LABORATORYJNY MIERNIK RLC ELC 3133A DANE TECHNICZNE 1
OGÓLNE DANE TECHNICZNE Mierzone parametry Typ układu pomiarowego L/C/R/D/Q/θ Indukcyjność (L) Tryb domyślny układ szeregowy Pojemność / rezystancja (C/R) Tryb domyślny układ równoległy Wyświetlacze L/C/R: Maksymalne wskazanie 19999 D/Q: Maksymalne wskazanie 999 (automatyczna zmiana podzakresu pomiarowego). Sposób zmiany podzakresu Gniazda pomiarowe Częstotliwość pomiarowa Dokładność: (±0,1%) Automatyczny lub ręczny 4 gniazda typu BNC wraz z zaciskiem masy (GND). 100 Hz 100 Hz 120 Hz 120 Hz 1 khz 1010 Hz 10 khz 9,6 khz Podświetlenie wyświetlacza Dostępne Tryb tolerancji 1%, 5%, 10%, 20% Poziom sygnału pomiarowego ok. 0,8 V, wartość skuteczna Szybkość pomiaru 1 pomiar / s, wartość znamionowa Czas odpowiedzi ok. 1 s na testowany element (w ręcznym trybie zmiany podzakresu) Współczynnik temperaturowy 0,15 x (wyspecyfikowana dokładność) / C (018 C lub 2840 C) Zakres temperatur i wilgotności od 0 C do 40 C; 070% względnych pracy Zakres temperatur i wilgotności od 20 C do 50 C; 080% względnych składowania Pobór mocy 15 VA maks. Zasilanie 220/240 V a.c., 50/60 Hz, bezpiecznik: T 63 ma 110/120 V a.c., 50/60 Hz, bezpiecznik: T 125 ma Bezpiecznik Akcesoria standardowe Akcesoria opcjonalne Wymiary (długość x szerokość x głębokość) Masa 0,1 A/250 V (ochrona wejścia pomiarowego) Instrukcja obsługi na CD (w wersji anglojęzycznej) Instrukcja obsługi drukowana (w wersji polskojęzycznej) Przewód pomiarowy (para) zakończony z jednej strony dwoma wtykami BNC, a z drugiej chwytakiem krokodylowym Przewód zasilający Pakiet RS232 (CP09 z kablem do RS232C) Pakiet RS232 (CP133 z kablem do USB) TL09A sonda SMD 211 x 261 x 71 [mm] 1,6 kg 2
DANE TECHNICZNE ELEKTRYCZNE Dokładność wyrażono w formacie ±(% wartości wskazywanej + liczba najmniej znaczących cyfr) w temperaturze 23 C ±5 C i wilgotności względnej <75%. 1. Pomiar rezystancji (układ zastępczy równoległy) Częstotliwość pomiarowa: 100 / 120 Hz Podzakres pomiarowy Maksymalne wskazanie 100 Hz / 120 Hz 10 MΩ 9,999 MΩ 0,6% + 5 2000 kω 1999,9 kω 0,3% + 3 200 kω 199,99 kω 0,3% + 2 20 kω 19,999 kω 0,3% + 2 2000 Ω 1999,9 Ω 0,3% + 2 200 Ω 199,99 Ω 0,5% + 3 20 Ω 19,999 Ω 0,6% + 40 Częstotliwość pomiarowa: 1 khz / 10 khz Podzakres pomiarowy Maksymalne wskazanie 1 khz 10 khz 10 MΩ 9,999 MΩ 0,6% + 5 2,5% + 10 *U2 2000 kω 1999,9 kω 0,3% + 5 0,8% + 10 *U2 200 kω 199,99 kω 0,3% + 2 0,6% + 5 20 kω 19,999 kω 0,3% + 2 0,6% + 5 2000 Ω 1999,9 Ω 0,3% + 2 0,6% + 5 200 Ω 199,99 Ω 0,5% + 3 1,2% + 25 20 Ω 19,999 Ω 0,6% + 40 1,2% + 200 : 1. Testowany element oraz przewody pomiarowe powinny ekranowane, przy czym stan tego ekranowania powinien być dobry. 2. Dokładność podana dla tych podzakresów jest wyspecyfikowana dla pomiaru w układzie zastępczym równoległym. 3
2. Pomiar pojemności (układ zastępczy równoległy) Częstotliwość pomiarowa: 100 / 120 Hz Podzakres Maksymalne pomiarowy wskazanie Pojemność D 10 mf 19,99 mf 2,5% + 5 5%+100/Cx+5 *U4 1000 µf 1999,9 µf 0,6% + 5 1%+100/Cx+5 *U5 200 µf 199,99 µf 20 µf 19,999 µf 2000 nf 1999,9 nf 200 nf 199,99 nf 0,4% + 5 0,4%+100/Cx+5 20 nf 19,999 nf 0,6% + 5 1%+100/Cx+5 Częstotliwość pomiarowa: 1 khz Podzakres Maksymalne pomiarowy wskazanie Pojemność DF 1 mf 1,999 mf 2,5% + 5 5%+100/Cx+5 *U4 200 µf 199,99 µf 0,6% + 5 1,2%+100/Cx+5 20 µf 19,999 µf 2000 nf 1999,9 nf 200 nf 199,99 nf 0,4% + 5 0,4%+100/Cx+5 20 nf 19,999 nf 0,4% + 5 0,4%+100/Cx+5 2000 pf 1999,9 pf 0,6% + 5 1,0%+100/Cx+5 4
Częstotliwość pomiarowa: 10 khz Podzakres Maksymalne pomiarowy wskazanie Pojemność DF 50 µf 50,0 µf 2,0% + 10 8%+100/Cx+10 20 µf 19,999 µf 2,0% + 6 3,0%+100/Cx+8 (D<0,2) (D<0,2) 2000 nf 1999,9 nf 1,0% + 5 1,0%+100/Cx+6 200 nf 199,99 nf 1,0% + 5 1,0%+100/Cx+6 20 nf 19,999 nf 1,0% + 5 1,0%+100/Cx+6 2000 pf 1999,9 pf 1,2% + 6 2,0%+100/Cx+6 200 pf 199,99 pf 2,0% + 8 4,0%+100/Cx+8 : 1. Wartość dobroci Q jest odwrotnością stratności D. 2. Testowany element oraz przewody pomiarowe powinny ekranowane, przy czym stan tego ekranowania powinien być dobry. 3. Cx = cyfry wyświetlanej wartości C, jeśli np. C = 88,88 µf, to Cx = 8888 4. Wskazanie to można rozszerzyć maksymalnie do 1999, jednak przy niewyspecyfikowanej dokładności pomiaru. 5. Wskazanie to można rozszerzyć maksymalnie do 19999, jednak przy niewyspecyfikowanej dokładności pomiaru. 6. Na dokładność pomiaru pojemności kondensatora ceramicznego będzie miała wpływ stała dielektryczna K materiału użytego na wytworzenie tego kondensatora. Wpływ innych parametrów patrz rozdział 3.5 "Parametry warunków pomiaru". 5
3. Pomiar indukcyjności (układ zastępczy szeregowy) Częstotliwość pomiarowa: 100 / 120 Hz Podzakres Maksymalne (D<0,5) pomiarowy wskazanie Indukcyjność D 1000 H 999,9 H 1%+100/Lx + 5 200 H *U1 199,99 H 0,8%+100/Lx + 5 20 H *U1 19,999 H 0,8%+100/Lx + 5 2000 mh 1999,9 mh *U1 0,8%+100/Lx + 5 200 mh 199,99 mh 0,8% + (Lx 1,5%+100/Lx + 5 20 mh 19,999 mh 1,0% + (Lx 5%+100/Lx + 5 *U2 : 1. Gdy wartość wskazywana jest mniejsza od 10% wartości pełnozakresowej, to wyspecyfikowanej powyżej dokładności pomiaru należy dodać 10 cyfr. 2. Dokładność podana dla tego podzakresu jest wyspecyfikowana dla pomiaru w układzie zastępczym szeregowym. Częstotliwość pomiarowa: 1 khz Podzakres Maksymalne (D<0,5) pomiarowy wskazanie Indukcyjność D 100 H 99,99 H 1,0%+100/Lx + 5 20 H 19,999 H 0,8%+100/Lx + 5 2000 mh 1999,9 mh 0,8%+100/Lx + 5 200 mh 199,99 mh 0,8%+100/Lx + 5 20 mh 19,999 mh 0,5% + (Lx 2,5%+100/Lx + 5 2000 µh 1999,9 µh 1,0% + (Lx 5%+100/Lx + 5 6
Częstotliwość pomiarowa: 10 khz Podzakres Maksymalne (D<0,5) pomiarowy wskazanie Indukcyjność D 1000 mh 999,9 mh 2,0% + (Lx /10000)% + 8 1,5%+100/Lx + 10 *U4 200 mh 199,99 mh 0,6% + (Lx /10000)% + 8 1,5%+100/Lx + 10 20 mh 19,999 mh 0,6% + (Lx /10000)% + 10 2,0%+100/Lx + 15 2000 µh 1999,9 mh 1,0% + (Lx 5,0%+100/Lx + 20 /10000)% + 10 : 1. Wartość dobroci Q jest odwrotnością stratności D. 2. Powyższe dane techniczne bazują na pomiarze wykonywanym z użyciem wyspecyfikowanych przewodów pomiarowych. 3. Lx = cyfry wyświetlanej wartości L, jeśli np. L = 88,88 µf, to Lx = 8888 4. Dokładność podana dla tego podzakresu jest wyspecyfikowana dla pomiaru w układzie zastępczym szeregowym. 7