PODZESPOŁY I UKŁADY SCALONE MOCY. Charakterystyki blokowania tranzystorów wysokonapięciowych. Opracowanie ćwiczenia i instrukcji: Łukasz Starzak

Podobne dokumenty
A 2. Charakterograf Tektronix 576 Podstawowe funkcje wykorzystywane podczas ćwiczeń laboratoryjnych. opracowanie: Łukasz Starzak

Ćwiczenie B18 PRZEKSZTAŁTNIKI ELEKTRONICZNE. Opracowanie ćwiczenia i instrukcji: Łukasz Starzak. Łódź 2012

ELEKTRONICZNE UKŁADY STEROWANIA NASTAWNIKÓW. Ćwiczenie 1 (C11c) Przetwornica prądu stałego o działaniu ciągłym (liniowy stabilizator napięcia)

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Ćwiczenie nr 28. Badanie oscyloskopu analogowego

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE

TRANZYSTORY BIPOLARNE

Politechnika Białostocka

Część 3. Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy. Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51

Politechnika Białostocka

Podstawy obsługi oscyloskopu

Pracownia pomiarów i sterowania Ćwiczenie 1 Pomiar wielkości elektrycznych z wykorzystaniem instrumentów NI ELVIS II

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Ćwiczenie 2b. Pomiar napięcia i prądu z izolacją galwaniczną Symulacje układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE

Ćwiczenie A21 PODZESPOŁY I UKŁADY SCALONE MOCY. Opracowanie ćwiczenia i instrukcji: Łukasz Starzak. Łódź 2011

Badanie diod półprzewodnikowych i elektroluminescencyjnych (LED)

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Politechnika Białostocka

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

ANALOGOWE I MIESZANE STEROWNIKI PRZETWORNIC. Ćwiczenie 3. Przetwornica podwyższająca napięcie Symulacje analogowego układu sterowania

Ćwiczenie B2 PRZEKSZTAŁTNIKI ELEKTRONICZNE. Opracowanie ćwiczenia i instrukcji: Łukasz Starzak, Adam Olszewski, Jerzy Powierza.

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Badanie wzmacniacza operacyjnego

Badanie tranzystorów bipolarnych.

Właściwości tranzystora MOSFET jako przyrządu (klucza) mocy

Politechnika Białostocka

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C

INSTRUKCJA OBSŁUGI. MINI MULTIMETR CYFROWY M M

A-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania

ELEMENTY ELEKTRONICZNE. Układy polaryzacji i stabilizacji punktu pracy tranzystora

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC

Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.

Podstawy użytkowania i pomiarów za pomocą OSCYLOSKOPU

7. Tyrystory. Tyrystor SCR (Silicon Controlled Rectifier)

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia

Wzmacniacze operacyjne

Przegląd półprzewodnikowych przyrządów mocy

Lekcja 20. Temat: Elementy regulacyjne i gniazda oscyloskopu.

Multimetr z testerem kablowym CT-3 Nr produktu

Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

Ćwiczenie 4p. Tłumiki przepięć dla szybkich tranzystorów mocy OPTYMALIZACJA PARAMETRÓW PRZEKSZTAŁTNIKÓW

DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE

Przyrządy i Układy Półprzewodnikowe

BADANIE ELEMENTÓW RLC

Ćwiczenie 3p. Pomiar parametrów dynamicznych i statycznych diod szybkich OPTYMALIZACJA PARAMETRÓW PRZEKSZTAŁTNIKÓW

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów

Przykładowe zadanie egzaminacyjne dla kwalifikacji E.20 w zawodzie technik elektronik

Miernik Cęgowy Extech EX730, CAT III 600 V

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

Instrukcja obsługi. Nr produktu: Miernik Cęgowy Extech EX710, CAT III 600 V

PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

Ćwiczenie: "Pomiary mocy w układach trójfazowych dla różnych charakterów obciążenia"

Multimetr cyfrowy Extech EX320, CAT III 600V

XXIX OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP III Zadanie doświadczalne

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4

LABORATORIUM ELEKTRONIKI

INSTRUKCJA OBSŁUGI M-320 #02905 KIESZONKOWY MULTIMETR CYFROWY

Ćw. III. Dioda Zenera

Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych II

INSTRUKCJA OBSŁUGI DT-3290

Opis dydaktycznych stanowisk pomiarowych i przyrządów w lab. EE (paw. C-3, 302)

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

Badanie diody półprzewodnikowej

Podstawy Elektroniki dla Teleinformatyki. Tranzystory bipolarne

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia

1 Tranzystor MOS. 1.1 Stanowisko laboratoryjne. 1 TRANZYSTOR MOS

Ćwiczenie 1. Sondy prądowe

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Ćwiczenie 1: Pomiar parametrów tranzystorowego wzmacniacza napięcia w układzie wspólnego emitera REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU

3. Funktory CMOS cz.1

1 Badanie aplikacji timera 555

strona 1 MULTIMETR CYFROWY M840D INSTRUKCJA OBSŁUGI

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n

INSTRUKCJA OBSŁUGI M9805G #02998 MULTIMETR CĘGOWY

NIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY

Ćwiczenie 2: pomiar charakterystyk i częstotliwości granicznych wzmacniacza napięcia REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

POMIARY OSCYLOSKOPOWE 51

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego

Uwaga. Łącząc układ pomiarowy należy pamiętać o zachowaniu zgodności biegunów napięcia z generatora i zacisków na makiecie przetwornika.

Vgs. Vds Vds Vds. Vgs

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

NIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY

TRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS

Dioda półprzewodnikowa

Transkrypt:

Politechnika Łódzka Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych 90-924 Łódź, ul. Wólczańska 221/223, bud. B18 tel. 42 631 26 28 faks 42 636 03 27 e-mail secretary@dmcs.p.lodz.pl http://www.dmcs.p.lodz.pl PODZESPOŁY I UKŁADY SCALONE MOCY Ćwiczenie A15 Charakterystyki blokowania tranzystorów wysokonapięciowych Ramowy plan pracy 15 30 45 1 h 1 h 15 1 h 30 po zajęciach Opracowanie ćwiczenia i instrukcji: Łukasz Starzak Łódź 2010 wer. 1.1.2. 8.4.2010

Spis treści B Wprowadzenie do ćwiczenia... 5 1. Cel i przebieg ćwiczenia... 5 C Doświadczenie... 7 2. Pomiary... 7 2.1. Przygotowanie układu pomiarowego... 7 Charakterograf przyrządów półprzewodnikowych mocy... 7 Konfiguracja charakterografu... 8 2.2. Charakterystyki blokowania tranzystorów mocy... 8 Pomiary dla tranzystora BJT... 8 Dalsze tranzystory... 10 Zakończenie... 10 D Wyniki... 11 3. Opracowanie i analiza wyników... 11 3.1. Wyznaczenie charakterystyk... 11 3.2. Analiza wyników... 12 E Informacje... 13 4. Literatura... 13

B Wprowadzenie do ćwiczenia 1. Cel i przebieg ćwiczenia Celem ćwiczenia jest doświadczalne zbadanie właściwości tranzystorów mocy różnych typów w zakresie blokowania wysokich napięć. Badania będą dotyczyć zarówno polaryzacji obwodu głównego w kierunku przewodzenia (ścisłego stanu blokowania), jak i polaryzacji w kierunku wstecznym (stanu zaworowego). W tym celu zostaną zmierzone i porównane statyczne charakterystyki przyrządów w obu kierunkach. Niezbędne wiadomości teoretyczne podano w literaturze [1] i instrukcjach [2 5].

C Doświadczenie 2. Pomiary 2.1. Przygotowanie układu pomiarowego Charakterograf przyrządów półprzewodnikowych mocy W ćwiczeniu wykorzystywany jest charakterograf przyrządów półprzewodnikowych mocy. W wykorzystywanym trybie pracy działa on jako generator napięcia stałego. W wyniku tego na ekranie wyświetlany jest zawsze tylko jeden punkt, odpowiadający temu napięciu (współrzędna X) i prądowi upływu płynącemu przez obwód wyjściowy badanego przyrządu (współrzędna Y). Ze względu na szumy występujące w przyrządzie, prąd wykazywać będzie pewne wahania, widoczne szczególnie na niskich zakresach prądu; objawiać się one będą rozszczepieniem prądu na dłuższy lub krótszy pionowy odcinek. Ze względu na losowy charakter szumów, wartość prądu należy odczytywać dla punktu leżącego dokładnie na środku tego odcinka. Badaniu poddane zostaną elementy podane w tab. Tab. 1. Badane przyrządy półprzewodnikowe Symbol Typ Budowa Znamionowy prąd ciągły (T c = 25 C) Napięcie znamionowe BU1508AX BJT 8 A 700 V (CEO) 1500 V (CES) BU1508DX BJT dioda przeciwrównoległa, opornik BE 8 A 700 V (CEO) 1500 V (CES) IRFB9N60A MOSFET VDMOS 9,2 A 600 V IRG4BC10K IGBT 9 A 600 V IRG4BC10KD IGBT dioda przeciwrównoległa 9 A 600 V Jak można stwierdzić, wszystkie one charakteryzują się zbliżoną wytrzymałością napięciową i posiadają podobne prądy znamionowe. Tranzystory należy umieszczać w niebieskim gnieździe przystawki włączonej na stałe w prawe gniazda charakterografu.

8 C 2Podzespoły i układy scalone mocy Ćwiczenie A15. Charakterystyki blokowania tranzystorów wysokonapięciowych (1.1.2) Ze względu na ryzyko przebicia bramki w wyniku wyładowania elektrostatycznego, przed uchwyceniem tranzystora polowego należy uziemić się np. przez dotknięcie bolca przewodu ochronnego w listwie zasilającej. Tranzystor należy przenosić trzymając go za metalowy radiator wbudowany, połączony elektrycznie z drenem lub kolektorem, zaś unikać chwytania za nóżki, szczególnie nóżkę bramki. Podstawowe funkcje charakterografu opisane są w dodatkowej instrukcji dostępnej na stanowisku. W instrukcji tej znajduje się również rysunek charakterografu z zaznaczeniem poszczególnych przełączników, przycisków i pokręteł. Niniejsza instrukcja odwołuje się do oznaczeń literowo-cyfrowych z tego rysunku. Konfiguracja charakterografu 1. Włączyć komputer. Wyszukać i otworzyć karty katalogowe tranzystorów wymienionych wyżej. Znaleźć rysunki pokazujące kolejność wyprowadzeń. 2. Przygotować charakterograf do pracy zgodnie z procedurą podaną w ramce Przygotowanie charakterografu do pracy w instrukcji do charakterografu. 3. Wyjąć czerwony wtyk zewnętrznego zielonego złącza z gniazda charakterografu. Zapewnić, że zielone gniazdo nie będzie dotykać żadnego metalowego elementu, a czerwony wtyk nie zetknie się przypadkowo z żadnym metalowym elementem podczas wykonywania pomiarów. Niewykonanie powyższego punktu rodzi ryzyko porażenia napięciem o wartości do 1,2 kv w przypadku pomyłki w obsłudze charakterografu! 4. Skalibrować położenie plamki na ekranie charakterografu: wcisnąć Zero [C6] i jeżeli plamka nie znajduje się dokładnie w lewym dolnym rogu podziałki (nie licząc linii przerywanych), należy nie puszczając przycisku Zero wyregulować jej położenie jasnoszarymi pokrętłami Position [C2] i Position [C3]. Zadbać o to, by jasność plamki przez cały czas wykonywania pomiarów nie była zbyt duża, gdyż doprowadzi to do przepalenia luminoforu ekranu (pokrętło Intensity w sekcji C). 5. Wprowadzić na charakterografie następujące ustawienia: tryb pomiaru prądu upływu pokrętło Mode [A5] przestawić na Leakage; ograniczenie mocy 2,2 W pokrętło Max Peak Power [A1] przestawić na 2.2 (patrz opis pokrętła w instrukcji do charakterografu). 2.2. Charakterystyki blokowania tranzystorów mocy Pomiary dla tranzystora BJT 1. W gniazdo przystawki włączyć tranzystor BJT (bez diody) wskazany wyżej, zgodnie z opisem końcówek na przystawce w charakterografie oraz rysunkiem układu końcówek w karcie katalogowej. Pokrętłem konfiguracji końcówek [D1] wybrać układ wspólnego emitera (Emitter Grounded) i rozwarcie bazy (Base Term Open). 2. Wybrać dodatnią polaryzację obwodu głównego pokrętło Polarity [A4] przestawić na +. 3. Wprowadzić na charakterografie następujące ustawienia wyjściowe: pomiar napięcia głównego w skali 1 V/dz pokrętło Horizontal Volts/Div [C7] przestawić na Collector 1; skala prądu upływu 1 µa/dz pokrętło Vertical Current/Div [C1] przestawić na Emitter 1 µa; 4. Załączyć zasilanie elementu badanego przestawiając przełącznik Left-Off-Right [D2] w pozycję Right. Stwierdzić, czy bieżący tranzystor przy bieżącej polaryzacji obwodu głównego wykazuje zdolność blokowania napięcia: lekko zwiększyć napięcie zasilania obwodu głównego pokrętłem Variable Collector Supply [A3] i stwierdzić, czy tranzystor przechodzi od razu w stan przewodzenia przy nieznacznym spadku napięcia (brak zdolności blokowania), czy też płynie

Pomiary C 2 9 przezeń niewielki prąd upływu przy napięciu narastającym wraz ze zmianą nastawy Variable Collector Supply (występuje zdolność blokowania). W zależności od wyniku wykonać odpowiednio pkt 5 lub 6. 5. Jeżeli tranzystor wykazuje stan blokowania: a) nastawę Variable Collector Supply [A3] sprowadzić do zera; b) pokrętłem Max Peak Volts [A1] zwiększyć maksymalne napięcie główne do 75 V; zwiększając nastawę Variable Collector Supply [A3] spróbować doprowadzić do przebicia tranzystora uzyskać napięcie, przy którym prąd zaczyna gwałtownie rosnąć lub do wyczerpania zakresu pokrętła Variable Collectror Supply; jeżeli punkt wykracza poza ekran w pionie, zwiększyć nastawę Vertical Current/Div [C1]; jeżeli punkt wykracza poza ekran w poziomie, zwiększyć nastawę Horizontal Volts/Div [C7]; c) jeżeli doprowadzenie do przebicia nie było możliwe przy nastawie 75 V, sprowadzić nastawę Variable Collector Supply [A3] do zera, pokrętłem Max Peak Volts [A1] zwiększyć maksymalne napięcie główne do 1500 V i spróbować ponownie; d) nastawę Variable Collector Supply [A3] sprowadzić do wartości, przy której napięcie na przyrządzie wyniesie 1 dz (przy aktualnych nastawach); e) nastawę Vertical Current/Div [C1] dostosować tak, aby możliwe było jak najdokładniejsze odczytanie wartości prądu upływu w bieżących warunkach; odczytać z ekranu i zanotować: współrzędną pionową punktu w działkach I*, współrzędną poziomą punktu w działkach U*, bieżącą nastawę Vertical Current/Div k I, bieżącą nastawę Horizontal Volts/Div k U ; Jeżeli na ekranie widoczny jest nie punkt lecz odcinek, należy zastosować się do wskazówek podanych w par. 2.1. Jeżeli jeden z końców odcinka znajduje się poza podziałką, można przesunąć cały obraz o pół ekranu (5 działek) w poziomie ciemnoszarym pokrętłem Position [C2], pamiętając o późniejszym przywróceniu go do położenia środkowego. f) zwiększając nastawę Variable Collector Supply [A3], przesuwać punkt na ekranie z krokiem 1 dz w poziomie, po każdym kroku powtarzając podpunkt e), aż tranzystor wejdzie w zakres przebicia; g) w zakresie przebicia, zwiększając nieznacznie nastawę Variable Collector Supply [A3], przesuwać punkt na ekranie w pionie, wykonując po 1 pomiarze dla każdej nastawy Vertical Current/Div [C1] będącej wielokrotnością 10 (tj. 1, 10, 100) jak w podpunkcie e), aż do nastawy 100 µa lub do wyczerpania zakresu pokrętła Variable Collector Supply [A3]; h) sprowadzić nastawę Variable Collector Supply [A3] do zera i zaczekać na rozładowanie kondensatorów wewnątrz charakterografu, o czym świadczyć będzie powrót punktu do początku układu współrzędnych; odłączyć zasilanie od elementu badanego przestawiając przełącznik Left-Off-Right [D2] w pozycję Off; pokrętłem Max Peak Volts [A1] przywrócić bezpieczne maksymalne napięcie główne 15 V. 6. Jeżeli tranzystor wykazuje stan przewodzenia: a) nastawę Vertical Current/Div [C1] sprowadzić do wartości 100 na; pokrętłem Variable Collector Supply [A3] ustawić punkt mniej więcej pośrodku ekranu w pionie; nastawę Horizontal Volts/Div [C7] zmniejszyć tak, aby możliwe było jak najdokładniejsze odczytanie wartości napięcia w bieżących warunkach; b) zwiększając nieznacznie nastawę Variable Collector Supply [A3], przesuwać punkt na ekranie w pionie, wykonując po 1 pomiarze dla każdej nastawy Vertical Current/Div [C1] (począwszy od bieżącej) będącej wielokrotnością 10 (tj. 1, 10, 100), aż do nastawy 100 µa; jeżeli punkt wykroczy poza ekran w poziomie, zwiększyć nastawę Horizontal Volts/Div [C7]; w każdym kroku odczytać z ekranu i zanotować: współrzędną pionową punktu w działkach I*, współrzędną poziomą punktu w działkach U*,

10 C 2Podzespoły i układy scalone mocy Ćwiczenie A15. Charakterystyki blokowania tranzystorów wysokonapięciowych (1.1.2) bieżącą nastawę Vertical Current/Div k I, bieżącą nastawę Horizontal Volts/Div k U ; c) sprowadzić nastawę Variable Collector Supply [A3] do zera i zaczekać na rozładowanie kondensatorów wewnątrz charakterografu, o czym świadczyć będzie powrót punktu do początku układu współrzędnych; odłączyć zasilanie od elementu badanego przestawiając przełącznik Left-Off-Right [D2] w pozycję Off. 7. Zmienić polaryzację obwodu głównego na ujemną pokrętło Polarity [A4] przestawić na. Powtórzyć pkt. 3 4 i odpowiednio 5 lub 6. Dalsze tranzystory 8. Powtórzyć pomiary dla obu polaryzacji obwodu głównego (pkt. 2 7), dla następujących tranzystorów i przy podanej konfiguracji końcówek, którą należy ustawić pokrętłem D1 przed podaniem napięcia na element: Wymieniając element, należy zwrócić uwagę na zachowanie wskazanych wyżej środków bezpieczeństwa oraz na zgodność z rysunkiem układu końcówek w karcie katalogowej. a) BJT bez diody, wspólny emiter (Emitter Grounded), baza zwarta (Base Term Short); b) BJT z diodą, wspólny emiter (Emitter Grounded), baza rozwarta (Base Term Open); c) MOSFET, wspólne źródło (Emitter Grounded), bramka zwarta (Base Term Short); d) IGBT bez diody, wspólny emiter (Emitter Grounded), bramka zwarta (Base Term Short); e) IGBT z diodą, wspólny emiter (Emitter Grounded), bramka zwarta (Base Term Short). Zakończenie 9. Przywrócić bezpieczne nastawy charakterografu: dodatnią polaryzację obwodu głównego Polarity [A4] przestawić na +; zwykły tryb kreślenia charakterystyk Mode [A5] przestawić na Norm; Vertical Current/Div [C1] przestawić na Collector 10 ma; Horizontal Volts/Div [C7] przestawić na Collector 1.

D Wyniki 3. Opracowanie i analiza wyników 3.1. Wyznaczenie charakterystyk 1. Dla każdego przyrządu i punktu pomiarowego uzyskać rzeczywiste wartości prądów i napięć na podstawie zanotowanych współrzędnych punktów I* i U* (w działkach) oraz nastaw wzmocnień k I i k U (odpowiednio w A/dz i V/dz): I = I * (1) k I * * U = U k I e ( k ) (2) U gdzie e U jest błędem pomiaru napięcia dla danej nastawy wzmocnienia pionowego k I, którego wartość należy odczytać z tab. 2. 2. Wykreślić otrzymane charakterystyki prądu w funkcji napięcia, osobno dla każdej z polaryzacji (wszystkie przyrządy na jednym wykresie). Ze względu na szeroki przedział wartości prądu, zastosować skalę logarytmiczną osi Y. U I Tab. 2. Błąd pomiaru napięcia charakterografem Tektronix 576 k I [A/dz] e U [mv/dz] 1 10 9 25 2 10 9 50 5 10 9 125 1 10 8 25 2 10 8 50 5 10 8 125 1 10 7 25 2 10 7 50 5 10 7 125 1 10 6 i więcej 0

12 D 3Podzespoły i układy scalone mocy Ćwiczenie A15. Charakterystyki blokowania tranzystorów wysokonapięciowych (1.1.2) 3.2. Analiza wyników 1. Porównać zbadane przyrządy pod względem zdolności blokowania napięcia w każdym z dwóch kierunków (przewodzenia i wstecznym).wziąć pod uwagę: sam fakt występowania zdolności blokowania, rząd wielkości napięcia przebicia, rząd wielkości prądu upływu, szybkość narastania prądu ze wzrostem napięcia w zakresie blokowania i w zakresie przebicia. 2. Scharakteryzować własności zbadanych tranzystorów BJT w obu kierunkach (zdolność blokowania, wartość napięcia przebicia). Uzasadnić obserwacje wybraną konfiguracją końcówek oraz budową wewnętrzną pokazaną na schemacie wewnętrznych połączeń w karcie katalogowej. Odwołać się do wiadomości na temat napięcia przebicia tranzystora BJT [3] i wpływu dodatkowych elementów monolitycznych układów scalonych [5]. 3. Porównać napięcia przebicia tranzystora IGBT (bez diody) w kierunku przewodzenia i wstecznym. W oparciu o wiadomości teoretyczne stwierdzić, czy badany przyrząd jest tranzystorem PT-IGBT (asymetrycznym) czy NPT-IGBT (symetrycznym) [2]. Porównać charakterystyki tranzystora IGBT tego samego typu bez diody i z diodą przeciwrównoległą. 4. Uzasadnić własności tranzystora MOSFET jego budową wewnętrzną [1]. 5. Porównać wartości napięcia przebicia i prądu upływu z podanymi w kartach katalogowych elementów. Dla których tranzystorów możliwe jest podanie dokładnej wartości napięcia przebicia, a dla których konieczne jest sprecyzowanie, jaką wartość prądu uznaje się za granicę przebicia? Jak ustalili tę granicę producenci przyrządów (jaki prąd wykazany został jako charakterystyczny występujący przy napięciu znamionowym)? Ile procent zapasu występuje między znamionowym napięciem maksymalnym dopuszczalnym a faktycznym zmierzonym napięciem przebicia zbadanych egzemplarzy?

E Informacje 4. Literatura [1] Napieralski A., Napieralska M.: Polowe półprzewodnikowe przyrządy dużej mocy. Warszawa: Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 1995. [2] Starzak Ł.: Laboratorium przyrządów i układów mocy. Ćwiczenie 4 A. Tranzystory IGBT. Łódź: Politechnika Łódzka, 2009. [3] Starzak Ł.: Laboratorium przyrządów i układów mocy. Ćwiczenie 5 A. Tranzystory BJT. Łódź: Politechnika Łódzka, 2009. [4] Starzak Ł.: Laboratorium przyrządów i układów mocy. Instrukcja 0. Wprowadzenie. Łódź: Politechnika Łódzka, 2009. [5] Starzak Ł.: Podzespoły i układy scalone mocy. Ćwiczenie A5. Wzmocnienie prądowe tranzystorów BJT. Łódź: Politechnika Łódzka, 2010.