SPECYFIKACJA TECHNICZNA. Zakup i dostawa konfokalnego spektrometru ramanowskiego i mikroskopu AFM.

Transkrypt

1 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup i dostawa konfokalnego spektrometru ramanowskiego i mikroskopu AFM WYMAGANIA TECHNICZNE Założenia ogólne Przedmiotem zakupu oraz dostawy spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym oraz skaningowy mikroskop sił atomowych (AFM) dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy do oferty dołączyć opisy w formie papierowej, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych Parametry techniczne urządzenia PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE SPEKTORMETR RAMANOWSKI Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Spektrometr ze wzbudzaniem światłem laserowym o długości fal λ=nm, λ=nm, λ=nm i λ=nm Spektrograf wyposażony w podwójny tor detekcyjny Płynna regulacja plamki lasera z całkowicie zoptymalizowaną drogą wiązki laserowej Zmotoryzowany zestaw neutralnych filtrów szarych do regulacji poziomu mocy promieniowania lasera wzbudzającego Zestaw wymiennych zmotoryzowanych soczewek montowanych kinematycznie, niezbędnych do optymalizacji zdolności rozdzielczej spektrometru w zakresie UV, VIS i NIR podwójny tor detekcyjny z jednostopniowym przejściem wiązki, o ogniskowej max mm rozmiar plamki lasera - µm (zależnie od obiektywu i długości fali) zakres mocy od % do %

2 Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Automatyczny system zmiany filtrów odcinających Rayleigha Zestaw krawędziowych filtrów służących do odcięcia linii Rayleigha fal λ=nm, λ=nm Krawędziowy filtr służących do odcięcia linii Rayleigha fali λ=nm Krawędziowy filtr służących do odcięcia linii Rayleigha fali λ=nm Stolik do zamocowania kompletu siatek dyspersyjnych z elektroniczną kontrolą położenia Holograficzne siatki dyspersyjne montowane na zmotoryzowanym stoliku Detektor CCD z matrycą o zwiększonej grubości warstwy światłoczułej oraz zwiększonej czułości w zakresie UV i VIS Chłodzenie termoelektryczne (moduł Peltiera), bez konieczności chłodzenia wodą lub ciekłym azotem dolny limit rejestracji widma dla każdego z nich cm - dolny limit rejestracji widma dla każdego z nich cm - dolny limit rejestracji widma dla każdego z nich cm - ilość linii/ mm dla siatek dyspersyjnych linii/mm, linii/mm, linii/mm, linii/mm zakres roboczy detektora: - nm minimalny wymiar matrycy: x pikseli temperatura chłodzenia : C Detektor liniowy typu InGaAs, o minimalnym rozmiarze x pikseli, rozmiar piksela min: x µm, szybkości rejestracji min widm/s, chłodzony termoelektrycznie bez konieczności chłodzenia ciekłym azotem System pomiarów konfokalnych z możliwością ciągłego strojenia, ze zmotoryzowaną szczeliną oraz automatyczną optymalizacją sygnału Automatyczna zmiana trybu pracy pomiar konfokalny/ standardowy zakres spektralny: do µm minimalny wymiar matrycy: x pikseli temperatura chłodzenia : C wydajność kwantowa: %

3 Lp Nazwa parametru Wielkość parametru System detekcji umożliwiający płynny pomiar z wysoką rozdzielczością w rozszerzonym zakresie spektralnym bez zszywania widm z kolejnych zakresów spektralnych Zmieniająca się zdolność rozdzielcza kontrolowana przez CCD, wysoka czułość detektora Zakres spektralny : a) dla λ=nm: - cm - b) dla λ=nm: - cm - Rozdzielczość spektralna dla nm: cm - Automatyzacja modułu ramanowskiego Automatyczna regulacja i optymalizacja mocy wiązki laserowej padającej na próbkę Automatyczna zmiana i regulacji średnicy wiązki przechodzącej przez szczelinę kołową modułu teleskopowego ( beam expander ) Automatyczna regulacja parametrów systemu przy użyciu wewnętrznej próbki referencyjnej Kalibracja osi częstości oraz korekcja intensywności przy użyciu wbudowanego źródła światła białego oraz lampy neonowej Automatyczne przełączanie między obrazem w świetle białym a pomiarem w świetle lasera Obrazowanie ramanowskie Spektrometr ramanowski musi zapewniać możliwość obrazowania/mapowania ramanowskiego: punktową, liniową, szybkie obrazowanie typu streamline lub linescan wraz z pakietem do analizy chemometrycznej szybkie obrazowanie punktowe w trybie wysokiej rozdzielczości < nm Mikroskop (Specjalnie przystosowany konfokalny mikroskop optyczny klasy Research Grade zintegrowany ze spektrometrem Ramana, zawierający jak wyszczególniono niżej) Osłonę mikroskopu z automatyczną blokadą emisji lasera zgodną z I klasą bezpieczeństwa Iluminację światłem odbitym

4 Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Głowicę trójobiektywową - binokular + kolorowa kamera video Cztery obiektywy ze standardową ogniskową Dwa obiektywy z długą ogniskową Obiektyw UV Powiększenia obiektywów: x, x, x, x Powiększenia obiektywów: x, NA, WD, x, NA, WD, Powiększenie obiektywu: X Zmotoryzowany stolik mikroskopowy XYZ z aktywnymi funkcjami mapowania punktowego i liniowego oraz obrazowania objętościowego D Mikroskop musi posiadać funkcję autofocus do automatycznego badania próbek chropowatych Joystick do pozycjonowania próbki oraz oprogramowanie sterujące do stolika i mapowania Wyposażenie do ogniskowania liniowego ( line focus accessory) Minimalny krok w osiach XY/Z : / µm (dla obiektywu x) Rozdzielczość lateralna XY: µm (dla obiektywu x) Rozdzielczość konfokalna w osi Z: < µm Laser He-Cd pracujący na linii nm Lasery Laser Nd:YAG nm, chłodzony powietrzem Moc wyjściowa lasera (CW): mw Moc wyjściowa lasera (CW): mw Laser diodowy o linii nm, z filtrem plazmowym i integralnym systemem chłodzenia powietrzem Moc wyjściowa lasera (CW): mw

5 Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Moc wyjściowa lasera Laser Nd:YAG pracujący na linii nm (CW): mw Wyposażenie dodatkowe Spektrometr musi być wyposażony w sondę światłowodową dla długości fali nm, z integralnym filtrem Rayleigh a do min cm-, wyposażona w światłowód o długości min m sprzężony ze spektrometrem Stół optyczny z pasywną wibroizolacją Stanowisko robocze zawierające: biurko i fotele pracownicze zgodne w wymogami BHP Zintegrowany system komputerowy i zintegrowane oprogramowanie do sterowania układem AFM/RAMAN, akwizycji danych i ich przetwarzania Komputer do sterowania systemem zalecane przez producenta Wymiary minimalne blatu: xx, m szt Monitor Laserowa drukarka kolorowa z opcją druku duplex szt szt Oprogramowanie komputerowe z programem umożliwiającym sterowanie systemem, akwizycję i obróbkę danych pomiarowych Wymagana licencja wielostanowiskowa Oprogramowanie biurowe typu Office lub równoważne z licencja stanowiskowa Biblioteki widm ramana Min widm Sprzężenie z AFM Spektrometr ramanowski musi być zintegrowany z mikroskopem AFM (specyfikacja techniczna niżej) na poziomie mechanicznym, optycznym oraz programowym umożliwiającym automatyczne wykonywanie mapowania Raman/AFM Sprzężenie optyczne w symetrii off-axis dla optymalizacji pomiarów typu TERS

6 Lp Nazwa parametru Wielkość parametru Układ sprzężenia optycznego dla AFM powinien być wyposażony w: elastyczne ramię próbkowania do bezpośredniego ogniskowania lasera ramanowskiego na sondzie, ramię musi być zamontowane na zmotoryzowanym stoliku umożliwiającym przesuw w kierunkach x,y,z poprzez interfejs trackball, kamerę wideo zamontowaną na końcu ramienia, dla ogniskowania lasera na ostrzu Opcje Dostarczona aparatura musi spełniać warunki dalszej rozbudowy o: przestrajalny filtr umożliwiający pomiary niskoczęstotliwościowe, zestaw do analizy polaryzacyjnej Dolny zakres pomiarowy: cm - (zależnie od próbki) PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE SKANINGOWY MIKROSKOP SIŁ ATO- MOWYCH AFM Lp Nazwa Opis Tryby pomiarowe AFM - Kontaktowy AFM, - Pół-kontaktowy AFM, - Bezkontaktowy AFM, - Obrazowania fazowego, - Mikroskopia prądów tunelowych (STM), - Krzywe siła odległość, Układ skanowania Układ skanowania z nieruchomą sondą oraz ruchomą próbką we wszystkich trzech osiach (Inne typy układów skanowania nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego) Parametry skanera Pole skanowania z rozdzielczością, pozwalającą na uzyskanie obrazu periodyczności struktury atomowej na mice w trybie kontaktowym AFM Skaner musi być wyposażony w układ sprzężenia zwrotnego pracujący w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego Pole skanowania XY: co najmniej x µm Zakres skanowania Z: co najmniej, µm Głowica SPM Głowica SPM: z możliwością manualnego ustawiania położenia próbki w zakresie co najmniej x mm, wyposażona w układ zmotoryzowanego zbliżania sondy do próbki z regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki) realizowaną poprzez oprogramowanie, możliwość pracy we wszystkich trybach AFM oraz STM bez konieczności zmiany głowicy skanującej oraz skanera umożliwia wymianę sondy pomiarowej bez zdejmowania głowicy z mikroskopu Głowica integrująca AFM i spektrometr ramanowski

7 Lp Nazwa Opis Głowica wyposażona w : układ zmotoryzowanego zbliżania sondy do próbki z regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki) realizowaną poprzez oprogramowanie, detekcja położenia sondy odbywa się w oparciu o laser pracujący w zakresie widma podczerwieni, aby nie zakłócać działania spektrometru ramanowskiego umożliwia akwizycje widm ramanowskich na próbkach nieprzeźroczystych w układzie z oświetlaniem ostrza pomiarowego AFM od boku umożliwia wymianę sondy pomiarowej bez zdejmowania głowicy z mikroskopu Zakres ustawiania położenia próbki: X mm Rozmiar próbek: nie mniejszy niż x om o wysokości nie mniejszej niż mm Zintegrowany układ optyczny z kamerą CCD: rozdzielczość układu optycznego co najmniej µm, funkcje powiększenia oraz regulacji natężenia oświetlenia kontrolowane poprzez oprogramowanie mikroskopu Oprogramowanie integrujące AFM i spektrometr ramanowski Oprogramowanie umożliwiające integrację spektrometru ramanowskiego z mikroskopem AFM, w sposób umożliwiający zebranie widm ramanowskich z wybranych punktów lub przeprowadzenie tzw mapingu czyli zebranie macierzy widm z zadanego obszaru Kontroler Kontroler sterujący pomiarem AFM Komunikacja pomiędzy kontrolerem mikroskopu, a komputerem sterującym poprzez port USB Rozdzielczość: co najmniej bitów dla każdej osi skanowania, Możliwość rejestracji obrazów z rozdzielczością: co najmniej x punktów dla co najmniej ośmiu kanałów danych jednocześnie Sondy pomiarowe Sondy do pracy w trybie kontaktowym szt Sondy do pracy w trybie pół-kontaktowym i bezkontaktowym szt Sondy do pracy w trybie mikroskopu tunelowego Sonda do nanoindentacji Oprogramowanie mikroskopu AFM szt szt

8 Lp Nazwa Opis Umożliwiające wykonanie pomiaru, obróbkę, opracowanie oraz prezentację danych pomiarowych Pracujące pod kontrolą systemu zainstalowanego na komputerze sterującym Umożliwiające wyświetlanie kanałów danych Dające możliwość jednoczesnego wyświetlania danych do przodu i do tyłu dla jednego kanału Opcje (tryby pomiarowe, o które można rozbudować mikroskop w przyszłości) Mikroskopia pojemnościowa dc/dv (mikroskopy pozwalające na pomiary w trybie wyłącznie dc/dz nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego), Pomiar temperatury oraz przewodnictwa temperaturowego Rozdzielczość obrazowania w tym trybie powinna wynosić co najmniej nm Możliwość prowadzenia badań w powietrzu i w cieczach w temperaturach z zakresu od temperatury pokojowej do temperatury WYMAGANIA DODATKOWE Lp Nazwa Opis Wymagane przeszkolenie co najmniej użytkowników w czasie instalacji systemu włączając przynajmniej dni szkolenia w zakresie obsługi spektrometru ramanowskiego oraz dni w zakresie obsługi AFM Wymagane dodatkowe szkolenie aplikacyjne w wymiarze dni w terminie uzgodnionym z Zamawiającym w jednym z czołowych laboratoriów badawczych Podręczniki użytkownika w formie drukowanej w języku polskim (preferowany) lub angielskim i na CD opisujące działanie spektrometru, rejestrację widm, oprogramowanie Maksymalny czas oczekiwania na usunięcie uszkodzenia w okresie gwarancji wynosi dni roboczych od czasu zgłoszenia awarii, a w okresie pogwarancyjnym dni Okres gwarancji będzie automatycznie przedłużany o czas trwania zgłoszonych awarii aparatury Okres pełnej gwarancji zarówno na całe urządzenie jak i wszystkie jego podzespoły minimum miesięcy

9 PARAMETRY TRANSPORTOWO INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badanie detalu dostarczonego przez zamawiającego TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: do tygodni od dnia podpisania umowy