Końcowe Sprawozdanie z Realizacji Projektu Krajowe Centrum Nanostruktur Magnetycznych do Zastosowań w Elektronice Spinowej - SPINLAB

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Końcowe Sprawozdanie z Realizacji Projektu Krajowe Centrum Nanostruktur Magnetycznych do Zastosowań w Elektronice Spinowej - SPINLAB"

Transkrypt

1 Końcowe Sprawozdanie z Realizacji Projektu Krajowe Centrum Nanostruktur Magnetycznych do Zastosowań w Elektronice Spinowej - SPINLAB Tomasz Stobiecki Katedra Elektroniki AGH, Kraków Maciej Czapkiewicz, Jarosław Kanak, Piotr Mietniowski, Wiesław Powroźnik, Witold Skowroński, Zbigniew Szklarski, Piotr Wiśniowski Lidia Krawentek, Joanna Kożuch, SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

2 ZADANIA 1. Adaptacja pomieszczeń oraz zakup i montaż mebli laboratoryjnych Całkowita kwota ,61 zł Okres realizacji Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Całkowita kwota ,00 zł Okres realizacji Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Całkowita kwota ,79 zł Okres realizacji SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

3 Adaptacja pomieszczeń oraz zakup i montaż mebli laboratoryjnych p. 308 i 212 laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych p. 309 pokój dla pracowników Całkowita kwota ,61 zł SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

4 ZADANIA 1. Adaptacja pomieszczeń oraz zakup i montaż mebli laboratoryjnych Całkowita kwota ,61 zł Okres realizacji Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Całkowita kwota ,00 zł Okres realizacji Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Całkowita kwota ,79 zł Okres realizacji SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

5 buffer capping MTJ stack sputtering deposited in Singulus MgO wedge thickness: 0.6 nm up to 1nm (slope nm/cm) Nanopillars Multilayer pillar 3 step e-beam lithography, ion etching, lift-off Ru 7 CuN 30 Ta 10 Co40Fe40B wedge MgO Co40Fe40B Ru 0.9 Co70Fe 30 2 PtMn 16 Ta MBE pillar prof. J.Korecki Fe/MgO/Fe CuN Ta V - Au SiO substrate 2 Al 2 O V + CoFe Ta 30 3 CuN 50 IC SAF EB Ru 7 CuN 30 Ta 10 Co 40 Fe 40 B wedge MgO Co 40 Fe 40 B Ru 0.9 Co 70 Fe 30 2 PtMn 16 Ta 3 CuN 50 Ta 3 CuN 50 Ta 5 Si/SiO 2 FL RL PL AF SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

6 Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych W ramach zadania została zakupiona następująca aparatura: Zestaw urządzeń do dynamicznych pomiarów czasowo-rozdzielczych oscyloskop 20 GHz, generator sygnałowy i impulsowy, generator pikosekundowy GHz analizator widma - DC - 8GHz SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

7 Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Chłodziarka helowa (z zamkniętym obiegiem helu) podłączona do układu pomiarowego z kriostatem kriostat, 4 sondy DC, 2 RF (<40GHz) Pole magnetyczne +/ T Zakres temperaturowy K do układu pomiarowego do chłodziarki helowej SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

8 PIMM t=2nm SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

9 Power (nv/hz 0.5 ) Katedra Elektroniki, Akademia Górniczo-Hutnicza Magneto-transport measurement setup (pillars) Możliwości pomiarowe: Pomiar rezystancji od pola magnetycznego, prąd-napięcie, Dynamiczna konduktancja, Spin torque (diode, oscillators), Czułość czujników, Szumy niskich częstotliwości. Integrated Power 0.4 nw Pole magnetyczne +/- 0.8 T Częstotliwość DC 20 GHZ Rozdzielczość optyczna < 5 m W. Skowroński, T.Stobiecki et al. Appl. Phys. Express 5,(2012) DC current -0.1 ma -0.5 ma -1 ma -1.5 ma -1.7 ma -1.8 ma 1,0 1,5 2,0 2,5 Frequency (GHz) SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

10 Resistance (Ohm) CIMSand STT diode effect b) AP P 1 ms 2.7 ms 7.3 ms 19.8 ms 53.7 ms AP P ST-oscillator Voltage (V) SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

11 NOISE SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

12 Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Klaster obliczeniowy Layer klimatyzator Lokalizacja: AGH budynek C-3 sala 303 trzy węzły obliczeniowe wyposażone w procesory czterordzeniowe 2.26GHz i 16GB RAM każdy praca w trybie serwera, system zasilania awaryjnego możliwość wykonywania programów na każdym węźle niezależnie SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

13 Micromagnetic simulation (OOMMF) Przykład pracy klastra - symulacja działania urządzeń elektroniki spinowej modele mikrospinowe dynamika magnetyzacji wizualizacje w czasie rzeczywistym SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

14 ZADANIA 1. Adaptacja pomieszczeń oraz zakup i montaż mebli laboratoryjnych Całkowita kwota ,61 zł Okres realizacji Laboratorium charakteryzacji elektrycznej i magnetycznej nanostruktur spintronicznych w warunkach dynamicznych Całkowita kwota ,00 zł Okres realizacji Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Całkowita kwota ,79 zł Okres realizacji SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

15 Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Wyposażenie 2.Blok optyki wtórnej z programowaną szczeliną odbiorczą 1.Ceramiczna lampa Cu do dyfraktometru 4.Zwierciadło (lustro) wielowarstwowe dla lampy Cu w systemie X Pert MPD 3.Otwarte koło Eulera z translacją Z, ze sterowaniem kątów Phi, Psi Figura biegunowa SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

16 Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Oprogramowanie 1. X Pert Data Collector program sterujący dyfraktometrem do zbierania i akwizycji danych + płyta sterująca do dyfraktometru X Pert 2. X Pert Data Viewer program do przeglądania i prezentacji danych pomiarowych 3. X Pert HighScore program do analizy fazowej 4. X Pert Stress program do analizy naprężeń Wyposażenie 1. Ceramiczna lampa Cu do dyfraktometru 2. Blok optyki wtórnej z programowaną szczeliną odbiorczą 3. Otwarte koło Eulera z translacją Z, ze sterowaniem kątów Phi, Psi 4. Zwierciadło (lustro) wielowarstwowe dla lampy Cu w systemie X Pert MPD SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

17 Natężenie (a.u.) Log Natężenie (a.u.) Ta(110) CoFe bcc(110) CoFe bcc(002) Ta(220) PtMn fct(222) PtMn fcc(222) PtMn fcc(111) Ru(0004) PtMn fct(111) Ru(0002) Natężenie (zliczenia/sek) Katedra Elektroniki, Akademia Górniczo-Hutnicza Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD J. Kanak, W. Powroźnik Dyfraktometr X Pert MPD: Reflektometria analiza fazowa, Naprężenia, Tekstura (figury biegunowe). Komora wysokotemperaturowa (300K 1200K). EDX-XRF. EB-SV niewygrzana wygrzana niewygrzana 340 O C (deg) Figura biegunowa XRD - θ-2θ PtMn θ = 40.3 º Ta 5 Ru 5 CoFeB 3 MgO 1.3 CoFeB 3 Ru 0.9 CoFe 2 PtMn 20 Ru 18 Ta 5 Substrate SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31 Ta XRR 10 7 pomiar symulacja (deg) CoFeB TOP EB-SV 500 C 460 C 420 C 380 C 340 C 300 C 260 C 220 C (deg) Pomiary temperaturowe in situ XRD

18 Laboratorium badań strukturalnych SPM-XRD Mikroskop SPM S N AFM - topografia MFM MFM (pole magnetyczne prostopadłe i w płaszczyźnie), SRI (Conductive-AFM), STM, obrazowanie fazowe, KPM, Piezo Response, LFM, Nanolitografia, FMM, EFM. SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

19 ACMIN AGH System do nanolitografii Raith eline plus Trawienie jonowe + nanoszenie warstw R&R IonSys500 Cleanroom klasy ISO5, ISO7 SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

20 SPINLAB, Warszawa IF PAN, 4 grudzień /31

Dynamika w magnetycznych złączach tunelowych

Dynamika w magnetycznych złączach tunelowych Dynamika w magnetycznych złączach tunelowych Witold Skowroński Katedra Elektroniki Wydział Informatyki Elektroniki i Telekomunikacji Witold Skowroński, Kraków 17.01.2014 1/43 Motywacja Badania magnetycznych

Bardziej szczegółowo

Badania dyfrakcyjne cienkowarstwowych struktur pod kątem zastosowań w elektronice spinowej

Badania dyfrakcyjne cienkowarstwowych struktur pod kątem zastosowań w elektronice spinowej Badania dyfrakcyjne cienkowarstwowych struktur pod kątem zastosowań w elektronice spinowej Jarosław Kanak Katedra Elektroniki, WIEiT AGH NCN grant DEC-2012/05/E/ST7/00240 Laboratorium Badań Strukturalnych

Bardziej szczegółowo

Podstawy Mikroelektroniki

Podstawy Mikroelektroniki Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie Wydział IEiT Katedra Elektroniki Podstawy Mikroelektroniki Temat ćwiczenia: Nr ćwiczenia 1 Pomiary charakterystyk magnetoelektrycznych elementów spintronicznych-wpływ

Bardziej szczegółowo

Metody pomiarowe spinowego efektu Halla w nanourządzeniach elektroniki spinowej

Metody pomiarowe spinowego efektu Halla w nanourządzeniach elektroniki spinowej Metody pomiarowe spinowego efektu Halla w nanourządzeniach elektroniki spinowej Monika Cecot, Witold Skowroński, Sławomir Ziętek, Tomasz Stobiecki Wisła, 13.09.2016 Plan prezentacji Spinowy efekt Halla

Bardziej szczegółowo

Marcin Sikora. Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych

Marcin Sikora. Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych Prezentacja tematów na prace doktorskie, 28/5/2015 1 Marcin Sikora KFCS WFiIS & ACMiN Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych

Bardziej szczegółowo

Maciej Czapkiewicz Katedra Elektroniki, WIEiT, AGH

Maciej Czapkiewicz Katedra Elektroniki, WIEiT, AGH Model dyspersji barier energetycznych aktywowanego termicznie procesu przełączania magnetyzacji w układach cienkich warstw z magnetyczną anizotropią prostopadłą Maciej Czapkiewicz Katedra Elektroniki,

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego

FORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Pomiaru

Bardziej szczegółowo

Dynamika namagnesowania warstwowych struktur magnetycznych i nanostruktur.

Dynamika namagnesowania warstwowych struktur magnetycznych i nanostruktur. Dynamika namagnesowania warstwowych struktur magnetycznych i nanostruktur. Hubert Głowiński, IFM PAN promotor: prof. Janusz Dubowik 09.06.2015 1 Praca była częściowo finansowana z grantu Polsko-Szwajcarskiego

Bardziej szczegółowo

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium 1 - Cel zajęć - Orientacyjny plan wykładu - Zasady zaliczania przedmiotu - Literatura Klasyfikacja systemów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

Nanourządzenia elektroniki spinowej: magnetyczne złącza tunelowe, spintorque

Nanourządzenia elektroniki spinowej: magnetyczne złącza tunelowe, spintorque Nanourządzenia elektroniki spinowej: magnetyczne złącza tunelowe, spintorque oscylatory Przegląd badań prowadzonych w AGH T. Stobiecki Katedra Elektroniki AGH http://www.maglay.agh.edu.pl/ http://nanospin.agh.edu.pl/en/

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/124/2010 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 Dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu i spektrometru

Bardziej szczegółowo

Podzespoły i układy scalone mocy część II

Podzespoły i układy scalone mocy część II Podzespoły i układy scalone mocy część II dr inż. Łukasz Starzak Katedra Mikroelektroniki Technik Informatycznych ul. Wólczańska 221/223 bud. B18 pok. 51 http://neo.dmcs.p.lodz.pl/~starzak http://neo.dmcs.p.lodz.pl/uep

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej i Jakości Energii Elektrycznej.

Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej i Jakości Energii Elektrycznej. Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej i Jakości Energii. Opiekun: mgr inż. Piotr Leżyński Sala nr 9, budynek A-9 Laboratorium świadczy usługi pomiarowe w obszarze EMC i jakości energii elektrycznej.

Bardziej szczegółowo

Sprawozdanie - Rada Wydziału bmz. Biotechnologia Molekularna dla Zdrowia

Sprawozdanie - Rada Wydziału bmz.  Biotechnologia Molekularna dla Zdrowia 2008-2012 Sprawozdanie - Rada Wydziału 18.05.2010 www.wbbib.uj.edu.pl/ 1. Budowa i wyposażenie zwierzętarni Zadania 2. Organizacja i wyposażenie pracowni cytometrii obrazowej 3. Wyposażenie pracowni proteomiki

Bardziej szczegółowo

ZAŁĄCZNIK I DO SIWZ. Projekt współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego

ZAŁĄCZNIK I DO SIWZ. Projekt współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego ZAŁĄCZNIK I DO SIWZ Lp. Urządzenie Ilość szt/ komp Wymagania min. stawiane urządzeniu KATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ. Zestaw edukacyjny do pomiarów biomedycznych - Zestaw edukacyjny przedstawiający zasady

Bardziej szczegółowo

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Analizy i Poprawy Jakości Energii Elektrycznej.

Laboratorium Analizy i Poprawy Jakości Energii Elektrycznej. Laboratorium Analizy i Poprawy Jakości Energii. Opiekun: dr inż. Piotr Leżyński Sala nr 9, budynek A9 Laboratorium świadczy usługi pomiarowe w obszarze EMC i jakości energii elektrycznej. Pomiary wykonywane

Bardziej szczegółowo

Indukowana prądem dynamika momentu magnetycznego w złączach tunelowych

Indukowana prądem dynamika momentu magnetycznego w złączach tunelowych Indukowana prądem dynamika momentu magnetycznego w złączach tunelowych mgr inż. Piotr Ogrodnik Warszawa, 19-05-2015 Promotor: prof. dr hab. Renata Świrkowicz Plan wystąpienia Przedmiot badań i motywacja

Bardziej szczegółowo

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Aparatura do osadzania warstw metodami: Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera

Bardziej szczegółowo

STEROWANIE STRUKTUR DYNAMICZNYCH Model fizyczny semiaktywnego zawieszenia z tłumikami magnetoreologicznymi

STEROWANIE STRUKTUR DYNAMICZNYCH Model fizyczny semiaktywnego zawieszenia z tłumikami magnetoreologicznymi STEROWANIE STRUKTUR DYNAMICZNYCH Model fizyczny semiaktywnego zawieszenia z tłumikami magnetoreologicznymi mgr inż. Łukasz Jastrzębski Katedra Automatyzacji Procesów - Akademia Górniczo-Hutnicza Kraków,

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz

FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Badań

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Monika KWOKA, Jacek SZUBER Instytut Elektroniki Politechnika Śląska Gliwice PLAN PREZENTACJI 1. Podsumowanie dotychczasowych prac:

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik Nr 10 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup, dostawa i instalacją dwóch sztuk zestawów elektrochemicznych, stanowiących wyposażenie laboratoryjne dla potrzeb Katolickiego Uniwersytetu Lubelskiego w Stalowej

Bardziej szczegółowo

Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk

Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Promotor: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl. Zadania pracy Pomiary transmisji i odbicia optycznego

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

Gdańsk, 16 grudnia 2010

Gdańsk, 16 grudnia 2010 POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233 Gdańsk prof. dr hab. inż. Andrzej Zieliński tel. 58 348 63 57 fax. 58 347 14 15 Przewodniczący Rady Koordynator

Bardziej szczegółowo

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: . (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja

Bardziej szczegółowo

Źródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.

Źródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg. ZFP dysponuje obecnie unowocześnioną aparaturą, której skompletowanie, uruchomienie i utrzymanie w sprawności wymagało wysiłku zarówno merytorycznego jak i organizacyjnego oraz finansowego. Unowocześnienia

Bardziej szczegółowo

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego

Bardziej szczegółowo

Efektywne symulacje mikromagnetyczne układów magnonicznych przy wykorzystaniu GPGPU.

Efektywne symulacje mikromagnetyczne układów magnonicznych przy wykorzystaniu GPGPU. Efektywne symulacje mikromagnetyczne układów magnonicznych przy wykorzystaniu GPGPU. Mateusz Zelent, Paweł Gruszecki, Michał Mruczkiewicz, Maciej Krawczyk Wydział Fizyki, Zakład Fizyki Nanomateriałów Fale

Bardziej szczegółowo

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk Zbigniew R. Żytkiewicz IF

Bardziej szczegółowo

Wybór strumienia elektronika a praktyczne aspekty projektowania urządzeń i systemów bezprzewodowych

Wybór strumienia elektronika a praktyczne aspekty projektowania urządzeń i systemów bezprzewodowych Wybór strumienia elektronika a praktyczne aspekty projektowania urządzeń i systemów bezprzewodowych dr inż. Łukasz Kulas, Katedra Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej, Koordynator - Centrum Doskonałości

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

1 k. AFM: tryb bezkontaktowy

1 k. AFM: tryb bezkontaktowy AFM: tryb bezkontaktowy Ramię igły wprowadzane w drgania o małej amplitudzie (rzędu 10 nm) Pomiar zmian amplitudy drgań pod wpływem sił (na ogół przyciągających) Zbliżanie igły do próbki aż do osiągnięcia

Bardziej szczegółowo

Amorficzne warstwy w spintronice

Amorficzne warstwy w spintronice Amorficzne warstwy w spintronice T. Stobiecki www.maglay.agh.edu.pl www.nanospin.agh.edu.pl/en/ www.e-control.agh.edu.pl/ 1 Dlaczego spintronika jest ważna? ŁADUNEK SPIN Semiconductor Devices and Integrated

Bardziej szczegółowo

Nanoeletronika. Temat projektu: Wysokoomowa i o małej pojemności sonda o dużym paśmie przenoszenia (DC-200MHz lub 1MHz-200MHz). ang.

Nanoeletronika. Temat projektu: Wysokoomowa i o małej pojemności sonda o dużym paśmie przenoszenia (DC-200MHz lub 1MHz-200MHz). ang. Nanoeletronika Temat projektu: Wysokoomowa i o małej pojemności sonda o dużym paśmie przenoszenia (DC-200MHz lub 1MHz-200MHz). ang. Active probe Wydział EAIiE Katedra Elektroniki 17 czerwiec 2009r. Grupa:

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3)

LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3) LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej. Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie

Bardziej szczegółowo

Tranzystory w pracy impulsowej

Tranzystory w pracy impulsowej Tranzystory w pracy impulsowej. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości impulsowych tranzystorów. Wyniki pomiarów parametrów impulsowych tranzystora będą porównane z parametrami obliczonymi.

Bardziej szczegółowo

ROK AKADEMICKI 2012/2013 studia stacjonarne BLOKI OBIERALNE KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

ROK AKADEMICKI 2012/2013 studia stacjonarne BLOKI OBIERALNE KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH ROK AKADEMICKI 2012/2013 studia stacjonarne BLOKI OBIERALNE KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH PROPONOWANE BLOKI Systemy i sieci światłowodowe Elektronika motoryzacyjna Mikro-

Bardziej szczegółowo

Laboratorium nanotechnologii

Laboratorium nanotechnologii Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury

Bardziej szczegółowo

1. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

1. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Numer referencyjny: IK.PZ-380-06/PN/18 Załącznik nr 1 do SIWZ Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzone w trybie przetargu nieograniczonego pn. Dostawa systemu pomiarowego do badań EMC,

Bardziej szczegółowo

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 2 do SIWZ OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 pn.: Dostawa i instalacja fabrycznie nowego (nieużywanego) Profilometru mechanicznego wraz z przeszkoleniem Personelu Zamawiającego Przedmiotem

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia. Specyfikacja techniczna oferowanego sprzętu

Opis przedmiotu zamówienia. Specyfikacja techniczna oferowanego sprzętu nr postępowania: BZP.2410.4.2018.BO Załącznik nr 9 do SIWZ. Pieczęć Wykonawcy strona z ogólnej liczby stron Opis przedmiotu zamówienia. Specyfikacja techniczna oferowanego sprzętu Dostawa, instalacja i

Bardziej szczegółowo

1. Zasilacz mocy AC/ DC programowany 1 sztuka. 2. Oscyloskop cyfrowy z pomiarem - 2 sztuki 3. Oscyloskop cyfrowy profesjonalny 1 sztuka

1. Zasilacz mocy AC/ DC programowany 1 sztuka. 2. Oscyloskop cyfrowy z pomiarem - 2 sztuki 3. Oscyloskop cyfrowy profesjonalny 1 sztuka WYMAGANIA TECHNICZNE Laboratoryjne wyposażenie pomiarowe w zestawie : 1. Zasilacz mocy AC/ DC programowany 1 sztuka 2. Oscyloskop cyfrowy z pomiarem - 2 sztuki 3. Oscyloskop cyfrowy profesjonalny 1 sztuka

Bardziej szczegółowo

DZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW WYKONUJĄCYCH TESTY SPECJALISTYCZNE APARATÓW RENTGENOWSKICH

DZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW WYKONUJĄCYCH TESTY SPECJALISTYCZNE APARATÓW RENTGENOWSKICH Anna Cepiga, Katarzyna Szymańska, Izabela Milcewicz- Mika, Maciej Schramm, Maciej Budzanowski Laboratorium Dozymetrii Indywidualnej i Środowiskowej, Instytut Fizyki Jądrowej PAN DZIEŃ POWSZEDNI PRACOWNIKÓW

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i metrologii

Podstawy elektroniki i metrologii Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Podstawy elektroniki i metrologii Studia I stopnia kier. Informatyka semestr 2 Ilustracje do

Bardziej szczegółowo

Mobilny system pomiaru luminancji LMK - CCD

Mobilny system pomiaru luminancji LMK - CCD Wydział Transportu Politechniki Warszawskiej Gmach Nowej Kreślarni p.220 ul. Koszykowa 75 00-662 Warszawa tel.22 234 77 52 www.it.pw.edu.pl dr inż. Piotr Tomczuk; email:ptomczuk@it.pw.edu.pl dr inż. Krzysztof

Bardziej szczegółowo

WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA

WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA im. Jarosława Dąbrowskiego ENERGOELEKTRONIKA Laboratorium Ćwiczenie nr 2 Łączniki prądu przemiennego Warszawa 2015r. Łączniki prądu przemiennego na przemienny Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Wirtualne przyrządy pomiarowe

Wirtualne przyrządy pomiarowe Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Wirtualne przyrządy pomiarowe dr inż.. Roland PAWLICZEK Laboratorium Mechatroniki Cel zajęć ęć: Zapoznanie się ze strukturą układu pomiarowego

Bardziej szczegółowo

Serwohydrauliczna maszyna wytrzymałościowa INSTRON 8850

Serwohydrauliczna maszyna wytrzymałościowa INSTRON 8850 Serwohydrauliczna maszyna wytrzymałościowa INSTRON 8850 Piec Kamera termowizyjna Komora temperaturowa Zasilacz hydrauliczny System Aramis Dane techniczne: przemieszczenie tłoka +/-50mm kąt obrotu tłoka

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 3 WYMOGI TECHNICZNE APARATURY DO BADAŃ EMC ZADANIE 1: 1.1 Dostawa urządzeń do pomiaru emisji promieniowanej i przewodzonej: 1.1 Analizator widma umożliwiający, przy zastosowaniu wyposażenia

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI MATERIAŁY POMOCNICZE SERIA PIERWSZA

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI MATERIAŁY POMOCNICZE SERIA PIERWSZA LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI MATERIAŁY POMOCNICZE SERIA PIERWSZA 1. Lutowanie lutowania ołowiowe i bezołowiowe, przebieg lutowania automatycznego (strefy grzania i przebiegi temperatur), narzędzia

Bardziej szczegółowo

T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych

T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych Przeznaczony do testowania przekaźników i przetworników Sterowany mikroprocesorem Wyposażony w przesuwnik fazowy Generator częstotliwości Wyniki badań i

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/055/2007 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA do "Zakupu i montażu czujników pomiarowych oraz stacji operatorskiej z oprogramowaniem SCADA do Laboratorium do

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół

Bardziej szczegółowo

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 89 BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Polarymetr Lampa sodowa Solenoid Źródło napięcia stałego o wydajności prądowej min. 5A Amperomierz prądu stałego

Bardziej szczegółowo

Elektronika spinowa w technice komputerowej

Elektronika spinowa w technice komputerowej Elektronika spinowa w technice komputerowej Przegląd badań prowadzonych w AGH T. Stobiecki Katedra Elektroniki AGH http://www.maglay.agh.edu.pl/ http://nanospin.agh.edu.pl/en/ http://www.e-control.agh.edu.pl/

Bardziej szczegółowo

ANALIZA WARUNKÓW ZASILANIA (JEE) WYBRANE PRZYPADKI

ANALIZA WARUNKÓW ZASILANIA (JEE) WYBRANE PRZYPADKI ANALIZA WARUNKÓW ZASILANIA (JEE) WYBRANE PRZYPADKI dr inż. Andrzej Firlit andrzej.firlit@kaniup.agh.edu.pl Laboratorium JAKOŚĆ ENERGII ENERGETYCZNEJ AGH Kraków ANALIZA PRZYPADKU 1 inwestycja na terenie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 23 Poznanie symboli własności. Zmierzenie parametrów podstawowych bramek logicznych TTL i CMOS. Czytanie schematów elektronicznych,

Bardziej szczegółowo

Laboratoria. badawcze i wzorcujące

Laboratoria. badawcze i wzorcujące Laboratoria badawcze i wzorcujące Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) działa przy Zakładzie Badań Systemów i Urządzeń (Z-1). LBUT

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu 3 części zamówienia Zestawy ćwiczeń

Opis przedmiotu 3 części zamówienia Zestawy ćwiczeń Opis przedmiotu 3 części zamówienia Zestawy ćwiczeń Załącznik 4c do SIWZ Lp. NAZWA OPIS GŁÓWNYCH PARAMETRÓW TECHNICZNYCH ILOŚĆ (szt.) Zestaw powinien składać się min. z modułu bazowego oraz modułów ćwiczeniowych

Bardziej szczegółowo

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych

Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Bloki obieralne na kierunku Mechatronika rok akademicki 2013/2014 ul. Wólczańska 221/223, budynek B18 www.dmcs.p.lodz.pl Nowa siedziba Katedry 2005 2006

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Metrologia Studia I stopnia, kier Elektronika i Telekomunikacja, sem. 2 Ilustracje do wykładu

Bardziej szczegółowo

Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS. Instytut Matematyki UMCS

Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS. Instytut Matematyki UMCS Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS Dziekan Wydziału B 3 Prodziekan Wydziału B 2 Dziekanat B 7a (Kierownik Dziekanatu), B 6, B 6a, B 7 Sala konferencyjna i posiedzeń Rady Wydziału D 217 Biblioteka

Bardziej szczegółowo

REGULATOR PRĄDU SPRĘŻYNY MAGNETYCZNEJ CURRENT REGULATOR OF MAGNETIC SPRING

REGULATOR PRĄDU SPRĘŻYNY MAGNETYCZNEJ CURRENT REGULATOR OF MAGNETIC SPRING PIOTR HABEL, JACEK SNAMINA * REGULATOR PRĄDU SPRĘŻYNY MAGNETYCZNEJ CURRENT REGULATOR OF MAGNETIC SPRING Streszczenie Abstract Artykuł dotyczy zastosowania regulatora prądu do sterowania siłą sprężyny magnetycznej.

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III

oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III oznaczenie sprawy: CRZP/231/009/D/17, ZP/66/WETI/17 Załącznik nr 6 I-III do SIWZ Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla części I-III Część I zamówienia Dostawa urządzeń na potrzeby modernizacji stolika

Bardziej szczegółowo

Rok akademicki: 2013/2014 Kod: EEL s Punkty ECTS: 4. Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: -

Rok akademicki: 2013/2014 Kod: EEL s Punkty ECTS: 4. Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: - Nazwa modułu: Elektronika przemysłowa Rok akademicki: 2013/2014 Kod: EEL-1-513-s Punkty ECTS: 4 Wydział: Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej Kierunek: Elektrotechnika Specjalność:

Bardziej szczegółowo

Załącznik I do siwz. Strona1

Załącznik I do siwz. Strona1 Załącznik I do siwz Dostawa aparatury badawczo-pomiarowej do Środowiskowego Laboratorium Technologii Bezprzewodowych w ramach Centrum Zaawansowanych Technologii Pomorze dla Wydziału Elektroniki, Telekomunikacji

Bardziej szczegółowo

Urządzenia Elektroniki Morskiej Systemy Elektroniki Morskiej

Urządzenia Elektroniki Morskiej Systemy Elektroniki Morskiej Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej Katedra Systemów Elektroniki Morskiej Stacja Badań Hydroakustycznych Urządzenia Elektroniki Morskiej Systemy Elektroniki Morskiej

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie EA1 Silniki wykonawcze prądu stałego

Ćwiczenie EA1 Silniki wykonawcze prądu stałego Akademia Górniczo-Hutnicza im.s.staszica w Krakowie KATEDRA MASZYN ELEKTRYCZNYCH Ćwiczenie EA1 Silniki wykonawcze prądu stałego Program ćwiczenia: A Silnik wykonawczy elektromagnetyczny 1. Zapoznanie się

Bardziej szczegółowo

Autoreferat. 2. Dyplomy i stopnie: magistra inżyniera, Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława 1998 Staszica w Krakowie

Autoreferat. 2. Dyplomy i stopnie: magistra inżyniera, Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława 1998 Staszica w Krakowie Załącznik 2 Autoreferat 1. Imię i Nazwisko: Piotr Wiśniowski 2. Dyplomy i stopnie: magistra inżyniera, Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława 1998 Staszica w Krakowie 2003 master of science, Uniwersytet

Bardziej szczegółowo

Program ćwiczenia: SYSTEMY POMIAROWE WIELKOŚCI FIZYCZNYCH - LABORATORIUM

Program ćwiczenia: SYSTEMY POMIAROWE WIELKOŚCI FIZYCZNYCH - LABORATORIUM Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA Autor: Daniel Słowik Promotor: Dr inż. Daniel Kopiec Wrocław 016 Plan prezentacji Założenia i cel

Bardziej szczegółowo

Rok akademicki: 2013/2014 Kod: JFM DE-s Punkty ECTS: 2. Kierunek: Fizyka Medyczna Specjalność: Dozymetria i elektronika w medycynie

Rok akademicki: 2013/2014 Kod: JFM DE-s Punkty ECTS: 2. Kierunek: Fizyka Medyczna Specjalność: Dozymetria i elektronika w medycynie Nazwa modułu: Elektroniczna aparatura dozymetryczna Rok akademicki: 2013/2014 Kod: JFM-2-107-DE-s Punkty ECTS: 2 Wydział: Fizyki i Informatyki Stosowanej Kierunek: Fizyka Medyczna Specjalność: Dozymetria

Bardziej szczegółowo

Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji

Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu NANO jako droga do innowacji Uniwersytet Śląski w Katowicach Oferta dla partnerów biznesowych Potencjał badawczy Założony w

Bardziej szczegółowo

Lista i program ćwiczeń: 1. Badanie sensorów przemieszczeń liniowych na przykładzie sensora LVDT

Lista i program ćwiczeń: 1. Badanie sensorów przemieszczeń liniowych na przykładzie sensora LVDT Program przedmiotu,,laboratorium Sensorów i Przetworników Pomiarowych Opis ogólny: Przedstawiony program jest znaczącą modyfikacją i unowocześnieniem zajęć prowadzonych obecnie na siódmym semestrze kierunku

Bardziej szczegółowo

14. O P I S U S Ł U G

14. O P I S U S Ł U G 14. O P I S U S Ł U G Zawartość: A. Szafy i obudowy, B. Aparatura obiektowa wraz z okablowaniem, C. Uruchomienie układów automatyki bez BMS D. Sprzęt komputerowy, oprogramowanie E. Uruchomienie systemu

Bardziej szczegółowo

BADANIE ELEMENTÓW RLC

BADANIE ELEMENTÓW RLC KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE BADANIE ELEMENTÓW RLC REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENIA - zapoznanie się z systemem laboratoryjnym NI ELVIS II, - zapoznanie się z podstawowymi

Bardziej szczegółowo

ZAKRES BADAŃ BEZPIECZEŃSTWO UŻYTKOWANIA I EMC CELAMED Centralne Laboratorium Aparatury Medycznej Aspel S.A.

ZAKRES BADAŃ BEZPIECZEŃSTWO UŻYTKOWANIA I EMC CELAMED Centralne Laboratorium Aparatury Medycznej Aspel S.A. Przedstawiony formularz umożliwia wybór badań będących przedmiotem zamówienia, sporządzenia planu badań. Dla ułatwienia wyboru przedstawiono krótką charakterystykę techniczną możliwości badawczych, oraz

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

ELEMENTY ELEKTRONICZNE KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE DIODY REV. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - pomiary charakterystyk stałoprądowych diod prostowniczych, świecących oraz stabilizacyjnych - praktyczne

Bardziej szczegółowo

Filtry aktywne filtr środkowoprzepustowy

Filtry aktywne filtr środkowoprzepustowy Filtry aktywne iltr środkowoprzepustowy. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie właściwości iltrów aktywnych, metod ich projektowania oraz pomiaru podstawowych parametrów iltru.. Budowa

Bardziej szczegółowo

Wstępne propozycje tematów prac dyplomowych:

Wstępne propozycje tematów prac dyplomowych: Serdecznie zapraszam na konsultacje studentów z własnymi pomysłami na tematy prac dyplomowych z dziedziny elektrotechniki i oświetlenia w transporcie. Szczególnie aktualna jest tematyka elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

Charakterystyka przedmiotu zamówienia

Charakterystyka przedmiotu zamówienia Załącznik nr 5 do siwz W/NO/ZP-2/12 Charakterystyka przedmiotu zamówienia Ilekroć w treści siwz, w tym w opisie przedmiotu zamówienia, użyte są znaki towarowe, patenty lub pochodzenie, a także normy, Zamawiający

Bardziej szczegółowo

Data wykonania ćwiczenia: Ćwiczenie prowadził:

Data wykonania ćwiczenia: Ćwiczenie prowadził: W O J S K O W A A K A D E M I A T E C H N I C Z N A WYDZIAŁ ELEKTRONIKI Drukować dwustronnie T E C H N I K A O B L I C Z E N I O W A I S Y M U L A C Y J N A Grupa...+++... Nazwisko i imię: 1. 2. 3. Ocena

Bardziej szczegółowo

1. Pojęcia związane z dynamiką fazy dynamiczne sygnału

1. Pojęcia związane z dynamiką fazy dynamiczne sygnału Wprowadzenie Ćwiczenie obrazuje najważniejsze cechy cyfrowych systemów terowania dynamiką na przykładzie limitera stosowanego w profesjonalnych systemach audio, a szczególnie: Pokazuje jak w poprawny sposób

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-08-03 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA POZNAŃSKA KATEDRA STEROWANIA I INŻYNIERII SYSTEMÓW

POLITECHNIKA POZNAŃSKA KATEDRA STEROWANIA I INŻYNIERII SYSTEMÓW POLITECHNIKA POZNAŃSKA KATEDRA STEROWANIA I INŻYNIERII SYSTEMÓW Pracownia Układów Elektronicznych i Przetwarzania ELEKTRONICZNE SYSTEMY POMIAROWE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Badanie transoptora

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 1. Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym.

Ćwiczenie 1. Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym. Ćwiczenie 1 Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym. Środowisko symulacyjne Symulacja układu napędowego z silnikiem DC wykonana zostanie w oparciu o środowisko symulacyjne

Bardziej szczegółowo

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2010/2011) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych

Bardziej szczegółowo

Redukcja poziomu emisji zaburzeo elektromagnetycznych urządzenia zawierającego konwerter DC/DC oraz wzmacniacz audio pracujący w klasie D

Redukcja poziomu emisji zaburzeo elektromagnetycznych urządzenia zawierającego konwerter DC/DC oraz wzmacniacz audio pracujący w klasie D Szymon Ratajski, W2 Włodzimierz Wyrzykowski Redukcja poziomu emisji zaburzeo elektromagnetycznych urządzenia zawierającego konwerter DC/DC oraz wzmacniacz audio pracujący w klasie D Badanym obiektem jest

Bardziej szczegółowo

Arkusz Informacji Technicznej

Arkusz Informacji Technicznej Arkusz Informacji Technicznej Przedmiot oferty: Skaningowy Mikroskop Pola Bliskiego (SNOM) Wysokiej klasy, fabrycznie nowy Mikroskop Optyczny Pola Bliskiego zintegrowany z mikroskopem sił atomowych (AFM)

Bardziej szczegółowo

Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun

Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa

Bardziej szczegółowo

Układy cienkowarstwowe o prostopadłej anizotropii magnetycznej sterowalnej polem elektrycznym

Układy cienkowarstwowe o prostopadłej anizotropii magnetycznej sterowalnej polem elektrycznym Układy cienkowarstwowe o prostopadłej anizotropii magnetycznej sterowalnej polem elektrycznym A. Kozioł-Rachwał Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej AGH National Institute of Advanced Industrial Science

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Temat: Badanie właściwości elektrycznych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych.. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, charakterystyk

Bardziej szczegółowo

Badanie dławikowej przetwornicy podwyŝszającej napięcie

Badanie dławikowej przetwornicy podwyŝszającej napięcie LABORATORIUM ZASILANIE URZĄDZEŃ ELETRONICZNYCH Badanie dławikowej przetwornicy podwyŝszającej napięcie Opracował: Tomasz Miłosławski Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Budowa, parametry i zasada działania

Bardziej szczegółowo