METODY CHARAKTERYZACJI GRAFENU WYKORZYSTYWANEGO W SENSOROWYCH UKŁADACH REZYSTANCYJNYCH

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "METODY CHARAKTERYZACJI GRAFENU WYKORZYSTYWANEGO W SENSOROWYCH UKŁADACH REZYSTANCYJNYCH"

Transkrypt

1 ELEKTRYKA 2014 Zeszyt 2-3 ( ) Rok LX Sabina DREWNIAK Politechnika Śląska w Gliwicach Tadeusz PUSTELNY Politechnika Śląska w Gliwicach Włodzimierz STRUPIŃSKI Zakład Epitaksji Związków Półprzewodnikowych, Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie Iwona PASTERNAK Zakład Epitaksji Związków Półprzewodnikowych, Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie Zbigniew OPILSKI Politechnika Śląska w Gliwicach METODY CHARAKTERYZACJI GRAFENU WYKORZYSTYWANEGO W SENSOROWYCH UKŁADACH REZYSTANCYJNYCH Streszczenie. Zanieczyszczenie środowiska pociąga za sobą konieczność monitoringu wybranych atmosfer gazowych. W niniejszym artykule zostaną przedstawione wyniki charakteryzacji warstwy gazoczułej (grafenu) w rezystancyjnym czujniku cienkowarstwowym, pozwalającym wykrywać niskie zawartości wodoru oraz dwutlenku azotu w atmosferze powietrza syntetycznego. Zostaną przedstawione m.in. obrazy topografii powierzchni oraz widma ramanowskie struktury. Analizowane będą zmiany, jakie zachodzą w strukturze (obserwowane na widmach ramanowskich) pod wpływem jej kontaktu z atmosferą zawierającą 3% wodoru. Słowa kluczowe: grafen, sensory gazowe, Mikroskopia Sił Atomowych, spektroskopia ramanowska METHODS OF GRAPHENE CHARACTERIZATION USING IN RESISTIVE SENSOR S SYSTEMS Summary. The environmental pollution entails the monitoring of selected gas atmospheres. In this paper, the results of characterization the thin film resistance sensor (characterization of grapheme - sensitive layer) will be presented. Such sensor can detect the hydrogen and nitrogen dioxide in the atmosphere of synthetic air at a very low level. There will be presented, among others, the images of topography and raman s spectras of the structures. There will be analyzed changes which occure in the structure (observed at the Raman s spectra) due to its contact with the atmosphere containing 3% hydrogen. Keywords: graphene, gas sensors, Atomic Force Microscopy, Raman Spectroscopy

2 64 S. Drewniak T. Pustelny, W. Strusiński, I. Pasternak, Z. Opilski 1. WSTĘP Ostatnie dziesięciolecia bez wątpienia należy zaliczyć do okresu gwałtownego rozwoju technologicznego. Obok niewątpliwych zalet związanych z nowościami technicznymi (np. rozwój motoryzacji) należy również wspomnieć o zagrożeniach, które są z tym rozwojem związane. Dużym problemem, a zarazem ograniczeniem jest zatruwanie środowiska naturalnego [10] oraz emisja gazów niebezpiecznych do atmosfery. Jedną z konsekwencji takiego stanu rzeczy są tzw. choroby cywilizacyjne. Z tego też powodu w wielu ośrodkach naukowych trwają prace nad czułymi, szybkimi i selektywnymi czujnikami wybranych gazów [7, 8]. Badane (oraz ulepszane) są różne typy sensorów, np. optyczne [14], wykorzystujące zmiany właściwości elektrycznych [11], chemiczne [6, 2] czy wykorzystujące akustyczną falę powierzchniową [5]. Nie bez znaczenia są również materiały, z których wykonane są czujniki (półprzewodniki szerokoprzerwowe [9, 12], grafen [3], zredukowany tlenek grafenu [15], ftalocyjaniny [4] itd.). Subtelne zmiany na etapie wytwarzania warstwy sensorowej mogą w znaczący sposób wpłynąć na jej późniejsze właściwości, a to z kolei może wpływać na minimalny poziom detekcji danego gazu w atmosferze. W niniejszym artykule zostaną przedstawione wybrane metody charakteryzacji cienkich warstw rezystancyjnych czujników gazów, których zadaniem jest detekowanie śladowych ilości wodoru oraz dwutlenku azotu w atmosferze powietrza. Obok klasycznych metod, takich jak mikroskopia optyczna, często wykorzystuje się bardziej subtelne techniki, na przykład mikroskopię sił atomowych, mikroskopię, a również spektroskopię ramanowską [1, 9]. Aby lepiej zrozumieć mechanizmy zachodzące w strukturach cienkowarstwowych, a co za tym idzie, modyfikować je w celu uzyskania jak najlepszej czułości, należy dokonywać charakteryzacji z dużą dokładnością. Wymienione metody dają z pewnością taką możliwość. Aby w pełni zobrazować potrzebę używania wielu różnych metod charakteryzacji powierzchni, w artykule zostaną przedstawione wyniki uzyskane wieloma technikami. 2. OPIS STRUKTURY SENSOROWEJ Analizowana struktura sensorowa jest układem wielowarstwowym. Jako podłoże wybrano krzem z utlenioną powierzchnią, natomiast elektrody grzebieniowe zostały wykonane ze złota. Aby poprawić adhezję złota do podłoża, zastosowano dodatkową warstwę chromu. Wysokość elektrod wynosi 250 µm, a ich szerokość 5 µm. Pod wpływem kontaktu z analizowanymi atmosferami gazowymi następują zmiany fizykochemiczne gazoczułej warstwy (grafenu), która została nałożona na obszar elektrod. Uproszczony schemat struktury podstawowej (bez warstwy czułej) został przedstawiony na rys. 1.

3 Metody charakteryzacji grafenu Rys. 1. Uproszczony schemat struktury przed nałożeniem warstwy czułej Fig. 1. A simplified diagram of the structure before application the sensitive layer 3. CHARAKTERYZACJA STRUKTURY Warstwa sensorowa struktury rezystancyjnej, którą był grafen, została przebadana za pomocą różnych technik pomiarowych. Zastosowanie tak wielu różnych metod charakteryzacji pozwoliło lepiej ocenić stan i jakość warstwy sensorowej Mikroskopia optyczna Etapem rozpoczynającym charakteryzację struktury sensorowej, zwłaszcza warstwy czułej, jest dokładna jej analiza pod mikroskopem optycznym. Badanie tego typu miało na celu sprawdzenie stanu struktury, tzn. czy nie jest w widoczny sposób zdefektowana lub uszkodzona. Na tym etapie wybiera się również odpowiednie miejsca na warstwie, które będą w późniejszym etapie badane za pomocą bardziej zaawansowanych technik pomiarowych, w tym mikroskopii sił atomowych, mikroskopii elektronowej czy spektroskopii ramanowskiej. Rysunek 2 przedstawia obrazy uzyskane na różnych etapach charakteryzacji struktury (mikroskopia optyczna była w tych przypadkach sprzęgnięta z innymi technikami pomiarowymi). Rys. 2. Obrazy z mikroskopii optycznej pokazujące położenie struktury rezystancyjnej względem igły podczas pomiarów przy użyciu mikroskopii sił atomowych: a) igła typu HA_NC, b) igła typu VIT_P Fig. 2. Images obtained from optical microscopy showing the position of sensor s resistant structure with respect to the tip during the measurements using atomic force microscopy: a) HA_NC tip, b) VIT_P tip

4 66 S. Drewniak T. Pustelny, W. Strusiński, I. Pasternak, Z. Opilski 3.2. Mikroskopia sił atomowych Mikroskopia sił atomowych AFM jest wysokospecjalistyczną techniką pomiarową umożliwiającą otrzymywanie trójwymiarowych obrazów powierzchni. W odróżnieniu od mikroskopii optycznej, sposób otrzymywania obrazu w mikroskopii typu AFM jest bardziej złożony (i jednocześnie bardziej czasochłonny). Jednak niewątpliwą zaletą tej techniki jest możliwość wykonywania innych typów pomiarów równolegle do pomiarów topografii powierzchni. Przykładem takich dodatkowych pomiarów mogą być obrazy przesunięcia fazowego, informujące o zmianach we właściwościach fizycznych warstwy (np. zmianach tarcia). Pozwala to na uzyskanie większej ilości informacji na temat badanego obszaru. Grafen struktura o teoretycznej grubości jednej warstwy atomowej, jest bardzo wrażliwy na niejednorodności warstw położonych poniżej. W praktyce może się zdarzyć, że otrzymana warstwa grafenowa będzie miała grubość kilku warstw atomowych, będzie podzielona na mniejsze fragmenty, tzw. płatki grafenowe, lub będzie w jakiś sposób zdefektowana czy nieciągła. Celem niniejszych badań jest określenie jakości gazoczułej warstwy grafenowej. Rysunki 3a i 3b przedstawiają odpowiednio topografię powierzchni oraz obraz przesunięcia fazowego tego samego obszaru. Na obu rysunkach zostały zaznaczone miejsca przedstawiające wyraźnie inne fragmenty obszaru. Wnioski z przeprowadzonych badań zostaną zaprezentowane w rozdziale 4. Rys. 3. Obraz topografii powierzchni (a) oraz korespondujący z nim obraz przesunięcia fazowego (b) Fig. 3. The image of surface topography (a) and corresponding phase shift image (b)

5 Metody charakteryzacji grafenu Rys. 4. Przekrój przez fragment powierzchni grafenu Fig. 4. The crossection through a part of the surface of graphene 3.3. Mikroskopia elektronowa Mikroskopia elektronowa jest techniką, która w przypadku charakteryzacji warstwy pozwoli uzupełnić wiedzę na temat jakości struktury. Rysunek 5 przedstawia obraz otrzymany za pomocą mikroskopii elektronowej. Na zdjęciu widoczne są elektrody pokryte dodatkową warstwą grafenową. Rys. 5. Obraz otrzymany za pomocą mikroskopii elektronowej Fig. 5. The image obtained by using the electron microscopy

6 68 S. Drewniak T. Pustelny, W. Strusiński, I. Pasternak, Z. Opilski 3.4. Spektroskopia ramanowska Spektroskopia ramanowska jest wysoko zaawansowaną techniką badawczą, wykorzystywaną do określania składu chemicznego badanego obszaru [13]. Otrzymywane metodą spektroskopii ramanowskiej widma składają się najczęściej z wielu pików, charakterystycznych dla danej substancji (charakterystycznych dla danych wiązań chemicznych). Widmo grafenu (rys. 6) zawiera trzy charakterystyczne piki, położone w okolicach liczb falowych: 1350 cm -1 (zwany pikiem "D"), 1580 cm -1 (G) oraz 2700 cm -1 (2D). Rys. 6. Widmo ramanowskie grafenu Fig. 6. The Raman Spectra of graphene Pierwszy z pików, pik D, jest związany z nieuporządkowaniem warstwy grafenowej oraz jej zdefektowaniem. Pik G powstaje w wyniku poziomych drgań atomów węgla, natomiast trzeci pik, pik 2D, powstaje w wyniku drgań atomów węgla w płaszczyźnie pionowej. Jest on również "wykorzystywany" do identyfikacji pojedynczej warstwy grafenowej. W wyniku zmian fizykochemicznych warstwy (np. w rezultacie kontaktu struktury z wodorem czy dwutlenkiem azotu), zmieniają się również charakterystyczne piki grafenowe (może zmieniać się ich intensywność lub położenie). Pomiarów widm ramanowskich dokonano dokładnie w tym samym miejscu na powierzchni próbki zarówno przed, jak i po kontakcie struktury z wodorem (3% H2 w powietrzu syntetycznym). Pomiary wykonywano kilkakrotnie w trakcie jednego cyklu pomiarowego. Cały eksperyment powtarzano również wielokrotnie, uzyskując podobne wyniki.

7 Metody charakteryzacji grafenu Analizując otrzymane widma, wyznaczono wysokości pików 2D oraz G, a następnie obliczono ich stosunek. Wyliczone dane zostały przedstawione graficznie na rys. 7. Rys. 7. Stosunek wartości pików 2D i G przed oraz po kontakcie struktury z wodorem Fig. 7. The ratio of value 2D and G peaks before and after structure s contact with the hydrogen 4. ANALIZA OTRZYMANYCH WYNIKÓW Analizując otrzymane wyniki przedstawione na rys. 3, 4, 5, można wysunąć wniosek, że badany grafen pokrywa większość powierzchni, na którą został nałożony. Rysunek 5 wyraźnie pokazuje obszar, w którym znajduje się grafen. Wart uwagi jest również obszar zaznaczony elipsą na rys. 3. Obraz przesunięcia fazowego wskazuje, że w tym miejscu następuje wyraźna zmiana fazy, natomiast przekrój wysokości tego obszaru wskazuje na dużą zmianę wysokości (ok. 10 nm) w tym miejscu. Inna sytuacja ma miejsce w przypadku obszaru zaznaczonego kwadratem przesunięcie fazy jest w tym miejscu rzędu kilku stopni. Można wysunąć wniosek, że w pierwszym przypadku za nierówność powierzchni odpowiada nierówność podłoża (w tym przypadku nierówność elektrody), natomiast w drugim przypadku za nierówność odpowiada struktura grafenu. Dobrą jakość grafenu potwierdza widmo przedstawione na rys. 6. Wysokość i kształt piku 2D sugeruje, że grafen jest monowarstwą, która jest w bardzo małym stopniu zdefektowana (mały pik D). Na rys. 7 można zauważyć, że stosunek wysokości piku 2D do wysokości piku G wyraźnie się zmniejszył w wyniku kontaktu struktury z atmosferą o 3% stężeniu wodoru w powietrzu syntetycznym. Takie zmiany ilorazu pozwalają wnioskować, że struktura uległa częściowemu przebudowaniu, co sugeruje, że albo drgania atomów węgla w płaszczyźnie poziomej mogły się zwiększyć, albo drgania w płaszczyźnie pionowej uległy

8 70 S. Drewniak T. Pustelny, W. Strusiński, I. Pasternak, Z. Opilski zmniejszeniu. W pierwszym przypadku oznaczałoby to wbudowanie w strukturę dodatkowych atomów, blokujących poziome drgania, w drugim dołączenie do struktury dodatkowych grup funkcyjnych powodujących blokowanie drgań prostopadłych do płaszczyzny. Na zmniejszenie się ilorazu wartości pików 2D oraz G mogły mieć wpływ jednocześnie obydwa wyżej wymienione zjawiska. 5. PODSUMOWANIE I WNIOSKI Wykonana charakteryzacja pozwoliła na ocenę jakości warstwy sensorowej, którą w tym przypadku była warstwa grafenu. Analiza powierzchni warstw sensorowych ma istotne znaczenie w przypadku układów, których zadaniem jest detekcja niskich zawartości wybranych gazów. W najbliższej przyszłości planowane są dalsze badania grafenu z wykorzystaniem spektroskopii ramanowskiej w atmosferach innych mieszanek gazowych. Planuje się także przeprowadzić badania w różnych temperaturach. Przypuszcza się, że planowane eksperymenty pozwolą lepiej zrozumieć zmiany zachodzące w warstwie grafenu, w aspekcie oddziaływań fizycznych atomów węgla z cząsteczkami gazowych atmosfer zewnętrznych. PODZIĘKOWANIA Podziękowania dla dra inż. Włodzimierza STRUPIŃSKIEGO oraz mgr Iwony PASTERNAK z Zakładu Epitaksji Związków Półprzewodnikowych, Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie za wytworzenie warstwy grafenowej. BIBLIOGRAFIA 1. Drewniak S., Pustelny T., Setkiewicz M., Maciak E., Urbańczyk M., Procek M., Opilski Z., Jagiello J., Lipinska L.: Investigations of SAW Structures with Oxide Graphene Layer to Detectiom of Selected Gases. Acta Physica Polonica A 2013, vol. 124, no. 3, p Fowler J. D., Allen M. J., Tung V. C., Yang Y., Kaner R. B., Weiller B. H.: Practical Chemical Sensors from Chemically Derived Graphene, ACSNANO 2009, vol. 3, no. 2, p Hwang S., Cho J. H., Lim J., Kim W. K., Shin H., Choi J. Y., Choi J. H., Lee S. Y., Kim J. M., Kim J. H., Kim J. H., Lee S., Jun S. Ch.: Graphene based NO2 gas sensor. Nanotechnology Materials and Derives Conference (NMDC), 2010, Oct Monterey, CA,

9 Metody charakteryzacji grafenu Jakubik W., Urbańczyk M., Maciak E.: Palladium and Metal-Free Phthalocyanine Bilayer Structures for Hydrogen Detection in SAW Sensor System Based on Interaction Speed. IEEE Sensor Journal 2006, vol. 6, no. 5, p Jakubik W., Urbańczyk M., Maciak E.: Metal-free phthalocyanine and palladium sensor structure with a polyethylene membrane for hydrogen detection in SAW system. Sensors and Actuators B 2007, 127, p Liu X., Zhu H., Yang X.: An amperometric hydrogen peroxide chemical sensor based on grapheme- Fe3O4 multilayer films modified ITO electrode. Talanta 2011, 87, p Mickelson W., Sussman A., Zettl A.: Low-power, fast, selective nanoparticle-based hydrogen sulfide gas sensor. Applied Physics Letters , Online: 8. Nomani M. W. K., Shishir R., Qazi M., Diwan D., Shielsd V. B., Spencer M. G., Tompa G. S., Sbrockey N. M., Koley G.: Highly sensitive and selective detection of NO2 using epitaxial grapheme on 6H-SiC. Sensors and Actuators B: Chemical 2010, vol. 150, issue 1, p Pustelny T., Procek M., Maciak E., Stolarczyk A., Drewniak S., Urbańczyk M., Setkiewicz M., Gut K., Opilski Z.: Gas sensors based on nanostructures of semiconductors ZNO and TiO2, Bulletin of the Polish Academy of Scences Technical Sciences 2012, vol. 60, no Ramya V., Palaniappan B.: Embedded system for Hazardous Gas detection and Alerting. International Journal of Distributed and Parallel Systems (IJDPS) 2012, vol. 3, no Shafiei M., Arsat R., Yu J., Kalantar-Zadeh K., Wlodarski W., Dubin S., Kaner R. B.: Pt/Graphene Nano-sheet Based Hydrogen Gas Sensor. The 8 th Annual IEEE Conference on Sensors IEEE SENSORS 2009 Conference, Oct Christchurch, New Zealand, p Struk P., Pustelny T., Gołaszewska K., Borysiewicz M., Piotrowska A.: Badanie struktur sensorowych na bazie tlenku cynku na oddziaływanie z wybranym środowiskiem gazowym. Elektronika 2012, nr 9, s Urbański T.: Widma Ramana a budowa cząsteczek. Roczniki Chemii 1937, p Yao B., Wu Y., Cheng Y., Zhang A., Gong Y., Rao Y.-J., Wang Z., Chen Y.: All-optical Mach-Zehnder interferometric NH3 gas sensor based on graphene/microfiber hybrid waveguide. Sensors and Actuators B 2014, vol. 194, p Zhang L.-S., Wang W. D., Liang X.-Q., Chu W.-S., Song W.-G., Wang W., Wu Z.-Y.: Characterization of partially reduced grapheme oxide as room temperature sensor for H2. Nanoscale 2011, 3, p

10 72 S. Drewniak T. Pustelny, W. Strusiński, I. Pasternak, Z. Opilski Mgr inż. Sabina DREWNIAK Politechnika Śląska Wydział Elektryczny, Katedra Optoelektroniki ul. Akademicka 2A Gliwice Tel. (0-32) , Prof. dr hab. inż. Tadeusz PUSTELNY Politechnika Śląska Wydział Elektryczny, Katedra Optoelektroniki ul. Akademicka 2A Gliwice Tel. (0-32) , Dr inż. Włodzimierz STRUPIŃSKI Zakład Epitaksji Związków Półprzewodnikowych, Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie ul. Wółczyńska Warszawa Tel. (0-22) Mgr Iwona PASTERNAK Zakład Epitaksji Związków Półprzewodnikowych, Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie ul. Wółczyńska Warszawa Tel. (0-22) Dr inż. Zbigniew OPILSKI Politechnika Śląska Wydział Elektryczny, Katedra Optoelektroniki ul. Akademicka 2A Gliwice Tel. (0-32) , Zbigniew.Opilski@polsl.pl

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych

Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Monika KWOKA, Jacek SZUBER Instytut Elektroniki Politechnika Śląska Gliwice PLAN PREZENTACJI 1. Podsumowanie dotychczasowych prac:

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w fotowoltaice, sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał

Bardziej szczegółowo

(62) Numer zgłoszenia, z którego nastąpiło wydzielenie:

(62) Numer zgłoszenia, z którego nastąpiło wydzielenie: PL 223874 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223874 (21) Numer zgłoszenia: 413547 (22) Data zgłoszenia: 10.05.2013 (62) Numer zgłoszenia,

Bardziej szczegółowo

ZNACZENIE POWŁOKI W INŻYNIERII POWIERZCHNI

ZNACZENIE POWŁOKI W INŻYNIERII POWIERZCHNI ZNACZENIE POWŁOKI W INŻYNIERII POWIERZCHNI PAWEŁ URBAŃCZYK Streszczenie: W artykule przedstawiono zalety stosowania powłok technicznych. Zdefiniowano pojęcie powłoki oraz przedstawiono jej budowę. Pokazano

Bardziej szczegółowo

Wytwarzanie niskowymiarowych struktur półprzewodnikowych

Wytwarzanie niskowymiarowych struktur półprzewodnikowych Większość struktur niskowymiarowych wytwarzanych jest za pomocą technik epitaksjalnych. Najczęściej wykorzystywane metody wzrostu: - epitaksja z wiązki molekularnej (MBE Molecular Beam Epitaxy) - epitaksja

Bardziej szczegółowo

Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO 2

Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO 2 Krzysztof WACZYŃSKI 1, Weronika IZYDORCZYK 1, Natalia NIEMIEC 1, Jerzy ULJANOW 1, Wiesław DOMAŃSKI 2, Janusz MAZURKIEWICZ 3 Instytut Elektroniki, Politechnika Śląska (1), Instytut Metrologii, Elektroniki

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie

Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie Paweł Ramos, Barbara Pilawa, Maciej Adamski STRESZCZENIE Katedra i Zakład Biofizyki Wydziału Farmaceutycznego

Bardziej szczegółowo

CHEMIA NIEORGANICZNA. Andrzej Kotarba Zakład Chemii Nieorganicznej Wydział Chemii I piętro p. 138 WYKŁAD -1

CHEMIA NIEORGANICZNA. Andrzej Kotarba Zakład Chemii Nieorganicznej Wydział Chemii I piętro p. 138 WYKŁAD -1 CHEMIA NIEORGANICZNA Andrzej Kotarba Zakład Chemii Nieorganicznej Wydział Chemii I piętro p. 138 WYKŁAD -1 w poprzednim odcinku RÓWNOWAGA PRZEMIANA STRUKTURA w poprzednim odcinku w poprzednim odcinku poziomy

Bardziej szczegółowo

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy

Bardziej szczegółowo

Autoreferat. 1. Imię i Nazwisko Wiesław Paweł JAKUBIK

Autoreferat. 1. Imię i Nazwisko Wiesław Paweł JAKUBIK Załącznik 2a Autoreferat 1. Imię i Nazwisko Wiesław Paweł JAKUBIK 2. Posiadane dyplomy, stopnie naukowe/ artystyczne z podaniem nazwy, miejsca i roku ich uzyskania oraz tytułu rozprawy doktorskiej. magistra

Bardziej szczegółowo

Badania własności optycznych grafenu

Badania własności optycznych grafenu Badania własności optycznych grafenu Mateusz Klepuszewski 1, Aleksander Płocharski 1, Teresa Kulka 2, Katarzyna Gołasa 3 1 III Liceum Ogólnokształcące im. Unii Europejskiej, Berlinga 5, 07-410 Ostrołęka

Bardziej szczegółowo

Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii

Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii sprawozdanie za okres I 2010 XII 2011 Prof. dr hab. Jan Misiewicz www.cmzin.pwr.wroc.pl Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii (CMZiN) Jest

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne

Bardziej szczegółowo

OKREŚLENIE WPŁYWU WYŁĄCZANIA CYLINDRÓW SILNIKA ZI NA ZMIANY SYGNAŁU WIBROAKUSTYCZNEGO SILNIKA

OKREŚLENIE WPŁYWU WYŁĄCZANIA CYLINDRÓW SILNIKA ZI NA ZMIANY SYGNAŁU WIBROAKUSTYCZNEGO SILNIKA ZESZYTY NAUKOWE POLITECHNIKI ŚLĄSKIEJ 2008 Seria: TRANSPORT z. 64 Nr kol. 1803 Rafał SROKA OKREŚLENIE WPŁYWU WYŁĄCZANIA CYLINDRÓW SILNIKA ZI NA ZMIANY SYGNAŁU WIBROAKUSTYCZNEGO SILNIKA Streszczenie. W

Bardziej szczegółowo

IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO

IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z metodą pomiaru grubości cienkich warstw za pomocą interferometrii odbiciowej światła białego, zbadanie zjawiska pęcznienia warstw

Bardziej szczegółowo

Podstawy fizyki wykład 2

Podstawy fizyki wykład 2 D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,

Bardziej szczegółowo

TOPOGRAFIA WSPÓŁPRACUJĄCYCH POWIERZCHNI ŁOŻYSK TOCZNYCH POMIERZONA NA MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH

TOPOGRAFIA WSPÓŁPRACUJĄCYCH POWIERZCHNI ŁOŻYSK TOCZNYCH POMIERZONA NA MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH 5-2011 T R I B O L O G I A 31 Adam CZABAN *, Andrzej MISZCZAK * TOPOGRAFIA WSPÓŁPRACUJĄCYCH POWIERZCHNI ŁOŻYSK TOCZNYCH POMIERZONA NA MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH TOPOGRAPHY OF ROLLING BEARINGS COOPERATING

Bardziej szczegółowo

OPTYMALIZACJA STEROWANIA MIKROKLIMATEM W PIECZARKARNI

OPTYMALIZACJA STEROWANIA MIKROKLIMATEM W PIECZARKARNI Inżynieria Rolnicza 6(131)/2011 OPTYMALIZACJA STEROWANIA MIKROKLIMATEM W PIECZARKARNI Leonard Woroncow, Ewa Wachowicz Katedra Automatyki, Politechnika Koszalińska Streszczenie. W pracy przedstawiono wyniki

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni z Efekt Ramana (1922, CV Raman) I, ν próbka y Chandra Shekhara Venketa Raman x I 0, ν 0 Monochromatyczne promieniowanie o częstości ν 0 ulega rozproszeniu

Bardziej szczegółowo

WARSZAWA LIX Zeszyt 257

WARSZAWA LIX Zeszyt 257 WARSZAWA LIX Zeszyt 257 SPIS TRE CI STRESZCZENIE... 9 WYKAZ SKRÓTÓW... 10 1. WPROWADZENIE... 13 2. MIKROSKOPIA SI ATOMOWYCH PODSTAWY... 17 2.1. Podstawy oddzia ywa ostrze próbka... 23 2.1.1. Modele fizyczne

Bardziej szczegółowo

Spis treści Definicja czujnika Podział czujników Wymagania użytkowe i analityczne Czujniki chemiczne...

Spis treści Definicja czujnika Podział czujników Wymagania użytkowe i analityczne Czujniki chemiczne... Spis treści SPIS TREŚCI Wstęp... 7 Spis najważniejszych użytych w pracy terminów, skrótów i symboli... 10 Część I 14 1. Czujniki pomiarowe... 14 1.1. Definicja czujnika... 14 1.2. Podział czujników...

Bardziej szczegółowo

PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG

PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG 86/21 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 21(2/2) ARCHIVES OF FOUNDARY Year 2006, Volume 6, Nº 21 (2/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG M.

Bardziej szczegółowo

MODEL CZUJNIKA ŚWIATŁOWODOWEGO NA BAZIE WIELOMODOWYCH STRUKTUR INTERFERENCYJNYCH MODEL OF WAVEGUIDE SENSOR BASED ON MULTIMODE INTERFERENCE STRUCTURES

MODEL CZUJNIKA ŚWIATŁOWODOWEGO NA BAZIE WIELOMODOWYCH STRUKTUR INTERFERENCYJNYCH MODEL OF WAVEGUIDE SENSOR BASED ON MULTIMODE INTERFERENCE STRUCTURES ELEKTRYKA 2015 Zeszyt 2 (234) Rok LXI Artur SZEWCZUK, Marek BŁAHUT Katedra Optoelektroniki, Politechnika Śląska w Gliwicach MODEL CZUJNIKA ŚWIATŁOWODOWEGO NA BAZIE WIELOMODOWYCH STRUKTUR INTERFERENCYJNYCH

Bardziej szczegółowo

dr inż. Beata Brożek-Pluska SERS La boratorium La serowej

dr inż. Beata Brożek-Pluska SERS La boratorium La serowej dr inż. Beata Brożek-Pluska La boratorium La serowej Spektroskopii Molekularnej PŁ Powierzchniowo wzmocniona sp ektroskopia Ramana (Surface Enhanced Raman Spectroscopy) Cząsteczki zaadsorbowane na chropowatych

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2 Przejawy wiązań wodorowych w spektroskopii IR i NMR

Ćwiczenie 2 Przejawy wiązań wodorowych w spektroskopii IR i NMR Ćwiczenie 2 Przejawy wiązań wodorowych w spektroskopii IR i NMR Szczególnym i bardzo charakterystycznym rodzajem oddziaływań międzycząsteczkowych jest wiązanie wodorowe. Powstaje ono między molekułami,

Bardziej szczegółowo

Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk

Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Promotor: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl. Zadania pracy Pomiary transmisji i odbicia optycznego

Bardziej szczegółowo

AFM. Mikroskopia sił atomowych

AFM. Mikroskopia sił atomowych AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości

Bardziej szczegółowo

MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI HISTEREZY MAGNETYCZNEJ

MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI HISTEREZY MAGNETYCZNEJ ELEKTRYKA 014 Zeszyt 1 (9) Rok LX Krzysztof SZTYMELSKI, Marian PASKO Politechnika Śląska w Gliwicach MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI ISTEREZY MAGNETYCZNEJ Streszczenie. W artykule został zaprezentowany matematyczny

Bardziej szczegółowo

system monitoringu zanieczyszczeń gazowych i pyłów w powietrzu atmosferycznym, z zastosowaniem zminiaturyzowanych stacji pomiarowych

system monitoringu zanieczyszczeń gazowych i pyłów w powietrzu atmosferycznym, z zastosowaniem zminiaturyzowanych stacji pomiarowych system monitoringu zanieczyszczeń gazowych i pyłów w powietrzu atmosferycznym, z zastosowaniem zminiaturyzowanych stacji pomiarowych Pomiary stężeń zanieczyszczeń powietrza atmosferycznego w poszczególnych

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA AFM CIENKICH WARSTW SnO 2 UZYSKANYCH PODCZAS SPUTTERINGU MAGNETRONOWEGO PRZY WYBRANYCH WARUNKACH PROCESU

CHARAKTERYSTYKA AFM CIENKICH WARSTW SnO 2 UZYSKANYCH PODCZAS SPUTTERINGU MAGNETRONOWEGO PRZY WYBRANYCH WARUNKACH PROCESU CZASOPISMO INŻYNIERII LĄDOWEJ, ŚRODOWISKA I ARCHITEKTURY JOURNAL OF CIVIL ENGINEERING, ENVIRONMENT AND ARCHITECTURE JCEEA, t. XXXII, z. 62 (2/15), kwiecień-czerwiec 2015, s. 99-106 Tomasz GRUDNIEWSKI 1

Bardziej szczegółowo

POTWIERDZANIE TOŻSAMOSCI PRZY ZASTOSOWANIU RÓŻNYCH TECHNIK ANALITYCZNYCH

POTWIERDZANIE TOŻSAMOSCI PRZY ZASTOSOWANIU RÓŻNYCH TECHNIK ANALITYCZNYCH POTWIERDZANIE TOŻSAMOSCI PRZY ZASTOSOWANIU RÓŻNYCH TECHNIK ANALITYCZNYCH WSTĘP Spełnianie wymagań jakościowych stawianych przed producentami leków jest kluczowe dla zapewnienia bezpieczeństwa pacjenta.

Bardziej szczegółowo

Grafen: medyczny materiał przyszłości? Dr n. med. Dariusz Biały

Grafen: medyczny materiał przyszłości? Dr n. med. Dariusz Biały Grafen: medyczny materiał przyszłości? Dr n. med. Dariusz Biały Grafen Budowa: Jednoatomowa warstwa Zbudowany tylko z atomów węgla Heksagonalna sieć (jak grafit) Właściwości: Wysoka powierzchnia właściwa

Bardziej szczegółowo

V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM

V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie Rozwój i Komercjalizacja

Bardziej szczegółowo

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH Scientific Bulletin of Che lm Section of Technical Sciences No. 1/2008 WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH WE WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNICE POMIAROWEJ MAREK MAGDZIAK Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji, Politechnika

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

ELEKTROCHEMICZNIE OTRZYMYWANE NANOSTRUKTURY ZŁOTA JAKO PODŁOŻA DLA ENZYMÓW

ELEKTROCHEMICZNIE OTRZYMYWANE NANOSTRUKTURY ZŁOTA JAKO PODŁOŻA DLA ENZYMÓW ELEKTROCHEMICZNIE OTRZYMYWANE NANOSTRUKTURY ZŁOTA JAKO PODŁOŻA DLA ENZYMÓW Aleksandra Pawłowska Pracownia Elektrochemii Promotor: dr hab. Barbara Pałys Tło - http://www.pgi.gov.pl/muzeum/kolekcja/zloto/guardon.jpg

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2015 1. CEL I ZAKRES

Bardziej szczegółowo

Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński

Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński Metoda PLD (Pulsed Laser Deposition) PLD jest nowoczesną metodą inżynierii powierzchni, umożliwiającą

Bardziej szczegółowo

EWA PIĘTA. Streszczenie pracy doktorskiej

EWA PIĘTA. Streszczenie pracy doktorskiej EWA PIĘTA Spektroskopowa analiza struktur molekularnych i procesu adsorpcji fosfinowych pochodnych pirydyny, potencjalnych inhibitorów aminopeptydazy N Streszczenie pracy doktorskiej wykonanej na Wydziale

Bardziej szczegółowo

Dr hab. inż. Wojciech Simka, prof. Pol. Śl.

Dr hab. inż. Wojciech Simka, prof. Pol. Śl. Gliwice, 09.09.2016 Recenzja pracy doktorskiej Pani mgr Ewy Wierzbickiej pt. Electrochemical sensors for epinephrine determination based on gold nanostuctures Przedstawiona do recenzji rozprawa doktorska

Bardziej szczegółowo

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO

Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego

Bardziej szczegółowo

Analiza porównawcza sposobu pomiaru jakości spalania gazu w palnikach odkrytych

Analiza porównawcza sposobu pomiaru jakości spalania gazu w palnikach odkrytych NAFTA-GAZ kwiecień 2011 ROK LXVII Mateusz Rataj Instytut Nafty i Gazu, Kraków Analiza porównawcza sposobu pomiaru jakości spalania gazu w ch odkrytych Wstęp W związku z prowadzonymi badaniami różnego typu

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE OCHŁADZALNIKA W CELU ROZDROBNIENIA STRUKTURY W ODLEWIE BIMETALICZNYM

ZASTOSOWANIE OCHŁADZALNIKA W CELU ROZDROBNIENIA STRUKTURY W ODLEWIE BIMETALICZNYM 28/10 Archives of Foundry, Year 2003, Volume 3, 10 Archiwum Odlewnictwa, Rok 2003, Rocznik 3, Nr 10 PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 ZASTOSOWANIE OCHŁADZALNIKA W CELU ROZDROBNIENIA STRUKTURY W ODLEWIE BIMETALICZNYM

Bardziej szczegółowo

Alpa Gas System dla garaży

Alpa Gas System dla garaży Alpa Gas System dla garaży Stworzony w odpowiedzi na potrzeby Klientów Wieloletnie doświadczenie na rynku detekcji gazów oraz potrzeby i uwagi naszych klientów to dwa najważniejsze źrodła, z których czerpaliśmy

Bardziej szczegółowo

Oddziaływanie grafenu z metalami

Oddziaływanie grafenu z metalami Oddziaływanie grafenu z metalami Oddziaływanie grafenu z metalami prof. dr hab. Zbigniew Klusek Grafen dla czego intryguje? v E U V E d cm d cm v t s en Transport dyfuzyjny Transport kwantowy balistyczny

Bardziej szczegółowo

Szkolny konkurs chemiczny Grupa B. Czas pracy 80 minut

Szkolny konkurs chemiczny Grupa B. Czas pracy 80 minut Szkolny konkurs chemiczny Grupa B Czas pracy 80 minut Piła 1 czerwca 2017 1 Zadanie 1. (0 3) Z konfiguracji elektronowej atomu (w stanie podstawowym) pierwiastka X wynika, że w tym atomie: elektrony rozmieszczone

Bardziej szczegółowo

1 k. AFM: tryb bezkontaktowy

1 k. AFM: tryb bezkontaktowy AFM: tryb bezkontaktowy Ramię igły wprowadzane w drgania o małej amplitudzie (rzędu 10 nm) Pomiar zmian amplitudy drgań pod wpływem sił (na ogół przyciągających) Zbliżanie igły do próbki aż do osiągnięcia

Bardziej szczegółowo

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering.

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering. Dr inż. Przemysław Skrzyniarz Kierownik pracy: Prof. dr hab. inż. Paweł Zięba Tytuł pracy w języku polskim: Charakterystyka mikrostruktury spoin Ag/X/Ag (X = Sn, In) uzyskanych w wyniku niskotemperaturowego

Bardziej szczegółowo

WPŁYW PROCESU TARCIA NA ZMIANĘ MIKROTWARDOŚCI WARSTWY WIERZCHNIEJ MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH

WPŁYW PROCESU TARCIA NA ZMIANĘ MIKROTWARDOŚCI WARSTWY WIERZCHNIEJ MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH WOJCIECH WIELEBA WPŁYW PROCESU TARCIA NA ZMIANĘ MIKROTWARDOŚCI WARSTWY WIERZCHNIEJ MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH THE INFLUENCE OF FRICTION PROCESS FOR CHANGE OF MICROHARDNESS OF SURFACE LAYER IN POLYMERIC MATERIALS

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek

Bardziej szczegółowo

Wpływ temperatury podłoża na właściwości powłok DLC osadzanych metodą rozpylania katod grafitowych łukiem impulsowym

Wpływ temperatury podłoża na właściwości powłok DLC osadzanych metodą rozpylania katod grafitowych łukiem impulsowym Dotacje na innowacje Wpływ temperatury podłoża na właściwości powłok DLC osadzanych metodą rozpylania katod grafitowych łukiem impulsowym Viktor Zavaleyev, Jan Walkowicz, Adam Pander Politechnika Koszalińska

Bardziej szczegółowo

REJESTRACJA PROCESÓW KRYSTALIZACJI METODĄ ATD-AED I ICH ANALIZA METALOGRAFICZNA

REJESTRACJA PROCESÓW KRYSTALIZACJI METODĄ ATD-AED I ICH ANALIZA METALOGRAFICZNA 22/38 Solidification of Metals and Alloys, No. 38, 1998 Krzepnięcie Metali i Stopów, nr 38, 1998 PAN Katowice PL ISSN 0208-9386 REJESTRACJA PROCESÓW KRYSTALIZACJI METODĄ ATD-AED I ICH ANALIZA METALOGRAFICZNA

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 9 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

INSPECTION METHODS FOR QUALITY CONTROL OF FIBRE METAL LAMINATES IN AEROSPACE COMPONENTS

INSPECTION METHODS FOR QUALITY CONTROL OF FIBRE METAL LAMINATES IN AEROSPACE COMPONENTS Kompozyty 11: 2 (2011) 130-135 Krzysztof Dragan 1 * Jarosław Bieniaś 2, Michał Sałaciński 1, Piotr Synaszko 1 1 Air Force Institute of Technology, Non Destructive Testing Lab., ul. ks. Bolesława 6, 01-494

Bardziej szczegółowo

OKREŚLENIE WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNYCH SILUMINU AK132 NA PODSTAWIE METODY ATND.

OKREŚLENIE WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNYCH SILUMINU AK132 NA PODSTAWIE METODY ATND. 37/44 Solidification of Metals and Alloys, Year 000, Volume, Book No. 44 Krzepnięcie Metali i Stopów, Rok 000, Rocznik, Nr 44 PAN Katowice PL ISSN 008-9386 OKREŚLENIE WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNYCH SILUMINU

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA 44-100 Gliwice, ul. Krzywoustego 2, tel (032) 237-29-02,

POLITECHNIKA ŚLĄSKA 44-100 Gliwice, ul. Krzywoustego 2, tel (032) 237-29-02, Katedra Optoelektroniki POLITECHNIKA ŚLĄSKA 44-100 Gliwice, ul. Krzywoustego 2, tel (032) 237-29-02, Prof. dr hab. inż. Tadeusz Pustelny Katedra Optoelektroniki Politechnika Śląska e-mail: tpustelny@polsl.pl

Bardziej szczegółowo

Problem Odwrotny rozchodzenia się fali Love'a w falowodach sprężystych obciążonych cieczą lepką

Problem Odwrotny rozchodzenia się fali Love'a w falowodach sprężystych obciążonych cieczą lepką Problem Odwrotny rozchodzenia się fali Love'a w falowodach sprężystych obciążonych cieczą lepką Dr hab. Piotr Kiełczyński, prof. w IPPT PAN, Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN Zakład Teorii Ośrodków

Bardziej szczegółowo

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Politechnika Śląska Politechnika Śląska w Projekcie InTechFun:

Bardziej szczegółowo

Jak analizować widmo IR?

Jak analizować widmo IR? Jak analizować widmo IR? Literatura: W. Zieliński, A. Rajca, Metody spektroskopowe i ich zastosowanie do identyfikacji związków organicznych. WNT. R. M. Silverstein, F. X. Webster, D. J. Kiemle, Spektroskopowe

Bardziej szczegółowo

KRZEPNIĘCIE KOMPOZYTÓW HYBRYDOWYCH AlMg10/SiC+C gr

KRZEPNIĘCIE KOMPOZYTÓW HYBRYDOWYCH AlMg10/SiC+C gr 51/18 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 26, Rocznik 6, Nr 18 (1/2) ARCHIVES OF FOUNDRY Year 26, Volume 6, N o 18 (1/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-538 KRZEPNIĘCIE KOMPOZYTÓW HYBRYDOWYCH AlMg1/SiC+C gr M. ŁĄGIEWKA

Bardziej szczegółowo

DUAL SIMILARITY OF VOLTAGE TO CURRENT AND CURRENT TO VOLTAGE TRANSFER FUNCTION OF HYBRID ACTIVE TWO- PORTS WITH CONVERSION

DUAL SIMILARITY OF VOLTAGE TO CURRENT AND CURRENT TO VOLTAGE TRANSFER FUNCTION OF HYBRID ACTIVE TWO- PORTS WITH CONVERSION ELEKTRYKA 0 Zeszyt (9) Rok LX Andrzej KUKIEŁKA Politechnika Śląska w Gliwicach DUAL SIMILARITY OF VOLTAGE TO CURRENT AND CURRENT TO VOLTAGE TRANSFER FUNCTION OF HYBRID ACTIVE TWO- PORTS WITH CONVERSION

Bardziej szczegółowo

Podczerwień bliska: cm -1 (0,7-2,5 µm) Podczerwień właściwa: cm -1 (2,5-14,3 µm) Podczerwień daleka: cm -1 (14,3-50 µm)

Podczerwień bliska: cm -1 (0,7-2,5 µm) Podczerwień właściwa: cm -1 (2,5-14,3 µm) Podczerwień daleka: cm -1 (14,3-50 µm) SPEKTROSKOPIA W PODCZERWIENI Podczerwień bliska: 14300-4000 cm -1 (0,7-2,5 µm) Podczerwień właściwa: 4000-700 cm -1 (2,5-14,3 µm) Podczerwień daleka: 700-200 cm -1 (14,3-50 µm) WIELKOŚCI CHARAKTERYZUJĄCE

Bardziej szczegółowo

Konkurs przedmiotowy z chemii dla uczniów gimnazjów 13 stycznia 2017 r. zawody II stopnia (rejonowe)

Konkurs przedmiotowy z chemii dla uczniów gimnazjów 13 stycznia 2017 r. zawody II stopnia (rejonowe) Konkurs przedmiotowy z chemii dla uczniów gimnazjów 13 stycznia 2017 r. zawody II stopnia (rejonowe) Kod ucznia Suma punktów Witamy Cię na drugim etapie konkursu chemicznego. Podczas konkursu możesz korzystać

Bardziej szczegółowo

The role of band structure in electron transfer kinetics at low dimensional carbons

The role of band structure in electron transfer kinetics at low dimensional carbons The role of band structure in electron transfer kinetics at low dimensional carbons Paweł Szroeder Instytut Fizyki, Uniwersytet Mikołaja Kopernika, ul. Grudziądzka 5/7, 87-100 Toruń, Poland Reakcja przeniesienia

Bardziej szczegółowo

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur. II Spotkanie Realizatorów Projektu Warszawa maja 2009 r.

InTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur. II Spotkanie Realizatorów Projektu Warszawa maja 2009 r. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Politechnika Śląska (PŚl-2) ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT NAZWA: Politechnika

Bardziej szczegółowo

Analiza Organiczna. Jan Kowalski grupa B dwójka 7(A) Własności fizykochemiczne badanego związku. Zmierzona temperatura topnienia (1)

Analiza Organiczna. Jan Kowalski grupa B dwójka 7(A) Własności fizykochemiczne badanego związku. Zmierzona temperatura topnienia (1) Przykład sprawozdania z analizy w nawiasach (czerwonym kolorem) podano numery odnośników zawierających uwagi dotyczące kolejnych podpunktów sprawozdania Jan Kowalski grupa B dwójka 7(A) analiza Wynik przeprowadzonej

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM Z KATALIZY HOMOGENICZNEJ I HETEROGENICZNEJ POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY. Miejsce ćwiczenia: Zakład Chemii Fizycznej, sala 109

LABORATORIUM Z KATALIZY HOMOGENICZNEJ I HETEROGENICZNEJ POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY. Miejsce ćwiczenia: Zakład Chemii Fizycznej, sala 109 POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW CHARAKTERYSTYKA SKŁADU KATALIZATORA - SPEKTROSKOPIA RAMANA Miejsce ćwiczenia: Zakład Chemii Fizycznej, sala 109 LABORATORIUM

Bardziej szczegółowo

Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski

Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Photovoltaic and Sensors in Environmental Development of Malopolska Region ZWIĘKSZANIE WYDAJNOŚCI SYSTEMÓW FOTOWOLTAICZNYCH Plan prezentacji

Bardziej szczegółowo

Moduły kształcenia. Efekty kształcenia dla programu kształcenia (kierunku) MK_06 Krystalochemia. MK_01 Chemia fizyczna i jądrowa

Moduły kształcenia. Efekty kształcenia dla programu kształcenia (kierunku) MK_06 Krystalochemia. MK_01 Chemia fizyczna i jądrowa Matryca efektów kształcenia określa relacje między efektami kształcenia zdefiniowanymi dla programu kształcenia (efektami kierunkowymi) i efektami kształcenia zdefiniowanymi dla poszczególnych modułów

Bardziej szczegółowo

IDENTYFIKACJA FAZ W MODYFIKOWANYCH CYRKONEM ŻAROWYTRZYMAŁYCH ODLEWNICZYCH STOPACH KOBALTU METODĄ DEBYEA-SCHERRERA

IDENTYFIKACJA FAZ W MODYFIKOWANYCH CYRKONEM ŻAROWYTRZYMAŁYCH ODLEWNICZYCH STOPACH KOBALTU METODĄ DEBYEA-SCHERRERA 44/14 Archives of Foundry, Year 2004, Volume 4, 14 Archiwum Odlewnictwa, Rok 2004, Rocznik 4, Nr 14 PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 IDENTYFIKACJA FAZ W MODYFIKOWANYCH CYRKONEM ŻAROWYTRZYMAŁYCH ODLEWNICZYCH

Bardziej szczegółowo

III. METODY OTRZYMYWANIA MATERIAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Janusz Adamowski

III. METODY OTRZYMYWANIA MATERIAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Janusz Adamowski III. METODY OTRZYMYWANIA MATERIAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Janusz Adamowski 1 1 Wstęp Materiały półprzewodnikowe, otrzymywane obecnie w warunkach laboratoryjnych, charakteryzują się niezwykle wysoką czystością.

Bardziej szczegółowo

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e  = = 1 Å Wykład 12 Fale materii: elektrony, neutrony, lekkie atomy Neutrony generowane w reaktorze są spowalniane w wyniku zderzeń z moderatorem (grafitem) do V = 4 km/s, co odpowiada energii E=0.08 ev a energia

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia Ramanowska

Spektroskopia Ramanowska Spektroskopia Ramanowska Część A 1.Krótki wstęp historyczny 2.Oddziaływanie światła z osrodkiem materialnym (rozpraszanie światła) 3.Opis klasyczny zjawiska Ramana 4. Widmo ramanowskie. 5. Opis półklasyczny

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

Spektroelektrochemia technecjanów (VII) w środowisku kwasu siarkowego (VI)

Spektroelektrochemia technecjanów (VII) w środowisku kwasu siarkowego (VI) Spektroelektrochemia technecjanów (VII) w środowisku kwasu siarkowego (VI) Justyna Bebko Pracownia Elektrochemicznych Źródeł Energii kierownik i opiekun pracy: dr M. Chotkowski 1 Plan prezentacji ❶ Kilka

Bardziej szczegółowo

O NIEKTÓRYCH SKUTKACH ODDZIAŁYWANIA PROMIENIOWANIA LASERA RUBINOWEGO Z UKŁADEM CIENKA WARSTWA WĘGLIKÓW METALI NA KAPILARNO-POROWATYM PODŁOŻU

O NIEKTÓRYCH SKUTKACH ODDZIAŁYWANIA PROMIENIOWANIA LASERA RUBINOWEGO Z UKŁADEM CIENKA WARSTWA WĘGLIKÓW METALI NA KAPILARNO-POROWATYM PODŁOŻU FIZYA BUDWLI W TERII I PRATYCE TM IV, 29 Sekcja Fizyki Budowli ILiW PAN NIETÓRYCH SUTACH DDZIAŁYWANIA PRMIENIWANIA LASERA RUBINWEG Z UŁADEM CIENA WARSTWA WĘGLIÓW METALI NA APILARN-PRWATYM PDŁŻU Piotr LEMM

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ, Warszawa, PL INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Warszawa, PL

PL B1. INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ, Warszawa, PL INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Warszawa, PL PL 221135 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221135 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 399454 (22) Data zgłoszenia: 06.06.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU W. OLSZEWSKI 1, K. SZYMAŃSKI 1, D. SATUŁA 1, M. BIERNACKA 1, E. K. TALIK 2 1 Wydział Fizyki, Uniwersytet w Białymstoku, Lipowa 41, 15-424 Białystok,

Bardziej szczegółowo

Techniki próżniowe (ex situ)

Techniki próżniowe (ex situ) Techniki próżniowe (ex situ) Oddziaływanie promieniowania X z materią rearrangement X-ray photon X-ray emission b) rearrangement a) photoemission photoelectron Auger electron c) Auger/X-ray emission a)

Bardziej szczegółowo

ROZDZIELENIE OD PODSTAW czyli wszystko (?) O KOLUMNIE CHROMATOGRAFICZNEJ

ROZDZIELENIE OD PODSTAW czyli wszystko (?) O KOLUMNIE CHROMATOGRAFICZNEJ ROZDZIELENIE OD PODSTAW czyli wszystko (?) O KOLUMNIE CHROMATOGRAFICZNEJ Prof. dr hab. inż. Agata Kot-Wasik Katedra Chemii Analitycznej Wydział Chemiczny, Politechnika Gdańska agawasik@pg.gda.pl ROZDZIELENIE

Bardziej szczegółowo

BADANIA ŻELIWA CHROMOWEGO NA DYLATOMETRZE ODLEWNICZYM DO-01/P.Śl.

BADANIA ŻELIWA CHROMOWEGO NA DYLATOMETRZE ODLEWNICZYM DO-01/P.Śl. 36/38 Solidification of Metals and Alloys, No. 38, 1998 Krzepnięcie Metali i Stopów, nr 38, 1998 PAN Katowice PL ISSN 0208-9386 BADANIA ŻELIWA CHROMOWEGO NA DYLATOMETRZE ODLEWNICZYM DO-01/P.Śl. STUDNICKI

Bardziej szczegółowo

Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd

Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd Kamil Wróbel Pracownia Elektrochemicznych Źródeł Energii Kierownik pracy: prof. dr hab. A. Czerwiński Opiekun pracy: dr M. Chotkowski

Bardziej szczegółowo

BADANIA CERTYFIKACYJNE NAKŁADEK WĘGLOWYCH CERTIFICATION RESEARCHES OF CARBON CONTACT STRIPS

BADANIA CERTYFIKACYJNE NAKŁADEK WĘGLOWYCH CERTIFICATION RESEARCHES OF CARBON CONTACT STRIPS ZESZYTY NAUKOWE POLITECHNIKI ŚLĄSKIEJ 2013 Seria: TRANSPORT z. 81 Nr kol. 1896 Andrzej HEŁKA 1, Marek SITARZ 2 BADANIA CERTYFIKACYJNE NAKŁADEK WĘGLOWYCH Streszczenie. Artykuł przedstawia badania i pomiary

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA ENS1C300 022 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2013 1. CEL I ZAKRES

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do optycznego pomiaru parametrów plazmy generowanej wewnątrz kapilary światłowodowej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

PL B1. Układ do optycznego pomiaru parametrów plazmy generowanej wewnątrz kapilary światłowodowej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL PL 225214 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225214 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 414026 (22) Data zgłoszenia: 16.09.2015 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Pierwiastki bloku d. Zadanie 1.

Pierwiastki bloku d. Zadanie 1. Zadanie 1. Zapisz równania reakcji tlenków chromu (II), (III), (VI) z kwasem solnym i zasadą sodową lub zaznacz, że reakcja nie zachodzi. Określ charakter chemiczny tlenków. Charakter chemiczny tlenków:

Bardziej szczegółowo

Geochemia analityczna. KubaM

Geochemia analityczna. KubaM Geochemia analityczna KubaM Algorytm geochemicznego procesu badawczego: 1. Koncepcyjne przygotowanie badań 2. Opróbowanie pobór r próbek 3. Analiza 4. Interpretacja wyników 5. Wnioski 1. Koncepcyjne przygotowanie

Bardziej szczegółowo

SPRAWOZDANIE z grantu obliczeniowego za rok 2011

SPRAWOZDANIE z grantu obliczeniowego za rok 2011 Zakład Chemii Nieorganicznej i Strukturalnej Wydział Chemiczny Politechnika Wrocławska SPRAWOZDANIE z grantu obliczeniowego za rok 2011 Teoretyczne badania związków kompleksowych i metaloorganicznych,

Bardziej szczegółowo

Temat ćwiczenia. Pomiary otworów na przykładzie tulei cylindrowej

Temat ćwiczenia. Pomiary otworów na przykładzie tulei cylindrowej POLITECHNIKA ŚLĄSKA W YDZIAŁ TRANSPORTU Temat ćwiczenia Pomiary otworów na przykładzie tulei cylindrowej I Cel ćwiczenia Zapoznanie się z metodami pomiaru otworów na przykładzie pomiaru zuŝycia gładzi

Bardziej szczegółowo

Funkcjonalne nano- i mikrocząstki dla zastosowań w biologii, medycynie i analityce

Funkcjonalne nano- i mikrocząstki dla zastosowań w biologii, medycynie i analityce Funkcjonalne nano- i mikrocząstki dla zastosowań w biologii, medycynie i analityce dr Magdalena Oćwieja (ncocwiej@cyf-kr.edu.pl) Prace prowadzone w ramach projektu Funkcjonalne nano i mikrocząstki synteza

Bardziej szczegółowo

CENTRUM CZYSTYCH TECHNOLOGII WĘGLOWYCH CLEAN COAL TECHNOLOGY CENTRE. ... nowe możliwości. ... new opportunities

CENTRUM CZYSTYCH TECHNOLOGII WĘGLOWYCH CLEAN COAL TECHNOLOGY CENTRE. ... nowe możliwości. ... new opportunities CENTRUM CZYSTYCH TECHNOLOGII WĘGLOWYCH CLEAN COAL TECHNOLOGY CENTRE... nowe możliwości... new opportunities GŁÓWNY INSTYTUT GÓRNICTWA fluidalnym przy ciśnieniu maksymalnym 5 MPa, z zastosowaniem różnych

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

DEPOLARYZATOR ŚWIATŁA DLA ŚWIATŁOWODOWEGO CZUJNIKA PRĄDU Z PRZETWARZANIEM ZEWNĘTRZNYM

DEPOLARYZATOR ŚWIATŁA DLA ŚWIATŁOWODOWEGO CZUJNIKA PRĄDU Z PRZETWARZANIEM ZEWNĘTRZNYM ELEKTRYKA 2014 Zeszyt 2-3 (230-231) Rok LX Kamil BARCZAK Politechnika Śląska w Gliwicach DEPOLARYZATOR ŚWIATŁA DLA ŚWIATŁOWODOWEGO CZUJNIKA PRĄDU Z PRZETWARZANIEM ZEWNĘTRZNYM Streszczenie. Światłowodowy

Bardziej szczegółowo

dr Rafał Szukiewicz WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ WYDZIAŁ FIZYKI I ASTRONOMI UWr

dr Rafał Szukiewicz WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ WYDZIAŁ FIZYKI I ASTRONOMI UWr dr Rafał Szukiewicz WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ WYDZIAŁ FIZYKI I ASTRONOMI UWr WYTWARZANIE I ZASTOSOWANIE NANOCZĄSTEK O OKREŚLONYCH WŁAŚCIWOŚCIACH WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ WIELKOŚCI OBSERWOWANYCH

Bardziej szczegółowo

Ślesin, 29 maja 2019 XXV Sympozjum Analityka od podstaw

Ślesin, 29 maja 2019 XXV Sympozjum Analityka od podstaw 1 WYMAGANIA STAWIANE KOLUMNIE CHROMATOGRAFICZNEJ w chromatografii cieczowej Prof. dr hab. inż. Agata Kot-Wasik Katedra Chemii Analitycznej Wydział Chemiczny, Politechnika Gdańska agawasik@pg.edu.pl 2 CHROMATOGRAF

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

PODSTAWOWE POJĘCIA I PRAWA CHEMICZNE

PODSTAWOWE POJĘCIA I PRAWA CHEMICZNE PODSTAWOWE POJĘCIA I PRAWA CHEMICZNE Zadania dla studentów ze skryptu,,obliczenia z chemii ogólnej Wydawnictwa Uniwersytetu Gdańskiego 1. Jaka jest średnia masa atomowa miedzi stanowiącej mieszaninę izotopów,

Bardziej szczegółowo