Maszyny i roboty pomiarowe

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Maszyny i roboty pomiarowe"

Transkrypt

1 Prof.Eugeniusz Ratajczyk Maszyny i roboty pomiarowe Część II Układy pomiarowe Głowice (sondy) pomiarowe 24 sierpnia 2016

2 Współrzędnościowe Maszyny Pomiarowe Część I Część II 1. Istota pomiarów współrzędnościowych 2. Główne zespoły maszyn i ich funkcje 3. Rodzaje konstrukcji maszyn Układy pomiarowe Głowice (sondy) pomiarowe Część III. Oprogramowania Część IV. Część V. Roboty i centra pomiarowe Ramiona pomiarowe Część VI. Skaning pasywny, skaning aktywny 24 sierpnia 2016

3 Układy pomiarowe Rodzaje układów pomiarowych: tarczowe odmierzają wartości kąta liniowe odmierzają wartości długości inkrementalne kodowe interferencyjne 24 sierpnia 2016

4 Inkrementalne układy pomiarowe Rodzaje: optoelektroniczne wzorzec w postaci liniału z ciemnymi i jasnymi polami ułożonymi na przemian, o okresie (stałej wzorca) w przedziale μm (niepewność 2-3 μm/1 m przy rozdzielczości 1 μm) induktosynowe wykorzystują zjawisko indukcji magnetycznej, powstające pomiędzy uzwojeniami suwaka i liniału w postaci meandrów o okresie 2 4 μm (niepewność 3-5 μm/1 m) pojemnościowe podstawowym elementem pomiarowym jest kondensator różnicowy

5 Optoelektroniczne układy pomiarowe transmisyjne pracujące w świetle przechodzącym refleksyjne pracujące w świetle odbitym

6 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układ odczytowy z przeciwwzorcem dającym efekt moire a 1 oświetlacz 2 soczewka 3 fotoelement 4 płytka stanowiąca przeciwwzorzec 5 liniał inkrementalny

7 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układ odczytowy z przeciwwzorcem dającym efekt moire a D d1 d2 D dw

8 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układ odczytowy z przeciwwzorcem z okienkami przesuniętymi w fazie 1 oświetlacz 2 soczewka 3 fotoelement 4 płytka stanowiąca przeciwwzorzec 5 liniał inkrementalny

9 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układ odczytowy z przeciwwzorcem z okienkami przesuniętymi w fazie wzorzec

10 Optoelektroniczne układy pomiarowe Przebieg sygnałów w układach optoelektronicznych

11 Optoelektroniczne układy pomiarowe Przebieg sygnałów w układach optoelektronicznych przesuniecie fazowe rezultat kompensacja składowej stałej wykrycie kierunku ruchu

12 Optoelektroniczne układy pomiarowe Układy pomiarowe Renishaw serii RG z siatką dyfrakcyjną RGS 20 RGS 42 Rozdzielczość wyjściowa 5, 1, 0,5, 0,1 lub 0,05µm

13 Optoelektroniczne układy pomiarowe Charakterystyka układów pomiarowych RGS 20 i RGS42 Błąd nieliniowości: ±0,75µm na 60mm lub ±3µm na 1m

14 Materiał na wzorce optoelektroniczne Zerodur jest opatentowaną ceramiką szklaną, którą pierwotnie opracowano do termicznej stabilizacji dużych teleskopów kosmicznych. Zerodur Normalne szkło 0.0 ±0.05 µm/metr/ o C Stal α=7,8,5 x 10-6 x1/ o C α = 11,5 x 10-6 x1/ o C 7.8 ± 0.5 µm/metr/ o C 11.5 ± 0.5 µm/metr/ o C ΔL = [α x L x ΔT] ±s Δα

15 Induktosynowe układy pomiarowe 1- liniał 2 i 3 uzwojenia suwaka = 2 mm rozdzielczość = 1 μm niepewność 2-3 μm/1 m

16 Induktosynowe układy pomiarowe 1. Suwak z meandrami 2. Liniał z meandrami 3. Charakterystyka sygnału podstawowego 4. Charakterystyka sygnału wyjściowego

17 Pojemnościowe układy pomiarowe Zasada działania kondensatora różnicowego, składającego się z dwóch okładek umieszczonych w jednej płaszczyźnie (1 i 2) oraz równoległej do nich okładki ruchomej (3)

18 Kodowe układy pomiarowe 1 liniał kodowy 2 źródło światła 3 soczewka 4 fotodetektory 5 kodowe sygnały elektryczne

19 Rodzaje kodów

20 Sposoby eliminacji błędów w układach kodowych 1. Wprowadzenie dodatkowej ścieżki synchronizującej 2. Metoda dwóch równoległych kolumn czujników odczytujących 3. Metoda V e P L1 P L2 L3 P2 P3 l

21 Interferencyjne układy pomiarowe Najprostszy schemat pomiarowy interferometru laserowego oparty jest na układzie Twymana-Greena. 1 laser 2 fotodetektory 3 ukł. formowania impulsów 4 licznik rewersyjny 5 zwierciadło pryzmatyczne 6 płytka światłodzieląca 7 zwierciadło pryzmatyczne

22 Głowice pomiarowe (sondy)

23 Głowice pomiarowe (sondy) Służą do lokalizacji punktów pomiarowych sygnał z przetwornika sondy pozwala sczytać współrzędne lokalizowanego punktu Rodzaje: głowice stykowe: głowice sztywne głowice przełączające (impulsowe) głowice mierzące głowice bezstykowe: laserowe głowice triangulacyjne optoelektroniczne głowice wyposażone w kamerę CCD

24 Głowice przełączające (impulsowe) Rodzaje: głowice z przetwornikiem elektrostykowym głowice z podwójnym przetwornikiem piezoelektrycznym i elektrostykowym

25 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym Głowice z przetwornikiem elektrostykowym 1 korpus 2 sprężyna 3 ramiona 4 pryzmy 5 trzpień 6 mierzony element 1. Korpus 2. Elektrostyki 3. Sprężyna

26 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym TP200 Prod. firmy ang. Renischaw Max powtarzalność jednokierunkowa ±0,40µm (0,14)*, Powtarzalność w płaszczyźnie ±0,80µm (0,105)* Przy l=50mm, V=480mm/min, * W zakupionym egzemplarzu TP-5WAY Powtarzalność jednokierunkowa ±0,35µm, - - w płaszczyźnie ±0,80µm Przy l=10mm, V=480mm/min,

27 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym TP6 Prod. firmy ang. Renischaw ±X, ±Y, +Z Powtarzalność jednokierunkowa ±0,35µm, - - w płaszczyźnie ±0,60µm Przy l=21mm, V=480mm/min, TP12 ±X, ±Y, +Z Powtarzalność jednokierunkowa ±0,25µm, - - w płaszczyźnie ±0,15µm Przy l=10mm, V=480mm/min,

28 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym Głowice pomiarowe TP20 o konstrukcji modułowej firmy Renishaw Moduł trzpienia pomiarowego +przetwornik elektrostykowy Moduł główny do połączenia Do wymiany automatycznej zespołu trzpienia pomiarowego

29 Głowice z przetwornikiem elektrostykowym Charakterystyka głowicy elektrostykowej

30 Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym i elektrostykowym 1 korpus 2 zespół ruchomy 3 trzpień pomiarowy 4 sensory piezoelektryczne 5 elektrostyki 6 - sprężyna

31 Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym Przykłady głowic prod. Firmy C.Zeiss: ST RST

32 Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym ST-ATAC 6-way < 0,01N Ruch jałowy X,Y:±14mm Z:±7mm Powtarzalność 0,5µm Przy l=60mm i d=8mm

33 Głowice z przetwornikiem piezoelektrycznym i elektrostykowym firmy Renishaw TP200 TP800-2 Moduł główny Moduł główny Moduł trzpienia pomiar. SF,LF, EO Moduł trzpienia pomiarowego SH800

34 Głowica obrotowouchylna Podstawowy zestaw głowic pomiarowych, trzpieni i przedłużaczy z głowicą obrotowo-uchylną PH10T firmy Renishaw Przedłużacze Głowice pomiarowe Trzpienie z końcówkami pomiarowymi

35 Głowice mierzące Rodzaje: głowice z przetwornikiem indukcyjnym głowice z przetwornikiem optoelektronicznym

36 1 układ sprężyn płaskich 2 przetworniki indukcyjne 3 końcówka pomiarowa Głowice z przetwornikiem indukcyjnym Głowica MT Produkcji firmy C.Zeiss

37 Głowice z przetwornikiem indukcyjnym 2002 VAST Navigator

38 Głowice z przetwornikiem indukcyjnym Zasada pomiaru głowicą z przetwornikiem indukcyjnym MK wartość odczytana z układów pomiarowych maszyny TA wartość odczytana z układów pomiarowych głowicy

39 Głowice mierzące z przetwornikiem indukcyjnym Rodzaje pomiaru głowicą mierzącą z przetwornikiem indukcyjnym firmy Zeiss:» pomiar statyczny» pomiar wielopunktowy» pomiar skaningowy» pomiar samocentrujący

40 Głowica HIGH SPEED SCANNING firmy Zeiss Głowica HIGH SPEED SCANNING powiązana z 16-bitowym multiprocesorowym sterowaniem, umożliwia wykonanie pomiarów skaningowych 100-krotnie szybciej od pomiaru głowicą przełączającą.

41 High Speed Scanning Pomiar skaningowy - film 7:21min

42 Głowica VAST i VAST XT firmy Zeiss PARAMETRY 6 way, nacisk pomiarowy od 0,05 do 1N Rozdzielczość 0,05µm Prędkość pomiarowa: -pojedynczych punktów >2s/punkt, -skaning >200punktów/s Zakres skaningu: >±0,3mm głowica VAST 1 >±1,0mm głowica VAST 2 Max wychylenie: ±5mm VAST, ±2 VAST XT Dop.dł.trzpienia: 450mm VAST, 500mm VAST XT

43 Głowica VAST firmy Zeiss

44 Actives Scanning 5:27min

45 Głowica indukcyjna firmy Leitz

46 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Oparte są na wzorcach inkrementalnych Stosowane są w przypadku, gdy występuje potrzeba uzyskiwania większych zakresów pomiarowych. Przykłady: głowica wg patentu DE , firmy Zeiss głowica TL3M1 firmy DEA (dokładność: 3.5 μm oś z, 15 μm oś x i y) głowica MPP-2 firmy Mitutoyo (rozdzielczość 0,5 μm, zakres pomiarowy 4mm)

47 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Schemat głowicy SP25M firmy Renishaw

48 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Głowica SP25M firmy Renishaw Korpus głowicy Moduł kinematyczny Zakres pomiarowy: ±0,5mm Rozdzielczość: 0,1µm Nacisk pomiarowy: 0,2 do 0,6N/mm Zakres ruchu jałowego: X,Y ±2mm, +Z 1,7mm, -Z 1,2mm Moduł skanujący

49 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Głowica SP25M firmy Renishaw

50 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Głowica SP80 firmy Renishaw Zakres pomiarowy: ±2,5mm w każdej osi Rozdzielczość: 0,02µm Nacisk pomiarowy: ok.1,8n

51 Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym Schemat głowicy SP80 firmy Renishaw Elektryczne połączenia Czytnik optyczny Wiązka światła Wzorce refleksyjne Zespół ruchomy połączony z trzpieniem

52 Głowice mierzące Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw Prędkość przemieszczania 500mm/s Prędkość skanowania 6000p/s

53 Głowice mierzące Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw Łożyska aerostatyczne w obu osiach wysoka sztywność i małe tarcie 0,08 arc-sek obrotowy enkoder synchronizacja z Przyspieszeniomierz wykrywający ruch głowicy i przyspieszenie, zapewnia dynamiczną kompensację geometrii i skręcenia tulei łożyskowej Ultralekkiej konstrukcji końcówka odczytująca ze zintegrowanym laserem i odbiornikiem

54 Głowice mierzące Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw Film

55 Głowice (sondy) bezstykowe

56 Zasada triangulacji Bezstykowa, laserowa głowica triangulacyjna 1 fotolinijka 2 ukł. optyczny 3 przedmiot mierzony 4 pomiarowa wiązka światła 5 dioda laserowa

57 Cechy pomiaru laserowymi głowicami triangulacyjnymi Zalety i wady pomiaru laserowymi głowicami triangulacyjnymi: Zalety:» brak odkształceń mierzonego elementu (brak nacisku pomiarowego)» duża szybkość pomiarów (przy skanowaniu)» stosunkowo duży zakres pomiarowy Wady:» zależność dokładności pomiaru od własności rozpraszających powierzchni mierzonego elementu» mniejsza, w stosunku do głowic stykowych, dokładność

58 Głowice triangulacyjne Głowica OP2, produkcji firmy Renishaw Głowica TP60, produkcji firmy Zeiss

59 Głowice triangulacyjne Głowica laserowa OTP6M firmy Renishaw Laser półprzewodnikowy 5mW =0,68 µm Średnica plamki ok. 50µm Powtarzalność (2s) 2µm Niedokładność lokalizacji punktu ±25 µm w zakresie pomiarowym ±4mm Prędkość pomiaru 0,5-50mm/s

60 Ważniejsze parametry laserowych głowic triangulacyjnych Parametry techniczne Jedn ostka OP2 Renishaw OTP6M Renishaw OP5M Renishaw LTP 60 Zeiss Laser: - dł. fali nm max. moc wyj. mw wiązki pom. µm odl. pracy Y mm zakres pomiarowy Z mm rozdzielczość µm (0.1) - powtarzalność µm 2 ± niedokładność pom. µm 10 ± częstotliwość pom. Hz

61 Głowice triangulacyjne Głowica AutoScan firmy C.Zeiss Skanowanie powierzchni, krawędzi i linii konturowych z prędkością ok.400p/s na szerokości 10mm

62 Głowice triangulacyjne Głowica EAGLEEYE Navigator firmy C.Zeiss Laser generuje linię świetlną uzyskanie wartości punktów na sek.

63 Głowice z kamerą CCD Głowica ViSCAN firmy C.Zeiss Pomiary w zakresie 2D: małe wymiary, np. obwody drukowane, elementy z miękkich materiałów Matryca CCD 1/3, Rozdzielczość: 769(pozioma)x575(pionowa) Rozmiar piksli 6,0x6,0µm Aktywna powierzchnia 4,8x3,6mm Powiększenia od 0,14, 0,3, 0,5 do 8x

64 Głowice z kamerą CCD Głowica QVP firmy Mitutoyo Kamera CCD ½ Kołowe oświetlenie Powiększenia obiektywów 1x, 3x (standard), 5x i 10x Pole obserwacyjne: 9,6x12,8mm, 3,2x4,3mm 1,9x2,2mm, 1x1,3mm Powtarzalność (3s) ±1µm Pomiary otworów, szczelin, rowki, zarysy, kontury, krawędzie, itp.

65 Głowice z kamerą CCD Głowica OPTAS firmy C.Zeiss 1 kamera CCD 2 detektor laserowy 3 dioda laserowa 4 głowica przełączająca 5 czterosegmentowy oświetlacz 6 obiektyw 7 oświetlenie światłowodowe

66 Bezstykowa optoelektroniczna głowica z kamerą CCD Głowica OPTAS, produkcji firmy Zeiss

67 Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych Rodzaje: 1. Zestaw trzpieni pomiarowych, np. układ typu gwiazda, 2. Magazynki ramowe i karuzelowe, 3. Głowice obrotowo-uchylne (tzw. przegubowe)

68 Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych Kalibracja na kuli wzorcowej

69 Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych Konfiguracja trzpieni pomiarowych typu gwiazda, np. pięć trzpieni pomiarowych. Dotarcie do przedmiotu z różnych stron.

70 Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych Konfiguracje trzpieni do głowic firmy C.Zeiss

71 Głowice obrotowo-uchylne Głowica obrotowo-uchylna umożliwia: przestrzenne ustawienie sondy pomiarowej zgodnie z kierunkiem pomiaru, zapewnia dotarcie do powierzchni wewnątrz elementu.

72 Głowice obrotowo-uchylne Głowica PH9, produkcji firmy Renishaw w osi A w osi B rozdzielczość 7,5

73 Głowice obrotowo-uchylne Głowica RDS, firmy Zeiss rozdzielczość kątowa: 2.5 ponad 20 tys. pozycji przestrzennych powtarzalność 1 zakresy przemieszczeń: 180.

74 Magazynki Rodzaje magazynków:» magazynki ramowe» magazynki karuzelowe

75 Dziękuję za uwagę Część III obejmuje oprogramowania

Pomiary skaningowe w technice współrzędnościowej

Pomiary skaningowe w technice współrzędnościowej Pomiary skaningowe w technice współrzędnościowej Pomiary Automatyka Robotyka 5/2009 Eugeniusz Ratajczyk Przedstawiono tendencje rozwoju pomiarów skaningowych, a właściwie głowic pomiarowych pracujących

Bardziej szczegółowo

www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V

www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V W Y D Z I A Ł Z A R Z Ą D Z A N I A www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI proweniencja;

Bardziej szczegółowo

Współrzędnościowa technika pomiarowa. Roboty i centra pomiarowe

Współrzędnościowa technika pomiarowa. Roboty i centra pomiarowe Współrzędnościowa technika pomiarowa Roboty i centra pomiarowe 24 sierpnia 2016 Cz. IV. Roboty i centra pomiarowe Roboty pomiarowe - rodzaje, dokładności, zastosowanie Centra pomiarowe Rodzaje mierzonych

Bardziej szczegółowo

Przedmowa Wiadomości ogólne... 17

Przedmowa Wiadomości ogólne... 17 Spis treści Przedmowa... 13 1. Wiadomości ogólne... 17 1.1. Metrologia i jej podział... 17 1.2. Metrologia wielkości geometrycznych, jej przedmiot i zadania... 20 1.3. Jednostka miary długości... 21 1.4.

Bardziej szczegółowo

POMIARY RĘCZNE I AUTOMATYCZNE NA MASZYNACH WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWYCH

POMIARY RĘCZNE I AUTOMATYCZNE NA MASZYNACH WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWYCH POMIARY RĘCZNE I AUTOMATYCZNE NA MASZYNACH WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWYCH (na przykładzie ZEISS C400 i PowerINSPECT) WSTĘP Współrzędnościowa technika pomiarowa charakteryzuje się odmienną od klasycznej metrologii

Bardziej szczegółowo

Pomiar prędkości obrotowej

Pomiar prędkości obrotowej 2.3.2. Pomiar prędkości obrotowej Metody: Kontaktowe mechaniczne (prądniczki tachometryczne różnych typów), Bezkontaktowe: optyczne (światło widzialne, podczerwień, laser), elektromagnetyczne (indukcyjne,

Bardziej szczegółowo

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Prof. Eugeniusz RATAJCZYK Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Rodzaje odchyłek - symbole Odchyłki kształtu okrągłości prostoliniowości walcowości płaskości przekroju wzdłuŝnego Odchyłki

Bardziej szczegółowo

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki)

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki) Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Sensory (czujniki) 1 Zestawienie najważniejszych wielkości pomiarowych w układach mechatronicznych Położenie (pozycja), przemieszczenie Prędkość liniowa,

Bardziej szczegółowo

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Czujniki pomiarowe

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Czujniki pomiarowe Prof. Eugeniusz RATAJCZYK Czujniki pomiarowe Podział czujników wg rodzajów przetworników Czujniki pomiarowe Mechaniczne Mechaniczno Indukcyjne Pojemno- Pneumatyczne Optelektroniczne Optoelektroniczne -optyczne

Bardziej szczegółowo

POMIARY WZDŁUś OSI POZIOMEJ

POMIARY WZDŁUś OSI POZIOMEJ POMIARY WZDŁUś OSI POZIOMEJ Długościomierze pionowe i poziome ( Abbego ) Długościomierz poziomy Abbego czytnik + interpolator wzorca Wzorzec kreskowy zwykły lub inkrementalny Mierzony element urządzenie

Bardziej szczegółowo

Współrzędnościowe maszyny pomiarowe

Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Współrzędnościowe maszyny pomiarowe współrzędnościowe maszyny pomiarowe QM-M 333 Crysta-Plus M strona 434 współrzędnościowe maszyny pomiarowe CNC Crysta-Apex C strony 435 437 współrzędnościowe maszyny

Bardziej szczegółowo

Współrzędnościowa technika pomiarowa. Współrzędnościowa technika pomiarowa

Współrzędnościowa technika pomiarowa. Współrzędnościowa technika pomiarowa Roboty i centra pomiarowe Cz. IV. Roboty i centra pomiarowe Roboty pomiarowe - rodzaje, dokładności, zastosowanie Centra pomiarowe Rodzaje mierzonych przedmiotów Roboty pomiarowe Podstawowe zespoły 1 zespół

Bardziej szczegółowo

Spis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania

Spis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania Spis treści Wstęp Rozdział 1. Metrologia przedmiot i zadania 1.1. Przedmiot metrologii 1.2. Rola i zadania metrologii współczesnej w procesach produkcyjnych 1.3. Główny Urząd Miar i inne instytucje ważne

Bardziej szczegółowo

PRZETWORNIKI POMIAROWE

PRZETWORNIKI POMIAROWE PRZETWORNIKI POMIAROWE PRZETWORNIK POMIAROWY element systemu pomiarowego, który dokonuje fizycznego przetworzenia z określoną dokładnością i według określonego prawa mierzonej wielkości na inną wielkość

Bardziej szczegółowo

6 Pomiary. współrzędnościowe. Zakres i cel ćwiczenia: Konieczne przyrządy i materiały: Zbigniew Humienny LABORATORIUM METROLOGII

6 Pomiary. współrzędnościowe. Zakres i cel ćwiczenia: Konieczne przyrządy i materiały: Zbigniew Humienny LABORATORIUM METROLOGII LABORATORIUM METROLOGII 6 Pomiary współrzędnościowe Zakres i cel ćwiczenia: Zbigniew Humienny o Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie koncepcji pomiarów współrzędnościowych na przykładzie pomiaru części

Bardziej szczegółowo

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Coordinate Measuring Machines (CMM s) Część I

Coordinate Measuring Machines (CMM s) Część I Coordinate Measuring Machines (CMM s) Część I 1. Istota pomiarów współrzędnościowych, rodzaj mierzonych elementów. 2. Główne zespoły maszyn pomiarowych i ich funkcje. 3. Rodzaje konstrukcji maszyn przykłady

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

WideoSondy - Pomiary. Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go. Metoda Porównawcza. Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe)

WideoSondy - Pomiary. Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go. Metoda Porównawcza. Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe) Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go Metoda Porównawcza Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe) Metoda Stereo Metoda Porównawcza Metoda Cienia - ShadowProbe Metoda Stereo Metoda Porównawcza

Bardziej szczegółowo

K-Series Optyczna WMP. Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne. www.smart-solutions.pl WWW.METRIS.COM

K-Series Optyczna WMP. Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne. www.smart-solutions.pl WWW.METRIS.COM K-Series Optyczna WMP Mobilne oraz innowacyjne rozwiązania metrologiczne Spis treści Optyczna WMP Przegląd Cechy i Zalety Technologia Optycznej WMP K-Series hardware Zastosowania K-Scan - skaning ręczny

Bardziej szczegółowo

WZORCE I PODSTAWOWE PRZYRZĄDY POMIAROWE

WZORCE I PODSTAWOWE PRZYRZĄDY POMIAROWE WZORCE I PODSTAWOWE PRZYRZĄDY POMIAROWE 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest: 1. Poznanie podstawowych pojęć z zakresu metrologii: wartość działki elementarnej, długość działki elementarnej, wzorzec,

Bardziej szczegółowo

Pomiary gwintów w budowie maszyn / Jan Malinowski, Władysław Jakubiec, Wojciech Płowucha. wyd. 2. Warszawa, Spis treści.

Pomiary gwintów w budowie maszyn / Jan Malinowski, Władysław Jakubiec, Wojciech Płowucha. wyd. 2. Warszawa, Spis treści. Pomiary gwintów w budowie maszyn / Jan Malinowski, Władysław Jakubiec, Wojciech Płowucha. wyd. 2. Warszawa, 2010 Spis treści Przedmowa 9 1. Wiadomości ogólne 11 1.1. Podział i przeznaczenie gwintów 11

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI)

Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI) Rodzina czujników przemieszczeń w płaszczyźnie z wykorzystaniem interferometrii siatkowej (GI) i plamkowej (DSPI) Kierownik: Małgorzata Kujawińska Wykonawcy: Leszek Sałbut, Dariusz Łukaszewski, Jerzy Krężel

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 5 Temat: Interferometr Michelsona 7.. Cel i zakres ćwiczenia 7 INTERFEROMETR MICHELSONA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i

Bardziej szczegółowo

Badania powtarzalności złącza magnetycznego modułowych głowic stosowanych we współrzędnościowych maszynach pomiarowych

Badania powtarzalności złącza magnetycznego modułowych głowic stosowanych we współrzędnościowych maszynach pomiarowych BIULETYN WAT VOL. LVIII, NR 1, 2009 Badania powtarzalności złącza magnetycznego modułowych głowic stosowanych we współrzędnościowych maszynach pomiarowych ADAM WOŹNIAK, PRZEMYSŁAW OSAK Politechnika Warszawska,

Bardziej szczegółowo

ŚLĄSKIE TECHNICZNE ZAKŁADY NAUKOWE W KATOWICACH PRACA DYPLOMOWA

ŚLĄSKIE TECHNICZNE ZAKŁADY NAUKOWE W KATOWICACH PRACA DYPLOMOWA ŚLĄSKIE TECHNICZNE ZAKŁADY NAUKOWE W KATOWICACH PRACA DYPLOMOWA Temat: Rola maszyn współrzędnościowych stosowanych w UAR. Zabezpieczenia taśmociągu. Promotor: mgr inŝ. Ireneusz BOCZEK Pracę wykonał: Rafał

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 06/ WUP 06/17

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 06/ WUP 06/17 PL 226027 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226027 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 405218 (22) Data zgłoszenia: 02.09.2013 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Pomiary drogi (przemieszczenia) i kąta [5]

Pomiary drogi (przemieszczenia) i kąta [5] Pomiary drogi (przemieszczenia) i kąta [5] Metody potencjometryczne Odwzorowanie wielkości wejściowej (droga, kąt) w zmianę oporności (R(x)). Obiekt pomiaru łączony jest bezpośrednio lub za pomocą przekładni

Bardziej szczegółowo

Systemy obróbki obrazu

Systemy obróbki obrazu Systemy obróbki obrazu system obróbki obrazu QUICK IMAGE system obróbki obrazu QUICK SCOPE manualny system obróbki obrazu QUICK SCOPE CNC strona 424 strona 425 strona 425 system obróbki obrazu 3D CNC QUICK

Bardziej szczegółowo

Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Przyrządy z noniuszami: Noniusz jest pomocniczą podziałką, służącą do powiększenia dokładności

Bardziej szczegółowo

Contracer CV Seria Przyrządy do pomiaru konturu Przyrząd przeznaczony do "łatwych" i "szybkich" pomiarów konturu.

Contracer CV Seria Przyrządy do pomiaru konturu Przyrząd przeznaczony do łatwych i szybkich pomiarów konturu. Contracer CV-2100 Przyrząd przeznaczony do "łatwych" i "szybkich" pomiarów konturu. Contracer CV-2100N4 oraz CV-2100M4 oferują następujące korzyści: Szybki i prosty a jednocześnie zawansowany pomiar konturu.

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń Akademia Górniczo Hutnicza Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki Katedra Wytrzymałości, Zmęczenia Materiałów i Konstrukcji Nazwisko i Imię: Nazwisko i Imię: Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Grupa

Bardziej szczegółowo

Nowe rodzaje współrzędnościowych maszyn pomiarowych i oznaczenia ich parametrów Część II: Przykłady maszyn o konstrukcji portalowej

Nowe rodzaje współrzędnościowych maszyn pomiarowych i oznaczenia ich parametrów Część II: Przykłady maszyn o konstrukcji portalowej 462 MECHANIK NR 5 6/2017 Nowe rodzaje współrzędnościowych maszyn pomiarowych i oznaczenia ich parametrów Część II: Przykłady maszyn o konstrukcji portalowej New types of coordinate measuring machines and

Bardziej szczegółowo

Contracer CV-1000 i CV-2000

Contracer CV-1000 i CV-2000 Contracer CV-1000 i CV-2000 Zakres pomiarowy CV-1000 : Z1 = 25 mm CV-1000 : X = 50 mm CV-2000 : Z1 = 40mm CV-2000 : X = 100mm Prędkość pomiaru 0,2 mm/s; 0,5 mm/s Dokładność X = (3,5+2L/100) µm [ L : Długość

Bardziej szczegółowo

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2010/2011) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych

Bardziej szczegółowo

POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI

POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI POMIARY MIKROGEOMETRII POWIERZCHNI Mikrogeometria (chropowatość i falistość), Makrogeometria (odchyłki kształtu) Podział s h Ilustracja graficzna chropowatości powierzchni szlifowanej s/h

Bardziej szczegółowo

Maszyny i roboty pomiarowe

Maszyny i roboty pomiarowe Prof.Eugeniusz Ratajczyk Maszyny i roboty pomiarowe Część III Procedury pomiarowe i ich oprogramowania 24 sierpnia 2016 Współrzędnościowe Maszyny Pomiarowe Część I Część II 1. Istota pomiarów współrzędnościowych

Bardziej szczegółowo

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L)

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 23. Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych (ESPI) do badania elementów maszyn. Opracowanie: Ewelina Świątek-Najwer

Bardziej szczegółowo

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL 176148 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307963 (22) Data zgłoszenia: 30.03.1995 (51) IntCl6 G01B 5/20 (54) Sposób

Bardziej szczegółowo

Specjalistyczne Instrumenty W Pomiarach Inżynieryjnych S I W P I

Specjalistyczne Instrumenty W Pomiarach Inżynieryjnych S I W P I Specjalistyczne Instrumenty W Pomiarach Inżynieryjnych S I W P I NIWELATORY LASEROWE Niwelatory z wiązką obrotową lasera (obrót ruchomej głowicy) wyznaczają płaszczyznę odniesienia (poziomą, pionową lub

Bardziej szczegółowo

Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej. Laboratorium Badania Maszyn CNC. Nr 1

Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej. Laboratorium Badania Maszyn CNC. Nr 1 Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium Badania Maszyn CNC Nr 1 Pomiary dokładności pozycjonowania laserowym systemem pomiarowym ML-10 Opracował: Dr inż. Wojciech Ptaszyński

Bardziej szczegółowo

Aparat do magnetoterapii. MagneticWave - CTL 1109-1 mini. Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1. Aparat do magnetoterapii

Aparat do magnetoterapii. MagneticWave - CTL 1109-1 mini. Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1. Aparat do magnetoterapii APARATY DO MAGNETOTERAPII ORAZ akcesoria do ich wyposażenia Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1 mini Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1 Aparat do magnetoterapii MagneticWave

Bardziej szczegółowo

Laserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak

Laserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak Laserowe technologie wielowiązkowe oraz dynamiczne formowanie wiązki 25 październik 2017 Grzegorz Chrobak Nasdaq: IPG Photonics(IPGP) Zasada działania laserów włóknowych Modułowość laserów włóknowych IPG

Bardziej szczegółowo

Struktura układu pomiarowego drgań mechanicznych

Struktura układu pomiarowego drgań mechanicznych Wstęp Diagnostyka eksploatacyjna maszyn opiera się na obserwacji oraz analizie sygnału uzyskiwanego za pomocą systemu pomiarowego. Pomiar sygnału jest więc ważnym, integralnym jej elementem. Struktura

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Leica Rugby 420 NIWELATOR LASEROWY Leica Rugby 420 ZESTAW DIGITAL SET NIWELATOR LASEROWY Leica Rugby 420 ZESTAW DIGITAL SET Precyzyjny laser dwuspadkowy Najtwardszy gracz na placu budowy Wiązka czerwona,

Bardziej szczegółowo

2. Pomiar drgań maszyny

2. Pomiar drgań maszyny 2. Pomiar drgań maszyny Stanowisko laboratoryjne tworzą: zestaw akcelerometrów, przedwzmacniaczy i wzmacniaczy pomiarowych z oprzyrządowaniem (komputery osobiste wyposażone w karty pomiarowe), dwa wzorcowe

Bardziej szczegółowo

ŚWIADECTWO WZORCOWANIA

ŚWIADECTWO WZORCOWANIA LP- MET Laboratorium Pomiarów Metrologicznych Długości i Kąta ul. Dobrego Pasterza 106; 31-416 Kraków tel. (+48) 507929409; (+48) 788652233 e-mail: lapmet@gmail.com http://www.lpmet..pl LP-MET Laboratorium

Bardziej szczegółowo

Laserowy mikrometr skanujący Strona 376. Moduł wyświetlający LSM Strona 377

Laserowy mikrometr skanujący Strona 376. Moduł wyświetlający LSM Strona 377 Systemy sensoryczne - LSM Zestaw laserowego mikrometru skanującego i wskaźnika Strona 372 Moduł pomiarowy laserowego mikrometra skanującego Strona 373 Laserowy mikrometr skanujący Strona 376 Moduł wyświetlający

Bardziej szczegółowo

XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ

XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane 12-14 marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ Tomasz KATZ, Instytut Lotnictwa, Warszawa katz@ilot.edu.pl 1.

Bardziej szczegółowo

Z a p r o s z e n i e n a W a r s z t a t y

Z a p r o s z e n i e n a W a r s z t a t y Carl Zeiss Sp. z o.o. Metrologia Przemysłowa Z a p r o s z e n i e n a W a r s z t a t y 09-1 3. 0 5. 2 0 1 6 - M i k o ł ó w 16-2 0. 0 5. 2 0 1 6 - W a r s z a w a Temat: AUKOM Level 1 Zapraszamy wszystkich

Bardziej szczegółowo

Poziome centra obróbkowe TBI SH 1000 (SK50)

Poziome centra obróbkowe TBI SH 1000 (SK50) Poziome centra obróbkowe TBI SH 1000 (SK50) Precyzyjna, seryjna obróbka wielostronna oraz obróbka dużych skomplikowanych detali przestrzennych w jednym zamocowaniu. Ver_052017_02 Dbamy o solidną podstawę

Bardziej szczegółowo

Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar

Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar Przyrządy suwmiarkowe Przyrządy mikrometryczne wg. Jan Malinowski Pomiary długości i kąta w budowie maszyn Przyrządy pomiarowe Czujniki Maszyny pomiarowe

Bardziej szczegółowo

Roboty i centra pomiarowe

Roboty i centra pomiarowe Roboty i centra pomiarowe Eugeniusz Ratajczyk Pomiary współrzędnościowe są obecnie najbardziej zaawansowanym technicznie działem metrologii wielkości geometrycznych. Dzięki współrzędnościowym maszynom

Bardziej szczegółowo

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne. Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni

Bardziej szczegółowo

Projektowanie systemów pomiarowych

Projektowanie systemów pomiarowych Projektowanie systemów pomiarowych 08 Pomiary wybranych wielkości fizycznych (przemieszczenia, położenie, odległość) http://www.idownloadblog.com 1 1 Przetworniki do pomiaru przemieszczeń liniowych wykorzystywane

Bardziej szczegółowo

Czujniki i urządzenia pomiarowe

Czujniki i urządzenia pomiarowe Czujniki i urządzenia pomiarowe Czujniki zbliŝeniowe (krańcowe), detekcja obecności Wyłączniki krańcowe mechaniczne Dane techniczne Napięcia znamionowe 8-250VAC/VDC Prądy ciągłe do 10A śywotność mechaniczna

Bardziej szczegółowo

Głębokościomierz mikrometryczny

Głębokościomierz mikrometryczny Głębokościomierz mikrometryczny Wzorzec długości Bęben i tuleja matowo chromowane, ø 18 mm pomiarowy 25 mm Skok gwintu wrzeciona 0,5 mm z blokadą wrzeciona Błąd posuwu głowicy ±3 µm (0-25 mm) Płaskość

Bardziej szczegółowo

Pomiar przemieszczeń i prędkości liniowych i kątowych

Pomiar przemieszczeń i prędkości liniowych i kątowych POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA TRANSPORTU SZYNOWEGO LABORATORIUM DIAGNOSTYKI POJAZDÓW SZYNOWYCH ĆWICZENIE 11 Pomiar przemieszczeń i prędkości liniowych i kątowych Katowice, 2009.10.01 1.

Bardziej szczegółowo

PL B1. MAXSTAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 05/14

PL B1. MAXSTAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 05/14 PL 222028 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222028 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400506 (22) Data zgłoszenia: 24.08.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 10/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 10/12 PL 220157 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220157 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 392822 (51) Int.Cl. G01P 5/02 (2006.01) G01F 1/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

Laboratorium nanotechnologii

Laboratorium nanotechnologii Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury

Bardziej szczegółowo

Laserowy Mikrometr Skanujący Strona 418. Laserowy mikrometr skanujący Strona 423. Moduł wyświetlający LSM Strona 424

Laserowy Mikrometr Skanujący Strona 418. Laserowy mikrometr skanujący Strona 423. Moduł wyświetlający LSM Strona 424 Skaningowe mikrometry laserowe LSM Laserowy Mikrometr Skanujący Strona 418 Zestaw laserowego mikrometru skanującego i wyświetlacza Strona 419 Moduł pomiarowy laserowego mikrometra skanującego Strona 420

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie

Bardziej szczegółowo

Czujniki światłowodowe

Czujniki światłowodowe Czujniki światłowodowe Pomiar wielkości fizycznych zaburzających propagację promieniowania Idea pomiaru Dioda System optyczny Odbiornik Wejście pośrednie przez modulator Wielkość mierzona wejście czujnik

Bardziej szczegółowo

CENNIK USŁUG METROLOGICZNYCH obowiązuje od 01 stycznia 2018r.

CENNIK USŁUG METROLOGICZNYCH obowiązuje od 01 stycznia 2018r. 1 23 4 5 6 7 8 Centrum Metrologii Nr 1 CENNIK USŁUG METROLOGICZNYCH obowiązuje od 01 stycznia 2018r. Wzorcowanie przyrządów pomiarowych z zakresu długości i kąta ( w Laboratorium CM-KALIBRATOR) Przyrząd

Bardziej szczegółowo

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (../..) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

ZAPRASZA DO SKŁADNIA OFERT

ZAPRASZA DO SKŁADNIA OFERT Świebodzice, dnia 26.05.2014 r. Zapytanie ofertowe z siedzibą,, NIP 8842183229, REGON 891019481 realizuje projekt w ramach Regionalnego Programu Operacyjnego dla Województwa Dolnośląskiego na lata 2007-2013

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

Height Master Strona 313. Check Master Strona 317. Narzędzia kalibracyjne Strona 322

Height Master Strona 313. Check Master Strona 317. Narzędzia kalibracyjne Strona 322 Przyrządy kalibracyjne Height Master Strona 313 Check Master Strona 317 Narzędzia kalibracyjne Strona 322 312 Wymienione ceny są sugerowanymi cenami detalicznymi (ważne do 31 maja 2018). Wszystkie produkty

Bardziej szczegółowo

LC15Dx laserowa głowica skanująca dla maszyn WMP/CMM Wysoka dokładność pomiaru jak w sondach stykowych

LC15Dx laserowa głowica skanująca dla maszyn WMP/CMM Wysoka dokładność pomiaru jak w sondach stykowych LC15Dx laserowa głowica skanująca dla maszyn WMP/CMM Wysoka dokładność pomiaru jak w sondach stykowych Spis treści Propozycja wysokiej jakości Cechy & Zalety Dane techniczne Zastosowania Propozycja wysokiej

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)167818 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 3 7 2 5 (22) Data zgłoszenia: 0 6.0 3.1 9 9 2 (51) Intcl6: B61K9/12

Bardziej szczegółowo

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

MG-02L SYSTEM LASEROWEGO POMIARU GRUBOŚCI POLON-IZOT

MG-02L SYSTEM LASEROWEGO POMIARU GRUBOŚCI POLON-IZOT jednoczesny pomiar grubości w trzech punktach niewrażliwość na drgania automatyczna akwizycja i wizualizacja danych pomiarowych archiwum pomiarów analizy statystyczne dla potrzeb systemu zarządzania jakością

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT 1 Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie 2 Plan prezentacji 1. Skanowanie laserowe 3D informacje ogólne; 2. Proces skanowania; 3. Proces

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji WYDZIAŁ BUDOWY MASZYN I LOTNICTWA INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Przedmiot: DIAGNOSTYKA I NADZOROWANIE SYSTEMÓW OBRÓBKOWYCH Temat: Pomiar charakterystyk

Bardziej szczegółowo

Roboty przemysłowe. Cz. II

Roboty przemysłowe. Cz. II Roboty przemysłowe Cz. II Klasyfikacja robotów Ze względu na rodzaj napędu: - hydrauliczny (duże obciążenia) - pneumatyczny - elektryczny - mieszany Obecnie roboty przemysłowe bardzo często posiadają napędy

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego

PL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego PL 223315 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223315 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399459 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

5-osiowe centrum obróbkowe TBI U5

5-osiowe centrum obróbkowe TBI U5 5-osiowe centrum obróbkowe TBI U5 Bogaty standard wyposażenia dedykowany do obróbki skomplikowanych kształtów w pięciu płaszczyznach. TBI Technology Sp. z o.o. ul. Bosacka 52 47-400 Racibórz tel.: +48

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Zastrzeżony znak handlowy Copyright Institut Dr. Foerster 2010. Koercyjne natężenie pola Hcj

Zastrzeżony znak handlowy Copyright Institut Dr. Foerster 2010. Koercyjne natężenie pola Hcj Zastrzeżony znak handlowy Copyright Institut Dr. Foerster 2010 Koercyjne natężenie pola Hcj KOERZIMAT 1.097 HCJ jest sterowanym komputerowo przyrządem pomiarowym do szybkiego, niezależnego od geometrii

Bardziej szczegółowo

Elometer CG100: Mierniki korozyjności

Elometer CG100: Mierniki korozyjności Elometer CG100: i korozyjności Dostępne są cztery modele mierników z serii CG100: CG100B, CG100BDL, CG100ABDL oraz CG100ABDL+ Podstawowe cechy wspólne mierników: Tryby pomiarowe: P-E /P-ETEMP/ E-E ThruPaint/EEV/CT

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych Electrical measurements

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

WYBRANE PROBLEMY WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNIKI POMIAROWEJ. Jerzy Sładek (red.) i inni

WYBRANE PROBLEMY WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNIKI POMIAROWEJ. Jerzy Sładek (red.) i inni WYBRANE PROBLEMY WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNIKI POMIAROWEJ Jerzy Sładek (red.) i inni Bielsko-Biała 2012 Redaktor Naczelny: prof. dr hab. Kazimierz Nikodem Redaktor Działu: Sekretarz Redakcji: Skład i łamanie:

Bardziej szczegółowo

MatliX + MatliX MS. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

MatliX + MatliX MS. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni MatliX + MatliX MS Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Matlix jest prostym urządzeniem do wizyjnej kontroli wymiarów i powierzchni komponentów o okrągłych oraz innych

Bardziej szczegółowo

Narzędzia budowlane NARZĘDZIA BUDOWLANE

Narzędzia budowlane NARZĘDZIA BUDOWLANE Narzędzia budowlane NARZĘDZIA BUDOWLANE 42 Lasery do glazury i wyznaczania pionu/poziomu DW060K Laser do układania glazury DW099P Laser 3-wiązkowy do pionu, poziomu oraz kąta prostego DW082K Laser do pionu

Bardziej szczegółowo

(54) Przyrząd do pomiaru liniowych odchyleń punktów od kolimacyjnych płaszczyzn

(54) Przyrząd do pomiaru liniowych odchyleń punktów od kolimacyjnych płaszczyzn RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)166470 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 293448 (51) IntCl6: G01C 15/00 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 11.02.1992 (54)

Bardziej szczegółowo

Metody Optyczne w Technice. Wykład 5 Interferometria laserowa

Metody Optyczne w Technice. Wykład 5 Interferometria laserowa Metody Optyczne w Technice Wykład 5 nterferometria laserowa Promieniowanie laserowe Wiązka monochromatyczna Duża koherencja przestrzenna i czasowa Niewielka rozbieżność wiązki Duża moc Największa możliwa

Bardziej szczegółowo

DATAFLEX. Miernik momentu obrotowego DATAFLEX. Aktualizowany na bieżąco katalog dostępny na stronie www.ktr.com

DATAFLEX. Miernik momentu obrotowego DATAFLEX. Aktualizowany na bieżąco katalog dostępny na stronie www.ktr.com 307 Spis treści 307 Opis urządzenia 309 Typ 16/10, 16/30, 16/50 310 Akcesoria: RADEX -NC sprzęgło do serwonapędów 310 Typ 22/20, 22/50, 22/100 311 Akcesoria: RADEX -NC sprzęgło do serwonapędów 311 Typ

Bardziej szczegółowo

Głębokościomierze mikrometryczne Strona 223. Głębokościomierze Strona 226. Wyposażenie głębokościomierzy Strona 232

Głębokościomierze mikrometryczne Strona 223. Głębokościomierze Strona 226. Wyposażenie głębokościomierzy Strona 232 Przyrządy do pomiaru głębokości Głębokościomierze mikrometryczne Strona 223 Głębokościomierze Strona 226 Wyposażenie głębokościomierzy Strona 232 222 Głębokościomierze mikrometryczne Skala Bęben i tuleja

Bardziej szczegółowo

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Zastosowanie systemu nawigacyjnego w pomiarach geometrii elementów maszyn. Ćwiczenie 22.

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Zastosowanie systemu nawigacyjnego w pomiarach geometrii elementów maszyn. Ćwiczenie 22. Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 22. Zastosowanie systemu nawigacyjnego w pomiarach geometrii Przygotowanie: Ewelina Świątek-Najwer Wstęp teoretyczny: Rodzaje systemów

Bardziej szczegółowo

II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego

II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego 1 II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej termicznego źródła promieniowania (lampa halogenowa)

Bardziej szczegółowo