Załącznik nr 1 do SIWZ z dnia 16.06.2010 r. Opis przedmiotu zamówienia (Wykonawca jest obowiązany wypełnić część dotyczącą parametrów oferowanego urządzenia i załączyć dokument do oferty) SPEKTROMETR FTIR (WRAZ Z WYPOSAŻENIEM DO ANALIZY BIAŁEK) Nazwa/typ/model oferowanego urządzenia:... Producent:... Lp. Opis parametrów minimalnych Opis oferowanych parametrów Spektrometr FTIR na zakres podczerwieni i bliskiej podczerwieni 1. Dwa źródła promieniowania wybierane i przełączane komputerowo: lampa wolframowa na zakres 27000 2000 cm -1 oraz trwałe źródło ceramiczne na zakres średniej i dalekiej podczerwieni 9600 20 cm -1 o maksymalnej temp. pracy 1577K, nie wymagające chłodzenia wodą. Temperatura źródła kontrolowana elektronicznie, układ sterujący pozwalający na pracę w 3 trybach: oszczędnościowym, standardowym i maksymalnej energii (Gwarancja na źródło: min. 5 lat) 2. Uniwersalny dzielnik wiązki (beamsplitter) IR/NIR: XT- KBr na zakres 11000 375 cm -1. Automatyczne rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez system. System wymiany beamsplitterów umożliwiający rozbudowę o kolejne zakresy spektralne. Miejsce na przechowanie 2 zapasowych beamsplitterów wewnątrz aparatu w głównym przedziale optyki osuszanym i przedmuchiwanym 3. Detektor: DLaTGS na zakres 12500 350 cm -1, w sferze integrującej InGaAs na zakres 12000 3800 cm -1 4. Pokrywa przedziału detektorów umożliwiająca łatwy dostęp i wymianę detektorów. 5. Możliwość rozbudowy zakresu spektralnego do 27000 15 cm -1 6. Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0.09 cm -1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO) 7. Interferometr Michelsona 90º, nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru. Gwarancja na interferometr: min. 5 lat. 1
8. Automatyczne rozpoznawanie przez system opcjonalnych akcesoriów pomiarowych 9. Detektory i beamsplittery rozpoznawane z poziomu oprogramowania. 10. Możliwość rozbudowy do pracy z technikami łączonymi: TG/IR, GC/IR, Raman, mikroskopia IR, FT-SPR. 11. Możliwość rozbudowy do technik step-scan oraz do zaawansowanych pomiarów dwukanałowych. 12. Możliwość rozbudowy o drugą komorę pomiarową. 13. Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym pokrywane złotem 14. Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16cm -1 (odstęp danych 8 cm -1 ) 15. Szybkość skanowania automatycznie regulowana w zakresie co najmniej 0.15 6.22 cm/s 16. Komunikacja aparatu z jednostką sterującą przez szybki port USB 2.0. 17. Układ optyczny szczelny i osuszany z okienkami oddzielającymi przedział próbek. Podłączenia do przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem wraz z regulatorem przepływu i ciśnienia. Oprogramowanie 18. Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC pracujący w systemie Windows XP lub Vista Business, lub Windows 7 Professional. 32-bitowe oprogramowanie dostarczane przez producenta spektrometru kompatybilne z Windows XP Pro, Vista. Musi być w pełni kompatybilne z systemami operacyjnymi w języku polskim. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows lub przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Wymagana charakterystyka: - logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu, - funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału, - podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office), - funkcje przetwarzania widma: korekcja linii bazowej automatyczna i manualna, wygładzanie, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, - funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell- McCormick, uzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt, - przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca, - tworzenie własnych bibliotek użytkownika, - w zestawie biblioteki widm obejmujące co 2
najmniej 1000 widm - kompatybilność z formatem widm i bibliotek widm programu WinFIRST posiadanych przez IBA spektrometrów Mattson Genesis - moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujacy algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej co najmniej następujące: - do analiz ilościowych - Prawo Lamberta-Beera - klasyczna metoda najmniejszych kwadratów - do analiz klasyfikacyjnych - przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm - wektorowa analiza podobieństwa - analiza korelacyjna widm uśrednionych - analiza odległości Mahalanobisa widm znormalizowanych - analiza dyskryminacyjna ze skalowaniem jednorodnym lub unikalnym dla każdej klasy - moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji, - moduł spektralnej interpretacji widm, - automatyczna korekcja zawartości CO 2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych - wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru), - automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu, - aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu, - wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów, - archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu - możliwość rozbudowy o system ochrony danych zgodnie z wytycznymi FDA (CFR 21, rozdział 11). Zestaw komputerowy 19. PC o parametrach nie gorszych niż: - procesor: do komputera PC, ilość rdzeni 4, częstotliwość procesora minimum 2600 MHz, Wydzielana moc 95 W, Cache 3 poziomu, 4 wątki, kompatybilny z systemami Windows, - RAM: min. 4 GB z możliwością rozbudowy do 8 GB; DDR3-1333, - dysk twardy: min. 320 GB, SATA II, - napęd: DVD +/- RW z oprogramowaniem do nagrywania, - karta sieciowa 10/100/1000 Mbit/s, - min. 8 portów USB 2.0, z tego min. 2 na panelu 3
przednim, - klawiatura; mysz optyczna, - monitor LCD min. 22, - Win XP Pro lub Vista Business, lub Windows 7 Professional. Gwarancja na komputer min. 36 miesięcy. Wyposażenie 20. Wysokociśnieniowa przystawka ATR do szybkiego pomiaru próbek z monolitycznym kryształem diamentowym typu IIa na zakres 10 000 55 cm -1 do szybkich analiz bez konieczności przygotowania próbek. Wyposażona w odchylane urządzenie dociskowe o regulowanej sile docisku, automatycznie rozpoznawana przez spektrometr z automatycznym ładowaniem optymalnych parametrów analizy. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru - po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu 21. Sfera integrująca o wydajności zbierania promieniowania > 95% ze zintegrowanym detektorem InGaAs, okienkiem szafirowym i wbudowanym poniżej okienka zmotoryzowanym wzorcem do automatycznego pomiaru tła. Sfera automatycznie rozpoznawana i sprawdzana przez system 22. Przystawka do pomiarów transmisyjnych w kontrolowanej atmosferze do szybkich badań jakościowych białek i określenia ich struktury drugorzędowej. Kontrola temperatury z termoelektrycznym grzaniem i chłodzeniem w zakresie co najmniej od 5 do 80 C. W zestawie cyfrowy kontroler temperatury ze złączem USB, moduł oprogramowania do analizy białek, podręcznik analizy białek metodą spektroskopii w podczerwieni. Kuweta z okienkami CaF 2 z obudową zapewniającą szczelne skręcanie kuwety przy pomocy śrub i dostarczanego klucza dynamometrycznego. Zestaw po co najmniej 10 przekładek o grubości 15 oraz 6 mikrometrów. 2 strzykawki szklane 1cm 3 ze szklanym tłokiem bez uszczelek do napełniania kuwety 23. Zestaw certyfikowanych wzorców obejmujący co najmniej następujące wzorce: folia polistyrenowa o grubości ok. 35µm filtr szklany typu NG11 24. Zestaw walidacyjny obejmujący pełną dokumentację DQ/IQ/OQ wraz z formularzami testów, oprogramowanie ze zautomatyzowanymi testami spektrometru współpracujące z przystawką walidacyjną, wykresy trendu z historii walidacji, testy kwalifikacji algorytmów oprogramowania 25. Adapter umożliwiający zastosowanie przystawki HATR PIKE do spektrometru Mattson Genesis w oferowanym aparacie 26. Płytka pomiarowa z kryształem ZnSe 45 w oprawce z wgłębieniem do przystawki HATR PIKE Pozostałe wymagania 27. Instrukcje obsługi w języku polskim i angielskim w formie drukowanej i elektronicznej. 4
28. Gwarancja minimum 12 miesiące od uruchomienia, przy czym na źródło promieniowania i interferometr co najmniej 5 lat.. Serwis w okresie gwarancji i pogwarancyjny w Polsce, czas reakcji w przypadku zgłoszenia awarii do 2 dni roboczych (zgłoszenie telefoniczne, faxem lub e-mailem). Termin usunięcia awarii do 7 dni roboczych. 29. Przegląd serwisowy i ponowne wykonanie testów OQ zamawianych urządzeń w siedzibie zamawiającego w 12- tym miesiącu od uruchomienia, bez dodatkowych opłat. 30. Części zamienne do zamawianych urządzeń dostępne minimum 10 lat od daty zakupu, w okresie gwarancji bezpłatnie. 31. Instalacja i uruchomienie urządzeń wraz ze sprawdzeniem poprawności działania. 32. Instruktaż z obsługi urządzenia i oprogramowania. 33. Deklaracja oferenta, że urządzenia są fabrycznie nowe załączyć do oferty. Wyklucza się urządzenia używane lub składane z używanych części. 34. Oświadczenie oferenta, że urządzenia są kompletne i po zainstalowaniu będą gotowe do pracy bez konieczności dodatkowych zakupów załączyć do oferty. 35. Deklaracja zgodności CE załączyć do oferty. 36. Termin wykonania zamówienia: do 12 tygodni od daty udzielenia zamówienia, tj. podpisania umowy. Niespełnienie choćby jednego z powyższych parametrów skutkować będzie odrzuceniem oferty... (miejscowość, data).. ( podpis i pieczęć) 5