Końcowe Sprawozdanie z Realizacji Projektu Krajowe Centrum Nanostruktur Magnetycznych do Zastosowań w Elektronice Spinowej - SPINLAB
|
|
- Emilia Sowińska
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Końcowe Sprawozdanie z Realizacji Projektu Krajowe Centrum Nanostruktur Magnetycznych do Zastosowań w Elektronice Spinowej - SPINLAB Tomasz Stobiecki Katedra Elektroniki AGH, Kraków Maciej Czapkiewicz, Jarosław Kanak, Piotr Mietniowski, Wiesław Powroźnik, Witold Skowroński, Zbigniew Szklarski, Piotr Wiśniowski Lidia Krawentek, Joanna Kożuch, SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
2 ZADANIA 1. Adaptacja pomieszczeń oraz zakup i montaż mebli laboratoryjnych Całkowita kwota ,61 zł Okres realizacji Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Całkowita kwota ,00 zł Okres realizacji Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Całkowita kwota ,79 zł Okres realizacji SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
3 Adaptacja pomieszczeń oraz zakup i montaż mebli laboratoryjnych p. 308 i 212 laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych p. 309 pokój dla pracowników Całkowita kwota ,61 zł SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
4 ZADANIA 1. Adaptacja pomieszczeń oraz zakup i montaż mebli laboratoryjnych Całkowita kwota ,61 zł Okres realizacji Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Całkowita kwota ,00 zł Okres realizacji Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Całkowita kwota ,79 zł Okres realizacji SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
5 buffer capping MTJ stack sputtering deposited in Singulus MgO wedge thickness: 0.6 nm up to 1nm (slope nm/cm) Nanopillars Multilayer pillar 3 step e-beam lithography, ion etching, lift-off Ru 7 CuN 30 Ta 10 Co40Fe40B wedge MgO Co40Fe40B Ru 0.9 Co70Fe 30 2 PtMn 16 Ta MBE pillar prof. J.Korecki Fe/MgO/Fe CuN Ta V - Au SiO substrate 2 Al 2 O V + CoFe Ta 30 3 CuN 50 IC SAF EB Ru 7 CuN 30 Ta 10 Co 40 Fe 40 B wedge MgO Co 40 Fe 40 B Ru 0.9 Co 70 Fe 30 2 PtMn 16 Ta 3 CuN 50 Ta 3 CuN 50 Ta 5 Si/SiO 2 FL RL PL AF SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
6 Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych W ramach zadania została zakupiona następująca aparatura: Zestaw urządzeń do dynamicznych pomiarów czasowo-rozdzielczych oscyloskop 20 GHz, generator sygnałowy i impulsowy, generator pikosekundowy GHz analizator widma - DC - 8GHz SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
7 Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Chłodziarka helowa (z zamkniętym obiegiem helu) podłączona do układu pomiarowego z kriostatem kriostat, 4 sondy DC, 2 RF (<40GHz) Pole magnetyczne +/ T Zakres temperaturowy K do układu pomiarowego do chłodziarki helowej SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
8 PIMM t=2nm SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
9 Power (nv/hz 0.5 ) Katedra Elektroniki, Akademia Górniczo-Hutnicza Magneto-transport measurement setup (pillars) Możliwości pomiarowe: Pomiar rezystancji od pola magnetycznego, prąd-napięcie, Dynamiczna konduktancja, Spin torque (diode, oscillators), Czułość czujników, Szumy niskich częstotliwości. Integrated Power 0.4 nw Pole magnetyczne +/- 0.8 T Częstotliwość DC 20 GHZ Rozdzielczość optyczna < 5 m W. Skowroński, T.Stobiecki et al. Appl. Phys. Express 5,(2012) DC current -0.1 ma -0.5 ma -1 ma -1.5 ma -1.7 ma -1.8 ma 1,0 1,5 2,0 2,5 Frequency (GHz) SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
10 Resistance (Ohm) CIMSand STT diode effect b) AP P 1 ms 2.7 ms 7.3 ms 19.8 ms 53.7 ms AP P ST-oscillator Voltage (V) SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
11 NOISE SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
12 Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Klaster obliczeniowy Layer klimatyzator Lokalizacja: AGH budynek C-3 sala 303 trzy węzły obliczeniowe wyposażone w procesory czterordzeniowe 2.26GHz i 16GB RAM każdy praca w trybie serwera, system zasilania awaryjnego możliwość wykonywania programów na każdym węźle niezależnie SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
13 Micromagnetic simulation (OOMMF) Przykład pracy klastra - symulacja działania urządzeń elektroniki spinowej modele mikrospinowe dynamika magnetyzacji wizualizacje w czasie rzeczywistym SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
14 ZADANIA 1. Adaptacja pomieszczeń oraz zakup i montaż mebli laboratoryjnych Całkowita kwota ,61 zł Okres realizacji Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Całkowita kwota ,00 zł Okres realizacji Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Całkowita kwota ,79 zł Okres realizacji SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
15 Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Wyposażenie 2.Blok optyki wtórnej z programowaną szczeliną odbiorczą 1.Ceramiczna lampa Cu do dyfraktometru 4.Zwierciadło (lustro) wielowarstwowe dla lampy Cu w systemie X Pert MPD 3.Otwarte koło Eulera z translacją Z, ze sterowaniem kątów Phi, Psi Figura biegunowa SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
16 Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Oprogramowanie 1. X Pert Data Collector program sterujący dyfraktometrem do zbierania i akwizycji danych + płyta sterująca do dyfraktometru X Pert 2. X Pert Data Viewer program do przeglądania i prezentacji danych pomiarowych 3. X Pert HighScore program do analizy fazowej 4. X Pert Stress program do analizy naprężeń Wyposażenie 1. Ceramiczna lampa Cu do dyfraktometru 2. Blok optyki wtórnej z programowaną szczeliną odbiorczą 3. Otwarte koło Eulera z translacją Z, ze sterowaniem kątów Phi, Psi 4. Zwierciadło (lustro) wielowarstwowe dla lampy Cu w systemie X Pert MPD SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
17 Natężenie (a.u.) Log Natężenie (a.u.) Ta(110) CoFe bcc(110) CoFe bcc(002) Ta(220) PtMn fct(222) PtMn fcc(222) PtMn fcc(111) Ru(0004) PtMn fct(111) Ru(0002) Natężenie (zliczenia/sek) Katedra Elektroniki, Akademia Górniczo-Hutnicza Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD J. Kanak, W. Powroźnik Dyfraktometr X Pert MPD: Reflektometria analiza fazowa, Naprężenia, Tekstura (figury biegunowe). Komora wysokotemperaturowa (300K 1200K). EDX-XRF. EB-SV niewygrzana wygrzana niewygrzana 340 O C (deg) Figura biegunowa XRD - θ-2θ PtMn θ = 40.3 º Ta 5 Ru 5 CoFeB 3 MgO 1.3 CoFeB 3 Ru 0.9 CoFe 2 PtMn 20 Ru 18 Ta 5 Substrate SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31 Ta XRR 10 7 pomiar symulacja (deg) CoFeB TOP EB-SV 500 C 460 C 420 C 380 C 340 C 300 C 260 C 220 C (deg) Pomiary temperaturowe in situ XRD
18 Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Mikroskop SPM S N AFM - topografia MFM MFM (pole magnetyczne prostopadłe i w płaszczyźnie), SRI (Conductive-AFM), STM, obrazowanie fazowe, KPM, Piezo Response, LFM, Nanolitografia, FMM, EFM. SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
19 ACMIN AGH System do nanolitografii Raith eline plus Trawienie jonowe + nanoszenie warstw R&R IonSys500 Cleanroom klasy ISO5, ISO7 SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
20 SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31
Dynamika w magnetycznych złączach tunelowych
Dynamika w magnetycznych złączach tunelowych Witold Skowroński Katedra Elektroniki Wydział Informatyki Elektroniki i Telekomunikacji Witold Skowroński, Kraków 17.01.2014 1/43 Motywacja Badania magnetycznych
Bardziej szczegółowoBadania dyfrakcyjne cienkowarstwowych struktur pod kątem zastosowań w elektronice spinowej
Badania dyfrakcyjne cienkowarstwowych struktur pod kątem zastosowań w elektronice spinowej Jarosław Kanak Katedra Elektroniki, WIEiT AGH NCN grant DEC-2012/05/E/ST7/00240 Laboratorium Badań Strukturalnych
Bardziej szczegółowoPodstawy Mikroelektroniki
Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie Wydział IEiT Katedra Elektroniki Podstawy Mikroelektroniki Temat ćwiczenia: Nr ćwiczenia 1 Pomiary charakterystyk magnetoelektrycznych elementów spintronicznych-wpływ
Bardziej szczegółowoMetody pomiarowe spinowego efektu Halla w nanourządzeniach elektroniki spinowej
Metody pomiarowe spinowego efektu Halla w nanourządzeniach elektroniki spinowej Monika Cecot, Witold Skowroński, Sławomir Ziętek, Tomasz Stobiecki Wisła, 13.09.2016 Plan prezentacji Spinowy efekt Halla
Bardziej szczegółowoMarcin Sikora. Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych
Prezentacja tematów na prace doktorskie, 28/5/2015 1 Marcin Sikora KFCS WFiIS & ACMiN Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych
Bardziej szczegółowoMaciej Czapkiewicz Katedra Elektroniki, WIEiT, AGH
Model dyspersji barier energetycznych aktywowanego termicznie procesu przełączania magnetyzacji w układach cienkich warstw z magnetyczną anizotropią prostopadłą Maciej Czapkiewicz Katedra Elektroniki,
Bardziej szczegółowoFORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego
Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Pomiaru
Bardziej szczegółowoDynamika namagnesowania warstwowych struktur magnetycznych i nanostruktur.
Dynamika namagnesowania warstwowych struktur magnetycznych i nanostruktur. Hubert Głowiński, IFM PAN promotor: prof. Janusz Dubowik 09.06.2015 1 Praca była częściowo finansowana z grantu Polsko-Szwajcarskiego
Bardziej szczegółowoKomputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium
Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium 1 - Cel zajęć - Orientacyjny plan wykładu - Zasady zaliczania przedmiotu - Literatura Klasyfikacja systemów pomiarowych
Bardziej szczegółowoNanourządzenia elektroniki spinowej: magnetyczne złącza tunelowe, spintorque
Nanourządzenia elektroniki spinowej: magnetyczne złącza tunelowe, spintorque oscylatory Przegląd badań prowadzonych w AGH T. Stobiecki Katedra Elektroniki AGH http://www.maglay.agh.edu.pl/ http://nanospin.agh.edu.pl/en/
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/124/2010 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 Dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu i spektrometru
Bardziej szczegółowoPodzespoły i układy scalone mocy część II
Podzespoły i układy scalone mocy część II dr inż. Łukasz Starzak Katedra Mikroelektroniki Technik Informatycznych ul. Wólczańska 221/223 bud. B18 pok. 51 http://neo.dmcs.p.lodz.pl/~starzak http://neo.dmcs.p.lodz.pl/uep
Bardziej szczegółowoLaboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej i Jakości Energii Elektrycznej.
Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej i Jakości Energii. Opiekun: mgr inż. Piotr Leżyński Sala nr 9, budynek A-9 Laboratorium świadczy usługi pomiarowe w obszarze EMC i jakości energii elektrycznej.
Bardziej szczegółowoSprawozdanie - Rada Wydziału bmz. Biotechnologia Molekularna dla Zdrowia
2008-2012 Sprawozdanie - Rada Wydziału 18.05.2010 www.wbbib.uj.edu.pl/ 1. Budowa i wyposażenie zwierzętarni Zadania 2. Organizacja i wyposażenie pracowni cytometrii obrazowej 3. Wyposażenie pracowni proteomiki
Bardziej szczegółowoZAŁĄCZNIK I DO SIWZ. Projekt współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego
ZAŁĄCZNIK I DO SIWZ Lp. Urządzenie Ilość szt/ komp Wymagania min. stawiane urządzeniu KATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ. Zestaw edukacyjny do pomiarów biomedycznych - Zestaw edukacyjny przedstawiający zasady
Bardziej szczegółowoPrezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM
Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny
Bardziej szczegółowoLaboratorium Analizy i Poprawy Jakości Energii Elektrycznej.
Laboratorium Analizy i Poprawy Jakości Energii. Opiekun: dr inż. Piotr Leżyński Sala nr 9, budynek A9 Laboratorium świadczy usługi pomiarowe w obszarze EMC i jakości energii elektrycznej. Pomiary wykonywane
Bardziej szczegółowoIndukowana prądem dynamika momentu magnetycznego w złączach tunelowych
Indukowana prądem dynamika momentu magnetycznego w złączach tunelowych mgr inż. Piotr Ogrodnik Warszawa, 19-05-2015 Promotor: prof. dr hab. Renata Świrkowicz Plan wystąpienia Przedmiot badań i motywacja
Bardziej szczegółowoAparatura do osadzania warstw metodami:
Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera
Bardziej szczegółowoSTEROWANIE STRUKTUR DYNAMICZNYCH Model fizyczny semiaktywnego zawieszenia z tłumikami magnetoreologicznymi
STEROWANIE STRUKTUR DYNAMICZNYCH Model fizyczny semiaktywnego zawieszenia z tłumikami magnetoreologicznymi mgr inż. Łukasz Jastrzębski Katedra Automatyzacji Procesów - Akademia Górniczo-Hutnicza Kraków,
Bardziej szczegółowoFORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz
Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Badań
Bardziej szczegółowoMikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Bardziej szczegółowoBadania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych
Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Monika KWOKA, Jacek SZUBER Instytut Elektroniki Politechnika Śląska Gliwice PLAN PREZENTACJI 1. Podsumowanie dotychczasowych prac:
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA
Załącznik Nr 10 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup, dostawa i instalacją dwóch sztuk zestawów elektrochemicznych, stanowiących wyposażenie laboratoryjne dla potrzeb Katolickiego Uniwersytetu Lubelskiego w Stalowej
Bardziej szczegółowoCharakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk
Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Promotor: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl. Zadania pracy Pomiary transmisji i odbicia optycznego
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoGdańsk, 16 grudnia 2010
POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233 Gdańsk prof. dr hab. inż. Andrzej Zieliński tel. 58 348 63 57 fax. 58 347 14 15 Przewodniczący Rady Koordynator
Bardziej szczegółowo(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:
. (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja
Bardziej szczegółowoŹródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.
ZFP dysponuje obecnie unowocześnioną aparaturą, której skompletowanie, uruchomienie i utrzymanie w sprawności wymagało wysiłku zarówno merytorycznego jak i organizacyjnego oraz finansowego. Unowocześnienia
Bardziej szczegółowoMarek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO
Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego
Bardziej szczegółowoEfektywne symulacje mikromagnetyczne układów magnonicznych przy wykorzystaniu GPGPU.
Efektywne symulacje mikromagnetyczne układów magnonicznych przy wykorzystaniu GPGPU. Mateusz Zelent, Paweł Gruszecki, Michał Mruczkiewicz, Maciej Krawczyk Wydział Fizyki, Zakład Fizyki Nanomateriałów Fale
Bardziej szczegółowoInTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych
Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk Zbigniew R. Żytkiewicz IF
Bardziej szczegółowoWybór strumienia elektronika a praktyczne aspekty projektowania urządzeń i systemów bezprzewodowych
Wybór strumienia elektronika a praktyczne aspekty projektowania urządzeń i systemów bezprzewodowych dr inż. Łukasz Kulas, Katedra Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej, Koordynator - Centrum Doskonałości
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
Bardziej szczegółowo1 k. AFM: tryb bezkontaktowy
AFM: tryb bezkontaktowy Ramię igły wprowadzane w drgania o małej amplitudzie (rzędu 10 nm) Pomiar zmian amplitudy drgań pod wpływem sił (na ogół przyciągających) Zbliżanie igły do próbki aż do osiągnięcia
Bardziej szczegółowoAmorficzne warstwy w spintronice
Amorficzne warstwy w spintronice T. Stobiecki www.maglay.agh.edu.pl www.nanospin.agh.edu.pl/en/ www.e-control.agh.edu.pl/ 1 Dlaczego spintronika jest ważna? ŁADUNEK SPIN Semiconductor Devices and Integrated
Bardziej szczegółowoNanoeletronika. Temat projektu: Wysokoomowa i o małej pojemności sonda o dużym paśmie przenoszenia (DC-200MHz lub 1MHz-200MHz). ang.
Nanoeletronika Temat projektu: Wysokoomowa i o małej pojemności sonda o dużym paśmie przenoszenia (DC-200MHz lub 1MHz-200MHz). ang. Active probe Wydział EAIiE Katedra Elektroniki 17 czerwiec 2009r. Grupa:
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3)
LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik
Bardziej szczegółowoBadanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.
Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie
Bardziej szczegółowoTranzystory w pracy impulsowej
Tranzystory w pracy impulsowej. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości impulsowych tranzystorów. Wyniki pomiarów parametrów impulsowych tranzystora będą porównane z parametrami obliczonymi.
Bardziej szczegółowoROK AKADEMICKI 2012/2013 studia stacjonarne BLOKI OBIERALNE KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
ROK AKADEMICKI 2012/2013 studia stacjonarne BLOKI OBIERALNE KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH PROPONOWANE BLOKI Systemy i sieci światłowodowe Elektronika motoryzacyjna Mikro-
Bardziej szczegółowoLaboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Bardziej szczegółowo1. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Numer referencyjny: IK.PZ-380-06/PN/18 Załącznik nr 1 do SIWZ Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzone w trybie przetargu nieograniczonego pn. Dostawa systemu pomiarowego do badań EMC,
Bardziej szczegółowoOPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 2 do SIWZ OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 pn.: Dostawa i instalacja fabrycznie nowego (nieużywanego) Profilometru mechanicznego wraz z przeszkoleniem Personelu Zamawiającego Przedmiotem
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia. Specyfikacja techniczna oferowanego sprzętu
nr postępowania: BZP.2410.4.2018.BO Załącznik nr 9 do SIWZ. Pieczęć Wykonawcy strona z ogólnej liczby stron Opis przedmiotu zamówienia. Specyfikacja techniczna oferowanego sprzętu Dostawa, instalacja i
Bardziej szczegółowo1. Zasilacz mocy AC/ DC programowany 1 sztuka. 2. Oscyloskop cyfrowy z pomiarem - 2 sztuki 3. Oscyloskop cyfrowy profesjonalny 1 sztuka
WYMAGANIA TECHNICZNE Laboratoryjne wyposażenie pomiarowe w zestawie : 1. Zasilacz mocy AC/ DC programowany 1 sztuka 2. Oscyloskop cyfrowy z pomiarem - 2 sztuki 3. Oscyloskop cyfrowy profesjonalny 1 sztuka
Bardziej szczegółowoDZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW WYKONUJĄCYCH TESTY SPECJALISTYCZNE APARATÓW RENTGENOWSKICH
Anna Cepiga, Katarzyna Szymańska, Izabela Milcewicz- Mika, Maciej Schramm, Maciej Budzanowski Laboratorium Dozymetrii Indywidualnej i Środowiskowej, Instytut Fizyki Jądrowej PAN DZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW
Bardziej szczegółowoPodstawy elektroniki i metrologii
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Podstawy elektroniki i metrologii Studia I stopnia kier. Informatyka semestr 2 Ilustracje do
Bardziej szczegółowoMobilny system pomiaru luminancji LMK - CCD
Wydział Transportu Politechniki Warszawskiej Gmach Nowej Kreślarni p.220 ul. Koszykowa 75 00-662 Warszawa tel.22 234 77 52 www.it.pw.edu.pl dr inż. Piotr Tomczuk; email:ptomczuk@it.pw.edu.pl dr inż. Krzysztof
Bardziej szczegółowoWOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA im. Jarosława Dąbrowskiego ENERGOELEKTRONIKA Laboratorium Ćwiczenie nr 2 Łączniki prądu przemiennego Warszawa 2015r. Łączniki prądu przemiennego na przemienny Celem ćwiczenia
Bardziej szczegółowoWirtualne przyrządy pomiarowe
Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Wirtualne przyrządy pomiarowe dr inż.. Roland PAWLICZEK Laboratorium Mechatroniki Cel zajęć ęć: Zapoznanie się ze strukturą układu pomiarowego
Bardziej szczegółowoSerwohydrauliczna maszyna wytrzymałościowa INSTRON 8850
Serwohydrauliczna maszyna wytrzymałościowa INSTRON 8850 Piec Kamera termowizyjna Komora temperaturowa Zasilacz hydrauliczny System Aramis Dane techniczne: przemieszczenie tłoka +/-50mm kąt obrotu tłoka
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 3 WYMOGI TECHNICZNE APARATURY DO BADAŃ EMC ZADANIE 1: 1.1 Dostawa urządzeń do pomiaru emisji promieniowanej i przewodzonej: 1.1 Analizator widma umożliwiający, przy zastosowaniu wyposażenia
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI MATERIAŁY POMOCNICZE SERIA PIERWSZA
LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI MATERIAŁY POMOCNICZE SERIA PIERWSZA 1. Lutowanie lutowania ołowiowe i bezołowiowe, przebieg lutowania automatycznego (strefy grzania i przebiegi temperatur), narzędzia
Bardziej szczegółowoT 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych
T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych Przeznaczony do testowania przekaźników i przetworników Sterowany mikroprocesorem Wyposażony w przesuwnik fazowy Generator częstotliwości Wyniki badań i
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/055/2007 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA do "Zakupu i montażu czujników pomiarowych oraz stacji operatorskiej z oprogramowaniem SCADA do Laboratorium do
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoBADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza
ĆWICZENIE 89 BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Polarymetr Lampa sodowa Solenoid Źródło napięcia stałego o wydajności prądowej min. 5A Amperomierz prądu stałego
Bardziej szczegółowoElektronika spinowa w technice komputerowej
Elektronika spinowa w technice komputerowej Przegląd badań prowadzonych w AGH T. Stobiecki Katedra Elektroniki AGH http://www.maglay.agh.edu.pl/ http://nanospin.agh.edu.pl/en/ http://www.e-control.agh.edu.pl/
Bardziej szczegółowoANALIZA WARUNKÓW ZASILANIA (JEE) WYBRANE PRZYPADKI
ANALIZA WARUNKÓW ZASILANIA (JEE) WYBRANE PRZYPADKI dr inż. Andrzej Firlit andrzej.firlit@kaniup.agh.edu.pl Laboratorium JAKOŚĆ ENERGII ENERGETYCZNEJ AGH Kraków ANALIZA PRZYPADKU 1 inwestycja na terenie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia
Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 23 Poznanie symboli własności. Zmierzenie parametrów podstawowych bramek logicznych TTL i CMOS. Czytanie schematów elektronicznych,
Bardziej szczegółowoLaboratoria. badawcze i wzorcujące
Laboratoria badawcze i wzorcujące Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) działa przy Zakładzie Badań Systemów i Urządzeń (Z-1). LBUT
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu 3 części zamówienia Zestawy ćwiczeń
Opis przedmiotu 3 części zamówienia Zestawy ćwiczeń Załącznik 4c do SIWZ Lp. NAZWA OPIS GŁÓWNYCH PARAMETRÓW TECHNICZNYCH ILOŚĆ (szt.) Zestaw powinien składać się min. z modułu bazowego oraz modułów ćwiczeniowych
Bardziej szczegółowoKatedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych
Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Bloki obieralne na kierunku Mechatronika rok akademicki 2013/2014 ul. Wólczańska 221/223, budynek B18 www.dmcs.p.lodz.pl Nowa siedziba Katedry 2005 2006
Bardziej szczegółowoStanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa
Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko
Bardziej szczegółowoPolitechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Metrologia Studia I stopnia, kier Elektronika i Telekomunikacja, sem. 2 Ilustracje do wykładu
Bardziej szczegółowoWydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS. Instytut Matematyki UMCS
Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS Dziekan Wydziału B 3 Prodziekan Wydziału B 2 Dziekanat B 7a (Kierownik Dziekanatu), B 6, B 6a, B 7 Sala konferencyjna i posiedzeń Rady Wydziału D 217 Biblioteka
Bardziej szczegółowoREGULATOR PRĄDU SPRĘŻYNY MAGNETYCZNEJ CURRENT REGULATOR OF MAGNETIC SPRING
PIOTR HABEL, JACEK SNAMINA * REGULATOR PRĄDU SPRĘŻYNY MAGNETYCZNEJ CURRENT REGULATOR OF MAGNETIC SPRING Streszczenie Abstract Artykuł dotyczy zastosowania regulatora prądu do sterowania siłą sprężyny magnetycznej.
Bardziej szczegółowoGrafen materiał XXI wieku!?
Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?
Bardziej szczegółowooznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III
oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III Część I zamówienia Dostawa urządzeń na potrzeby modernizacji stolika
Bardziej szczegółowoRok akademicki: 2013/2014 Kod: EEL s Punkty ECTS: 4. Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: -
Nazwa modułu: Elektronika przemysłowa Rok akademicki: 2013/2014 Kod: EEL-1-513-s Punkty ECTS: 4 Wydział: Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej Kierunek: Elektrotechnika Specjalność:
Bardziej szczegółowoZałącznik I do siwz. Strona1
Załącznik I do siwz Dostawa aparatury badawczo-pomiarowej do Środowiskowego Laboratorium Technologii Bezprzewodowych w ramach Centrum Zaawansowanych Technologii Pomorze dla Wydziału Elektroniki, Telekomunikacji
Bardziej szczegółowoUrządzenia Elektroniki Morskiej Systemy Elektroniki Morskiej
Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej Katedra Systemów Elektroniki Morskiej Stacja Badań Hydroakustycznych Urządzenia Elektroniki Morskiej Systemy Elektroniki Morskiej
Bardziej szczegółowoĆwiczenie EA1 Silniki wykonawcze prądu stałego
Akademia Górniczo-Hutnicza im.s.staszica w Krakowie KATEDRA MASZYN ELEKTRYCZNYCH Ćwiczenie EA1 Silniki wykonawcze prądu stałego Program ćwiczenia: A Silnik wykonawczy elektromagnetyczny 1. Zapoznanie się
Bardziej szczegółowoAutoreferat. 2. Dyplomy i stopnie: magistra inżyniera, Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława 1998 Staszica w Krakowie
Załącznik 2 Autoreferat 1. Imię i Nazwisko: Piotr Wiśniowski 2. Dyplomy i stopnie: magistra inżyniera, Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława 1998 Staszica w Krakowie 2003 master of science, Uniwersytet
Bardziej szczegółowoProgram ćwiczenia: SYSTEMY POMIAROWE WIELKOŚCI FIZYCZNYCH - LABORATORIUM
Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).
Bardziej szczegółowoBadanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik
Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA Autor: Daniel Słowik Promotor: Dr inż. Daniel Kopiec Wrocław 016 Plan prezentacji Założenia i cel
Bardziej szczegółowoRok akademicki: 2013/2014 Kod: JFM DE-s Punkty ECTS: 2. Kierunek: Fizyka Medyczna Specjalność: Dozymetria i elektronika w medycynie
Nazwa modułu: Elektroniczna aparatura dozymetryczna Rok akademicki: 2013/2014 Kod: JFM-2-107-DE-s Punkty ECTS: 2 Wydział: Fizyki i Informatyki Stosowanej Kierunek: Fizyka Medyczna Specjalność: Dozymetria
Bardziej szczegółowoForum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji
Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu NANO jako droga do innowacji Uniwersytet Śląski w Katowicach Oferta dla partnerów biznesowych Potencjał badawczy Założony w
Bardziej szczegółowoLista i program ćwiczeń: 1. Badanie sensorów przemieszczeń liniowych na przykładzie sensora LVDT
Program przedmiotu,,laboratorium Sensorów i Przetworników Pomiarowych Opis ogólny: Przedstawiony program jest znaczącą modyfikacją i unowocześnieniem zajęć prowadzonych obecnie na siódmym semestrze kierunku
Bardziej szczegółowo14. O P I S U S Ł U G
14. O P I S U S Ł U G Zawartość: A. Szafy i obudowy, B. Aparatura obiektowa wraz z okablowaniem, C. Uruchomienie układów automatyki bez BMS D. Sprzęt komputerowy, oprogramowanie E. Uruchomienie systemu
Bardziej szczegółowoBADANIE ELEMENTÓW RLC
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE BADANIE ELEMENTÓW RLC REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENIA - zapoznanie się z systemem laboratoryjnym NI ELVIS II, - zapoznanie się z podstawowymi
Bardziej szczegółowoZAKRES BADAŃ BEZPIECZEŃSTWO UŻYTKOWANIA I EMC CELAMED Centralne Laboratorium Aparatury Medycznej Aspel S.A.
Przedstawiony formularz umożliwia wybór badań będących przedmiotem zamówienia, sporządzenia planu badań. Dla ułatwienia wyboru przedstawiono krótką charakterystykę techniczną możliwości badawczych, oraz
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE DIODY REV. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - pomiary charakterystyk stałoprądowych diod prostowniczych, świecących oraz stabilizacyjnych - praktyczne
Bardziej szczegółowoFiltry aktywne filtr środkowoprzepustowy
Filtry aktywne iltr środkowoprzepustowy. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie właściwości iltrów aktywnych, metod ich projektowania oraz pomiaru podstawowych parametrów iltru.. Budowa
Bardziej szczegółowoWstępne propozycje tematów prac dyplomowych:
Serdecznie zapraszam na konsultacje studentów z własnymi pomysłami na tematy prac dyplomowych z dziedziny elektrotechniki i oświetlenia w transporcie. Szczególnie aktualna jest tematyka elektrotechniki
Bardziej szczegółowoCharakterystyka przedmiotu zamówienia
Załącznik nr 5 do siwz W/NO/ZP-2/12 Charakterystyka przedmiotu zamówienia Ilekroć w treści siwz, w tym w opisie przedmiotu zamówienia, użyte są znaki towarowe, patenty lub pochodzenie, a także normy, Zamawiający
Bardziej szczegółowoData wykonania ćwiczenia: Ćwiczenie prowadził:
W O J S K O W A A K A D E M I A T E C H N I C Z N A WYDZIAŁ ELEKTRONIKI Drukować dwustronnie T E C H N I K A O B L I C Z E N I O W A I S Y M U L A C Y J N A Grupa...+++... Nazwisko i imię: 1. 2. 3. Ocena
Bardziej szczegółowo1. Pojęcia związane z dynamiką fazy dynamiczne sygnału
Wprowadzenie Ćwiczenie obrazuje najważniejsze cechy cyfrowych systemów terowania dynamiką na przykładzie limitera stosowanego w profesjonalnych systemach audio, a szczególnie: Pokazuje jak w poprawny sposób
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-08-03 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO
SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA POZNAŃSKA KATEDRA STEROWANIA I INŻYNIERII SYSTEMÓW
POLITECHNIKA POZNAŃSKA KATEDRA STEROWANIA I INŻYNIERII SYSTEMÓW Pracownia Układów Elektronicznych i Przetwarzania ELEKTRONICZNE SYSTEMY POMIAROWE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Badanie transoptora
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 1. Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym.
Ćwiczenie 1 Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym. Środowisko symulacyjne Symulacja układu napędowego z silnikiem DC wykonana zostanie w oparciu o środowisko symulacyjne
Bardziej szczegółowoĆw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2010/2011) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych
Bardziej szczegółowoRedukcja poziomu emisji zaburzeo elektromagnetycznych urządzenia zawierającego konwerter DC/DC oraz wzmacniacz audio pracujący w klasie D
Szymon Ratajski, W2 Włodzimierz Wyrzykowski Redukcja poziomu emisji zaburzeo elektromagnetycznych urządzenia zawierającego konwerter DC/DC oraz wzmacniacz audio pracujący w klasie D Badanym obiektem jest
Bardziej szczegółowoArkusz Informacji Technicznej
Arkusz Informacji Technicznej Przedmiot oferty: Skaningowy Mikroskop Pola Bliskiego (SNOM) Wysokiej klasy, fabrycznie nowy Mikroskop Optyczny Pola Bliskiego zintegrowany z mikroskopem sił atomowych (AFM)
Bardziej szczegółowoZ.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun
Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa
Bardziej szczegółowoUkłady cienkowarstwowe o prostopadłej anizotropii magnetycznej sterowalnej polem elektrycznym
Układy cienkowarstwowe o prostopadłej anizotropii magnetycznej sterowalnej polem elektrycznym A. Kozioł-Rachwał Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej AGH National Institute of Advanced Industrial Science
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Temat: Badanie właściwości elektrycznych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych.. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, charakterystyk
Bardziej szczegółowoBadanie dławikowej przetwornicy podwyŝszającej napięcie
LABORATORIUM ZASILANIE URZĄDZEŃ ELETRONICZNYCH Badanie dławikowej przetwornicy podwyŝszającej napięcie Opracował: Tomasz Miłosławski Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Budowa, parametry i zasada działania
Bardziej szczegółowo