja i analiza Interaktywne i przyjazne dla użytkownika oprogramowanie ma istotne znaczenie w ocenie złożonych wewnętrznych struktur detali i wykonywaniu dokładnych kontroli. Narzędzia programowe poprowadzą Cię do zdobycia wymaganych informacji, za pomocą najbardziej zaawansowanych funkcji wizualizacji i analizy. Opracowane w celu usprawnienia procesu kontroli i pomiarów, oprogramowanie firmy Nikon Metrology do inspekcji X-ray i CT umożliwia przeprowadzenie pierwszych inspekcji w czasie kilku minut, zamiast godzin lub dni. Największą zaletą pakietu oprogramowania XT jest doświadczenie firmy Nikon Metrology, a także stały rozwój w dziedzinie poprawy wydajności i uproszczenia operacji, przenosząc je z rąk ekspertów w ręce użytkowników. Obecnie oprogramowanie XT przynosi również najszybszą rekonstrukcję danych CT dostępną na pojedynczym komputerze. Komputer ten jest złożony ze standardowych komponentów do wspomagania użytkowania. Wydajność można ponadto poprawić poprzez użycie kolejnych komputerów. Całkowity system jest również gotowy dla rynku wiodących oprogramowań w dziedzinie wizualizacji i przetwarzaniu CT, takich jak VGStudioMax firmy Volume Graphics. Kontrola X-ray w czasie rzeczywistym Interaktywny joystick do intuicyjnego pozycjonowania części. Bardzo szybka akwizycja skanów rentgenowskich. Zintegrowane narzędzia do wyświetlania i analizy. Możliwość pomiaru na ekranie. Wsparcie dla danych wymiarowych i adnotacyjnych. Programowalne makra dla automatycznych powtórzeń Rekonstrukcja CT Precyzyjna rekonstrukcja 3D przy użyciu stacji roboczej. Szybka i całkowita rekonstrukcja do ogólnej analizy. Szczegółowa rekonstrukcja do analizy określonych obszarów. Tworzenie przekrojów CT. Analiza CT offline Analiza offline na specjalnej stacji PC do wizualizacji. Tworzenie filmów skomplikowanych struktur wewnętrznych. Porównanie do modelu CAD powierzchni zewnętrznych i wewnętrznych (opcjonalnie). Wykrycie elementów geometrycznych 3D (opcjonalnie) Niestandardowe rozwiązania konfiguracji systemu Gdy standardowe systemy X-ray lub CT nie są w stanie spełnić waszych wymagań, Nikon Metrology może zaprojektować system dostosowany do waszych potrzeb. Specjaliści z firmy Nikon Metrology budują kompletne systemy skonfigurowane na potrzeby klientów, zawierających rozmiar kabiny, rodzaj manipulatora, detektora, funkcji oprogramowania, itp. Analiza CT szczęki dinozaura 10

11 Szeroki zakres zastosowań Kontrola jakości, analiza defektów i badanie materiału Gdy struktura wewnętrzna ma znaczenie, technologia X-ray i CT są skutecznym narzędziem i mają na celu uzyskanie cennych informacji. Wykrycie szczegółów i pomiary wewnętrznych cech ma często kluczowe znaczenie dla kontroli jakości, analizy defektów i badań materiału w różnych gałęziach przemysłu. Wykrywanie braków i analiza defektów. Kontrola montażu skomplikowanych mechanizmów. Wymiarowanie pomiarów wewnątrz komponentów. Porównywanie do modelu CAD. Zaawansowane badania materiału. Analiza struktur biologicznych. Cyfrowa akwizycja modeli. Dziedziny zastosowań Motoryzacyjny Złącza elektryczne. Dysze wtryskowe. Czujniki (np. czujniki Lambda). Przezroczyste deski rozdzielcze (LED light pipes). Małe wysokociśnieniowe części odlewnicze np. turbosprężarka. Lotniczy Pozycjonowanie rdzeni w wosku dla łopatek turbin. Analiza pęknięć w komponentach Kontrola łopatek. Odlewnictwo tworzyw sztucznych Złożone element z tworzyw sztucznych (np. wentylator). Miękkie przezroczyste materiały, niemożliwych do zmierzenia stykowo ani optycznie. Ultradźwiękowe spawy elementów z tworzyw sztucznych. Farmaceutyczny / medyczny Dozowniki medyczne. Małe instrumenty. Małe elementy kompozytowe lub z tworzyw sztucznych. Struktury kostne. Badania Weryfikacja i analiza materiału (np. struktura, porowatość, wady). Paleontologia (np. kości, czaszki, skamieliny). Geologia i gleboznawstwo. Archeologia. 11

12 XT_H_Family_EN_0614 Copyright Nikon Metrology NV All rights reserved. The materials presented here are summary in nature and intended for general information only. XT H 160 XT H 225 XT H 225 ST XT H 320 XT H 450 Na zamówienie Specyfikacja Źródło mikrofokus Max kv Max moc WIelkość plamki 160 kv Xi, Tarcza odbiciowa 160 kv 60 W 3 µm do 7 W 60 µm dla 60 W 160 kv Tarcza odbiciowa 160 kv 225 W 3 µm do 7 W 225 µm dla 225 W 180 kv Tarcza transmisyjna 180 kv 20 W 1 µm do 3 W 10 µm dla 10 W 225 kv Tarcza odbiciowa 225 kv 225 W 3 µm do 7 W 225 µm dla 225 W 225 kv Tarcza obrotowa 225 kv 450 W 10 µm do 30 W 113 µm dla 450 W 320 kv Tarcza odbiciowa 320 kv 320 W 30 µm do 30 W 300 µm dla 320 W 450 kv Tarcza odbiciowa 450 kv 450 W 80 µm do 200 W 320 µm dla 450 W 450 kv Źródło High brilliance 450 kv 450 W 80 µm do 200 W 113 µm dla 450 W 750 kv ze zintegrowanym gen. 750 kv 750 W 30 µm do 70 W 190 µm dla 750 W Piksele WIelkość Max szybkość dla Max szybkość dla Detektory l. Bitów aktywne piksela binningu 1x1 binnigu 2x2 Varian bit 1000 x µm 10 fps 30 fps Varian bit 1900 x µm 7.5 fps 15 fps Varian bit 2300 x µm 3 fps 7 fps Perkin Elmer bit 1000 x µm 7.5 fps 15 fps Perkin Elmer bit 2000 x µm 3.75 fps 7.5 fps Perkin Elmer 1621 EHS 16-bit 2000 x µm 15 fps 30 fps Nikon Metrology CLDA 16-bit µm 50 Kombinacja PE162x & CLDA Konfiguracja z dwoma detektorami CLDA i panel płaski fps (1) Manipulator (1) tylko dla lampy 225 kv Konfiguracja podstawowa Konfiguracja alternatywna XT H 160 XT H 225 XT H 225 ST XT H 320 XT H 450 l. Osi (opcjonalnie 5) Zakres ruchu (X) 185 mm (X) 185 mm (X) 450 mm (X) 510 mm (Y) 250 mm (Y) 250 mm (Y) 350 mm (Y) 610 mm (Z) 700 mm (Z) 700 mm (Z) 750 mm (Z) 800 mm (Wych.) +/- 30 (Wych.) +/- 30 (Wych.) +/- 30 (Obrót) n*360 (Obrót) n*360 (Obrót) n*360 4 (opcjonalnie 5) (X) 400 mm (Y) 600 mm (Z) 600 mm (Obrót) n*360 Max waga próbki 15 kg 15 kg 50 kg 100 kg 100 kg Specyfikacja ogólna Wymiary kabiny (LxWxH) 1,830 mm x 875 mm x 1,987 mm 1,830 mm x 875 mm x 1,987 mm 2,414 mm x 1,275 mm x 2,202 mm 2,695 mm x 1,828 mm x 2,249 mm 3,613 mm x 1,828 mm x 2,249 mm Waga 2,400 kg 2,400 kg 4,200 kg 8,000 kg 14,000 kg Bezpieczeństwo Wszystkie systemy zgodne z IRR99 Oprogramowanie Wszystkie systemy sterowane są za pomocą programu Inspect-X firmy Nikon Metrology Nikon Metrology NV Geldenaaksebaan 329 b-3001 Leuven, belgium phone: fax: Sales.nM@Nikon.com s m a r t S O L U T I O N S Adres firmy Centrum pomiarów 3D Biuro i centrum prezentacji Biuro i centrum prezentacji ul. Odłogi 12, Warszawa Tel/fax Tel kom: biuro@smart-solutions.pl Wydział SIMR Politechniki Warszawskiej ul. Narbutta Warszawa Wydział Mechatroniki Politechniki Warszawskiej ul. Św. A. Boboli Warszawa Wydział Mechaniczny Politechniki Krakowskiej al. Jana Pawła II 37, Kraków