XT H Series. Technologia X-ray i CT do zastosowań przemysłowych NIKON METROLOGY VISION BEYOUND PRECISION

Transkrypt

1 XT H Series Technologia X-ray i CT do zastosowań przemysłowych NIKON METROLOGY VISION BEYOUND PRECISION

2 Uzyskaj obraz skomplikowanych części przemysłowych, poprzez wgląd w ich wewnętrzną strukturę. Następnie wykorzystaj możliwości CT do zakwalifikowania i wyznaczenia wymiarów wewnętrznych oraz zewnętrznych w prosty i nieniszczący sposób. Przemysłowe systemy X-ray i CT pozwalają uzyskać wysoką dokładność i możliwość jednoczesnego pomiaru wymiarów wewnętrznych oraz zewnętrznych bez konieczności niszczenia części. Co więcej, zapewniają, dodatkowy wgląd w czwarty wymiar - gęstość materiału i jego strukturę, dzięki czemu technologia CT jest niezbędnym narzędziem w przemyśle produkcyjnym. Wykazujące szeroki zakres zastosowań Mikrofokus X-ray i technologia CT rozwinęły się w ciągu ostatnich dziesięciu lat do tego stopnia, że jest to główny nurt technologii metrologicznej używanej w różnorodnych zastosowaniach. Zakres zastosowań stale rozszerza się poprzez przemysł samochodowy, lotniczy, energetyczny, a także dla sektora medycznego i odbiorców indywidualnych, tworzyw sztucznych, metali i materiałów egzotycznych. Ponad 25 lat doświadczenia w X-ray i CT Nikon Metrology, jako firma posiadająca kilkaset zainstalowanych systemów przemysłowych do kontroli jakości dużo czasu poświęca na rozwój technologii mikrofokus X-ray i CT. Specjaliści od CT w mieście Tring w Anglii, opracowują kompletne systemy, zawierające własnej budowy lampy rentgenowskie mikrofokus, precyzyjne 5-osiowe w pełni programowalne manipulatory i szybki program do rekonstrukcji, który pracuje na komputerach przemysłowych. Komercyjne firmy i organizacje badawcze zakupują systemy X-ray i CT, które różnią się wielkością od najmniejszych do niestandardowych, 50-tonowych 450 kv pomieszczeń do inspekcji CT. Każdego dnia ponad 2500 systemów wykonuje przekroje 2D oraz skanuje trójwymiarowe chmury punktów począwszy od najmniejszych mikronowych komponentów do dużych próbek.

3 Wprowadzenie do przemysłowych systemów mikrofokus X-ray i CT Technologia X-ray Technologia X-ray (lub radiografia) jest w zasadzie prostym procesem. Obiekt jest umieszczony na obrotowym stole pomiędzy lampą rentgenowską a detektorem. Wysokiej jakości lampa rentgenowska mikrofokus firmy Nikon, generuje wiązkę promieniowania rentgenowskiego, które przechodzi przez próbkę. Następnie cyfrowy, płaski detektor odbiera obraz składający się z wielu odcieni szarości, spowodowany absorpcją promieniowania rentgenowskiego przechodzącego przez obiekt w zależności od materiału i geometrii. Dla grubszego lub bardziej gęstego materiału takiego jak żelazo, miedź czy ołów obszar będzie ciemniejszy, niż dla cienkich lub lekkich materiałów takich jak tworzywo sztuczne papier czy powietrze. Przysunięcie próbki bliżej źródła promieniowania rentgenowskiego powoduje powiększenie otrzymywanego obrazu. Gdy obiekt jest obracany wokół własnej osi, podczas wykonywania zdjęć rentgenowskich generowany jest jego pełny trójwymiarowy obraz. Tomografia Komputerowa (CT) Do wygenerowania pełnego trójwymiarowego obrazu wykonywana jest seria kolejnych dwuwymiarowych zdjęć rentgenowskich 2D gdy obiekt obraca się o 360 stopni. Następnie przy użyciu skomplikowanego algorytmu oprogramowania do rekonstrukcji 3D zdjęcia te są rekonstruowane w obraz trójwymiarowy. Dodatkowo oprócz zewnętrznej powierzchni zrekonstruowany obraz zawiera wszystkie informacje dotyczące wewnętrznych powierzchni i struktury, a także informacje o czwartym wymiarze gęstości materiału. Jest zatem możliwe poruszanie się po każdym punkcie, we wszystkich płaszczyznach w całej objętości zrekonstruowanego obiektu. W rezultacie nawet wewnętrzne pomiary mogą być łatwo mierzalne, jak również możliwość zlokalizowania istotnych niedoskonałości struktury oraz wychwycenia ewentualnych błędów montażowych zwykle niewidocznych przy użyciu tradycyjnych metod badań nieniszczących NDT. Zastosowanie do wielu aplikacji Obrazowanie rentgenowskie w czasie rzeczywistym jest zazwyczaj stosowane do szybkich ręcznych lub automatycznych kontroli wizyjnych, skanowanie CT stosowane jest do dogłębnej analizy, wspierania badań i rozwiązywania problemów: kontrola defektów analiza porowatości kontrola montażu analiza uszkodzeń kontrola materiałów metrologia wymiarowa szybkie prototypowanie porównanie geometrii z modelem CAD Cząstki złota w kamieniu Kompozyty Piana Odlewy naczyniowe - wątroba Skamielina Puszka pianki do golenia Złącze Tłok Łopatka turbiny 3

4 At the heart of the image Lampy rentgenowskie Projektowanie i produkowanie w firmie Lampy rentgenowskie Nikon Metrology są w centrum naszej technologii i są projektowane i produkowane w firmie od 1987 roku do dnia dzisiejszego; oferujemy ponad 25-letnią doświadczenie. To co nas wyróżnia to ogromna wiedza na temat lamp rentgenowskich, która pozwala Nikon Metrology uzyskać miejsce lidera wśród producentów i projektować kompletne i innowacyjne rozwiązania dla potrzeb rynku. Wszystkie lampy są otwarte co zmniejsza koszty utrzymania o zakresie napięcia od niskich (160) po średnie (225) do wysokich (450) kv, wszystkie z rozdzielczością rzędu mikrometrów. 225 kv ultrafokus z tarczą obrotową Dzięki 225 kv oraz minimalną wielkością plamki 3 um, 225 kv mikrofokus staje się esencją lamp Nikona XTH 225 kv. Elastyczne opracowanie do radzenia sobie z różną wielkością oraz gęstością próbek. Nikon Metrology jest jedyną firmą, która produkuje przemysłową lampę 225 kv z tarczą obrotową. Zastosowanie tarczy obrotowej powoduje, że wiązka elektronów pada na ruchomą zamiast na przytwierdzoną powierzchnię, czego efektem jest o wiele bardziej skuteczne chłodzenie. Pozwala to na mierzenie obiektów szybciej lub bardziej gęstych z wyższą dokładnością niż może to być zmierzone za pomocą domyślnej 225 kv. 450 kv lampa statyczna i wysokiej jakości (high-brilliance) Jedyna w świecie 450 kv lampa mikrofokus wnosi do przemysłu szczytową wydajność dla małych o wysokiej gęstości lub małych i średnich odlewów z niezrównaną dokładnością i rozdzielczością, dostarczając 25 mikrometrów powtarzalności i dokładność skanowania. Lampa firmy Nikon 450 kv wysokiej jakości (high-brilliance) dostarcza stałą 450W moc bez jakichkolwiek ograniczeń czasowych pomiaru, podczas gdy zachowany jest mniejszy rozmiaru plamki dla szybszego skanowania CT, zbieranie danych do 5 razy szybciej lub z lepszą dokładnością w podobnym czasie skanowania jak dla standardowej lampy 450 kv. 180 kv lampa trnasmisyjna Stosowana do próbek mniejszych niż 10 mm takich jak małych rdzeni skalnych lub kości. Maksymalne napięcie lampy wynosi 180 kv uzyskując przy tym minimalną wielkość plamki 1 um, niezastąpioną do wysokiej dokładności skanów CT. Źródło 320 kv Lampa 320 kv jest wyjątkowym źródłem mikrofokus stosowana do próbek zbyt dużych lub gęstych dla 225 kv przy jednoczesnym zachowaniu małej wielkości plamki. Idealna dla rdzeni skalnych i małych odlewów. Lampa ta jest opcjonalna w XT H 225/320 LC. 4

5 Wejście w świat X-ray i CT XT H 225 Wszechstronna kontrola X-Ray i CT Wychwycenie szczegółów, pomiar wewnętrznych części i cech montażowych komponentów ma często kluczowe znaczenie dla kontroli jakości, analizy braków i badania materiału. Pierwsze systemy XT H 160 i uniwersalny XT H 225 posiadają lampy rentgenowskie mikrofokus, szeroki obszar skanowania, wysoką rozdzielczość otrzymanego obrazu i są gotowe do bardzo szybkiej rekonstrukcji CT. Obejmują one szeroki zakres zastosowań, w tym inspekcje elementów plastikowych, małych odlewów oraz złożonych mechanizmów, jak również badania materiałów i okazów naturalnych. Wymienne tarcze transmisyjne i odbiciowe Lampa rentgenowska 160kV lub 225kV mikrofokus Ergonomiczny załadunek próbki do kontroli Przestrzeń pomiarowa 200 x 300 x 610 mm Wymienne tarcze transmisyjne i odbiciowe Podwójny ekran do systemu sterowania i obrazowania Konstrukcja kompaktowa i niska waga ułatwia instalację Łatwa obsługa Użytkownicy są zdolni do pracy z CT po zaledwie kilku dniach szkolenia. Kreator CT przeprowadza operatorów poprzez proces akwizycji danych. Konfigurowalne makra automatyzują przebieg procesu pomiaru oraz ścisła integracja ze standardem przemysłowym i post-processingiem usprawnia procesy decyzyjne. Elastyczność Specyficzne zastosowania wymagają bardziej szczegółowych obrazów lub lepszej dokładności. XT H 225 może być skonfigurowany z różnymi detektorami (Varian, Perkin Elmer) lub lampami rentgenowskimi (odbiciowa, transmisyjna), aby dostosować odpowiednią rozdzielczość do potrzeb próbek: pełny udział dla niskiej jasności i wysokiej rozdzielczości w pożądanym regionie zainteresowania. Płaskie detektory o wysokiej rozdzielczości i mały rozmiar plamki pozwalają uzyskać dobry i ostry obraz. Niski koszt utrzymania Niezależnie od wyboru tarczy system XT H 225 wykorzystuje lampę otwartą (open-tube), która gwarantuje niski koszt utrzymania. Otwarta lampa pozwala na konserwację wewnętrznych jej części, a nie całej lampy. Niezależny system XT H 225 pozwala na szybką jego instalację. Nie są wymagane żadne specjalne modyfikacje podłoża. 5

6 Wszechstronna kontrola X-Ray i CT XT H 225 ST XT H 225 ST jest systemem tomografii komputerowej (CT) idealnie nadającym się do szerokiego zakresu materiałów i rozmiaru próbek szczególnie tych, które są zbyt duże lub ciężkie dla innych systemów o tym zakresie. System posiada trzy wymienne lampy rentgenowskie: 225 kv z tarczą odbiciową, 180 kv z tarczą transmisyjną i 225 kv z tarczą obrotową. W połączeniu z szeroką gamą dostępnych detektorów system ST staje się elastycznym narzędziem dla laboratoriów jakości, zakładów produkcyjnych i działów badawczych. Duża przestrzeń pomiarowa System XT H 225 ST jest rozszerzoną wersją XT H 225, zdolnego do pomiaru różnego rodzaju próbek, które są zbyt duże lub ciężkie dla innych systemów w tym zakresie. Duża przestrzeń pomiarowa, wychylenie osi i możliwość wyboru lampy rentgenowskiej od 180 kv do 225 kv sprawia, że system ten jest wszechstronnym narzędziem do pomiaru od małych i lekkich do dużych i ciężkich próbek w każdej branży. Obrazy wysokiej jakości Próbki wielomateriałowe lub gorzej pochłaniające promieniowanie rentgenowskie są lepiej skanowane przy użyciu detektora Perkin Elmer posiadającego najwyższy zakres dynamiczny wśród oferowanych detektorów. Wysokiej jakości dane uzyskuje się w CT poprzez wysokiej rozdzielczości płaskie wielopikselowe panele. W obudowie tomografu ST można zamocować wysokiej rozdzielczości (2000 x 2000 pikseli) detektor Perkin Elmer, który oferuje dwa razy lepszą rozdzielczość niż mniejsze systemy XT H 160 i 225. Zmotoryzowany FID Zdolność do przesuwania detektora bliżej lampy rentgenowskiej może być kontrolowana za pomocą komputera w systemie ST. Tłumienie promieniowania X spada gdy wiązka przemieszcza się z punktu ogniskowania do detektora. Krótszy FID (odległość punktu ogniskowania do detektora) oznacza, że strumień promieniowania jest powiększony i co za tym idzie czas skanowania może być zredukowany. Alternatywnie krótszy FID może dawać jaśniejsze obrazy przy użyciu niskiej energii promieniowania rentgenowskiego. Oba te zjawiska są korzystne, gdy duże powiększenie nie jest czynnikiem ograniczającym. Badania i rozwój 6

7 Pierwszy krok w stronę wysokonapięciowego mikrofokus XT H 225/320 LC XT H 225/320 LC posiada dużą kabinę do skanowania rentgenowskiego i pomiarów dużych komponentów. System ten można wyposażyć w źródło 225 kv, 225 kv z tarczą obrotową lub 320 kv mikrofokus zapewniając do 320 W mocy. Płaski panel o wysokiej rozdzielczości jest używany do zbierania wysokiej jakości obrazów. System jest sterowany za pomocą programu Inspect-X, który sprawia, że zbieranie danych CT i konfiguracja pomiarów jest bardzo łatwa. System zapewnia możliwość zapisywania danych w formacie dostępnym dla standardowych programów przemysłowych. Pierwszy 320 kv mikrofokus Nikon Metrology otwiera nowe możliwości w mikro-ct dodając mocniejsze źródła mikrofokus do swojego portfolio. XT H 225/320 LC zapewnia silniejsze źródło promieniowania rentgenowskiego, które jest w stanie wykonać bardzo dokładną kontrolę gęstych, przemysłowych obiektów. Rozszerzona przestrzeń pomiarowa, oraz duże drzwi zapewniają możliwość skanowania obiektów znacznie większych, nawet do 100 kg, niż dla standardowego systemu XT H 225. Większe i bardziej gęste próbki Większość dostawców może zaoferować źródła mikrofokus do 225 kv, natomiast ich silniejsze źródła to minifokus. W przypadku skanowania większych próbek, często potrzeba większej mocy penetracyjnej i dlatego Nikon Metrology oferuje unikatową lampę rentgenowską 320 kv mikrofokus. Jako że wielkość plamki dla źródeł mikrofokus jest o rząd wielkości mniejsza niż dla źródeł minifokus, użytkownicy mogą korzystać z najwyższej rozdzielczości, dokładności oraz w szerszym zakresie mierzalnych części. Z wszystkimi systemami CT firmy Nikon Metrology możesz: Weryfikować złożone struktury wewnętrze Izolować i sprawdzać uwzględnione komponenty Zmierzyć wymiary wewnętrze bez cięcia próbki Automatycznie wykryć i zmierzyć wady wewnętrzne Z łatwością pokazać powierzchnie zewnętrze jak i wewnętrzne Zmniejszyć całkowity czas kontroli Zmniejszyć liczbę iteracji do dokładnej regulacji parametrów przedprodukcyjnych 7

8 Najwyższej mocy na świecie źródło X-ray mikrofokus XT H 450 Manipulator o dużej ładowności Masa części do 100kg System XT H 450 oferuję niezbędne źródło do penetracji części o dużej gęstości i generuje obrazy przestrzenne CT z dokładnością do mikronów. U podstaw tej potężnej maszyny jest lampa rentgenowska mikrofokus 450 kv, która zapewnia lepszą rozdzielczość i dokładność do mocy 450 W, jednocześnie oferując wystarczającą moc promieniowania by przeniknąć przez gęste próbki. System wyposażony jest w płaski panel (do pomiarów 3D) lub firmową, zakrzywioną, liniową matrycę diodową (CLDA Curved Linear Diode Array) (do pomiarów 2D). Detektor ten optymalizuje zbieranie promieni rentgenowskich bez przechwytywania niepożądanych rozproszonych promieni X-ray. 450kV Mikrofokus Jedyna na rynku lampa rentgenowska 450 kv mikrofokus na tym poziomie energii dostarczająca 25 mikrometrów powtarzalność i dokładności! Rozmiar plamki jest znacznie mniejszy od istniejących na rynku źródeł minifokus o podobnej mocy, poziom dokładności jaki osiąga źródło mikrofokus jest nie do porównania. Ze źródłem high-brilliance (o podwyższonej dokładności) można zbierać dane do 5 razy szybciej nie tracąc jednocześnie na jakości otrzymanych obrazów lub z wyższą dokładnością przy podobnym czasie trwania pomiarów jak dla domyślnego 450 kv. Unikalna technologia CLDA Kiedy promienie rentgenowskie uderzają w obiekt są one absorbowane, ale także i rozpraszane. Jest to niepożądane zjawisko, które pogarsza się wraz ze wzrostem gęstości badanego materiału. Rozproszenie pochodzące ze wszystkich punktów zmniejsza czułość kontrastu, co jest widoczne na płaskich panelach. Nikon Metrology opracował własny CLDA, który optymalizuje zbieranie promieni rentgenowskich przechodzących przez obiekt bez przechwytywania niepożądanych, rozproszonych promieni. Poprzez uniknięcie zanieczyszczenia obrazu i związanego z tym zmniejszenia kontrastu CLDA realizuje oszałamiającą ostrość i kontrast obrazu. Liniowa matryca diodowa jest zakrzywiona w celu dalszej poprawy jakości, utrzymując stałą długość drogi promieni rentgenowskich do receptorów diodowych w linii prostej. Pozwala to na zwiększeniu stosunku sygnału do szumu. Niskie koszty utrzymania dzięki otwartej konstrukcji lampy Kontrola odlewów Źródła mikrofokus na tym poziomie energii są potrzebne do przeprowadzenia bardzo dokładnej kontroli dla gęstych przemysłowych obiektów, takich jak grube odlewy. XT H 450 3D to system zaprojektowany, aby zapewnić, wiodącą w branży, wydajność w skanowaniu dużych obiektów, w których rozproszenie nie jest czynnikiem ograniczającym tj. dużych odlewów o niskiej gęstości itd. System zawiera źródło 450 kv mikrofokus zapewniając do 450 W mocy, panel z amorficznego krzemu do zbierania wysokiej jakości zdjęć radiograficznych i precyzyjnego manipulatora CT. Dla odlewów o większej gęstości, które wykazują rozproszenie, XT H 450 może stworzyć odwzorowanie 3D obiektu poprzez łączenie przekrojów 2D otrzymanych przez detektor liniowy CLDA. 8

9 Obudowa ochronna - brak narażenia na szkodliwe promieniowanie Płaski panel i CLDA Możliwość wyboru płaskiego panelu lub CLDA lub obu, w zależności od zastosowań Dwa monitory Obrazowanie pełnoekranowe i sterowanie oprogramowaniem Nikon Metrology 450kV Jedyne w świecie źródło 450 kv mikrofokus, teraz dostępne także o podwyższonej dokładności (high-brilliance) Szerokie drzwi Dostęp do kabiny zapewniony przez duże, sterowane pneumatycznie drzwi Kontrola łopatek turbin XT H 450 stawia nowy punkt odniesienia dla pomiaru łopatki turbiny. Źródło 450 kv w połączeniu z technologia CLDA jest idealne do radiografii i kontroli CT jak również metrologii małych i średnich łopatek turbin ze stopów metalowych. System ten zapewnia wystarczającą moc, aby przeniknąć przez element i wygenerować nierozproszone odzwierciedlenie objętości CT. System jest przyjazny w środowisku produkcyjnym, zapewnia automatyczną akwizycję danych, wysoką szybkość rekonstrukcji CT i kontroli bazowanych na łopatkach turbin, generuje raporty zgodny/niezgodny dla każdego skanowanego detalu. Producenci łopatek mogą uruchomić szczegółową kontrolę metrologiczną swoich wyrobów (np. grubość ścianek) by zoptymalizować zużycie paliwa silników odrzutowych. Kiedy wykonywana jest radiografia i kontrola CT łopatek turbin, nieprzetworzone zdjęcia i szczegółowe informacje przedmiotu, takie jak profile łopatek oraz grubości ścianek wewnętrznych i zewnętrznych, są przechowywane do identyfikacji i późniejszej analizy. 9

10 Przetwarzanie o wysokiej wydajności Intuicyjna wizualizacja i analiza Interaktywne i przyjazne dla użytkownika oprogramowanie ma istotne znaczenie w ocenie złożonych wewnętrznych struktur detali i wykonywaniu dokładnych kontroli. Narzędzia programowe poprowadzą Cię do zdobycia wymaganych informacji, za pomocą najbardziej zaawansowanych funkcji wizualizacji i analizy. Opracowane w celu usprawnienia procesu kontroli i pomiarów, oprogramowanie firmy Nikon Metrology X-ray i kontroli CT umożliwia przeprowadzenie pierwszych inspekcji w czasie kilku minut, zamiast godzin lub dni. Największą zaletą pakietu oprogramowania XT jest doświadczenie firmy Nikon Metrology, a także stały rozwój w dziedzinie poprawy wydajności i uproszczenia operacji, przenosząc je z rąk ekspertów w ręce użytkowników. Obecnie oprogramowanie XT przynosi również najszybszą rekonstrukcję danych CT dostępną na pojedynczym komputerze. Komputer ten jest złożony ze standardowych komponentów do wspomagania użytkowania. Wydajność można ponadto poprawić poprzez użycie kolejnych komputerów. Całkowity system jest również gotowy dla rynku wiodących oprogramowań w dziedzinie wizualizacji i przetwarzaniu CT, takich jak VGStudioMax firmy Volume Graphics. Kontrola X-ray w czasie rzeczywistym Interaktywny joystick do intuicyjnego pozycjonowania części. Super szybka akwizycja skanów rentgenowskich. Zintegrowane narzędzia do wyświetlania i analizy. Możliwość pomiaru na ekranie. Wsparcie dla danych wymiarowych i adnotacyjnych. Programowalne makra dla automatycznych powtórzeń Rekonstrukcja CT Precyzyjna rekonstrukcja 3D przy użyciu stacji roboczej. Szybka i całkowita rekonstrukcja do ogólnej analizy. Szczegółowa rekonstrukcja do analizy określonych obszarów. Tworzenie przekrojów CT. Analiza CT offline Analiza offline na specjalnej stacji PC do wizualizacji. Tworzenie filmów skomplikowanych struktur wewnętrznych. Porównanie do modelu CAD powierzchni zewnętrznych i wewnętrznych (opcjonalnie). Wykrycie elementów geometrycznych 3D (opcjonalnie) Niestandardowe rozwiązania konfiguracji systemu Gdy standardowe systemy X-ray lub CT nie są w stanie spełnić waszych wymagań, Nikon Metrology może zaprojektować system dostosowany do waszych potrzeb. Specjaliści z firmy Nikon Metrology budują kompletne systemy skonfigurowane na potrzeby klientów, zawierających rozmiar kabiny, rodzaj manipulatora, detektora, funkcji oprogramowania, itp. Analiza CT szczęki dinozaura 10

11 Szeroki zakres zastosowań Kontrola jakości, analiza defektów i badanie materiału Gdy struktura wewnętrzna ma znaczenie, technologia X-ray i CT są skutecznym narzędziem i mają na celu uzyskanie cennych informacji. Wykrycie szczegółów i pomiary wewnętrznych cech ma często kluczowe znaczenie dla kontroli jakości, analizy defektów i badań materiału w różnych gałęziach przemysłu. Wykrywanie braków i analiza defektów. Kontrola montażu skomplikowanych mechanizmów. Wymiarowanie pomiarów wewnątrz komponentów. Porównywanie do modelu CAD. Zaawansowane badania materiału. Analiza struktur biologicznych. Cyfrowa akwizycja modeli. Dziedziny zastosowań Motoryzacyjny Złącza elektryczne. Dysze wtryskowe. Czujniki (np. czujniki Lambda). Przezroczyste deski rozdzielcze (LED light pipes). Małe wysokociśnieniowe części odlewnicze np. turbosprężarka. Lotniczy Pozycjonowanie rdzeni w wosku dla łopatek turbin. Analiza pęknięć w komponentach Kontrola łopatek. Odlewnictwo tworzyw sztucznych Złożone element z tworzyw sztucznych (np. wentylator). Miękkie przezroczyste materiały, niemożliwych do zmierzenia stykowo ani optycznie. Ultradźwiękowe spawy elementów z tworzyw sztucznych. Farmaceutyczny / medyczny Dozowniki medyczne. Małe instrumenty. Małe elementy kompozytowe lub z tworzyw sztucznych. Struktury kostne. Badania Weryfikacja i analiza materiału (np. struktura, porowatość, wady). Paleontologia (np. kości, czaszki, skamieliny). Geologia i gleboznawstwo. Archeologia. 11

12 Specyfikacja Źródło (standardowe) Źródło (opcjonalne) Maksymalne kv Moc Wielkość plamki X-ray Powiększenie geometryczne System detektorów (standardiwo) System detektorów (opcjonalnie) Manipulator (standardowo) Zakres ruchu Maksymalna masa próbki Wymiary kabiny (Dl. X Sze. x Wy) Masa maszyny Bezpieczeństwo Sterowanie Powszechne opcje systemu XT H 160 Xi 160kV Mikrofokus Tarcza odbiciowa Opcja -zmiana mocy do 225W 160kV 60 W / 225W (Opcja- -aktualizacja do wysokiej mocy 3µm > 150x Varian 1313 Flat panel Varian 2520 Flat panel Perkin Elmer 0820 Flat panel 5 osi (X) 185mm (Y) 280mm (Z) 700mm (wych.) +/- 30 (obrót) n*360 15kg 1,830mm x 875mm x 1,987mm 2,400kg XT H kV Mikrofokus Tarcza odbiciowa 180kV Mikrofokus Tarcza transmisyjna 180kV / 225kV 225W 225kV Tarcza odbiciowa: 3 µm XT H 225 ST 225kV Mikrofokus Tarcza odbiciowa 180kV Mikrofokus Tarcza transmisyjna 225kV Tarcza obrotowa 180kV / 225kV 225W 180kV Tarcza transmisyjna: 1 µm > 150x Varian 2520 Flat panel Perkin Elmer 0820 Flat panel Varian 4030 Flat panel 5 osi (X) 185mm (Y) 250mm (Z) 700mm (wych.) +/- 30 (obrót) n*360 15kg 1,830mm x 875mm x 1,987mm 2,400kg 225 kv Tarcza obrotowa: do 450W 225kV Tarcza odbiciowa: 3 µm XT H 225/320 LC 225kV Mikrofokus Tarcza odbiciowa Moduł 320kV 225kV Tarcza obrotowa 225W / 320W (Moduł 320kV) 225kV Tarcza obrotowa : 10 µm > 150x Varian 2520 Flat panel Varian 4030 Flat panel Perkin Elmer 1620 Flat panel Perkin Elmer 1621 EHS Flat panel 5 osi (X) 450mm (Y) 350mm (Z) 750mm (wych.) +/- 30 (obrót) n*360 50kg 2,414mm x 1,275mm x 2,202mm 4,200kg Moduł 320kV: 30 µm > 150x Varian 2520 Flat P.D. Perkin E 1620 Flat P.D. Varian 4030 Flat panel Perkin Elmer 1620 Flat panel Perkin Elmer 1621 EHS Flat panel 4 osie (X) 510mm (Y) 610mm (Z) 800mm (obrót) n* kg 2,695mm x 1,828mm x 2,249mm 8,000kg Wszystkie systemy X-ray firmy Nikon Metrology są produkowane zgadnie z IRR99 XT H kV Mikrofokus Tarcza odbiciowa Źródło 450 kv High-brilliance 450kV 450W (450 W mocy dla źródła high-brilliance) 80 µm > 17x (3D) 24x (2D) P erkin Elmer 162x Flat panel Curved Linear Diode Array (CLDA) Kombinacja 2D/3D oba flat panel i CLDA 4 osie (X) 400mm (Y) 600mm (Z) 600mm (obrót) n* kg 3,613mm x 1,828mm x 2,249mm 14,000kg Wszystkie systemy X-ray firmy Nikon Metrology są sterowane przez przez oprogramowanie Inspect-X Zaawansowana super szybka stacja robocza do rekonstrukcji CT Tarcza wielomateriałowa (UltraFocus tylko Tarcza odbiciowa) Zaawansowany zestaw filtrów (UltraFocus tylko Tarcza odbiciowa) XT_H_Family_EN_0614 Copyright Nikon Metrology NV All rights reserved. The materials presented here are summary in nature and intended for general information only. Nikon Metrology NV Geldenaaksebaan 329 b-3001 Leuven, belgium phone: fax: Sales.nM@Nikon.com s m a r t S O L U T I O N S Adres firmy Centrum pomiarów 3D Biuro i centrum prezentacji Biuro i centrum prezentacji ul. Odłogi 12, Warszawa Tel/fax Tel kom: biuro@smart-solutions.pl Wydział SIMR Politechniki Warszawskiej ul. Narbutta Warszawa Wydział Mechatroniki Politechniki Warszawskiej ul. Św. A. Boboli Warszawa Wydział Mechaniczny Politechniki Krakowskiej al. Jana Pawła II 37, Kraków