ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015
|
|
- Aleksander Marcinkowski
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 7 Data wydania: 04 marca 2009 r. Nazwa i adres organizacji macierzystej INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY ul.szachowa Warszawa AP 015 Nazwa, adres, telefon, fax i laboratorium LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRYCZNEJ, ELEKTRONICZNEJ I OPTOELEKTRONICZNEJ ul.szachowa Warszawa fax: (0-22) , tel. (0-22) , cipt@.itl.waw.pl Kategoria laboratorium działające w stałej siedzibie (S) oraz poza nią (P) Dziedziny akredytacji 7 Wielkości elektryczne DC i m.cz (7.01, 7.02, 7.03, 7.04, 7.05, 7.06, 7.09,) 8 Wielkości elektryczne w.cz. (8.01) 10 Czas i częstotliwość (10.01, 10.02) 16 Wielkości optyczne (16.01) 19 Temperatura (19.05, 19.09) Kierownictwo laboratorium inż. Anna Warzec - kierownik laboratorium dr inż. Tomasz Kossek - zastępca kierownika laboratorium Wersja strony: A KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW WZORCUJĄCYCH RYSZARD MALESA Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 1/42
2 7 Wielkości elektryczne DC i S,P m.cz 7.01 napięcie, prąd (DC) napięcie stałe 10 V 10 kv S,P - miernik napięcia 3 10 V 100 V 0,005 % + 0,002 V również - multimetr cyfrowy V 1 mv 0,007 % stosunek - (mili/nano)woltomierz 3 1 mv 10 mv 0,0045 % napięć stałych - skopometr 3 10 mv 100 mv 0,0010 % w multimetrach - karta multimetrowa mv 1 V 0,0005 % cyfrowych - analizatory parametrów i uszkodzeń linii 1 V 10 V 0,0003 % 10 V 100 V 0,0005 % 100 V 1000 V 0,0006 % - kalibrator 3 10 V 1 mv 0,005 % + 0,002 V - miernik (mostek) RLC 3 1 mv 10 mv 0,0045 % - źródło napięcia stałego 3 10 mv 100 mv 0,0010 % - zasilacz stabilizowany mv 1 V 0,0007 % - próbnik przebicia 3 1 V 10 V 0,0005 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 10 V 100 V 100 V 1000 V 0,0007 % 0,0009 % - dzielnik napięcia 3 1 kv 10 kv 0,2% - oscyloskop 3 o impedancji wejściowej 50 1 mv 5,56 V 0,03 % 30 V 1 M 1 mv 222 V 0,03 % 30 V wewnętrzne źródło odniesienia 0 V 10 V 0,001 % - karta oscyloskopowa 3 prąd stały 10 na 100 A S,P - miernik prądu 3 1 A 10 A 0,023 % - multimetr cyfrowy 3 10 A 100 A 0,010 % - (mili)amperomierz A 100 ma 0,004 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) ma 1 A 1 A 10 A 0,010 % 0,016 % - skopometr 3 10 A 100 A 0,2 % tylko cęgi - karta multimetrowa 3 - analizatory parametrów i uszkodzeń linii - miernik cęgowy i cęgi pomiarowe 3 - cęgi pomiarowe 3 - kalibrator 3 10 na 1 A 0,008 % - miernik (mostek) RLC 3 1 A 100 A 0,004 % - źródło prądu stałego A 100 ma 0,002 % Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 2/42
3 - zasilacz stabilizowany ma 10 A 0,003 % - wzmacniacz prądu 3 10 A 100 A 0,008 % - sonda prądowa 100 A 300 A 0,2% 7.02 napięcie, prąd (AC) S,P napięcie przemienne 100 V 1000 V S,P - miernik napięcia 3 f = 10 Hz 31 Hz - multimetr cyfrowy V 1 mv 0,47 % - (mili)woltomierz 3 1 mv 10 mv 0,066 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 10 mv 100 mv 100 mv 100 V 0,021 % 0,010 % - skopometr V 1000 V 0,017 % - karta multimetrowa 3 f = 32 Hz 330 Hz - analizatory parametrów 100 V 1 mv 0,46 % i uszkodzeń linii 1 mv 10 mv 0,061 % - próbnik przebicia 3 10 mv 100 mv 0,016 % - tester bezpieczeństwa elektrycznego mv 100 V 0,006 % 100 V 1000 V 0,014 % f = 330 Hz 10 khz 100 V 1 mv 0,55 % 1 mv 10 mv 0,060 % 10 mv 100 mv 0,015 % 100 mv 100 V 0,005 % 100 V 1000 V 0,012 % f = 10 khz 33 khz 100 V 1 mv 0,47 % 1 mv 10 mv 0,062 % 10 mv 100 mv 0,025 % 100 mv 100 V 0,005 % 100 V 1000 V 0,014 % f = 33 khz 100 khz 100 V 1 mv 0,49 % 1 mv 10 mv 0,087 % 10 mv 100 mv 0,049 % 100 mv 10 V 0,009 % 10 V 100 V 0,013 % 100 V 750 V 0,09 % f =100 khz 330 khz 100 V 1 mv 1,0 % 1 mv 10 mv 0,19 % 10 mv 100 mv 0,11 % 100 mv 10 V 0,03 % 10 V 100 V 0,10 % f =100 khz 200 khz 10 V 100 V 0,07 % Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 3/42
4 f = 330 khz 1 MHz 100 V 1 mv 2,8 % 1 mv 10 mv 0,7 % 10 mv 100 mv 0,5 % 100 mv 10 V 0,2 % 10 V 100 V 0,9 % 45 Hz 60 Hz 1 kv 10 kv 0,2% - kalibrator 3 f = 10 Hz 40 Hz - miernik (mostek) RLC V 1 mv 0,4 % - miernik (mostek) impedancji 3 1 mv 10 mv 0,07 % - miernik (tester) parametrów 10 mv 10 V 0,01 % instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 10 V 100 V 0,01 % - generator w.cz V 1000 V 0,02 % - tester radiokomunikacyjny 3 - dzielnik napięcia 3 f = 40 Hz 300 Hz 100 V 1 mv 0,15 % 1 mv 10 mv 0,04 % 10 mv 10 V 0,01 % 10 V 100 V 0,01 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 300 Hz 1 khz 100 V 1 mv 0,15 % 1 mv 10 mv 0,04 % 10 mv 10 V 0,01 % 10 V 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 1 khz 20 khz 100 V 1 mv 0,16 % 1 mv 10 mv 0,05 % 10 mv 100 mv 0,02 % 100 mv 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 20 khz 30 khz 100 V 1 mv 0,24 % 1 mv 10 mv 0,13 % 10 mv 100 mv 0,03 % 100 mv 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 30 khz 50 khz 100 V 1 mv 0,11 % 1 mv 10 mv 0,02 % 10 mv 100 V 100 V 1000 V 0,01 % 0,02 % Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 4/42
5 f = 50 khz 100 khz 100 V 1 mv 0,11 % 1 mv 10 mv 0,02 % 10 mv 100 V 0,01 % 100 V 1000 V 0,02 % f =100kHz 330 khz 1 mv 10 mv 2,2 % 10 mv 10 V 0,04 % 10 V 100 V 0,13 % f = 330 khz 1 MHz 10 mv 10 V 0,3 % 10 V 100 V 1,2 % - oscyloskop 3 (skopometr 3 ) (wartości międzyszczytowe sygnału sinusoidalnego) o impedancji wejściowej: 50 4,44 mv 5,56 V 1,8 % - karta oscyloskopowa 3 50 khz 10 MHz o impedancji wejściowej: 50 i 1 4,44 mv 5,56 V 3,1 % M (nierówność charakterystyki 100 mhz 100 MHz częstotliwościowej odniesiona do wskazania w paśmie 50 khz 10 MHz) 5 mv 5 V 4,1 % 100 MHz 300 MHz 5 mv 5 V 4,7 % 300 MHz 550 MHz 5 mv 5 V 5,2 % 550 MHz 3 GHz 5 mv 5 V 3 GHz 6,0 GHz 6,4 % - źródło sinusoidalnych sygnałów pomiarowych (generator napięcia) wyjście asymetryczne: 1 mv 30 mv 20 Hz 50 khz 1 mv 1000 V 0,4 % (0; 50; 75; 135; 150; 600) ; 50 khz 100 khz 0,7 % wyjście symetryczne: 1 mv 10 V (0; 124; 135; 150; 600) 30 mv 100 V 100 V 1000 V 20 Hz 100 khz 0,2 % 20 Hz 50 khz 0,2 % 50 khz 100 khz 0,4 % Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 5/42
6 - miernik napięcia wejście asymetryczne: 1 mv 100 V wysokoomowe; 1 mv 20 Hz 30 Hz 0,5 % 30 Hz 100 khz 0,3 % wejście symetryczne: 1 mv 10 V 3 mv 100 V 20 Hz 100 khz wysokoomowe 0,2 % poziom napięcia S napięcie odniesienia - źródło sinusoidalnych sygnałów 0,7746 V pomiarowych (generator poziomu) wyjście asymetryczne: -60 db +30 db, -60 db -50 db, -40 db 20 Hz 100 khz 0,05 db (0; 50; 75; 135; 150; 600) ; 20 Hz 50 khz 0,02 db 50 khz 100 khz 0,05 db 50 0 db 200 Hz 100 MHz 0,045 db wyjście symetryczne: -30 db +30 db 20 Hz 100 khz -60 db +30 db (0; 124; 135; 150; 600) ; 0,02 db wyjście asymetryczne: -60 db +10 db, 75 ; -60 db 200 Hz 36 MHz 0,07 db -50 db -20 db 200 Hz 36 MHz 0,06 db -10 db, +10 db 200 Hz 36 MHz 0,04 db 0 db 200 Hz 36 MHz 0,032 db wyjście symetryczne: 0 db, db 200 Hz 620 khz 0,032 db 620 khz 2 MHz 0,038 db - miernik poziomu - analizator parametrów i uszkodzeń linii wejście asymetr. i symetryczne: -60 db 20 Hz 100 khz -60 db +30 db wysokoomowe; 0,04 db -50 db, -40 db 20 Hz 100 khz 0,03 db -30 db +30 db 20 Hz 100 khz 0,015 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 6/42
7 wejście asymetryczne: -60 db + 10 db, 75 ; -60 db 200 Hz 36 MHz 0,08 db -50 db, -40 db 200 Hz 36 MHz 0,07 db -30 db -10 db 200 Hz 36 MHz 0,06 db 0 db 200 Hz 36 MHz 0,032 db +10 db 200 Hz 2,1 MHz 0,04 db wejście symetryczne: 0 db, db 200 Hz 620 khz 0,032 db 620 khz 2 MHz 0,042 db prąd przemienny 10 A 100 A S,P - miernik prądu 3 f = 10 Hz 1 khz - multimetr cyfrowy 3 10 A 100 ma 0,02 % - (mili)amperomierz ma 1 A 0,03 % - miernik cęgowy 3 1 A 10 A 0,05 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 f = 1 khz 5 khz - miernik cęgowy 3 10 A 100 A 0,06 % - cęgi pomiarowe A 100 ma 0,03 % 100 ma 1 A 0,05 % 1 A 10 A 0,09 % f = 5 khz 10 khz 1 A 10 A 0,2 % f = 10 khz 20 khz 1 A 10 A 0,6 % f = 45 Hz 52,5 Hz 10 A 20 A 0,065 % 20 A 100 A 0,13 % f = 45 Hz 60 Hz 100 A 1000 A 0,3 % tylko cęgi - tester wyłączników RCD 3 - miernik prądu upływu 3 50 Hz 3 ma 1000 ma 50 Hz 4 ma 1000 ma 1,2 % 0,03 % - kalibrator 3 f = 10 Hz 1 khz - miernik (mostek) RLC 3 10 A 100 ma 0,03 % - miernik (mostek) impedancji ma 1 A 1 A 10 A 10 A 20 A 0,05 % 0,06 % 0,08 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 7/42
8 - wzmacniacz prądu 3 - symulator prądu upływu 3 f = 1 khz 5 khz 10 A 100 A 0,05 % 100 A 100 ma 0,04 % 100 ma 1 A 0,07 % f = 5 khz 20 khz 0,1 ma 100 ma 0,1 % 100 ma 1 A 0,4 % f = 20 khz 50 khz 1 ma 100 ma 0,5 % 100 ma 1 A 1,2 % f = 50 khz 100 khz 1 ma 100 ma 0,8 % f = 1 khz 10 khz 1A 20 A 0,08 % f = 40 Hz 500 Hz 20 A 100 A 0,2 % f = 45 Hz 60 Hz 100 A 300 A 0,5 % 7.03 rezystancja (DC) 0, T S, P - opornik (rezystor) wzorcowy 3 - opornik (rezystor) dekadowy 3 0, ,001 0,001 % - opornik (rezystor) regulowany 3 0, k 0,0001 % - kalibrator k 1 M 0,0008 % - miernik rezystancji 3 1 M 100 M 0,002 % - multimetr cyfrowy M 1 G 0,015 % - (mili/mega)omomierz 3 1 G 10 G 0,12 % - miernik rezystancji izolacji 3 10 G 1 T 0,5 % - miernik (mostek RLC) 3 - mostek stałoprądowy 3 - miernik rezystancji uziemienia 3 - miernik skuteczności uziemienia 3 - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 - oscyloskop 3 - skopometr 3 - bocznik pomiarowy 3 - karta multimetrowa 3 - karta oscyloskopowa 3 - analizatory parametrów i uszkodzeń linii Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 8/42
9 7.04 rezystancja (AC) - opornik wzorcowy 3 1 khz - opornik dekadowy 3 0,01 1 0,13 % - wzorzec rezystancji ,03 % - bocznik pomiarowy M 0,02 % 1 M 10 M 0,12 % 40 Hz 100 Hz 0,01 Ω 1 Ω 0,13 % 1 Ω 10 0,07 % ,06 % k 0,05 % 10 k 100 k 0,06 % 100 k 1 M 0,09 % 1 M 10 M 0,45 % 100 Hz 250 Hz 0,01 Ω 1 Ω 0,13 % ,06 % ,05 % k 0,04 % 10 k 100 k 0,05 % 100 k 1 M 0,07 % 1 M 10 M 0,34 % 250 Hz 1 khz 0,01 Ω 1 Ω 0,13 % ,05 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 1 khz 3 khz 0,01 1 0,23 % ,09 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 3 khz 6 khz 0,01 1 0,23 % ,09 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,08 % 100 k 1 M 0,13 % 1 M 10 M 0,67 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 9/42
10 6 khz 10 khz 0,01 1 0,23 % ,17 % ,07 % k 0,05 % 10 k 100 k 0,19 % 100 k 1 M 0,33 % 10 khz 20 khz ,25 % ,09 % k 0,07 % 10 k 100 k 0,29 % 100 k 1 M 0,53 % 20 khz 50 khz ,37 % ,13 % k 0,10 % 1 k 10 k 0,12 % 50 khz 100 khz ,77 % ,26 % k 0,20 % 1 k 10 k 0,23 % - mostek (miernik) RLC 3 1 khz - mostek (miernik) impedancji 3 0,01 0,1 1 % - miernik rezystancji 3 0,1 1 0,3 % - miernik (tester) parametrów ,05 % instalacji elektrycznych (teletechnicznych) ,03 % k 0,02 % 100 k 1 M 0,02 % 1 M 10 M 0,12 % 40 Hz 100 Hz ,17 % ,06 % k 0,05 % 10 k 100 k 0,06 % 100 k 1 M 0,09 % 1 M 10 M 0,45 % 100 Hz 250 Hz ,13 % ,05 % k 0,04 % 10 k 100 k 0,05 % 100 k 1 M 0,07 % 1 M 10 M 0,34 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 10/42
11 250 Hz 1 khz ,09 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 1 khz 3 khz ,09 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 3 khz 6 khz ,09 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,08 % 100 k 1 M 0,13 % 1 M 10 M 0,67 % 6 khz 10 khz ,17 % ,07 % k 0,05 % 10 k 100 k 0,19 % 100 k 1 M 0,33 % 10 khz 20 khz ,25 % ,09 % k 0,07 % 10 k 100 k 0,29 % 100 k 1 M 0,53 % 20 khz 50 khz ,37 % ,13 % k 0,10 % 1 k 10 k 0,12 % 50 khz 100 khz ,77 % ,26 % k 0,20 % 1 k 10 k 0,23 % - miernik rezystancji pętli zwarcia 3 50Hz 0,05 1 k 0,05 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 11/42
12 7.05 impedancja - wzorzec impedancji 3 1 khz ,03 % ,03 % k 0,02 % 100 k 1 M 0,02 % 1 M 10 M 0,12 % 0,01 40 Hz 100 Hz 0, ,21 % 0,07 % ,06 % k 0,05 % 10 k 100 k 0,06 % 100 k 1 M 0,09 % 1 M 10 M 0,45 % 0, Hz 250 Hz ,06 % ,05 % k 0,04 % 10 k 100 k 0,05 % 100 k 1 M 0,07 % 1 M 10 M 0,34 % 0, Hz 1 khz ,05 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 0,02 1 khz 3 khz ,09 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 0,02 3 khz 6 khz ,09 % ,04 % k 0,03 % 10 k 100 k 0,08 % 100 k 1 M 0,13 % 1 M 10 M 0,67 % 0,02 Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 12/42
13 6 khz 10 khz ,17 % ,07 % k 0,05 % 10 k 100 k 0,19 % 100 k 1 M 0,33 % 0,04 10 khz 20 khz ,25 % ,09 % k 0,07 % 10 k 100 k 0,29 % 100 k 1 M 0,53 % 0,06 20 khz 50 khz ,37 % ,13 % k 0,10 % 1 k 10 k 0,12 % 0,09 50 khz 100 khz ,77 % ,26 % k 0,20 % 1 k 10 k 0,23 % 0,20 - miernik (mostek impedancji) 3 1 khz k 0,02 % 0, khz 9 9 k 0,2 % 0,2 - miernik impedancji pętli zwarcia 3 - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych 3 50 Hz 0, k 0,3 % 0,05 % 7.06 indukcyjność, pojemność S, P indukcyjność własna S,P - cewka wzorcowa stała 1 khz i regulowana 3 - dekada indukcyjności 3 1 H 10 H 0,06 H 10 H 50 H 0,07 H 50 H 1 mh 0,06 % 1 mh 10 H 0,03 % 40 Hz 250 Hz 10 H 100 H 0,07 % 100 H 10 H 0,04 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 13/42
14 250 Hz 6 khz 10 H 100 H 0,06 % 100 H 1 H 0,03 % 250 Hz 1 khz 1 H 10 H 0,03 % 6 khz 10 khz 10 H 100 H 0,08 % 100 H 1 H 0,05 % 10 khz 20 khz 10 H 100 H 0,09 % 100 H 100 mh 0,07 % 20 khz 50 khz 10 H 10 mh 0,1 % 50 khz 100 khz 10 H 10 mh 0,2 % - mostek (miernik) RLC 3 1 khz - mostek (miernik) impedancji 3 1 H 50 H 0,06 H - multimetr cyfrowy 3 50 H 1 mh 0,06 % - mostek indukcyjności 3 1 mh 10 H 0,03 % 40 Hz 250 Hz 10 H 100 H 0,07 % 100 H 10 H 0,04 % 250 Hz 6 khz 10 H 100 H 0,06 % 100 H 1 H 0,03 % 250 Hz 1 khz 1 H 10 H 0,03 % 6 khz 10 khz 10 H 100 H 0,08 % 100 H 1 H 0,05 % 10 khz 20 khz 10 H 100 H 0,09 % 100 H 100 mh 0,07 % 20 khz 50 khz 10 H 10 mh 0,1 % 50 khz 100 khz 10 H 10 mh 0,2 % pojemność elektryczna - kondensator wzorcowy stały 1 khz i regulowany (dekadowy) 3 10 pf 0,005 % 100 pf 0,005 % 1000 pf 0,005 % S,P 40 Hz 1 khz 1 pf 1 F 0,01 % + 0,00003 pf 1 F 10 F 0,02 % 10 F 100 F 0,04 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 14/42
15 1 khz 6 khz 0,2 pf 0,1 F 0,02 % 0,1 F 1 F 0,03 % 1 F 100 F 0,04 % 6 khz 10 khz 0,2 pf 0,1 F 0,02 % 0,1 F 1 F 0,06 % 1 F 10 F 0,13 % 10 F 100 F 0,85 % 10 khz 20 khz 10 pf 1 nf 0,2 % 1 nf 100 nf 0,07 % 0,1 F 1 F 0,1 % 1 F 10 F 0,3 % 20 khz 50 khz 0,1 nf 100 nf 0,1 % 0,1 F 1 F 0,2 % 1 F 10 F 1 % 50 khz 100 khz 0,1 nf 10 nf 0,2 % 10 nf 100 nf 0,3 % 0,1 F 1 F 0,6 % 1 F 10 F 4 % - mostek (miernik) RLC 3 1 khz - mostek (miernik) impedancji 3 0,001 pf 0,00006 pf - multimetr cyfrowy 3 0,1 pf 0,06 % - mostek pojemności 3 1 pf 0,05 % - analizatory parametrów 10 pf 0,005 % i uszkodzeń linii 100 pf 0,006 % 1000 pf 0,006 % 1 pf 1 F 0,02 % + 0,1 pf 1 F 10 F 0,2 % 40 Hz 1 khz 1 pf 1 F 0,01 % + 0,00003 pf 1 F 10 F 0,02 % 10 F 100 F 0,04 % 1 khz 6 khz 0,2 pf 0,1 F 0,02 % 0,1 F 1 F 0,03 % 1 F 100 F 0,04 % 6 khz 10 khz 0,2 pf 0,1 F 0,02 % 0,1 F 1 F 0,06 % 1 F 10 F 0,13 % 10 F 100 F 0,85 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 15/42
16 10 khz 20 khz 10 pf 1 nf 0,3 % 1 nf 100 nf 0,07 % 0,1 F 1 F 0,1 % 1 F 10 F 0,3 % 20 khz 50 khz 0,1 nf 100 nf 0,1 % 0,1 F 1 F 0,2 % 1 F 10 F 1 % 50 khz 100 khz 0,1 nf 10 nf 0,2 % 10 nf 100 nf 0,3 % 0,1 F 1 F 0,6 % 1 F 10 F 4 % - oscyloskop 3, skopometr 3 1 pf 35 pf 2 % ± 0,25 pf karta oscyloskopowa 3 35 pf 120 pf 2,5 % ± 0,25 pf 7.09 moc poziom mocy S moc odniesienia 1 mw - źródło sinusoidalnych sygnałów pomiarowych (generator poziomu) wyjście asymetryczne: -50 dbm -50 dbm 20 Hz 100 khz + 40 dbm, 0,07 db (0; 50; 75; 135; 150; 600) ; -40 dbm, -30 dbm 20 Hz 50 khz 0,02 db 50 Hz 100 khz 0,05 db wyjście symetryczne: -50 dbm -20 dbm +40 dbm 20 Hz 100 khz + 40 dbm, (0; 124; 135; 150; 600) ; 0,02 db wyjście asymetryczne 50 0 dbm 200 Hz 100 MHz wyjście asymetryczne: -60 dbm + 20 dbm, 75 ; -60 dbm -50 dbm -20 dbm -10 dbm 0 dbm +10 dbm, +20 dbm 0,045 db 200 Hz 36 MHz 0,07 db 200 Hz 36 MHz 0,06 db 200 Hz 36 MHz 0,05 db 200 Hz 36 MHz 0,032 db 200 Hz 36 MHz 0,04 db wyjście symetryczne: 0 dbm, dbm 200 Hz 2 MHz 0,032 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 16/42
17 - analizator parametrów i uszkodzeń linii : 0 dbm, miernik poziomu wejście asymetryczne: -60 dbm + 20 dbm, 75 ; -60 dbm -40 dbm 200 Hz 36 MHz 0,07 db -30 dbm -10 dbm 200 Hz 36 MHz 0,06 db 0 dbm 200 Hz 36 MHz 0,03 db + 10 dbm 200 Hz 36 MHz 0,04 db + 20 dbm 200 Hz 2,1 MHz 0,04 dbm wejście symetryczne: 0 dbm, dbm 200 Hz 2 MHz 0,03 db - analizator parametrów i uszkodzeń linii : 0 dbm, generator i miernik poziomu analizatorów PCM +3 dbm - 50 dbm (dla częstotliwości 1014 Hz) 0,02 db tłumienność mocy elektrycznej - tłumik pomiarowy 0 db 60 db w układzie asymetrycznym 0 Hz 100 MHz 0,015 db (Z=75 ) 0 db 10 db 0 Hz 10 khz 10 khz 100 MHz 0,05 db S 20 db 50 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 100 MHz 0,05 db 60 db 0 Hz 10 khz 0,025 db 10 khz 100 MHz 0,07 db w układzie symetrycznym (Z = 150 ) 0 Hz 2 MHz 0 db 10 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 2 MHz 0,04 db 20 db 50 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 2 MHz 0,04 db - analizatory parametrów i uszkodzeń linii (Z = 600 ) (Z = 135 ) 60 db 0 Hz 10 khz 0,025 db 10 khz 2 MHz 0,07 db 0 db 50 db 0 db 75 db 0,05 db 0,15 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 17/42
18 8 Wielkości elektryczne w.cz. S,P 8.1 Wielkości elektryczne w.cz. S,P poziom mocy - miernik mocy w.cz. 3 - generator w.cz. 3 - analizator obwodów 3 - analizator widma 3 - analizator systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 - analizator modulacji analogowych 3 - analizator modulacji cyfrowych 3 - tester radiokomunikacyjny 3 0 dbm (50 MHz) 0,044 db S,P 100 khz 10 MHz 30 dbm +20 dbm 50 dbm 30dBm 10 MHz 3,05 GHz +30 dbm +44 dbm 63 dbm +30 dbm 104 dbm 63 dbm 134 dbm 104 dbm 0,062 db 0,074 db 0,24 db 0,049 db + 0,005 db/10 db 0,080 db+0,005 db/10 db 0,14 db + 0,12 db/10 db 432A 8478B N5531S N5532A HP 438A E4418B 8481B 8481H 3,05 GHz 6,6 GHz +30 dbm +44 dbm 63 dbm +30 dbm 96 dbm 63 dbm 126 dbm 96 dbm 6,6 GHz 13,2 GHz +30 dbm +44 dbm 52 dbm +30 dbm 87 dbm 52 dbm 117 dbm 87 dbm 13,2 GHz 19,2 GHz +30 dbm +44 dbm 43 dbm +30 dbm 79 dbm 43 dbm 109 dbm 79 dbm 19,2 GHz 26,5 GHz 37 dbm +30 dbm 72 dbm 37 dbm 102 dbm 72 dbm 26,5 GHz 40 GHz 20 dbm +20 dbm 60 dbm 20 dbm 0,24 db 0,049 db + 0,005 db/10 db 0,080 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 db 0,24 db 0,055 db + 0,005 db/10 db 0,086 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 db 0,26 db 0,061 db + 0,005 db/10 db 0,092 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 0,12 db + 0,005 db/10 db 0,15 db + 0,005 db/10 db 0,18 db + 0,12 db/10 0,12 db 0,14 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 18/42
19 względny poziom mocy - tłumik 3 - sprzęgacz 3 - generator w.cz. 3 - analizator obwodów 3 - analizator widma 3 - analizator systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 - analizator modulacji analogowych 3 - analizator modulacji cyfrowych 3 - tester radiokomunikacyjny khz 3,05 GHz 63 db +30 db 104 db 63 db 134 db 104 db 3,05 GHz 6,6 GHz 63 db +30 db 96 db 63 db 126 db 96 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db + 0,12 db/10 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db + 0,12 db/10 db S,P N5531S N5532A 6,6 GHz 13,2 GHz 52 db +30 db 87 db 52 db 117 db 87 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db+ 0,12 db/10 db 13,2 GHz 19,2 GHz 43 db +30 db 79 db 43 db -109 db 79 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db + 0,12 db/10 db 19,2 GHz 26,5 GHz 37 db +30 db 72 db 37 db 102 db 72 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db + 0,12 db/10 db modulacja AM generator w.cz. 3 analizator modulacji analogowych 3 tester radiokomunikacyjny 3 S,P głębokość modulacji zakres częstotliwości 100 khz 10 MHz częstotliwość modulacji 20 Hz 10 khz głębokość modulacji 5% 99% 0,75% S,P zakres częstotliwości 10 MHz 3 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 100 khz głębokość modulacji 5% 20% 20% 99% 2,5% 0,5% Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 19/42
20 zakres częstotliwości 3 GHz 26,5 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 100 khz głębokość modulacji 5% 20% 20% 99% 4,5% 1,5% zniekształcenia 1 db częstotliwość modulacji 0,06 Hz modulacja częstotliwości FM generator w.cz. 3 analizator modulacji analogowych 3 - tester radiokomunikacyjny 3 dewiacja częstotliwości zakres częstotliwości 250 khz 10 MHz częstotliwość modulacji 20 Hz 10 khz dewiacja częstotliwości 200 Hz 400 khz dewiacja częstotliwości/ częstotliwość modulacji >0,2 >1,2 1,5% 1,0% S,P zakres częstotliwości 10 MHz 6,6 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 200 khz dewiacja częstotliwości 250 Hz 400 khz dewiacja częstotliwości/ częstotliwość modulacji >0,2 >0,45 1,5% 1,0% zakres częstotliwości 6,6 GHz 13,2 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 200 khz dewiacja częstotliwości 250 Hz 400 khz dewiacja częstotliwości/ częstotliwość modulacji >0,2 >8 2,5% 1,0% Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 20/42
21 zakres częstotliwości 13,2 GHz 26,5 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 200 khz dewiacja częstotliwości 250 Hz 40 khz dewiacja częstotliwości/ częstotliwość modulacji >0,2 >16 3,8% 1,0% zniekształcenia 1 db częstotliwość modulacji modulacja PM generator w.cz. 3 analizator modulacji analogowych 3 - tester radiokomunikacyjny 3 0,06 Hz S,P dewiacja fazy zakres częstotliwości 100 khz 6,6 GHz częstotliwość modulacji 200 Hz 20 khz dewiacja fazy >0,7 rad >0,3 rad 1,0% 3,0% S,P zakres częstotliwości 6,6 GHz 13,2 GHz częstotliwość modulacji 200 Hz 20 khz dewiacja fazy >2,0 rad >0,6 rad 1,0% 3,0% zakres częstotliwości 13,2 GHz 26,5 GHz częstotliwość modulacji 200 Hz 20 khz dewiacja fazy >4,0 rad >1,2 rad 1,0% 3,0% zniekształcenia 1 db częstotliwość modulacji błąd fazy (GMSK) tester radiokomunikacyjny GSM/EDGE 3 EVM (EDGE) tester radiokomunikacyjny GSM/EDGE 3 0,06 Hz 0,3 0 S,P 0,5% S,P Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 21/42
22 współczynnik kalibracji - czujnik mocy 3 współczynnik odbicia S 11 / S 22 w zakresie mocy -30 dbm +44 dbm 10 MHz 4,0 GHz 4,0 GHz 8,0 GHz 8,0 GHz 12,4 GHz 12,4 GHz 18,0 GHz w zakresie mocy -70 dbm -20 dbm 10 MHz 4,0 GHz 4,0 GHz 8,0 GHz 8,0 GHz 12,4 GHz 12,4 GHz 18,0 GHz 0,008 0,009 0,011 0,013 0,013 0,014 0,016 0,021 S,P S.P HP 438A E4418B 8481A 8481D - częstościomierz 3 - czujnik mocy 3 - terminator (opornik) 3 - tłumik 3 - filtr 3 - sprzęgacz 3 - przełącznik 3 - analizator systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 złącze N 10 MHz 2 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 2 GHz 10 GHz (0,004 0,006) lin 4 (1,7 180) o (0,006 0,011) lin (1,1 1,7) o (0,011 0,018) lin (0,98 1,1) o 8363B N4690B 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 10 GHz 18 GHz (0,006 0,008) lin (2,1 180) o (0,008 0,013) lin (1,3 2,1) o (0,013 0,022) lin (1,2 1,3) o 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 (0,008 0,009) lin (3,1 180) o (0,009 0,020) lin (1,9 3,1) o (0,020 0,035) lin (1,9 2,0) o Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 22/42
23 złącze 3,5 mm 10 MHz 2 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 2 GHz 10 GHz (0,002 0,004) lin (0,91 180) o (0,004 0,007) lin (0,64 0,91) o (0,007 0,011) lin (0,63 0,64) o 8363B N4691B 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 10 GHz 20 GHz (0,003 0,004) lin (1,1 180) o (0,004 0,009) lin (0,78 1,1) o (0,009 0,014) lin (0,78 0,79) o 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 20 GHz 26,5 GHz (0,005 0,007) lin (1,8 180) o (0,007 0,011) lin (1,1 1,8) o (0,011 0,018) lin (1,0 1,1) o Złącze 2,4 mm 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 10 MHz 2 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 2 GHz 10 GHz (0,007 0,009) lin (2,6 180) o (0,009 0,016) lin (1,5 2,6) o (0,016 0,025) lin (1,4 1,5) o (0,002 0,004) lin (1,1 180) o (0,004 0,008) lin (0,74 1,1) o (0,008 0,013) lin (0,73 0,74) o 8363B N4693A 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 (0,004 0,006) lin (1,7 180) o (0,006 0,011) lin (1, 1 1,7) o (0,011 0,019) lin (1,0 1,1) o Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 23/42
24 10 GHz 20 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 20 GHz 40 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 (0,006 0,008) lin (2,4 180) o (0,008 0,016) lin (1,5 2,4) o (0,016 0,028) lin (1,5 1,6) o (0,007 0,010) lin (2,9 180) o (0,010 0,020) lin (1,9 2,9) o (0,020 0,34 lin (1,9 2,0) o transmitancja S 21 / S 12 - tłumik 3 - filtr 3 - sprzęgacz 3 - przełącznik 3 - analizator systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 złącze N 10 MHz 2 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 2 GHz 10 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 10 GHz 18 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db (0,10 0,12) db (0,62 0,79) o (0,12 0,16) db (0,79 1,1) o (0,16 0,30) db (1,1 2,0) o (0,30 1,2) db (2,0 8,5) o (0,10 0,12) db (0,62 0,79) o (0,12 0,16) db (0,79 1,0) o (0,16 0,24) db (1,0 1,6) o (0,24 0,70) db (1,6 4,8) o (0,15 0,17) db (0,96 1,2) o (0,17 0,21) db (1,2 1,4) o (0,21 0,29) db (1,4 1,9) o( -60 db -80 db (0,29 0,71) db (1,9 4,9) o 8363B N4690B Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 24/42
25 złącze 3,5 mm złącze 2,4 mm 10 MHz 2 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 2 GHz 10 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db (0,08 0,10) db (0,49 0,66) o (0,10 0,14) db (0,66 0,92) o (0,14 0,28) db (0,92 1,9) o (0,28 1,2) db (1,9 8,4) o (0,10 0,12) db (0,62 0,79) o (0,12 0,16) db (0,79 1,0) o (0,16 0,24) db (1,0 1,6) o (0,24 0,70) db (1,6 4,8) o 10 GHz 20 GHz 0 db -20 db (0,13 0,15) db (0,82 0,99) o -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 20 GHz 26,5 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 10 MHz 2 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db (0,15 0,19) db (0,99 1,2) o (0,19 0,27) db (1,2 1,8) o (0,27 0,69) db (1,8 4,8) o (0,15 0,17) db (0,96 1,2) o (0,17 0,21) db (1,2 1,4) o (0,21 0,30) db (1,4 2,0) o (0,30 0,87) db (2,0 6,1) o (0,08 0,11) db (0,55 0,72) o (0,11 0,15) db (0,72 0,98) o (0,15 0,28) db (0,98 1,9) o (0,28 1,2) db (1,9 8,4) o 8363B N4691B 8363B 4693A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 25/42
26 2 GHz 10 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 10 GHz 20 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 20 GHz 40 GHz 0 db -20 db (0,10 0,13) db (0,68 0,85) o (0,13 0,16) db (0,85 1,1) o (0,16 0,25) db (1,1 1,7) o (0,25 0,71) db (1,7 4,8) o (0,13 0,16) db (0,89 1,1) o (0,16 0,19) db (1,1 1,3) o (0,19 0,28) db (1,3 1,8) o (0,28 0,70) db (1,8 4,8) o (0,15 0,18) db (1,1 1,2) o -20 db -40 db (0,18 0,21) db (1,2 1,4) o -40 db -60 db (0,21 0,31) db (1,4 2,1) o -60 db -80 db (0,31 0,88) db (2,1 6,1) o 19 Temperatura -270 C 1820 C S.P wskaźniki temperatury (mierniki temperatury) - wskaźnik temperatury C 850 C 0,005 C 2) - multimetr cyfrowy (pracujący jako wskaźnik temperatury) symulatory temperatury S,P - symulator temperatury C 1820 C 0,03 C 1) - kalibrator (pracujący jako symulator temperatury) 3 10 Czas i częstotliwość S,P częstotliwość 0,001 Hz 40 GHz S,P -wzorzec lub generator częstotliwości działający w trybie swobodnym (wzorzec kwarcowy, atomowy, generator częstotliwości, syntezator) lub kontrolowany sygnałem czasu albo częstotliwości wzorcowej (sygnałem radiowym lub sygnałem radionawigacyjnym systemu naziemnego, jak LORAN, lub satelitarnego, jak GPS, lub sygnałem telekomunikacyjnym przesyłanym przewodowo) 100 khz, 1 MHz, 2,048 MHz 5 MHz, 10 MHz f w czasie uśredniania 7d f w czasie uśredniania 1d (pod warunkiem jednoczesnych zdalnych porównań z wzorcem państwowym GUM) S,P Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 26/42
27 f w czasie uśredniania 1 h f w czasie uśredniania 1000 s f w czasie uśredniania 100 s Sygnał prostokątny 0,001 Hz 3 GHz f W zakresie 0,001Hz 0,1 Hz pomiary okresu Sygnał sinusoidalny f 50 khz 40 GHz w czasie uśredniania 1 s 1 khz 50 khz f w czasie uśredniania 10 s 100 Hz 1 khz f w czasie uśredniania 100 s Hz 0,1 Hz 100 Hz 1 10 f f w czasie uśredniania 100 s nadajnik zawarty w analizatorze/testerze PDH/SDH - częstościomierz cyfrowy ( w tym częstościomierz wbudowany w miernik mocy) 8 khz 3 GHz f w czasie uśredniania 1 s 0,001 Hz 40 GHz 0,001 Hz 10 MHz f Czas uśredniania sygnał prostokątny w czasie uśredniania nie mniejszy 0,1 s niż okres sygnału 10 khz 40 GHz f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 1 s f w czasie uśredniania 0,1 s 1 khz 10 khz f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 10 s Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 27/42
28 100 Hz 1 khz f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 100 s 0,1 Hz 100 Hz 8 100Hz 3 10 f f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 100 s komparator częstotliwości (względne odchylenie częstotliwości) Hz/Hz Hz/Hz Hz/Hz (100 khz, 1 MHz, w czasie uśredniania 2,048 MHz, 5 MHz, 1 d 10 MHz) Hz/Hz Hz/Hz (0,1 Hz 1,2 GHz) w czasie uśredniania 1000 s Hz/Hz w czasie uśredniania 10 s Hz/Hz w czasie uśredniania 1 s - multimetr cyfrowy 3 10 Hz 10 MHz 0,001 % - oscyloskop Hz 10 khz 0, f (wewnętrzne źródło odniesienia AC) - źródło sinusoidalnych sygnałów pomiarowych (generator) 20 Hz 100 Hz f - kalibrator Hz 100 MHz f - miernik (mostek) RLC 3 10 Hz 1 MHz 0,001 % - miernik (mostek) impedancji 3 - źródło promieniowania optycznego (modulowane i niemodulowane) 3 -zestaw do pomiaru tłumienności 3 - miernik tłumienności odbicia 3 - reflektometr światłowodowy jedno i wielomodowy 3 - miernik częstotliwości analizatorów PCM MHz 0,6 % 20 Hz 100 Hz 100 Hz 3403 Hz (dla poziomu -10 dbm0) 2, f f f < 100 Hz f 100 Hz Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 28/42
29 - generator częstotliwości analizatorów PCM - zegar generatora częstotliwości analizatorów PCM 20 Hz 100 Hz 100 Hz 3403 Hz (dla poziomu -10 dbm0) 2, f f 2048 khz f - zegar generatora częstotliwości 64 khz 2048 khz f analizatorów transmisji danych 3 - analizatorów widma 3 - analizator obwodów 3 - analizatorów systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 - analizator parametrów i uszkodzeń linii 9 khz 40 GHz f w czasie uśredniania 1 s 20 khz khz f w czasie uśredniania 0,1 s 0,01% dystans/długość 30 m 15 km 0,15% Czas uśredniania nie mniejszy niż 100 T, gdzie T- okres sygnału czas S,P Przedział czasu (także współczynnik wypełnienia) 1 ns 10 5 s S,P - generator przedziałów czasu 1 ns 10 5 s t dla przedziału czasu 10 5 s 2 ns dla przedziału czasu 10 4 s t 10 s 0,1 ns t dla przedziału czasu < 10s - reflektometr światłowodowy jedno i wielomodowy 3 2 ns 20 s 0,6 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznej - tester wyłączników RCD 20 ms 1000 ms 0,7 ms - czasomierz cyfrowy 1 ns 10 5 s 1 ns 100 s sygnał sinusoidalny t dla czasu uśredniania 1s t dla czasu uśredniania 0,1s Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 29/42
30 0,03 ns dla czasu uśredniania < 0,1 s 100 s 1 ms sygnał sinusoidalny t dla czasu uśredniania 10s 1 ms 10 ms sygnał sinusoidalny t dla czasu uśredniania 100s 10 ms 10 s sygnał sinusoidalny t 0,01s 3 2 t 100 ns 10 5 s sygnał prostokątny 0,01 ns t 200 ns 10 5 s sygnał impulsowy t dla przedziału czasu 10 5 s 0,2 ns dla przedziału czasu 10 4 s t 10 s 0,01 ns t dla przedziału czasu < 1s - oscyloskop 3, skopometr 3 900,9 ns 55 s 0,1 ns+ 0, t - analizator parametrów i 5 ns 1600 ns 10 % uszkodzeń linii Czas fazowy 1 ns 100 ms S - miernik błędu przedziału czasu (TIE) 1 ns 100 ms (2,048 MHz) - komparator czasu fazowego 1 ns 1 s (100 khz, 1 MHz, 5 MHz, 10 MHz) 1 ns 1 s (1 Hz) 0,1 ns TIE 0,1 ns x x czas fazowy 0,5 ns Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 30/42
31 - miernik fluktuacji czasu fazowego zawarty w odbiorniku analizatora/testera PDH/SDH Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 1 khz (PDH) i 100 khz (SDH) 2,048 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 8,448 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 34,648 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 139,264 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 155,520 Mb/s 0 21,751 UI 0,03 UI pp 622,080 Mb/s UI ±8% w.mierz ±0,02UI 2 488,320 Mb/s UI ±8%w.mierz ±0,02 UI - generator fluktuacji czasu fazowego zawarty w nadajniku analizatora/testera PDH/SDH Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 100 Hz,1 khz,10khz, 100 khz zakresów j.w. przepływności sygnałów Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 2 Hz 20 MHz zakresów j.w. przepływności sygnałów Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego1 khz (PDH) i 100 khz (SDH) (0,003 0,03)UI pp ±(8% 15%) w. mierz ± 0,02 UI 2,048 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 8,448 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 34,648 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 31/42
32 139,264 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 155,520 Mb/s 0 21,751 UI 0,03 UI pp 622,080 Mb/s UI ±5% w.mierz ± 0,07UI 2 488,320 Mb/s 0 32 UI ±5% w.mierz ± 0,1 UI Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 100 Hz, 1 khz, 10 khz, 100 khz zakresów j.w. przepływności sygnałów (0,002 0,02) UI pp Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 2 Hz 20 MHz, zakresów j.w. przepływności sygnałów ±(5% 19%) w. mierz ±(0,024 0,2) UI 16 Wielkości optyczne S,P optoelektronika Moc (poziom mocy) promieniowania optycznego S,P - miernik mocy (poziomu mocy) 100 pw 150 W 0,77% długość fali: promieniowania optycznego 3 (-70-8) dbm (0,034 db) (850; 1300; 1310; - zestaw do pomiaru tłumienności ) nm - analizator widma promieniowania optycznego Liniowość: (850, 1300, 1310, ) nm - miernik długości fali pw 1 mw - reflektometr światłowodowy jedno i wielomodowy 3 (-70 0 dbm) Niepewność rozszerzona: 0,019 db - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 - źródło promieniowania 100 pw 500 mw 4,0 % optycznego długość fali modulowane i niemodulowane 3 ( ) dbm (0,17 db) ( ) nm Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 32/42
33 7 % - zestaw do pomiaru tłumienności 3 - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 (0,3 db) - reflektometr światłowodowy jedno i wielomodowy 3 - nadajnik zawarty w analizatorze/ 100 pw 500 mw 4,0% testerze PDH/SDH 3 ( ) dbm (0,17dB) Długość optyczna światłowodu S,P długość fali ( )nm - reflektometr światłowodowy jednomodowy 3 odległości do 250km 0,6 m Punkty kalibracji: 1310 nm; 19974,1m 1550 nm; 19982,7m - reflektometr światłowodowy wielomodowy 3 odległości do 100km 1,7 m Punkty kalibracji: 850 nm; 4796,0 m; 0,4 m 1300 nm; 4776,6 m Tłumienność S,P - tłumik optyczny, sprzęgacz 0 70 db 0,5 % długość fali: optyczny, przełącznik optyczny i inne obiekty optoelektroniczne 3 (0,02 db) (850; 1300; 1310; 1550) nm Tłumienność jednostkowa S,P - reflektometr światłowodowy jednomodowy 3 (0,33 ± 0,004) db/km 0,008 db/km przy długości fali 1310 nm, (0,19 ± 0,004) db/km 0,008 db/km przy długości fali 1550 nm - reflektometr światłowodowy (2,642 ± 0,076) wielomodowy 3 db/km (0,489 ± 0,028) db/km 0,073 db/km przy długości fali 850 nm, 0,026 db/km przy długości fali 1300 nm Tłumienność odbicia S,P (reflektancja) - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 - obiekty optoelektroniczne 3 3,5 db 50 db 50 db 65 db 5 db 68 db 0,32 db 0,66 db 0,48 db zakresy długość fali: 850 nm, 1300 nm, 1310 nm, 1550nm Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 33/42
34 Tłumienność zależna od polaryzacji (PDL), zależność polaryzacyjna wskazań mocy -miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3, - analizator widma promieniowania optycznego) miernik długości fali) - tłumik optyczny sprzęgacz optyczny, przełącznik optyczny i inne obiekty optoelektroniczne 0 db 62 db 0,2 % (0,009 db) S,P zakres długość fali: ( ) nm Długość fali promieniowania optycznego - źródło promieniowania 350 nm 700 nm 0,5 nm optycznego modulowane i niemodulowane nm 1700 nm 0,14 pm - reflektometr światłowodowy 1700nm 1750nm 0,5 nm jednomodowy i wielomodowy 3 - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 - zestaw do pomiaru tłumienności 3 - nadajnik optyczny zawarty w analizatorze /testerze PDH/SDH 3 - analizator widma promieniowania 1510 nm 1540 nm 0,3 pm optycznego) 1255 nm 1351 nm 0,3 pm - miernik długości fali 1310 nm 0,3 pm 1495 nm 1640 nm 0,3 pm S,P komórki absorpcyjne laser przestrajalny i laser DFB kontrolowan e miernikiem długości fali 1532,8279 nm 1532,8329 nm 1532,8304 nm 0,2 pm 0,2 pm 0,3 pm stabilizowan y laser DFB Współczynnik tłumienia prążków S,P bocznych (SMSR) - źródło promieniowania optycznego (1 70) db 0,49 db Zakres długości fali: modulowane i niemodulowane nm - reflektometr światłowodowy jednomodowy i wielomodowy - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) - zestaw do pomiaru tłumienności - nadajnik optyczny zawarty w analizatorze /testerze PDH/SDH Wersja strony: A *) Niepewność rozszerzona przy poziomie ufności 95 %. Najlepszą możliwość pomiarową podano w procentach wartości wskazanej. Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 34/42
35 1 - wzorcowanie pośrednie z zastosowaniem znormalizowanych charakterystyk termometrycznych termoelementów, podanych w PN-EN :1997 Termoelementy Charakterystyki 2 - wzorcowanie pośrednie z zastosowaniem znormalizowanych charakterystyk termometrycznych czujników platynowych przemysłowych termometrów rezystancyjnych, podanych w PN-EN A2:1997 Czujniki platynowe przemysłowych termometrów rezystancyjnych. Uwaga W przypadku zastosowania innych dokumentów niż podane w 1, 2 są one jednoznacznie określone w świadectwie wzorcowania. 3 - wzorcowanie także poza stałą siedzibą 4 - lin oznaczenie lin przy wartościach najlepszej możliwości pomiarowej określa skalę liniową Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 35/42
36 Personel akredytowany Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Anna Warzec Kierownik Laboratorium Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mostki stałoprądowe (Wheatstone a i Thomsona) - mierniki (mostki) RLC - wzorce pojemności i indukcyjności Tomasz Kossek Zastępca Kierownika Laboratorium Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5 - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki i odbiorniki optyczne zawarte w analizatorach i testerach PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Elżbieta Hercan-Sereda Kierownik Zespołu Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji oraz symulatory temperatury 5 - oporniki wzorcowe stałe i regulowane 5 - mostki stałoprądowe (Wheatstone a i Thomsona) 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) 5 - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) 5 - źródła napięcia i prądu stałego 5 - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznych 5 - czwórniki pomiarowe 5 Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 36/42
37 Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Zofia Rau adiunkt Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - wzorce i generatory częstotliwości i przedziałów czasu a) wzorce i generatory częstotliwości działające w trybie swobodnym b) wzorce i generatory częstotliwości kontrolowane sygnałem czasu lub częstotliwości wzorcowej c) generatory powtarzalnych przedziałów czasu d) źródła zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH - częstościomierze cyfrowe - czasomierze cyfrowe - komparatory częstotliwości - mierniki błędu przedziału czasu i komparatory czasu fazowego Michał Marszalec Kierownik Zespołu jw. - generatory wielkiej częstotliwości - częstościomierze wielkiej częstotliwości Bogusław Dąbrowski główny specjalista Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5 - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki i odbiorniki optyczne zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - oscyloskopy 5 - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 37/42
38 Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Bożena Główka specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mostki stałoprądowe (Wheatstone a i Thomsona) - mierniki impedancji (mostki RLC) - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) Dariusz Nerkowski specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji oraz symulatory temperatury 5 - oporniki wzorcowe stałe i regulowane 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) 5 - źródła napięcia i prądu stałego 5 - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznych 5 - oscyloskopy 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) i mostki stałoprądowe 5 - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) 5 - czwórniki pomiarowe 5 Stanisław Franciszczuk specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy - mierniki napięcia - mierniki poziomu napięcia i poziomu mocy - tłumiki pomiarowe - mierniki impedancji (mostki RLC) - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 38/42
39 Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Tomasz Osuch Kierownik Zespołu Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5 - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki i odbiorniki optyczne zawarte w analizatorach i testerach PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Marta Buryk specjalista Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 Bartosz Rynowiecki Młodszy specjalista - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji oraz symulatory temperatury 5 - oporniki wzorcowe stałe i regulowane 5 - źródła napięcia i prądu stałego 5 - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznych 5 - oscyloskopy 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) i mostki stałoprądowe 5 - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) 5 - czwórniki pomiarowe 5 Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 39/42
40 Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Grzegorz Kędzierski Kierownik Zespołu Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - częstościomierze wielkiej częstotliwości 5 - generatory wielkiej częstotliwości 5 - czujniki i mierniki mocy wielkiej częstotliwości 5 - jedno i wielowrotniki wielkiej częstotliwości 5 - analizatory widma 5 - analizatory obwodów 5 - analizatory systemów antenowych 5 - analizatory systemów kablowych 5 - analizatory modulacji analogowych 5 - testery radiokomunikacyjne (GSM/EDGE) 5 Wiesława Prokop-Knap starszy specjalista b-t Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - analizatory i testery transmisji PDH/SDH - analizatory transmisji cyfrowej PCM - analizatory transmisji cyfrowej w zakresie interfejsów transmisji danych - tłumiki pomiarowe - mierniki napięcia - mierniki poziomu napięcia i poziomu mocy - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy - tłumiki pomiarowe - analizatory parametrów i uszkodzeń linii Michał Gartkiewicz specjalista jw. - oscyloskopy 5 Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 40/42
41 Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Karol Korszeń specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - częstościomierze wielkiej częstotliwości 5 - generatory wielkiej częstotliwości 5 - czujniki i mierniki mocy wielkiej częstotliwości 5 - jedno- i wielowrotniki wielkiej częstotliwości 5 - analizatory widma 5 - analizatory obwodów 5 - analizatory systemów antenowych 5 - analizatory systemów kablowych 5 - analizatory modulacji analogowych 5 - testery radiokomunikacyjne (GSM/EDGE) 5 Marzenna Lusawa młodszy specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - wzorce i generatory częstotliwości i przedziałów czasu a) wzorce i generatory częstotliwości działające w trybie swobodnym b) wzorce i generatory częstotliwości kontrolowane sygnałem czasu lub częstotliwości wzorcowej c) generatory powtarzalnych przedziałów czasu d) źródła zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH - częstościomierze cyfrowe - czasomierze cyfrowe - komparatory częstotliwości - mierniki błędu przedziału czasu i komparatory czasu fazowego Piotr Lesiak adiunkt Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - oscyloskopy - mierniki do pomiaru napięcia, prądu i oporu elektrycznego 5 Wzorcowanie w stałej siedzibie i poza stałą siedzibą Laboratorium Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 41/42
42 Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AP 015 Status zmian: wersja pierwotna A Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW WZORCUJĄCYCH RYSZARD MALESA dnia: r. Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 42/42
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 5 Data wydania: 19 grudnia 2006 r. Nazwa i adres organizacji
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 16 Data wydania: 5 września 2016 Nazwa i adres AP 015 INSTYTUT
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 063
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 063 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 5 Data wydania: 21 grudnia 2007 r. Nazwa i adres organizacji
Bardziej szczegółowoWydział Metrologii Elektrycznej, Fizykochemii, Akustyki, Drgań i Promieniowania Optycznego
Wydział Metrologii Elektrycznej, Fizykochemii, Akustyki, Drgań i Promieniowania Optycznego ul. Polanki 124 c, 80-308 Gdańsk tel. 58 524 52 00, fax 58 524 52 29, e-mail: w2@oum.gda.pl 2 Akustyka i ultradźwięki
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 074
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 074 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13 Data wydania: 17 października 2016 r. Nazwa i adres AP
Bardziej szczegółowoWprowadzenie. odniesienie do jednostek SI łańcuch porównań musi, gdzie jest to możliwe, kończyć się na wzorcach pierwotnych jednostek układu SI;
Rola oraz zadania Laboratorium Metrologii Elektrycznej, Elektronicznej i Optoelektronicznej Instytutu Łączności w procesie zapewnienia spójności pomiarowej Anna Warzec Anna Warzec Zaprezentowano podstawowe
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 089
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 089 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 10 Data wydania: 1 września 2015 r. Nazwa i adres AP 089
Bardziej szczegółowoOferta Instytutu Łączności dla operatorów telekomunikacyjnych i integratorów systemów ICT
Oferta Instytutu Łączności dla operatorów telekomunikacyjnych i integratorów systemów ICT Edward Juszkiewicz Przedstawiono ofertę handlową Instytutu Łączności Państwowego Instytutu Badawczego (IŁ-PIB).
Bardziej szczegółowoZAŁĄCZNIK B do Zarządzenia Nr 10/2017 Dyrektora Okręgowego Urzędu Miar w Gdańsku z dnia 25 września 2017 r.
Wynagrodzenie bez VAT oraz kosztów i opłat z 3 i 4 pobierane za wykonanie wzorcowania przyrządu pomiarowego w ramach AP 086 przez pracowników Wydziału Metrologii Elektrycznej, Fizykochemii, Akustyki, Drgań
Bardziej szczegółowoLaboratoria. badawcze i wzorcujące
Laboratoria badawcze i wzorcujące Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) działa przy Zakładzie Badań Systemów i Urządzeń (Z-1). LBUT
Bardziej szczegółowoZAŁĄCZNIK B do Zarządzenia Nr 12/2015 Dyrektora Okręgowego Urzędu Miar w Gdańsku z dnia 30 września 2015 r.
Wynagrodzenie bez VAT i kosztów z 3 pobierane za wykonanie wzorcowania przyrządu pomiarowego w ramach AP 086 przez pracowników Wydziału Metrologii Elektrycznej, Fizykochemii, Akustyki, Drgań i Promieniowania
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 096
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 096 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11 Data wydania: 6 kwietnia 2016 r. Nazwa i adres AP 096
Bardziej szczegółowoGłówne zadania Laboratorium Wzorców Wielkości Elektrycznych
ZAKŁAD ELEKTRYCZNY Laboratorium Wzorców Wielkości Elektrycznych Kierownik Edyta Dudek tel.: (22) 581 94 62 (22) 581 93 02 faks: (22) 581 94 99 e-mail: electricity@gum.gov.pl e-mail: dc.standards@gum.gov.pl
Bardziej szczegółowoZAŁĄCZNIK I DO SIWZ. Projekt współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego
ZAŁĄCZNIK I DO SIWZ Lp. Urządzenie Ilość szt/ komp Wymagania min. stawiane urządzeniu KATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ. Zestaw edukacyjny do pomiarów biomedycznych - Zestaw edukacyjny przedstawiający zasady
Bardziej szczegółowo540,00 zł 900,00 zł 7 Kalibrator oscyloskopów : 900,00 zł 8
Wynagrodzenie bez VAT oraz kosztów i opłat z 3 i 4 pobierane za wykonanie wzorcowania przyrządu pomiarowego w ramach AP 086 przez pracowników Wydziału Metrologii Elektrycznej, Fizykochemii, Akustyki, Drgań
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 013
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 013 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 10 Data wydania: 18 maja 2012 r. Nazwa i adres AP 013 INTYTUT
Bardziej szczegółowoZAKŁAD ELEKTRYCZNY Laboratorium Wielkości Elektrycznych Małej Częstotliwości Robert Rzepakowski
ZAKŁAD ELEKTRYCZNY Laboratorium Wielkości Elektrycznych Małej Częstotliwości Kierownik Robert Rzepakowski tel.: (22) 8 9 faks: (22) 8 9 99 e-mail: electricity@gum.gov.pl e-mail: LFquantities@gum.gov.pl;
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 088
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 088 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 12 Data wydania: 16 listopada 2015 r. Nazwa i adres AP 088 OKRĘGOWY
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu 2 części zamówienia Urządzenia pomiarowe
ZST.771.3.015.01 Opis przedmiotu części zamówienia Urządzenia pomiarowe Załącznik 4b do SIWZ Lp. NAZWA OPIS GŁÓWNYCH PARAMETRÓW TECHNICZNYCH ILOŚĆ (szt.) 1 Autotransformator Watomierz cyfrowy 3 Wielofunkcyjny
Bardziej szczegółowoKalkulacja cenowa dla przedmiotu zamówienia Dostawa sprzętu i wyposaŝenia do pracowni zawodowych szczecińskich szkół ponadgimnazjalnych
Realizacja umowy o dofinansowanie projektu Poprawa jakości kształcenia szczecińskich szkół ponadgimnazjalnych poprzez zakup wyposaŝenia i środków dydaktycznych oraz modernizację pracowni zgodnie z potrzebami
Bardziej szczegółowo1. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Numer referencyjny: IK.PZ-380-06/PN/18 Załącznik nr 1 do SIWZ Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzone w trybie przetargu nieograniczonego pn. Dostawa systemu pomiarowego do badań EMC,
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu 2 części zamówienia Urządzenia pomiarowe
ZST.771.3.015.01 Opis przedmiotu części zamówienia Urządzenia pomiarowe Załącznik 4b do SIWZ Lp. NAZWA OPIS GŁÓWNYCH PARAMETRÓW TECHNICZNYCH ILOŚĆ (szt.) 1 Autotransformator Watomierz cyfrowy 3 Wielofunkcyjny
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 085
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 085 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 11 Data wydania 27 października 2015 r. AP 085 OKRĘGOWY URZĄD
Bardziej szczegółowoMożliwości techniczne wojskowych ośrodków metrologii
Możliwości techniczne wojskowych ośrodków metrologii PRZYSPIESZENIE, PRĘDKOŚĆ I ODLEGŁOŚĆ Przyspieszenie drgań - czułość (0,1 1000 mv) mv/g (10 10000) Hz 3,5 % g przyspieszenie ziemskie Prędkość obrotowa
Bardziej szczegółowoWYDZIAŁU ELEKTRONIKI. GENERATOR FUNKCYJNY 6 szt.
Załącznik nr 6 do specyfikacji istotnych warunków zamówienia w postępowaniu KAG. 2390-1/10 OPIS TECHNICZNY WYPOSAśENIA LABORATORIÓW WYDZIAŁU ELEKTRONIKI DANE TECHNICZNE: GENERATOR FUNKCYJNY 6 szt. Pasmo
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 3 Wymogi techniczne urządzeń. Stanowisko montażowo - pomiarowe Dotyczy: Zapytanie ofertowe nr POIG 4.4/07/11/2015 r. z dnia 10 listopada 2015 r. str. 1 1. Oscyloskop Liczba: 1 Parametr Pasmo
Bardziej szczegółowoPROFESJONALNY MULTIMETR CYFROWY ESCORT-99 DANE TECHNICZNE ELEKTRYCZNE
PROFESJONALNY MULTIMETR CYFROWY ESCORT-99 DANE TECHNICZNE ELEKTRYCZNE Format podanej dokładności: ±(% w.w. + liczba najmniej cyfr) przy 23 C ± 5 C, przy wilgotności względnej nie większej niż 80%. Napięcie
Bardziej szczegółowoZakład Dostępowych Sieci Przewodowych (Z-16) Załącznik 1. Praca nr
Zakład Dostępowych Sieci Przewodowych (Z-16) Załącznik 1 Praca nr 16.30.001.5 Warszawa, grudzień 2005 Załącznik 1 Praca nr 16300015 Słowa kluczowe (maksimum 5 słów): procedury badawcze,, zestawy badaniowe
Bardziej szczegółowo1. Opis płyty czołowej multimetru METEX MS Uniwersalne zestawy laboratoryjne typu MS-9140, MS-9150, MS-9160 firmy METEX
Uniwersalne zestawy laboratoryjne typu MS-9140, MS-9150, MS-9160 firmy METEX Połączenie w jednej obudowie generatora funkcyjnego, częstościomierza, zasilacza stabilizowanego i multimetru. Generator funkcyjny
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 12, Data wydania: 20 grudnia 2018 r. Nazwa i adres: AB 666
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 086
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 086 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 16 Data wydania: 21 sierpnia 2017 r. AP 086 OKRĘGOWY URZĄD MIAR
Bardziej szczegółowoZASADA DZIAŁANIA miernika V-640
ZASADA DZIAŁANIA miernika V-640 Zasadniczą częścią przyrządu jest wzmacniacz napięcia mierzonego. Jest to układ o wzmocnieniu bezpośred nim, o dużym współczynniku wzmocnienia i dużej rezystancji wejściowej,
Bardziej szczegółowoKALIBRATOR - MULTIMETR ESCORT 2030 DANE TECHNICZNE
KALIBRATOR - MULTIMETR ESCORT 2030 DANE TECHNICZNE 1. Dane ogólne Wyświetlacz: Wyświetlacze główny i pomocniczy wyświetlacza ciekłokrystalicznego (LCD) mają oba długość 5 cyfry i maksymalne wskazanie 51000.
Bardziej szczegółowoParametry i technologia światłowodowego systemu CTV
Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV (Światłowodowe systemy szerokopasmowe) (c) Sergiusz Patela 1998-2002 Sieci optyczne - Parametry i technologia systemu CTV 1 Podstawy optyki swiatlowodowej:
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11, Data wydania: 11 stycznia 2018 r. Nazwa i adres: AB 666
Bardziej szczegółowoPomiar podstawowych wielkości elektrycznych
Instytut Fizyki ul. Wielkopolska 15 70-451 Szczecin 1 Pracownia Elektroniki. Pomiar podstawowych wielkości elektrycznych........ (Oprac. dr Radosław Gąsowski) Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia:
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 086
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 086 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 15 Data wydania: 21 lipca 2016 r. AP 086 OKRĘGOWY URZĄD MIAR
Bardziej szczegółowoARKUSZ EGZAMINACYJNY ETAP PRAKTYCZNY EGZAMINU POTWIERDZAJ CEGO KWALIFIKACJE ZAWODOWE STYCZEŃ 2014
Zawód: technik elektronik Symbol cyfrowy zawodu: 311[07] Numer zadania: 1 Arkusz zawiera informacje prawnie chronione do momentu rozpocz cia egzaminu 311[07]-01-141 Czas trwania egzaminu: 240 minut ARKUSZ
Bardziej szczegółowoMultimetry cyfrowe Agilent U1251B, U1252B i U1253B
Multimetry cyfrowe Agilent U1251B, U1252B i U1253B Seria cyfrowych multimetrów przenośnych Agilent U1250B dzięki swojej funkcjonalności znajdzie zastosowanie w najbardziej wymagających aplikacjach. Seria
Bardziej szczegółowoSPIS TREŚCI. 1. Pojęcia podstawowe Określanie dokładności pomiarów Spis treści
Spis treści 1. Pojęcia podstawowe... 13 1.1. Obiekt fizyczny, wielkość fizyczna (mierzalna)... 13 1.2. Proces pomiarowy... 14 1.3. Jednostka miary, układy wielkości i układy jednostek miar... 15 1.4. Urządzenia
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PODZESPOŁÓW ELEKTRONICZNYCH. Ćwiczenie nr 2. Pomiar pojemności i indukcyjności. Szeregowy i równoległy obwód rezonansowy
LABORATORIUM PODZESPOŁÓW ELEKTRONICZNYCH Ćwiczenie nr 2 Pomiar pojemności i indukcyjności. Szeregowy i równoległy obwód rezonansowy Wykonując pomiary PRZESTRZEGAJ przepisów BHP związanych z obsługą urządzeń
Bardziej szczegółowoESCORT OGÓLNE DANE TECHNICZNE
ESCORT 898 - OGÓLNE DANE TECHNICZNE Wyświetlacz: Oba pola cyfrowe główne i pomocnicze wyświetlacza ciekłokrystalicznego (LCD) mają oba długość 5 cyfry i maksymalne wskazanie 51000. Automatyczne wskazanie
Bardziej szczegółowoLaboratoryjny multimetr cyfrowy Escort 3145A Dane techniczne
Laboratoryjny multimetr cyfrowy Escort 3145A Dane techniczne Dane podstawowe: Zakres temperatur pracy od 18 C do 28 C. ormat podanych dokładności: ± (% wartości wskazywanej + liczba cyfr), po 30 minutach
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 045
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 045 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 16 Data wydania: 5 lipca 2017 r. Nazwa i adres AP 045 Kategoria
Bardziej szczegółowoMiernictwo elektryczne i elektroniczne
Miernictwo elektryczne i elektroniczne Metrologia jest specjalnością obejmującą teorię mierzenia i problemy technicznej realizacji procesu pomiarowego. Wielkości aktywne można mierzyć bez dodatkowego źródła
Bardziej szczegółowoFORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz
Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 2 dla Stanowiska do Badań Elektrycznych Anten do 110 GHz W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Badań
Bardziej szczegółowoŚWIADECTWO WZORCOWANIA
(logo organizacji wydającej świadectwa) (Nazwa, adres, e-mail i nr telefonu organizacji wydającej świadectwo) Laboratorium wzorcujące akredytowane przez Polskie Centrum Akredytacji, sygnatariusza porozumień
Bardziej szczegółowo"Rozwój szkolnictwa zawodowego w Gdyni - budowa, przebudowa i rozbudowa infrastruktury szkół zawodowych oraz wyposażenie" Opis przedmiotu zamówienia
"Rozwój szkolnictwa zawodowego w Gdyni - budowa, przebudowa i rozbudowa infrastruktury szkół zawodowych oraz wyposażenie" Opis przedmiotu zamówienia Specjalistyczne wyposażenie warsztatu/pracowni - część
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Zakład Systemów Informacyjno-Pomiarowych
POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Zakład Systemów Informacyjno-Pomiarowych Studia... Kierunek... Grupa dziekańska... Zespół... Nazwisko i Imię 1.... 2.... 3.... 4.... Laboratorium...... Ćwiczenie
Bardziej szczegółowoSzerokopasmowy tester telekomunikacyjny MT3000e
Szerokopasmowy tester telekomunikacyjny MT3000e Tester MT3000e należy do nowej generacji szerokopasmowych testerów telekomunikacyjnych. Jest on idealnie przystosowany do odbiorów i badań sygnałami analogowymi
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 045
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 045 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 15 Data wydania: 10 czerwca 2016 r. Nazwa i adres AP 045 Kategoria
Bardziej szczegółowoRyszard Kostecki. Badanie własności filtru rezonansowego, dolnoprzepustowego i górnoprzepustowego
Ryszard Kostecki Badanie własności filtru rezonansowego, dolnoprzepustowego i górnoprzepustowego Warszawa, 3 kwietnia 2 Streszczenie Celem tej pracy jest zbadanie własności filtrów rezonansowego, dolnoprzepustowego,
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13, Data wydania: 17 listopada 2014 r. Nazwa i adres AB 295
Bardziej szczegółowoDOKŁADNOŚĆ MIERNIKÓW STOSOWANYCH W LPF
DOKŁADNOŚĆ MIERNIKÓW STOSOWANYCH W LPF 1. Multimetr M-3800 Napięcie stałe 2 V 0,3 % rdg + 1 dgt 1 mv (DC V) 20 V 10 mv M-3800 200 V 1 V 200 mv 1,2 % rdg + 3 dgt 100 V Napięcie zmienne 2 V 1 mv (AC V) 20
Bardziej szczegółowoMetrologia wspomagana komputerowo
Centralna Izba Pomiarów Telekomunikacyjnych (P-12) Metrologia wspomagana komputerowo Praca nr 12300025 Warszawa, listopad 2005 Metrologia wspomaga komputerowo Praca nr 12300025 Słowa kluczowe: automatyzacja,
Bardziej szczegółowoSAMOCHODOWY MULTIMETR DIAGNOSTYCZNY AT-9945 DANE TECHNICZNE
SAMOCHODOWY MULTIMETR DIAGNOSTYCZNY AT-9945 DANE TECHNICZNE Przyrząd spełnia wymagania norm bezpieczeństwa: IEC 10101-1 i EN-PN 61010-1. Izolacja: podwójna, druga klasa ochronności. Kategoria przepięciowa:
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 310
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 310 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 15 Data wydania: 17 sierpnia 2016 r. Nazwa i adres AB 310 INSTYTUT
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 4 Badanie wpływu napięcia na prąd. Wyznaczanie charakterystyk prądowo-napięciowych elementów pasywnych... 68
Spis treêci Wstęp................................................................. 9 1. Informacje ogólne.................................................... 9 2. Zasady postępowania w pracowni elektrycznej
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE nr 5. Pomiary rezystancji, pojemności, indukcyjności, impedancji
Politechnika Łódzka Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych WWW.DSOD.PL LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRONICZNEJ ĆWICZENIE nr 5 Pomiary rezystancji, pojemności, indukcyjności, impedancji
Bardziej szczegółowoZakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych
Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia Ćwiczenie 1 Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych budowa i zasada działania przyrządów analogowych magnetoelektrycznych
Bardziej szczegółowoPaństwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 5 WZMACNIACZ OPERACYJNY A. Cel ćwiczenia. - Przedstawienie właściwości wzmacniacza operacyjnego - Zasada
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 086
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 086 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 10 Data wydania: 3 lipca 2013 r. AP 086 OKRĘGOWY URZĄD MIAR
Bardziej szczegółowoEscort 3146A - dane techniczne
Escort 3146A - dane techniczne Dane wstępne: Zakres temperatur pracy od 18 C do 28 C. ormat podanych dokładności: ± (% wartości wskazywanej + liczba cyfr), po 30 minutach podgrzewania. Współczynnik temperaturowy:
Bardziej szczegółowoZastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych
UKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych Laboratorium Układów Elektronicznych Poznań 2008 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 158
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 158 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 10 Data wydania: 22 listopada 2018 r. Nazwa i adres AP 158 Laboratorium
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 17, Data wydania: 23 października 2018 r. Nazwa i adres AB
Bardziej szczegółowoMetrologia elektryczna / Augustyn Chwaleba, Maciej Poniński, Andrzej
Metrologia elektryczna / Augustyn Chwaleba, Maciej Poniński, Andrzej Siedlecki. wyd. 11. Warszawa, 2014 Spis treści 1. Pojęcia podstawowe 13 1.1. Obiekt fizyczny, wielkość fizyczna (mierzalna) 13 1.2.
Bardziej szczegółowoMULTIMETR CYFROWY TES 2360 #02970 INSTRUKCJA OBSŁUGI
MULTIMETR CYFROWY TES 2360 #02970 INSTRUKCJA OBSŁUGI 1. SPECYFIKACJE 1.1. Specyfikacje ogólne. Zasada pomiaru: przetwornik z podwójnym całkowaniem; Wyświetlacz: LCD, 3 3 / 4 cyfry; Maksymalny odczyt: 3999;
Bardziej szczegółowoŚwiatłowodowy kanał transmisyjny w paśmie podstawowym
kanał transmisyjny w paśmie podstawowym Układ do transmisji binarnej w paśmie podstawowym jest przedstawiony na rys.1. Medium transmisyjne stanowi światłowód gradientowy o długości 3 km. Źródłem światła
Bardziej szczegółowoWstęp. Doświadczenia. 1 Pomiar oporności z użyciem omomierza multimetru
Wstęp Celem ćwiczenia jest zaznajomienie się z podstawowymi przyrządami takimi jak: multimetr, oscyloskop, zasilacz i generator. Poznane zostaną również podstawowe prawa fizyczne a także metody opracowywania
Bardziej szczegółowoPaństwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 17 WZMACNIACZ OPERACYJNY A. Cel ćwiczenia. - Przedstawienie właściwości wzmacniacza operacyjnego -
Bardziej szczegółowoDC 103 Wydanie III ZAPEWNIENIE SPÓJNOŚCI POMIAROWEJ. Informator dla Klientów
DC 103 Wydanie III ZAPEWNIENIE SPÓJNOŚCI POMIAROWEJ Informator dla Klientów Warszawa, wrzesień 2011 SPIS TREŚCI Zapewnienie spójności pomiarowej Wzór świadectwa wzorcowania Wykaz akredytowanych laboratoriów
Bardziej szczegółowoZA Załącznik nr 1.4
ZA.7.63.08 Załącznik nr.4 Pracownia pomiarów elektrycznych i elektronicznych Lp. Nazwa Ilość Opis przetargowy Zdjęcie poglądowe Miernik wielofunkcyjny najnowszej generacji pozwalający na wykonanie wszystkich
Bardziej szczegółowoCENNIK WZORCOWAŃ. PRZYRZĄDY POMIAROWE DO POMIARU WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH Rodzaj przyrządu Zakres Przykłady Cena [zł]
CENNIK WZORCOWAŃ PRZYRZĄDY POMIAROWE DO POMIARU WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH Rodzaj przyrządu Zakres Przykłady Cena [zł] Suwmiarki do 300 mm do 630 mm do 1000 mm Płytki wzorcowe do 100 mm Wysokościomierze
Bardziej szczegółowoBierne układy różniczkujące i całkujące typu RC
Instytut Fizyki ul. Wielkopolska 15 70-451 Szczecin 6 Pracownia Elektroniki. Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC........ (Oprac. dr Radosław Gąsowski) Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia:
Bardziej szczegółowoLekcja 20. Temat: Detektory.
Lekcja 20 Temat: Detektory. Modulacja amplitudy. (AM z ang. Amplitude Modulation) jeden z trzech podstawowych rodzajów modulacji, polegający na kodowaniu sygnału informacyjnego (szerokopasmowego o małej
Bardziej szczegółowoRealizacja zadań pomiarowych. Dr inż. Janusz MIKOŁAJCZYK
Realizacja zadań pomiarowych Dr inż. Janusz MIKOŁAJCZYK Tematyka wykładu: - pomiary napięć i prądów stałych, - pomiary parametrów energetycznych sygnałów zmiennych, - pomiary parametrów czasowych sygnałów
Bardziej szczegółowoE 6.1. Wyznaczanie elementów LC obwodu metodą rezonansu
E 6.1. Wyznaczanie elementów LC obwodu metodą rezonansu Obowiązujące zagadnienia teoretyczne: INSTRUKACJA WYKONANIA ZADANIA 1. Pojemność elektryczna, indukcyjność 2. Kondensator, cewka 3. Wielkości opisujące
Bardziej szczegółowoPOLSKIEJ AKADEMII NAUK Gdańsk ul. J. Fiszera 14 Tel. (centr.): Fax:
Gdańsk, 13.04.2016r. Szczegółowy Opis Przedmiotu Zamówienia do zapytania nr 6/D/SKO/2016 I. Przedmiot zamówienia: Dostawa multimetru cyfrowego II. Opis przedmiotu zamówienia: Dane ogólne (wymagania minimalne,
Bardziej szczegółowoLaboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna
EAM - laboratorium Laboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna Ćwiczenie REOMETR IMPEDANCYJY Opracował: dr inŝ. Piotr Tulik Zakład InŜynierii Biomedycznej Instytut Metrologii i InŜynierii Biomedycznej
Bardziej szczegółowoFORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego
Załącznik 1 FORMULARZ TECHNICZNY nr 4 dla Stanowiska do Pomiaru Promieniowania Mikrofalowego W niniejszym formularzu wyspecyfikowano sprzęt pomiarowo-kontrolny niezbędny do realizacji Stanowiska do Pomiaru
Bardziej szczegółowoUniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie
Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 1 Temat: PRZYRZĄDY POMIAROWE Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data Podpis Ocena 1. Wprowadzenie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Mierniki cyfrowe"
Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe" Opracowane w ramach projektu: "Informatyka mój sposób na poznanie i opisanie świata realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: Próbkowanie
Bardziej szczegółowoSENSORY i SIECI SENSOROWE
SKRYPT DO LABORATORIUM SENSORY i SIECI SENSOROWE ĆWICZENIE 1: Pętla prądowa 4 20mA Osoba odpowiedzialna: dr hab. inż. Piotr Jasiński Gdańsk, 2018 1. Informacje wstępne Cele ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest
Bardziej szczegółowo4. Dane techniczne 4.1. Pomiar częstotliwości Zakres pomiaru Czas pomiaru/otwarcia bramki/
9 2. Przeznaczenie przyrządu Częstościomierz-czasomierz cyfrowy typ KZ 2025A, KZ 2025B, KZ2025C,K2026A, KZ2026B i KZ 2026C jest przyrządem laboratoryjnym przeznaczonym do cyfrowego pomiaru: - częstotliwości
Bardziej szczegółowoKONWERTER RS-422 TR-43
LANEX S.A. ul. Ceramiczna 8 20-150 Lublin tel. (081) 444 10 11 tel/fax. (081) 740 35 70 KONWERTER RS-422 TR-43 IO-43-2C Marzec 2004 LANEX S.A., ul.ceramiczna 8, 20-150 Lublin serwis: tel. (81) 443 96 39
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 9, Data wydania: 17 sierpnia 2010 r. Nazwa i adres organizacji
Bardziej szczegółowoĆwiczenia tablicowe nr 1
Ćwiczenia tablicowe nr 1 Temat Pomiary mocy i energii Wymagane wiadomości teoretyczne 1. Pomiar mocy w sieciach 3 fazowych 3 przewodowych: przy obciążeniu symetrycznym i niesymetrycznym 2. Pomiar mocy
Bardziej szczegółowoWydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki
Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Na podstawie instrukcji Wtórniki Napięcia,, Laboratorium układów Elektronicznych Opis badanych układów Spis Treści 1. CEL ĆWICZENIA... 2 2.
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA DOSTAWA DOPOSAŻENIA PRACOWNI POMIARÓW ELEKTRYCZNYCH
Załącznik nr 1 do SIWZ SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA DOSTAWA DOPOSAŻENIA PRACOWNI POMIARÓW ELEKTRYCZNYCH CZĘŚĆ I PRZYRZĄDY POMIAROWE Lp. Specyfikacja techniczna / minimalne wymagania zamawiającego
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓLOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA dotyczy Dostawa sprzętu oraz pomocy naukowych wyposażenie pracowni technik elektryk
Złącznik nr 5 SZCZEGÓLOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA dotyczy Dostawa sprzętu oraz pomocy naukowych wyposażenie pracowni technik elektryk Lp. Nazwa Ilość 1. Silnik indukcyjny 1-fazowy 230V/50Hz; kondensatorowa
Bardziej szczegółowoWZMACNIACZ OPERACYJNY
1. OPIS WKŁADKI DA 01A WZMACNIACZ OPERACYJNY Wkładka DA01A zawiera wzmacniacz operacyjny A 71 oraz zestaw zacisków, które umożliwiają dołączenie elementów zewnętrznych: rezystorów, kondensatorów i zwór.
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 106
ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr A 106 wydany przez OLKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. zczotkarska 42 Wydanie nr 12 Data wydania: 7 kwietnia 2017 r. Nazwa i adres LABORATORIUM
Bardziej szczegółowoPrzykładowe rozwiązanie zadania dla zawodu technik telekomunikacji
PROJEKT REALIZACJI PRAC ZWIĄZANYCH Z URUCHOMIENIEM I TESTOWANIEM KODERA I DEKODERA PCM ORAZ WYKONANIE PRAC OBEJMUJĄCYCH OPRACOWANIE WYNIKÓW POMIARÓW Z URUCHOMIENIA I SPRAWDZENIA DZIAŁANIA JEGO CZĘŚCI CYFROWEJ
Bardziej szczegółowoAparatura laboratorium pomiarowego
Aparatura laboratorium pomiarowego PPOM 2011 Zasady bezpiecznejpracy w laboratorium................................... 2 Symboleostrzegawcze................................................. 6 Schemat zasilania
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI FILTRY AKTYWNE
ZESPÓŁ LABORATORIÓW TELEMATYKI TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE WYDZIAŁ TRANSPORTU POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ LABORATORIUM ELEKTRONIKI INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 11 FILTRY AKTYWNE DO UŻYTKU
Bardziej szczegółowoPostępowanie nr 13/8.5.1/RPOWŚ/RR. Płatnik: Akademia Przedsiębiorczości Sp. z o.o., ul. Mała 14, Kielce
Postępowanie nr 3/8.5./RPOWŚ/RR Załącznik nr CHARAKTERYSTYKA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Przedmiot usługi: Zakup wyposażenia pracowni elektrycznej w ramach projektu Kształcimy specjalistów rozwój edukacji zawodowej
Bardziej szczegółowoFDM - transmisja z podziałem częstotliwości
FDM - transmisja z podziałem częstotliwości Model ten pozwala na demonstrację transmisji jednoczesnej dwóch kanałów po jednym światłowodzie z wykorzystaniem metody podziału częstotliwości FDM (frequency
Bardziej szczegółowoĆwiczenie F1. Filtry Pasywne
Laboratorium Podstaw Elektroniki Instytutu Fizyki PŁ Ćwiczenie F Filtry Pasywne Przed zapoznaniem się z instrukcją i przystąpieniem do wykonywania ćwiczenia naleŝy opanować następujący materiał teoretyczny:.
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA WYPOSAŻENIA PRACOWNI ELEKTRYCZNEJ
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia - do Szczegółowego wniosku o przeprowadzenie postępowania udzielenia zamówienia publicznego CZĘŚĆ I Dostawa pomocy dydaktycznych do PRACOWNI ELEKTRYCZNEJ 1. Przedmiotem
Bardziej szczegółowo