PORÓWNYWANIE CZĘSTOTLIWOŚCI WZORCOWYCH W ŚRODOWISKU LABVIEW

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "PORÓWNYWANIE CZĘSTOTLIWOŚCI WZORCOWYCH W ŚRODOWISKU LABVIEW"

Transkrypt

1 II Sympozjum Naukowe APM 2013 Gdańsk, 15 września 2013 r. PORÓWNYWANIE CZĘSTOTLIWOŚCI WZORCOWYCH W ŚRODOWISKU LABVIEW Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki

2 Plan prezentacji - Sygnał częstotliwości wzorcowej - Fazowa metoda porównywania częstotliwości wzorcowych - Problemy stosowania metody fazowej porównywania częstotliwości - Aplikacja w środowisku LabVIEW wspomagająca pomiary metodą fazową - Przykładowe wyniki zrealizowanych pomiarów - Dostępne sygnały wzorcowe: GPS PPS, DCF 77,5 khz, WRC 225 khz - Podsumowanie APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 2

3 Czas i częstotliwość poziomy błędów APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 3

4 Sygnał częstotliwości wzorcowej u( t) = Asin( ϕ 0 + 2πft ) = Asin( ϕ0 + ϕ w( t)) Sygnał wzorcowy o stabilnej, znanej częstotliwości f w i okresie T w charakteryzuje się fazą ϕ w (t) przyrastającą równomiernie liniowo w funkcji czasu z szybkością 2π radianów na jeden okres: ϕ w ( t) = 2π APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 4 t T w

5 Metoda fazowa przebiegi czasowe Sygnał generatora badanego o zbliżonej częstotliwości f g f w i okresie T g jest przesunięty względem sygnału wzorcowego o tzw. czas fazowy τ, a jego faza ϕ g (t) wynosi: τ 2π ϕ g ( t) = ϕw ( t) + 2π = ( t + τ ) T T w w APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 5

6 Metoda fazowa wzory Częstotliwość f g sygnału generatora badanego może być więc wyznaczona na podstawie pochodnej z jego fazy: f g = 1 2π dϕ dt g = 1 2π d dt ϕ w ( t) + τ 2π Tw = 1 T w 1 + dτ dt Jeśli czas fazowy ma stałą wartość τ=const., to jego pochodna jest równa zero, a wtedy częstotliwość sygnału generatora badanego f g jest dokładnie równa częstotliwości wzorcowej: f g = f w. Jeśli jednak czas fazowy τ ulega zmianie, to odchylenie f g częstotliwości generatora badanego f g względem wzorca f w wyniesie: f = f f = g g w 1 T w dτ dt APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 6

7 APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 7 Metoda fazowa wzory c.d. Względne odchylenie δf g będzie równe: Jeśli w kolejnych chwilach t 1, t 2,... t n zmierzono czasy fazowe τ 1, τ 2,... τ n i częstotliwość f g ma stałą wartość, to pochodną można wyznaczyć z ilorazu różnicowego: dt d dt d T T f f f f w w w w g g τ τ = = = 1 δ 1 1 δ t t t f n n g = = τ τ τ

8 Metoda fazowa zasada pomiaru. δf g = τ = t τ t n n τ t 1 1 Uwaga! Jeśli zamienimy miejscami sygnały i czas fazowy zmierzymy od zbocza sygnału f w do zbocza sygnału f g (co może być niekiedy wygodniejsze), to zmieni się znak f g na przeciwny i w powyższym pojawi się minus. APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 8

9 Niepewność wyznaczenia odchylenia częstotliwości δf g = τ = t τ t n n τ t 1 1 τ n τ 1, ich różnica τ n - τ 1 ma małą wartość t n >> t 1, ich różnica t n - t 1 ma dużą wartość Wniosek: głównym składnikiem niepewności u(δf g ) wyznaczenia względnego odchylenia częstotliwości f g od f w wzorca jest niepewność u(τ) pomiaru czasu fazowego τ : u ( ) u( τ ) δf = g t APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 9

10 u(δf g ) 10-9 Niepewność a czas trwania pomiaru u ( δf ) g = u ( τ ) t u ( τ) 10 ns t = t n - t 1 10 s Zakładając przykładowo niepewność pomiaru czasu fazowego u(τ) na poziomie 10 ns (wynikającą przede wszystkim z błędu kwantowania), można uzyskać niepewność u(δf g ) na poziomie 10-9 Hz/Hz dla czasu trwania pomiaru τ=10 s. W rzeczywistości konieczne okazuje się wydłużenie czasu pomiaru, ze względu na występujące fluktuacje częstotliwości f g generatora badanego. APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 10

11 Stabilność i dokładność wzorców częstotliwości Żródło: NIST ( To jest przypadek użytkownika generatorów wzorcowych użytkowych niższego rzędu. Pytanie brzmi: Jak długo należy wykonywać pomiar, aby uzyskać wiarygodny wynik porównania? APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 11

12 Problem jak długo powinien trwać pomiar? δf g = τ = t τ t n n τ t 1 1 Odchylenie δf g jest równe współczynnikowi kierunkowemu a linii prostej y=ax+b poprowadzonej przez dwa punkty pomiarowe: (t 1, τ 1 ) i (t n, τ n ), wybrane do obliczeń i jego wartość może się istotnie zmieniać w zależności od wyboru tych punktów. δf g = a Im dalej od siebie leżą punkty (t 1, τ 1 ) i (t n, τ n ) wybrane do obliczeń, przez które poprowadzimy linię y=ax+b, tym dokładniej wyznaczymy odchylenie δf g. APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 12

13 Zbyt krótki czas pomiaru Przy krótkim czasie pomiaru punkty (t 1, τ 1 ) i (t n, τ n ) wybrane do obliczeń położone są blisko siebie. Zależnie od wyboru punktów, przez które poprowadzimy linię y=ax+b, otrzymamy znaczenie różniące się wartości odchylenia częstotliwości δf g. APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 13

14 Dwa punkty lub aproksymacja Przy dłuższym czasie pomiaru wybór punktów (t 1, τ 1 ) i (t n, τ n ), przez które prowadzimy linię prostą y=ax+b również wpływa na otrzymaną wartość odchylenia δf g. Najlepiej zastosować aproksymację wszystkich punktów (t 1, τ 1 ), (t 2, τ 2 ),... (t n, τ n ) linią prostą y=a 0 x+b 0, wtedy: δf g = a 0 APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 14

15 Metody aproksymacji LS, LAR, BS LS - Least Square LAR - Least Absolute Residual BS - Bisquare APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 15

16 Układ pomiarowy APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 16

17 Konfigurowanie pomiarów Panel sterujący aplikacji Kontrola obliczeń Dodatkowe wyniki Wizualizacja wyników pomiarów Kontrola programu APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 17

18 Panel sterujący zakładki POMIAR i WEJŚCIE DANYCH Sterowanie pomiarami Konfigurowanie port RS 232 Dane do protokołu pomiarów Parametry symulacji APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 18

19 Czas fazowy Panel sterujący zakładka czasu fazowego Korekta ujemnych czasów Metoda aproksymacji Odchylenie częstotliwości APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 19

20 Panel sterujący zakładka odchylenia częstotliwości Względne odchylenie częstotliwości Odchylenie częstotliwości APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 20

21 Panel sterujący zakładka z opisem aplikacji APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 21

22 Diagram aplikacji APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 22

23 Rezultat końcowy - raport tekstowy APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 23

24 Czas fazowy - symulacja 50µs Symulowany przyrost czasu fazowego 5µs/1s Symulowane odchylenie częstotliwości δf g = 5x10-6 Hz/Hz APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 24

25 Odchylenie częstotliwości - symulacja 1 minuta 10% Symulowane odchylenie częstotliwości δf g = 5x10-6 Hz/Hz Po czasie około minuty zmiany odchylenia częstotliwości nie przekraczają 10% APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 25

26 Czas fazowy GWM-5-1 względem DCF 1µs Przyrost czasu fazowego 4,85µs/100s Odchylenie częstotliwości δf g = 4,85x10-8 Hz/Hz APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 26

27 Odchylenie częstotliwości GWM-5-1 względem DCF 1 minuta 1% Odchylenie częstotliwości δf g = 4,85x10-8 Hz/Hz Po czasie około minuty zmiany odchylenia częstotliwości nie przekraczają 1% Wniosek: generator o wysokiej dokładności i dobrej stabilności APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 27

28 Czas fazowy zegarek kwarcowy względem DCF 200µs Przyrost czasu fazowego 10µs/1s Odchylenie częstotliwości δf g = 1x10-5 Hz/Hz APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 28

29 Odchylenie częstotliwości zegarek względem DCF 1 minuta 10% Odchylenie częstotliwości δf g = 1x10-5 Hz/Hz Jeszcze po czasie 5 minut zmiany odchylenia częstotliwości przekraczają 10% Wniosek: generator o niskiej dokładności i słabej stabilności APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 29

30 Wykaz usług pomiarowych GUM czas i częstotliwość APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 30

31 Wzorce atomowe i system GPS GPS Disciplined Oscillator APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 31

32 Wykorzystanie sygnałów radiowych Radiowa częstotliwość wzorcowa WRC 225 khz jest kontrolowana przez GUM z niepewnością na poziomie 0, Hz/Hz APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 32

33 Odbiornik NovAtel SUPERSTAR II SUPERSTAR II GPS Card specifications L1 Frequency: 1, MHz Time Mark Output: 1PPS output aligned on GPS Time ± 200 ns Input Voltage: +3.3 VDC or +5.0 VDC Power Consumption: 0.8 W typical at 5.0 VDC (passive antenna) Dimensions: 46 x 71 x 13 mm Weight: 22 g δ f g = τ = t 200 ns 1s = Wniosek: Bespośrednie porównanie z sygnałem 1PPS odbiornika GPS wymaga długich czasów porównań lub zastosowania generatora dyscyplinowanego GPSDO APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 33

34 Czas fazowy dwa odbiorniki GPS NovAtel PPS 200ns Przyrost czasu fazowego 2ns/10000s Odchylenie częstotliwości δf g = 2x10-13 Hz/Hz APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 34

35 Dwa odbiorniki GPS NovAtel PPS - błąd kwantowania 500ps Błąd kwantowania czasomierza podczas pomiaru czasu fazowego 500ps APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 35

36 Odchylenie częstotliwości dwa odbiorniki GPS NovAtel PPS 3 godziny 1x10-13 Odchylenie częstotliwości δf g = 2x10-13 Hz/Hz Po czasie około 3 godzin odchylenia częstotliwości nie przekracza 1x10-13 Hz/Hz APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 36

37 Czas fazowy DCF względem GPS NovAtel PPS 6 godzin 1,5µs 12:00 18:00 24:00 6:00 12:00 Przyrost czasu fazowego 1,5µs/6h Odchylenie częstotliwości δf g = 7x10-11 Hz/Hz (ale tylko w czasie dnia!!!) APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 37

38 Odchylenie częstotliwości DCF względem GPS PPS 24 godziny -5x10-12 Odchylenie częstotliwości δf g = -5x10-12 Hz/Hz (uśrednione za całą dobę) Odchylenie częstotliwości δf g = 7x10-11 Hz/Hz (tylko w czasie dnia!!!) APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 38

39 Czas fazowy WRC względem GPS NovAtel PPS 14 godzin 2µs 12:00 18:00 24:00 6:00 12:00 Przyrost czasu fazowego -2µs/14h Odchylenie częstotliwości δf g = -4x10-11 Hz/Hz (w czasie całe doby!!!) APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 39

40 Odchylenie częstotliwości WRC względem GPS PPS 24 godziny -4x :00 18:00 24:00 6:00 12:00 Przyrost czasu fazowego -2µs/14h Odchylenie częstotliwości δf g = -4x10-11 Hz/Hz (w czasie całe doby!!!) APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 40

41 Czas fazowy RUHLA względem GPS NovAtel PPS 44 sekundy 100µs Przyrost czasu fazowego 100µs/44s Odchylenie częstotliwości δf g = 2,3x10-6 Hz/Hz APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 41

42 Odchylenie częstotliwości RUHLA względem GPS PPS 5 minut 1% Przyrost czasu fazowego 100µs/44s Odchylenie częstotliwości δf g = -2,3x10-6 Hz/Hz (zegarek śpieszy się1s/27dni) Wynik porównania uzyskujemy po czasie poniżej 5 minut (zmiany <1%) APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 42

43 Czas fazowy GPSDO względem GPS NovAtel PPS 5 minut 200ns Przyrost czasu fazowego 12ns/600s Odchylenie częstotliwości δf g = 2x10-11 Hz/Hz Generator VCXCO OMIG OCXO-5 synchronizowany do GPS PPS APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 43

44 Odchylenie częstotliwości GPSDO względem GPS PPS 5 minut 1% Przyrost czasu fazowego 100µs/44s Odchylenie częstotliwości δf g = -2x10-11 Hz/Hz Wynik porównania uzyskujemy po czasie poniżej 5 minut (zmiany <1%) APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 44

45 Podsumowanie 1.Przedstawiono zagadnienie porównywania częstotliwości wzorcowych metodą fazową. 2.Zaprezentowano opracowaną do tego celu aplikację w środowisku LabVIEW oraz współpracujący z nią układ pomiarowy oraz przykładowe wyniki pomiarów. 3.Aplikacja wyznacza wartość odchylenia częstotliwości generatora badanego względem wzorca na podstawie współczynnika regresji liniowej ze wszystkich wykonanych pomiarów czasu fazowego. 4.Aplikacja pozwala na bieżąco śledzić proces stabilizowania się otrzymywanych wyników, co pozwala określić chwilę zakończenia pomiarów. APM 2013 dr inż. Eligiusz Pawłowski 45

46 DZIĘKUJĘ ZA UWAGĘ

Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych

Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych XXXVIII MIĘDZYUCZELNIANIA KONFERENCJA METROLOGÓW MKM 06 Warszawa Białobrzegi, 4-6 września 2006 r. Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki PRACA DYPLOMOWA MAGISTERSKA Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości Marcin Narel Promotor: dr inż. Eligiusz

Bardziej szczegółowo

PL B1. TELEKOMUNIKACJA POLSKA SPÓŁKA AKCYJNA, Warszawa, PL BUP 11/09. JACEK IGALSON, Warszawa, PL WALDEMAR ADAMOWICZ, Warszawa, PL

PL B1. TELEKOMUNIKACJA POLSKA SPÓŁKA AKCYJNA, Warszawa, PL BUP 11/09. JACEK IGALSON, Warszawa, PL WALDEMAR ADAMOWICZ, Warszawa, PL PL 213874 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213874 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383846 (51) Int.Cl. G04G 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie budżetu niepewności w pomiarach wybranych parametrów jakości energii elektrycznej

Wyznaczanie budżetu niepewności w pomiarach wybranych parametrów jakości energii elektrycznej P. OTOMAŃSKI Politechnika Poznańska P. ZAZULA Okręgowy Urząd Miar w Poznaniu Wyznaczanie budżetu niepewności w pomiarach wybranych parametrów jakości energii elektrycznej Seminarium SMART GRID 08 marca

Bardziej szczegółowo

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej

Bardziej szczegółowo

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063 Cyfrowy Analizator Widma GA4063 3GHz (opcja 6GHz) Wysoka kla sa pomiarowa Duże możliwości pomiarowo -funkcjonalne Wysoka s tabi lność Łatwy w użyc iu GUI Małe wymiary, lekki, przenośny Opis produktu GA4063

Bardziej szczegółowo

Projektowanie układów regulacji w dziedzinie częstotliwości. dr hab. inż. Krzysztof Patan, prof. PWSZ

Projektowanie układów regulacji w dziedzinie częstotliwości. dr hab. inż. Krzysztof Patan, prof. PWSZ Projektowanie układów regulacji w dziedzinie częstotliwości dr hab. inż. Krzysztof Patan, prof. PWSZ Wprowadzenie Metody projektowania w dziedzinie częstotliwości mają wiele zalet: stabilność i wymagania

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie odchylenia względnego częstotliwości oraz niestabilności częstotliwości wzorców

Wyznaczanie odchylenia względnego częstotliwości oraz niestabilności częstotliwości wzorców BIULETYN WAT VOL. LVII, NR 2, 2008 Wyznaczanie odchylenia względnego częstotliwości oraz niestabilności częstotliwości wzorców ALEKSANDRA GADOMSKA, MARIUSZ GÓRECKI Centralny Wojskowy Ośrodek Metrologii,

Bardziej szczegółowo

Analiza właściwości filtra selektywnego

Analiza właściwości filtra selektywnego Ćwiczenie 2 Analiza właściwości filtra selektywnego Program ćwiczenia. Zapoznanie się z przykładową strukturą filtra selektywnego 2 rzędu i zakresami jego parametrów. 2. Analiza widma sygnału prostokątnego..

Bardziej szczegółowo

METROLOGIA. Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki

METROLOGIA. Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki METROLOGIA Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EINS Zjazd 11, wykład nr 18 Prawo autorskie Niniejsze materiały podlegają ochronie

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA LOGISTYKI I TRANSPORTU PRZEMYSŁOWEGO NR 1 POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO Katowice, październik 5r. CEL ĆWICZENIA Poznanie zjawiska przesunięcia fazowego. ZESTAW

Bardziej szczegółowo

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMNS Semestr zimowy studia niestacjonarne Wykład nr

Bardziej szczegółowo

Technika regulacji automatycznej

Technika regulacji automatycznej Technika regulacji automatycznej Wykład 3 Wojciech Paszke Instytut Sterowania i Systemów Informatycznych, Uniwersytet Zielonogórski 1 z 32 Plan wykładu Wprowadzenie Układ pierwszego rzędu Układ drugiego

Bardziej szczegółowo

CYFROWE PRZETWARZANIE SYGNAŁU PRZETWORNIKA OBROTOWO-IMPULSOWEGO

CYFROWE PRZETWARZANIE SYGNAŁU PRZETWORNIKA OBROTOWO-IMPULSOWEGO Politechnika Lubelska, Katedra Automatyki i Metrologii ul. Nadbystrzycka 38 A, 20-68 Lublin email: e.pawlowski@pollub.pl Eligiusz PAWŁOWSKI CYFROWE PRZEWARZANIE SYGNAŁU PRZEWORNIKA OBROOWO-IMPULSOWEGO

Bardziej szczegółowo

Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu

Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu 1 ĆWICZENIE 7. CEL ĆWICZENIA. Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu Celem ćwiczenia jest poznanie własności dynamicznych przetworników pierwszego rzędu w dziedzinie czasu i częstotliwości

Bardziej szczegółowo

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych dla studentów Chemii (2018) Autor prezentacji :dr hab. Paweł Korecki dr Szymon Godlewski e-mail: szymon.godlewski@uj.edu.pl

Bardziej szczegółowo

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST Semestr letni Wykład nr 2 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

A3 : Wzmacniacze operacyjne w układach liniowych

A3 : Wzmacniacze operacyjne w układach liniowych A3 : Wzmacniacze operacyjne w układach liniowych Jacek Grela, Radosław Strzałka 2 kwietnia 29 1 Wstęp 1.1 Wzory Poniżej zamieszczamy podstawowe wzory i definicje, których używaliśmy w obliczeniach: 1.

Bardziej szczegółowo

PROTOKÓŁ POMIAROWY - SPRAWOZDANIE

PROTOKÓŁ POMIAROWY - SPRAWOZDANIE PROTOKÓŁ POMIAROWY - SPRAWOZDANIE LABORATORIM PODSTAW ELEKTROTECHNIKI I ELEKTRONIKI Grupa Podgrupa Numer ćwiczenia 5 Nazwisko i imię Data wykonania. ćwiczenia. Prowadzący ćwiczenie Podpis Ocena sprawozdania

Bardziej szczegółowo

Wyniki pomiarów okresu drgań dla wahadła o długości l = 1,215 m i l = 0,5 cm.

Wyniki pomiarów okresu drgań dla wahadła o długości l = 1,215 m i l = 0,5 cm. 2 Wyniki pomiarów okresu drgań dla wahadła o długości l = 1,215 m i l = 0,5 cm. Nr pomiaru T[s] 1 2,21 2 2,23 3 2,19 4 2,22 5 2,25 6 2,19 7 2,23 8 2,24 9 2,18 10 2,16 Wyniki pomiarów okresu drgań dla wahadła

Bardziej szczegółowo

1. Dydaktyczne stanowisko pomiarowe do eksperymentów z oscyloskopem cyfrowym.

1. Dydaktyczne stanowisko pomiarowe do eksperymentów z oscyloskopem cyfrowym. Tematy prac dyplomowych inŝynierskich i magisterskich dla kierunku Elektrotechnika na rok akademicki 2011 / 2012 1. Dydaktyczne stanowisko pomiarowe do eksperymentów z oscyloskopem cyfrowym. Cel pracy:

Bardziej szczegółowo

Wstęp. Doświadczenia. 1 Pomiar oporności z użyciem omomierza multimetru

Wstęp. Doświadczenia. 1 Pomiar oporności z użyciem omomierza multimetru Wstęp Celem ćwiczenia jest zaznajomienie się z podstawowymi przyrządami takimi jak: multimetr, oscyloskop, zasilacz i generator. Poznane zostaną również podstawowe prawa fizyczne a także metody opracowywania

Bardziej szczegółowo

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz.

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz. Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II WYZNACZANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW Grupa: Nr. Ćwicz. 9 1... kierownik 2...

Bardziej szczegółowo

Tutaj powinny znaleźć się wyniki pomiarów (tabelki) potwierdzone przez prowadzacego zajęcia laboratoryjne i podpis dyżurujacego pracownika obsługi

Tutaj powinny znaleźć się wyniki pomiarów (tabelki) potwierdzone przez prowadzacego zajęcia laboratoryjne i podpis dyżurujacego pracownika obsługi Tutaj powinny znaleźć się wyniki pomiarów (tabelki) potwierdzone przez prowadzacego zajęcia laboratoryjne i podpis dyżurujacego pracownika obsługi technicznej. 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST - ITwE Semestr zimowy Wykład nr 10 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMNS - ITwE Semestr letni Wykład nr 6 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych

Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych Ćwiczenie Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych Program ćwiczenia. Zapoznanie się z przykładową strukturą filtra dolnoprzepustowego (DP) rzędu i jego parametrami.. Analiza widma sygnału prostokątnego.

Bardziej szczegółowo

WSKAZÓWKI DO WYKONANIA SPRAWOZDANIA Z WYRÓWNAWCZYCH ZAJĘĆ LABORATORYJNYCH

WSKAZÓWKI DO WYKONANIA SPRAWOZDANIA Z WYRÓWNAWCZYCH ZAJĘĆ LABORATORYJNYCH WSKAZÓWKI DO WYKONANIA SPRAWOZDANIA Z WYRÓWNAWCZYCH ZAJĘĆ LABORATORYJNYCH Dobrze przygotowane sprawozdanie powinno zawierać następujące elementy: 1. Krótki wstęp - maksymalnie pół strony. W krótki i zwięzły

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST - ITE Semestr zimowy Wykład nr 7 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Detektor Fazowy. Marcin Polkowski 23 stycznia 2008

Detektor Fazowy. Marcin Polkowski 23 stycznia 2008 Detektor Fazowy Marcin Polkowski marcin@polkowski.eu 23 stycznia 2008 Streszczenie Raport z ćwiczenia, którego celem było zapoznanie się z działaniem detektora fazowego umożliwiającego pomiar słabych i

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie sprawności grzejnika elektrycznego i ciepła właściwego cieczy za pomocą kalorymetru z grzejnikiem elektrycznym

Wyznaczanie sprawności grzejnika elektrycznego i ciepła właściwego cieczy za pomocą kalorymetru z grzejnikiem elektrycznym Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 24 III 2009 Nr. ćwiczenia: 215 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie sprawności grzejnika elektrycznego i ciepła

Bardziej szczegółowo

Ocena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia

Ocena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia Ocena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia XIX Sympozjum Klubu POLLAB Kudowa Zdrój 2013 Jolanta Wasilewska, Robert Rzepakowski 1 Zawartość

Bardziej szczegółowo

Globalny Nawigacyjny System Satelitarny GLONASS. dr inż. Paweł Zalewski

Globalny Nawigacyjny System Satelitarny GLONASS. dr inż. Paweł Zalewski Globalny Nawigacyjny System Satelitarny GLONASS dr inż. Paweł Zalewski Wprowadzenie System GLONASS (Global Navigation Satellite System lub Globalnaja Nawigacjonnaja Sputnikowaja Sistiema) został zaprojektowany

Bardziej szczegółowo

Pełna oferta produktów do synchronizacji czasu w systemach i sieciach komputerowych

Pełna oferta produktów do synchronizacji czasu w systemach i sieciach komputerowych NAVI sp. z o.o. MEINBERG FUNKUHREN KG Pełna oferta produktów do synchronizacji czasu w systemach i sieciach komputerowych SPIS TREŚCI NAVI sp. z o.o. MEINBERG FUNKUHREN KG MOCNE STRONY WSPARCIE PRODUKTY

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Pętla fazowa Ćwiczenie 6 2015 r. 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się, poprzez badania symulacyjne, z działaniem pętli fazowej. 2. Konspekt

Bardziej szczegółowo

Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych

Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).

Bardziej szczegółowo

4. Dane techniczne 4.1. Pomiar częstotliwości Zakres pomiaru Czas pomiaru/otwarcia bramki/

4. Dane techniczne 4.1. Pomiar częstotliwości Zakres pomiaru Czas pomiaru/otwarcia bramki/ 9 2. Przeznaczenie przyrządu Częstościomierz-czasomierz cyfrowy typ KZ 2025A, KZ 2025B, KZ2025C,K2026A, KZ2026B i KZ 2026C jest przyrządem laboratoryjnym przeznaczonym do cyfrowego pomiaru: - częstotliwości

Bardziej szczegółowo

POMIAR CZĘSTOTLIWOŚCI I INTERWAŁU CZASU

POMIAR CZĘSTOTLIWOŚCI I INTERWAŁU CZASU Nr. Ćwicz. 7 Politechnika Rzeszowska Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Laboratorium Metrologii I POMIAR CZĘSOLIWOŚCI I INERWAŁU CZASU Grupa:... kierownik 2... 3... 4... Ocena I. CEL ĆWICZENIA Celem

Bardziej szczegółowo

Liniowe układy scalone. Elementy miernictwa cyfrowego

Liniowe układy scalone. Elementy miernictwa cyfrowego Liniowe układy scalone Elementy miernictwa cyfrowego Wielkości mierzone Czas Częstotliwość Napięcie Prąd Rezystancja, pojemność Przesunięcie fazowe Czasomierz cyfrowy f w f GW g N D L start stop SB GW

Bardziej szczegółowo

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2010/2011) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych

Bardziej szczegółowo

1. Sporządzić tabele z wynikami pomiarów oraz wyznaczonymi błędami pomiarów dotyczących pomiaru prędkości obrotowej zgodnie z poniższym przykładem.

1. Sporządzić tabele z wynikami pomiarów oraz wyznaczonymi błędami pomiarów dotyczących pomiaru prędkości obrotowej zgodnie z poniższym przykładem. Sporządzić tabele z wynikami pomiarów oraz wyznaczonymi błędami pomiarów dotyczących pomiaru prędkości obrotowej zgodnie z poniższym przykładem Tab Wyniki i błędy pomiarów U [V] U [V] f [Hz] U [V] δ U

Bardziej szczegółowo

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST Semestr letni Wykład nr 2 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA Autor: Daniel Słowik Promotor: Dr inż. Daniel Kopiec Wrocław 016 Plan prezentacji Założenia i cel

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 2 Badanie funkcji korelacji w przebiegach elektrycznych.

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 2 Badanie funkcji korelacji w przebiegach elektrycznych. Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie Badanie unkcji korelacji w przebiegach elektrycznych. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zbadanie unkcji korelacji w okresowych sygnałach

Bardziej szczegółowo

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST Semestr letni Wykład nr 2 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

WZORCOWANIE MOSTKÓW DO POMIARU BŁĘDÓW PRZEKŁADNIKÓW PRĄDOWYCH I NAPIĘCIOWYCH ZA POMOCĄ SYSTEMU PRÓBKUJĄCEGO

WZORCOWANIE MOSTKÓW DO POMIARU BŁĘDÓW PRZEKŁADNIKÓW PRĄDOWYCH I NAPIĘCIOWYCH ZA POMOCĄ SYSTEMU PRÓBKUJĄCEGO PROBLEMS AD PROGRESS METROLOGY PPM 18 Conference Digest Grzegorz SADKOWSK Główny rząd Miar Samodzielne Laboratorium Elektryczności i Magnetyzmu WZORCOWAE MOSTKÓW DO POMAR BŁĘDÓW PRZEKŁADKÓW PRĄDOWYCH APĘCOWYCH

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST - ITE Semestr zimowy Wykład nr 6 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMNS - ITwE Semestr letni Wykład nr 5 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektrotechniki i Elektroniki. Opracował: Mgr inż. Marek Staude

Podstawy Elektrotechniki i Elektroniki. Opracował: Mgr inż. Marek Staude Podstawy Elektrotechniki i Elektroniki Opracował: Mgr inż. Marek Staude Wiadomości do tej pory Podstawowe pojęcia Elementy bierne Podstawowe prawa obwodów elektrycznych Moc w układach 1-fazowych Pomiary

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska Wydział Elektrotechniki i Automatyki Katedra InŜynierii Systemów Sterowania Podstawy Automatyki

Politechnika Gdańska Wydział Elektrotechniki i Automatyki Katedra InŜynierii Systemów Sterowania Podstawy Automatyki Politechnika Gdańska Wydział Elektrotechniki i Automatyki Katedra InŜynierii Systemów Sterowania Podstawy Automatyki Stabilność systemów sterowania kryterium Nyquist a Materiały pomocnicze do ćwiczeń termin

Bardziej szczegółowo

Sposób wykorzystywania świadectw wzorcowania do ustalania okresów między wzorcowaniami

Sposób wykorzystywania świadectw wzorcowania do ustalania okresów między wzorcowaniami EuroLab 2010 Warszawa 3.03.2010 r. Sposób wykorzystywania świadectw wzorcowania do ustalania okresów między wzorcowaniami Ryszard Malesa Polskie Centrum Akredytacji Kierownik Działu Akredytacji Laboratoriów

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego

FORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Pomiaru

Bardziej szczegółowo

METROLOGIA. Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki

METROLOGIA. Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki METROLOGIA Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EINS Zjazd 5, wykład nr 9, 10 Prawo autorskie Niniejsze materiały podlegają

Bardziej szczegółowo

Ćw. 32. Wyznaczanie stałej sprężystości sprężyny

Ćw. 32. Wyznaczanie stałej sprężystości sprężyny 0/0/ : / Ćw.. Wyznaczanie stałej sprężystości sprężyny Ćw.. Wyznaczanie stałej sprężystości sprężyny. Cel ćwiczenia Sprawdzenie doświadczalne wzoru na siłę sprężystą $F = -kx$ i wyznaczenie stałej sprężystości

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE WYSOKOŚCI Z WYKORZYSTANIEM NIWELACJI SATELITARNEJ

WYZNACZANIE WYSOKOŚCI Z WYKORZYSTANIEM NIWELACJI SATELITARNEJ WYZNACZANIE WYSOKOŚCI Z WYKORZYSTANIEM NIWELACJI SATELITARNEJ Karol DAWIDOWICZ Jacek LAMPARSKI Krzysztof ŚWIĄTEK Instytut Geodezji UWM w Olsztynie XX Jubileuszowa Jesienna Szkoła Geodezji, 16-18.09.2007

Bardziej szczegółowo

Badanie zjawiska rezonansu elektrycznego w obwodzie RLC

Badanie zjawiska rezonansu elektrycznego w obwodzie RLC Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. Termin: 6 IV 2009 Nr. ćwiczenia: 321 Temat ćwiczenia: Badanie zjawiska rezonansu elektrycznego w obwodzie RLC Nr. studenta:...

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe.

INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe. INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe. MTiSP pomiary częstotliwości i przesunięcia fazowego MTiSP 003 Autor: dr inż. Piotr Wyciślok Strona 1 / 8 Cel Celem ćwiczenia jest wykorzystanie

Bardziej szczegółowo

Skale czasu. 1.1 Dokładność czasu T IE - Time Interval Error

Skale czasu. 1.1 Dokładność czasu T IE - Time Interval Error Skale czasu 1 Dokładność i stabilność zegarów Zegar wytwarza sygnał okresowy (częstotliwościowy), który opisać można prostą funkcją harmoniczną: s(t) = A sin(2πν nom + φ 0 ) (1) ν nom = 9192631770Hz jest

Bardziej szczegółowo

GA40XX seria. 1,5GHz/3GHz/7,5GHz. Cyfrowy Analizator Widma

GA40XX seria. 1,5GHz/3GHz/7,5GHz. Cyfrowy Analizator Widma Cyfrowy Analizator Widma GA40XX seria 1,5GHz/3GHz/7,5GHz Wysoka klasa pomiarowa Duże możliwości pomiarowo - funkcjonalne Wysoka stabilność częstotliwości Łatwy w użyciu GUI (interfejs użytkownika) Małe

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM PODZESPOŁÓW ELEKTRONICZNYCH. Ćwiczenie nr 2. Pomiar pojemności i indukcyjności. Szeregowy i równoległy obwód rezonansowy

LABORATORIUM PODZESPOŁÓW ELEKTRONICZNYCH. Ćwiczenie nr 2. Pomiar pojemności i indukcyjności. Szeregowy i równoległy obwód rezonansowy LABORATORIUM PODZESPOŁÓW ELEKTRONICZNYCH Ćwiczenie nr 2 Pomiar pojemności i indukcyjności. Szeregowy i równoległy obwód rezonansowy Wykonując pomiary PRZESTRZEGAJ przepisów BHP związanych z obsługą urządzeń

Bardziej szczegółowo

I Zastosowanie oscyloskopu do pomiarów kąta przesunięcia fazowego.

I Zastosowanie oscyloskopu do pomiarów kąta przesunięcia fazowego. I Zastosowanie oscyloskopu do pomiarów kąta przesunięcia fazowego. II Badanie charakterystyk statycznych elementów nieliniowych za pomocą oscyloskopu (realizacja tematyki na życzenie prowadzącego laboratorium)

Bardziej szczegółowo

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMNS Semestr zimowy studia niestacjonarne Wykład nr

Bardziej szczegółowo

Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6

Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6 Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6 Marcin Polkowski (251328) 10 maja 2007 r. Spis treści I Laboratorium 5 2 1 Wprowadzenie 2 2 Pomiary rodziny charakterystyk 3 II Laboratorium 6 7 3 Wprowadzenie 7

Bardziej szczegółowo

Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8

Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8 Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego, oraz zapoznanie się z metodami wyznaczania charakterystyk częstotliwościowych.

Bardziej szczegółowo

Doświadczalne wyznaczanie współczynnika sztywności (sprężystości) sprężyny

Doświadczalne wyznaczanie współczynnika sztywności (sprężystości) sprężyny Doświadczalne wyznaczanie współczynnika sztywności (sprężystości) Wprowadzenie Wartość współczynnika sztywności użytej można wyznaczyć z dużą dokładnością metodą statyczną. W tym celu należy zawiesić pionowo

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 3 REZONANS AKUSTYCZNY

ĆWICZENIE 3 REZONANS AKUSTYCZNY ĆWICZENIE 3 REZONANS AKUSTYCZNY W trakcie doświadczenia przeprowadzono sześć pomiarów rezonansu akustycznego: dla dwóch różnych gazów (powietrza i CO), pięć pomiarów dla powietrza oraz jeden pomiar dla

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 11. Projektowanie sekcji bikwadratowej filtrów aktywnych

Ćwiczenie nr 11. Projektowanie sekcji bikwadratowej filtrów aktywnych Ćwiczenie nr 11 Projektowanie sekcji bikwadratowej filtrów aktywnych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi filtrami elektrycznymi o charakterystyce dolno-, środkowo- i górnoprzepustowej,

Bardziej szczegółowo

Wpływ nieliniowości elementów układu pomiarowego na błąd pomiaru impedancji

Wpływ nieliniowości elementów układu pomiarowego na błąd pomiaru impedancji Wpływ nieliniowości elementów układu pomiarowego na błąd pomiaru impedancji Wiesław Miczulski* W artykule przedstawiono wyniki badań ilustrujące wpływ nieliniowości elementów układu porównania napięć na

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe"

Ćwiczenie: Mierniki cyfrowe Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe" Opracowane w ramach projektu: "Informatyka mój sposób na poznanie i opisanie świata realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: Próbkowanie

Bardziej szczegółowo

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów

Bardziej szczegółowo

Walidacja metod analitycznych Raport z walidacji

Walidacja metod analitycznych Raport z walidacji Walidacja metod analitycznych Raport z walidacji Małgorzata Jakubowska Katedra Chemii Analitycznej WIMiC AGH Walidacja metod analitycznych (według ISO) to proces ustalania parametrów charakteryzujących

Bardziej szczegółowo

ZASADY DOKUMENTACJI procesu pomiarowego

ZASADY DOKUMENTACJI procesu pomiarowego Laboratorium Podstaw Miernictwa Laboratorium Podstaw Elektrotechniki i Pomiarów ZASADY DOKUMENTACJI procesu pomiarowego Przykład PROTOKÓŁU POMIAROWEGO Opracowali : dr inż. Jacek Dusza mgr inż. Sławomir

Bardziej szczegółowo

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych Tematem ćwiczenia są zastosowania wzmacniaczy operacyjnych w układach przetwarzania sygnałów analogowych. Ćwiczenie składa się z dwóch części:

Bardziej szczegółowo

Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA

Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA WFiIS LABORATORIM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE NR 1. Część I (wydanie poprawione_2017) Charakterystyka licznika Geigera Műllera

ĆWICZENIE NR 1. Część I (wydanie poprawione_2017) Charakterystyka licznika Geigera Műllera ĆWICZENIE NR 1 Część I (wydanie poprawione_2017) Charakterystyka licznika Geigera Műllera 1 I. Cel doświadczenia Wykonanie charakterystyki licznika Geigera-Müllera: I t N min 1 Obszar plateau U V Przykładowy

Bardziej szczegółowo

BADANIE STATYCZNYCH WŁAŚCIWOŚCI PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

BADANIE STATYCZNYCH WŁAŚCIWOŚCI PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH BADAIE STATYCZYCH WŁAŚCIWOŚCI PRZETWORIKÓW POMIAROWYCH 1. CEL ĆWICZEIA Celem ćwiczenia jest poznanie: podstawowych pojęć dotyczących statycznych właściwości przetworników pomiarowych analogowych i cyfrowych

Bardziej szczegółowo

KALIBRACJA. ważny etap procedury analitycznej. Dr hab. inż. Piotr KONIECZKA

KALIBRACJA. ważny etap procedury analitycznej. Dr hab. inż. Piotr KONIECZKA KALIBRAJA ważny etap procedury analitycznej 1 Dr hab. inż. Piotr KONIEZKA Katedra hemii Analitycznej Wydział hemiczny Politechnika Gdańska ul. G. Narutowicza 11/12 8-233 GDAŃK e-mail: piotr.konieczka@pg.gda.pl

Bardziej szczegółowo

Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych

Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych Wydział Elektryczny, Katedra Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Laboratorium Przetwarzania i Analizy Sygnałów Elektrycznych (bud A5, sala 31) I Instrukcja dla studentów kierunku Elektrotechnika do

Bardziej szczegółowo

Pomiar rezystancji metodą techniczną

Pomiar rezystancji metodą techniczną Pomiar rezystancji metodą techniczną Cel ćwiczenia. Poznanie metod pomiarów rezystancji liniowych, optymalizowania warunków pomiaru oraz zasad obliczania błędów pomiarowych. Zagadnienia teoretyczne. Definicja

Bardziej szczegółowo

Laboratorum 2 Badanie filtru dolnoprzepustowego P O P R A W A

Laboratorum 2 Badanie filtru dolnoprzepustowego P O P R A W A Laboratorum 2 Badanie filtru dolnoprzepustowego P O P R A W A Marcin Polkowski (251328) 15 marca 2007 r. Spis treści 1 Cel ćwiczenia 2 2 Techniczny i matematyczny aspekt ćwiczenia 2 3 Pomiary - układ RC

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie - 1 OBSŁUGA GENERATORA I OSCYLOSKOPU. WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYKI AMPLITUDOWEJ I FAZOWEJ NA PRZYKŁADZIE FILTRU RC.

Ćwiczenie - 1 OBSŁUGA GENERATORA I OSCYLOSKOPU. WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYKI AMPLITUDOWEJ I FAZOWEJ NA PRZYKŁADZIE FILTRU RC. Ćwiczenie - 1 OBSŁUGA GENERATORA I OSCYLOSKOPU. WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYKI AMPLITUDOWEJ I FAZOWEJ NA PRZYKŁADZIE FILTRU RC. Spis treści 1 Cel ćwiczenia 2 2 Podstawy teoretyczne 2 2.1 Charakterystyki częstotliwościowe..........................

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST - ITE Semestr zimowy Wykład nr 8 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH Gliwice, wrzesień 2007 Cyfrowe pomiary częstotliwości oraz parametrów RLC Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową,

Bardziej szczegółowo

BADANIE ELEKTRYCZNEGO OBWODU REZONANSOWEGO RLC

BADANIE ELEKTRYCZNEGO OBWODU REZONANSOWEGO RLC Ćwiczenie 45 BADANE EEKTYZNEGO OBWOD EZONANSOWEGO 45.. Wiadomości ogólne Szeregowy obwód rezonansowy składa się z oporu, indukcyjności i pojemności połączonych szeregowo i dołączonych do źródła napięcia

Bardziej szczegółowo

PL B1. HERTZ SYSTEMS LTD SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Zielona Góra, PL BUP 21/13 PRZEMYSŁAW CZESNOWICZ,

PL B1. HERTZ SYSTEMS LTD SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Zielona Góra, PL BUP 21/13 PRZEMYSŁAW CZESNOWICZ, PL 221155 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221155 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 398668 (51) Int.Cl. H03L 7/06 (2006.01) G04F 5/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie A1 : Linia długa

Ćwiczenie A1 : Linia długa Ćwiczenie A1 : Linia długa Jacek Grela, Radosław Strzałka 19 kwietnia 2009 1 Wstęp 1.1 Wzory Podstawowe wzory i zależności które wykorzystywaliśmy w trakcie badania linii: 1. Rezystancja falowa Gdzie:

Bardziej szczegółowo

4. UKŁADY II RZĘDU. STABILNOŚĆ. Podstawowe wzory. Układ II rzędu ze sprzężeniem zwrotnym Standardowy schemat. Transmitancja układu zamkniętego

4. UKŁADY II RZĘDU. STABILNOŚĆ. Podstawowe wzory. Układ II rzędu ze sprzężeniem zwrotnym Standardowy schemat. Transmitancja układu zamkniętego 4. UKŁADY II RZĘDU. STABILNOŚĆ Podstawowe wzory Układ II rzędu ze sprzężeniem zwrotnym Standardowy schemat (4.1) Transmitancja układu zamkniętego częstotliwość naturalna współczynnik tłumienia Odpowiedź

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Podstaw Pomiarów

Laboratorium Podstaw Pomiarów Laboratorium Podstaw Pomiarów Dokumentowanie wyników pomiarów protokół pomiarowy Instrukcja Opracował: dr hab. inż. Grzegorz Pankanin, prof. PW Instytut Systemów Elektronicznych Wydział Elektroniki i Technik

Bardziej szczegółowo

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST Semestr letni Wykład nr 3 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA POZNAŃSKA

POLITECHNIKA POZNAŃSKA POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI I ELEKTRONIKI PRZEMYSŁOWEJ Zakład Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej Laboratorium Podstaw Telekomunikacji Ćwiczenie nr 4 Temat: Modulacje analogowe

Bardziej szczegółowo

Β2 - DETEKTOR SCYNTYLACYJNY POZYCYJNIE CZUŁY

Β2 - DETEKTOR SCYNTYLACYJNY POZYCYJNIE CZUŁY Β2 - DETEKTOR SCYNTYLACYJNY POZYCYJNIE CZUŁY I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadą działania detektorów pozycyjnie czułych poprzez pomiar prędkości światła w materiale scyntylatora

Bardziej szczegółowo

Nr sprawozdania: 1 Sprawozdanie z ćwiczenia: 2 Elektronika i elektrotechnika laboratorium Prowadzący: dr inż. Elżbieta Szul-Pietrzak

Nr sprawozdania: 1 Sprawozdanie z ćwiczenia: 2 Elektronika i elektrotechnika laboratorium Prowadzący: dr inż. Elżbieta Szul-Pietrzak POLITECHNIKA WROCŁAWSKA Data: 26.03.2019r. Nr sprawozdania: 1 Sprawozdanie z ćwiczenia: 2 Elektronika i elektrotechnika laboratorium Prowadzący: dr inż. Elżbieta Szul-Pietrzak TEMAT: Oscyloskop elektroniczny

Bardziej szczegółowo

Źródła zasilania i parametry przebiegu zmiennego

Źródła zasilania i parametry przebiegu zmiennego POLIECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGEYKI INSYU MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGEYCZNYCH LABORAORIUM ELEKRYCZNE Źródła zasilania i parametry przebiegu zmiennego (E 1) Opracował: Dr inż. Włodzimierz

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do badania współczynnika tarcia

Stanowisko do badania współczynnika tarcia Stanowisko do badania współczynnika tarcia Grzegorz Sejnota SKN Spektrum Zakład Pomiarów i Systemów Sterowania Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechnika Śląska, Gliwice 12 Kwietnia 2010

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 4 Badanie ładowania i rozładowania kondensatora

Ćwiczenie 4 Badanie ładowania i rozładowania kondensatora Karolina Kruk 276656 Ćwiczenie 4 Badanie ładowania i rozładowania kondensatora Wstęp teoretyczny. Kondensator tworzą dwa przewodniki-okładziny lub elektrody, które rozdzielono dielektrykiem. Jeżeli do

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu

Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu Imię i Nazwisko... Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu Opracowanie: Piotr Wróbel 1. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie prędkości dźwięku w powietrzu, metodą różnicy czasu przelotu. Drgania

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM POMIARÓW WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH. Pomiary statycznych parametrów indukcyjnościowych przetworników przemieszczenia liniowego

LABORATORIUM POMIARÓW WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH. Pomiary statycznych parametrów indukcyjnościowych przetworników przemieszczenia liniowego LABORATORIUM POMIARÓW WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH Pomiary statycznych parametrów indukcyjnościowych przetworników przemieszczenia liniowego Wrocław 1994 1 Pomiary statycznych parametrów indukcyjnościowych

Bardziej szczegółowo