Ćwiczenie 5 WIELOFUNKCYJNA KARTA POMIAROWA DAQ

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Ćwiczenie 5 WIELOFUNKCYJNA KARTA POMIAROWA DAQ"

Transkrypt

1 Ćwiczenie 5 WIELOFUNKCYJNA KARTA POMIAROWA DAQ 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się studentów z budową, zasadą działania, wykorzystaniem i własnościami metrologicznymi wielofunkcyjnej karty pomiarowej DAQ. 2. Wprowadzenie 2.1. Wielofunkcyjna karta pomiarowa DAQ Wielofunkcyjna karta DAQ (akronim Data AcQuisition) to wielokanałowa karta wejść/wyjść analogowych i cyfrowych, wykorzystywana w komputerowych systemach pomiarowych i sterowania [Świsu2002]. W zależności od wykonania, karta DAQ posiada jedynie złącze do podłączenia modułu zacisków wejść/wyjść lub bezpośrednio gniazda wejść/wyjść np. w postaci złącz BNC. Karta DAQ kontrolowana jest tylko i wyłącznie z poziomu oprogramowania. Najpopularniejsze są karty umieszczane bezpośrednio w komputerze PC. Bazują one na złączu PCI (ang. Peripheral Component Interconnect magistrala komunikacyjna stosowana w komputerach klasy PC) lub PCIe (ang. PCI Express rozszerzenie magistrali PCI, zwiększające przepustowość danych). Dostępne są również karty w standardzie przemysłowym PXI, (PCI extention for Instrumentation przemysłowa, modułowa platforma akwizycji danych i sterowania oparta o magistralę PCI), CompactPCI inna platforma przemysłowa wykorzystująca magistralę PCI, VXI (VME extensions for Instrumentation, zaś VME to standard komputerów przemysłowych), z interfejsem USB lub bezprzewodowym. Wielofunkcyjna karta DAQ umożliwia bezpośrednie doprowadzenie do jej zacisków wejściowych sygnałów napięciowych oraz generowanie sygnałów napięciowych. Doposażona w układy kondycjonujące dla różnego rodzaju czujników pomiarowych, wykorzystana może być do rejestracji różnych wielkości fizycznych i chemicznych (przyspieszenia, siły, ph, temperatury, itp.). Przykładowy schemat systemu pomiarowego bazującego na karcie DAQ pokazano na rys. 1.

2 Oprogramowanie Moduł zacisków we/wy Układy kondycjonowania (przetworniki) Rys. 1. Schemat systemu pomiarowego opartego o kartę DAQ i komputer klasy PC Ogólny schemat blokowy wielofunkcyjnej karty DAQ pokazano na rys. 2. Poza wejściami i wyjściami analogowymi, dostępne są wejścia i wyjścia cyfrowe, układy liczników. Niektóre karty wyposażone są dodatkowo w wejścia programowalne (PFI na rys. 2), które mogą być konfigurowane do pracy jako wejścia/wyjścia cyfrowe lub czasowe, np. do sterowania wyzwalaniem pomiarów na kanałach analogowych. W czasie zajęć laboratoryjnych wykorzystywane będą jedynie wejścia i wyjścia analogowe, więc do nich ograniczony został schemat blokowy wejść analogowych karty DAQ, pokazany na rys. 3 oraz schemat blokowy wyjść analogowych, pokazany na rys. 4. Liczba wyjść analogowych zależy od modelu karty. Popularne karty DAQ z magistralą PCI lub PCIe mają osiem wejść analogowych, pracujących w trybie bipolarnym (różnicowym) z możliwością rekonfiguracji na 16 wejść unipolarnych. Wybór rodzaju wejść odbywa się na drodze programowej. Dostępne są karty wyposażone w 80 wejść unipolarnych. Zdecydowana większość kart DAQ wyposażona jest w jeden przetwornik analogowo-cyfrowy dla wszystkich wejść, które muszą być multipleksowane. Z kolei wyjścia analogowe, których jest zazwyczaj 2 do 4, zwykle wyposażone są w oddzielne przetworniki cyfrowoanalogowe typowo 12 lub 16-bitowe. Rozdzielczość przetwarzania dla wejść analogowych wynosi nominalnie 16 do 18 bitów. Spotyka się również karty o mniejszej, 12-bitowej rozdzielczości. Stosowane są przetworniki analogowo-cyfrowe kompensacyjne [Piotr2002] (ang. SAR Succesive AppRoximation), zaś osiągane częstotliwości próbkowania mieszczą się w zakresie 250 khz do około 1 MHz. Wykorzystując wielokanałowy tryb pracy karty, należy mieć na uwadze opóźnienie wprowadzane pomiędzy czasem pobrania próbek z kolejnych kanałów. Czas ten zależy przede wszystkim od czasu ustalania wzmocnienia wzmacniacza programowalnego (patrz rys. 3, NI PGIA) dla przyłączanego kanału i wynosi typowo od kilku do kilkunastu mikrosekund. Wzmocnienie to wynika z zakresu pomiarowego, który może mieć różną wartość dla kolejnych kanałów wejściowych. Stosując więc

3 maksymalną częstotliwość próbkowania i różne zakresy pomiarowe dla przełączanych kanałów, należy liczyć się ze zmniejszeniem dokładności pomiarów. Wspomniany programowany wzmacniacz pomiarowy umożliwia wybór zakresu pomiarowego zapewniający najlepszą rozdzielczość i dokładność przetwarzania sygnału analogowego. Rys. 2. Schemat blokowy karty DAQ (na podstawie [NI2008]) Złącze wejściowe Rys. 3. Schemat blokowy wejść analogowych karty DAQ (na podstawie [NI2008])

4 Rys. 4. Schemat blokowy wyjść analogowy karty DAQ (na podstawie [NI2008]) 2.2. Inne karty DAQ Jeśli wymagane jest jednoczesne próbkowanie na wszystkich kanałach, wówczas korzystać należy z kart pomiarowych wyposażonych w odrębne przetworniki analogowo-cyfrowe dla każdego z kanałów. Karty te są znacznie droższe od popularnych kart wielofunkcyjnych, często są również wyposażone w układy filtrów antyaliasingowych (Filtr DP na rys. 3, zjawisko aliasingu opisano w punkcie 3.1) i oferują wyższe częstotliwości próbkowania (kosztem zmniejszenia rozdzielczości np. do 12 bitów). Ograniczona jest również liczba wejść analogowych typowo karty takie mają 4 bądź 8 wejść. Do rejestracji sygnałów o dużym zakresie zmienności (dużej dynamice), np. z akcelerometrów, mikrofonów, stosuje się specjalizowane karty o dużej rozdzielczości przetwarzania nominalnie 24-bitowe. Karty takie stosowane są np. w wibroakustyce. Dostępne są również wielofunkcyjne karty DAQ z wbudowanymi układami FPGA (ang. Field Programmable Gate Array programowana macierz bramek, rodzaj programowanego układu logicznego). Układ FPGA umożliwia umieszczenie części kodu źródłowego programu, np. prostej filtracji sygnału, algorytmu regulacji, itp. na karcie DAQ, przez co wykonuje się on nieporównywalnie szybciej niż na komputerze PC działającym pod zwykłym systemem operacyjnym.

5 3. Rejestracja i generowanie sygnałów z wykorzystaniem karty DAQ 3.1. Rejestracja sygnału Karta DAQ wyposażona jest w bufor wejściowy FIFO (ang. Fist In, Firs Out pierwszy wchodzi, pierwszy wychodzi) dla próbek rejestrowanego sygnału. Próbki zapisane do bufora jako pierwsze, pierwsze są też z niego pobierane. Rozmiar bufora FIFO karty wykorzystywanej w czasie ćwiczenia wynosi 4095 próbek. W zależności od konfiguracji karty w programie komputerowym, możliwe jest odczytywanie próbek sygnału bezpośrednio z bufora FIFO lub pośrednio, z bufora utworzonego w pamięci RAM komputera PC. Pierwszy sposób wykorzystywany jest przy niewielkich częstotliwościach próbkowania. W drugim sposobie rozmiar bufora RAM zależny jest od ustawionej częstotliwości próbkowania. Tak na przykład dla częstotliwości próbkowania w zakresie 100 Hz do 10 khz jest to 10 tyięcy próbek. Dane z pamięci FIFO są przesyłane do bufora RAM z wykorzystaniem mechanizmu DMA (ang. Direct Memory Access bezpośredni dostęp do pamięci z pominięciem jednostki centralnej, np. procesora komputera PC). Przy rejestracji sygnału należy mieć na uwadze ograniczenia karty pomiarowej. Przede wszystkim, w przypadku popularnych kart wielofunkcyjnych brak wbudowanych filtrów antyaliasingowych [Marc2000]. Przypomnijmy, że zjawisko aliasingu zachodzi wówczas, gdy maksymalna częstotliwość w widmie próbkowanego sygnału jest większa niż połowa częstotliwości próbkowania. Dla przykładu, na rys. 3 pokazano sygnał o częstotliwości 500 Hz zarejestrowany z częstotliwościami próbkowania dopowienio 10 khz oraz 600 Hz. Widać wyraźnie częstotliwość aliasingu 100 Hz (okres 0,01 s). Rys. 3. Graficzna objaśnienie zjawiska aliasingu Podobną częstotliwość aliasingu uzyskano by przy częstotliwościach próbkowania np. 200 Hz, 400 Hz. Ogólnie częstotliwość aliasingu wyznaczyć można z zależności f a

6 = nf p f s, gdzie f p jest częstotliwością próbkowania, f s częstotliwością sygnału, zaś n = 1, 2, 3, tak dobrane aby różnica występująca pod wartością bezwzględną była najmniejsza. Przedstawiony przypadek jest oczywiście wyidealizowany. W praktyce znamy zazwyczaj jedynie zakres zmian częstotliwości sygnału mierzonego, natomiast nie znamy częstotliwości zakłóceń. Aby wyeliminować zjawisko aliasingu stosuje się filtr dolnoprzepustowy a częstotliwość próbkowania ustala się co najmniej czterokrotnie większą od częstotliwości odcięcia filtru. W pomiarach przemysłowych filtr dolnoprzepustowy stanowi element układu kondycjonowania przetwornika. Dla przykładu na rys. 4 pokazano zalety korzystania z układu kondycjonującego dla termoelementu. Układ ten ma wbudowany filtr o częstotliwości odcięcia 2 Hz. Temperaturę zarejestrowano z tego samego czujnika, przy czym sygnał o wyraźnych fluktuacjach pochodzi z wejścia analogowego karty DAQ bez układu kondycjonowania. Z problemem braku układu kondycjonowania można sobie często poradzić stosując odpowiednio dużą częstotliwość próbkowania i uśredniając zarejestrowany sygnał. Chcąc na przykład zminimalizować wpływ zakłóceń sieciowych, można sygnał próbkować z częstotliwością 500 Hz w oknie czasowym 200 ms co odpowiada 10 okresom zakłócenia sieciowego i z zarejestrowanych próbek wyznaczyć wartość średnią jako wynik pomiaru. Rys. 4. Wpływ układu kondycjonowania sygnału z termoelementu na jakość pomiaru temperatury Istnieje szereg innych zagadnień związanych z rejestracją sygnałów z wykorzystaniem wielofunkcyjnej karty DAQ, które nie zostaną tutaj omówione. Między innymi związane z wyzwalaniem rejestracji sygnałem analogowym bądź cyfrowym, synchronizację rejestracji sygnałów analogowych i cyfrowych oraz mechanizm transferu danych z karty DAQ do programu komputerowego. Zagadnienia te wykraczają poza zakres niniejszego ćwiczenia laboratoryjnego.

7 3.2. Generowanie sygnałów Jak wspomniano we wstępie, w większości kart DAQ każde wyjście analogowe wyposażone jest w oddzielny przetwornik analogowo-cyfrowy. Zakres napięć wyjściowych może być programowalny, ale zależy to od typu karty. W popularnych kartach DAQ zakres ten jest stały. Tak na przykład dla karty dostępnej na stanowisku laboratoryjnym wynosi on ±10 V. W lepszych kartach można wykorzystać zaznaczone na rys. 4 opcje AO Reference Select do doprowadzenia zewnętrznego napięcia odniesienia dla przetwornika cyfrowo-analogowego, zaś AO Offset Select do ustawiania składowej stałej generowanego sygnału. Odpowiednie źródła sygnału odniesienia i składowej stałej wybierane są programowo, przy czym możliwe jest dołączenie źródła zewnętrznego na wybrane wejścia karty DAQ. Istnieje kilka sposobów generowania sygnału na wyjściu analogowym. Dla przykładu można kontrolować przesyłanie kolejnych słów kodowych odpowiadających generowanemu sygnałowi na wejście przetwornika cyfrowoanalogowego z poziomu oprogramowania lub też zaprogramować dedykowany do tego układ czasowy (zegar) znajdujący się na karcie DAQ. Pierwszy sposób zalecany jest w przypadku generowania napięcia stałego, gdzie nie jest istotne zachowanie reżimu czasowego generowanego sygnału zmiany wartości napięcia zleca użytkownik. Drugi sposób gwarantuje zachowanie równego odstępu czasowego pomiędzy wysyłaniem kolejnych słów kodowych na wejście przetwornika i może być stosowany przy generowaniu pojedynczych próbek napięcia zmiennego. W obu przypadkach słowa kodowe wysyłane z pominięciem bufora pamięci, bezpośrednio na wejście przetwornika cyfrowo-analogowego. Inaczej generowany jest ciąg słów kodowych, składający się na generowany sygnał. W tym przypadku sygnał z programu komputerowego przesyłany jest do wewnętrznego bufora wyjściowego FIFO karty DAQ, skąd kolejne słowa kodowe, taktowane zegarem wewnętrznym, wysyłane są na wejście przetwornika cyfrowoanalogowego. Jeśli wybrano generowanie sygnału w sposób ciągły, istnieją trzy metody jego generowania. Dane przesyłane są w sposób ciągły z bufora RAM, utworzonego na potrzeby generowania sygnału w pamięci komputera PC, do bufora FIFO karty, z wykorzystaniem mechanizmu DMA lub przerwań. Z bufora FIFO dane przesyłane są na wejście przetwornika, przy czym po przesłaniu ostatniej danej przesyłanie powtarza się. Bufor RAM jest w sposób ciągły uaktualniany, a nowe dane mogą być do niego przesyłane, np. po zmianie kształtu generowanego sygnału, bez zakłócania pracy bufora FIFO i przetwornika.

8 Dane przesłane są do bufora FIFO tylko raz, skąd przesyłane są na wejście przetwornika tak jak opisano poprzednio. Chcąc jednak zaktualizować zawartość bufora FIFO należy przerwać generowanie sygnału, przesłać do bufora nowe dane i ponownie uruchomić generowanie sygnału. Taki sposób generowania sygnału nie obciąża komputera PC i jest odporny na zakłócenia wynikające np. z nadmiernego obciążenia systemu operacyjnego. Dane z bufora FIFO są przesyłane na wejście przetwornika tylko raz, po czym zostają utracone. Wymaga to ciągłe dostarczanie do bufora FIFO nowych danych. Taki sposób generowania sygnałów zapewnia najszybszą jego zmianę na wyjściu przetwornika cyfrowo-analogowego, np. po zmianie kształtu czy amplitudy sygnału. W przypadku gdy program nie będzie w stanie dostarczyć nowych danych do bufora FIFO na czas, zgłoszony zostanie błąd i generowanie sygnału będzie przerwane. Jakość generowanego sygnału zależy od liczby próbek (słów kodowych) umieszczonych w buforze i liczby okresów (cykli) sygnału przypadającej na bufor. I tak na przykład gdy w buforze umieścimy 50 próbek i określimy liczbę cykli na 5, otrzymamy 10 próbek na okres. Przy 250 próbkach w buforze otrzymamy 50 próbek na okres. Zobrazowano to na rys. 5. Zależnie od sposobu przygotowania danych w programie komputerowym (np. programowy generator sygnałów) przed wysłaniem ich do bufora FIFO, przy małej liczbie próbek wystąpi błąd amplitudy generowanego przebiegu. Widać to wyraźnie na rys. 5a). Do wygenerowania próbek sygnału wykorzystano ten sam generator programowy na rys. 5b) błąd amplitudy jest niezauważalny. a) b) Rys. 5. Wpływ liczby próbek umieszczonych w buforze na jakość generowanego sygnału: a) 50 próbek; b) 250 próbek.

9 4. Stanowisko laboratoryjne 4.1. Karta DAQ Na stanowisku studenci korzystają z karty NI-PCI 6221M firmy National Instruments, umieszczonej w komputerze PC. Karta podłączona jest specjalnym kablem do modułu zacisków wejściowych BNC Generowane z wykorzystaniem karty przebiegi obserwowane są na ekranie oscyloskopu cyfrowego, zaś w czasie rejestracji, wybrane wejścia analogowe karty podawany jest sygnał z zewnętrznego generatora. Jest on jednocześnie obserwowany na ekranie oscyloskopu cyfrowego. Na rys. 6 przedstawiono w postaci blokowej schemat stanowiska laboratoryjnego. Specyfikacja karty pomiarowej oraz dane dokładnościowe dostępne są na stanowisku laboratoryjnym. a) b) Rys. 6. Schemat blokowy stanowiska laboratoryjnego: a) konfiguracja przy rejestracji sygnałów; b) konfiguracja przy generowaniu sygnałów 4.2. Oprogramowanie Na komputerze PC zainstalowano programy do obsługi wejść i wyjść analogowych, wykorzystywane w czasie trwania ćwiczenia laboratoryjnego. Programy są intuicyjne w obsłudze. W razie potrzeby klawiszami Ctrl+h można uruchomić pomoc podręczną dla każdego z przycisków dostępnych na panelu czołowym programu. Obserwowane przebiegi można kopiować do dowolnego programu. Na

10 rys. 7 i rys. 8 pokazano panele czołowe obu programów. Programy napisane zostały w środowisku LabVIEW. Rys. 7. Wygląd panelu czołowego programu do rejestracji sygnałów kartą DAQ Rys. 8. Wygląd panelu czołowego programu do generowania sygnałów kartą DAQ

11 5. Literatura [Świsu2002] Świsulski D.: Komputerowa technika w przykładach, Agenda Wydawnicza PAK, Warszawa [NI2008] DAQ M Series M Series User Manual, National Instrumets Corporation, Austin, Texas, [Piotr2002] Piotrowski J.: Podstawy miernictwa, WNT, Warszawa, 2002 [Marc2000] Marcyniuk A.: Podstawy miernictwa elektrycznego dla kierunku elektronika, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice Pytania kontrolne 1. Omówić budowę karty DAQ. 2. Jakie są różnice pomiędzy prostymi a zaawansowanymi kartami DAQ? 3. Omów budowę wejść i wyjść analogowych karty DAQ. 4. Jak realizowana jest rejestracja sygnałów? 5. Jak realizuje się generowanie sygnałów? 6. Wyjaśnij zjawisko aliasingu. 7. Zadania 1. Skonfigurować system do pomiaru napięcia z generatora zewnętrznego, jak na rys. 6a. Zarejestrować sygnał sinusoidalny o częstotliwości 1 khz i amplitudzie 5 V. W programie wykorzystać funkcję pomiaru jednokrotnego (Finite Samples) dla różnych częstotliwości próbkowania, jednak powyżej 2 khz i liczby rejestrowanych próbek sygnału (Samples per Ch.) tak dobranej aby zarejestrować 2 5 okresów. Dla każdej nastawy parametrów rejestracji mierzyć kursorami częstotliwość zarejestrowanego sygnału. Jak częstotliwość próbkowania przekłada się na dokładność odwzorowania kształtu sygnału i pomiar jego częstotliwości? Pomiary powtórzyć dla sygnałów prostokątnego i trójkątnego. Zanotować w protokole wyniki pomiarów i obserwacji. 2. Powtórzyć pomiary dla sygnału sinusoidalnego o częstotliwości 1010 Hz. Dodatkowo zmierzyć częstotliwość rejestrowanego sygnału na oscyloskopie cyfrowym (wykorzystać funkcję pomiarową do tego przeznaczoną) i porównać z wynikiem uzyskanym w programie. Wyjaśnić zaobserwowane różnice.

12 3. Zarejestrować sygnał sinusoidalny o częstotliwości 1 khz, ustawiając częstotliwości próbkowania odpowiednio na 1 khz, 250 Hz, 510 Hz oraz 240 Hz. Wyjaśnić otrzymane wyniki. 4. Skonfigurować system do generowania napięcia na wyjściu analogowym karty DAQ zgodnie z rys. 6b. Przebadać jakość generowanego sygnału dla ustawień amplitudy w programie: 10 V, 5 V, 1 V, 500 mv, 200 mv, 100 mv, 50 mv, 20 mv i 1 mv. Porównać rozdzielczość nominalną karty z rzeczywistą. Zanotować wnioski z obserwacji. 5. Przebadać wpływ ustawień liczby próbek i cykli w buforze na jakość generowanego sygnału sinusoidalnego obserwować odwzorowanie kształtu oraz dokładność generowania amplitudy. W programie stosować interpolację liniową i schodkową (Stepwise). 6. Powtórzyć badania z zadania 5 dla sygnałów trójkątnego i prostokątnego. 7. Korzystając z funkcji pomiarowych oscyloskopu, dokonać pomiarów czasu narastania i opadania dla sygnału prostokątnego. Badania przeprowadzić dla amplitudy generowanego sygnału: 100 mv, 1 V, 5 V, 8 V, 10 V.

Ćwiczenie 4: Próbkowanie sygnałów

Ćwiczenie 4: Próbkowanie sygnałów Politechnika Warszawska Instytut Radioelektroniki Zakład Radiokomunikacji STUDIA MAGISTERSKIE DZIENNE LABORATORIUM SYGNAŁÓW MODULACJI I SYSTEMÓW Ćwiczenie 4: Próbkowanie sygnałów Opracował dr inż. Andrzej

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe Jarosław Gliwiński, Łukasz Rogacz Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe ćw. Programowanie wielofunkcyjnej karty pomiarowej w VEE Data wykonania: 15.05.08 Data oddania: 29.05.08 Celem ćwiczenia była

Bardziej szczegółowo

Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych

Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych wersja: 05.2015 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaprezentowanie istoty działania przetworników analogowo-cyfrowych (ADC analog-to-digital converter),

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie AC i CA

Przetwarzanie AC i CA 1 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Przetwarzanie AC i CA Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 1. Cel ćwiczenia 2 Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe Jarosław Gliwiński, Łukasz Rogacz Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe ćw. Zastosowania wielofunkcyjnej karty pomiarowej Data wykonania: 06.03.08 Data oddania: 19.03.08 Celem ćwiczenia było poznanie

Bardziej szczegółowo

Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych

Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie A/C i C/A

Przetwarzanie A/C i C/A Przetwarzanie A/C i C/A Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 Rev. 204.2018 (KS) 1 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z przetwornikami: analogowo-cyfrowym

Bardziej szczegółowo

Przetworniki AC i CA

Przetworniki AC i CA KATEDRA INFORMATYKI Wydział EAIiE AGH Laboratorium Techniki Mikroprocesorowej Ćwiczenie 4 Przetworniki AC i CA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania wybranych rodzajów przetworników

Bardziej szczegółowo

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium 1 - Cel zajęć - Orientacyjny plan wykładu - Zasady zaliczania przedmiotu - Literatura Klasyfikacja systemów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

Program ćwiczenia: SYSTEMY POMIAROWE WIELKOŚCI FIZYCZNYCH - LABORATORIUM

Program ćwiczenia: SYSTEMY POMIAROWE WIELKOŚCI FIZYCZNYCH - LABORATORIUM Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).

Bardziej szczegółowo

Ćw. 12. Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych ( NI DAQPad-6015 )

Ćw. 12. Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych ( NI DAQPad-6015 ) Ćw. 12. Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych ( NI DAQPad-6015 ) Problemy teoretyczne: Podstawy architektury kart kontrolno-pomiarowych na przykładzie modułu NI DAQPad-6015 Teoria próbkowania

Bardziej szczegółowo

Cechy karty dzwiękowej

Cechy karty dzwiękowej Karta dzwiękowa System audio Za generowanie sygnału dźwiękowego odpowiada system audio w skład którego wchodzą Karta dźwiękowa Głośniki komputerowe Większość obecnie produkowanych płyt głównych posiada

Bardziej szczegółowo

PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA

PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA EGMONT INSTRUMENTS PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA EGMONT INSTRUMENTS tel. (0-22) 823-30-17, 668-69-75 02-304 Warszawa, Aleje Jerozolimskie 141/90 fax (0-22) 659-26-11

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Instrukcja do zajęć laboratoryjnych z przedmiotu: Przetwarzanie Sygnałów Kod: TS1C400027 Temat ćwiczenia:

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST - ITE Semestr zimowy Wykład nr 6 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Ćw. 7 Przetworniki A/C i C/A

Ćw. 7 Przetworniki A/C i C/A Ćw. 7 Przetworniki A/C i C/A 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadami przetwarzania sygnałów analogowych na cyfrowe i cyfrowych na analogowe poprzez zbadanie przetworników A/C i

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE nr 3. Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników analogowo-cyfrowych

ĆWICZENIE nr 3. Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników analogowo-cyfrowych Politechnika Łódzka Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych WWW.DSOD.PL LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRONICZNEJ ĆWICZENIE nr 3 Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników

Bardziej szczegółowo

PUKP Programowanie urządzeń kontrolno-pomiarowych. ztc.wel.wat.edu.pl

PUKP Programowanie urządzeń kontrolno-pomiarowych. ztc.wel.wat.edu.pl PUKP Programowanie urządzeń kontrolno-pomiarowych Zbigniew Jachna zbigniew.jachna@wat.edu.pl p. 124/45 ztc.wel.wat.edu.pl PUKP, 2016 1 Plan przedmiotu PUKP semestr forma zajęć, liczba godzin/rygor (x egzamin,

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 11. Podstawy akwizycji i cyfrowego przetwarzania sygnałów. Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 11. Podstawy akwizycji i cyfrowego przetwarzania sygnałów. Program ćwiczenia: Ćwiczenie 11 Podstawy akwizycji i cyfrowego przetwarzania sygnałów Program ćwiczenia: 1. Konfiguracja karty pomiarowej oraz obserwacja sygnału i jego widma 2. Twierdzenie o próbkowaniu obserwacja dwóch

Bardziej szczegółowo

Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition

Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS & OPKO http://www.optel.pl email: optel@optel.pl Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Spółka z o.o. ul. Otwarta

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMNS - ITwE Semestr letni Wykład nr 4 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości multipleksera analogowego

Badanie właściwości multipleksera analogowego Ćwiczenie 3 Badanie właściwości multipleksera analogowego Program ćwiczenia 1. Sprawdzenie poprawności działania multipleksera 2. Badanie wpływu częstotliwości przełączania kanałów na pracę multipleksera

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Instrukcja do zajęć laboratoryjnych z przedmiotu: Przetwarzanie Sygnałów Kod: TS1A400027 Temat ćwiczenia:

Bardziej szczegółowo

Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe

Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe dr inż.. Roland PAWLICZEK Laboratorium komputerowe Mechatroniki Cel zajęć ęć: Przyrząd pomiarowy:

Bardziej szczegółowo

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 5 WZMACNIACZ OPERACYJNY A. Cel ćwiczenia. - Przedstawienie właściwości wzmacniacza operacyjnego - Zasada

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie. Uniwersalne karty akwizycji danych

Ćwiczenie. Uniwersalne karty akwizycji danych Program Rozwojowy Politechniki Warszawskiej, Zadanie 36 Przygotowanie i modernizacja programów studiów oraz materiałów dydaktycznych na Wydziale Elektrycznym Laboratorium Akwizycja, przetwarzanie i przesyłanie

Bardziej szczegółowo

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Laboratorium komputerowych systemów pomiarowych Ćwiczenie 8 Wykorzystanie modułów FieldPoint w komputerowych systemach pomiarowych 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

Sprzęt i architektura komputerów

Sprzęt i architektura komputerów Krzysztof Makles Sprzęt i architektura komputerów Laboratorium Temat: Elementy i układy półprzewodnikowe Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji Zakład Systemów i Sieci Komputerowych SPIS TREŚCI

Bardziej szczegółowo

Ćw. 8 Bramki logiczne

Ćw. 8 Bramki logiczne Ćw. 8 Bramki logiczne 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi bramkami logicznymi, poznanie ich rodzajów oraz najwaŝniejszych parametrów opisujących ich własności elektryczne.

Bardziej szczegółowo

ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH I TELEKOMUNIKACYJNYCH Laboratorium Podstaw Telekomunikacji WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ

ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH I TELEKOMUNIKACYJNYCH Laboratorium Podstaw Telekomunikacji WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ Laboratorium Podstaw Telekomunikacji Ćw. 4 WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ 1. Zapoznać się z zestawem do demonstracji wpływu zakłóceń na transmisję sygnałów cyfrowych. 2. Przy użyciu oscyloskopu cyfrowego

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Pętla fazowa Ćwiczenie 6 2015 r. 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się, poprzez badania symulacyjne, z działaniem pętli fazowej. 2. Konspekt

Bardziej szczegółowo

Uśrednianie napięć zakłóconych

Uśrednianie napięć zakłóconych Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Miernictwa Elektronicznego Uśrednianie napięć zakłóconych Grupa Nr ćwicz. 5 1... kierownik 2... 3... 4... Data Ocena I.

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 ZASTOSOWANIE WZMACNIACZY OPERACYJNYCH W UKŁADACH

Bardziej szczegółowo

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Laboratorium komputerowych systemów pomiarowych Ćwiczenie 1 Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych 1. Stanowisko laboratoryjne

Bardziej szczegółowo

Schemat blokowy karty

Schemat blokowy karty Obsługa kart I/O Karta NI USB-6008 posiada: osiem wejść analogowych (AI), dwa wyjścia analogowe (AO), 12 cyfrowych wejść-wyjść (DIO), 32-bitowy licznik. Schemat blokowy karty Podstawowe parametry karty

Bardziej szczegółowo

Wirtualne przyrządy pomiarowe

Wirtualne przyrządy pomiarowe Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Wirtualne przyrządy pomiarowe dr inż.. Roland PAWLICZEK Laboratorium Mechatroniki Cel zajęć ęć: Zapoznanie się ze strukturą układu pomiarowego

Bardziej szczegółowo

Moduł wejść/wyjść VersaPoint

Moduł wejść/wyjść VersaPoint Analogowy wyjściowy napięciowo-prądowy o rozdzielczości 16 bitów 1 kanałowy Moduł obsługuje wyjście analogowe sygnały napięciowe lub prądowe. Moduł pracuje z rozdzielczością 16 bitów. Parametry techniczne

Bardziej szczegółowo

Ćwicz. 4 Elementy wykonawcze EWA/PP

Ćwicz. 4 Elementy wykonawcze EWA/PP 1. Wprowadzenie Temat ćwiczenia: Przekaźniki półprzewodnikowe Istnieje kilka rodzajów przekaźników półprzewodnikowych. Zazwyczaj są one sterowane optoelektrycznie z pełną izolacja galwaniczną napięcia

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego adanie parametrów statycznych i dynamicznych ramek Logicznych Opracował: mgr inż. ndrzej iedka Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Parametry statyczne bramek logicznych

Bardziej szczegółowo

Zastosowania mikrokontrolerów w przemyśle

Zastosowania mikrokontrolerów w przemyśle Zastosowania mikrokontrolerów w przemyśle Cezary MAJ Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Współpraca z pamięciami zewnętrznymi Interfejs równoległy (szyna adresowa i danych) Multipleksowanie

Bardziej szczegółowo

Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach

Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach 1 Sygnały wejściowe/wyjściowe w sterowniku PLC Izolacja galwaniczna obwodów sterownika Zasilanie sterownika Elementy sygnalizacyjne Wejścia logiczne (dwustanowe)

Bardziej szczegółowo

Uwaga. Łącząc układ pomiarowy należy pamiętać o zachowaniu zgodności biegunów napięcia z generatora i zacisków na makiecie przetwornika.

Uwaga. Łącząc układ pomiarowy należy pamiętać o zachowaniu zgodności biegunów napięcia z generatora i zacisków na makiecie przetwornika. PLANOWANIE I TECHNIKA EKSPERYMENTU Program ćwiczenia Temat: Badanie właściwości statycznych przetworników pomiarowych, badanie właściwości dynamicznych czujników temperatury Ćwiczenie 5 Spis przyrządów

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Na podstawie instrukcji Wtórniki Napięcia,, Laboratorium układów Elektronicznych Opis badanych układów Spis Treści 1. CEL ĆWICZENIA... 2 2.

Bardziej szczegółowo

1. Opis aplikacji. 2. Przeprowadzanie pomiarów. 3. Tworzenie sprawozdania

1. Opis aplikacji. 2. Przeprowadzanie pomiarów. 3. Tworzenie sprawozdania 1. Opis aplikacji Interfejs programu podzielony jest na dwie zakładki. Wszystkie ustawienia znajdują się w drugiej zakładce, są przygotowane do ćwiczenia i nie można ich zmieniac bez pozwolenia prowadzącego

Bardziej szczegółowo

APPLICATION OF ADUC MICROCONTROLLER MANUFACTURED BY ANALOG DEVICES FOR PRECISION TENSOMETER MEASUREMENT

APPLICATION OF ADUC MICROCONTROLLER MANUFACTURED BY ANALOG DEVICES FOR PRECISION TENSOMETER MEASUREMENT Sławomir Marczak - IV rok Koło Naukowe Techniki Cyfrowej dr inż. Wojciech Mysiński - opiekun naukowy APPLICATION OF ADUC MICROCONTROLLER MANUFACTURED BY ANALOG DEVICES FOR PRECISION TENSOMETER MEASUREMENT

Bardziej szczegółowo

Architektura komputerów

Architektura komputerów Architektura komputerów Wykład 12 Jan Kazimirski 1 Magistrale systemowe 2 Magistrale Magistrala medium łączące dwa lub więcej urządzeń Sygnał przesyłany magistralą może być odbierany przez wiele urządzeń

Bardziej szczegółowo

Interfejsy komunikacyjne pomiary sygnałów losowych i pseudolosowych. Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Interfejsy komunikacyjne pomiary sygnałów losowych i pseudolosowych. Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego Interfejsy komunikacyjne pomiary sygnałów losowych i pseudolosowych Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 rev. 05.2018 1 1. Cel ćwiczenia Doskonalenie umiejętności obsługi

Bardziej szczegółowo

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych Instytut Fizyki ul Wielkopolska 15 70-451 Szczecin 5 Pracownia Elektroniki Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: wzmacniacz operacyjny,

Bardziej szczegółowo

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych Tematem ćwiczenia są zastosowania wzmacniaczy operacyjnych w układach przetwarzania sygnałów analogowych. Ćwiczenie składa się z dwóch części:

Bardziej szczegółowo

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz.

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz. Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II WYZNACZANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW Grupa: Nr. Ćwicz. 9 1... kierownik 2...

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5. Pomiary parametrów sygnałów napięciowych. Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 5. Pomiary parametrów sygnałów napięciowych. Program ćwiczenia: Ćwiczenie 5 Pomiary parametrów sygnałów napięciowych Program ćwiczenia: 1. Pomiar wartości skutecznej, średniej wyprostowanej i maksymalnej sygnałów napięciowych o kształcie sinusoidalnym, prostokątnym

Bardziej szczegółowo

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Wzmacniacze operacyjne

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Wzmacniacze operacyjne AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki 2014 r. Wzmacniacze operacyjne Ćwiczenie 4 1 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i wybranymi zastosowaniami wzmacniaczy

Bardziej szczegółowo

Filtry aktywne filtr środkowoprzepustowy

Filtry aktywne filtr środkowoprzepustowy Filtry aktywne iltr środkowoprzepustowy. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie właściwości iltrów aktywnych, metod ich projektowania oraz pomiaru podstawowych parametrów iltru.. Budowa

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i metrologii

Podstawy elektroniki i metrologii Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Podstawy elektroniki i metrologii Studia I stopnia kier. Informatyka semestr 2 Ilustracje do

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie. Wyznaczanie parametrów przyrządów autonomicznych na przykładzie charakterystyk tłumienia zakłóceń szeregowych woltomierza całkującego

Ćwiczenie. Wyznaczanie parametrów przyrządów autonomicznych na przykładzie charakterystyk tłumienia zakłóceń szeregowych woltomierza całkującego Program Rozwojowy Politechniki Warszawskiej, Zadanie 36 Przygotowanie i modernizacja programów studiów oraz materiałów dydaktycznych na Wydziale Elektrycznym Laboratorium projektowania skupionych i rozproszonych

Bardziej szczegółowo

ASTOR IC200ALG320 4 wyjścia analogowe prądowe. Rozdzielczość 12 bitów. Kod: B8. 4-kanałowy moduł ALG320 przetwarza sygnały cyfrowe o rozdzielczości 12

ASTOR IC200ALG320 4 wyjścia analogowe prądowe. Rozdzielczość 12 bitów. Kod: B8. 4-kanałowy moduł ALG320 przetwarza sygnały cyfrowe o rozdzielczości 12 2.11 MODUŁY WYJŚĆ ANALOGOWYCH IC200ALG320 4 wyjścia analogowe prądowe, rozdzielczość 12 bitów IC200ALG321 4 wyjścia analogowe napięciowe (0 10 VDC), rozdzielczość 12 bitów IC200ALG322 4 wyjścia analogowe

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Metrologia Studia I stopnia, kier Elektronika i Telekomunikacja, sem. 2 Ilustracje do wykładu

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA Autor: Daniel Słowik Promotor: Dr inż. Daniel Kopiec Wrocław 016 Plan prezentacji Założenia i cel

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia: Ćwiczenie Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu Program ćwiczenia:. Pomiary metodą skoku jednostkowego a. obserwacja charakteru odpowiedzi obiektu dynamicznego II rzędu w zależności od współczynnika

Bardziej szczegółowo

Sposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych

Sposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI ZAKŁAD RADIOKOMUNIKACJI Instrukcja laboratoryjna z przedmiotu Podstawy Telekomunikacji Sposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych Warszawa 2010r. 1. Cel ćwiczeń: Celem ćwiczeń

Bardziej szczegółowo

Systemy i architektura komputerów

Systemy i architektura komputerów Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Systemy i architektura komputerów Laboratorium nr 4 Temat: Badanie tranzystorów Spis treści Cel ćwiczenia... 3 Wymagania... 3 Przebieg ćwiczenia...

Bardziej szczegółowo

Szczegółowy Opis Przedmiotu Zamówienia: Zestaw do badania cyfrowych układów logicznych

Szczegółowy Opis Przedmiotu Zamówienia: Zestaw do badania cyfrowych układów logicznych ZP/UR/46/203 Zał. nr a do siwz Szczegółowy Opis Przedmiotu Zamówienia: Zestaw do badania cyfrowych układów logicznych Przedmiot zamówienia obejmuje następujące elementy: L.p. Nazwa Ilość. Zestawienie komputera

Bardziej szczegółowo

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 17 WZMACNIACZ OPERACYJNY A. Cel ćwiczenia. - Przedstawienie właściwości wzmacniacza operacyjnego -

Bardziej szczegółowo

UKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) 1. OPIS TECHNICZNY UKŁADÓW BADANYCH

UKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) 1. OPIS TECHNICZNY UKŁADÓW BADANYCH UKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) WSTĘP Układy z pętlą sprzężenia fazowego (ang. phase-locked loop, skrót PLL) tworzą dynamicznie rozwijającą się klasę układów, stosowanych głównie

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego ĆWICZENIE LABORATORYJNE TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego 1. WPROWADZENIE Przedmiotem ćwiczenia jest zapoznanie się ze wzmacniaczem różnicowym, który

Bardziej szczegółowo

Generator przebiegów pomiarowych Ex-GPP2

Generator przebiegów pomiarowych Ex-GPP2 Generator przebiegów pomiarowych Ex-GPP2 Przeznaczenie Generator przebiegów pomiarowych GPP2 jest programowalnym sześciokanałowym generatorem napięć i prądów, przeznaczonym do celów pomiarowych i diagnostycznych.

Bardziej szczegółowo

Temat ćwiczenia: Przekaźniki półprzewodnikowe

Temat ćwiczenia: Przekaźniki półprzewodnikowe Temat ćwiczenia: Przekaźniki półprzewodnikowe 1. Wprowadzenie Istnieje kilka rodzajów przekaźników półprzewodnikowych. Zazwyczaj są one sterowane optoelektrycznie z pełną izolacja galwaniczną napięcia

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. I. Cel ćwiczenia ĆWICZENIE 6 Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. Badanie właściwości wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie wspólnego kolektora. II.

Bardziej szczegółowo

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo / analogowe W cyfrowych systemach pomiarowych często zachodzi konieczność zmiany sygnału cyfrowego na analogowy, np. w celu

Bardziej szczegółowo

Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII

Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII Pomiary przemysłowe Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII Efekty kształcenia: Ma uporządkowaną i pogłębioną wiedzę z zakresu metod pomiarów wielkości fizycznych w przemyśle. Zna

Bardziej szczegółowo

Przetworniki cyfrowo-analogowe C-A CELE ĆWICZEŃ PODSTAWY TEORETYCZNE

Przetworniki cyfrowo-analogowe C-A CELE ĆWICZEŃ PODSTAWY TEORETYCZNE Przetworniki cyfrowo-analogowe C-A CELE ĆWICZEŃ Zrozumienie zasady działania przetwornika cyfrowo-analogowego. Poznanie podstawowych parametrów i działania układu DAC0800. Poznanie sposobu generacji symetrycznego

Bardziej szczegółowo

ТТ TECHNIKA TENSOMETRYCZNA

ТТ TECHNIKA TENSOMETRYCZNA ТТ TECHNIKA TENSOMETRYCZNA Wzmacniacz pomiarowy AT1-8... 64 АТ1 - wielokanałowy cyfrowy wzmacniacz typu tensometrycznego, przeznaczony do wzmacniania, konwersji na cyfrowy kod i przesyłania sygnałów tensometrów

Bardziej szczegółowo

OPBOX ver USB 2.0 Miniaturowy Ultradźwiękowy system akwizycji danych ze

OPBOX ver USB 2.0 Miniaturowy Ultradźwiękowy system akwizycji danych ze OPBOX ver 2.0 - USB 2.0 Miniaturowy Ultradźwiękowy system akwizycji danych ze OPBOX ver 2.0 - USB 2.0 Miniaturowy Ultradźwiękowy system akwizycji danych Charakterystyka OPBOX 2.0 wraz z dostarczanym oprogramowaniem

Bardziej szczegółowo

GATHERING DATA SYSTEM FOR CONCRETE S SAMPLE DESTRUCTING RESEARCHES WITH USE OF LABVIEW PACKET

GATHERING DATA SYSTEM FOR CONCRETE S SAMPLE DESTRUCTING RESEARCHES WITH USE OF LABVIEW PACKET Łukasz Bajda V rok Koło Naukowe Techniki Cyfrowej dr inż. Wojciech Mysiński opiekun naukowy GATHERING DATA SYSTEM FOR CONCRETE S SAMPLE DESTRUCTING RESEARCHES WITH USE OF LABVIEW PACKET. SYSTEM AKWIZYCJI

Bardziej szczegółowo

Rys. 1. Sposób podłączenia przetworników z płytką Nexys 4.

Rys. 1. Sposób podłączenia przetworników z płytką Nexys 4. Przetworniki Analogowo-Cyfrowe i Cyfrowo-Analogowe Laboratorium Techniki Cyfrowej Ernest Jamro, Piotr Rzeszut, Katedra Elektroniki, AGH, Kraków, 2015-01-10 1. Przetworniki z drabinką R-2R i sterowanie

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie

Bardziej szczegółowo

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH WYDZIAŁ EAIIE. Dydaktyczny model 4-bitowego przetwornika C/A z siecią rezystorów o wartościach wagowych

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH WYDZIAŁ EAIIE. Dydaktyczny model 4-bitowego przetwornika C/A z siecią rezystorów o wartościach wagowych KATEDRA ELEKTRONIKI AGH WYDZIAŁ EAIIE Przetworniki A/C i C/A Data wykonania LABORATORIUM TECHNIKI CYFROWEJ Skład zespołu: Dydaktyczny model 4-bitowego przetwornika C/A z siecią rezystorów o wartościach

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMNS - ITwE Semestr letni Wykład nr 6 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

UWAGA. Wszystkie wyniki zapisywać na dysku Dane E: Program i przebieg ćwiczenia:

UWAGA. Wszystkie wyniki zapisywać na dysku Dane E: Program i przebieg ćwiczenia: Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z. metodami badania i analitycznego wyznaczania parametrów dynamicznych obiektów rzeczywistych na przykładzie mikrotermostatu oraz z metodami symulacyjnymi umożliwiającymi

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.

Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów. ĆWICZENIE 4 Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów. I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z układami zasilania tranzystorów. Wybór punktu pracy tranzystora. Statyczna prosta pracy. II. Układ

Bardziej szczegółowo

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej

Bardziej szczegółowo

Systemy wbudowane. Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl

Systemy wbudowane. Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl Systemy wbudowane Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl 1 Program przedmiotu Wprowadzenie definicja, zastosowania, projektowanie systemów wbudowanych Mikrokontrolery AVR Programowanie mikrokontrolerów

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH Gliwice, wrzesień 2007 Cyfrowe pomiary częstotliwości oraz parametrów RLC Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową,

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Instrukcja do zajęć laboratoryjnych z przedmiotu: Przetwarzanie Sygnałów Kod: TS1A400027 Temat ćwiczenia:

Bardziej szczegółowo

TECHNIKA CYFROWA ELEKTRONIKA ANALOGOWA I CYFROWA. Układy czasowe

TECHNIKA CYFROWA ELEKTRONIKA ANALOGOWA I CYFROWA. Układy czasowe LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA ELEKTRONIKA ANALOGOWA I CYFROWA Układy czasowe Opracował: Tomasz Miłosławski Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Parametry impulsu elektrycznego i metody ich pomiarów. 2. Bramkowe

Bardziej szczegółowo

Architektura komputerów

Architektura komputerów Architektura komputerów Tydzień 11 Wejście - wyjście Urządzenia zewnętrzne Wyjściowe monitor drukarka Wejściowe klawiatura, mysz dyski, skanery Komunikacyjne karta sieciowa, modem Urządzenie zewnętrzne

Bardziej szczegółowo

Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych

Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych Ćwiczenie Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych Program ćwiczenia. Zapoznanie się z przykładową strukturą filtra dolnoprzepustowego (DP) rzędu i jego parametrami.. Analiza widma sygnału prostokątnego.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 23. Cyfrowe pomiary czasu i częstotliwości.

Ćwiczenie 23. Cyfrowe pomiary czasu i częstotliwości. Ćwiczenie 23. Cyfrowe pomiary czasu i częstotliwości. Program ćwiczenia: 1. Pomiar częstotliwości z wykorzystaniem licznika 2. Pomiar okresu z wykorzystaniem licznika 3. Obserwacja działania pętli synchronizacji

Bardziej szczegółowo

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych Tematem ćwiczenia są zastosowania wzmacniaczy operacyjnych w układach przetwarzania sygnałów analogowych. Ćwiczenie składa się z dwóch części:

Bardziej szczegółowo

Filtry aktywne filtr górnoprzepustowy

Filtry aktywne filtr górnoprzepustowy . el ćwiczenia. Filtry aktywne filtr górnoprzepustowy elem ćwiczenia jest praktyczne poznanie właściwości filtrów aktywnych, metod ich projektowania oraz pomiaru podstawowych parametrów filtru.. Budowa

Bardziej szczegółowo

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych wzmacniacz odwracający i nieodwracający

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych wzmacniacz odwracający i nieodwracający Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych wzmacniacz odwracający i nieodwracający. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie właściwości wzmacniaczy operacyjnych i ich podstawowych

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie liniowych układów ze wzmacniaczem operacyjnym (2h)

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie liniowych układów ze wzmacniaczem operacyjnym (2h) ĆWICZENIE LABORATORYJNE TEMAT: Badanie liniowych układów ze wzmacniaczem operacyjnym (2h) 1. WPROWADZENIE Przedmiotem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego

Bardziej szczegółowo

XXXII Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej. XXXII Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej

XXXII Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej. XXXII Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Zestaw pytań finałowych numer : 1 1. Wzmacniacz prądu stałego: własności, podstawowe rozwiązania układowe 2. Cyfrowy układ sekwencyjny - schemat blokowy, sygnały wejściowe i wyjściowe, zasady syntezy 3.

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki

Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki ĆWICZENIE Nr 10 (3h) Implementacja interfejsu SPI w strukturze programowalnej Instrukcja pomocnicza do laboratorium z przedmiotu

Bardziej szczegółowo

oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III

oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III Część I zamówienia Dostawa urządzeń na potrzeby modernizacji stolika

Bardziej szczegółowo

Przystawka oscyloskopowa z analizatorem stanów logicznych. Seria DSO-29xxA&B. Skrócona instrukcja użytkownika

Przystawka oscyloskopowa z analizatorem stanów logicznych. Seria DSO-29xxA&B. Skrócona instrukcja użytkownika Przystawka oscyloskopowa z analizatorem stanów logicznych Seria DSO-29xxA&B Skrócona instrukcja użytkownika Zawartość zestawu: Przystawka DSO-29XXA lub DSO-29XXB Moduł analizatora stanów logicznych Sondy

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 23. Cyfrowe pomiary czasu i częstotliwości.

Ćwiczenie 23. Cyfrowe pomiary czasu i częstotliwości. Ćwiczenie 23. Cyfrowe pomiary czasu i częstotliwości. Program ćwiczenia: 1. Pomiar częstotliwości z wykorzystaniem licznika 2. Pomiar okresu z wykorzystaniem licznika 3. Obserwacja działania pętli synchronizacji

Bardziej szczegółowo

Konfiguracja karty akwizycji danych pomiarowych DAQ

Konfiguracja karty akwizycji danych pomiarowych DAQ Konfiguracja karty akwizycji danych pomiarowych DAQ Uruchom program konfiguracyjny Measurement & Automation Explorer (ikona na Pulpicie) Measurement & Automation.lnk Rozwiń menu Devices and Interfaces,

Bardziej szczegółowo

WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC

WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC 1. WSTĘP Tematem ćwiczenia są podstawowe właściwości jednostopniowego wzmacniacza pasmowego z tranzystorem bipolarnym. Zadaniem ćwiczących jest dokonanie pomiaru częstotliwości

Bardziej szczegółowo