PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 09/10. GRZEGORZ MĄCZKOWSKI, Radom, PL ROBERT SITNIK, Warszawa, PL

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "PL 211983 B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL 26.04.2010 BUP 09/10. GRZEGORZ MĄCZKOWSKI, Radom, PL ROBERT SITNIK, Warszawa, PL"

Transkrypt

1 PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: (51) Int.Cl. G01J 3/46 ( ) G01J 3/51 ( ) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: (54) Sposób multispektralnego pomiaru barwy i urządzenie do pomiaru barwy (43) Zgłoszenie ogłoszono: BUP 09/10 (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: WUP 07/12 (73) Uprawniony z patentu: POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL (72) Twórca(y) wynalazku: GRZEGORZ MĄCZKOWSKI, Radom, PL ROBERT SITNIK, Warszawa, PL (74) Pełnomocnik: rzecz. pat. Jerzy Woźnicki

2 2 PL B1 Opis wynalazku Przedmiotem wynalazku jest sposób multispektralnego pomiaru barwy i urządzenie do pomiaru barwy, przy użyciu zestawu filtrów interferencyjnych, mające zastosowanie do pomiarów barwy powierzchni na potrzeby archiwizacji obiektów dziedzictwa kulturowego, inżynierii odwrotnej i wirtualnej rzeczywistości. Z opisu patentowego EP znany jest skaner multispektralny pełniący funkcję urządzenia do renderowania, skanera multispektralnego i trójwymiarowego automatycznego gonio-spektrofotometru. Służy on do generowania trójwymiarowych obrazów skanowanego obiektu, pomiaru rozkładu natężenia światła odbitego od obiektu oraz charakterystyki kolorymetrycznej powierzchni o skomplikowanej charakterystyce odbiciowej, takich jak np. włókna czy tkaniny. Multispektralny pomiar barwy stosowany jest po to, żeby uzyskać niezależne od oświetlenia informacje o kolorze, co pozwala na ustawienie dowolnej charakterystyki spektralnej źródła światła podczas renderowania i mimo to otrzymanie prawidłowej barwy obiektu. Moduł ten daje wynik pomiaru niezależny od charakterystyki widmowej układu optycznego skanera. Skaner zbudowany jest z wykorzystaniem szeregu filtrów spektralnych o precyzyjnie skalibrowanej centralnej długości fali i charakterystykach niezachodzących na siebie. Umożliwia to odtworzenie dokładnej charakterystyki odbicia, nawet dla źródeł światła, które nie mają gładkiej charakterystyki widmowej, jak np. świetlówki. Kalibracja skanera umożliwia kompensację wpływu układu optycznego, charakterystyki widmowej detektora i filtrów. Polega ona na rejestracji widma światła odbitego dla serii próbek o różnych barwach, ale znanych charakterystykach, co pozwala na wygenerowanie odpowiednich współczynników korekcyjnych. Trójwymiarowy gonio-spektrofotometr użyty jest w celu otrzymania dokładnej charakterystyki spektralnej światła odbitego od badanego obiektu dla obiektów o niejednorodnej charakterystyce odbicia, np. tkanin. W przypadku obiektów o powierzchni jednorodnej charakterystykę odbicia można traktować jako stałą na całej powierzchni, mierząc jej wartości tylko w zależności od kąta obserwacji, natomiast w przypadku obiektów niejednorodnych należy ją traktować jako zmienną także w zależności od położenia punktu na powierzchni. Ponadto zastosowanie układu gonio-spektrometru trójwymiarowego umożliwia badanie powierzchni o skomplikowanym kształcie. Możliwe jest także uniezależnienie pomiaru charakterystyki rozproszenia od błędów wynikających z powstania jasnej plamki największego odbicia w przypadku kąta rejestracji zbliżonego do kąta padania światła. W celu wyznaczenia charakterystyki odbicia w danym punkcie stosowana jest metoda podwójnego promienia, która polega na tym, że mierzony jest jednocześnie strumień natężenia światła odbitego od badanej powierzchni i od idealnie rozpraszającej płytki referencyjnej, a wartość odbicia wyznaczana jest jako iloraz tych dwóch wielkości. Znany jest także system pomiaru barwy Jumbo Scan firmy Lumiere Technology. Jest to system pomiaru barwy o bardzo wysokiej rozdzielczości przeznaczony do archiwizacji obiektów dziedzictwa kulturowego, a szczególnie obrazów. Składa się ze specjalnie zaprojektowanej kamery posiadającej obiektyw z rozbudowaną korekcją chromatyczną za którym znajduje się zestaw filtrów interferencyjnych i linijka CCD o dużej rozdzielczości jako detektor oraz oświetlacza generującego linijkę świetlną, która skanuje mierzony obiekt. Jej przesuw jest zsynchronizowany z przesuwem detektora. Kamera multispektralna może być zamontowana na różne sposoby, w zależności od potrzeb konfiguracji stanowiska pomiarowego. Układ oświetlający zapewnia równomierne oświetlenie nie powodując nagrzewania powierzchni mierzonej. Uzyskane dane są niezależne od charakterystyki źródła światła, co umożliwia symulowanie wyglądu powierzchni z zastosowaniem różnych rodzajów oświetlenia. System został wdrożony i zastosowany m. in. do pomiarów obrazu Mona Lisa w muzeum Luwr i obrazu Dama z gronostajem w Muzeum Czartoryskich w Krakowie. Strona internetowa projektu: Sposób multispektralnego pomiaru barwy, polegający na zebraniu obrazów zarejestrowanych czarno-białą kamerą z matrycą CCD poprzez filtry interferencyjne oraz wyznaczeniu składowych barwy w niezależnej przestrzeni barw na podstawie analizy zarejestrowanych obrazów z wykorzystaniem obrazu referencyjnego mierzonej powierzchni w tym samym obszarze pomiarowym, według wynalazku polega na tym, że rejestruje się sekwencję obrazów pobieranych kolejno poprzez inny filtr interferencyjny w zestawie pokrywającym cały zakres widzialny widma, a otrzymane dane koryguje się na podstawie znajomości odpowiedzi uzyskanej dla wzorca bieli, przy czym do obliczenia wartości barwy powierzchni zakrzywionej i częściowo zacienionej wykorzystuje się obraz referencyjny zebrany bez filtra interferencyjnego, który porównuje się z charakterystyką kątową rozproszenia światła od mierzonej powierzchni.

3 PL B1 3 Urządzenie do pomiaru barwy, wyposażone w wymienne filtry interferencyjne, źródło światła i detektor w postaci kamery czarno-białej z matrycą CCD, według wynalazku charakteryzuje się tym, że filtry interferencyjne oraz jedno okno puste są rozmieszczone równomiernie na obwodzie obracającej się tarczy, przy czym kamera jest umieszczona nieruchomo wewnątrz okręgu wyznaczonego przez obwód tarczy, zaś obrót tarczy o określoną podziałkę jest realizowany przez zespół napędowy z silnikiem krokowym, przy czym źródło światła stanowi lampa emitująca światło w całym zakresie widzialnym, zwłaszcza lampa metalohalogenkowa. Korzystnym jest, jeżeli oś oświetlenia od źródła światła tworzy z osią optyczną obiektywu kamery kąt między 8 a 15, a ponadto źródło światła jest wyposażone w matówkę zapewniający równomierne oświetlenie obszaru pola widzenia kamery. Korzystnym jest także, jeżeli urządzenie zawiera od 10 do 20 wymiennych filtrów interferencyjnych oraz jedno okno puste, rozmieszczone w tej samej odległości na obwodzie tarczy, która to odległość określa wielkość podziałki. W sposobie według wynalazku, przed obiektywem kamery umieszczone są kolejno filtry interferencyjne o wąskim paśmie, na przykład o szerokości 20 nm pokrywające cały zakres widzialny widma (od 400 do 780 nm) i ewentualnie bliską podczerwień (do 1000 nm). Kamera rejestruje sekwencję obrazów, z których każdy jest pobierany przez inny filtr interferencyjny. Otrzymane dane są korygowane dzięki znajomości odpowiedzi uzyskanej dla wzorca bieli, co pozwala na eliminację wpływu spektralnej charakterystyki obiektywu, matrycy CCD i źródła światła. Dodatkowo dane są korygowane przy użyciu obrazu referencyjnego zebranego bez przysłaniania obiektywu filtrem interferencyjnym w celu eliminacji wpływu zacienienia powierzchni. Odbywa się to zgodnie z założeniem, że cień jest zjawiskiem niezależnym od długości fali światła, czyli powoduje równomierny w całym widmie spadek intensywności. Spadek ten można wyeliminować dzieląc obraz uzyskany z filtrem interferencyjnym przez obraz referencyjny. W celu wyrównania wartości barwy na powierzchni mierzonej wykorzystuje się dane z układu pomiaru kątowej charakterystyki rozproszenia światła, niezależnego od ujawnionego wynalazku. Dane te są dostępne w postaci macierzy współczynników określających przestrzenny rozkład natężenia światła rozproszonego od powierzchni dla danego położenia systemu pomiarowego względem mierzonej powierzchni. Dane po przetworzeniu opisanym powyżej są zamieniane na składowe barwy w przestrzeni CIE XYZ na podstawie tabel udostępnionych przez CIE. Stosując dalsze przetwarzanie można dane te zamienić na inne przestrzenie barw, jak również symulować barwę powierzchni przy oświetleniu różnymi źródłami dzięki wykorzystaniu odpowiedniego algorytmu przeliczania składowych XVZ na przestrzeń RGB. W urządzeniu według wynalazku obracająca się tarcza umożliwia automatyczną zmianę filtrów interferencyjnych podczas pomiaru barwy mierzonej powierzchni. Zmiany położenia tarczy z filtrami interferencyjnymi dokonywane są przy użyciu silnika krokowego, którego napęd przenoszony jest za pomocą przekładni z paskiem zębatym w celu zmniejszenia obciążenia bezwładnościowego silnika i zachowania dokładności pozycjonowania. Tarcza na obwodzie której znajdują się filtry interferencyjne ma tak dobraną średnicę, żeby możliwe było umieszczenie maksymalnie 20 filtrów interferencyjnych i pozostawienie jednego okna pustego w celu zebrania obrazu referencyjnego. Źródło światła jest umieszczone poza urządzeniem do pomiaru barwy, jednak w taki sposób, żeby oświetlało równomiernie całą objętość pomiarową a jego oś tworzyła z osią optyczną obiektywu kamery kąt między 8 a 15. Ponadto źródło światła jest sztywno połączone z urządzeniem do pomiaru barwy, tak żeby jego położenie względem tego urządzenia było niezmienne podczas pomiaru. Kamera z matrycą CCD powinna umożliwiać rejestrację obrazu w zakresie widzialnym i bliskiej podczerwieni. Obiektyw kamery powinien być tak dobrany, żeby zapewniał uzyskanie pola widzenia, a zarazem wielkości analizowanej powierzchni do 300x300mm. Należy przy tym zapewnić, żeby oprawa filtra interferencyjnego nie ograniczała pola widzenia obiektywu kamery, gdyż prowadzi to do zmniejszenia jasności obrazu w kierunku od środka do krawędzi pola widzenia. Zastosowany obiektyw może być stało ogniskowy, ponieważ cały system jest ustawiony na stałe na jedną, określoną objętość pomiarową. Rozwiązanie według wynalazku umożliwia uzyskanie informacji o barwie mierzonej powierzchni w każdym zarejestrowanym pikselu. Wynalazek może być stosowane ze źródłami światła o ciągłym widmie promieniowania w zakresie widzialnym, bez znajomości jego ścisłej charakterystyki widmowej. Rozwiązanie według wynalazku pozwala na wyeliminowanie wpływu błędów wynikających z nierównomiernego oświetlenia, nieznanej charakterystyki spektralnej źródła oraz zależności czułości detektora

4 4 PL B1 i transmisji układu optycznego od długości fali, a także kąta nachylenia mierzonej powierzchni do systemu pomiarowego. Rozwiązanie według wynalazku może współpracować z systemem pomiaru kształtu metodą oświetlenia strukturalnego, niezależnego od ujawnionego wynalazku, ponieważ oba te systemy, do pomiaru barwy i do pomiaru kształtu, korzystają z tej samej kamery jako detektora. Tego typu zintegrowany układ, zastosowany razem z urządzeniem do pomiaru kształtu metodą projekcji światła strukturalnego, może służyć do dokładnego wyznaczania tekstur nakładanych na powierzchnie otrzymane w tym pomiarze. Tekstury takie charakteryzują się równomierną jasnością, niezależnie od kierunku pomiaru i nie wymagają dodatkowej obróbki w celu uzyskania wiernego odwzorowania barwy dla wielu kierunków pomiaru. Wynalazek jest objaśniony w przykładzie realizacji zobrazowanym na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia widok urządzenia do pomiaru barwy w perspektywie, fig. 2 przedstawia usytuowanie zespołu napędowego i kamery względem tarczy z filtrami interferencyjnymi w perspektywie, a fig. 3 przedstawia schemat przebiegu pomiaru. Jak przedstawiono na fig. 1, urządzenie do pomiaru barwy jest wyposażone w przyrząd do automatycznego ustawiania filtrów interferencyjnych 3 rozmieszczonych na obwodzie tarczy 10 pomiędzy obiektywem 2 kamery 4 a mierzoną powierzchnią oświetloną przez źródło światła 1. Filtry są zamocowane w obejmach 5 tworzących pierścień przymocowany współosiowo do tarczy 10. Obiektyw 2 kamery 4 jest widoczny na rysunku przez okno w obejmie 5 bez filtra interferencyjnego 3. Źródło światła 1 stanowi lampa metalohalogenkowa emitująca światło o widmie w całym zakresie widzialnym, połączona sztywno z przyrządem tak, że wzajemne położenie przyrządu i lampy nie zmienia się podczas pomiaru. Przyrząd jest wyposażony w 20 wymiennych filtrów interferencyjnych 3 oraz jedno okno puste rozmieszczone wraz z filtrami w tej samej odległości na obwodzie tarczy 10. Odległość ta wyznacza wielkość podziałki. Jak przedstawiono na fig. 2, wymienne filtry interferencyjne 3 są rozmieszczone równomiernie na obwodzie obracającej się tarczy 10. Każdy filtr jest umieszczony w obejmie 5 zamocowanej do krawędzi tarczy 10. Kamera 4 jest umieszczona nieruchomo wewnątrz okręgu wyznaczonego przez obwód tarczy 10, której obrót o określoną podziałkę, równą odległości między filtrami, jest realizowany przez zespół napędowy złożony z silnika krokowego 7, mechanizmu przeniesienia napędu 8 i osi napędzanej ułożyskowanej w tulei 6. Mechanizm przeniesienia napędu 8 jest wyposażony w przekładnię pasową. Czarno-biała kamera 4 posiada szaro-odcieniową matrycę CCD o charakterystyce czułości pokrywającej całe pasmo widzialne i bliską podczerwień. Obiektyw 2 jest stało ogniskowy, dopasowany do założonego pola widzenia systemu pomiarowego tak, aby jego pole widzenia nie było ograniczane przez krawędź filtra interferencyjnego 3. Obiektyw 2 powinien mieć dobrze skorygowaną krzywiznę pola i dystorsję. Korekcja aberracji chromatycznej nie ma wpływu na działanie układu, gdyż jest kompensowana przez pomiar wzorca bieli podczas kalibracji urządzenia. Obejmy 5, z oknami na filtry interferencyjne 3, są zaprojektowane tak, że umożliwiają łatwe zamontowanie filtra, bez potrzeby demontowania przyrządu. Umożliwia to zastosowanie dowolnej konfiguracji filtrów działających w świetle widzialnym i bliskiej podczerwieni w zależności od koniecznych warunków pomiaru. Zastosowanie silnika krokowego 7 jako napędu umożliwia dokładne ustawienie kolejnych pozycji filtrów interferencyjnych bez potrzeby użycia sprzężenia zwrotnego. Zastosowanie przekładni pasowej z paskiem zębatym nie wprowadza błędu pozycjonowania, a ogranicza moment bezwładności jakim obciążony jest silnik. Oś tarczy 10, do której są przymocowane obejmy 5, jest ułożyskowana tocznie w tulei 6, co ogranicza tarcie i umożliwia precyzyjny, bezluzowy obrót tarczy 10. Dzięki temu nie jest konieczne stosowanie dodatkowego podparcia w celu stabilizacji płaszczyzny obrotu tarczy 10. Dużą sztywność zespołu napędowego zapewnia samonośna konstrukcja z profili aluminiowych 9. Do tej samej konstrukcji przymocowana jest kamera 4, dzięki czemu jej pozycja w stosunku do usytuowanego przed nią okna obejmy 5 jest zawsze taka sama. Jak przedstawiono na schemacie z fig. 3, pierwszym krokiem (101), wykonywanym jednorazowo przed pomiarem, jest instalacja filtrów interferencyjnych 3 w przyrządzie do automatycznego ustawiania filtrów wchodzącym w skład urządzenia do pomiaru barwy. W drugim kroku (102) przeprowadza się bazowanie urządzenia pomiarowego polegające na ustawieniu przyrządu zmieniającego filtry w pozycji startowej, w której bezpośrednio przed obiektywem kamery 4 znajduje się puste okno, bez filtra interferencyjnego 3. Trzecim krokiem (103) jest pobranie obrazu referencyjnego, a następnym (104) - ustawienie naprzeciw kamery 4 pierwszego w kolejności filtra interferencyjnego 3. W piątym kroku (105) pobierany jest obraz z kamery 4 przy nieruchomej tarczy 10 przyrządu, po czym następuje

5 PL B1 5 ustawienie kolejnego filtra. Kroki (105, 106) są powtarzane dopóki nie zostaną zebrane obrazy ze wszystkich zainstalowanych filtrów interferencyjnych 3. Po zarejestrowanej sekwencji obrazów, w siódmym kroku (107) dokonywana jest analiza numeryczna pobranych i zarejestrowanych obrazów oraz przetworzenie danych w celu uzyskania składowych barwy w określonej przestrzeni barw. Wynalazek jest przeznaczony przede wszystkim do digitalizacji obiektów dziedzictwa kulturowego. W połączeniu z systemem pomiaru kształtu z wykorzystaniem oświetlenia strukturalnego może stanowić zintegrowany system generowania trójwymiarowych modeli zabytków na potrzeby ich archiwizacji i wirtualnej rzeczywistości. Wynalazek umożliwia wyznaczenie charakterystyki widmowej światła rozproszonego od powierzchni, a także określenie barwy powierzchni mierzonej w niezależnej przestrzeni barw. Ponadto wynalazek umożliwia symulację wyglądu powierzchni przy oświetleniu różnymi rodzajami źródeł światła. Zastrzeżenia patentowe 1. Sposób multispektralnego pomiaru barwy, polegający na zebraniu obrazów zarejestrowanych czarno-białą kamerą z matrycą CCD poprzez filtry interferencyjne oraz wyznaczeniu składowych barwy w niezależnej przestrzeni barw na podstawie analizy zarejestrowanych obrazów z wykorzystaniem obrazu referencyjnego mierzonej powierzchni w tym samym obszarze pomiarowym, znamienny tym, że rejestruje się sekwencję obrazów pobieranych kolejno poprzez inny filtr interferencyjny (3) w zestawie pokrywającym cały zakres widzialny widma, a otrzymane dane koryguje się na podstawie znajomości odpowiedzi uzyskanej dla wzorca bieli, przy czym do obliczenia wartości barwy powierzchni zakrzywionej i częściowo zacienionej wykorzystuje się obraz referencyjny zebrany bez filtra interferencyjnego, który porównuje się z charakterystyką kątową rozproszenia światła od mierzonej powierzchni. 2. Urządzenie do pomiaru barwy, wyposażone w wymienne filtry interferencyjne, źródło światła i detektor w postaci czarno-białej kamery z matrycą CCD, znamienne tym, że filtry interferencyjne (3) oraz jedno okno puste są rozmieszczone równomiernie na obwodzie obracającej się tarczy (10), przy czym kamera (4) jest umieszczona nieruchomo wewnątrz okręgu wyznaczonego przez obwód tarczy (10), zaś obrót tarczy (10) o określoną podziałkę jest realizowany przez zespół napędowy (8) z silnikiem krokowym (7), przy czym źródło światła (1) stanowi lampa emitująca światło w całym zakresie widzialnym, zwłaszcza lampa metalohalogenkowa. 3. Urządzenie według zastrz. 2, znamienne tym, że oś oświetlenia od źródła światła (1) tworzy z osią optyczną obiektywu kamery (4) kąt między 8 a Urządzenie wg zastrzeżenia 2, znamienne tym, że źródło światła (1) jest wyposażone w matówkę zapewniający równomierne oświetlenie obszaru pola widzenia kamery (4). 5. Urządzenie według zastrzeżenia 2, znamienne tym, że zawiera od 10 do 20 wymiennych filtrów interferencyjnych (3) oraz jedno okno puste, rozmieszczone w tej samej odległości na obwodzie tarczy (10), która to odległość określa wielkość podziałki.

6 6 PL B1 Rysunki

7 PL B1 7

8 8 PL B1 Departament Wydawnictw UP RP Cena 2,46 zł (w tym 23% VAT)

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL 176148 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307963 (22) Data zgłoszenia: 30.03.1995 (51) IntCl6 G01B 5/20 (54) Sposób

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11 PL 214592 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214592 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388915 (51) Int.Cl. G01B 5/28 (2006.01) G01C 7/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379580 (51) Int.Cl. G01N 21/952 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. 1. Zespół do kontroli ustawienia świateł

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. 1. Zespół do kontroli ustawienia świateł RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 182714 (13) B1 (21 ) Numer zgłoszenia: 319668 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 23.04.1997 Rzeczypospolitej Polskiej (51) Int.C l.7 B60Q 11/00

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów

PL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów PL 224727 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224727 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391882 (51) Int.Cl. G01S 5/18 (2006.01) G01S 3/80 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)175300 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305449 (22) Data zgłoszenia: 14.10.1994 (21) IntCl6: G01D 9/42 A61B 1/26

Bardziej szczegółowo

PL 210006 B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL

PL 210006 B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210006 (21) Numer zgłoszenia: 380722 (22) Data zgłoszenia: 01.10.2006 (13) B1 (51) Int.Cl. A61G 5/02 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Lubuskie Zakłady Aparatów Elektrycznych LUMEL S.A.,Zielona Góra,PL BUP 16/04. Andrzej Au,Racula,PL

PL B1. Lubuskie Zakłady Aparatów Elektrycznych LUMEL S.A.,Zielona Góra,PL BUP 16/04. Andrzej Au,Racula,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200563 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358608 (51) Int.Cl. G01R 5/14 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 06.02.2003

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 RZECZPO SPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307033 (22) Data zgłoszenia: 31.01.1995 (51) Int.Cl.6: A61B 3/107

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174940 (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174940 (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174940 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305007 (22) Data zgłoszenia: 12.09.1994 (51) IntCl6: B25J 9/06 B25J

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 07/19. PAWEŁ ZMARZŁY, Brzeziny, PL WUP 08/19. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 07/19. PAWEŁ ZMARZŁY, Brzeziny, PL WUP 08/19. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 233066 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 427690 (51) Int.Cl. G01B 5/08 (2006.01) G01B 3/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 13/09. RAFAŁ CZUPRYNIAK, Warszawa, PL

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 13/09. RAFAŁ CZUPRYNIAK, Warszawa, PL PL 215871 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215871 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384030 (22) Data zgłoszenia: 12.12.2007 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203822 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358564 (51) Int.Cl. G01N 19/04 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. LISICKI JANUSZ ZAKŁAD PRODUKCYJNO HANDLOWO USŁUGOWY EXPORT IMPORT, Pukinin, PL BUP 17/16. JANUSZ LISICKI, Pukinin, PL

PL B1. LISICKI JANUSZ ZAKŁAD PRODUKCYJNO HANDLOWO USŁUGOWY EXPORT IMPORT, Pukinin, PL BUP 17/16. JANUSZ LISICKI, Pukinin, PL PL 226242 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226242 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 411231 (51) Int.Cl. A01D 46/26 (2006.01) A01D 46/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228974 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 419599 (51) Int.Cl. A61B 5/00 (2006.01) G01N 21/64 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL

PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202905 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 357399 (51) Int.Cl. G06K 9/00 (2006.01) A61B 5/117 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 12/14. ANTONI SZUMANOWSKI, Warszawa, PL PAWEŁ KRAWCZYK, Ciechanów, PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 12/14. ANTONI SZUMANOWSKI, Warszawa, PL PAWEŁ KRAWCZYK, Ciechanów, PL PL 222644 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222644 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 401778 (51) Int.Cl. F16H 55/56 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 186864 (21) Numer zgłoszenia: 326088 (22) Data zgłoszenia: 28.04.1998 (13) B1 (51) IntCl7 F03D 3/02 (54)

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04 RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174585 PO LSK A (13)B1 U rząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 304405 (22) Data zgłoszenia: 22.07.1994 (51) Int.Cl.6: G01N

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 (21) Numer zgłoszenia: 319932 (22) Data zgłoszenia: 13.05.1997 (13) B1 (51) IntCl7 B03C 1/025 B03C

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)167818 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 3 7 2 5 (22) Data zgłoszenia: 0 6.0 3.1 9 9 2 (51) Intcl6: B61K9/12

Bardziej szczegółowo

PL 214324 B1. SMAY SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL 02.08.2010 BUP 16/10. JAROSŁAW WICHE, Kraków, PL 31.07.

PL 214324 B1. SMAY SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL 02.08.2010 BUP 16/10. JAROSŁAW WICHE, Kraków, PL 31.07. PL 214324 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214324 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387102 (22) Data zgłoszenia: 23.01.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 B23K 7/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA. Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 B23K 7/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA. Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175070 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 306629 Data zgłoszenia: 29.12.1994 (51) IntCl6: B23K 7/10 (54) Przecinarka

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie ręczne z elektrycznie napędzanym narzędziem i elektropneumatycznym mechanizmem uderzeniowym

PL B1. Urządzenie ręczne z elektrycznie napędzanym narzędziem i elektropneumatycznym mechanizmem uderzeniowym RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203191 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 356629 (51) Int.Cl. B25D 17/22 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 14.10.2002

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CONCEPT STAL B&S LEJMAN SPÓŁKA JAWNA, Chełm, PL BUP 26/15. STANISŁAW LEJMAN, Chełm, PL

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CONCEPT STAL B&S LEJMAN SPÓŁKA JAWNA, Chełm, PL BUP 26/15. STANISŁAW LEJMAN, Chełm, PL PL 223981 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 408597 (51) Int.Cl. F16H 7/02 (2006.01) F16H 7/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 196881 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340516 (51) Int.Cl. G01R 11/40 (2006.01) G01R 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13)B1

RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13)B1 RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)177192 (13)B1 (21)Numer zgłoszenia: 309529 Urząd Patentowy (22)Data Zgłoszenia: 0 4.07.1995 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6. G 0 1N 3/56 G01N 19/02

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176571 (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176571 (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176571 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307998 (22) Data zgłoszenia: 03.04.1995 (51) IntCl6: G01L1/24 B25J

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO HAK SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Wrocław, PL BUP 20/14. JACEK RADOMSKI, Wrocław, PL

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO HAK SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Wrocław, PL BUP 20/14. JACEK RADOMSKI, Wrocław, PL PL 224252 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224252 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 403166 (51) Int.Cl. B66C 13/08 (2006.01) H02K 7/14 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13 PL 222455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222455 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399143 (51) Int.Cl. H02M 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA RZESZOWSKA IM. IGNACEGO ŁUKASIEWICZA, Rzeszów, PL BUP 11/15

PL B1. POLITECHNIKA RZESZOWSKA IM. IGNACEGO ŁUKASIEWICZA, Rzeszów, PL BUP 11/15 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227325 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 408196 (51) Int.Cl. F16H 55/18 (2006.01) F16H 1/48 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL B1 (19) PL (11)

(13) B1 PL B1 (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA ( 12) OPIS PATENTOWY (21) Numer zgłoszenia: 319170 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 25.03.1997 Rzeczypospolitej Polskiej (19) PL (11) 182309 (13) B1 (51) IntCl7 G01N 3/08 G02B

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego

PL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego PL 223315 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223315 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399459 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 161567 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 282081 (22) Data zgłoszenia: 30.10.1989 (51) IntCl5: G 01N 3/18 G01N

Bardziej szczegółowo

PL B1. Uszczelnienie nadbandażowe stopnia przepływowej maszyny wirnikowej, zwłaszcza z bandażem płaskim. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

PL B1. Uszczelnienie nadbandażowe stopnia przepływowej maszyny wirnikowej, zwłaszcza z bandażem płaskim. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212669 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381571 (51) Int.Cl. B23Q 17/12 (2006.01) F04D 29/66 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Mechanizm pedipulatora do ustawiania pozycji modułu napędowego, zwłaszcza robota mobilnego

PL B1. Mechanizm pedipulatora do ustawiania pozycji modułu napędowego, zwłaszcza robota mobilnego PL 223875 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223875 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 406656 (51) Int.Cl. F16H 1/36 (2006.01) F16H 3/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

System automatycznego odwzorowania kształtu obiektów przestrzennych 3DMADMAC

System automatycznego odwzorowania kształtu obiektów przestrzennych 3DMADMAC System automatycznego odwzorowania kształtu obiektów przestrzennych 3DMADMAC Robert Sitnik, Maciej Karaszewski, Wojciech Załuski, Paweł Bolewicki *OGX Optographx Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Wydział

Bardziej szczegółowo

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 167356 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 293293 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 24.01.1992 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G02B 23/12 G02B

Bardziej szczegółowo

PL B1. ŻBIKOWSKI JERZY, Zielona Góra, PL BUP 03/06. JERZY ŻBIKOWSKI, Zielona Góra, PL WUP 09/11 RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL B1. ŻBIKOWSKI JERZY, Zielona Góra, PL BUP 03/06. JERZY ŻBIKOWSKI, Zielona Góra, PL WUP 09/11 RZECZPOSPOLITA POLSKA RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209441 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 369279 (51) Int.Cl. F16H 7/06 (2006.01) F16G 13/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 19/15

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 19/15 PL 225827 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225827 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 407381 (51) Int.Cl. G01L 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 13/17

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 13/17 PL 227667 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227667 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 415329 (51) Int.Cl. B29C 64/227 (2017.01) B29C 67/00 (2017.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. HIKISZ BARTOSZ, Łódź, PL BUP 05/07. BARTOSZ HIKISZ, Łódź, PL WUP 01/16. rzecz. pat.

PL B1. HIKISZ BARTOSZ, Łódź, PL BUP 05/07. BARTOSZ HIKISZ, Łódź, PL WUP 01/16. rzecz. pat. PL 220905 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220905 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376878 (51) Int.Cl. F16H 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. KRUCZEK MAREK, Dębica, PL BUP 21/07. WIESŁAW GALEND, Tarnobrzeg, PL GUSTAW JADCZYK, Koniecpol, PL MAREK KRUCZEK, Dębica, PL

PL B1. KRUCZEK MAREK, Dębica, PL BUP 21/07. WIESŁAW GALEND, Tarnobrzeg, PL GUSTAW JADCZYK, Koniecpol, PL MAREK KRUCZEK, Dębica, PL PL 212309 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212309 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379363 (51) Int.Cl. B62M 7/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL PL 219313 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219313 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391153 (51) Int.Cl. H04B 7/00 (2006.01) H04B 7/005 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. LIW-LEWANT Fabryka Wyrobów z Tworzyw Sztucznych Sp. z o.o. Zakład Pracy Chronionej,Bielawa,PL BUP 06/

PL B1. LIW-LEWANT Fabryka Wyrobów z Tworzyw Sztucznych Sp. z o.o. Zakład Pracy Chronionej,Bielawa,PL BUP 06/ RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 204702 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 377033 (51) Int.Cl. C23C 14/00 (2006.01) C25D 17/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)182858

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)182858 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)182858 (21) Numer zgłoszenia. 319132 Urząd Patentowy zgłoszenia. 2 0.0 3.1 9 9 7 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl7 B62K 5/02 (54) Rower trójkołowy

Bardziej szczegółowo

Sposób sterowania ruchem głowic laserowego urządzenia do cięcia i znakowania/grawerowania materiałów oraz urządzenie do stosowania tego sposobu

Sposób sterowania ruchem głowic laserowego urządzenia do cięcia i znakowania/grawerowania materiałów oraz urządzenie do stosowania tego sposobu PL 217478 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217478 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 397035 (22) Data zgłoszenia: 18.11.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie do skanowania ran zwłaszcza oparzeniowych i trudnogojących się oraz sposób skanowania ran

PL B1. Urządzenie do skanowania ran zwłaszcza oparzeniowych i trudnogojących się oraz sposób skanowania ran PL 222244 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222244 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 397895 (22) Data zgłoszenia: 25.01.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Głowica pomiarowa do badania charakterystyk tribologicznych i szczelności ślizgowych uszczelnień czołowych

PL B1. Głowica pomiarowa do badania charakterystyk tribologicznych i szczelności ślizgowych uszczelnień czołowych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)196330 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 343384 (51) Int.Cl. G01N 3/56 (2006.01) G01M 3/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 160314 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 280734 (22) Data zgłoszenia: 21.07.1989 (51) IntCl5: F16H 3/06 F16H

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie do pomiaru poziomowości i prostoliniowości elementów wydłużonych, zwłaszcza szyn suwnicowych

PL B1. Urządzenie do pomiaru poziomowości i prostoliniowości elementów wydłużonych, zwłaszcza szyn suwnicowych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205362 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 374034 (22) Data zgłoszenia: 31.03.2005 (51) Int.Cl. G01C 15/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA RZESZOWSKA IM. IGNACEGO ŁUKASIEWICZA, Rzeszów, PL BUP 11/16

PL B1. POLITECHNIKA RZESZOWSKA IM. IGNACEGO ŁUKASIEWICZA, Rzeszów, PL BUP 11/16 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228639 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 410211 (22) Data zgłoszenia: 21.11.2014 (51) Int.Cl. F16H 57/12 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL 209211 B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL 24.07.2006 BUP 15/06

PL 209211 B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL 24.07.2006 BUP 15/06 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209211 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 372150 (51) Int.Cl. G01N 27/87 (2006.01) B66B 7/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174162 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 303848 (51) IntCl6: F16H 1/14 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 14.06.1994 (54)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178576 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 310479 (22) Data zgłoszenia: 13.09.1995 (51) IntCl6: F16H 7/04 F16H

Bardziej szczegółowo

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści PL 219112 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219112 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 392659 (22) Data zgłoszenia: 15.10.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 07/07. ROMAN WASIELEWSKI, Tczew, PL KAZIMIERZ ORŁOWSKI, Tczew, PL

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 07/07. ROMAN WASIELEWSKI, Tczew, PL KAZIMIERZ ORŁOWSKI, Tczew, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209801 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 377132 (51) Int.Cl. B23D 47/12 (2006.01) B27B 5/32 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CIMAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bydgoszcz, PL BUP 04/16

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CIMAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bydgoszcz, PL BUP 04/16 PL 223987 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223987 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 409120 (22) Data zgłoszenia: 06.08.2014 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL BUP 03/08. BOGDAN BRANOWSKI, Poznań, PL JAROSŁAW FEDORCZUK, Poznań, PL

PL B1. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL BUP 03/08. BOGDAN BRANOWSKI, Poznań, PL JAROSŁAW FEDORCZUK, Poznań, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211706 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 380288 (51) Int.Cl. B62M 11/14 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 21.07.2006

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA ŚLĄSKA, Gliwice, PL

PL B1. POLITECHNIKA ŚLĄSKA, Gliwice, PL PL 214302 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214302 (21) Numer zgłoszenia: 379747 (22) Data zgłoszenia: 22.05.2006 (13) B1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174823 (13) B1

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174823 (13) B1 RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174823 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 306627 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 29.12.1994 Rzeczypospolitej Polskiej (51)IntCl6: B23B 39/02 B23B

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób pobierania próbek materiałów sypkich i urządzenie do pobierania próbek materiałów sypkich

PL B1. Sposób pobierania próbek materiałów sypkich i urządzenie do pobierania próbek materiałów sypkich RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208560 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382027 (51) Int.Cl. G01N 1/04 (2006.01) B65G 69/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY. (54)Uniwersalny moduł obrotowo-podziałowy

(12) OPIS PATENTOWY. (54)Uniwersalny moduł obrotowo-podziałowy RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 160463 (13) B2 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 283098 (22) Data zgłoszenia: 28.12.1989 B23Q (51)IntCl5: 16/06 (54)Uniwersalny

Bardziej szczegółowo

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/09

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/09 PL 214449 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214449 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384436 (22) Data zgłoszenia: 11.02.2008 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL 175380 B1. Fig. 3 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175380. ( 2 1) Numer zgłoszenia: 307624

(13) B1 PL 175380 B1. Fig. 3 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175380. ( 2 1) Numer zgłoszenia: 307624 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175380 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej ( 2 1) Numer zgłoszenia: 307624 (22) Data zgłoszenia: 10.03.1995 (51) IntCl6: F16K 3/08 F16K

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 10/05

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 10/05 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207396 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 363254 (51) Int.Cl. F16C 11/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 03.11.2003

Bardziej szczegółowo

PL 210507 B1. PAC ALEKSANDER, Lublewo, PL. 02.09.2003, XI Międzynarodowy Salon Przemysłu Obronnego Kielce

PL 210507 B1. PAC ALEKSANDER, Lublewo, PL. 02.09.2003, XI Międzynarodowy Salon Przemysłu Obronnego Kielce RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210507 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 365767 (51) Int.Cl. H01Q 3/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 02.03.2004

Bardziej szczegółowo

PL B1. ES-SYSTEM SPÓŁKA AKCYJNA, Kraków, PL BUP 17/08. BOGUSŁAW PILSZCZEK, Kraków, PL ARTUR ZAWADZKI, Kraków, PL

PL B1. ES-SYSTEM SPÓŁKA AKCYJNA, Kraków, PL BUP 17/08. BOGUSŁAW PILSZCZEK, Kraków, PL ARTUR ZAWADZKI, Kraków, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213579 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381717 (51) Int.Cl. H05B 37/02 (2006.01) F21V 21/15 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i urządzenie do porównania i pomiaru parametrów figur płaskich, zwłaszcza arkuszy blachy

PL B1. Sposób i urządzenie do porównania i pomiaru parametrów figur płaskich, zwłaszcza arkuszy blachy PL 227161 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227161 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400468 (22) Data zgłoszenia: 22.08.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLIGRAFIA JANUSZ NOWAK SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Poznań, PL BUP 11/13. MIKOŁAJ NOWAK, Lusowo, PL

PL B1. POLIGRAFIA JANUSZ NOWAK SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Poznań, PL BUP 11/13. MIKOŁAJ NOWAK, Lusowo, PL PL 217632 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217632 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 397007 (51) Int.Cl. B42C 1/12 (2006.01) B42C 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 13/12. WOJCIECH SADKOWSKI, Kielce, PL KRZYSZTOF LUDWINEK, Kostomłoty, PL

PL B1. POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA, Kielce, PL BUP 13/12. WOJCIECH SADKOWSKI, Kielce, PL KRZYSZTOF LUDWINEK, Kostomłoty, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212854 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 397384 (51) Int.Cl. F02G 1/043 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 13.12.2011

Bardziej szczegółowo

PL B1. MAXSTAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 05/14

PL B1. MAXSTAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 05/14 PL 222028 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222028 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400506 (22) Data zgłoszenia: 24.08.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne

Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne dr inż. Ireneusz Wróbel ATH Bielsko-Biała, Evatronix S.A. iwrobel@ath.bielsko.pl mgr inż. Paweł Harężlak mgr inż. Michał Bogusz Evatronix S.A. Plan wykładu

Bardziej szczegółowo

... T"" ...J CD CD. Frez palcowy walcowo-cz%wy. RESZKA GRZEGORZ JG SERVICE, Lublin, PL POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

... T ...J CD CD. Frez palcowy walcowo-cz%wy. RESZKA GRZEGORZ JG SERVICE, Lublin, PL POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217266 (13) 81 (21) Numer zgłoszenia 392522 (51) Int.CI 823851/04 (2006.01) 823C 5/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL 213839 B1. Manipulator równoległy trójramienny o zamkniętym łańcuchu kinematycznym typu Delta, o trzech stopniach swobody

PL 213839 B1. Manipulator równoległy trójramienny o zamkniętym łańcuchu kinematycznym typu Delta, o trzech stopniach swobody PL 213839 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213839 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394237 (51) Int.Cl. B25J 18/04 (2006.01) B25J 9/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. OSTROWSKI LESZEK, Gdańsk-Wrzeszcz, PL OSTROWSKI STANISŁAW, Gdańsk-Wrzeszcz, PL BUP 26/10

PL B1. OSTROWSKI LESZEK, Gdańsk-Wrzeszcz, PL OSTROWSKI STANISŁAW, Gdańsk-Wrzeszcz, PL BUP 26/10 PL 213042 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213042 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388240 (51) Int.Cl. F02D 15/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL 175488 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1. (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994

PL 175488 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1. (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175488 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 306167 (22) Data zgłoszenia: 08.12.1994 (51) IntCl6: G01K 13/00 G01C

Bardziej szczegółowo

OPIS PATENTOWY (19) PL

OPIS PATENTOWY (19) PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170172 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296634 (22) Data zgłoszenia: 17.11.1992 (51) IntCl6: A01C 17/00 A

Bardziej szczegółowo

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 206633 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 361507 (22) Data zgłoszenia: 30.07.2003 (51) Int.Cl. G09B 23/22 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL B1. (21) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(13) B1 PL B1. (21) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176519 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 306921 (22) Data zgłoszenia: 20.01.1995 ( 51) intcl6: B26D 1/143 (54)Urządzenie

Bardziej szczegółowo

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/18

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 230767 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 420034 (51) Int.Cl. B65G 7/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 29.12.2016

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 15/17

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 15/17 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227580 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 420303 (51) Int.Cl. B05D 3/06 (2006.01) B29C 35/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Mechanizm obrotu i blokowania platformy nadwozia wagonu kolejowego do transportu kombinowanego

PL B1. Mechanizm obrotu i blokowania platformy nadwozia wagonu kolejowego do transportu kombinowanego PL 219643 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219643 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 395135 (51) Int.Cl. B61D 3/18 (2006.01) B61D 47/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 01/12

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 01/12 PL 218470 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218470 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391629 (51) Int.Cl. G01M 3/28 (2006.01) F17D 5/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. SKRZETUSKI RAFAŁ, Niemodlin, PL SKRZETUSKI ZBIGNIEW, Niemodlin, PL SKRZETUSKI BARTOSZ, Niemodlin, PL

PL B1. SKRZETUSKI RAFAŁ, Niemodlin, PL SKRZETUSKI ZBIGNIEW, Niemodlin, PL SKRZETUSKI BARTOSZ, Niemodlin, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209287 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376523 (51) Int.Cl. E04H 17/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 05.08.2005

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13 PL 223804 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223804 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 397275 (51) Int.Cl. H02P 25/08 (2006.01) H02P 6/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL 201250 B1. Balcer Józef Zakład Wielobranżowy RETRO,Nakło n/notecią,pl 13.12.2004 BUP 25/04. Józef Balcer,Nakło n/notecią,pl 31.03.

PL 201250 B1. Balcer Józef Zakład Wielobranżowy RETRO,Nakło n/notecią,pl 13.12.2004 BUP 25/04. Józef Balcer,Nakło n/notecią,pl 31.03. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 201250 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360458 (51) Int.Cl. E04G 1/32 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 02.06.2003

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 13/ WUP 01/17

PL B BUP 13/ WUP 01/17 PL 224581 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224581 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 406525 (51) Int.Cl. B25J 11/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA, Białystok, PL BUP 10/10

PL B1. POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA, Białystok, PL BUP 10/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211609 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386356 (51) Int.Cl. B65G 7/00 (2006.01) B65G 7/08 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki k. Warszawy, PL BUP 20/10

PL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki k. Warszawy, PL BUP 20/10 PL 214845 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214845 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 387534 (51) Int.Cl. F16F 9/50 (2006.01) F16F 9/508 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 11/15. STANISŁAW PŁASKA, Lublin, PL RADOSŁAW CECHOWICZ, Lublin, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 11/15. STANISŁAW PŁASKA, Lublin, PL RADOSŁAW CECHOWICZ, Lublin, PL PL 225242 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225242 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 406019 (22) Data zgłoszenia: 12.11.2013 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do przetwarzania interwału czasu na słowo cyfrowe metodą kompensacji wagowej

PL B1. Układ do przetwarzania interwału czasu na słowo cyfrowe metodą kompensacji wagowej PL 227455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227455 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 413964 (22) Data zgłoszenia: 14.09.2015 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ tłumienia oscylacji filtra wejściowego w napędach z przekształtnikami impulsowymi lub falownikami napięcia

PL B1. Sposób i układ tłumienia oscylacji filtra wejściowego w napędach z przekształtnikami impulsowymi lub falownikami napięcia PL 215269 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215269 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385759 (51) Int.Cl. H02M 1/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu PL 218911 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218911 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394839 (51) Int.Cl. B21C 23/02 (2006.01) B21C 25/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo