PL B1. Sposób kalibracji sekwencji obrazowania dyfuzji w eksperymencie typu DMRI przeprowadzanym w tomografie MR

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "PL B1. Sposób kalibracji sekwencji obrazowania dyfuzji w eksperymencie typu DMRI przeprowadzanym w tomografie MR"

Transkrypt

1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: (51) Int.Cl. G01N 24/00 ( ) G01R 33/58 ( ) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: (54) Sposób kalibracji sekwencji obrazowania dyfuzji w eksperymencie typu DMRI przeprowadzanym w tomografie MR (43) Zgłoszenie ogłoszono: BUP 04/17 (73) Uprawniony z patentu: AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: WUP 06/19 (72) Twórca(y) wynalazku: ARTUR KRZYŻAK, Kraków, PL (74) Pełnomocnik: rzecz. pat. Adam Pawłowski PL B1

2 2 PL B1 Opis wynalazku Przedmiotem wynalazku jest sposób kalibracji sekwencji obrazowania dyfuzji w eksperymencie typu DMRI przeprowadzanym w tomografie MR, zwłaszcza w eksperymencie typu DWI, DTI, FMRI-DTI. Obrazowanie metodą rezonansu magnetycznego (ang. MRI, Magnetic Resonance Imaging) to nieinwazyjna metoda uzyskiwania obrazów wnętrza obiektów. Ma zastosowanie w biologii, geologii czy medycynie, gdzie jest jedną z podstawowych technik tomografii. Tomografia to metoda diagnostyczna umożliwiająca uzyskanie obrazu przedstawiającego przekrój przez ciało lub jego część. Szczególną techniką rezonansu magnetycznego jest metoda dyfuzyjna (ang. Diffusion MRI, DMRI). Umożliwia ona mapowanie procesów dyfuzji molekuł, zwłaszcza wody, w układach porowatych np. rdzeni skał czy tkanek biologicznych. Dyfuzja molekularna odwzorowuje interakcje z przeszkodami, takimi jak makromolekuły, włókna, membrany itp. Rozkłady dyfuzji cząsteczek wody pozwalają więc na ujawnienie mikroskopowych informacji o architekturze badanych obiektów. Pozwalają również na ilościowe, nieinwazyjne określenie substancji zawierających wodę czy węglowodory. Odmianami DMRI są metody DWI (ang. Diffusion Weighted Imaging), DTI (ang. Diffusion Tensor Imaging) czy FMRI-DTI (ang. Diffusion Functional MRI-DTI). Jednym ze sposobów kalibracji tomografu MR w eksperymentach DWI, DTI, FMRI-DTI jest wykorzystanie anizotropowych fantomów dyfuzji, dla których określa się przestrzenny rozkład tensora dyfuzji dla danej sekwencji obrazowania magnetycznego rezonansu jądrowego MRJ, co opisano w patencie amerykańskim nr US czy też publikacji Improving the accuracy of PGSE DTI experiments using the spatial distribution of b matrix. Magnetic Resonance (Krzyzak AT, Olejniczak Z, BSD-DTI, Imaging 2015; 33: ). W znanym stanie techniki, wartości macierzy b potrzebne dla obliczenia tensora dyfuzji, są określane analitycznie, dla każdej dyfuzyjnej sekwencji obrazowania MR i dla każdego tomografu oddzielnie, w sposób przybliżony, ze względu na skomplikowane wzory służące do ich wyliczenia. W obliczeniach tensora dyfuzji jest stosowana również pojedyncza wartość macierzy b, dla danego wektora gradientu dyfuzji pola magnetycznego, przyjmowana dla całej objętości badanego obiektu. Wadą znanych sposobów obliczania tensora dyfuzji jest wysoka zawartość błędów przeliczeniowych, wynikających ze stosowania przybliżonych wartości macierzy b oraz z założenia braku przestrzennego rozkładu macierzy b. Stwarza to znaczne trudności we właściwym, precyzyjnym i ilościowym określeniu zmian dyfuzji wody obiektu badanego tomografem MR oraz brakiem powtarzalności otrzymanych wyników. Dla różnych tomografów MR występują różne sekwencje MR, co w konsekwencji daje różne, trudne do porównania wyniki. Wyniki te są obarczone błędami, ze względu na brak możliwości właściwego określenia wartości macierzy b. Pierwsze rozwiązanie tego problemu zostało opisane w polskim zgłoszeniu patentowym nr P i znane jest pod nazwą BSD-DTI (ang. B-matrix Spatial Distribution in DTI), jak opisano w publikacji Improving the accuracy of PGSE DTI experiments using the spatial distribution of b matrix. Magnetic Resonance" (Krzyzak AT, Olejniczak Z, BSD-DTI, Imaging 2015; 33: ). Metoda BSD-DTI eliminuje opisane powyżej wady, pozwalając na precyzyjny pomiar współczynników dyfuzji i tensora dyfuzji przy pomocy dowolnej sekwencji obrazowania, w szczególności w eksperymentach DWI, DTI, FMRI-DTI. Rozwiązanie to polega na tym, że dla dokonania kalibracji dowolnej sekwencji tomografu MR anizotropowym fantomem dyfuzji, anizotropowy fantom dyfuzji zostaje umieszczony w polu oddziaływania cewki RF w badanej przestrzeni tomografu MR, po czym dla obliczenia przestrzennego rozkładu współczynnika dyfuzji (dla eksperymentów DWI) lub tensora dyfuzji (dla eksperymentów DTI) wyznacza się wymaganą liczbę macierzy b w oparciu o anizotropowy wzorzec dyfuzji. Co stanowi, oprócz macierzy b0, nie mniej niż jedną dla DWI, a dla DTI nie mniej niż sześć macierzy b, określonych dla każdego woksela i dla każdego wymaganego kierunku wektora gradientu dyfuzyjnego. Wartości macierzy b dla danego wektora gradientu dyfuzji określa się, poprzez rozwiązanie układu nie mniej niż sześciu równań dla różnych wartości tensora dyfuzji D. Dla danego kierunku wektora gradientu dyfuzyjnego różne wartości tensora dyfuzji uzyskuje się, korzystnie, poprzez obrót anizotropowego fantomu dyfuzji w badanej przestrzeni tomografu MR, który stanowi wzorzec dyfuzji, dla którego tensor dyfuzji w układzie osi głównych posiada znane wartości. Wzorcem dyfuzji wykonuje się obroty o różne wartości kątów Eulera tak, aby wyznacznik macierzy DM, której kolumny odpowiadają składowym tensora dyfuzji D po kolejnych obrotach wzorca dyfuzji o określone kąty Eulera, był różny od zera. Celowym byłoby dalsze usprawnienie sposobów kalibracji sekwencji obrazowania w eksperymencie typu DMRI, celem uproszczenia procedur i zmniejszenia czasu potrzebnego na kalibrację.

3 PL B1 3 Sposób według wynalazku jest podejściem alternatywnym dla opisanego powyżej rozwiązania BSD-DTI. Znacznie (korzystnie, dwukrotnie) redukuje czas potrzebny na kalibrację i upraszcza procedury kalibracji. Istotą wynalazku jest sposób kalibracji sekwencji obrazowania dyfuzji w eksperymencie typu DMRI przeprowadzanym w tomografie MR, w którym to eksperymencie oblicza się współczynniki dyfuzji i/lub tensora dyfuzji na podstawie przestrzennego rozkładu macierzy b uzyskanego jako efekt kalibracji. Podczas kalibracji wykonuje się następujące kroki: w polu oddziaływania cewki RF w badanej przestrzeni tomografu MR: umieszcza się anizotropowy fantom dyfuzji, który ma ograniczenie dyfuzji w przynajmniej jednym kierunku wzdłuż jednej z osi układu osi głównych związanych z tym fantomem, o znanych wartościach tensora dyfuzji; który to anizotropowy fantom dyfuzji umieszcza się kolejno w 3 różnych położeniach ortogonalnych względem siebie; a ponadto w miejscu umieszczenia fantomu anizotropowego o znanym rozkładzie tensora dyfuzji umieszcza się fantom izotropowy o znanym współczynniku dyfuzji. Dla każdego położenia fantomu anizotropowego oraz dla położenia fantomu izotropowego wykonuje się pomiary sygnału MRJ, określając z nich następnie wartości macierzy b. Określenia macierzy b dokonuje się dla każdego woksela stałej określonej objętości zawartej jednocześnie wewnątrz fantomu anizotropowego i izotropowego w ten sposób, że dla każdego woksela 3 elementy diagonalne (bxx, byy, bzz) macierzy b oraz ich wartość efektywną (beff) obliczaną jako sumę trzech elementów diagonalnych (bxx byy, bzz) określa się z eksperymentów obrazowania dyfuzji wykonanych dla 3 położeń fantomu anizotropowego będącego wzorcem anizotropowego tensora dyfuzji. Dla każdego woksela określa się wartość efektywną macierzy (beff_iso) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu izotropowego będącego wzorcem izotropowego tensora dyfuzji, natomiast wartości diagonalne (bxx, byy, bzz) oraz wartość efektywną macierzy b (beff) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu anizotropowego normalizuje się do wartości efektywnej macierzy (beff_iso) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu izotropowego będącego wzorcem izotropowego tensora dyfuzji. Uzyskany przestrzenny rozkład macierzy b podaje się jako efekt kalibracji sekwencji typu DMRI dla danego tomografu. Korzystnie, określenie przestrzennego rozkładu macierzy b wykonuje się dla różnych parametrów sekwencji dyfuzyjnej, wybranych z grupy zawierającej: wartości gradientów dyfuzji, czasy dyfuzji, kierunki wektora gradientu dyfuzji, amplitudy wektora gradientu dyfuzji. Korzystnie, kalibrację powtarza się w kolejnych krokach iteracyjnych przyjmując za wartości początkowe przestrzenne rozkłady macierzy b uzyskane w kroku poprzednim. Korzystnie, weryfikuje się uzyskane przestrzenne rozkłady macierzy b poprzez ich użycie do obliczeń tensora dyfuzji dla wzorcowych fantomów izotropowego i anizotropowego o znanych wartościach tensora dyfuzji. Korzystnie, jeśli odchylenie standardowe dla przestrzennego rozkładu tensora dyfuzji dla fantomów wzorcowych przekracza pożądaną wartość, to w celu uzyskania dokładniejszych wyników powtarza się kalibrację sekwencji obrazowania dyfuzji w celu dalszego skorygowania przestrzennego rozkładu macierzy b. Korzystnie, otrzymane skorygowane przestrzenne rozkłady macierzy b stanowią element finalny kalibracji dowolnej sekwencji obrazowania eksperymentu typu DMRI, które następnie wykorzystuje się rutynowo przy obrazowaniu dowolnego obiektu w eksperymencie typu DMRI. Korzystnie, kalibrację wykonuje się przed każdą zmianą parametrów sekwencji obrazowania, w szczególności przed zmianą wartości i kierunków wektorów gradientów dyfuzyjnych. Korzystnie, anizotropowy fantom dyfuzji umieszcza się kolejno w 3 jego ortogonalnych położeniach zachowując zgodność osi głównych fantomu z osiami układu laboratoryjnego. Korzystnie, wartości pozadiagonalne macierzy b określa się jako iloczyny pierwiastków elementów diagonalnych. Korzystnie, dla każdego woksela do określania współczynników dyfuzji w eksperymentach DWI używa się obliczonych dla tego woksela wartości macierzy b. Korzystnie, dla każdego woksela do określania składowych tensora dyfuzji w eksperymentach DTI używa się obliczonych dla tego woksela wartości macierzy b. Przedmiot wynalazku przedstawiono w przykładzie wykonania na rysunku, na którym: Fig. 1A 1C przedstawiają trzy przykładowe położenia fantomu anizotropowego płytkowego ortogonalne względem siebie wewnątrz cewki RF, a Fig. 1D przedstawia przykładowe położenie fantomu izotropowego wewnątrz cewki RF;

4 4 PL B1 Fig. 2 przedstawia schemat sposobu według wynalazku; Fig. 3A 3B przedstawiają rozkłady wartości głównych tensora dyfuzji. Fig. 3C przedstawia rozkład różnicowy macierzy beff uzyskany przy pomocy sbsd-dtl. W niniejszym opisie metoda według wynalazku będzie określana jako sbsd-dtl (simplified B-matrix Spatial Distribution in DTI) i sbsd-dwi (simplified B-matrix Spatial Distribution in DWI) dla eksperymentów DTI i DWI, odpowiednio. W niniejszym opisie następujące skróty oznaczają: MR Rezonans Magnetyczny (ang. Magnetic Resonance) MRJ Magnetyczny Rezonans Jądrowy (ang. Nuclear Magnetic Resonance) DTI Obrazowanie Tensora Dyfuzji (ang. Diffusion Tensor Imaging) DWI Obrazowanie ważone dyfuzyjnie (ang. Diffusion Weighted Imaging) FMRI-DTI Funkcjonalne obrazowanie za pomocą obrazowania Tensora Dyfuzji (ang. Functional Magnetic Resonance Imaging Diffusion Tensor Imaging). BSD-DTI ang. B-matrix Spatial Distribution in DTI. W sposobie według wynalazku, przestrzenny rozkład macierzy b jest dokładnie określany z pomiarów DMRI fantomu anizotropowego w 3 różnych położeniach ortogonalnych względem siebie oraz z pomiarów fantomu izotropowego. Następnie określony w ten sposób rozkład przestrzenny macierzy b stanowi element kalibrujący dla danej sekwencji obrazowania (DWI, DTI, FMRI-DTI). Fig. 1A 1C przedstawiają trzy przykładowe położenia fantomu anizotropowego płytkowego 101 ortogonalne względem siebie wewnątrz cewki RF 111, a Fig. 1D przedstawia przykładowe położenie fantomu izotropowego 102 wewnątrz cewki RF 111. Wskazanym jest, aby osie główne fantomu x, y, z były zgodne z osiami układu laboratoryjnego X, Y, Z. Fantomy umieszcza się tak, aby objętość zawarta jednocześnie wewnątrz fantomu anizotropowego (101) i izotropowego (102) obejmowała kalibracją przestrzeń, w której następnie będą badane obiekty właściwe. Można więc zastosować jeden zestaw dużych fantomów, których wspólna objętość obejmuje całą przestrzeń w której będą badane obiekty właściwe, lub też zestaw mniejszych fantomów, które umieszcza się kolejno w różnych miejscach cewki RF, tak aby objąć badaniem całą przestrzeń, w której będą badane obiekty właściwe. Wartości macierzy b dla dowolnego elementu przestrzeni wewnątrz cewki RF powinny być takie same. Istnienie niejednorodnego rozkładu wskazuje na niepożądany rozkład gradientów pola magnetycznego, który to rozkład można uwzględnić w eksperymentach właściwych i skorygować DMRI dla dowolnego badanego obiektu. Anizotropowy fantom dyfuzji dla kalibracji dowolnej sekwencji obrazowania M R według wynalazku, stanowi dowolnego kształtu, dowolny fantom wykazujący anizotropię dyfuzji, dla wodoru zawartego w H2O i dopasowany do danej cewki RF. Fantom posiada taką budowę, aby występowało ograniczenie dyfuzji w przynajmniej jednym kierunku układu osi głównych (x, y, z Fig. 1A 1C) związanych z fantomem, dla danej temperatury, danego zakresu czasów dyfuzji,, w danej dyfuzyjnej sekwencji obrazowania MR. Przykładowo, może to być fantom kapilarny lub płytkowy. Dyfuzja swobodna cząstek wody, zachodząca przykładowo w poprzek kapilar, lub prostopadle do płaszczyzny cienkich płytek szklanych, jest zatrzymana przez przeciwległą ściankę kapilary, czy też przez płaszczyznę sąsiadującej cienkiej płytki szklanej, wykazując ograniczenie procesu dyfuzji. Poprzez regulację średnic kapilar, czy też grubości warstwy H 2O, hydrożelu lub dowolnej substancji zawierającej jądra wodoru, pomiędzy cienkimi płytkami szklanymi, wyznacza się wielkość ograniczenia dyfuzji dla określonych czasów dyfuzji, wiedząc, że swobodna dyfuzja jest określona równaniem Einsteina-Smoluchowskiego: (r-ro)(r-ro) = 6Dt (1) gdzie: r wektor położenia dyfundującej cząsteczki po czasie t, ro wektor położenia początkowego. Równanie określa zależność między średnim kwadratem drogi a współczynnikiem dyfuzji D.

5 PL B1 5 Anizotropowy fantom dyfuzji, można w układzie laboratoryjnym opisać symetrycznym tensorem dyfuzji D (ang. Diffusion Tensor) w postaci: który po diagonalizacji w układzie osi głównych otrzymuje postać: gdzie: Dij to składowe symetrycznego tensora dyfuzji w układzie laboratoryjnym; D1, D2, D3 to współczynniki dyfuzji tensora wyznaczone w układzie osi głównych, korzystnie zgodnym z układem osi fantomu. Kalibrację dowolnej sekwencji obrazowania dyfuzji w eksperymentach MR sposobem według wynalazku, dokonuje się w celu precyzyjnego pomiaru współczynnika dyfuzji lub/i tensora dyfuzji dla dowolnego obiektu. Pomiaru tensora dyfuzji w eksperymentach DWI, DTI i FMRI-DTI dokonuje się korzystając ze znanego wzoru podanego w 1965 roku przez Stejskalla i Tannera: gdzie: A(b) to sygnał echa (intensywność obrazu MR) dla danej wartości b mierzony dla każdego woksela; A(0) to intensywność obrazu MR dla b=0; Bij jest elementem symetrycznej macierzy b ; Dij jest elementem symetrycznego tensora dyfuzji D. Ze wzoru (2) wynika, że dla eksperymentów DTI, w celu obliczenia tensora dyfuzji dla wody, gdzie symetryczny tensor stanowi macierz 3x3, należy wykonać nie mniej niż siedem eksperymentów MR, dla których sekwencje MR będą zawierały sześć różnych, nie współliniowych kierunków gradientów dyfuzyjnych i jeden siódmy bez gradientów dyfuzyjnych. Stąd dla najprostszego eksperymentu DTI, dla każdego wektora gradientu dyfuzji, istnieje potrzeba wyznaczenia nie mniej niż sześciu symetrycznych macierzy b, z których każda zawiera sześć różnych składowych. Przyjmując typowe założenie stosowane w praktyce komercyjnej, że macierz b jest reprezentowana przez wyrażenie b = bg (3) gdzie b jest stałym współczynnikiem dla dowolnego pomiaru DWI w kierunku zdefiniowanym przez jednostkowy wektor gradientu dyfuzji Gn T = (gx, gy, gz) a macierz g jest iloczynem GnGn T, zatem To podejście zakłada brak wpływu gradientów obrazujących oraz ich interakcji z gradientami dyfuzyjnymi. Ponadto redukuje liczbę zmiennych potrzebnych do określenia macierzy b z 6 do 3. Sposobem kalibracji według wynalazku buduje się i dobiera fantom dyfuzji do badanej przestrzeni, dla danej cewki RF, w zależności od jej kształtu i parametrów. Typowe przykłady podziału

6 6 PL B1 cewek według typu to: objętościowe, powierzchniowe, bird-cage, siodłowe. Natomiast według przeznaczenia to np. cewki diagnostyczne: na głowę, rdzeń kręgowy, bark, tułów, kończyny, stawy kolanowe, łokciowe etc. Dla dokonania kalibracji dowolnej sekwencji tomografu MR anizotropowym oraz izotropowym fantomem dyfuzji według wynalazku, wzorcowe fantomy dyfuzji umieszcza się (krok 201) w badanej przestrzeni tomografu MR, przy czym fantom anizotropowy umieszcza się w przynajmniej trzech różnych położeniach ortogonalnych względem siebie wewnątrz cewki RF (jak przykładowo przedstawiono na Fig. 1A-1C). Przy czym ilość różnych położeń zależy od wymaganej dokładności eksperymentu. Im większa ilość pomiarów, tym później dokładniejszy rozkład macierzy b i tym dokładniejsza kalibracja danej sekwencji obrazowania dyfuzji. W każdym położeniu fantomów wykonuje się pomiary sygnałów MR (krok 202) dla każdego elementu przestrzeni (woksela), określając dla niego następnie składowe macierzy b, korzystając ze wzorów (2, 3 i 4). W szczególności, dla każdego woksela, dla 3 położeń fantomu anizotropowego będącego wzorcem anizotropowego tensora dyfuzji określa się (krok 203) 3 elementy diagonalne (bxx, byy, bzz) macierzy b oraz ich wartość efektywną (beff) obliczaną jako sumę tych trzech elementów diagonalnych (bxx, byy, bzz). Ponadto, dla każdego woksela określa się wartość efektywną macierzy (beff_iso) (krok 206) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu izotropowego (krok 204, 205) będącego wzorcem izotropowego tensora dyfuzji. Następnie, wartości diagonalne (bxx, byy, bzz) oraz wartość efektywną macierzy b (beff) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu anizotropowego normalizuje się do wartości efektywnej macierzy (beff_iso) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu izotropowego. Wartość efektywna macierzy (beff_iso) z eksperymentu dla fantomu izotropowego może być określona z większą dokładnością niż poszczególne wartości diagonalne (bxx, byy, bzz) z eksperymentu dla fantomu anizotropowego, a więc normalizacja wartości (bxx, byy, bzz, beff) do wartości (beff_iso) zwiększa dokładność obliczeń. Wartości pozadiagonalne macierzy b określa się jako iloczyny pierwiastków elementów diagonalnych oraz jednostkowych wektorów gradientu dyfuzji korzystając ze wzoru: gdzie i, j = x, y, z Uzyskane rozkłady macierzy b podaje się (krok 207) jako efekt kalibracji danej sekwencji DMRI i tomografu, dzięki czemu mogą być następnie wykorzystane do przeprowadzania eksperymentów DWI, DTI, FMRI-DTI. W razie potrzeby czy chęci dodatkowej poprawy dokładności procedurę kalibracji można powtórzyć korzystając z już określonego rozkładu macierzy b, tak więc kalibrację można powtarzać w kolejnych krokach iteracyjnych. Uzyskane przestrzenne rozkłady macierzy b można zweryfikować poprzez ich użycie do obliczeń tensora dyfuzji dla wzorcowych fantomów izotropowego i anizotropowego o znanych wartościach tensora dyfuzji. Jeśli odchylenie standardowe dla tak obliczonego przestrzennego rozkładu tensora dyfuzji dla fantomów wzorcowych przekracza pożądaną wartość, to w celu uzyskania dokładniejszych wyników powtarza się kalibrację sekwencji obrazowania dyfuzji w celu dalszego skorygowania przestrzennego rozkładu macierzy b. Otrzymane w ten sposób skorygowane przestrzenne rozkłady macierzy b stanowią element finalny kalibracji dowolnej sekwencji obrazowania eksperymentu typu DMRI, które następnie wykorzystuje się rutynowo przy obrazowaniu dowolnego obiektu w eksperymencie typu DMRI. Kalibracja do pomiarów DWI czy DTI jest szczególnie ważna w przypadku eksperymentów wymagających dużej dokładności, przykładowo w przypadku wspomnianego fmri-dti, gdzie obserwowane zmiany nie przekraczają kilku procent. Wstępne eksperymenty prowadzone sposobem według wynalazku, podobnie jak w przypadku metody BSD-DTI, pozwalają na poprawę dokładności o rząd wielkości, przy znacznym czasie skrócenia czasu kalibracji i uproszczeniu ich procedur. Czynność kalibracji należy powtórzyć przed każdą zmianą parametrów sekwencji obrazowania, w szczególności dla zmiany wartości i kierunków wektorów gradientów dyfuzyjnych. Zaletą sposobu kalibracji dowolnej sekwencji dyfuzyjnej sposobem według wynalazku sbsd-dtl, czy też sposobem BSD-DTI, daje w konsekwencji nieosiągalną do tej pory w nauce i technice możliwość precyzyjnego pomiaru tensora dyfuzji.

7 PL B1 7 P r z y k ł a d w y k o n a n i a Na Fig. 3A 3B przedstawiono rozkłady wartości głównych tensora dyfuzji dla fantomu izotropowego uzyskane przy pomocy metody standardowej DTI (Fig. 3A) i metody według wynalazku sbsd- -DTl (Fig. 3B). Wiersze odpowiadają 25 warstwom, natomiast kolumny wartościom głównym tensora dyfuzji. Fig. 3C przedstawia rozkład różnicowy macierzy beff (C) dla 25 warstw (wiersze) i 6 kierunków gradientu dyfuzji (kolumny) uzyskany przy pomocy sbsd-dtl. Eksperymenty przeprowadzono na skanerze klinicznym firmy GE 3T. Wartości główne dla wody powinny być jednorodne i jak najbardziej zbliżone do siebie kolorystycznie (Fig. 3A, 3B). Tensor dyfuzji dla wody powinien mieć wartości główne identyczne. Z kolei na Fig. 3C różnica wartości macierzy beff powinna być równa 0 (kolor ze środka zakresu kolorów). Obecność rozkładu pokazuje tym samym występowanie niejednorodności pól gradientowych, które powinny być uwzględnione przy liczeniu wartości współczynników i tensorów dyfuzji. Kalibracji sekwencji dyfuzyjnej SE-EPI (ang. Spin Echo Echo Plannar Imaging) dokonano w klinicznym tomografie MR, wyposażonym w magnes nadprzewodzący o polu 3 T korzystając ze sposobu według wynalazku i sześciennego anizotropowego fantomu o boku 5 cm zbudowanego z cienkich płytek szklanych o grubości 180 um, przedzielonych 20 um warstwami wody. Eksperymenty przeprowadzono w temperaturze T = Wykonano następujące czynności: 1. W tomografie MR wyposażonym w magnes nadprzewodzący o polu 3 T, w polu oddziaływania cewki RF headcoil typu birdcage o średnicy 30 cm, został umieszczony opisany powyżej anizotropowy fantom dyfuzji. Pomiary tomograficzne wykonano przy użyciu sekwencji SE-EPI. 2. Pomiary tomograficzne DTI przy pomocy SE-EPI, dla określenia przestrzennego rozkładu macierzy b dla jednego dowolnego kierunku gradientu dyfuzji (DWI), wykonano dla 3 różnych położeń fantomu anizotropowego ortogonalnych względem siebie i dla 1 położenia fantomu izotropowego. W pierwszym położeniu fantom anizotropowy był obrócony względem osi (x,y,z) o kąty (0,0,0) Fig. 1A, w drugim położeniu był obrócony o kąty (90,0,0) Fig, 1B, a w trzecim położeniu o kąty (0,0,90) Fig. 1C. 3. Czynność z pkt 2 powtórzono dla 6-ciu kierunków wektora gradientu dyfuzji. 4. W ten sposób określono przestrzenne rozkłady macierzy b, które następnie użyto do pomiarów tensora dyfuzji metodą sbsd-dtl. 5. Uzyskano w ten sposób 3-krotną poprawę dokładności obliczeń tensora dyfuzji dla fantomu izotropowego (Fig. 3B) w stosunku do metody standardowej (Fig. 3A). Poprawa jest określona jako stosunek odchyleń standardowych (SD) wartości głównych tensora dyfuzji mierzonych oboma metodami. 6. Dla wody wartość SD powinna być jak najmniejsza. Zastrzeżenia patentowe 1. Sposób kalibracji sekwencji obrazowania dyfuzji w eksperymencie typu DMRI przeprowadzanym w tomografie MR, w którym to eksperymencie oblicza się współczynniki dyfuzji i/lub tensora dyfuzji na podstawie przestrzennego rozkładu macierzy b uzyskanego jako efekt kalibracji, znamienny tym, że podczas kalibracji wykonuje się następujące kroki: w polu oddziaływania cewki RF w badanej przestrzeni tomografu MR: umieszcza się (201) anizotropowy fantom dyfuzji (101), który ma ograniczenie dyfuzji w przynajmniej jednym kierunku wzdłuż jednej z osi układu osi głównych związanych z tym fantomem, o znanych wartościach tensora dyfuzji; który to anizotropowy fantom dyfuzji (101) umieszcza się kolejno w 3 różnych położeniach ortogonalnych względem siebie; a ponadto w miejscu umieszczenia fantomu anizotropowego o znanym rozkładzie tensora dyfuzji umieszcza się (204) fantom izotropowy (102) o znanym współczynniku dyfuzji; przy czym dla każdego położenia fantomu anizotropowego oraz dla położenia fantomu izotropowego wykonuje się pomiary sygnału MRJ (202, 205), określając z nich następnie (203, 206) wartości macierzy b; przy czym określenia macierzy b dokonuje się dla każdego woksela stałej określonej objętości zawartej jednocześnie wewnątrz fantomu anizotropowego (101) i izotropowego (102)

8 8 PL B1 w ten sposób, że dla każdego woksela 3 elementy diagonalne (bxx, byy, bzz) macierzy b oraz ich wartość efektywną (beff) obliczaną jako sumę trzech elementów diagonalnych (bxx, byy, bzz) określa się (203) z eksperymentów obrazowania dyfuzji wykonanych dla 3 położeń fantomu anizotropowego będącego wzorcem anizotropowego tensora dyfuzji; przy czym dla każdego woksela określa się (206) wartość efektywną macierzy (beff_iso) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu izotropowego będącego wzorcem izotropowego tensora dyfuzji; natomiast wartości diagonalne (bxx, byy, bzz) oraz wartość efektywną macierzy b (beff) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu anizotropowego normalizuje się do wartości efektywnej macierzy (beff_iso) z eksperymentu obrazowania dyfuzji wykonanego dla fantomu izotropowego będącego wzorcem izotropowego tensora dyfuzji; po czym uzyskany przestrzenny rozkład macierzy b podaje się (207) jako efekt kalibracji sekwencji typu DMRI dla danego tomografu. 2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że określenie przestrzennego rozkładu macierzy b wykonuje się dla różnych parametrów sekwencji dyfuzyjnej, wybranych z grupy zawierającej: wartości gradientów dyfuzji, czasy dyfuzji, kierunki wektora gradientu dyfuzji, amplitudy wektora gradientu dyfuzji. 3. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że kalibrację powtarza się w kolejnych krokach iteracyjnych przyjmując za wartości początkowe przestrzenne rozkłady macierzy b uzyskane w kroku poprzednim. 4. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że weryfikuje się uzyskane przestrzenne rozkłady macierzy b poprzez ich użycie do obliczeń tensora dyfuzji dla wzorcowych fantomów izotropowego i anizotropowego o znanych wartościach tensora dyfuzji. 5. Sposób według zastrz. 4, znamienny tym, że jeśli odchylenie standardowe dla przestrzennego rozkładu tensora dyfuzji dla fantomów wzorcowych przekracza pożądaną wartość, to w celu uzyskania dokładniejszych wyników powtarza się kalibrację sekwencji obrazowania dyfuzji w celu dalszego skorygowania przestrzennego rozkładu macierzy b. 6. Sposób według zastrz. 5, znamienny tym, że otrzymane skorygowane przestrzenne rozkłady macierzy b stanowią element finalny kalibracji dowolnej sekwencji obrazowania eksperymentu typu DMRI, które następnie wykorzystuje się rutynowo przy obrazowaniu dowolnego obiektu w eksperymencie typu DMRI. 7. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że kalibrację wykonuje się przed każdą zmianą parametrów sekwencji obrazowania, w szczególności przed zmianą wartości i kierunków wektorów gradientów dyfuzyjnych. 8. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że anizotropowy fantom dyfuzji umieszcza się kolejno w 3 jego ortogonalnych położeniach zachowując zgodność osi głównych fantomu z osiami układu laboratoryjnego. 9. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że wartości pozadiagonalne macierzy b określa się jako iloczyny pierwiastków elementów diagonalnych. 10. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że dla każdego woksela do określania współczynników dyfuzji w eksperymentach DWI używa się obliczonych dla tego woksela wartości macierzy b. 11. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że dla każdego woksela do określania składowych tensora dyfuzji w eksperymentach DTI używa się obliczonych dla tego woksela wartości macierzy b.

9 PL B1 9 Rysunki

10 10 PL B1

11 PL B1 11

12 12 PL B1 Departament Wydawnictw UPRP Cena 4,92 zł (w tym 23% VAT)

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 15/15

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 15/15 PL 226438 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226438 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 406862 (22) Data zgłoszenia: 16.01.2014 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 14/16

PL B BUP 14/16 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229798 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 410735 (51) Int.Cl. G01R 19/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 22.12.2014

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie do badania nieciągłości struktury detali ferromagnetycznych na małej przestrzeni badawczej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

PL B1. Urządzenie do badania nieciągłości struktury detali ferromagnetycznych na małej przestrzeni badawczej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL PL 212769 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212769 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381653 (51) Int.Cl. G01N 27/82 (2006.01) G01R 33/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12 PL 218561 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218561 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 393413 (51) Int.Cl. G01N 27/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13 PL 222357 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222357 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400712 (22) Data zgłoszenia: 10.09.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów

PL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów PL 224727 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224727 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391882 (51) Int.Cl. G01S 5/18 (2006.01) G01S 3/80 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/09

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/09 PL 214449 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214449 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384436 (22) Data zgłoszenia: 11.02.2008 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/17

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/17 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227914 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 414972 (51) Int.Cl. G01R 15/04 (2006.01) G01R 1/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego

PL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego PL 223315 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223315 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399459 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu PL 218911 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218911 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394839 (51) Int.Cl. B21C 23/02 (2006.01) B21C 25/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL 218203 B1. R&D PROJECT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łódź, PL 17.12.2012 BUP 26/12

PL 218203 B1. R&D PROJECT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łódź, PL 17.12.2012 BUP 26/12 PL 218203 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218203 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 395134 (51) Int.Cl. B23B 3/16 (2006.01) B23B 3/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL BUP 17/05. Józef Salwiński,Kraków,PL Piotr Trzaskoś,Dębowiec,PL

PL B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL BUP 17/05. Józef Salwiński,Kraków,PL Piotr Trzaskoś,Dębowiec,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202672 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 364956 (51) Int.Cl. A47G 29/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 09.02.2004

Bardziej szczegółowo

PL 209211 B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL 24.07.2006 BUP 15/06

PL 209211 B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL 24.07.2006 BUP 15/06 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209211 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 372150 (51) Int.Cl. G01N 27/87 (2006.01) B66B 7/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 196881 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340516 (51) Int.Cl. G01R 11/40 (2006.01) G01R 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/15

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/15 PL 223865 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223865 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 406254 (22) Data zgłoszenia: 26.11.2013 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 19/15

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 19/15 PL 225827 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225827 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 407381 (51) Int.Cl. G01L 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 10/05

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 10/05 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207396 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 363254 (51) Int.Cl. F16C 11/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 03.11.2003

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)187065 (2 1) Numer zgłoszenia: 319023 (22) Data zgłoszenia: 18.03.1997 (13)B1 (51) IntCl7 A63F 9/08 (54) Układanka

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL PL 224674 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224674 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409674 (51) Int.Cl. G02B 6/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. HIKISZ BARTOSZ, Łódź, PL BUP 05/07. BARTOSZ HIKISZ, Łódź, PL WUP 01/16. rzecz. pat.

PL B1. HIKISZ BARTOSZ, Łódź, PL BUP 05/07. BARTOSZ HIKISZ, Łódź, PL WUP 01/16. rzecz. pat. PL 220905 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220905 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376878 (51) Int.Cl. F16H 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/CH03/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/CH03/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 206950 (21) Numer zgłoszenia: 377651 (22) Data zgłoszenia: 28.03.2003 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób prostopadłego ustawienia osi wrzeciona do kierunku ruchu posuwowego podczas frezowania. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL

PL B1. Sposób prostopadłego ustawienia osi wrzeciona do kierunku ruchu posuwowego podczas frezowania. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL PL 222915 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222915 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 401901 (22) Data zgłoszenia: 05.12.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Warszawa, PL BUP 11/

PL B1. INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Warszawa, PL BUP 11/ PL 218778 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218778 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389634 (51) Int.Cl. G01N 29/24 (2006.01) G01N 29/07 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12 PL 223044 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223044 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 396179 (51) Int.Cl. G01M 13/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 12/13. ANDRZEJ ŚWIERCZ, Warszawa, PL JAN HOLNICKI-SZULC, Warszawa, PL PRZEMYSŁAW KOŁAKOWSKI, Nieporęt, PL

PL B BUP 12/13. ANDRZEJ ŚWIERCZ, Warszawa, PL JAN HOLNICKI-SZULC, Warszawa, PL PRZEMYSŁAW KOŁAKOWSKI, Nieporęt, PL PL 222132 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222132 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 397310 (22) Data zgłoszenia: 09.12.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 13/17

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 13/17 PL 227667 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227667 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 415329 (51) Int.Cl. B29C 64/227 (2017.01) B29C 67/00 (2017.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 16/11

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 16/11 PL 219996 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219996 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 390194 (51) Int.Cl. G01P 7/00 (2006.01) G01L 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

Fig. 1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 G 01S 3/72 E21F 11/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

Fig. 1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 (13) B1 G 01S 3/72 E21F 11/00 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174214 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296697 (22) Data zgłoszenia: 23.11.1992 (51) IntCl6: G01S 11/00 G

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób transportu i urządzenie transportujące ładunek w wodzie, zwłaszcza z dużych głębokości

PL B1. Sposób transportu i urządzenie transportujące ładunek w wodzie, zwłaszcza z dużych głębokości RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228529 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 414387 (22) Data zgłoszenia: 16.10.2015 (51) Int.Cl. E21C 50/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203822 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358564 (51) Int.Cl. G01N 19/04 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 12/10

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 12/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209061 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386693 (51) Int.Cl. F16B 7/10 (2006.01) F16B 7/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. SINTERIT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 19/17

PL B1. SINTERIT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 19/17 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 231538 (21) Numer zgłoszenia: 425084 (22) Data zgłoszenia: 09.03.2016 (13) B1 (51) Int.Cl. B29C 64/227 (2017.01) B29C 67/00 (2017.01) Urząd Patentowy

Bardziej szczegółowo

A61B 5/0492 ( ) A61B

A61B 5/0492 ( ) A61B PL 213307 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213307 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 383187 (22) Data zgłoszenia: 23.08.2007 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11 PL 214592 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214592 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388915 (51) Int.Cl. G01B 5/28 (2006.01) G01C 7/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

501 B1 (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) B1 (1 3 ) A47B 87/00. (54) Moduł płytowy do budowy mebli, zwłaszcza laboratoryjnych

501 B1 (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) B1 (1 3 ) A47B 87/00. (54) Moduł płytowy do budowy mebli, zwłaszcza laboratoryjnych RZECZPOSPOLITA PO L SK A (1 3 ) (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 168501 B1 Urząd Patentowy (2)Datazgłoszenia: Rzeczypospolitej Polskiej 01.07.192 (21) Numer zgłoszenia: 295095 (51) IntCl6: B01L9/00 A47B

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 08/ WUP 09/17

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 08/ WUP 09/17 PL 226776 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226776 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409761 (51) Int.Cl. F16F 1/02 (2006.01) F16F 1/46 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do przetwarzania interwału czasu na słowo cyfrowe metodą kompensacji wagowej

PL B1. Układ do przetwarzania interwału czasu na słowo cyfrowe metodą kompensacji wagowej PL 227455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227455 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 413964 (22) Data zgłoszenia: 14.09.2015 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13 PL 223804 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223804 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 397275 (51) Int.Cl. H02P 25/08 (2006.01) H02P 6/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1

PL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)194002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 340855 (22) Data zgłoszenia: 16.06.2000 (51) Int.Cl. G01B 7/14 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat. PL 216395 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216395 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384627 (51) Int.Cl. G01N 27/00 (2006.01) H01L 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 14/14. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 14/14. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL PL 221662 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221662 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 402213 (51) Int.Cl. B21B 19/06 (2006.01) B21C 37/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209495 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 375424 (22) Data zgłoszenia: 30.05.2005 (51) Int.Cl. G01N 21/05 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

termowizyjnej, w którym zarejestrowane przez kamerę obrazy, stanowiące (13)B1 (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) PL B1 G01N 21/25 G01N 25/72

termowizyjnej, w którym zarejestrowane przez kamerę obrazy, stanowiące (13)B1 (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) PL B1 G01N 21/25 G01N 25/72 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)188543 ( 2 1) Numer zgłoszenia: 328442 (22) Data zgłoszenia: 07.09.1998 (13)B1 (51) IntCl7 G01N 21/25 G01N

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób regulacji prądu silnika asynchronicznego w układzie bez czujnika prędkości obrotowej. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

PL B1. Sposób regulacji prądu silnika asynchronicznego w układzie bez czujnika prędkości obrotowej. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL PL 224167 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224167 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391278 (51) Int.Cl. H02P 27/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób podziemnej eksploatacji złoża minerałów użytecznych, szczególnie rud miedzi o jednopokładowym zaleganiu

PL B1. Sposób podziemnej eksploatacji złoża minerałów użytecznych, szczególnie rud miedzi o jednopokładowym zaleganiu PL 214250 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214250 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382608 (51) Int.Cl. E21C 41/22 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób oznaczania stężenia koncentratu syntetycznego w świeżych emulsjach chłodząco-smarujących

PL B1. Sposób oznaczania stężenia koncentratu syntetycznego w świeżych emulsjach chłodząco-smarujących PL 214125 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214125 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389756 (51) Int.Cl. G01N 33/30 (2006.01) G01N 33/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Instytut Automatyki Systemów Energetycznych,Wrocław,PL BUP 26/ WUP 08/09. Barbara Plackowska,Wrocław,PL

PL B1. Instytut Automatyki Systemów Energetycznych,Wrocław,PL BUP 26/ WUP 08/09. Barbara Plackowska,Wrocław,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202961 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354738 (51) Int.Cl. G01F 23/14 (2006.01) F22B 37/78 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 26/16

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 26/16 PL 227999 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227999 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 412711 (51) Int.Cl. H02M 3/07 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 07/19. PAWEŁ ZMARZŁY, Brzeziny, PL WUP 08/19. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 07/19. PAWEŁ ZMARZŁY, Brzeziny, PL WUP 08/19. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 233066 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 427690 (51) Int.Cl. G01B 5/08 (2006.01) G01B 3/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT MASZYN PRZEPŁYWOWYCH PAN, Gdańsk, PL JASIŃSKI MARIUSZ, Wągrowiec, PL GOCH MARCIN, Braniewo, PL MIZERACZYK JERZY, Rotmanka, PL

PL B1. INSTYTUT MASZYN PRZEPŁYWOWYCH PAN, Gdańsk, PL JASIŃSKI MARIUSZ, Wągrowiec, PL GOCH MARCIN, Braniewo, PL MIZERACZYK JERZY, Rotmanka, PL PL 215139 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215139 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 383703 (22) Data zgłoszenia: 06.11.2007 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie M-2 Pomiar przyśpieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego Cel ćwiczenia: II. Przyrządy: III. Literatura: IV. Wstęp. l Rys.

Ćwiczenie M-2 Pomiar przyśpieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego Cel ćwiczenia: II. Przyrządy: III. Literatura: IV. Wstęp. l Rys. Ćwiczenie M- Pomiar przyśpieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego. Cel ćwiczenia: pomiar przyśpieszenia ziemskiego przy pomocy wahadła fizycznego.. Przyrządy: wahadło rewersyjne, elektroniczny

Bardziej szczegółowo

(13) B1 F24F 13/20. VITROSERVICE CLIMA Sp. z o.o., Kosakowo, PL. Tadeusz Siek, Kosakowo, PL. Prościński Jan

(13) B1 F24F 13/20. VITROSERVICE CLIMA Sp. z o.o., Kosakowo, PL. Tadeusz Siek, Kosakowo, PL. Prościński Jan RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY PL1 8106B1 (19) PL (11) 181006 POLSKA (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 317386 (5 1) IntCl7 F24F 13/20 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 05.12.1996 Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1. (51) Int.Cl.5: G01R 27/02. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1. (51) Int.Cl.5: G01R 27/02. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 158969 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 275661 (22) Data zgłoszenia: 04.11.1988 (51) Int.Cl.5: G01R 27/02

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 03/14. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 03/14. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL PL 221649 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221649 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400061 (22) Data zgłoszenia: 20.07.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Uszczelnienie nadbandażowe stopnia przepływowej maszyny wirnikowej, zwłaszcza z bandażem płaskim. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

PL B1. Uszczelnienie nadbandażowe stopnia przepływowej maszyny wirnikowej, zwłaszcza z bandażem płaskim. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212669 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381571 (51) Int.Cl. B23Q 17/12 (2006.01) F04D 29/66 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 24/18. PRZEMYSŁAW FILIPEK, Lublin, PL WUP 06/19. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 24/18. PRZEMYSŁAW FILIPEK, Lublin, PL WUP 06/19. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 232308 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 426279 (22) Data zgłoszenia: 09.07.2018 (51) Int.Cl. F04C 18/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ kontroli napięć na szeregowo połączonych kondensatorach lub akumulatorach

PL B1. Sposób i układ kontroli napięć na szeregowo połączonych kondensatorach lub akumulatorach RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 232336 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421777 (22) Data zgłoszenia: 02.06.2017 (51) Int.Cl. H02J 7/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 25/09. ANDRZEJ KOLONKO, Wrocław, PL ANNA KOLONKO, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 25/09. ANDRZEJ KOLONKO, Wrocław, PL ANNA KOLONKO, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209351 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385341 (51) Int.Cl. F16L 55/165 (2006.01) F16L 58/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Uniwersytet Śląski,Katowice,PL BUP 25/02. Andrzej Dyszkiewicz,Cieszyn,PL Zygmunt Wróbel,Katowice,PL

PL B1. Uniwersytet Śląski,Katowice,PL BUP 25/02. Andrzej Dyszkiewicz,Cieszyn,PL Zygmunt Wróbel,Katowice,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)194256 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 347750 (51) Int.Cl. A61B 6/03 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 25.05.2001

Bardziej szczegółowo

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie profilu wiązki promieniowania używanego do cechowania tomografu PET

Wyznaczanie profilu wiązki promieniowania używanego do cechowania tomografu PET 18 Wyznaczanie profilu wiązki promieniowania używanego do cechowania tomografu PET Ines Moskal Studentka, Instytut Fizyki UJ Na Uniwersytecie Jagiellońskim prowadzone są badania dotyczące usprawnienia

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie

Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie Streszczenie Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego jest jedną z technik spektroskopii absorpcyjnej mającej zastosowanie w chemii,

Bardziej szczegółowo

DOSY (Diffusion ordered NMR spectroscopy)

DOSY (Diffusion ordered NMR spectroscopy) Wykład 8 DOSY (Diffusion ordered NMR spectroscopy) Dyfuzja migracja cząsteczek pod wpływem gradientu stężenia Pierwsze Prawo Ficka: przepływ cząsteczek jest proporcjonalny do gradientu stężenia: J przepływ

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 15/17

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 15/17 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227580 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 420303 (51) Int.Cl. B05D 3/06 (2006.01) B29C 35/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL 207433 B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL 26.06.2006 BUP 13/06. ZBIGNIEW BORKOWICZ, Wrocław, PL 31.12.

PL 207433 B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL 26.06.2006 BUP 13/06. ZBIGNIEW BORKOWICZ, Wrocław, PL 31.12. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207433 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 371716 (51) Int.Cl. G01N 27/82 (2006.01) B25J 15/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL PL 219313 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219313 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391153 (51) Int.Cl. H04B 7/00 (2006.01) H04B 7/005 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób pomiaru składowych impedancji czujnika indukcyjnego i układ pomiarowy składowych impedancji czujnika indukcyjnego

PL B1. Sposób pomiaru składowych impedancji czujnika indukcyjnego i układ pomiarowy składowych impedancji czujnika indukcyjnego PL 218944 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218944 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 391744 (22) Data zgłoszenia: 05.07.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL 203378 B1 15.10.2007 BUP 21/07. Marek Kopeć,Kraków,PL Jarosław Krzysztofiński,Warszawa,PL Antoni Szkatuła,Rząska,PL Jan Tomaszewski,Warszawa,PL

PL 203378 B1 15.10.2007 BUP 21/07. Marek Kopeć,Kraków,PL Jarosław Krzysztofiński,Warszawa,PL Antoni Szkatuła,Rząska,PL Jan Tomaszewski,Warszawa,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203378 (21) Numer zgłoszenia: 379409 (22) Data zgłoszenia: 07.04.2006 (13) B1 (51) Int.Cl. E21B 43/02 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL

PL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL PL 223692 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223692 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399602 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 04/15

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 04/15 PL 227981 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 404984 (51) Int.Cl. B03C 1/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/EP02/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/EP02/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205575 (21) Numer zgłoszenia: 366842 (22) Data zgłoszenia: 24.04.2002 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 04/13

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 04/13 PL 219056 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219056 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 395928 (51) Int.Cl. H01L 35/30 (2006.01) F16C 41/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178809 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 308862 (22) Data zgłoszenia: 01.06.1995 (51) IntCl7: F16B7/18 E04F

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 23/09. TOMASZ DŁUGOSZ, Bielsko-Biała, PL HUBERT TRZASKA, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 23/09. TOMASZ DŁUGOSZ, Bielsko-Biała, PL HUBERT TRZASKA, Wrocław, PL PL 215545 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215545 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 385094 (22) Data zgłoszenia: 05.05.2008 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 23/15. WŁODZIMIERZ OCHOŃSKI, Kraków, PL

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 23/15. WŁODZIMIERZ OCHOŃSKI, Kraków, PL PL 224130 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224130 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 408019 (51) Int.Cl. F16J 15/53 (2006.01) F16J 15/54 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 26/16. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL PAULINA PATER, Turka, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 26/16. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL PAULINA PATER, Turka, PL PL 226885 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226885 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 414306 (51) Int.Cl. B21B 23/00 (2006.01) B21C 37/15 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL PL 215934 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215934 (21) Numer zgłoszenia: 393536 (22) Data zgłoszenia: 31.12.2010 (13) B1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/18

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 230767 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 420034 (51) Int.Cl. B65G 7/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 29.12.2016

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLIGRAFIA JANUSZ NOWAK SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Poznań, PL BUP 11/13. MIKOŁAJ NOWAK, Lusowo, PL

PL B1. POLIGRAFIA JANUSZ NOWAK SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Poznań, PL BUP 11/13. MIKOŁAJ NOWAK, Lusowo, PL PL 217632 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217632 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 397007 (51) Int.Cl. B42C 1/12 (2006.01) B42C 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL 218461 B1. LFC SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Zielona Góra, PL 29.04.2013 BUP 09/13

PL 218461 B1. LFC SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Zielona Góra, PL 29.04.2013 BUP 09/13 PL 218461 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218461 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 396686 (22) Data zgłoszenia: 18.10.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób walcowania poprzecznego dwoma walcami wyrobów typu kula metodą wgłębną. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

PL B1. Sposób walcowania poprzecznego dwoma walcami wyrobów typu kula metodą wgłębną. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL PL 218597 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218597 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 394836 (22) Data zgłoszenia: 11.05.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. RADOŃ STANISŁAW, Sandomierz, PL BUP 14/18. STANISŁAW RADOŃ, Sandomierz, PL WUP 01/19. rzecz. pat.

PL B1. RADOŃ STANISŁAW, Sandomierz, PL BUP 14/18. STANISŁAW RADOŃ, Sandomierz, PL WUP 01/19. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 231060 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 424183 (51) Int.Cl. A61B 17/70 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 03.01.2018

Bardziej szczegółowo

PL B1. NEF CZESŁAW, Olsztyn, PL MOKRZECKI ARKADIUSZ BERNARD, Pajtuny, PL BUP 21/13

PL B1. NEF CZESŁAW, Olsztyn, PL MOKRZECKI ARKADIUSZ BERNARD, Pajtuny, PL BUP 21/13 PL 222573 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222573 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 398759 (51) Int.Cl. G10D 13/02 (2006.01) G10H 3/14 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 24/18. GRZEGORZ SAMOŁYK, Turka, PL WUP 03/19. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 24/18. GRZEGORZ SAMOŁYK, Turka, PL WUP 03/19. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 231500 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 425783 (22) Data zgłoszenia: 30.05.2018 (51) Int.Cl. B21D 51/08 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 06/14

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 06/14 PL 223622 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223622 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 403511 (51) Int.Cl. G01T 1/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób wyciskania wyrobów, zwłaszcza metalowych i zespół do wyciskania wyrobów, zwłaszcza metalowych

PL B1. Sposób wyciskania wyrobów, zwłaszcza metalowych i zespół do wyciskania wyrobów, zwłaszcza metalowych PL 219234 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219234 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394924 (51) Int.Cl. B21C 23/02 (2006.01) B21C 25/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 16/17

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 16/17 PL 228032 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228032 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 419889 (22) Data zgłoszenia: 20.12.2016 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Oprzyrządowanie optimetru do pomiaru ściernego zużycia liniowego materiału konstrukcyjnego

PL B1. Oprzyrządowanie optimetru do pomiaru ściernego zużycia liniowego materiału konstrukcyjnego RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212054 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384478 (22) Data zgłoszenia: 18.02.2008 (51) Int.Cl. G01B 11/02 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200395 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 346259 (22) Data zgłoszenia: 02.03.2001 (51) Int.Cl. B65D 85/575 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 09/15

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 09/15 PL 225241 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225241 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 405716 (51) Int.Cl. G01M 13/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE03/00923 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE03/00923 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 204399 (21) Numer zgłoszenia: 370760 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2003 (86) Data i numer zgłoszenia

Bardziej szczegółowo

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL 176148 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307963 (22) Data zgłoszenia: 30.03.1995 (51) IntCl6 G01B 5/20 (54) Sposób

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 26/14. TOMASZ KLEPKA, Lublin, PL WUP 12/16. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 26/14. TOMASZ KLEPKA, Lublin, PL WUP 12/16. rzecz. pat. PL 224269 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224269 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 404317 (51) Int.Cl. B29C 47/12 (2006.01) B29C 47/52 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208199 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 369112 (51) Int.Cl. A61C 5/02 (2006.01) A61B 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 07/12

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 07/12 PL 214668 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214668 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 392368 (51) Int.Cl. F16K 3/00 (2006.01) F16K 3/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173831 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 304562 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 03.08.1994 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G01R 31/26 (54)

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT TELE- I RADIOTECHNICZNY, Warszawa, PL BUP 14/11. PIOTR GAWRYŚ, Warszawa, PL WUP 11/12

PL B1. INSTYTUT TELE- I RADIOTECHNICZNY, Warszawa, PL BUP 14/11. PIOTR GAWRYŚ, Warszawa, PL WUP 11/12 PL 212741 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212741 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389978 (51) Int.Cl. B66C 1/04 (2006.01) B66C 1/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 08/15

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 08/15 PL 224802 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224802 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 405523 (22) Data zgłoszenia: 03.10.2013 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AQUAEL JANUSZ JANKIEWICZ SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Warszawa, PL BUP 19/09. JANUSZ JANKIEWICZ, Warszawa, PL

PL B1. AQUAEL JANUSZ JANKIEWICZ SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Warszawa, PL BUP 19/09. JANUSZ JANKIEWICZ, Warszawa, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213240 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384692 (51) Int.Cl. A01K 63/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 13.03.2008

Bardziej szczegółowo