Rok akademicki 2014 / Laboratorium Specjalistyczne WF PW

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Rok akademicki 2014 / 2015. Laboratorium Specjalistyczne WF PW"

Transkrypt

1 Rok akademicki 2014 / 2015 Laboratorium Specjalistyczne WF PW dla studentów kierunku Fizyka Techniczna na specjalnościach: Fizyka Komputerowa, Materiały i Nanostruktury, Optoelektronika Regulamin 1. Informacje ogólne Laboratorium Specjalistyczne (LS) dla studentów VI sem. WF ma na celu poznanie specyfiki badań naukowych prowadzonych w pracowniach naukowych Wydziału Fizyki PW i innych wyspecjalizowanych pracowniach badawczych związanych z określoną specjalnością. Studenci mają obowiązek podporządkowania się rygorom i procedurom obowiązującym w pracowniach naukowych, w których realizują ćwiczenia i ścisłego wykonywania poleceń opiekuna prowadzącego ćwiczenie, szczególnie w zakresie bezpieczeństwa i obsługi aparatury badawczej. 2. Organizacja zajęć ogólne zasady a) Laboratorium Specjalistyczne obejmuje 30 h zajęć w semestrze 6-tym (3 ECTS) (realizacja dwóch ćwiczeń naukowych (2 15h=30h) w kolejnych tygodniach semestru + spotkanie organizacyjne na początku semestru (1h) ). b) W planie zajęć, na realizację LS są przewidziane cotygodniowe pięciogodzinne (Optoelektronika) sesje naukowo-badawcze według ustalonego Harmonogramu. W zależności od potrzeb i okoliczności, po uzgodnieniu z prowadzącym ćwiczenie, umiejscowienie LS w planie zajęć może być modyfikowane. c) Podczas laboratorium studenci będą realizowali 2 ćwiczenia naukowe (w pierwszej i w drugiej połowie semestru) z listy dostępnych ćwiczeń, w pracowniach innych niż te, w których realizują prace inżynierskie. Ćwiczenia będą realizowane w zespołach dwu- lub jednoosobowych. d) Przedstawienie studentom oferty ćwiczeń, podział studentów na zespoły, procedura przypisywania ćwiczeń zespołom, a także ustalenie harmonogramu wykonywania ćwiczeń (pierwsza lub druga połowa semestru) zostaną omówione na spotkaniu organizacyjnym. Terminy spotkań organizacyjnych dla studentów różnych specjalności zostaną ustalone na początku semestru. Obecność studentów na tych spotkaniach jest obowiązkowa.

2 3. Zasady zaliczenia a) Wykonanie ćwiczenia (przebieg pracy badawczej i opracowanie sprawozdzania) ocenia prowadzący ćwiczenie b) Za wykonanie każdego z ćwiczeń będzie można uzyskać maksymalnie 100 punktów, na które, w zależności od specyfiki ćwiczenia, będą się składały: punkty za przygotowanie do wykonywania ćwiczenia (na podstawie materiałów polecanych przez prowadzących), punkty za pracę badawczą, punkty za przygotowanie sprawozdania (studenci są zobowiązani przygotować i przedłożyć prowadzącym sprawozdania w ciągu maksymalnie dwóch tygodni od zakończenia wykonywania ćwiczenia. Niespełnienie tego wymagania może spowodowc obniżenie oceny lub nawet nie zaliczenie ćwiczenia.). Ocenione punktowo sprawozdania (w formie drukowanej) należy złożyć u właściwego koordynatora specjalności (zob. pkt. 4) c) Do zaliczenia laboratorium wymagane jest uzyskanie powyżej 50% punktów z każdego ćwiczenia. d) Końcowa ocena wystawiana jest przez koordynatora przedmiotu wg przelicznika: 51pt 60pt ocena 3 61pt 70pt ocena 3,5 71pt 80pt ocena 4 81pt 90pt ocena 4,5 91pt 100pt ocena 5 4. Koordynatorzy Laboratorium Specjalistycznego w roku akademickim 2014 / 15: a) Dr hab. Agata Fronczak (dla specjalności Fizyka Komputerowa, pok. 6 GF) b) Prof. nzw.dr hab. Marek Sierakowski, (dla specjalności Optoelektronika, pok. 301 GF) c) Dr Aleksander Urbaniak (dla specjalności Materiały i Nanostruktury, pok. 322 GMechatr.)

3 Opisy Tematów Ćwiczenie nr 1-15 (GR3) Temat: Badanie półprzewodnikowych źródeł światła Opiekun: dr Irena Gronowska - p. 713 GMechatroniki, tel. (22) , e-m: Diody elektroluminescencyjne i lasery półprzewodnikowe emitują promieniowanie optyczne powstałe w wyniku zjawiska rekombinacji w materiale półprzewodnikowym zawierającym złącze prostujące umożliwiające wstrzykiwanie nośników. Do budowy diod i laserów wykorzystuje się materiały półprzewodnikowe o prostej przerwie energetycznej. Natężenie emitowanego promieniowania zależy od natężenia płynącego przez złącze prądu. Dioda elektroluminescencyjna emituje promieniowanie o emisji spontanicznej, niespolaryzowane. Długość fali emitowanego promieniowania zależy od struktury pasmowej materiału półprzewodnikowego, natomiast natężenie - od natężenia przepływającego prądu. Diody elektroluminescencyjne konstruuje się w postaci homozłącza - otrzymanego w monokrysztale z jednego rodzaju półprzewodnika oraz w postaci hetero złącza złącza pomiędzy pomiędzy różnymi półprzewodnikami. Diody elektroluminescencyjne wykonane w postaci homozłącza emitują fotony nieukierunkowane. Kierunkowość wychodzącej wiązki zależy tylko od warunków geometrycznych i soczewki diody. Znacznie lepszą kierunkowość mają diody heterozłączowe, bo możliwy jest odpowiedni dobór współczynników załamania poszczególnych obszarów struktury. W złączach wykonanych z materiałów silnie domieszkowanych możliwe jest otrzymanie inwersji obsadzeń, co jest warunkiem emisji wymuszonej. Przy dużych wartościach prądu można uzyskać akcję laserową. Przy odpowiedniej konstrukcji, umożliwiającej podtrzymanie akcji laserowej, dioda może stać się źródłem spójnego, kierunkowego promieniowania - staje się laserem półprzewodnikowym. Wykonane będą badania przedstawione w punktach a, b, c: a. Badanie charakterystyk prądowo-napięciowych diod elektroluminescencyjnych. b. Badanie widm diod elektroluminescencyjnych w funkcji prądu. c. Badanie rozkładów przestrzennych gęstości mocy świetlnej diody elektroluminescencyjnej. d. Badanie widma diody laserowej w funkcji prądu. Wykrywanie akcji laserowej. e. Literatura [1] M. A. Herman, Heterozłącza półprzewodnikowe PWN, Warszawa 1987 [2] B. Mroziewicz, M. Bugajski, W. Nakwaski, Lasery półprzewodnikowe PWN, Warszawa 1985 [3] Rajmund Bacewicz, Optyka ciała stałego, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1995, [4] Adam Kujawski, Paweł Szczepański Lasery, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej 1999, [5] Zdzisław Kaczmarek Światłowodowe czujniki i przetworniki pomiarowe, Agencja Wydawnicza PAK, Warszawa 2006

4 Ćwiczenie nr 2-15 (GR2) Temat: Badanie struktur biologicznych za pomocą mikroskopu akustycznego Opiekun: dr Irena Gronowska - p. 713 GMechatroniki, tel. (22) , e-m: Skaningowy mikroskop akustyczny (SAM) to urządzenie służące do uzyskiwania powiększonych obrazów drobnych ciał oraz do obrazowania wnętrza optycznie nieprzezroczystych obiektów za pomocą analizy zjawisk zachodzących przy odbiciu od badanych ośrodków fal akustycznych wysokiej częstotliwości (w zakresie MHz). Obraz akustyczny powstaje w wyniku skanowania powierzchni lub pewnej płaszczyzny wewnątrz badanego obiektu. SAM stosowany jest również do badania własności materiałów, uśrednionych lokalnie (w małych obszarach próbek). Wyznaczyć można długość fali powierzchniowej badanego obiektu na podstawie tak zwanych charakterystyki V(z), którą otrzymuje się przy ruchu głowicy mikroskopu w kierunku prostopadłym do powierzchni próbki, a która jest wynikiem nałożenia się fali odbitej z falą odpromieniowaną od powierzchni W przypadku materiałów anizotropowych korzystne jest stosowanie głowic o specjalnej konstrukcji - głowic kierunkowych. Za pomocą SAM wykonane zostaną badania przedstawione w punktach a, b, c: a. Badanie obrazów powierzchni struktur biologicznych (tkanki kostne, rogowe, drewno), b. Wykrywanie anizotropii na podstawie obrazów akustycznych oraz na podstawie pomiaru długości fali, c. Badanie anizotropii wymuszonej. Literatura [1] Bergmann L. "Der Ultraschall und Seine Anwendung in Wissenschaft und Technik ", Zurich, S. Hirzel. (1954) [2] Krasilnikow W. A., "Zwukowyje i ultrazwukowyje wołny", Moskwa, Gos. Izw. Fiz.-Mat. Liter. (1960) [3] Cheeke J. D. N., Alippi A., Mayer W. G. "Cryogenic acoustic microscopy", s. ( ), (1987) [4] Wiktorow I. A. "Zwukowyje powierchnostnyje wołny w twiordych tiełach", Moskwa, Nauka, (1984) [5] A. Sliwiński, "Ultradźwięki i ich zastosowania", WNT 1993, 2001 [6] R. Lemons, "Acoustic microscopy by mechanical scanning", Internal Memorandum, The J.A. Hartford Foudation, Stanford 1975 [7] C. Quate, A. Atalar, H. Wickramasinghe, "Acoustic microscopy with mechanical scanning" - A Review, Procc. of IEEE, 67, 8, ( ), (1979 [8] E.A.Ash, "Acoustic Microscopy", Academic Press, Oxford Science Publications, London, (23-55) (1992) [9] A. Brigss, A. Atalar, "A physical model for acoustic signature", J.Appl. Phys. (50), ( ), (1979) [10] Parmon E, H.Bertoni, "Ray interpretation of the material signature in the acoustic micriscope", Elec. Lett. 15, 21, ), (1979) [11].Weglein,R.,.Wilson, R., "Characteristic material signature by acoustic microscopy", Elec. Lett. 14, ( ), (1978) [12] J.Litniewski, "An acoustic microscope in measureements of mechanical properties of surface layers - V(z)", Archives of Acoustic, 11, 3, ( ),

5 (1986) [13].Weglein R, "Acoustic microscopy applied to SAW dispresion and film thicness measurement", IEEETrans. Sonics Ultrason. SU-27, 2, (82-86), (1980) [14].Wilson R, R.Weglein R, "Acoustic microscopyof materials and surface layers", J.Appl. Phys., 55, 9, ( ), (1981) [15] J. Litniewski, "Subsurface imaging of samples", Archives of Acoustics 4, (1984) [16] B. Hałaciński, E. Kotlicka, A. Latuszek; Acta Physica Slovakia 42, 3, ( ), (1992) [17] Mikroskop akustyczny [18] OPTYKA 45(1/2), 5-18 (2005) I. Gronowska, D. Karasiewicz, Zastosowanie skaningowego mikroskopu ultradźwiękowego do badania tkanek kostnych Ćwiczenie nr 3-15 (UL1) Temat: Solitony optyczne w ciekłych kryształach. Opiekun: dr Urszula Laudyn, Laboratorium Optyki Nieliniowej GF, pok. 12A, tel (22) , , e-m: Przy dużych mocach wiązka światła może modyfikować ośrodek zmieniając między innymi współczynnik załamania, który staje się zależny od natężenia światła. W rezultacie może dojść do samoogniskowania, a przy pewnej mocy do utworzenia bezdyfrakcyjnie propagującej się wiązki światła, nazywanej przestrzennym solitonem optycznym. Jest to zjawisko nieliniowe optycznie i w typowych ośrodkach materialnych jest obserwowane przy bardzo dużych natężeniach światła. Inaczej jest w nematycznych ciekłych kryształach, w których samoogniskowanie oraz tworzenie się solitonów przestrzennych (zwanych nematykonami) zachodzi przy stosunkowo niskich mocach. Ze względu na swoje wyjątkowe właściwości nematykony mogą być wykorzystane w całkowicie optycznych układach do przełączanie i przetwarzania informacji zakodowanej w sygnałach optycznych. Niniejsze ćwiczenia będzie zawierało przygotowanie komórki ciekłokrystalicznej, ustawienie układu z laserem dużej mocy, zaobserwowanie zjawiska samoogniskowania oraz wytworzenie nematykonu a także zbadanie jego właściwości i pomiar parametrów, przy których tworzy się nematykon. Ćwiczenie nr 4-15 (NA1) Temat: Światłowodowy pomiar grubości soczewek Na zajęciach studenci zapoznają się z koncepcją oraz zasadą działania interferometru światłowodowego jako układu do pomiaru grubości soczewek, a następnie dokonają pomiaru przygotowanego zestawu próbek. W ramach zajęć zostaną także przeprowadzone analizy dot. wpływu parametrów takich jak: odchylenia kątowe i poprzeczne mierzonych soczewek, temperatury oraz dyspersji szkła na dokładność pomiaru. Temat ten jest konsekwencją opracowywania prototypu zamówionego przez producentów soczewek. Każda grupa studentów otrzyma inny zestaw soczewek do pomiaru.

6 Ćwiczenie nr 5-15 (NA2) Temat: Pomiar dyspersji chromatycznej światłowodów specjalnych Na zajęciach studenci zapoznają się z koncepcją oraz zasadą działania interferometru światła białego, jednej z najbardziej precyzyjnych metod pomiarowych, do pomiaru dyspersji chromatycznej specjalnych (nietypowych) światłowodów, a następnie dokonają pomiaru przygotowanego zestawu próbek. Tego typu światłowody specjalne wykorzystywane są m.in. do kompensacji dyspersji w telekomunikacji optycznej, konstrukcji nowych źródeł światła oraz jako nowoczesne czujniki światłowodowe. Temat ten wynika z konieczności dokonywania pomiarów innowacyjnych światłowodów opracowywanych na zamówienie partnerów przemysłowych. Ćwiczenie nr 6-15 (NA3) Temat: Badanie odpowiedzi temperaturowej i naprężeniowej światłowodowych siatek Bragga na włóknach mikrostrukturalnych W ramach pracy badane będą charakterystyki odbiciowe i transmisyjne światłowodowych siatek Bragga (FBG) wykonanych na włóknach mikrostrukturalnych. Na podstawie charakterystyk wyznaczane będą podstawowe parametry FBG długość fali Bragga, szerokość połówkowa, współczynnik odbicia. Ponadto badane będą czułości długości fali Bragga (szeregu różnych FBG) na naprężenia wzdłużne oraz temperaturę. Wymagana podstawowa wiedza z zakresu światłowodowych siatek Bragga. Ćwiczenie nr 7-15 (NA4) Temat: Badanie czułości fazowej światłowodów specjalnych W ramach ćwiczenia badane będą temperaturowe oraz naprężeniowe czułości fazowe światłowodów specjalnych (m.in. mikrostrukturalnych, z przesuniętą długością fali odcięcia, dwójłomnych). W ćwiczeniu wykorzystany będzie układ pomiarowy wykorzystujący światłowodowy interferometr Macha-Zehndera. Wymagana podstawowa wiedza z zakresu interferometrów światłowodowych. Ćwiczenie nr 8-15 (JP1)

7 Temat: Badania szumów przetwornika ciekłokrystalicznego w układzie interferometrycznym. Opiekun: prof. Janusz Parka, Wydz. Elektroniki i Technik Informacyjnych, Instytut Mikro i Optoelektroniki, Zakład Fotoniki Obrazowej i Mikrofalowej, pok. 157, tel , e-m: Zadanie naukowe polega na zestawieniu układu interferometrycznego i wykonaniu pomiarów szumów przetwornika mikrofalowego wg wskazówek prowadzącego. Ćwiczenie nr 9-5 (PC1) Temat: Badanie widzenia kontrastu Opiekun: dr Krzysztof Petelczyc, p. 135b GF, tel , e-m: Celem pracy jest zaprojektowanie i oprogramowanie testu widzenia kontrastu. Aby go osiągnąć studenci będą musieli zapoznać się z metodami i testami używanymi w ocenie jakości widzenia, terminologią optyczną i okulistyczną, a także metodami statystycznymi prowadzenia badań psychofizycznych. Zadanie polegać będzie na stworzeniu oprogramowania, które wyświetli na ekranie komputera specjalny wzorzec testu w kształcie dwóch półkoli na jednolitym tle w min. 16-bitowej przestrzeni barw. Następnie studenci przy użyciu własnych oczu zbadają próg widzenia kontrastu w zależności od natężenia i barwy tła. Zgodnie z teorią zależność ta powinna być liniowa, co określane jest w literaturze prawem Webera-Fechnera. Ćwiczenie nr 10-5 (SA1) Temat: Badanie światłowodowych czujników dynamicznych odkształceń w strukturach kompozytowych Opiekun: dr Piotr Sobotka, pok. 118 GF, tel , W trakcie realizacji projektu studenci będą mogli zapoznać się z budową i zasadą działania światłowodowych czujników naprężeń umieszczonych wewnątrz struktury kompozytowej. Podczas realizacji tego ćwiczenia studenci będą zobligowani do realizacji następujących elementów: 1. Optymalizacja budowy stanowiska pomiarowego (zestawienie i oprogramowanie układu wymuszającego naprężenia dynamiczne) 2. Poprawne wprowadzenie światła do struktury światłowodu 3. Detekcja światła wychodzącego z czujnika swiatłowodowego 4. Analiza uzyskanego sygnału Praca będzie miała charakter eksperymentalny

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5)

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Wojciech Niwiński 30.03.2004 Bartosz Lassak Wojciech Zatorski gr.7lab Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Zadanie laboratoryjne miało na celu zaobserwowanie różnic

Bardziej szczegółowo

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę* 0,5 0,5

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę* 0,5 0,5 WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI Zał. nr 4 do ZW 33/01 KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim..lasery Nazwa w języku angielskim.lasers Kierunek studiów (jeśli dotyczy): Optyka Specjalność (jeśli

Bardziej szczegółowo

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym

Bardziej szczegółowo

Rezonatory ze zwierciadłem Bragga

Rezonatory ze zwierciadłem Bragga Rezonatory ze zwierciadłem Bragga Siatki dyfrakcyjne stanowiące zwierciadła laserowe (zwierciadła Bragga) są powszechnie stosowane w laserach VCSEL, ale i w laserach z rezonatorem prostopadłym do płaszczyzny

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych Electrical measurements

Bardziej szczegółowo

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę* Zał. nr 4 do ZW 33/01 WYDZIAŁ PPT KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim: Podstawy optyki fizycznej i instrumentalnej Nazwa w języku angielskim Fundamentals of Physical and Instrumental Optics Kierunek

Bardziej szczegółowo

Pomiar współczynnika pochłaniania światła

Pomiar współczynnika pochłaniania światła Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 12 V 2009 Nr. ćwiczenia: 431 Temat ćwiczenia: Pomiar współczynnika pochłaniania światła Nr. studenta:

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2. Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

Ćwiczenie 2. Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 2 Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami tłumienności odbiciowej i własnej.

Bardziej szczegółowo

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Przedmiot: Badania nieniszczące metodami elektromagnetycznymi Numer Temat: Badanie materiałów kompozytowych z ćwiczenia: wykorzystaniem fal elektromagnetycznych

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Badanie ultradźwiękowe grubości elementów metalowych defektoskopem ultradźwiękowym

Badanie ultradźwiękowe grubości elementów metalowych defektoskopem ultradźwiękowym Badanie ultradźwiękowe grubości elementów metalowych defektoskopem ultradźwiękowym 1. Badania nieniszczące wprowadzenie Badania nieniszczące polegają na wykorzystaniu nieinwazyjnych metod badań (bez zniszczenia

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Piotr Targowski i Bernard Ziętek Pracownia Optoelektroniki Specjalność: Fizyka Medyczna WYZNAZANIE MAIERZY [ABD] UKŁADU OPTYZNEGO Zadanie II Zakład Optoelektroniki

Bardziej szczegółowo

II. WYBRANE LASERY. BERNARD ZIĘTEK IF UMK www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet

II. WYBRANE LASERY. BERNARD ZIĘTEK IF UMK www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet II. WYBRANE LASERY BERNARD ZIĘTEK IF UMK www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet Laser gazowy Laser He-Ne, Mechanizm wzbudzenia Bernard Ziętek IF UMK Toruń 2 Model Bernard Ziętek IF UMK Toruń 3 Rozwiązania stacjonarne

Bardziej szczegółowo

VI. Elementy techniki, lasery

VI. Elementy techniki, lasery Światłowody VI. Elementy techniki, lasery BERNARD ZIĘTEK http://www.fizyka.umk.pl www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet a) Sprzęgacze czołowe 1. Sprzęgacze światłowodowe (czołowe, boczne, stałe, rozłączalne) Złącza,

Bardziej szczegółowo

Elementy optoelektroniczne. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego.

Elementy optoelektroniczne. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego. Elementy optoelektroniczne Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego. Półprzewodnikowe elementy optoelektroniczne Są one elementami sterowanymi natężeniem

Bardziej szczegółowo

Prawa optyki geometrycznej

Prawa optyki geometrycznej Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)

Bardziej szczegółowo

Pomiar długości fali świetlnej i stałej siatki dyfrakcyjnej.

Pomiar długości fali świetlnej i stałej siatki dyfrakcyjnej. POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW LABORATORIUM Z FIZYKI Pomiar długości fali świetlnej i stałej siatki dyfrakcyjnej. Wprowadzenie Przy opisie zjawisk takich

Bardziej szczegółowo

MIKROFALOWEJ I OPTOFALOWEJ

MIKROFALOWEJ I OPTOFALOWEJ E-LAB: LABORATORIUM TECHNIKI MIKROFALOWEJ I OPTOFALOWEJ Krzysztof MADZIAR Grzegorz KĘDZIERSKI, Jerzy PIOTROWSKI, Jerzy SKULSKI, Agnieszka SZYMAŃSKA, Piotr WITOŃSKI, Bogdan GALWAS Instytut Mikroelektroniki

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Optotelekomunikacja. dr inż. Piotr Stępczak 1

Optotelekomunikacja. dr inż. Piotr Stępczak 1 Optotelekomunikacja dr inż. Piotr Stępczak 1 dr inż. Piotr Stępczak Falowa natura światła () ( ) () ( ) z t j jm z z z t j jm z z e e r H H e e r E E β ω β ω Θ ± Θ ± 1 0 0 1 0 1 1 zatem 0 n n n n gr λ

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z FIZYKI

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z FIZYKI WYMAGANIA EDUKACYJNE Z FIZYKI KLASA III Drgania i fale mechaniczne Wymagania na stopień dopuszczający obejmują treści niezbędne dla dalszego kształcenia oraz użyteczne w pozaszkolnej działalności ucznia.

Bardziej szczegółowo

Rok akademicki: 2015/2016 Kod: MIM-2-205-IS-n Punkty ECTS: 5. Kierunek: Inżynieria Materiałowa Specjalność: Inżynieria spajania

Rok akademicki: 2015/2016 Kod: MIM-2-205-IS-n Punkty ECTS: 5. Kierunek: Inżynieria Materiałowa Specjalność: Inżynieria spajania Nazwa modułu: Nieniszczące metody badań połączeń spajanych Rok akademicki: 2015/2016 Kod: MIM-2-205-IS-n Punkty ECTS: 5 Wydział: Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej Kierunek: Inżynieria Materiałowa

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 utego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU EiT_S_I_PS_AEwT Podstawy sensoryki Base of Sensoric Kod Nazwa Nazwa w języku angieskim Obowiązuje od

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i miernictwa

Podstawy elektroniki i miernictwa Podstawy elektroniki i miernictwa Kod modułu: ELE Rodzaj przedmiotu: podstawowy; obowiązkowy Wydział: Informatyki Kierunek: Informatyka Poziom studiów: pierwszego stopnia Profil studiów: ogólnoakademicki

Bardziej szczegółowo

Czujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są

Czujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są Czujniki Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Czujniki Czujniki służą do przetwarzania interesującej

Bardziej szczegółowo

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr : Soczewki Cel ćwiczenia: Wyznaczenie ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiającej i rozpraszającej) oraz ogniskowej soczewki rozpraszającej

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Informatyka Rodzaj przedmiotu: moduł specjalności obowiązkowy: Inżynieria oprogramowania, Sieci komputerowe Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium MODELOWANIE I SYMULACJA Modelling

Bardziej szczegółowo

TEMAT: CZUŁOŚĆ CZUJNIKA INDUKCYJNEGO DLA RÓŻNYCH MATERIAŁÓW

TEMAT: CZUŁOŚĆ CZUJNIKA INDUKCYJNEGO DLA RÓŻNYCH MATERIAŁÓW ĆWICZENIE NR TEMAT: CZUŁOŚĆ CZUJNIKA INDUKCYJNEGO DLA RÓŻNYCH MATERIAŁÓW. Pojęcia: a. Czujnik indukcyjny b. czułość czujnika. Cel ćwiczenia: a. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie charakterystyk przełączania

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 8 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2014/15

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Energetyka Rodzaj przedmiotu: kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE C1. Uzyskanie podstawowej wiedzy

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

Ramowy Program Specjalizacji MODELOWANIE MATEMATYCZNE i KOMPUTEROWE PROCESÓW FIZYCZNYCH Studia Specjalistyczne (III etap)

Ramowy Program Specjalizacji MODELOWANIE MATEMATYCZNE i KOMPUTEROWE PROCESÓW FIZYCZNYCH Studia Specjalistyczne (III etap) Ramowy Program Specjalizacji MODELOWANIE MATEMATYCZNE i KOMPUTEROWE PROCESÓW FIZYCZNYCH Studia Specjalistyczne (III etap) Z uwagi na ogólno wydziałowy charakter specjalizacji i możliwość wykonywania prac

Bardziej szczegółowo

WYCIĄG Z PROGRAMU KSZTAŁCENIA NA STUDIACH DRUGIEGO STOPNIA

WYCIĄG Z PROGRAMU KSZTAŁCENIA NA STUDIACH DRUGIEGO STOPNIA POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY WYCIĄG Z PROGRAMU KSZTAŁCENIA NA STUDIACH DRUGIEGO STOPNIA kierunek studiów ELEKTRONIKA I TELEKOMUNIKACJA Studia stacjonarne Plan studiów z dnia 29 marca 2012

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych. Cel ćwiczenia: Zapoznać z budową, zasadą działania, charakterystykami

Bardziej szczegółowo

Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych.

Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych. Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych. Przy pomocy optyki geometrycznej łatwo można przedstawić efekty propagacji światła tylko w ośrodku nieograniczonym. Nie ukazuje ona jednak interesujących

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Techniki pomiarowe i analiza sygnałów Kierunek: Inżynieria Środowiska Rodzaj przedmiotu: Poziom kształcenia: Obieralny, moduł 5.4 II stopnia Rodzaj zajęć: Liczba godzin/tydzień/zjazd

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH

ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH 1. ODBICIE I ZAŁAMANIE ŚWIATŁA 1.1. PRAWO ODBICIE I ZAŁAMANIA ŚWIATŁA Gdy promień światła pada na granicę pomiędzy dwiema różnymi

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 53. Soczewki

Ćwiczenie 53. Soczewki Ćwiczenie 53. Soczewki Małgorzata Nowina-Konopka, Andrzej Zięba Cel ćwiczenia Pomiar ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiająca i rozpraszająca), obliczenie ogniskowej soczewki rozpraszającej.

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT 1 Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie 2 Plan prezentacji 1. Skanowanie laserowe 3D informacje ogólne; 2. Proces skanowania; 3. Proces

Bardziej szczegółowo

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę* WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI Zał. nr 4 do ZW 33/01 KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim: OBRAZOWANIE MEDYCZNE Nazwa w języku angielskim: MEDICAL IMAGING Kierunek studiów (jeśli dotyczy):

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechatronika Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy na specjalności: systemy sterowania Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium UKŁADY AUTOMATYKI PRZEMYSŁOWEJ Industrial Automatics Systems

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-6

Ć W I C Z E N I E N R O-6 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-6 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FAL PODSTAWOWYCH BARW W WIDMIE ŚWIATŁA BIAŁEGO

Bardziej szczegółowo

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę* WYDZIAŁ WPPT KARTA PRZEDMIOTU Zał. nr 4 do ZW /01 Nazwa w języku polskim Fizyka biomateriałów Nazwa w języku angielskim Physics of biomaterials Kierunek studiów (jeśli dotyczy): Optyka Specjalność (jeśli

Bardziej szczegółowo

Transmisja bezprzewodowa

Transmisja bezprzewodowa Sieci komputerowe Wykład 6: Media optyczne Transmisja bezprzewodowa Wykład prowadzony przez dr inż. Mirosława Hajdera dla studentów 3 roku informatyki, opracowany przez Joannę Pliś i Piotra Lasotę, 3 FD.

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne. Ćwiczenie 4 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ Wprowadzenie teoretyczne. Soczewka jest obiektem izycznym wykonanym z materiału przezroczystego o zadanym kształcie i symetrii obrotowej. Interesować

Bardziej szczegółowo

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki)

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki) Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Sensory (czujniki) 1 Zestawienie najważniejszych wielkości pomiarowych w układach mechatronicznych Położenie (pozycja), przemieszczenie Prędkość liniowa,

Bardziej szczegółowo

Pomiar prędkości obrotowej

Pomiar prędkości obrotowej 2.3.2. Pomiar prędkości obrotowej Metody: Kontaktowe mechaniczne (prądniczki tachometryczne różnych typów), Bezkontaktowe: optyczne (światło widzialne, podczerwień, laser), elektromagnetyczne (indukcyjne,

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 7 Temat: Pomiar kąta załamania i kąta odbicia światła. Sposoby korekcji wad wzroku. 1. Wprowadzenie Zestaw ćwiczeniowy został

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Wirtualny VU2012

Uniwersytet Wirtualny VU2012 XII Konferencja Uniwersytet Wirtualny VU2012 M o d e l N a r z ę d z i a P r a k t y k a Andrzej ŻYŁAWSKI Warszawska Wyższa Szkoła Informatyki Marcin GODZIEMBA-MALISZEWSKI Instytut Technologii Eksploatacji

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje.

Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Ćwiczenie 2 Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne Działanie obrazujące soczewek lub układu soczewek wygodnie

Bardziej szczegółowo

L E D light emitting diode

L E D light emitting diode Elektrotechnika Studia niestacjonarne L E D light emitting diode Wg PN-90/E-01005. Technika świetlna. Terminologia. (845-04-40) Dioda elektroluminescencyjna; dioda świecąca; LED element półprzewodnikowy

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI ĆWICZENIE 1 ŹRÓDŁA ŚWIATŁA Gdańsk 2001 r. ĆWICZENIE 1: ŹRÓDŁA ŚWIATŁA 2 1. Wstęp Zasada działania półprzewodnikowych źródeł światła (LED-ów i diod laserowych LD) jest bardzo

Bardziej szczegółowo

Czujniki i urządzenia pomiarowe

Czujniki i urządzenia pomiarowe Czujniki i urządzenia pomiarowe Czujniki zbliŝeniowe (krańcowe), detekcja obecności Wyłączniki krańcowe mechaniczne Dane techniczne Napięcia znamionowe 8-250VAC/VDC Prądy ciągłe do 10A śywotność mechaniczna

Bardziej szczegółowo

KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU

KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU Uniwersytet Rzeszowski WYDZIAŁ KIERUNEK Matematyczno-Przyrodniczy Fizyka techniczna SPECJALNOŚĆ RODZAJ STUDIÓW stacjonarne, studia pierwszego stopnia KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU NAZWA PRZEDMIOTU WG PLANU

Bardziej szczegółowo

Bernard Ziętek OPTOELEKTRONIKA

Bernard Ziętek OPTOELEKTRONIKA Uniwersytet Mikołaja Kopernika Bernard Ziętek OPTOELEKTRONIKA Wydanie III, uzupełnione i poprawione Toruń 2011 SPIS TREŚCI PRZEDMOWA DO III WYDANIA 1 PRZEDMOWA DO II WYDANIA 3 PRZEDMOWA DO I WYDANIA 4

Bardziej szczegółowo

Źródła promieniowania optycznego problemy bezpieczeństwa pracy. Lab. Fiz. II

Źródła promieniowania optycznego problemy bezpieczeństwa pracy. Lab. Fiz. II Źródła promieniowania optycznego problemy bezpieczeństwa pracy Lab. Fiz. II Reakcje w tkankach wywołane przez promioniowanie optyczne (podczerwień, widzialne, ultrafiolet): Reakcje termiczne ze wzrostem

Bardziej szczegółowo

Gdańsk, 16 grudnia 2010

Gdańsk, 16 grudnia 2010 POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233 Gdańsk prof. dr hab. inż. Andrzej Zieliński tel. 58 348 63 57 fax. 58 347 14 15 Przewodniczący Rady Koordynator

Bardziej szczegółowo

Logistyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Logistyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Z-LOG-1082 Podstawy nauki o materiałach Fundamentals of Material Science

Bardziej szczegółowo

Przedmiotowy system oceniania z fizyki dla klasy III gimnazjum

Przedmiotowy system oceniania z fizyki dla klasy III gimnazjum Przedmiotowy system oceniania z fizyki dla klasy III gimnazjum Szczegółowe wymagania na poszczególne stopnie (oceny) 1. Drgania i fale R treści nadprogramowe Stopień dopuszczający Stopień dostateczny Stopień

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Inżynieria Biomedyczna Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy moduł kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Bardziej szczegółowo

FACULTY OF ADVANCED TECHNOLOGIES AND CHEMISTRY. Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna

FACULTY OF ADVANCED TECHNOLOGIES AND CHEMISTRY. Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna Interferometry światłowodowe Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna Wprowadzenie Układy te stanowią nową klasę czujników, gdzie podstawowy mechanizm

Bardziej szczegółowo

Projekt Czy te oczy mogą kłamac

Projekt Czy te oczy mogą kłamac Projekt Czy te oczy mogą kłamac Zajęcia realizowane metodą przewodniego tekstu Cel główny: Rozszerzenie wiedzy na temat mechanizmu widzenia. Treści kształcenia zajęć interdyscyplinarnych: Fizyka: Rozchodzenie

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Inżynieria Biomedyczna Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy moduł kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium TECHNIKI OBRAZOWANIA MEDYCZNEGO Medical Imaging Techniques Forma

Bardziej szczegółowo

REGULAMIN PRACY ZE ŹRÓDŁAMI PROMIENIOWANIA ORAZ REGULAMIN LABORATORIUM FIZYKI JĄDROWEJ

REGULAMIN PRACY ZE ŹRÓDŁAMI PROMIENIOWANIA ORAZ REGULAMIN LABORATORIUM FIZYKI JĄDROWEJ INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PROCESOWEJ, MATERIAŁOWEJ I FIZYKI STOSOWANEJ POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA DETEKCJI PROMIENIOWANIA JĄDROWEGO REGULAMIN PRACOWNI REGULAMIN PRACY ZE ŹRÓDŁAMI PROMIENIOWANIA

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne

Ćwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne Ćwiczenie 2 Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne Podstawy Działanie obrazujące soczewek lub układu soczewek

Bardziej szczegółowo

2007-10-27. NA = sin Θ = (n rdzenia2 - n płaszcza2 ) 1/2. L[dB] = 10 log 10 (NA 1 /NA 2 )

2007-10-27. NA = sin Θ = (n rdzenia2 - n płaszcza2 ) 1/2. L[dB] = 10 log 10 (NA 1 /NA 2 ) dr inż. Krzysztof Hodyr Technika Światłowodowa Część 2 Tłumienie i straty w światłowodach Pojęcie dyspersji światłowodów Technika zwielokrotnienia WDM Źródła strat tłumieniowych sprzężenia światłowodu

Bardziej szczegółowo

I Pracownia Fizyczna Dr Urszula Majewska dla Biologii

I Pracownia Fizyczna Dr Urszula Majewska dla Biologii Ćw. 6/7 Wyznaczanie gęstości cieczy za pomocą wagi Mohra. Wyznaczanie gęstości ciał stałych metodą hydrostatyczną. 1. Gęstość ciała. 2. Ciśnienie hydrostatyczne. Prawo Pascala. 3. Prawo Archimedesa. 4.

Bardziej szczegółowo

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Model pasmowy półprzewodników. 2. Zasada działania lasera półprzewodnikowego

Bardziej szczegółowo

1. Dyfrakcja Fraunhofera: a) zachodzi gdy promienie padajace na przegrode i promienie biegnace do punktu obserwacji sa niemal rownolegle

1. Dyfrakcja Fraunhofera: a) zachodzi gdy promienie padajace na przegrode i promienie biegnace do punktu obserwacji sa niemal rownolegle 1. Dyfrakcja Fraunhofera: a) zachodzi gdy promienie padajace na przegrode i promienie biegnace do punktu obserwacji sa niemal rownolegle 2. Odbicie dyfuzyjne: a) rozproszone odbicie swiatla - zachodzace

Bardziej szczegółowo

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 7 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2014/15

Bardziej szczegółowo

OPTOELEKTRONIKA. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Dołącz do najlepszych!

OPTOELEKTRONIKA. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Dołącz do najlepszych! OPTOELEKTRONIKA Katedra Metrologii i Optoelektroniki Dołącz do najlepszych! Oferta dydaktyczna Wykładane przedmioty Elementy i układy optoelektroniczne Optyczne techniki pomiarowe Optyczna transmisja i

Bardziej szczegółowo

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę* WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI Zał. nr 4 do ZW 33/01 KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim: DIAGNOSTYKA OBRAZOWA Nazwa w języku angielskim: DIAGNOSTIC IMAGING Kierunek studiów (jeśli dotyczy):

Bardziej szczegółowo

Publiczne Gimnazjum im. Jana Deszcza w Miechowicach Wielkich. Opracowanie: mgr Michał Wolak

Publiczne Gimnazjum im. Jana Deszcza w Miechowicach Wielkich. Opracowanie: mgr Michał Wolak 1. Drgania i fale R treści nadprogramowe Stopień dopuszczający Stopień dostateczny Stopień dobry Stopień bardzo dobry wskazuje w otaczającej rzeczywistości przykłady ruchu drgającego opisuje przebieg i

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego Ćwiczenie O5 Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego O5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wykorzystanie zjawiska dyfrakcji i interferencji światła do wyznaczenia rozmiarów

Bardziej szczegółowo

Urządzenia Elektroniki Morskiej Systemy Elektroniki Morskiej

Urządzenia Elektroniki Morskiej Systemy Elektroniki Morskiej Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej Katedra Systemów Elektroniki Morskiej Stacja Badań Hydroakustycznych Urządzenia Elektroniki Morskiej Systemy Elektroniki Morskiej

Bardziej szczegółowo

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru Ćwiczenie nr 9 Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru I. Zestaw przyrządów 1. Spektrometr 2. Lampy spektralne: helowa i rtęciowa 3. Pryzmaty szklane, których własności mierzymy II. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Przedmiotowy system oceniania z fizyki w klasie 3

Przedmiotowy system oceniania z fizyki w klasie 3 Przedmiotowy system oceniania z fizyki w klasie 3 Szczegółowe wymagania na poszczególne stopnie (oceny) 1. Drgania i fale R treści nadprogramowe Stopień dopuszczający Stopień dostateczny Stopień dobry

Bardziej szczegółowo

Urządzenia i systemy automatyki. Elektrotechnika I stopień ogólno akademicki. stacjonarne. przedmiot kierunkowy

Urządzenia i systemy automatyki. Elektrotechnika I stopień ogólno akademicki. stacjonarne. przedmiot kierunkowy Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Automatics systems and devices Obowiązuje

Bardziej szczegółowo

WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA

WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA 1 WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA WYDZIAŁ NOWYCH TECHNOLOGII I CHEMII FIZYKA Ćwiczenie laboratoryjne nr 43 WYZNACZANIE ABERRACJI SFERYCZNEJ SOCZEWEK I ICH UKŁADÓW Autorzy: doc. dr inż. Wiesław Borys dr inż.

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Sylabus modułu: Techniki mikroskopowe modułu: 1BL_49 1. Informacje ogólne koordynator modułu Prof. dr hab. Ewa

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METROLOGII

LABORATORIUM METROLOGII LABORATORIUM METROLOGII POMIARY TEMPERATURY NAGRZEWANEGO WSADU Cel ćwiczenia: zapoznanie z metodyką pomiarów temperatury nagrzewanego wsadu stalowego 1 POJĘCIE TEMPERATURY Z definicji, która jest oparta

Bardziej szczegółowo

Mechanizacja procesów spawalniczych The mechanization of welding processes. Liczba godzin/tydzień: 1W, 2L PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Mechanizacja procesów spawalniczych The mechanization of welding processes. Liczba godzin/tydzień: 1W, 2L PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechanika i Budowa Maszyn Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy na specjalności: Spawalnictwo Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Bardziej szczegółowo

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę* WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI Zał. nr 4 do ZW 33/01 KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim CYFROWE PRZETWARZANIE SYGNAŁÓW Nazwa w języku angielskim DIGITAL SIGNAL PROCESSING Kierunek studiów

Bardziej szczegółowo

Telekomunikacja światłowodowa

Telekomunikacja światłowodowa KATEDRA OPTOELEKTRONIKI I SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechnika Gdańska 80-233 GDAŃSK, ul.g.narutowicza 11/12, tel.(48)(58) 347 1584, fax.(48)(58) 347

Bardziej szczegółowo

Najprostszą soczewkę stanowi powierzchnia sferyczna stanowiąca granicę dwóch ośr.: powietrza, o wsp. załamania n 1. sin θ 1. sin θ 2.

Najprostszą soczewkę stanowi powierzchnia sferyczna stanowiąca granicę dwóch ośr.: powietrza, o wsp. załamania n 1. sin θ 1. sin θ 2. Ia. OPTYKA GEOMETRYCZNA wprowadzenie Niemal każdy system optoelektroniczny zawiera oprócz źródła światła i detektora - co najmniej jeden element optyczny, najczęściej soczewkę gdy system służy do analizy

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia fluorescencyjna

Mikroskopia fluorescencyjna Mikroskopia fluorescencyjna Mikroskop fluorescencyjny to mikroskop świetlny, wykorzystujący zjawisko fluorescencji większość z nich to mikroskopy tzw. epi-fluorescencyjne zjawisko fotoluminescencji: fluorescencja

Bardziej szczegółowo

C. EFEKTY KSZTAŁCENIA I METODY SPRAWDZANIA EFEKTÓW KSZTAŁCENIA

C. EFEKTY KSZTAŁCENIA I METODY SPRAWDZANIA EFEKTÓW KSZTAŁCENIA KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA Z FIZYKI. Klasa III DRGANIA I FALE

WYMAGANIA Z FIZYKI. Klasa III DRGANIA I FALE WYMAGANIA Z FIZYKI Klasa III DRGANIA I FALE dopuszczający dostateczny dobry bardzo dobry wskazuje w otaczającej rzeczywistości przykłady ruchu drgającego opisuje przebieg i wynik przeprowadzonego, wyjaśnia

Bardziej szczegółowo

XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ

XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane 12-14 marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ Tomasz KATZ, Instytut Lotnictwa, Warszawa katz@ilot.edu.pl 1.

Bardziej szczegółowo

KONTROLA JAKOŚCI MATERIAŁÓW I WYROBÓW QUALITY CONTROL OF MATERIALS AND PRODUCTS. Liczba godzin/tydzień: 1W, 2L PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

KONTROLA JAKOŚCI MATERIAŁÓW I WYROBÓW QUALITY CONTROL OF MATERIALS AND PRODUCTS. Liczba godzin/tydzień: 1W, 2L PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechanika i Budowa Maszyn Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy na specjalności: Przetwórstwo Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU KONTROLA JAKOŚCI

Bardziej szczegółowo

www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V

www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V W Y D Z I A Ł Z A R Z Ą D Z A N I A www.wseiz.pl/index.php?menu=4&div=3/ część III,IV i V I. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI 1. Istota i znaczenie metrologii 2. Układ jednostek SI proweniencja;

Bardziej szczegółowo