ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286

Transkrypt

1 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 20 Data wydania: 8 sierpnia 2014 r. Nazwa i adres: OŚRODEK BADAŃ I ANALIZ PP Marek Zając i Artur Zając s.c. ul. prof. Michała Bobrzyńskiego 23A lok.u Kraków AB 286 Kod identyfikacji dziedziny/obiektu badań Dziedzina/obiekt badań: G/9 Badania dotyczące inżynierii środowiska hałas w środowisku pracy, pole elektromagnetyczne w środowisku pracy/ogólnym, nielaserowe promieniowanie optyczne i promieniowanie laserowe w środowisku pracy, oświetlenie, drgania mechaniczne N/6; N/9; N/13; N/14 Badania właściwości fizycznych maszyn, wyrobów i wyposażenia elektrycznego, telekomunikacyjnego i elektronicznego, wyposażenia medycznego urządzenia radiologiczne, powietrza P/9 Pobieranie próbek powietrza KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW TADEUSZ MATRAS Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 286 z dnia r. Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 1/20

2 LABORATORIUM BADAWCZE Pracownia Promieniowania Elektromagnetycznego ul. prof. Michała Bobrzyńskiego 23A lok.u2, Kraków Środowisko pracy pole elektromagnetyczne Środowisko ogólne pole elektromagnetyczne Natężenie pola elektrycznego w paśmie częstotliwości: od 5 Hz do 90 GHz Zakres: (0, ) V/m Natężenie pola magnetycznego w paśmie częstotliwości: od 0 Hz do 1 GHz Zakres: (0, ) A/m Natężenie pola magnetycznego w paśmie częstotliwości: Od 0 Hz do 60 GHz Natężenie pola elektrycznego w paśmie częstotliwości: od 5 Hz 90 GHz Zakres: (0, ) V/m Natężenie pola magnetycznego w paśmie częstotliwości: od 0 Hz 1 GHz Zakres: (0, ) A/m PN-T :2002 Rozporządzenie Ministra Środowiska, z dnia 30 października 2003 r. (Dz.U nr 192, poz. 1883) Gęstość mocy w paśmie częstotliwości: od 300 khz 60 G Hz Zakres: (0, ) W/m 2 Wersja strony: B Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 2/20

3 LABORATORIUM BADAWCZE Pracownia Akustyki ul. prof. Michała Bobrzyńskiego 23A lok.u2, Kraków Środowisko pracy - hałas Pomieszczenia w budynkach, mieszkalnych, zamieszkania zbiorowego i użyteczności publicznej - hałas Środowisko pracy drgania mechaniczne o ogólnym oddziaływaniu na organizm człowieka Równoważny poziom dźwięku A Maksymalny poziom dźwięku A Zakres: (43 115) db Szczytowy poziom dźwięku C Zakres: (43 137) db Poziom ekspozycji na hałas odniesiony do: - 8-godz. dobowego wymiaru czasu pracy - tygodnia pracy Równoważny poziom dźwięku A Maksymalny poziom dźwięku A Zakres: (20 90) db Równoważny poziom dźwięku A dla czasu odniesienia T Skuteczne ważone częstotliwościowo przyspieszenie drgań Zakres: (0,02 17,8) m/s 2 Ekspozycja dzienna, wyrażona w postaci równoważnego energetycznie dla 8-godzin działania skutecznego, ważonego częstotliwościowo przyspieszenia drgań, dominującego wśród przyspieszeń drgań, wyznaczonych dla trzech składowych kierunkowych z uwzględnieniem właściwych współczynników (1.4awx, 1.4awy, awz) Ekspozycja trwająca 30 minut i krócej, wyrażona w postaci skutecznego, ważonego częstotliwościowo przyspieszenia drgań, dominującego wśród przyspieszeń drgań, wyznaczonych dla trzech składowych kierunkowych z uwzględnieniem właściwych współczynników (1.4awx, 1.4awy, awz ) PN-N-01307:1994 PN-EN ISO 9612:2011 z wyłączeniem metody obejmującej Strategię 2 i 3 punkt 10 i 11 PN-87/B PN-EN A1:2011 Wersja strony: B Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 3/20

4 Środowisko pracy drgania mechaniczne działające na organizm człowieka przez kończyny górne Skuteczne wartości ważone częstotliwościowo przyspieszenie drgań Zakres: (0,06 100) m/s 2 Ekspozycja dzienna, wyrażona w postaci równoważnej energetycznie dla 8 godzin działania sumy wektorowej skutecznych, ważonych częstotliwościowo przyspieszeń drgań, wyznaczonych dla trzech składowych kierunkowych (awx, awy, awz) Ekspozycja trwająca 30 minut i krócej, wyrażona w postaci sumy wektorowej skutecznych, ważonych częstotliwościowo przyspieszeń drgań, wyznaczonych dla trzech składowych kierunkowych (awx, awy, awz) PN-EN ISO :2004 PN-EN ISO :2004 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 4/20

5 Środowisko pracy - oświetlenie elektryczne we wnętrzach Środowisko pracy - oświetlenie awaryjne Środowisko pracy - nielaserowe promieniowanie optyczne LABORATORIUM BADAWCZE Pracownia Promieniowania Optycznego ul. prof. Michała Bobrzyńskiego 23A lok.u2, Kraków Natężenie oświetlenia Zakres: (0, ) lx Równomierność oświetlenia Natężenie oświetlenia Zakres: (0, ) lx Czas załączenia Równomierność oświetlenia Skuteczne natężenie napromienienia nadfioletu niebezpiecznego w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: 1,49* ,9 [W/m 2 ] (metoda A) Skuteczne napromienienie nadfioletu niebezpiecznego w zakresie spektralnym nm Natężenie napromienienia promieniowania UVA w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: 2,5 * [W/m 2 ] (metoda M) Napromienienie promieniowania UVA w zakresie spektralnym nm PN-83/E-04040/03 PN-EN 1838:2005 PN-EN :2010 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 5/20

6 Środowisko pracy - nielaserowe promieniowanie optyczne Skuteczne natężenie napromienienia w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: (0.37* *10 3 ) W/(m 2 ) (metoda O) Skuteczna luminancja energetyczna promieniowania widzialnego w zakresie spektralnym nm Skuteczna luminancja energetyczna w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: 2.78* *10 3 [W/(m 2 *sr)] (metoda D) Skuteczna luminancja energetyczna w zakresie spektralnym nm Natężenie napromienienia w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: [W/m 2 ] (metoda R) Skuteczne natężenie napromienienia dla IRA w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: 3.57* [W/m 2 ] PN-EN :2010 PN-T-06587:2002 pkt Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 6/20

7 Źródła lub maszyny Stanowiska pracy wyposażone w urządzenia laserowe Skuteczne natężenie napromienienia dla UV w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: 1,49 * ,9 [W/m 2 ] Skuteczna luminancja energetyczna dla VIS w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: 2.78* [W/(m 2 *sr) ] Skuteczne natężenie napromienienia dla VIS w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: 0.37* [W/m 2 ] Natężenie napromienienia dla IRA i IRB w zakresie spektralnym nm Zakres pomiarowy: [W/m 2 ] Moc promieniowania laserowego generowanego przez urządzenia laserowe Zakres długości fal promieniowania laserowego (0,532 10,6) μm Moc promieniowania laserowego 2 mw 50 W Energia promieniowania laserowego generowanego przez urządzenia laserowe Zakres energii: 200 mj 700 mj Zakres długości fal promieniowania laserowego dla pomiaru energii (0,532 1,064) μm PN-EN A1:2010 PN-EN A1:2010 PN-EN ISO 11554:2010 PN-EN :2010 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 7/20

8 LABORATORIUM BADAWCZE Pracownia Badań Powietrza ul. prof. Michała Bobrzyńskiego 23A lok.u2, Kraków Środowisko pracy - powietrze Pobieranie próbek w celu oceny narażenia zawodowego na pyły Metoda dozymetrii indywidualnej Wskaźnik narażenia Stężenie pyłu całkowitego Zakres: (0,2 66,2) mg/m 3 Metoda filtracyjno-wagowa Stężenie pyłu respirabilnego Zakres: (0,2 32,8) mg/m 3 Metoda filtracyjno-wagowa PN-Z :2002+Az1:2004 PN-91/Z-04030/05 PN-91/Z-04030/06 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 8/20

9 LABORATORIUM BADAWCZE Pracownia Radiologiczna ul. prof. Michała Bobrzyńskiego 23A lok.u2, Kraków zdjęć wewnątrzustnych Wysokie napięcie Zakres: (50 90) kv Dokładność ustawienia wysokiego napięcia Powtarzalność wartości wysokiego napięcia Czas ekspozycji Zakres: (0,01 10) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Powtarzalność czasu ekspozycji (zegar) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: 0,1 µgy 0,1 Gy Warstwa półchłonna HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Wielkość ogniska lampy rtg Zakres: (0,3 1,0) mm Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Odległość: ognisko lampy powierzchnia czołowa tubusa Zakres: (0,1 0,5) m Odległość: ognisko lampy powierzchnia czołowa tubusa Zakres: (0,1 0,5) m PB/J/2.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 9/20

10 radiografii ogólnej Wysokie napięcie Zakres: (40 150) kv Dokładność ustawienia wysokiego napięcia Powtarzalność wartości wysokiego napięcia Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,01-10) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: 0,1 µgy 0,1 Gy Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Wielkość ogniska lampy rtg Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Odległość osi wiązki promieniowania rtg od środka rejestratora obrazu Zakres: (0,1 10) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego PB/J/1.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 10/20

11 radiografii ogólnej Odległość środka pola rtg od środka pola świetlnego Zakres: (0,1 10) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość środka pola świetlnego od środka rejestratora w szufladzie Zakres: (0,1 10) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a polem świetlnym kolimacja ręczna Zakres: (0,1 10) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a rejestratorem obrazu kolimacja automatyczna Zakres: (0,1 10) cm Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Oświetlenie pola symulującego pole promieniowania rentgenowskiego Zakres: (1 500) lux Jednorodność obrazu kratki przeciwrozproszeniowej PB/J/1.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 11/20

12 radiografii ogólnej Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,05 3,00) m Pomiar pośredni i bezpośredni Różnica gęstości optycznych przy zmianie natężenia prądu Różnica gęstości optycznych przy zmianie wysokiego napięcia Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu Różnica gęstości optycznych - czułości komór AEC Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Różnica gęstości optycznych - przepust ciemni PB/J/1.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 12/20

13 radiografii ogólnej Gęstość minimalna w procesie wywoływania Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania Luminancja negatoskopu Zakres: ( ) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (1 500) lux PB/J/1.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 13/20

14 zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Wysokie napięcie Zakres: (50 130) kv Dokładność ustawienia wysokiego napięcia Powtarzalność wartości wysokiego napięcia Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,01-30)s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: 0,1 µgy 0,1 Gy Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,05 3,0) m PB/J/3.4 wydanie 4 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 14/20

15 zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Zakres: (0 4,0) Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Zakres: (0 4,0) Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Zakres: (0 4,0) Gęstość minimalna w procesie wywoływania Zakres: (0 4,0) Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Zakres: (0 4,0) Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania Luminancja negatoskopu Zakres: ( ) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (1 500) lux PB/J/3.4 wydanie 4 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 15/20

16 fluoroskopii Wysokie napięcie Zakres: (40 150) kv Dokładność ustawienia wysokiego napięcia Powtarzalność wartości wysokiego napięcia Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu Moc dawki Zakres: (0, ) mgy/s Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Czas ekspozycji Zakres: (0,01-600)s Stosunek pola promieniowania X do pola widzenia wzmacniacza Zakres: (0,5 2) PB/J/5.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 16/20

17 mammografii Wielkość ogniska lampy rtg Odległość ognisko rejestrator obrazu Zakres: (0,01 2,0) m Pomiar pośredni i bezpośredni Odległość pomiędzy krawędziami promieniowania X a krawędziami rejestratora obrazu Zakres: (0,1 5) cm Odległość pomiędzy krawędzią kratki przeciwrozproszeniowej a rejestratorem obrazu Zakres: (0,1 2) cm Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: 0,2 µgy 0,1 Gy Wydajność lampy Moc dawki Zakres: 0,4 µgy/s 0,1Gy/s Wysokie napięcie Zakres: (20 40) kv Dokładność ustawienia wysokiego napięcia Powtarzalność wartości wysokiego napięcia Czas ekspozycji Zakres: (0,001 5) s Warstwa półchłonna - HVL Gęstość optyczna w punkcie referencyjnym Zakres: (0,00 4,00) Różnica gęstości optycznych dla różnych poziomów zaczernienia Zakres: (0,00 4,00) Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich dostępnych poziomów zaczernienia Powtarzalność dawki PB/J/4.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 17/20

18 mammografii Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu i wartości wysokiego napięcia Dawka wejściowa Zakres: 0,2 µgy 0,1 Gy Siła kompresji piersi Zakres pomiaru masy: (1 25) kg Stałość siły kompresji Zakres pomiaru masy: (1 25) kg Zmiana położenia płytki uciskowej dla symetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 5) cm Zmiana położenia płytki uciskowej dla niesymetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 5) cm Współczynnik pochłaniania kratki przeciwrozproszeniowej Różnica gęstości optycznych - wzmocnienie ekranu Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Różnica gęstości optycznych - przepust ciemni Gęstość minimalna w procesie wywoływania Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania PB/J/4.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 18/20

19 mammografii Luminancja negatoskopu Zakres: ( ) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (1 500) lux PB/J/4.5 wydanie 5 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 19/20

20 Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AB 286 Numer strony Aktualna wersja strony Zastępuje wersję strony Data zmiany 2 B A r. 3 B A r. Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW TADEUSZ MATRAS dnia: r. Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 20, 8 sierpnia 2014 r. str. 20/20