Reflektometryczne pomiary reflektancji i tłumienności odbiciowej

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Reflektometryczne pomiary reflektancji i tłumienności odbiciowej"

Transkrypt

1 Reflektometryczne pomiary reflektancji i tłumienności odbiciowej Andrzej Tymecki 1 Reflektancja a tłumienność odbiciowa Reflektancja i tłumienność odbiciowa są dwoma różnymi parametrami, często błędnie używanymi zamiennie. Terminy te stosowane były przez długi czas w dosyć dowolny sposób nawet przez autorów dokumentów normatywnych i opracowań technicznych, mimo że reflektancja zawsze ma wartość ujemną zaś tłumienność odbiciowa ma zawsze wartość dodatnią. Optyczna tłumienność odbiciowa jest definiowana jako stosunek (wyrażany w decybelach) mocy sygnału powracającego z systemu lub łącza światłowodowego Ppowr do mocy sygnału wprowadzanego do tego systemu lub łącza Pwprow [1]. Optyczna tłumienność odbiciowa ORL (ang. Optical Return Loss) lub w sytuacjach gdy nie wprowadza to niejednoznaczności po prostu RL (ang. Return Loss) jest opisywana następującą zależnością: Ppowr ORL 10log [db] (1) 10 Pwprow Jak widać z zależności (1), optyczna tłumienność odbiciowa przyjmuje zawsze wartość dodatnią, gdyż stosunek Ppowr/Pwprow jest zawsze mniejszy od jedności, a więc wartość logarytmu z tego stosunku jest ujemna. Ponieważ jednak we wzorze (1) przed logarytmem jest minus, to w konsekwencji otrzymujemy dodatnią wartość tłumienności odbiciowej. Reflektancja jest definiowana jako stosunek (wyrażony w decybelach) mocy sygnału odbitego w danym punkcie Podb do mocy sygnału padającego na ten punkt odbicia Ppad [1]. Reflektancja refl jest opisywana następującą zależnością: Podb refl 10log [db] (2) 10 Ppad Jak widać z zależności (2), reflektancja zawsze przyjmuje wartości ujemne, gdyż stosunek mocy Podb/Ppad jest zawsze mniejszy od jedności, a więc wartość logarytmu z tego stosunku jest ujemna. Zgodnie z wytycznymi IEC reflektancja jest terminem, którego należy używać w odniesieniu do zdarzeń punktowych (np. odbić od elementów takich jak złącza, izolatory, czy spoiny), natomiast tłumienność odbiciowa jest terminem, który powinien być stosowany w odniesieniu do całych torów transmisyjnych lub ich części. Przykładowy przebieg reflektometryczny z zaznaczonymi zdarzeniami odbiciowymi zaprezentowany na Rysunku 1. 1

2 Odległość od punktu pomiarowego Rysunek 1 - Przykładowy przebieg reflektometryczny (A punkt pomiarowy) [2] Przebieg reflektometryczny przedstawiony na Rysunku 1 został uzyskany dla łącza światłowodowego, w którym występują m.in. złącza rozłączalne i spoiny zgrzewane. Jeżeli dla omawianego łącza reflektancję mierzy się w punkcie A, to będzie to reflektancja tylko dla złącza światłowodowego znajdującego się w tym punkcie. Jeśli natomiast mierzy się tłumienność odbiciową (za pomocą miernika tłumienności odbiciowej lub pozwalającego ją mierzyć reflektometru), to otrzyma się jej wartość dla całego toru. W pomiarze takim zostanie uwzględnione rozproszenie wsteczne światłowodu oraz odbicia od wszystkich nieciągłości współczynnika załamania. Otrzymane w tych pomiarach wartości reflektancji i tłumienności odbiciowej będą się różnić między sobą nie tylko znakiem, ale też dosyć znacznie wartością bezwzględną, gdyż pomiar tłumienności odbiciowej, w odróżnieniu od pomiaru reflektancji, uwzględnia zarówno złącze A, jak również pozostałe złącza i spoiny występujące w badanym torze światłowodowym, a także rozproszenie wsteczne samego toru światłowodowego. Ze względu na to, że złącza (w szczególności niskiej jakości) powodują odbicia, które mogą zakłócić pracę systemu telekomunikacyjnego koniecznością jest sprawdzanie reflektancji złączy i innych elementów występujących w liniach światłowodowych. Podstawowym urządzeniem pomiarowym służącym do określania tego parametru jest reflektometr światłowodowy. 2 Reflektometryczne pomiary reflektancji i tłumienności odbiciowej Zestandaryzowane metody pomiaru reflektancji i tłumienności odbiciowej zostały opisane w normie IEC Basic test and measurement procedures Part 3-6: Examinations and measurements Return loss 1. W normie tej zostały opisane cztery następujące metody pomiaru reflektancji i tłumienności odbiciowej: metoda pomiaru z elementem rozgałęziającym OCWR (ang. Optical Continuous Wave Reflectometry), 1 Norma ta ma odpowiednik europejski EN oraz krajowy PN

3 metoda pomiaru przy użyciu reflektometru optycznego OTDR (ang. Optical Time Domain Reflectometer), metoda pomiaru przy użyciu reflektometru o małej koherencji OLCR (ang. Optical Low Coherence Reflectometry), metoda pomiaru przy użyciu reflektometru w dziedzinie częstotliwości OFDR (ang. Optical Frequency Domain Reflectometer). Ze względu na różne charakterystyki tych metod pomiarowych wybór metody referencyjnej będzie różny w zależności od typu badanego obiektu. Dla elementów o tłumienności odbiciowej mniejszej od 55 db metodą referencyjną będzie metoda pomiaru z elementem rozgałęziającym OCWR. Dla elementów o tłumienności odbiciowej większej niż 55 db metodą referencyjną będzie metoda pomiaru przy użyciu reflektometru optycznego OTDR przy z impulsem pomiarowym krótszym niż 100 ns. W przypadkach w których konieczne będzie rozdzielenie przestrzenne wielu zdarzeń odbiciowych oddalonych od siebie o mniej niż 5 m metodą referencyjną powinna być metoda pomiaru przy użyciu reflektometru o małej koherencji OLCR. Zgodnie z normą IEC , pomiary reflektancji przy użyciu reflektometru optycznego OTDR są przeprowadzane w układzie zaprezentowanym na Rysunku 2. Rysunek 2 - Schemat blokowy układu do pomiaru reflektancji przy użyciu reflektometru optycznego OTDR [3] Objaśnienie do rysunku: TJ (ang. Temporary Joint) DUT (ang. Device Under Test) L 1 L 2, L 3 połączenie tymczasowe, badany element, światłowód oddzielający reflektometr od wpływu mierzonego zjawiska, odcinki światłowodów zapewniające położenie odbicia badanego elementu na przebiegu rozproszenia wstecznego, a, b umowne punkty na światłowodzie, pozwalające określić minimalne długości światłowodów L 2 i L 3. Widoczny na Rysunku 2 odcinek światłowodu L1 musi być używany w pomiarach wykonywanych za pomocą większości reflektometrów, w celu odseparowania reflektometru od mierzonego zdarzenia. Odcinki L2 i L3 światłowodów mają zapewnić wymaganą dla reflektometru przestrzeń potrzebną do umiejscowienia impulsu odbicia od badanego elementu na niezakłóconym przebiegu rozproszenia wstecznego. Należy zaznaczyć, że zgodnie z zaleceniem IEC światłowody między punktami a i b powinny mieć taki sam współczynnik rozproszenia wstecznego. W układzie pomiarowym z Rysunku 2 otrzymuje się przebieg reflektometryczny zaprezentowany na Rysunku 3. 3

4 Rysunek 3 - Przebieg reflektometryczny otrzymany w układzie pomiarowym, którego schemat przedstawiono na Rysunku 2 [3] Zgodnie z opisem metody pomiaru reflektancji za pomocą reflektometru OTDR, pomiary te należy przeprowadzić według następującej procedury: i. W reflektometrze optycznym ustawić impuls o odpowiedniej szerokości. Wybór szerokości impulsu zależy zarówno od odległości badanego elementu od punktów a i b, tj. od wymaganej rozdzielczości przestrzennej reflektometru, jak również od zakresu mierzonych reflektancji. W Tablicy 1 podano teoretyczne rozdzielczości przestrzenne i minimalne wartości reflektancji dla wybranych szerokości impulsów reflektometru. Należy zaznaczyć, że rzeczywista rozdzielczość przestrzenna reflektometru jest większa niż teoretyczna, co wynika zarówno z obecności potencjalnych zdarzeń przed mierzonym zdarzeniem, jak również z parametrów toru odbiornika reflektometru, w tym z pasma częstotliwości pomiarowej odbiornika i z czasu regeneracji detektora tego odbiornika. Tablica 1 - Teoretyczna rozdzielczość przestrzenna oraz minimalna mierzalna reflektancja dla wybranych impulsów reflektometru OTDR [3] Szerokość impulsu reflektometru [ns] Teoretyczna rozdzielczość przestrzenna reflektometru [m] Minimalna mierzalna reflektancja [db] dla λ = 1310 nm dla λ = 1550 nm 100 > > > 0, ii. Na obrazie reflektometrycznym należy zaznaczyć wysokość impulsu (w db), będącego odzwierciedleniem zdarzenia powstałego na skutek odbicia od badanego elementu. W większości stosowanych powszechnie reflektometrów wysokość impulsu może być wyznaczona w sposób automatyczny, przy użyciu dwóch znaczników. W celu uniknięcia błędów pomiaru związanych z lokalizacją znaczników zalecane jest rozciągnięcie mierzonego impulsu odbicia na ekranie reflektometru w sposób, jak pokazano to na Rysunku 4. 4

5 Rysunek 4 - Przykład prawidłowej lokalizacji znaczników pomiarowych iii. Obliczyć reflektancję refl odpowiadającą impulsowi odbicia na podstawie następującej zależności: 0,2 refl 10 log(10 1) (3) gdzie: wyznaczona uprzednio wysokość impulsu odzwierciedlającego odbicie, współczynnik rozproszenia wstecznego dla danej szerokości impulsu oraz pomiarowej długości fali wyrażony w db. Należy zaznaczyć, że większość wykorzystywanych w telekomunikacji reflektometrów oblicza reflektancję automatycznie, korzystając z zapisanej w pamięci przyrządu zależności (3), oraz z różnicy poziomów mocy odpowiadających znacznikom na reflektogramie. Bez względu na to, czy reflektancja przy pomiarze reflektometrycznym jest obliczana ręcznie, czy automatycznie, w celu zapewnienia wiarygodności wyników należy zwrócić uwagę na wiele czynników wpływających na te pomiary. 3 Czynniki wpływające na wyniki pomiarów reflektancji przeprowadzanych przy użyciu reflektometru optycznego OTDR W niniejszym rozdziale zaprezentowane zostaną czynniki, które wpływają na potencjalne błędy przy reflektometrycznych pomiarach reflektancji. Na niektóre z tych czynników (np. na charakterystykę toru analogowego reflektometru) operator nie ma żadnego wpływu, ale są również i takie czynniki jak np. lokalizacja znaczników, na które wpływ osoby przeprowadzającej pomiary jest bardzo duży. Znajomość czynników wpływających na pomiar pozwala zminimalizować błędy pomiarowe. 3.1 Szerokość impulsu pomiarowego Podstawowy problem związany z reflektometrycznymi pomiarami reflektancji wynika z faktu, że reflektometr optyczny OTDR nie mierzy bezpośrednio mocy światła w danym punkcie pomiarowym, a wysokość tego odbicia światła na ekranie reflektometru nie reprezentuje reflektan- 5

6 cji w sposób bezpośredni, lecz jest raczej względnym wskazaniem wielkości tego odbicia, zależnym od wybranej szerokości impulsu pomiarowego. Do obliczenia reflektancji tego zdarzenia (odbicia od jakiegoś elementu np. złącza czy spoiny) reflektometr wykorzystuje zależność (3). Na Rysunku 5 zaprezentowano poziomy mocy impulsu odbitego (w skrócie: mocy odbitej) oraz rozproszenia wstecznego w odniesieniu do mocy impulsu padającego (w skrócie: mocy padającej), prowadzonego w światłowodzie. Na rysunku tym widać, że moc odbita zależy jedynie od współczynnika odbicia, a nie zależy od szerokości impulsu pomiarowego. Rysunek 5 - Moc odbita i rozproszona wstecznie w odniesieniu do mocy padającej, prowadzonej w światłowodzie [2] Poziom mocy wstecznie rozpraszanej jest w przybliżeniu proporcjonalny do szerokości impulsu padającego. Ta proporcjonalna zależność jest prawdziwa jedynie dla krótkich impulsów, dla których tłumienność światłowodu na długości przestrzennej, odpowiadającej czasowi trwania impulsu, można zaniedbać. Moc wstecznie rozproszona jest zależna również od długości fali padającej, a to powoduje, że pomiary reflektancji za pomocą reflektometru dają różne wyniki dla różnych długości fali. Jednakże, ze względu na stosowanie w reflektometrach światłowodowych skończonej ilości długości fali (w obecnie dostępnych komercyjnie na rynku przyrządach zazwyczaj nie więcej niż cztery) z problemem tym radzi sobie oprogramowanie przyrządu. Na Rysunku 5 dwustronną strzałką zaznaczono różnicę między mocą odbitą, odpowiadającą reflektancji o wartości 35 db a rozproszoną wstecznie mocą, mierzoną dla szerokości impulsu 100 ns i długości fali 1310 nm. W przypadku szerokich impulsów (rzędu 10 s) poziom mocy rozproszonej wstecznie może osiągnąć (a nawet przewyższyć) poziom mocy przeciętnych, powszechnie spotykanych w telekomunikacji odbić Fresnela (np. o poziomie -50 db) powodując, że odbicia te nie będą przez reflektometr wydzielone z przebiegu rozproszenia wstecznego. Ponieważ moc sygnału odbitego jest proporcjonalna do mocy sygnału padającego, zaś moc sygnału wstecznie rozproszonego jest proporcjonalna do energii sygnału padającego, staje się oczy- 6

7 wiste, że bardzo słabe odbicia lepiej mierzyć wykorzystując krótkie impulsy pomiarowe. Potwierdza to wykres z Rysunku 5, na którym strzałka wyznaczająca mierzoną reflektancję staje się większa dla krótszego impulsu. Słabe odbicie (np. -55 db) spowoduje, że dla np. szerokości impulsu 0,3 s strzałka będzie miała wysokość 0 (nie będzie jej widać), a więc nie da się zmierzyć reflektancji. Wykorzystując do pomiarów reflektancji krótkie impulsy pomiarowe należy jednak pamiętać o podstawowych zasadach związanych z takimi pomiarami. Przy wykorzystywaniu krótszych impulsów pomiarowych poziom rozproszenia wstecznego w światłowodzie będzie niższy niż przy wykorzystywaniu impulsów dłuższych więc w przypadku odległych zdarzeń, w celu uzyskania czytelności przebiegu reflektometrycznego, może być konieczne długie uśrednianie tego przebiegu lub nawet wydłużenie impulsu pomiarowego. 3.2 Pasmo odbiornika OTDR Z doborem szerokości impulsu pomiarowego jest ściśle związane pasmo odbiornika reflektometru. Pasmo odbiornika wynika z konstrukcji przyrządu i użytkownik nie ma wpływu na jego wartość. Jednakże znajomość zachowania się przyrządu przy różnych szerokościach impulsu pomiarowego pozwala użytkownikowi zapobiegać potencjalnym błędom związanym z wpływem skończonej szerokości pasma odbiornika reflektometru na wyniki pomiarów reflektometrycznych. Podstawowy problem pomiarowy wynika z faktu, że skończony czas odpowiedzi układu detekcji w reflektometrze powoduje zniekształcenie krótkich impulsów pomiarowych, które stanowią odpowiedź na odbicia występujące w torze pomiarowym. Wpływ szerokości pasma odbiornika reflektometru na wysokość odbitego impulsu zaprezentowano na Rysunku 6. Rysunek 6 - Wpływ szerokości pasma odbiornika reflektometru na wysokość mierzonego odbicia ( = 30 ns, refl = -35 db) [2] Jak widać na Rysunku 6, przy skończonym, zawężającym się paśmie odbiornika reflektometru optycznego ograniczony czas narastania impulsu pomiarowego nie daje impulsowi odbicia możliwości osiągnięcia swojej wartości szczytowej. W związku z coraz częstszym wykorzystywaniem reflektometrów optycznych do pomiarów reflektancji oraz koniecznością zapewnienia wiarygodności wyników tych pomiarów dla wszyst- 7

8 kich warunków pomiarowych (w tym dla wszystkich szerokości impulsów pomiarowych), producenci urządzeń pomiarowych prowadzili przez lata szereg prac mających na celu skorygowanie efektów ograniczonego pasma odbiornika reflektometru. W wyniku tych prac otrzymano skorygowane wersje równania (3) zapewniające automatyczną kompensację ubocznych efektów ograniczonej szerokości pasma odbiornika. Z szerokością pasma odbiornika jest również związany inny parametr reflektometru, a mianowicie tłumiennościowa strefa martwa. Parametr ten nie jest wprawdzie bezpośrednio związany z pomiarem reflektancji pojedynczego zdarzenia, lecz należy o nim niewątpliwie pamiętać przy pomiarach zdarzeń rozmieszczonych blisko siebie (np. odbić od dwu położonych blisko siebie złączy). Dobrym przykładem jest tu pomiar łącza telekomunikacyjnego, w którym znajduje się patchcord o długości kilku metrów. Reflektancja zmierzona dla przypadku takich dwóch lub więcej zdarzeń (odbić), jeżeli elementy odbijające nie zostaną rozdzielone przestrzennie przez reflektometr, będzie efektywną sumą reflektancji wszystkich tych odbić. W Tablicy 1 zostały przedstawione teoretyczne rozdzielczości przestrzenne między dwoma zdarzeniami, jakie można otrzymać dla danych szerokości impulsu pomiarowego reflektometru optycznego. Rozdzielczość tę można byłoby uzyskać przy założeniu nieskończenie dużej szerokości pasma odbiornika OTDR. Ponieważ szerokość pasma odbiornika jest skończona (wartość jej ma zapewnić kompromis między parametrami dynamiki i odpowiedzi układu odbiornika na krótkie impulsy pomiarowe), na obrazie reflektometrycznym w punktach odbić, zamiast prostokątnych impulsów o długości odpowiadającej czasowi impulsu pomiarowego, otrzymuje się impulsy z charakterystycznymi ogonami. Na Rysunku 7 zaprezentowano minimalne strefy martwe tłumiennościowe osiągalne podczas pomiarów reflektometrycznych dla trzech różnych szerokości impulsów pomiarowych w funkcji szerokości pasma odbiornika reflektometru [2]. Rysunek 7 - Minimalne strefy martwe tłumiennościowe w funkcji szerokości pasma odbiornika [2] Wykres przedstawiony na Rysunku 7 został wyznaczony dla zdarzenia o reflektancji -35 db, w typowym światłowodzie jednomodowym, dla długości fali 1310 nm. Jako model do wyznaczenia charakterystyk przedstawionych na Rysunku 7 został wykorzystany idealny odbiornik optyczny, z dołączonym przed nim dolnoprzepustowym filtrem pierwszego rzędu. 8

9 Typowe reflektometry światłowodowe mają odbiorniki o szerokości pasma częstotliwości 1 10 MHz. Jak widać na Rysunku 7, krzywe wykreślone w tym paśmie częstotliwości nakładają się na siebie w zakresie poniżej 5 MHz. Oznacza to ograniczenie strefy martwej tłumiennościowej przez pasmo odbiornika, a nie przez szerokość impulsu pomiarowego. Przykładowo, wartości strefy martwej dla impulsów 10 ns i 30 ns, dla szerokości pasma odbiornika wynoszącej 10 MHz, będą do siebie bardzo zbliżone. O zależnościach wyników pomiarów reflektometrycznych od strefy martwej tłumiennościowej należy pamiętać przede wszystkim przy pomiarze zdarzeń występujących blisko siebie. Czasami (w przypadku pomiaru linii telekomunikacyjnej, w której występują patchcordy o długości kilku metrów lub w przypadku weryfikacji produkcyjnej reflektancji półzłączy w takich patchcordach) nie ma możliwości dobrania takich długości odcinków L1, L2 i L3 (Rysunek 2), aby można było zapewnić wydzielenie poszczególnych, występujących w nich zdarzeń. W takim przypadku aby zapobiec sumowaniu odbić przez reflektometr, należy między dwa znajdujące się blisko siebie elementy powodujące badane zdarzenia wprowadzić zakończenie bezodbiciowe, przez zgięcie światłowodu. Światłowód powinien być zagięty w taki sposób, aby nie spowodować dodatkowego odbicia, a jednocześnie spowodować wycięcie całego przebiegu reflektometrycznego znajdującego się za tym zdarzeniem (aby nie mierzyć zdarzeń poza zagiętym światłowodem). Na Rysunku 8 zaprezentowano pomiar reflektancji złącza w przypadku, gdy między dwoma odcinkami światłowodu znajdował się patchcord o długości 5 m. Na Rysunku 8a odbicia od obydwu złączy tworzonych przez patchcord zostały zsumowane przez reflektometr. Na Rysunku 8b za pierwszym złączem wprowadzono zakończenie bezodbiciowe (przez zgięcie światłowodu). Została zmierzona reflektancja tylko jednego złącza, a pozostała część przebiegu (z drugim złączem za zgiętym światłowodem) została wycięta. a) b) Rysunek 8 - Pomiar reflektancji w przypadku odbić sygnału występujących blisko siebie w światłowodzie; a) sumowanie odbić, b) rozdzielenie odbić przez zagięcie światłowodu między złączami Jak widać na reflektogramach z Rysunku 8 różnica zmierzonej w obydwu pomiarach reflektancji wynosiła 6 db, co stanowi bardzo duży błąd pomiarowy, który może być przyczyną błędnej oceny parametrów elementów sieci. 9

10 3.3 Wysokość impulsu odbicia Źródłem błędów przy pomiarach reflektancji jest również ocena na ekranie reflektometru wysokości impulsu, odpowiadającego mierzonemu zdarzeniu odbiciowemu. Oczywiste jest, że dokładność pomiaru ma szczególne znaczenie w przypadku impulsów o bardzo małych wysokościach. Przykładowo, różnica w wysokościach impulsów między = 0,5 db a = 1,0 db daje różnicę w zmierzonej reflektancji równą 3 db. Dokładność pomiaru reflektancji pogarsza się jeszcze bardziej wtedy, gdy tłumienność badanego elementu jest duża a wysokość impulsu odbicia jest w tym samym czasie mała. W przypadku pomiarów reflektometrycznych wysokość jest wyznaczana automatycznie przez przyrząd na podstawie położenia dwóch znaczników. Ponieważ do pomiaru reflektancji bardzo słabych odbić są zazwyczaj wykorzystywane krótkie impulsy pomiarowe, szczególnie w przypadku zdarzeń oddalonych od punktu pomiarowego, należy przy wykonywaniu tych pomiarów pamiętać o dobrym uśrednieniu przebiegu reflektometrycznego, gdyż jedynie wtedy można prawidłowo zaznaczyć na ekranie przyrządu punkty pomiarowe. Na Rysunku 9 zaprezentowano przykład pomiarów reflektancji dla przebiegu reflektometrycznego a) nie uśrednionego i b) uśrednionego. Rysunek 9 - Wpływ uśredniania przebiegu reflektometrycznego na wynik pomiaru reflektancji Różnica zmierzonej reflektancji na reflektogramach a) i b) z Rysunku 9 wynosi prawie 2 db. W sytuacji zaprezentowanej na Rysunku 9a operator nie dokonałby pomiaru reflektancji bez uśrednienia przebiegu. Jednakże w przypadku niewystarczającego rozciągnięcia reflektogramu w osi x, pojawia się niebezpieczeństwo niezauważenia zaszumienia przebiegu rozproszenia wstecznego, co może doprowadzić do błędów pomiarowych. 3.4 Nasycenie detektora odbiornika reflektometru Aby w pełni nakreślić problemy związane z doborem szerokości impulsu pomiarowego reflektometru optycznego należy również wspomnieć o możliwości nasycenia detektora przy silnych odbiciach od elementów znajdujących się w mierzonym torze światłowodowym. W przypadku takich odbić na ekranie reflektometru będzie widoczne charakterystyczne obcięcie szczytu impulsu odbicia. Pomiar reflektancji przy takich odbiciach daje błędne wyniki. W przypadku nasycenia detektora obcięcie szczytu odbitego impulsu można wyeliminować przez zmianę tłumienności 10

11 wbudowanego w reflektometr tłumika wewnętrznego (przez zmianę jego nastawy), a gdy nie ma możliwości takiej zmiany, to przez zmianę szerokości impulsu pomiarowego na mniejszą. Innym rozwiązaniem zapobiegającym obcięciu szczytu odbitego impulsu odbicia, aczkolwiek nie zawsze efektywnym w warunkach polowych, jest zastosowanie dodatkowego tłumika zewnętrznego, umieszczonego za wyjściem reflektometru. Wyniki pomiarów reflektancji złącza zaprezentowano na Rysunku 10 (10a w przypadku nasycenia detektora, 10b w przypadku prawidłowego zobrazowania odbicia). W prezentowanym tu przypadku, do otrzymania prawidłowego wyniku pomiaru wystarczyła zmiana nastawy tłumika wewnętrznego reflektometru zwiększająca jego tłumienność o 1,25 db. Podobnie jak w przypadku uśredniania, również w tym przypadku, oprócz zmiany tłumienności należy rozciągnąć przebieg reflektometryczny (w osi x i y), co w pełni pozwoli ocenić poprawność kształtu impulsu i wyeliminować błędy wynikające z nasycenia detektora. a) b) Rysunek 10 - Pomiar reflektancji za pomocą reflektometru OTDR, w przypadku a) nasycenia detektora, b) zwiększenia nastawy tłumika wewnętrznego reflektometru 3.5 Współczynnik rozproszenia wstecznego Patrząc na zależność (3) zauważyć można, że dotychczas nie został omówiony składnik związany ze współczynnikiem rozproszenia wstecznego. Istotnie jest to jeden z ważniejszych parametrów od których zależą wyniki pomiarów reflektancji. Jeżeli do pamięci reflektometru zostanie wprowadzona wartość różniąca się od rzeczywistej wartości o, to wtedy wynik pomiaru reflektancji będzie również obarczony błędem refl równym. Przykład pomiarów reflektancji dla prawidłowo i błędnie wprowadzonej wartości zaprezentowano na Rysunku 11. Współczynnik rozproszenia wstecznego dla pomiaru z Rysunku 11a) miał wartość -62,4 db, natomiast dla pomiaru z Rysunku 11b) miał wartość -60,4 db. 11

12 Rysunek 11 - Pomiar reflektancji dla wartości wprowadzonej a) prawidłowo, b) błędnie Jak widać z Rysunku 11, błąd pomiaru reflektancji (wynoszący 2 db) jest równy różnicy między wprowadzanymi wartościami współczynnika. Należy zwrócić uwagę na to, że obraz reflektometryczny na Rysunkach 11a) i 11b) wygląda tak samo, a różnica w zmierzonej reflektancji wynika ze wspomnianej już pośredniej metody wyznaczania reflektancji przez OTDR. Aby uniknąć takich błędów należy znać współczynnik rozproszenia wstecznego badanego włókna światłowodowego (włókna w którym występuje mierzone zdarzenie). Należy więc przed pomiarem wprowadzić odpowiednią wartość na podstawie danych producenta badanego włókna światłowodowego. Niestety dane takie nie są powszechnie dostarczane przez producentów i uzyskanie ich jest zazwyczaj znaczącym problemem. Możliwe jest jednak wyznaczenie tego parametru samemu, a narzędzi do tego dostarcza norma IEC Jedna z metod wyznaczania współczynnika rozproszenia wstecznego (technika A wg IEC ) polega na pomiarze wysokości impulsu odbicia od elementu o znanej, dobrze określonej reflektancji i przekształceniu równania (3) do następującej postaci: 0,2 refl 10 log(10 1) (4) W ten sposób, po zmierzeniu wysokość zdarzenia na ekranie reflektometru i podstawieniu tej wartości oraz znanej już wartości reflektancji mierzonego odbicia refl do równania (4), otrzyma się współczynnik rozproszenia wstecznego. Należy jednak pamiętać, że wyznaczona w ten sposób wartość współczynnika rozproszenia wstecznego zawiera w sobie rozproszenie Rayleigha, szerokość impulsu pomiarowego i pomiarową długość fali. Wprawdzie przy zmianie parametrów pomiarowych reflektometru większość z nich dokonuje automatycznego dopasowania wartości, jednak należy zachować dużą czujność, szczególnie w przypadku starszych przyrządów, gdyż nie wszystkie one wprowadzają te zmiany automatyczne. Druga metoda wyznaczania współczynnika rozproszenia wstecznego (technika B wg IEC ) polega na matematycznym obliczeniu jego wartości z wykorzystaniem następującej zależności: B 10 log( t) [ db] (5) gdzie t jest czasem trwania impulsu pomiarowego a B jest wyznaczane z zależności (6). 12

13 B R L 10log( tb) 10log [ db] 2 L 1 e (6) gdzie: RL tłumienność odbiciowa odcinka światłowodu o długości L, α współczynnik tłumienności światłowodu, prędkość grupowa w światłowodzie, L długość światłowodu, tb = 1ns podstawa czasu wykorzystywana w równaniu (5). Ta druga metoda wyznaczania współczynnika rozproszenia wstecznego (technika B) również nie jest wolna od ewentualnych błędów związanych chociażby z zaokrągleniami oraz podstawianiem przybliżonych wartości do wzorów (5) i (6). Już na podstawie równania (5) widać, że jednym ze źródeł błędów może być wprowadzana przez nas szerokość impulsu pomiarowego. Ma to szczególnie duże znaczenie przy krótkich impulsach w reflektometrach starszego typu, gdyż w przypadku sprzętu starszej generacji najkrótsze impulsy są generowane niejednokrotnie z tolerancją 50% względem wartości nominalnej. 3.6 Półzłącze odniesienia Zgodnie z IEC do pomiaru elementów o reflektancji mniejszej niż 55 db zalecane jest wykorzystywanie metody reflektometrycznej. W przypadku pomiaru reflektancji elementów zamontowanych w torze światłowodowym główne problemy pomiarowe są związane z zagadnieniami omawianymi w poprzednich podrozdziałach. O wiele większy problem pojawia się przy pomiarach produkcyjnych półzłączy światłowodowych, gdyż wtedy reflektancja badanego wtyku (półzłącza) światłowodowego jest mierzona zawsze względem selekcjonowanego półzłącza referencyjnego. Ze względu na proces polerowania wtyków światłowodowych na ich zakończeniach pojawia się cienka warstwa szkła o wyższym współczynniku załamania niż w światłowodzie, na którym zostało zmontowane półzłącze. W związku z tym, przy pomiarach złącza utworzonego z półzłącza referencyjnego oraz z badanego wtyku, otrzymujemy rozkład współczynników załamania, którego przykład zaprezentowano na Rysunku 12. Rysunek 12 - Schematyczny rozkład współczynników załamania dla dwóch sparowanych półzłączach światłowodowych [4] 13

14 Jak widać na Rysunku 12 na granicy półzłącza odniesienia i badanego wtyku powstaje dosyć złożona struktura współczynników załamania o różnej wartości. W konsekwencji dla różnych współczynników załamania wtyku 1 (półzłącza referencyjnego) wynik pomiaru reflektancji też będzie różny. Aby ograniczyć błędy pomiarów reflektancji półzłączy, w normie IEC zostało zdefiniowane półzłącze referencyjne, którego należy używać do pomiarów półzłączy podczas ich produkcji. W normie tej zostało wprowadzone pojęcie reflektancji własnej wtyku. Jest to taka reflektancja, jaka byłaby zmierzona, gdyby podczas pomiaru wtyk został sparowany z wtykiem o takiej samej reflektancji [4]. W tej samej normie, w celu umożliwienia wyboru półzłączy odniesienia, podano dodatkowo odpowiednią do tego procedurę oraz dołączono opis metody zatwierdzania reflektancji badanych wtyków na podstawie znajomości reflektancji własnej półzłącza referencyjnego oraz reflektancji zmierzonej złącza złożonego z półzłącza referencyjnego i badanego wtyku. Szczegóły dotyczące zasad doboru złączy referencyjnych oraz zagadnienia z tym związane wykraczają jednak poza ramy niniejszego artykułu. 4 Podsumowanie Niniejszy materiał stanowi próbę zarysowania najważniejszych problemów związanych z wykorzystaniem reflektometru do pomiaru zdarzeń odbiciowych. Autor ma nadzieję, że pozwoli to Czytelnikowi na ocenę stosowanych procedur pomiarowych oraz na podjęcie ewentualnych kroków ograniczających błędy wynikające czy to z przyjętych niewłaściwych założeń czy też z wprowadzenia do reflektometru błędnych wartości. Niniejszy materiał powinien mieć szczególnie duże znaczenie w dobie szerzącej się automatyzacji. Za sprawą ciągłego upraszczania obsługi aparatury pomiarowej wiele osób zapomina o ogólnych zasadach pomiaru. W związku z tym pojawia się niebezpieczeństwo wykonywania pomiarów przy nieprawidłowych założeniach wstępnych, bez analizy potencjalnych błędów wprowadzanych przez przyrząd pomiarowy. Omówione w artykule problemy, wynikające z wykorzystywania impulsów o niewłaściwie dobranej szerokości, z wprowadzenia nieprawidłowej wartości współczynnika rozproszenia wstecznego czy też z pomiarów reflektancji półzłączy względem losowo wybranych półzłączy odniesienia, pojawiają się również przy pomiarach wykonywanych automatycznie, jednakże, ze względu na silną ingerencję oprogramowania w proces pomiarowy, problemy te mogą umknąć uwadze operatora. Autor ma nadzieję, że niniejszy artykuł przyczyni się do zwiększenia świadomości związanej z potencjalnymi niebezpieczeństwami pojawiającymi się podczas reflektometrycznych pomiarów reflektancji i tłumienności odbiciowej, a co za tym idzie do zwiększenia wiarygodności tego typu pomiarów. 5 Literatura [1] Kapron F.P., Adams B.P., Thomas E.A., Peters J.W.: Fiber-Optic Reflection Measurements Using OCWR and OTDR Techniques. J. Lightwave Technology. 1989, 7(9), s [2] Derickson, D.: Fiber Optic Test and Measurement, Chapter 11 OTDRs and Backscatter Measurements. (editor) Prentice Hall, London, New York, 1998 [3] IEC :2008, Edition 3.0, Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 3-6: Examinations and measurements - Return loss 14

15 [4] IEC :2011, Edition 2.0, Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 3-39: Examinations and measurements - Physical contact (PC) optical connector reference plug selection for return loss measurements 15

Pomiary w instalacjach światłowodowych.

Pomiary w instalacjach światłowodowych. Pomiary w instalacjach światłowodowych. Pomiary metodą transmisyjną Pomiary tłumienności metodą transmisyjną Cel pomiaru: Określenie całkowitego tłumienia linii światłowodowej Przyrządy pomiarowe: źródło

Bardziej szczegółowo

KOREKCJA BŁĘDÓW W REFLEKTOMETRYCZNYCH POMIARACH DŁUGOŚCI ODCINKÓW SPAWANYCH TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH

KOREKCJA BŁĘDÓW W REFLEKTOMETRYCZNYCH POMIARACH DŁUGOŚCI ODCINKÓW SPAWANYCH TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH KOREKCJA BŁĘDÓW W REFLEKTOMETRYCZNYCH POMIARACH DŁUGOŚCI ODCINKÓW SPAWANYCH TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH dr inż. Marek Ratuszek, mgr inż. Zbigniew Zakrzewski, mgr inż. Jacek Majewski,

Bardziej szczegółowo

Reflektometr optyczny OTDR

Reflektometr optyczny OTDR Reflektometr optyczny OTDR i inne przyrządy pomiarowe w technice światłowodowej W prezentacji wykorzystano fragmenty prac dyplomowych Jacka Stopy, Rafała Dylewicza, Roberta Koniecznego Prezentacja zawiera

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2. Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

Ćwiczenie 2. Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 2 Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami tłumienności odbiciowej i własnej.

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA ZASIĘGU POŁĄCZEŃ OPTYCZNYCH

SPECYFIKACJA ZASIĘGU POŁĄCZEŃ OPTYCZNYCH Lublin 06.07.2007 r. SPECYFIKACJA ZASIĘGU POŁĄCZEŃ OPTYCZNYCH URZĄDZEŃ BITSTREAM Copyright 2007 BITSTREAM 06.07.2007 1/8 SPIS TREŚCI 1. Wstęp... 2. Moc nadajnika optycznego... 3. Długość fali optycznej...

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA POZNAŃSKA

POLITECHNIKA POZNAŃSKA POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI I ELEKTRONIKI PRZEMYSŁOWEJ Zakład Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej Laboratorium Podstaw Telekomunikacji Ćwiczenie nr 6 Temat: Sprzęgacz kierunkowy.

Bardziej szczegółowo

Optotelekomunikacja. dr inż. Piotr Stępczak 1

Optotelekomunikacja. dr inż. Piotr Stępczak 1 Optotelekomunikacja dr inż. Piotr Stępczak 1 dr inż. Piotr Stępczak Falowa natura światła () ( ) () ( ) z t j jm z z z t j jm z z e e r H H e e r E E β ω β ω Θ ± Θ ± 1 0 0 1 0 1 1 zatem 0 n n n n gr λ

Bardziej szczegółowo

Metodologia łączenia i wstępnej certyfikacji. Część 2

Metodologia łączenia i wstępnej certyfikacji. Część 2 Metodologia łączenia i wstępnej certyfikacji Część 2 Time Pulse OTDR Data Link Range Distance Spis treści SŁOWO WSTĘPNE------------------------------------------------------------------------------------------------

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Światłowody

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Światłowody Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki Marcin Polkowski 251328 Światłowody Pracownia Fizyczna dla Zaawansowanych ćwiczenie L6 w zakresie Optyki Streszczenie Celem wykonanego na Pracowni Fizycznej dla Zaawansowanych

Bardziej szczegółowo

Pomiary kabli światłowodowych

Pomiary kabli światłowodowych Pomiary kabli światłowodowych Ver. 1.8 CENTRUM USŁUG INFORMATYCZNYCH W E W R O C Ł A W I U ul. Namysłowska 8; 50-304 Wrocław tel. +48 71 777 90 32; fax. +48 71 777 75 65 cui@cui.wroclaw.pl; www.cui.wroclaw.pl

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 5. Badanie wpływu periodycznych zgięd na tłumiennośd światłowodu

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 5. Badanie wpływu periodycznych zgięd na tłumiennośd światłowodu Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 5. Badanie wpływu periodycznych zgięd na tłumiennośd Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

Pomiary światłowodów telekomunikacyjnych Laboratorium Eksploatacja Systemów Telekomunikacyjnych

Pomiary światłowodów telekomunikacyjnych Laboratorium Eksploatacja Systemów Telekomunikacyjnych Pomiary światłowodów telekomunikacyjnych Laboratorium Eksploatacja Systemów Telekomunikacyjnych Dr inż. Mirosław Siergiejczyk Mgr inż. Zbigniew Kasprzyk Zalecana literatura Kathryn Booth, Steven Hill Optoelektronika

Bardziej szczegółowo

- Porównanie reflektometrów optycznych - IDEAL OTDR & Noyes M200 - Kolorowy wyświetlacz dotykowy

- Porównanie reflektometrów optycznych - IDEAL OTDR & Noyes M200 - Kolorowy wyświetlacz dotykowy - Porównanie reflektometrów optycznych - IDEAL & Noyes - Specyfikacja ogólna Wyświetlacz IDEAL Quad & MM rozdzielczości Kolorowy wyświetlacz dotykowy Wymiary 250 x 125 x 75 mm 230 x 110 x 70 mm Waga z

Bardziej szczegółowo

PLAN KONSPEKT. do przeprowadzenia zajęć z przedmiotu. Wprowadzenie do pomiarów systemów transmisyjnych

PLAN KONSPEKT. do przeprowadzenia zajęć z przedmiotu. Wprowadzenie do pomiarów systemów transmisyjnych PLAN KONSPEKT do przeprowadzenia zajęć z przedmiotu Wprowadzenie do pomiarów systemów transmisyjnych TEMAT: Pomiary systemów transmisyjnych CEL: Zapoznanie uczniów z podstawami pomiarów systemów transmisyjnych.

Bardziej szczegółowo

Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych

Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 4 Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów z parametrem tłumienności światłowodów oraz ze sposobem jego pomiaru Badane elementy:

Bardziej szczegółowo

Dyspersja światłowodów Kompensacja i pomiary

Dyspersja światłowodów Kompensacja i pomiary Dyspersja światłowodów Kompensacja i pomiary Prezentacja zawiera kopie folii omawianych na wykładzie. Niniejsze opracowanie chronione jest prawem autorskim. Wykorzystanie niekomercyjne dozwolone pod warunkiem

Bardziej szczegółowo

WARUNKI TECHNICZNE 2. DEFINICJE

WARUNKI TECHNICZNE 2. DEFINICJE WARUNKI TECHNICZNE 1. ZAKRES WARUNKÓW TECHNICZNYCH W niniejszych WT określono wymiary i minimalne wymagania dotyczące jakości (w odniesieniu do wad optycznych i widocznych) szkła float stosowanego w budownictwie,

Bardziej szczegółowo

Transmisja w systemach CCTV

Transmisja w systemach CCTV Transmisja w systemach CCTV Systemy monitoringu wizyjnego CVBS TVI CVI AHD IP Systemy monitoringu wizyjnego CVBS Maks. rozdzielczość WD1 960 x 576 px Maks. dystans transmisji 300 m (RG-59) Maks. dystans

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWY TESTER WIELOMODOWYCH TORÓW ŚWIATŁOWODOWYCH

KOMPUTEROWY TESTER WIELOMODOWYCH TORÓW ŚWIATŁOWODOWYCH Krzysztof Holejko, Roman Nowak, Tomasz Czarnecki, Instytut Telekomunikacji PW 00-665 Warszawa, ul. Nowowiejska 15/19 holejko@tele.pw.edu.pl, nowak@tele.pw.edu.pl, ctom@tele.pw.edu.pl KOMPUTEROWY TESTER

Bardziej szczegółowo

POMIARY TŁUMIENIA I ABSORBCJI FAL ELEKTROMAGNETYCZNYCH

POMIARY TŁUMIENIA I ABSORBCJI FAL ELEKTROMAGNETYCZNYCH LŁ ELEKTRONIKI WAT POMIARY TŁUMIENIA I ABSORBCJI FAL ELEKTROMAGNETYCZNYCH dr inż. Leszek Nowosielski Wojskowa Akademia Techniczna Wydział Elektroniki Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej LŁ

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach

Bardziej szczegółowo

BEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO

BEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO Temat ćwiczenia: BEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO 1. Wprowadzenie Ultradźwiękowy bezdotykowy czujnik położenia liniowego działa na zasadzie pomiaru czasu powrotu impulsu ultradźwiękowego,

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE. Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej.

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE. Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej. LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej.. Wprowadzenie Soczewką nazywamy ciało przezroczyste ograniczone

Bardziej szczegółowo

Pomiary kabli światłowodowych

Pomiary kabli światłowodowych Pomiary kabli światłowodowych Ver. 1.3 Wydział Informatyki Ul. Świdnicka 53; 50-030 Wrocław Tel. +48 717 77 90 32 Fax. +48 717 77 75 65 win@um.wroc.pl www.wroclaw.pl Historia zmian dokumentu Wersja Data

Bardziej szczegółowo

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH Scientific Bulletin of Che lm Section of Technical Sciences No. 1/2008 WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH WE WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNICE POMIAROWEJ MAREK MAGDZIAK Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji, Politechnika

Bardziej szczegółowo

Praktyki zawodowe. Program nauczania dla zawodu technik teleinformatyk 351103 o strukturze przedmiotowej

Praktyki zawodowe. Program nauczania dla zawodu technik teleinformatyk 351103 o strukturze przedmiotowej rojekt współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego raktyki zawodowe 1. Bezpieczeństwo i organizacja pracy podczas wykonywania zadań 2. omiary mediów i torów transmisyjnych

Bardziej szczegółowo

Projektowanie systemów pomiarowych

Projektowanie systemów pomiarowych Projektowanie systemów pomiarowych 03 Konstrukcja mierników analogowych Zasada działania mierników cyfrowych Przetworniki pomiarowe wielkości elektrycznych 1 Analogowe przyrządy pomiarowe Podział ze względu

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu

Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu Imię i Nazwisko... Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu Opracowanie: Piotr Wróbel 1. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie prędkości dźwięku w powietrzu, metodą różnicy czasu przelotu. Drgania

Bardziej szczegółowo

PROFESJONALNY MULTIMETR CYFROWY ESCORT-99 DANE TECHNICZNE ELEKTRYCZNE

PROFESJONALNY MULTIMETR CYFROWY ESCORT-99 DANE TECHNICZNE ELEKTRYCZNE PROFESJONALNY MULTIMETR CYFROWY ESCORT-99 DANE TECHNICZNE ELEKTRYCZNE Format podanej dokładności: ±(% w.w. + liczba najmniej cyfr) przy 23 C ± 5 C, przy wilgotności względnej nie większej niż 80%. Napięcie

Bardziej szczegółowo

Noyes M210. Przenośny reflektometr certyfikacyjny z miernikiem mocy optycznej oraz wizualnym lokalizatorem uszkodzeń do sieci

Noyes M210. Przenośny reflektometr certyfikacyjny z miernikiem mocy optycznej oraz wizualnym lokalizatorem uszkodzeń do sieci Przenośny reflektometr certyfikacyjny z miernikiem mocy optycznej oraz wizualnym lokalizatorem uszkodzeń do sieci jednomodowych i wielomodowych. Noyes M210 Pomiary oraz profesjonalna dokumentacja sieci

Bardziej szczegółowo

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki.

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. 1. Równanie soczewki i zwierciadła kulistego. Z podobieństwa trójkątów ABF i LFD (patrz rysunek powyżej) wynika,

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 2. Badanie apertury numerycznej światłowodów

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 2. Badanie apertury numerycznej światłowodów Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 2. Badanie apertury numerycznej światłowodów Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie Światłowody

Bardziej szczegółowo

Przenośny reflektometr optyczny z wizualnym lokalizatorem uszkodzeń do sieci jednomodowych i wielomodowych.

Przenośny reflektometr optyczny z wizualnym lokalizatorem uszkodzeń do sieci jednomodowych i wielomodowych. Przenośny reflektometr optyczny z wizualnym lokalizatorem uszkodzeń do sieci jednomodowych i wielomodowych. Noyes M200 Reflektometr optyczny Noyes M200 jest poręcznym reflektometrem optycznym pozwalającym

Bardziej szczegółowo

Ta nowa metoda pomiaru ma wiele zalet w stosunku do starszych technik opartych na pomiarze absorbancji.

Ta nowa metoda pomiaru ma wiele zalet w stosunku do starszych technik opartych na pomiarze absorbancji. CHLOROFILOMIERZ CCM300 Unikalna metoda pomiaru w oparciu o pomiar fluorescencji chlorofilu! Numer katalogowy: N/A OPIS Chlorofilomierz CCM-300 jest unikalnym urządzeniem pozwalającym zmierzyć zawartość

Bardziej szczegółowo

Niepewność pomiaru. Wynik pomiaru X jest znany z możliwa do określenia niepewnością. jest bledem bezwzględnym pomiaru

Niepewność pomiaru. Wynik pomiaru X jest znany z możliwa do określenia niepewnością. jest bledem bezwzględnym pomiaru iepewność pomiaru dokładność pomiaru Wynik pomiaru X jest znany z możliwa do określenia niepewnością X p X X X X X jest bledem bezwzględnym pomiaru [ X, X X ] p Przedział p p nazywany jest przedziałem

Bardziej szczegółowo

Laboratorum 2 Badanie filtru dolnoprzepustowego P O P R A W A

Laboratorum 2 Badanie filtru dolnoprzepustowego P O P R A W A Laboratorum 2 Badanie filtru dolnoprzepustowego P O P R A W A Marcin Polkowski (251328) 15 marca 2007 r. Spis treści 1 Cel ćwiczenia 2 2 Techniczny i matematyczny aspekt ćwiczenia 2 3 Pomiary - układ RC

Bardziej szczegółowo

4. Ultradźwięki Instrukcja

4. Ultradźwięki Instrukcja 4. Ultradźwięki Instrukcja 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości fal ultradźwiękowych i ich wykorzystania w badaniach defektoskopowych. 2. Układ pomiarowy Układ pomiarowy składa się

Bardziej szczegółowo

A6: Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody)

A6: Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody) A6: Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody) Jacek Grela, Radosław Strzałka 17 maja 9 1 Wstęp Poniżej zamieszczamy podstawowe wzory i definicje, których używaliśmy w obliczeniach: 1. Charakterystyka

Bardziej szczegółowo

Przykłady wybranych fragmentów prac egzaminacyjnych z komentarzami Technik telekomunikacji 311[37]

Przykłady wybranych fragmentów prac egzaminacyjnych z komentarzami Technik telekomunikacji 311[37] Przykłady wybranych fragmentów prac egzaminacyjnych z komentarzami Technik telekomunikacji 311[37] 1 2 3 4 5 6 W pracy egzaminacyjnej były oceniane następujące elementy: I. Tytuł pracy egzaminacyjnej II.

Bardziej szczegółowo

Badanie własności diód krzemowej, germanowej, oraz diody Zenera

Badanie własności diód krzemowej, germanowej, oraz diody Zenera 23 kwietnia 2001 Ryszard Kostecki Badanie własności diód krzemowej, germanowej, oraz diody Zenera Streszczenie Celem tej pracy jest zapoznanie się z tematyką i zbadanie diód krzemowej, germanowej, oraz

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Pomiary rezystancji przy prądzie stałym"

Ćwiczenie: Pomiary rezystancji przy prądzie stałym Ćwiczenie: "Pomiary rezystancji przy prądzie stałym" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki.

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM Z FIZYKI

LABORATORIUM Z FIZYKI LABORATORIUM Z FIZYKI LABORATORIUM Z FIZYKI I PRACOWNIA FIZYCZNA C w Gliwicach Gliwice, ul. Konarskiego 22, pokoje 52-54 Regulamin pracowni i organizacja zajęć Sprawozdanie (strona tytułowa, karta pomiarowa)

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Podstaw Pomiarów

Laboratorium Podstaw Pomiarów Laboratorium Podstaw Pomiarów Ćwiczenie 5 Pomiary rezystancji Instrukcja Opracował: dr hab. inż. Grzegorz Pankanin, prof. PW Instytut Systemów Elektronicznych Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych

Bardziej szczegółowo

POMIAR APERTURY NUMERYCZNEJ

POMIAR APERTURY NUMERYCZNEJ ĆWICZENIE O9 POMIAR APERTURY NUMERYCZNEJ ŚWIATŁOWODU KATEDRA FIZYKI 1 Wstęp Prawa optyki geometrycznej W optyce geometrycznej, rozpatrując rozchodzenie się fal świetlnych przyjmuje się pewne założenia

Bardziej szczegółowo

W celu obliczenia charakterystyki częstotliwościowej zastosujemy wzór 1. charakterystyka amplitudowa 0,

W celu obliczenia charakterystyki częstotliwościowej zastosujemy wzór 1. charakterystyka amplitudowa 0, Bierne obwody RC. Filtr dolnoprzepustowy. Filtr dolnoprzepustowy jest układem przenoszącym sygnały o małej częstotliwości bez zmian, a powodującym tłumienie i opóźnienie fazy sygnałów o większych częstotliwościach.

Bardziej szczegółowo

PRZENOŚNY MIERNIK MOCY RF-1000

PRZENOŚNY MIERNIK MOCY RF-1000 PRZENOŚNY MIERNIK MOCY RF-1000 1. Dane techniczne Zakresy pomiarowe: Dynamika: Rozdzielczość: Dokładność pomiaru mocy: 0.5 3000 MHz, gniazdo N 60 db (-50dBm do +10dBm) dla zakresu 0.5 3000 MHz 0.1 dbm

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła

Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła Michał Łasica klasa IIId nr 13 22 grudnia 2006 1 1 Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki 1.1

Bardziej szczegółowo

Ćw. nr 41. Wyznaczanie ogniskowych soczewek za pomocą wzoru soczewkowego

Ćw. nr 41. Wyznaczanie ogniskowych soczewek za pomocą wzoru soczewkowego 1 z 7 JM-test-MathJax Ćw. nr 41. Wyznaczanie ogniskowych soczewek za pomocą wzoru soczewkowego Korekta 24.03.2014 w Błąd maksymalny (poprawione formuły na niepewności maksymalne dla wzorów 41.1 i 41.11)

Bardziej szczegółowo

OTDR AQ7270. Interlab. Reflekto metr. Najnowsza rodzina reflektometrów optycznych firmy YOKOGAWA (Ando)

OTDR AQ7270. Interlab. Reflekto metr. Najnowsza rodzina reflektometrów optycznych firmy YOKOGAWA (Ando) OTDR AQ7270 Reflekto metr Najnowsza rodzina reflektometrów optycznych firmy YOKOGAWA (Ando) Reflektometr AQ 7270 dostępny jest w 11 różnych konfiguracjach. Umożliwia pomiary światłowodów jedno i wielomodowych.

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Telewizji Cyfrowej

Laboratorium Telewizji Cyfrowej Laboratorium Telewizji Cyfrowej Badanie wybranych elementów sieci TV kablowej Jarosław Marek Gliwiński Robert Sadowski Przemysław Szczerbicki Paweł Urbanek 14 maja 2009 1 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Problemy spawania telekomunikacyjnych jednomodowych włókien światłowodowych stosowanych w Polsce i pochodzących od różnych producentów

Problemy spawania telekomunikacyjnych jednomodowych włókien światłowodowych stosowanych w Polsce i pochodzących od różnych producentów C8.12 Marek Ratuszek, Zbigniew Zakrzewski, Jacek Majewski, Józef Zalewski Instytut Telekomunikacji ATR w Bydgoszczy, Bydgoszcz Problemy spawania telekomunikacyjnych jednomodowych włókien światłowodowych

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia nr 23. Pomiary charakterystyk przejściowych i zniekształceń nieliniowych wzmacniaczy mikrofalowych.

Instrukcja do ćwiczenia nr 23. Pomiary charakterystyk przejściowych i zniekształceń nieliniowych wzmacniaczy mikrofalowych. Instrukcja do ćwiczenia nr 23. Pomiary charakterystyk przejściowych i zniekształceń nieliniowych wzmacniaczy mikrofalowych. I. Wstęp teoretyczny. Analizator widma jest przyrządem powszechnie stosowanym

Bardziej szczegółowo

Okablowanie strukturalne

Okablowanie strukturalne Okablowanie strukturalne Media transmisji miedź Standardy okablowania budynków Przeznaczenie TIA/EIA-568A Stworzenie standardu okablowania telekomunikacyjnego zaspokajającego wymagania różnych producentów

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6

Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6 Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6 Marcin Polkowski (251328) 10 maja 2007 r. Spis treści I Laboratorium 5 2 1 Wprowadzenie 2 2 Pomiary rodziny charakterystyk 3 II Laboratorium 6 7 3 Wprowadzenie 7

Bardziej szczegółowo

DIAGNOSTYKA USZKODZEŃ W TELEKOMUNIKACYJNYCH LINIACH ŚWIATŁOWODOWYCH

DIAGNOSTYKA USZKODZEŃ W TELEKOMUNIKACYJNYCH LINIACH ŚWIATŁOWODOWYCH Materiały XXXVI Międzyuczelnianej Konferencji Metroloów MKM 04 _ Politechnika Łódzka Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metroloii i Materiałoznawstwa DIAGNOSTYKA USZKODZEŃ W TELEKOMUNIKACYJNYCH LINIACH

Bardziej szczegółowo

1. Technika sprzęgaczy i ich zastosowanie

1. Technika sprzęgaczy i ich zastosowanie . Technika sprzęgaczy i ich zastosowanie Sprzęgacze światłowodowe są podstawowymi elementami rozgałęźnych sieci optycznych (lokalnych, komputerowych, telewizyjnych) dowolnej konfiguracji. Spełniają rolę

Bardziej szczegółowo

Wykład 9. Terminologia i jej znaczenie. Cenzurowanie wyników pomiarów.

Wykład 9. Terminologia i jej znaczenie. Cenzurowanie wyników pomiarów. Wykład 9. Terminologia i jej znaczenie. Cenzurowanie wyników pomiarów.. KEITHLEY. Practical Solutions for Accurate. Test & Measurement. Training materials, www.keithley.com;. Janusz Piotrowski: Procedury

Bardziej szczegółowo

Laboratorium technik światłowodowych

Laboratorium technik światłowodowych Laboratorium technik światłowodowych ćwiczenie 2 Grupa (nr 2) w składzie: Kinga Wilczek 210063 Michał Pawlik 209836 Patryk Kowalcze 209848 Daniel Cieszko 209915 Jakub Molik 209965 1. Wstęp Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 5. POMIARY NAPIĘĆ I PRĄDÓW STAŁYCH Opracowała: E. Dziuban. I. Cel ćwiczenia

ĆWICZENIE 5. POMIARY NAPIĘĆ I PRĄDÓW STAŁYCH Opracowała: E. Dziuban. I. Cel ćwiczenia ĆWICZEIE 5 I. Cel ćwiczenia POMIAY APIĘĆ I PĄDÓW STAŁYCH Opracowała: E. Dziuban Celem ćwiczenia jest zaznajomienie z przyrządami do pomiaru napięcia i prądu stałego: poznanie budowy woltomierza i amperomierza

Bardziej szczegółowo

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo / analogowe W cyfrowych systemach pomiarowych często zachodzi konieczność zmiany sygnału cyfrowego na analogowy, np. w celu

Bardziej szczegółowo

2007-10-27. NA = sin Θ = (n rdzenia2 - n płaszcza2 ) 1/2. L[dB] = 10 log 10 (NA 1 /NA 2 )

2007-10-27. NA = sin Θ = (n rdzenia2 - n płaszcza2 ) 1/2. L[dB] = 10 log 10 (NA 1 /NA 2 ) dr inż. Krzysztof Hodyr Technika Światłowodowa Część 2 Tłumienie i straty w światłowodach Pojęcie dyspersji światłowodów Technika zwielokrotnienia WDM Źródła strat tłumieniowych sprzężenia światłowodu

Bardziej szczegółowo

Zjawiska w niej występujące, jeśli jest ona linią długą: Definicje współczynników odbicia na początku i końcu linii długiej.

Zjawiska w niej występujące, jeśli jest ona linią długą: Definicje współczynników odbicia na początku i końcu linii długiej. 1. Uproszczony schemat bezstratnej (R = 0) linii przesyłowej sygnałów cyfrowych. Zjawiska w niej występujące, jeśli jest ona linią długą: odbicie fali na końcu linii; tłumienie fali; zniekształcenie fali;

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM. Pomiar poziomu mocy akustycznej w komorze pogłosowej. Instrukcja do zajęć laboratoryjnych

LABORATORIUM. Pomiar poziomu mocy akustycznej w komorze pogłosowej. Instrukcja do zajęć laboratoryjnych LABORATORIUM Pomiar poziomu mocy akustycznej w komorze pogłosowej Instrukcja do zajęć laboratoryjnych Kraków 2010 Spis treści 1. Wstęp...3 2. Wprowadzenie teoretyczne...4 2.1. Definicje terminów...4 2.2.

Bardziej szczegółowo

Projektowanie systemów pomiarowych. 02 Dokładność pomiarów

Projektowanie systemów pomiarowych. 02 Dokładność pomiarów Projektowanie systemów pomiarowych 02 Dokładność pomiarów 1 www.technidyneblog.com 2 Jak dokładnie wykonaliśmy pomiar? Czy duża / wysoka dokładność jest zawsze konieczna? www.sparkfun.com 3 Błąd pomiaru.

Bardziej szczegółowo

Ćw. nr 31. Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2

Ćw. nr 31. Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2 1 z 6 Zespół Dydaktyki Fizyki ITiE Politechniki Koszalińskiej Ćw. nr 3 Wahadło fizyczne o regulowanej płaszczyźnie drgań - w.2 Cel ćwiczenia Pomiar okresu wahań wahadła z wykorzystaniem bramki optycznej

Bardziej szczegółowo

EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2012/2013 Zadania dla grupy elektronicznej na zawody III stopnia

EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2012/2013 Zadania dla grupy elektronicznej na zawody III stopnia EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2012/2013 Zadania dla grupy elektronicznej na zawody III stopnia Zadanie 1. Jednym z najnowszych rozwiązań czujników

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny Laboratorium Teletechniki

Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny Laboratorium Teletechniki Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny Laboratorium Teletechniki Skrypt do ćwiczenia T.09 Określenie procentu modulacji sygnału zmodulowanego AM 1. Określenie procentu modulacji sygnału zmodulowanego

Bardziej szczegółowo

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM Sieci i instalacje z tworzyw sztucznych 2005 Wojciech BŁAŻEJEWSKI*, Paweł GĄSIOR*, Anna SANKOWSKA** *Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Politechnika Wrocławska **Wydział Elektroniki, Fotoniki

Bardziej szczegółowo

Ryszard Kostecki. Badanie własności filtru rezonansowego, dolnoprzepustowego i górnoprzepustowego

Ryszard Kostecki. Badanie własności filtru rezonansowego, dolnoprzepustowego i górnoprzepustowego Ryszard Kostecki Badanie własności filtru rezonansowego, dolnoprzepustowego i górnoprzepustowego Warszawa, 3 kwietnia 2 Streszczenie Celem tej pracy jest zbadanie własności filtrów rezonansowego, dolnoprzepustowego,

Bardziej szczegółowo

Program do analizy reflektogramów optycznych FMTAP 3.0

Program do analizy reflektogramów optycznych FMTAP 3.0 wer.2.2 Program do analizy reflektogramów optycznych FMTAP 3.0 Opis podstawowych funkcji programu Program jest uruchamiany ikoną FMTAP 3.0 na pulpicie Windows. Po uruchomieniu programu pojawia się ekran

Bardziej szczegółowo

Sposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych

Sposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI ZAKŁAD RADIOKOMUNIKACJI Instrukcja laboratoryjna z przedmiotu Podstawy Telekomunikacji Sposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych Warszawa 2010r. 1. Cel ćwiczeń: Celem ćwiczeń

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 4 do Umowy Ramowej Usługa Dzierżawa Ciemnych Włókien

Załącznik nr 4 do Umowy Ramowej Usługa Dzierżawa Ciemnych Włókien Załącznik nr 4 do Umowy Ramowej Usługa Dzierżawa Ciemnych Włókien Rozdział 1. POSTANOWIENIA OGÓLNE 1. Niniejszy załącznik określa ramowe warunki współpracy Stron w zakresie Dzierżawy Ciemnych Włókien o

Bardziej szczegółowo

SINGLE-IMAGE HIGH-RESOLUTION SATELLITE DATA FOR 3D INFORMATIONEXTRACTION

SINGLE-IMAGE HIGH-RESOLUTION SATELLITE DATA FOR 3D INFORMATIONEXTRACTION SINGLE-IMAGE HIGH-RESOLUTION SATELLITE DATA FOR 3D INFORMATIONEXTRACTION MOŻLIWOŚCI WYDOBYCIA INFORMACJI 3D Z POJEDYNCZYCH WYSOKOROZDZIELCZYCH OBRAZÓW SATELITARNYCH J. Willneff, J. Poon, C. Fraser Przygotował:

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2: pomiar charakterystyk i częstotliwości granicznych wzmacniacza napięcia REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU

Ćwiczenie 2: pomiar charakterystyk i częstotliwości granicznych wzmacniacza napięcia REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU R C E Z w B I Ł G O R A J U LABORATORIUM pomiarów elektronicznych UKŁADÓW ANALOGOWYCH Ćwiczenie 2: pomiar charakterystyk i częstotliwości granicznych wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze operacyjne

Wzmacniacze operacyjne Wzmacniacze operacyjne Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest badanie podstawowych układów pracy wzmacniaczy operacyjnych. Wymagania Wstęp 1. Zasada działania wzmacniacza operacyjnego. 2. Ujemne sprzężenie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne. Ćwiczenie 4 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ Wprowadzenie teoretyczne. Soczewka jest obiektem izycznym wykonanym z materiału przezroczystego o zadanym kształcie i symetrii obrotowej. Interesować

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 15. Sprawdzanie watomierza i licznika energii

Ćwiczenie 15. Sprawdzanie watomierza i licznika energii Ćwiczenie 15 Sprawdzanie watomierza i licznika energii Program ćwiczenia: 1. Sprawdzenie błędów podstawowych watomierza analogowego 2. Sprawdzanie jednofazowego licznika indukcyjnego 2.1. Sprawdzenie prądu

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ POMIAR OGNISKOWYCH SOCZEWEK CIENKICH 1. Cel dwiczenia Zapoznanie z niektórymi metodami badania ogniskowych soczewek cienkich. 2. Zakres wymaganych zagadnieo: Prawa odbicia

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI

LABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA im. Jarosława Dąbrowskiego w Warszawie Wydział Elektroniki LABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI Grupa Podgrupa Data wykonania ćwiczenia Ćwiczenie prowadził... Skład podgrupy:

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Poznanie podstawowych własności tranzystora. Wyznaczenie prądów tranzystorów typu n-p-n i p-n-p. Czytanie schematów

Bardziej szczegółowo

Pomiar rezystancji metodą techniczną

Pomiar rezystancji metodą techniczną Pomiar rezystancji metodą techniczną Cel ćwiczenia. Poznanie metod pomiarów rezystancji liniowych, optymalizowania warunków pomiaru oraz zasad obliczania błędów pomiarowych. Zagadnienia teoretyczne. Definicja

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 1 ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 15.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych właściwości wzmacniaczy mocy małej częstotliwości oraz przyswojenie umiejętności

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 4 do Umowy Ramowej. Usługa Dzierżawa Ciemnych Włókien

Załącznik nr 4 do Umowy Ramowej. Usługa Dzierżawa Ciemnych Włókien Załącznik nr 4 do Umowy Ramowej Usługa Dzierżawa Ciemnych Włókien Rozdział 1. POSTANOWIENIA OGÓLNE 1. Niniejszy załącznik określa ramowe warunki współpracy Stron w zakresie Dzierżawy Ciemnych Włókien o

Bardziej szczegółowo

Audyt okablowania strukturalnego. Artur Sierszeń asiersz@kis.p.lodz.pl http://bzyczek.kis.p.lodz.pl

Audyt okablowania strukturalnego. Artur Sierszeń asiersz@kis.p.lodz.pl http://bzyczek.kis.p.lodz.pl Audyt okablowania strukturalnego Artur Sierszeń asiersz@kis.p.lodz.pl http://bzyczek.kis.p.lodz.pl Co badamy? Technologie Dostosowanie do potrzeb Schematy połączeń Topologia z uwzględnieniem bezpieczeństwa

Bardziej szczegółowo

Pomiar prędkości światła

Pomiar prędkości światła Tematy powiązane Współczynnik załamania światła, długość fali, częstotliwość, faza, modulacja, technologia heterodynowa, przenikalność elektryczna, przenikalność magnetyczna. Podstawy Będziemy modulować

Bardziej szczegółowo

Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8

Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8 Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego, oraz zapoznanie się z metodami wyznaczania charakterystyk częstotliwościowych.

Bardziej szczegółowo

2. Narysuj schemat zastępczy rzeczywistego źródła napięcia i oznacz jego elementy.

2. Narysuj schemat zastępczy rzeczywistego źródła napięcia i oznacz jego elementy. Ćwiczenie 2. 1. Czym się różni rzeczywiste źródło napięcia od źródła idealnego? Źródło rzeczywiste nie posiada rezystancji wewnętrznej ( wew = 0 Ω). Źródło idealne posiada pewną rezystancję własną ( wew

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 8 Temat: Pomiar i regulacja natężenia prądu stałego jednym i dwoma rezystorem nastawnym Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 8 Temat: Pomiar i regulacja natężenia prądu stałego jednym i dwoma rezystorem nastawnym Cel ćwiczenia Ćwiczenie 8 Temat: Pomiar i regulacja natężenia prądu stałego jednym i dwoma rezystorem nastawnym Cel ćwiczenia Właściwy dobór rezystorów nastawnych do regulacji natężenia w obwodach prądu stałego. Zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Doświadczalne wyznaczanie współczynnika sztywności (sprężystości) sprężyny

Doświadczalne wyznaczanie współczynnika sztywności (sprężystości) sprężyny Doświadczalne wyznaczanie współczynnika sztywności (sprężystości) Wprowadzenie Wartość współczynnika sztywności użytej można wyznaczyć z dużą dokładnością metodą statyczną. W tym celu należy zawiesić pionowo

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Podstaw Pomiarów

Laboratorium Podstaw Pomiarów Laboratorium Podstaw Pomiarów Dokumentowanie wyników pomiarów protokół pomiarowy Instrukcja Opracował: dr hab. inż. Grzegorz Pankanin, prof. PW Instytut Systemów Elektronicznych Wydział Elektroniki i Technik

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego (Katera)

Wyznaczanie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego (Katera) Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 17 III 2009 Nr. ćwiczenia: 112 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe.

INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe. INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe. MTiSP pomiary częstotliwości i przesunięcia fazowego MTiSP 003 Autor: dr inż. Piotr Wyciślok Strona 1 / 8 Cel Celem ćwiczenia jest wykorzystanie

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska

Politechnika Warszawska Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny Laboratorium Teletechniki Skrypt do ćwiczenia T.08 Zasady wytwarzania sygnałów zmodulowanych za pomocą modulacji AM 1. Zasady wytwarzania sygnałów zmodulowanych

Bardziej szczegółowo

Ponieważ zakres zmian ciśnień fal akustycznych odbieranych przez ucho ludzkie mieści się w przedziale od 2*10-5 Pa do 10 2 Pa,

Ponieważ zakres zmian ciśnień fal akustycznych odbieranych przez ucho ludzkie mieści się w przedziale od 2*10-5 Pa do 10 2 Pa, Poziom dźwięku Decybel (db) jest jednostką poziomu; Ponieważ zakres zmian ciśnień fal akustycznych odbieranych przez ucho ludzkie mieści się w przedziale od 2*10-5 Pa do 10 2 Pa, co obejmuje 8 rzędów wielkości

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Rozbiegówka FIBRAIN OTDR Starter Cube. Nasza odpowiedź na potrzeby rynku i instalatorów KOMPAKTOWA OBUDOWA I NISKA WAGA

Rozbiegówka FIBRAIN OTDR Starter Cube. Nasza odpowiedź na potrzeby rynku i instalatorów KOMPAKTOWA OBUDOWA I NISKA WAGA KOMPAKTOWA OBUDOWA I NISKA WAGA (86x107 mm / 0.4 kg) KOLORYSTYCZNE OZNACZENIE TYPU WTYKÓW DLA PRZEJRZYSTEJ IDENTYFIKACJI PASEK NA RAMIĘ ŁATWY TRANSPORT, SWOBODA PODCZAS POMIARÓW OBUDOWA WYKONANA Z POLIPROPYLENU

Bardziej szczegółowo

Optyczna spektroskopia oscylacyjna. w badaniach powierzchni

Optyczna spektroskopia oscylacyjna. w badaniach powierzchni Optyczna spektroskopia oscylacyjna w badaniach powierzchni Zalety oscylacyjnej spektroskopii optycznej uŝycie fotonów jako cząsteczek wzbudzających i rejestrowanych nie wymaga uŝycia próŝni (moŝliwość

Bardziej szczegółowo