Maszyny i roboty pomiarowe
|
|
- Mateusz Dobrowolski
- 6 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Prof.Eugeniusz Ratajczyk Maszyny i roboty pomiarowe Część II Układy pomiarowe Głowice (sondy) pomiarowe 24 sierpnia 2016
2 Współrzędnościowe Maszyny Pomiarowe Część I Część II 1. Istota pomiarów współrzędnościowych 2. Główne zespoły maszyn i ich funkcje 3. Rodzaje konstrukcji maszyn Układy pomiarowe Głowice (sondy) pomiarowe Część III. Oprogramowania Część IV. Część V. Roboty i centra pomiarowe Ramiona pomiarowe Część VI. Skaning pasywny, skaning aktywny 24 sierpnia 2016
3 Układy pomiarowe Rodzaje układów pomiarowych: tarczowe odmierzają wartości kąta liniowe odmierzają wartości długości inkrementalne kodowe interferencyjne 24 sierpnia 2016
4 Inkrementalne układy pomiarowe Rodzaje: optoelektroniczne wzorzec w postaci liniału z ciemnymi i jasnymi polami ułożonymi na przemian, o okresie (stałej wzorca) w przedziale μm (niepewność 2-3 μm/1 m przy rozdzielczości 1 μm) induktosynowe wykorzystują zjawisko indukcji magnetycznej, powstające pomiędzy uzwojeniami suwaka i liniału w postaci meandrów o okresie 2 4 μm (niepewność 3-5 μm/1 m) pojemnościowe podstawowym elementem pomiarowym jest kondensator różnicowy
5 Optoelektroniczne układy pomiarowe transmisyjne pracujące w świetle przechodzącym refleksyjne pracujące w świetle odbitym
6 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układ odczytowy z przeciwwzorcem dającym efekt moire a 1 oświetlacz 2 soczewka 3 fotoelement 4 płytka stanowiąca przeciwwzorzec 5 liniał inkrementalny
7 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układ odczytowy z przeciwwzorcem dającym efekt moire a D d1 d2 D dw
8 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układ odczytowy z przeciwwzorcem z okienkami przesuniętymi w fazie 1 oświetlacz 2 soczewka 3 fotoelement 4 płytka stanowiąca przeciwwzorzec 5 liniał inkrementalny
9 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układ odczytowy z przeciwwzorcem z okienkami przesuniętymi w fazie wzorzec
10 Optoelektroniczne układy pomiarowe Przebieg sygnałów w układach optoelektronicznych
11 Optoelektroniczne układy pomiarowe Przebieg sygnałów w układach optoelektronicznych przesuniecie fazowe rezultat kompensacja składowej stałej wykrycie kierunku ruchu
12 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układy pomiarowe Renishaw serii RG z siatką dyfrakcyjną RGS 20 RGS 42 Rozdzielczość wyjściowa 5, 1, 0,5, 0,1 lub 0,05µm
13 Optoelektroniczne układy pomiarowe Charakterystyka układów pomiarowych RGS 20 i RGS42 Błąd nieliniowości: ±0,75µm na 60mm lub ±3µm na 1m
14 Materiał na wzorce optoelektroniczne Zerodur jest opatentowaną ceramiką szklaną, którą pierwotnie opracowano do termicznej stabilizacji dużych teleskopów kosmicznych. Zerodur Normalne szkło 0.0 ±0.05 µm/metr/ o C Stal α=7,8,5 x 10-6 x1/ o C α = 11,5 x 10-6 x1/ o C 7.8 ± 0.5 µm/metr/ o C 11.5 ± 0.5 µm/metr/ o C ΔL = [α x L x ΔT] ±s Δα
15 Induktosynowe układy pomiarowe 1- liniał 2 i 3 uzwojenia suwaka = 2 mm rozdzielczość = 1 μm niepewność 2-3 μm/1 m
16 Induktosynowe układy pomiarowe 1. Suwak z meandrami 2. Liniał z meandrami 3. Charakterystyka sygnału podstawowego 4. Charakterystyka sygnału wyjściowego
17 Pojemnościowe układy pomiarowe Zasada działania kondensatora różnicowego, składającego się z dwóch okładek umieszczonych w jednej płaszczyźnie (1 i 2) oraz równoległej do nich okładki ruchomej (3)
18 Kodowe układy pomiarowe 1 liniał kodowy 2 źródło światła 3 soczewka 4 fotodetektory 5 kodowe sygnały elektryczne
19 Rodzaje kodów
20 Sposoby eliminacji błędów w układach kodowych 1. Wprowadzenie dodatkowej ścieżki synchronizującej 2. Metoda dwóch równoległych kolumn czujników odczytujących 3. Metoda V e P L1 P L2 L3 P2 P3 l
21 Interferencyjne układy pomiarowe Najprostszy schemat pomiarowy interferometru laserowego oparty jest na układzie Twymana-Greena. 1 laser 2 fotodetektory 3 ukł. formowania impulsów 4 licznik rewersyjny 5 zwierciadło pryzmatyczne 6 płytka światłodzieląca 7 zwierciadło pryzmatyczne
22 Głowice pomiarowe (sondy)
23 Głowice pomiarowe (sondy) Służą do lokalizacji punktów pomiarowych sygnał z przetwornika sondy pozwala sczytać współrzędne lokalizowanego punktu Rodzaje: głowice stykowe: głowice sztywne głowice przełączające (impulsowe) głowice mierzące głowice bezstykowe: laserowe głowice triangulacyjne optoelektroniczne głowice wyposażone w kamerę CCD
24 Głowice przełączające (impulsowe) Rodzaje: głowice z przetwornikiem elektrostykowym głowice z podwójnym przetwornikiem piezoelektrycznym i elektrostykowym
25 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym Głowice z przetwornikiem elektrostykowym 1 korpus 2 sprężyna 3 ramiona 4 pryzmy 5 trzpień 6 mierzony element 1. Korpus 2. Elektrostyki 3. Sprężyna
26 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym TP200 Prod. firmy ang. Renischaw Max powtarzalność jednokierunkowa ±0,40µm (0,14)*, Powtarzalność w płaszczyźnie ±0,80µm (0,105)* Przy l=50mm, V=480mm/min, * W zakupionym egzemplarzu TP-5WAY Powtarzalność jednokierunkowa ±0,35µm, - - w płaszczyźnie ±0,80µm Przy l=10mm, V=480mm/min,
27 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym TP6 Prod. firmy ang. Renischaw ±X, ±Y, +Z Powtarzalność jednokierunkowa ±0,35µm, - - w płaszczyźnie ±0,60µm Przy l=21mm, V=480mm/min, TP12 ±X, ±Y, +Z Powtarzalność jednokierunkowa ±0,25µm, - - w płaszczyźnie ±0,15µm Przy l=10mm, V=480mm/min,
28 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym Głowice pomiarowe TP20 o konstrukcji modułowej firmy Renishaw Moduł trzpienia pomiarowego +przetwornik elektrostykowy Moduł główny do połączenia Do wymiany automatycznej zespołu trzpienia pomiarowego
29 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym Charakterystyka głowicy elektrostykowej
30 Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym i elektrostykowym 1 korpus 2 zespół ruchomy 3 trzpień pomiarowy 4 sensory piezoelektryczne 5 elektrostyki 6 - sprężyna
31 Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym Przykłady głowic prod. Firmy C.Zeiss: ST RST
32 Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym ST-ATAC 6-way < 0,01N Ruch jałowy X,Y:±14mm Z:±7mm Powtarzalność 0,5µm Przy l=60mm i d=8mm
33 Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym i elektrostykowym firmy Renishaw TP200 TP800-2 Moduł główny Moduł główny Moduł trzpienia pomiar. SF,LF, EO Moduł trzpienia pomiarowego SH800
34 Głowica obrotowouchylna Podstawowy zestaw głowic pomiarowych, trzpieni i przedłużaczy z głowicą obrotowo-uchylną PH10T firmy Renishaw Przedłużacze Głowice pomiarowe Trzpienie z końcówkami pomiarowymi
35 Głowice mierzące Rodzaje: głowice z przetwornikiem indukcyjnym głowice z przetwornikiem optoelektronicznym
36 1 układ sprężyn płaskich 2 przetworniki indukcyjne 3 końcówka pomiarowa Głowice z przetwornikiem indukcyjnym Głowica MT Produkcji firmy C.Zeiss
37 Głowice z przetwornikiem indukcyjnym 2002 VAST Navigator
38 Głowice z przetwornikiem indukcyjnym Zasada pomiaru głowicą z przetwornikiem indukcyjnym MK wartość odczytana z układów pomiarowych maszyny TA wartość odczytana z układów pomiarowych głowicy
39 Głowice mierzące z przetwornikiem indukcyjnym Rodzaje pomiaru głowicą mierzącą z przetwornikiem indukcyjnym firmy Zeiss:» pomiar statyczny» pomiar wielopunktowy» pomiar skaningowy» pomiar samocentrujący
40 Głowica HIGH SPEED SCANNING firmy Zeiss Głowica HIGH SPEED SCANNING powiązana z 16-bitowym multiprocesorowym sterowaniem, umożliwia wykonanie pomiarów skaningowych 100-krotnie szybciej od pomiaru głowicą przełączającą.
41 High Speed Scanning Pomiar skaningowy - film 7:21min
42 Głowica VAST i VAST XT firmy Zeiss PARAMETRY 6 way, nacisk pomiarowy od 0,05 do 1N Rozdzielczość 0,05µm Prędkość pomiarowa: -pojedynczych punktów >2s/punkt, -skaning >200punktów/s Zakres skaningu: >±0,3mm głowica VAST 1 >±1,0mm głowica VAST 2 Max wychylenie: ±5mm VAST, ±2 VAST XT Dop.dł.trzpienia: 450mm VAST, 500mm VAST XT
43 Głowica VAST firmy Zeiss
44 Actives Scanning 5:27min
45 Głowica indukcyjna firmy Leitz
46 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Oparte są na wzorcach inkrementalnych Stosowane są w przypadku, gdy występuje potrzeba uzyskiwania większych zakresów pomiarowych. Przykłady: głowica wg patentu DE , firmy Zeiss głowica TL3M1 firmy DEA (dokładność: 3.5 μm oś z, 15 μm oś x i y) głowica MPP-2 firmy Mitutoyo (rozdzielczość 0,5 μm, zakres pomiarowy 4mm)
47 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Schemat głowicy SP25M firmy Renishaw
48 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Głowica SP25M firmy Renishaw Korpus głowicy Moduł kinematyczny Zakres pomiarowy: ±0,5mm Rozdzielczość: 0,1µm Nacisk pomiarowy: 0,2 do 0,6N/mm Zakres ruchu jałowego: X,Y ±2mm, +Z 1,7mm, -Z 1,2mm Moduł skanujący
49 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Głowica SP25M firmy Renishaw
50 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Głowica SP80 firmy Renishaw Zakres pomiarowy: ±2,5mm w każdej osi Rozdzielczość: 0,02µm Nacisk pomiarowy: ok.1,8n
51 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Schemat głowicy SP80 firmy Renishaw Elektryczne połączenia Czytnik optyczny Wiązka światła Wzorce refleksyjne Zespół ruchomy połączony z trzpieniem
52 Głowice mierzące Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw Prędkość przemieszczania 500mm/s Prędkość skanowania 6000p/s
53 Głowice mierzące Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw Łożyska aerostatyczne w obu osiach wysoka sztywność i małe tarcie 0,08 arc-sek obrotowy enkoder synchronizacja z Przyspieszeniomierz wykrywający ruch głowicy i przyspieszenie, zapewnia dynamiczną kompensację geometrii i skręcenia tulei łożyskowej Ultralekkiej konstrukcji końcówka odczytująca ze zintegrowanym laserem i odbiornikiem
54 Głowice mierzące Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw Film
55 Głowice (sondy) bezstykowe
56 Zasada triangulacji Bezstykowa, laserowa głowica triangulacyjna 1 fotolinijka 2 ukł. optyczny 3 przedmiot mierzony 4 pomiarowa wiązka światła 5 dioda laserowa
57 Cechy pomiaru laserowymi głowicami triangulacyjnymi Zalety i wady pomiaru laserowymi głowicami triangulacyjnymi: Zalety:» brak odkształceń mierzonego elementu (brak nacisku pomiarowego)» duża szybkość pomiarów (przy skanowaniu)» stosunkowo duży zakres pomiarowy Wady:» zależność dokładności pomiaru od własności rozpraszających powierzchni mierzonego elementu» mniejsza, w stosunku do głowic stykowych, dokładność
58 Głowice triangulacyjne Głowica OP2, produkcji firmy Renishaw Głowica TP60, produkcji firmy Zeiss
59 Głowice triangulacyjne Głowica laserowa OTP6M firmy Renishaw Laser półprzewodnikowy 5mW =0,68 µm Średnica plamki ok. 50µm Powtarzalność (2s) 2µm Niedokładność lokalizacji punktu ±25 µm w zakresie pomiarowym ±4mm Prędkość pomiaru 0,5-50mm/s
60 Ważniejsze parametry laserowych głowic triangulacyjnych Parametry techniczne Jedn ostka OP2 Renishaw OTP6M Renishaw OP5M Renishaw LTP 60 Zeiss Laser: - dł. fali nm max. moc wyj. mw wiązki pom. µm odl. pracy Y mm zakres pomiarowy Z mm rozdzielczość µm (0.1) - powtarzalność µm 2 ± niedokładność pom. µm 10 ± częstotliwość pom. Hz
61 Głowice triangulacyjne Głowica AutoScan firmy C.Zeiss Skanowanie powierzchni, krawędzi i linii konturowych z prędkością ok.400p/s na szerokości 10mm
62 Głowice triangulacyjne Głowica EAGLEEYE Navigator firmy C.Zeiss Laser generuje linię świetlną uzyskanie wartości punktów na sek.
63 Głowice z kamerą CCD Głowica ViSCAN firmy C.Zeiss Pomiary w zakresie 2D: małe wymiary, np. obwody drukowane, elementy z miękkich materiałów Matryca CCD 1/3, Rozdzielczość: 769(pozioma)x575(pionowa) Rozmiar piksli 6,0x6,0µm Aktywna powierzchnia 4,8x3,6mm Powiększenia od 0,14, 0,3, 0,5 do 8x
64 Głowice z kamerą CCD Głowica QVP firmy Mitutoyo Kamera CCD ½ Kołowe oświetlenie Powiększenia obiektywów 1x, 3x (standard), 5x i 10x Pole obserwacyjne: 9,6x12,8mm, 3,2x4,3mm 1,9x2,2mm, 1x1,3mm Powtarzalność (3s) ±1µm Pomiary otworów, szczelin, rowki, zarysy, kontury, krawędzie, itp.
65 Głowice z kamerą CCD Głowica OPTAS firmy C.Zeiss 1 kamera CCD 2 detektor laserowy 3 dioda laserowa 4 głowica przełączająca 5 czterosegmentowy oświetlacz 6 obiektyw 7 oświetlenie światłowodowe
66 Bezstykowa optoelektroniczna głowica z kamerą CCD Głowica OPTAS, produkcji firmy Zeiss
67 Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych Rodzaje: 1. Zestaw trzpieni pomiarowych, np. układ typu gwiazda, 2. Magazynki ramowe i karuzelowe, 3. Głowice obrotowo-uchylne (tzw. przegubowe)
68 Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych Kalibracja na kuli wzorcowej
69 Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych Konfiguracja trzpieni pomiarowych typu gwiazda, np. pięć trzpieni pomiarowych. Dotarcie do przedmiotu z różnych stron.
70 Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych Konfiguracje trzpieni do głowic firmy C.Zeiss
71 Głowice obrotowo-uchylne Głowica obrotowo-uchylna umożliwia: przestrzenne ustawienie sondy pomiarowej zgodnie z kierunkiem pomiaru, zapewnia dotarcie do powierzchni wewnątrz elementu.
72 Głowice obrotowo-uchylne Głowica PH9, produkcji firmy Renishaw w osi A w osi B rozdzielczość 7,5
73 Głowice obrotowo-uchylne Głowica RDS, firmy Zeiss rozdzielczość kątowa: 2.5 ponad 20 tys. pozycji przestrzennych powtarzalność 1 zakresy przemieszczeń: 180.
74 Magazynki Rodzaje magazynków:» magazynki ramowe» magazynki karuzelowe
75 Dziękuję za uwagę Część III obejmuje oprogramowania
Pomiary skaningowe w technice współrzędnościowej
Pomiary skaningowe w technice współrzędnościowej Pomiary Automatyka Robotyka 5/2009 Eugeniusz Ratajczyk Przedstawiono tendencje rozwoju pomiarów skaningowych, a właściwie głowic pomiarowych pracujących
Bardziej szczegółowowww.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V
W Y D Z I A Ł Z A R Z Ą D Z A N I A www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI proweniencja;
Bardziej szczegółowoWspółrzędnościowa technika pomiarowa. Roboty i centra pomiarowe
Współrzędnościowa technika pomiarowa Roboty i centra pomiarowe 24 sierpnia 2016 Cz. IV. Roboty i centra pomiarowe Roboty pomiarowe - rodzaje, dokładności, zastosowanie Centra pomiarowe Rodzaje mierzonych
Bardziej szczegółowoPrzedmowa Wiadomości ogólne... 17
Spis treści Przedmowa... 13 1. Wiadomości ogólne... 17 1.1. Metrologia i jej podział... 17 1.2. Metrologia wielkości geometrycznych, jej przedmiot i zadania... 20 1.3. Jednostka miary długości... 21 1.4.
Bardziej szczegółowoPOMIARY RĘCZNE I AUTOMATYCZNE NA MASZYNACH WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWYCH
POMIARY RĘCZNE I AUTOMATYCZNE NA MASZYNACH WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWYCH (na przykładzie ZEISS C400 i PowerINSPECT) WSTĘP Współrzędnościowa technika pomiarowa charakteryzuje się odmienną od klasycznej metrologii
Bardziej szczegółowoPomiar prędkości obrotowej
2.3.2. Pomiar prędkości obrotowej Metody: Kontaktowe mechaniczne (prądniczki tachometryczne różnych typów), Bezkontaktowe: optyczne (światło widzialne, podczerwień, laser), elektromagnetyczne (indukcyjne,
Bardziej szczegółowoProf. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia
Prof. Eugeniusz RATAJCZYK Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Rodzaje odchyłek - symbole Odchyłki kształtu okrągłości prostoliniowości walcowości płaskości przekroju wzdłuŝnego Odchyłki
Bardziej szczegółowoMechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki)
Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Sensory (czujniki) 1 Zestawienie najważniejszych wielkości pomiarowych w układach mechatronicznych Położenie (pozycja), przemieszczenie Prędkość liniowa,
Bardziej szczegółowoProf. Eugeniusz RATAJCZYK. Czujniki pomiarowe
Prof. Eugeniusz RATAJCZYK Czujniki pomiarowe Podział czujników wg rodzajów przetworników Czujniki pomiarowe Mechaniczne Mechaniczno Indukcyjne Pojemno- Pneumatyczne Optelektroniczne Optoelektroniczne -optyczne
Bardziej szczegółowoPOMIARY WZDŁUś OSI POZIOMEJ
POMIARY WZDŁUś OSI POZIOMEJ Długościomierze pionowe i poziome ( Abbego ) Długościomierz poziomy Abbego czytnik + interpolator wzorca Wzorzec kreskowy zwykły lub inkrementalny Mierzony element urządzenie
Bardziej szczegółowoWspółrzędnościowe maszyny pomiarowe
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe współrzędnościowe maszyny pomiarowe QM-M 333 Crysta-Plus M strona 434 współrzędnościowe maszyny pomiarowe CNC Crysta-Apex C strony 435 437 współrzędnościowe maszyny
Bardziej szczegółowoWspółrzędnościowa technika pomiarowa. Współrzędnościowa technika pomiarowa
Roboty i centra pomiarowe Cz. IV. Roboty i centra pomiarowe Roboty pomiarowe - rodzaje, dokładności, zastosowanie Centra pomiarowe Rodzaje mierzonych przedmiotów Roboty pomiarowe Podstawowe zespoły 1 zespół
Bardziej szczegółowoSpis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania
Spis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania 1.1. Przedmiot metrologii 1.2. Rola i zadania metrologii współczesnej w procesach produkcyjnych 1.3. Główny Urząd Miar i inne instytucje ważne
Bardziej szczegółowoPRZETWORNIKI POMIAROWE
PRZETWORNIKI POMIAROWE PRZETWORNIK POMIAROWY element systemu pomiarowego, który dokonuje fizycznego przetworzenia z określoną dokładnością i według określonego prawa mierzonej wielkości na inną wielkość
Bardziej szczegółowo6 Pomiary. współrzędnościowe. Zakres i cel ćwiczenia: Konieczne przyrządy i materiały: Zbigniew Humienny LABORATORIUM METROLOGII
LABORATORIUM METROLOGII 6 Pomiary współrzędnościowe Zakres i cel ćwiczenia: Zbigniew Humienny o Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie koncepcji pomiarów współrzędnościowych na przykładzie pomiaru części
Bardziej szczegółowoSpektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej
Bardziej szczegółowoPolitechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki
Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie
Bardziej szczegółowoCoordinate Measuring Machines (CMM s) Część I
Coordinate Measuring Machines (CMM s) Część I 1. Istota pomiarów współrzędnościowych, rodzaj mierzonych elementów. 2. Główne zespoły maszyn pomiarowych i ich funkcje. 3. Rodzaje konstrukcji maszyn przykłady
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej
Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki
Bardziej szczegółowoZastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska
Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody
Bardziej szczegółowoWideoSondy - Pomiary. Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go. Metoda Porównawcza. Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe)
Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go Metoda Porównawcza Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe) Metoda Stereo Metoda Porównawcza Metoda Cienia - ShadowProbe Metoda Stereo Metoda Porównawcza
Bardziej szczegółowoK-Series Optyczna WMP. Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne. www.smart-solutions.pl WWW.METRIS.COM
K-Series Optyczna WMP Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne Spis treści Optyczna WMP Przegląd Cechy i Zalety Technologia Optycznej WMP K-Series hardware Zastosowania K-Scan - skaning ręczny
Bardziej szczegółowoWZORCE I PODSTAWOWE PRZYRZĄDY POMIAROWE
WZORCE I PODSTAWOWE PRZYRZĄDY POMIAROWE 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest: 1. Poznanie podstawowych pojęć z zakresu metrologii: wartość działki elementarnej, długość działki elementarnej, wzorzec,
Bardziej szczegółowoPomiary gwintów w budowie maszyn / Jan Malinowski, Władysław Jakubiec, Wojciech Płowucha. wyd. 2. Warszawa, Spis treści.
Pomiary gwintów w budowie maszyn / Jan Malinowski, Władysław Jakubiec, Wojciech Płowucha. wyd. 2. Warszawa, 2010 Spis treści Przedmowa 9 1. Wiadomości ogólne 11 1.1. Podział i przeznaczenie gwintów 11
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)
Bardziej szczegółowoRodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI)
Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI) Kierownik: Małgorzata Kujawińska Wykonawcy: Leszek Sałbut, Dariusz Łukaszewski, Jerzy Krężel
Bardziej szczegółowoLASERY I ICH ZASTOSOWANIE
LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 5 Temat: Interferometr Michelsona 7.. Cel i zakres ćwiczenia 7 INTERFEROMETR MICHELSONA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i
Bardziej szczegółowoBadania powtarzalności złącza magnetycznego modułowych głowic stosowanych we współrzędnościowych maszynach pomiarowych
BIULETYN WAT VOL. LVIII, NR 1, 2009 Badania powtarzalności złącza magnetycznego modułowych głowic stosowanych we współrzędnościowych maszynach pomiarowych ADAM WOŹNIAK, PRZEMYSŁAW OSAK Politechnika Warszawska,
Bardziej szczegółowoŚLĄSKIE TECHNICZNE ZAKŁADY NAUKOWE W KATOWICACH PRACA DYPLOMOWA
ŚLĄSKIE TECHNICZNE ZAKŁADY NAUKOWE W KATOWICACH PRACA DYPLOMOWA Temat: Rola maszyn współrzędnościowych stosowanych w UAR. Zabezpieczenia taśmociągu. Promotor: mgr inŝ. Ireneusz BOCZEK Pracę wykonał: Rafał
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 06/ WUP 06/17
PL 226027 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226027 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 405218 (22) Data zgłoszenia: 02.09.2013 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPomiary drogi (przemieszczenia) i kąta [5]
Pomiary drogi (przemieszczenia) i kąta [5] Metody potencjometryczne Odwzorowanie wielkości wejściowej (droga, kąt) w zmianę oporności (R(x)). Obiekt pomiaru łączony jest bezpośrednio lub za pomocą przekładni
Bardziej szczegółowoSystemy obróbki obrazu
Systemy obróbki obrazu system obróbki obrazu QUICK IMAGE system obróbki obrazu QUICK SCOPE manualny system obróbki obrazu QUICK SCOPE CNC strona 424 strona 425 strona 425 system obróbki obrazu 3D CNC QUICK
Bardziej szczegółowoMetrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie
Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Przyrządy z noniuszami: Noniusz jest pomocniczą podziałką, służącą do powiększenia dokładności
Bardziej szczegółowoContracer CV Seria Przyrządy do pomiaru konturu Przyrząd przeznaczony do "łatwych" i "szybkich" pomiarów konturu.
Contracer CV-2100 Przyrząd przeznaczony do "łatwych" i "szybkich" pomiarów konturu. Contracer CV-2100N4 oraz CV-2100M4 oferują następujące korzyści: Szybki i prosty a jednocześnie zawansowany pomiar konturu.
Bardziej szczegółowoĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń
Akademia Górniczo Hutnicza Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki Katedra Wytrzymałości, Zmęczenia Materiałów i Konstrukcji Nazwisko i Imię: Nazwisko i Imię: Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Grupa
Bardziej szczegółowoNowe rodzaje współrzędnościowych maszyn pomiarowych i oznaczenia ich parametrów Część II: Przykłady maszyn o konstrukcji portalowej
462 MECHANIK NR 5 6/2017 Nowe rodzaje współrzędnościowych maszyn pomiarowych i oznaczenia ich parametrów Część II: Przykłady maszyn o konstrukcji portalowej New types of coordinate measuring machines and
Bardziej szczegółowoContracer CV-1000 i CV-2000
Contracer CV-1000 i CV-2000 Zakres pomiarowy CV-1000 : Z1 = 25 mm CV-1000 : X = 50 mm CV-2000 : Z1 = 40mm CV-2000 : X = 100mm Prędkość pomiaru 0,2 mm/s; 0,5 mm/s Dokładność X = (3,5+2L/100) µm [ L : Długość
Bardziej szczegółowoĆw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2010/2011) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych
Bardziej szczegółowoPOMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI
POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI Mikrogeometria (chropowatość i falistość), Makrogeometria (odchyłki kształtu) Podział s h Ilustracja graficzna chropowatości powierzchni szlifowanej s/h
Bardziej szczegółowoMaszyny i roboty pomiarowe
Prof.Eugeniusz Ratajczyk Maszyny i roboty pomiarowe Część III Procedury pomiarowe i ich oprogramowania 24 sierpnia 2016 Współrzędnościowe Maszyny Pomiarowe Część I Część II 1. Istota pomiarów współrzędnościowych
Bardziej szczegółowoBadania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L)
Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 23. Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych (ESPI) do badania elementów maszyn. Opracowanie: Ewelina Świątek-Najwer
Bardziej szczegółowo(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL 176148 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307963 (22) Data zgłoszenia: 30.03.1995 (51) IntCl6 G01B 5/20 (54) Sposób
Bardziej szczegółowoSpecjalistyczne Instrumenty W Pomiarach Inżynieryjnych S I W P I
Specjalistyczne Instrumenty W Pomiarach Inżynieryjnych S I W P I NIWELATORY LASEROWE Niwelatory z wiązką obrotową lasera (obrót ruchomej głowicy) wyznaczają płaszczyznę odniesienia (poziomą, pionową lub
Bardziej szczegółowoPolitechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej. Laboratorium Badania Maszyn CNC. Nr 1
Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium Badania Maszyn CNC Nr 1 Pomiary dokładności pozycjonowania laserowym systemem pomiarowym ML-10 Opracował: Dr inż. Wojciech Ptaszyński
Bardziej szczegółowoAparat do magnetoterapii. MagneticWave - CTL 1109-1 mini. Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1. Aparat do magnetoterapii
APARATY DO MAGNETOTERAPII ORAZ akcesoria do ich wyposażenia Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1 mini Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1 Aparat do magnetoterapii MagneticWave
Bardziej szczegółowoLaserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak
Laserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak Nasdaq: IPG Photonics(IPGP) Zasada działania laserów włóknowych Modułowość laserów włóknowych IPG
Bardziej szczegółowoStruktura układu pomiarowego drgań mechanicznych
Wstęp Diagnostyka eksploatacyjna maszyn opiera się na obserwacji oraz analizie sygnału uzyskiwanego za pomocą systemu pomiarowego. Pomiar sygnału jest więc ważnym, integralnym jej elementem. Struktura
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoLeica Rugby 420 NIWELATOR LASEROWY Leica Rugby 420 ZESTAW DIGITAL SET NIWELATOR LASEROWY Leica Rugby 420 ZESTAW DIGITAL SET Precyzyjny laser dwuspadkowy Najtwardszy gracz na placu budowy Wiązka czerwona,
Bardziej szczegółowo2. Pomiar drgań maszyny
2. Pomiar drgań maszyny Stanowisko laboratoryjne tworzą: zestaw akcelerometrów, przedwzmacniaczy i wzmacniaczy pomiarowych z oprzyrządowaniem (komputery osobiste wyposażone w karty pomiarowe), dwa wzorcowe
Bardziej szczegółowoŚWIADECTWO WZORCOWANIA
LP- MET Laboratorium Pomiarów Metrologicznych Długości i Kąta ul. Dobrego Pasterza 106; 31-416 Kraków tel. (+48) 507929409; (+48) 788652233 e-mail: lapmet@gmail.com http://www.lpmet..pl LP-MET Laboratorium
Bardziej szczegółowoLaserowy mikrometr skanujący Strona 376. Moduł wyświetlający LSM Strona 377
Systemy sensoryczne - LSM Zestaw laserowego mikrometru skanującego i wskaźnika Strona 372 Moduł pomiarowy laserowego mikrometra skanującego Strona 373 Laserowy mikrometr skanujący Strona 376 Moduł wyświetlający
Bardziej szczegółowoXX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ
XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane 12-14 marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ Tomasz KATZ, Instytut Lotnictwa, Warszawa katz@ilot.edu.pl 1.
Bardziej szczegółowoZ a p r o s z e n i e n a W a r s z t a t y
Carl Zeiss Sp. z o.o. Metrologia Przemysłowa Z a p r o s z e n i e n a W a r s z t a t y 09-1 3. 0 5. 2 0 1 6 - M i k o ł ó w 16-2 0. 0 5. 2 0 1 6 - W a r s z a w a Temat: AUKOM Level 1 Zapraszamy wszystkich
Bardziej szczegółowoPoziome centra obróbkowe TBI SH 1000 (SK50)
Poziome centra obróbkowe TBI SH 1000 (SK50) Precyzyjna, seryjna obróbka wielostronna oraz obróbka dużych skomplikowanych detali przestrzennych w jednym zamocowaniu. Ver_052017_02 Dbamy o solidną podstawę
Bardziej szczegółowoKlasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar
Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar Przyrządy suwmiarkowe Przyrządy mikrometryczne wg. Jan Malinowski Pomiary długości i kąta w budowie maszyn Przyrządy pomiarowe Czujniki Maszyny pomiarowe
Bardziej szczegółowoRoboty i centra pomiarowe
Roboty i centra pomiarowe Eugeniusz Ratajczyk Pomiary współrzędnościowe są obecnie najbardziej zaawansowanym technicznie działem metrologii wielkości geometrycznych. Dzięki współrzędnościowym maszynom
Bardziej szczegółowoCzujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.
Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni
Bardziej szczegółowoProjektowanie systemów pomiarowych
Projektowanie systemów pomiarowych 08 Pomiary wybranych wielkości fizycznych (przemieszczenia, położenie, odległość) http://www.idownloadblog.com 1 1 Przetworniki do pomiaru przemieszczeń liniowych wykorzystywane
Bardziej szczegółowoCzujniki i urządzenia pomiarowe
Czujniki i urządzenia pomiarowe Czujniki zbliŝeniowe (krańcowe), detekcja obecności Wyłączniki krańcowe mechaniczne Dane techniczne Napięcia znamionowe 8-250VAC/VDC Prądy ciągłe do 10A śywotność mechaniczna
Bardziej szczegółowoGłębokościomierz mikrometryczny
Głębokościomierz mikrometryczny Wzorzec długości Bęben i tuleja matowo chromowane, ø 18 mm pomiarowy 25 mm Skok gwintu wrzeciona 0,5 mm z blokadą wrzeciona Błąd posuwu głowicy ±3 µm (0-25 mm) Płaskość
Bardziej szczegółowoPomiar przemieszczeń i prędkości liniowych i kątowych
POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA TRANSPORTU SZYNOWEGO LABORATORIUM DIAGNOSTYKI POJAZDÓW SZYNOWYCH ĆWICZENIE 11 Pomiar przemieszczeń i prędkości liniowych i kątowych Katowice, 2009.10.01 1.
Bardziej szczegółowoPL B1. MAXSTAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 05/14
PL 222028 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222028 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400506 (22) Data zgłoszenia: 24.08.2012 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 10/12
PL 220157 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220157 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 392822 (51) Int.Cl. G01P 5/02 (2006.01) G01F 1/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoLaboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Bardziej szczegółowoLaserowy Mikrometr Skanujący Strona 418. Laserowy mikrometr skanujący Strona 423. Moduł wyświetlający LSM Strona 424
Skaningowe mikrometry laserowe LSM Laserowy Mikrometr Skanujący Strona 418 Zestaw laserowego mikrometru skanującego i wyświetlacza Strona 419 Moduł pomiarowy laserowego mikrometra skanującego Strona 420
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych
Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie
Bardziej szczegółowoCzujniki światłowodowe
Czujniki światłowodowe Pomiar wielkości fizycznych zaburzających propagację promieniowania Idea pomiaru Dioda System optyczny Odbiornik Wejście pośrednie przez modulator Wielkość mierzona wejście czujnik
Bardziej szczegółowoCENNIK USŁUG METROLOGICZNYCH obowiązuje od 01 stycznia 2018r.
1 23 4 5 6 7 8 Centrum Metrologii Nr 1 CENNIK USŁUG METROLOGICZNYCH obowiązuje od 01 stycznia 2018r. Wzorcowanie przyrządów pomiarowych z zakresu długości i kąta ( w Laboratorium CM-KALIBRATOR) Przyrząd
Bardziej szczegółowoĆw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (../..) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
Bardziej szczegółowoZAPRASZA DO SKŁADNIA OFERT
Świebodzice, dnia 26.05.2014 r. Zapytanie ofertowe z siedzibą,, NIP 8842183229, REGON 891019481 realizuje projekt w ramach Regionalnego Programu Operacyjnego dla Województwa Dolnośląskiego na lata 2007-2013
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej
Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoHeight Master Strona 313. Check Master Strona 317. Narzędzia kalibracyjne Strona 322
Przyrządy kalibracyjne Height Master Strona 313 Check Master Strona 317 Narzędzia kalibracyjne Strona 322 312 Wymienione ceny są sugerowanymi cenami detalicznymi (ważne do 31 maja 2018). Wszystkie produkty
Bardziej szczegółowoLC15Dx laserowa głowica skanująca dla maszyn WMP/CMM Wysoka dokładność pomiaru jak w sondach stykowych
LC15Dx laserowa głowica skanująca dla maszyn WMP/CMM Wysoka dokładność pomiaru jak w sondach stykowych Spis treści Propozycja wysokiej jakości Cechy & Zalety Dane techniczne Zastosowania Propozycja wysokiej
Bardziej szczegółowo(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)167818 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 3 7 2 5 (22) Data zgłoszenia: 0 6.0 3.1 9 9 2 (51) Intcl6: B61K9/12
Bardziej szczegółowoUCZESTNICY POSTĘPOWANIA
ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia
Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie
Bardziej szczegółowoMG-02L SYSTEM LASEROWEGO POMIARU GRUBOŚCI POLON-IZOT
jednoczesny pomiar grubości w trzech punktach niewrażliwość na drgania automatyczna akwizycja i wizualizacja danych pomiarowych archiwum pomiarów analizy statystyczne dla potrzeb systemu zarządzania jakością
Bardziej szczegółowoZbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT
1 Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie 2 Plan prezentacji 1. Skanowanie laserowe 3D informacje ogólne; 2. Proces skanowania; 3. Proces
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH
Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji WYDZIAŁ BUDOWY MASZYN I LOTNICTWA INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Przedmiot: DIAGNOSTYKA I NADZOROWANIE SYSTEMÓW OBRÓBKOWYCH Temat: Pomiar charakterystyk
Bardziej szczegółowoRoboty przemysłowe. Cz. II
Roboty przemysłowe Cz. II Klasyfikacja robotów Ze względu na rodzaj napędu: - hydrauliczny (duże obciążenia) - pneumatyczny - elektryczny - mieszany Obecnie roboty przemysłowe bardzo często posiadają napędy
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego
PL 223315 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223315 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399459 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowo5-osiowe centrum obróbkowe TBI U5
5-osiowe centrum obróbkowe TBI U5 Bogaty standard wyposażenia dedykowany do obróbki skomplikowanych kształtów w pięciu płaszczyznach. TBI Technology Sp. z o.o. ul. Bosacka 52 47-400 Racibórz tel.: +48
Bardziej szczegółowoPomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Bardziej szczegółowoZastrzeżony znak handlowy Copyright Institut Dr. Foerster 2010. Koercyjne natężenie pola Hcj
Zastrzeżony znak handlowy Copyright Institut Dr. Foerster 2010 Koercyjne natężenie pola Hcj KOERZIMAT 1.097 HCJ jest sterowanym komputerowo przyrządem pomiarowym do szybkiego, niezależnego od geometrii
Bardziej szczegółowoElometer CG100: Mierniki korozyjności
Elometer CG100: i korozyjności Dostępne są cztery modele mierników z serii CG100: CG100B, CG100BDL, CG100ABDL oraz CG100ABDL+ Podstawowe cechy wspólne mierników: Tryby pomiarowe: P-E /P-ETEMP/ E-E ThruPaint/EEV/CT
Bardziej szczegółowoKARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych Electrical measurements
Bardziej szczegółowoWymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej
Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań
Bardziej szczegółowoWYBRANE PROBLEMY WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNIKI POMIAROWEJ. Jerzy Sładek (red.) i inni
WYBRANE PROBLEMY WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNIKI POMIAROWEJ Jerzy Sładek (red.) i inni Bielsko-Biała 2012 Redaktor Naczelny: prof. dr hab. Kazimierz Nikodem Redaktor Działu: Sekretarz Redakcji: Skład i łamanie:
Bardziej szczegółowoMatliX + MatliX MS. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni
MatliX + MatliX MS Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Matlix jest prostym urządzeniem do wizyjnej kontroli wymiarów i powierzchni komponentów o okrągłych oraz innych
Bardziej szczegółowoNarzędzia budowlane NARZĘDZIA BUDOWLANE
Narzędzia budowlane NARZĘDZIA BUDOWLANE 42 Lasery do glazury i wyznaczania pionu/poziomu DW060K Laser do układania glazury DW099P Laser 3-wiązkowy do pionu, poziomu oraz kąta prostego DW082K Laser do pionu
Bardziej szczegółowo(54) Przyrząd do pomiaru liniowych odchyleń punktów od kolimacyjnych płaszczyzn
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)166470 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 293448 (51) IntCl6: G01C 15/00 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 11.02.1992 (54)
Bardziej szczegółowoMetody Optyczne w Technice. Wykład 5 Interferometria laserowa
Metody Optyczne w Technice Wykład 5 nterferometria laserowa Promieniowanie laserowe Wiązka monochromatyczna Duża koherencja przestrzenna i czasowa Niewielka rozbieżność wiązki Duża moc Największa możliwa
Bardziej szczegółowoDATAFLEX. Miernik momentu obrotowego DATAFLEX. Aktualizowany na bieżąco katalog dostępny na stronie www.ktr.com
307 Spis treści 307 Opis urządzenia 309 Typ 16/10, 16/30, 16/50 310 Akcesoria: RADEX -NC sprzęgło do serwonapędów 310 Typ 22/20, 22/50, 22/100 311 Akcesoria: RADEX -NC sprzęgło do serwonapędów 311 Typ
Bardziej szczegółowoGłębokościomierze mikrometryczne Strona 223. Głębokościomierze Strona 226. Wyposażenie głębokościomierzy Strona 232
Przyrządy do pomiaru głębokości Głębokościomierze mikrometryczne Strona 223 Głębokościomierze Strona 226 Wyposażenie głębokościomierzy Strona 232 222 Głębokościomierze mikrometryczne Skala Bęben i tuleja
Bardziej szczegółowoBadania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Zastosowanie systemu nawigacyjnego w pomiarach geometrii elementów maszyn. Ćwiczenie 22.
Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 22. Zastosowanie systemu nawigacyjnego w pomiarach geometrii Przygotowanie: Ewelina Świątek-Najwer Wstęp teoretyczny: Rodzaje systemów
Bardziej szczegółowoII. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego
1 II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej termicznego źródła promieniowania (lampa halogenowa)
Bardziej szczegółowo