PRACE INSTYTUTU ODLEWNICTWA TRANSACTIONS OF FOUNDRY RESEARCH INSTITUTE

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "PRACE INSTYTUTU ODLEWNICTWA TRANSACTIONS OF FOUNDRY RESEARCH INSTITUTE"

Transkrypt

1

2 PRACE INSTYTUTU ODLEWNICTWA TRANSACTIONS OF FOUNDRY RESEARCH INSTITUTE Tom LIII 2013 Numer 1 SPIS TREŚCI Volume LIII 2013 Number 1 CONTENTS 1. ANDRZEJ BALIŃSKI: Podstawowe zagadnienia związane z pomiarem wielkości i rozkładu wielkości cząstek MAGDALENA BACIOR, ALEKSANDRA SIEWIOREK, ARTUR KUDYBA, NATALIA SOBCZAK: Badanie powierzchniowych zanieczyszczeń jonowych występujących na płytkach obwodów drukowanych JANUSZ FABER, MARIA ŻMUDZIŃSKA, KATARZYNA PERSZEWSKA: Oczyszczanie wybranych odpadów odlewniczych metodą biodegradacji (Badania wstępne) ANDRZEJ GWIŻDŻ, MARCIN MAŁYSZA, MIECZYSŁAW NOWAK: Zastosowanie programu Flow-3D do symulacji procesu zalewania oraz krzepnięcia odlewów z żeliwa sferoidalnego. Cz Wskazówki dla Autorów Procedura recenzyjna artykułów zgłoszonych do kwartalnika Prace Instytutu Odlewnictwa ANDRZEJ BALIŃSKI: Basic issues related to the measurement of size and particle size distribution MAGDALENA BACIOR, ALEKSANDRA SIEWIOREK, ARTUR KUDYBA, NATALIA SOBCZAK: Ionic contamination tests on printed circuit boards JANUSZ FABER, MARIA ŻMUDZIŃSKA, KATARZYNA PERSZEWSKA: Treatment of selected foundry waste using biodegradable method (Preliminary research) ANDRZEJ GWIŻDŻ, MARCIN MAŁYSZA, MIECZYSŁAW NOWAK: Use of Flow-3D program for simulation of pouring and solidification process of ductile cast iron castings. 35 Part Instructions for Authors Review Procerure for articles submitted to the quarterly Transactions of the Foundry 59 Research Institute

3 Wydawca/Editor: INSTYTUT ODLEWNICTWA / FOUNDRY RESEARCH INSTITUTE KOLEGIUM REDAKCYJNE / EDITORIAL BOARD: Jerzy Józef SOBCZAK (Redaktor Naczelny / Editor-in-Chief), Andrzej BALIŃSKI (Z-ca Redaktora Naczelnego / Assistant Editor), Andrzej BIAŁOBRZESKI, Zbigniew GÓRNY, Stanisława KLUSKA-NAWARECKA, Natalia SOBCZAK, Józef Szczepan SUCHY, Joanna MADEJ (Sekretarz Redakcji / Secretary) Redaktor statystyczny / Statistical Editor: Krystyna RABCZAK Redaktorzy tematyczni / Thematic Editors: Natalia SOBCZAK (chemia fizyczna / Physical chemistry), Marta KONIECZNA (odlewnictwo / Metalcasting), Andrzej GAZDA (inżynieria materiałowa / Materials engineering), Piotr DUDEK (metalurgia / Metallurgy) KOMITET NAUKOWY / SCIENTIFIC COMMITTEE: Simeon AGATHOPOULOS (Grecja/Greece), Rajiv ASTHANA (USA/U.S.A.), Dana BOLIBRUCHOVÁ (Słowacja/Slovakia), Andreas BÜHRIG-POLACZEK (Niemcy/Germany), Józef DAŃKO, Ludmil DRENCHEV (Bułgaria/Bulgaria), Natalya FROUMIN (Izrael/Israel), Hidetoshi FUJII (Japonia/Japan), Edward GUZIK, Marek HETMAŃCZYK, Mariusz HOLTZER, Milan HORACEK (Czechy/Czech Republic), Werner A. HUFENBACH (Niemcy/Germany), Jolanta JANCZAK-RUSCH (Szwajcaria/ Switzerland), Olga LOGINOVA (Ukraina/Ukraine), Enrique LOUIS (Hiszpania/ Spain), Luis Filipe MALHEIROS (Portugalia/Portugal), Adam MAZURKIEWICZ, Tadeusz MIKULCZYŃSKI, Sergei MILEIKO (Rosja/Russia), Kiyoshi NOGI (Japonia/Japan), Władysław ORŁOWICZ, Alberto PASSERONE (Włochy/ Italy), Klaus-Markus PETERS (USA/U.S.A.), Stanisław PIETROWSKI, Krystyna PIETRZAK, Wojciech PRZETAKIEWICZ, Pradeep Kumar ROHATGI (USA/U.S.A.), Sudipta SEAL (USA/U.S.A.), Jan SZAJNAR, Michał SZWEYCER, Roman WRONA, Paweł ZIĘBA Publikowane artykuły były recenzowane / The articles published herein have been reviewed Projekt okładki / Graphic Design: Jan Witkowski Skład komputerowy / Computer Typesetting: Anna Samek-Bugno Korekta wydawnicza / Proofreading: Marta Konieczna, Anna Samek-Bugno ADRES REDAKCJI / EDITORIAL OFFICE: Prace Instytutu Odlewnictwa Kraków, ul. Zakopiańska 73 tel. (12) , fax (12) Copyright by Instytut Odlewnictwa Żadna część czasopisma nie może być powielana czy rozpowszechniana bez pisemnej zgody posiadacza praw autorskich No part of this publication may be reproduced or distributed without the written permission of the copyright holder Printed in Poland ISSN (print version the original version) ISSN X (online) Publikacja dofinansowana ze środków Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach programu Index Plus (projekt nr IxP ). This publication was funded by the Ministry of Science and Higher Education through the Index Plus program (project no. IxP ).

4 PRACE INSTYTUTU ODLEWNICTWA TRANSACTIONS OF FOUNDRY RESEARCH INSTITUTE Volume LIII Year 2013 Number 1 DOI: /iod Podstawowe zagadnienia związane z pomiarem wielkości i rozkładu wielkości cząstek Basic issues related to the measurement of SIZE and particle size distribution Andrzej Baliński Instytut Odlewnictwa, ul. Zakopiańska 73, Kraków Foundry Research Institute, ul. Zakopiańska 73, Kraków Streszczenie Artykuł ma charakter dyskusyjny. Przedstawiono w nim problemy dotyczące określenia wielkości cząstek oraz ich średniej średnicy. Cząstki rozpatrywano jako fazę rozproszoną w różnych układach, w tym koloidalnych. Omówiono podstawowe metody pomiaru wielkości cząstek oraz zalety i wady tych metod. Słowa kluczowe: wielkość cząstek, metody pomiaru Abstract This article takes the form of a discussion. It presents problems concerning the determination of particle size and average diameter. The particles were analysed as the dispersed phase in various systems, including colloidal. It describes the basic methods for the measurement of the particle size and the advantages and disadvantages of these methods. Keywords: particle size, methods of measurement Wstęp Problem jednoznacznego opisu wielkości cząstek istniał zawsze, ale sytuacja zaczęła się radykalnie zmieniać, gdy koniecznością stało się określenie wielkości cząstek o wymiarach nanometrycznych. Było to związane z wytwarzaniem struktur materialnych, składających się z cząstek o średniej średnicy wynoszącej od kilku do kilkuset nanometrów, czyli tzw. nanostruktur. Przyjmuje się, że elementy nanostruktury (ziarna, wydzielenia, wbudowane cząstki, podpowłoki, pory) o średnicy mniejszej od 100 nm, wpływają znacząco na właściwości sprężysto-plastyczne (w zakresie odmiennym od zakresu stosowanego w prawie Halla-Petscha), odporność na zużycie i korozję [1]. Przykładowo, trwałość ostrzy z nanopowłokami TiN oraz (TiAl)N o średnicy ziaren wynoszącej 60 nm, nanoszonych metodą fizycznego osadzania z fazy gazowej (metodą łukową PVD), wzrosła odpowiednio 5- i 8-krotnie, w porównaniu do ostrzy bez nanopowłoki [2]. Ciągły rozwój aparatury pomiarowej i metod badawczych pozwala na przeprowadzenie pomiaru wielkości i rozkładu wielkości cząstek tworzących nanostrukturę, a tym samym umożliwia inge- Introduction There has always been a problem with a clear description of a particle size, but the situation has begun to change radically when it became necessary to determine the nanometric dimensions of particle size. This is due to the production of material structures, consisting of particles with an average diameter of from several to several hundred nanometres, i.e. so-called nano-structures. It is understood that elements of the nanostructure (grain, emissions, the embedded particles, sub-shells, pores) with a diameter of less than 100 nm, substantially affect the elastic-plastic properties (in the range different from the range employed by Hall-Petsch law), resistance to wear and corrosion [1]. For example, the durability of the blades with TiN and (TiAl)N nanocoatings with a grain diameter of 60 nm, applied by physical vapour deposition (PVD arc method), increased respectively 5-fold and 8-fold, compared to the blades without nano-coatings [2]. The continuous development of the measurement apparatus and test methods allows for the measurement of the size and size distribution of particle forming nanostructure, and thus enables 3

5 A. Baliński: Podstawowe zagadnienia związane z pomiarem wielkości i rozkładu wielkości cząstek rencję we właściwości użytkowe wielu materiałów, także tych które składają się z cząstek o wymiarach koloidalnych. Zalicza się do nich popularne spoiwo odlewnicze, jakim jest uwodniony krzemian sodu ( szkło wodne ). Stwierdzono, że istnieje zależność pomiędzy charakterystycznymi parametrami struktury tego spoiwa, a sposobem jego wykonania [3, 4]. Uwodniony krzemian sodu posiadający cząstki koloidalne o korzystnym rozkładzie ich wielkości, charakteryzuje się większą wartością wytrzymałości kohezyjnej. Istnieje zatem możliwość zmniejszenia w masie formierskiej udziału tego rodzaju spoiwa, przy równoczesnym uzyskaniu odpowiednich właściwości wytrzymałościowych masy formierskiej. Pojęcie średnicy cząstki Powstaje zatem pytanie, jak jednoznacznie określić średnią wielkość cząstki ze zbioru cząstek, używając do tego jednego wymiaru charakterystycznego. W przypadku niewielkiej liczności cząstek zadanie to jest stosunkowo proste może to być średnia średnica Martina, minimalna lub maksymalna średnia średnica Fereta, czy też średnia średnica równoważna powierzchni cząstek danego zbioru (rys. 1). Problem zaczyna się komplikować w przypadku rozpatrywania bardzo licznych, milionowych zbiorów cząstek, często o złożonych kształtach, znacznie różniących się od kształtu kulistego. Przykładowo, kształt cząstek proszków może być iglasty, wielościenny, dendrytyczny, włóknisty, płatkowy, granulowy, nieregularny, globularny i kulisty [5]. Ze względu na to, że bryłą, którą można opisać jedną liczbą jest kula, opracowano teorię kuli o średnicy równoważnej (rys. 2) [3, 6]. Takie rozwiązanie stosowane w metodach pomiarowych implikuje jednak konieczność jednoznacznego określenia, jaką właściwość cząstki reprezentuje jej określona średnica, równoważna średnicy kuli. Może to być kula o średnicy równoważnej maksymalnemu lub minimalnemu wymiarowi cząstki (d max, d min ), kula o identycznej masie (d w ), objętości (d V ) lub powierzchni cząstki (d s ), kula przechodząca przez to samo oczko sita (d sita ), czy też kula o takiej samej szybkości sedymentacji (d sed ), co badana cząstka. Można zatem stwierdzić, że różne metody pomiarowe dają różne średnie średnice kul równoważnych. Każda z tych metod jest właściwa, ale interpretacja wyników pomiaru średniej średnicy cząstki wymaga jednoznacznego określenia rodzaju stosowanej metody. Jeżeli zachodzi potrzeba porównywania różnych metod pomiarowych, wymiary standardowe muszą odnosić się do kuli. Żadna z tych metod nie jest zła, każda jest na swój sposób prawidłowa, jednak każda z nich mierzy inną właściwość cząstki. Dla zagadnień związanych z katalizą, ograniczeniem ilości spoiw oraz wszelkich innych, dla których powierzchnia cząstek interference in commercial properties of a variety of materials, including those which are composed of particles of colloidal dimensions. These include the popular casting binder, which is hydrated sodium silicate ( water glass ). It has been found that there is a relationship between the specific parameters of this binder structure, and the method of its implementation [3, 4]. Hydrated sodium silicate having colloidal particles with the advantageous distribution of their size, has a higher cohesive strength value. It is, therefore, possible to reduce the portion of such a binder in moulding sand while obtaining adequate strength characteristics of the moulding sand. The concept of particle diameter The question, therefore, arises how to clearly define an average particle size from the collection of particles, using this one characteristic dimension. In the case of a small particle multiplicity, this task is relatively simple it may be the average Martin s diameter, the minimum or maximum average Feret s diameter, or the average equivalent diameter of the surface of a given particle collection (Fig. 1). The problem gets complicated in the case of very numerous, millionlarge particle collections, often with complex shapes, significantly different from a spherical shape. For example, the shape of the powder particles can be coniferous, polyhedral, dendritic, fibrous, flake-like, granulate, irregular, globular and spherical [5]. Due to the fact that the solid that can be described by a single number is a sphere, the sphere theory with the equivalent diameter (Fig. 2) [3, 6] has been developed. However, this solution used in the measurement methods implies the need to clearly identify which particle characteristic is represented by its specified diameter, equivalent to the diameter of the sphere. This may be a sphere with a diameter equivalent to the maximum or minimum particle dimension (d max, d min ), the sphere of the same weight (d w ), volume (d V ) or the surface of the particle (d s ), a sphere passing through the same sieve mesh (d sita ) or a sphere with the same sedimentation rate (d sed ) as the tested particle. It can be concluded that the different measurement methods give different mean diameters of equivalent spheres. Each of such methods is appropriate, but the interpretation of the results of measuring average particle diameter requires the clear identification of the type of method used. If there is a need to compare different measurement methods, the standard dimensions must be related to the sphere. None of these methods is bad, each in its own way is right; however, each of them measures another feature of the particle. In the case of issues related to catalysis, limiting the number of binders and any other for which the particle size is 4 Prace IOd 1/2013

6 A. Baliński: Basic issues related to the measurement of size and particle size distribution jest najistotniejsza, korzystne będzie porównanie równoważnych kul pod względem ich powierzchni. W przypadku rozwiązywania zagadnień chemicznych, interesująca będzie masa cząstek i ich porównanie pod względem masy. essential, it will be advantageous to compare equivalent spheres in terms of their surface. In the case of solving chemical problems, the mass of particles and their comparison in respect of the mass is interesting. średnica Martina średnica Fereta d Fmin średnica Fereta średnica równoważnika powierzchni cząstki Rys. 1. Różne metody określenia średnicy cząstki Fig. 1. Various methods for determining particle diameter Rys. 2. Kule o identycznych średnicach równoważnych mierzonemu parametrowi cząstki Fig. 2. Spheres with identical diameters equivalent to measured particle parameter W badaniach wielkości cząstek przyjęto następujące średnie D[x,y] = f[(d,n), (d)], w których d jest średnicą pojedynczej cząstki, natomiast n jest liczbą cząstek [3, 6]: 1. D[1,0] = d/n średnia długości (stosowana np. w badaniach mikroskopowych). 2. D[2,0] = [( d 2 /n)] 1/2 średnia powierzchni (stosowana np. w analizatorach powierzchni). 3. D[3,0] = [( d 3 /n)] 1/3 średnia objętości VMD lub średni wymiar masowy (stosowana np. w licznikach Coultera). 4. D[2,1] = d 2 / d średnia powierzchni w stosunku do długości. 5. D[3,1] = [( d 3 / d)] 1/2 kula równoważna pod względem średnicy. 6. D[3,2] = d 3 / d 2 kula równoważna pod względem powierzchni. 7. D[4,3] = d 4 / d 3 kula równoważna pod względem objętości lub masy (stosowana np. w dyfrakcji laserowej). During the studies on particle size, the following mean values have been adopted D[x,y] = f[(d,n), (d)], where d is the diameter of a single particle while n is the number of particles [3, 6]: 1. D[1,0] = d/n average of length (used for example in microscopy). 2. D[2,0] = [( d 2 /n)] 1/2 average of surface (e.g. surface analysers). 3. D[3,0] = [( d 3 /n)] 1/3 average of volume VMD or average mass dimension (e.g. in Coulter counters). 4. D[2,1] = d 2 / d average of surface in relation to the length. 5. D[3,1] = [( d 3 / d)] 1/2 sphere equivalent in respect of diameter. 6. D[3,2] = d 3 / d 2 sphere equivalent in respect of surface area. 7. D[4,3] = d 4 / d 3 sphere equivalent in respect of volume or mass (used e.g. in laser diffraction). Transactions of FRI 1/2013 5

7 A. Baliński: Podstawowe zagadnienia związane z pomiarem wielkości i rozkładu wielkości cząstek Przykładowo, rozpatrując układ 9 cząstek kulistych, w którym jedna cząstka posiada średnicę równą 1 jednostce, pięć cząstek posiada średnicę równą 2 jednostkom, natomiast trzy cząstki posiadają średnicę równą 3 jednostkom, można określić średnią średnicę cząstek, stosując powyższe metody pomiarowe. Wynosi ona: D[1,0] = 2,22 D[2,0] = 2,30 D[3,0] = 2,38 D[2,1] = 2,40 D[3,1] = 2,46 D[3,2] = 2,54 D[4,3] = 2,65. Jak widać, każda z metod pomiarowych daje różne wartości średniej średnicy, gdyż opiera się na pomiarze odmiennych właściwości cząstek. Zachodzi pytanie, czy można dowolnie przekształcać średnie wymiary cząstek. Operacja matematyczna jest prosta, ale konsekwencje takiego przekształcenia mogą być bardzo niekorzystne dla dokładności uzyskanych wyników. Analiza podstawowych metod pomiaru wielkości cząstek Analiza sitowa jest metodą tanią i nadal użyteczną dla pomiaru dużych cząstek o średnicy nm [7]. W metodzie dokonuje się pomiaru drugiego co do wielkości wymiaru cząstki. Im dłużej trwa czas pomiaru, tym uzyskuje się mniejsze wartości wielkości cząstek. Pomiar wielkości cząstek mniejszych od około 38 µm jest bardzo utrudniony. Analiza mikroskopowa pozwala na bezpośrednią obserwację cząstek. Stosując mikroskop elektronowy, możliwe jest określenie średnicy cząstek od około 1 do około 500 nm [7]. Analiza mikroskopowa umożliwia ocenę dyspersji i aglomeracji układu. Do pomiaru średnic używa się specjalnej siatki, wymiary są dodawane i dzielone przez liczbę cząstek, otrzymując w ten sposób wymiar średni D[1,0]. Warto zauważyć, że 1 g cząstek o wymiarach 10 µm i gęstości ρ = 2,5 zawiera cząstek. Nie jest zatem możliwe przebadanie wszystkich cząstek. Jeżeli jest badany rozkład wagowy cząstek, pominięcie lub przeoczenie 1 cząstki o wielkości 10 µm daje ten sam skutek, co przeoczenie 1000 cząstek o wielkości 1 µm. Pojawia się problem, który wymiar cząstki mierzymy. Istnieje realne ryzyko pojawienia się próbki niereprezentatywnej [6]. Stosując metodę analizy obrazu, można określić pole powierzchni rzutu każdej cząstki i uzyskaną wartość podzielić przez liczbę cząstek (D[2,0]). Analiza sedymentacyjna. Teoretycznie może być stosowana do określenia wielkości cząstek o średnicy od około 10 nm do około 10 5 nm [7]. Zasada pomiaru oparta na prawie Stockesa określającego For example, considering the configuration of 9 spherical particles, wherein one particle has a diameter equal to 1 unit, five particles have a diameter equal to two units, and three particles have a diameter equal to 3 units, you can determine the average of particle diameter using the above mentioned measurement methods. It shall be: D[1,0] = 2.22 D[2,0] = 2.30 D[3,0] = 2.38 D[2,1] = 2.40 D[3,1] = 2.46 D[3,2] = 2.54 D[4,3] = As you can see, each of the measurement methods will result in different values of the average diameter, as it is based on the measurement of the different particle properties. The question is whether you can freely transform the average particle size. Mathematical operation is simple, but the consequences of such a transformation can be extremely detrimental to the accuracy of the results. Analysis of the fundamental methods for measuring particle size Mesh analysis is a cheap and still useful method for the measurement of large particles with a diameter of 10 3 to 10 6 nm [7]. The method consists in the measurement of the second largest particle dimension. The longer the measurement time, the smaller the particle size values are obtained. The measurement of the particle size lower than about 38 µm is very difficult. Microscopic analysis allows for the direct observation of the particles. Using an electron microscope, it is possible to determine the particle diameter from about 1 to about 500 nm [7]. The microscopic analysis enables the assessment of dispersion and agglomeration of the configuration. Special mesh is used to measure the diameters, the dimensions are added to and divided by the number of particles, thereby giving an average size of D[1,0]. It is worth noting that 1 g of particles with the dimension of 10 µm and the density of ρ = 2.5 contains particles. It is therefore not possible to examine all the particles. If the weight distribution of particles is studied, an omission or oversight of 1 particle of a size of 10 µm has the same effect as the oversight of 1000 particles of a size of 1 µm. There appears a problem of stating which particle dimension is measured by us. There is a real risk that an unrepresentative sample will appear [6]. Using the image analysis method, you can specify the surface area of the projection of each particle and divide the resulting value by the number of particles (D[2,0]). Analysis of sedimentation. Theoretically, it may be used to determine the particle size with 6 Prace IOd 1/2013

8 A. Baliński: Basic issues related to the measurement of size and particle size distribution prędkość końcową opadania cząstki U S : (1) Stosowana najczęściej w przypadku określenia średnicy cząstek od 2 µm do 50 µm. Rezultatem pomiaru jest średnica Stockesa, która nie jest średnią wagową D[4,3], a wynika z porównania prędkości opadania cząstki z prędkością opadania kulki. W przypadku pomiaru przeprowadzanego dla cząstek o kształcie tarczek, czyli walców o bardzo małej smukłości (np. kaolin), występują duże odchylenia od ich rzeczywistych wymiarów. Jeżeli cząstki są małe, zachodzą dwa rywalizujące procesy: osiadanie grawitacyjne i stochastyczne ruchy Browna. Dla cząstek o wymiarach nieco poniżej 2 µm błąd pomiaru wynosi około 20%, a dla cząstek o wymiarach poniżej 2 µm błędy pomiaru przekraczają nawet 100% [6]. Electrozone Sensing (licznik Coultera) jest metodą stosowaną do pomiaru cząstek o rozmiarach od około 400 do około nm [7]. Metoda została opracowana do pomiaru wielkości krwinek będących monomodalną zawiesiną w elektrolicie. Zjawisko Coultera zawdzięczamy jego odkrywcy Wallace owi Coulterowi, który dokonywał pomiarów zmian konduktancji elektrycznej, komórek zawieszonych w roztworze soli fizjologicznej przepuszczanych przez mały otwór. Technika ta rozwinęła się w połowie lat pięćdziesiątych w zastosowaniu do pomiaru wielkości krwinek, będących monomodalną zawiesiną w rozcieńczonym elektrolicie [8]. Zasada pomiaru jest prosta i polega na przepływie przez kryzę o określonej średnicy, rozcieńczonej zawiesiny pod wpływem przyłożonego napięcia. Powoduje to zmianę reaktancji pojemnościowej, co jest rejestrowane jako impuls prądowy [9]. Pomiary muszą odbywać się w elektrolicie, przy czym wymagane jest stosowanie wzorców kalibracyjnych, zmieniających swoją charakterystykę w wodzie destylowanej i elektrolicie. W przypadku materiałów posiadających stosunkowo szeroki przedział wielkości cząstek, wymagana jest zmiana średnic kryz przepływowych. Za pomocą licznika Coultera można określić objętość każdej cząstki, a suma tych objętości podzielona przez ich liczbę umożliwi określenie D[3,0]. Występują trudności w pomiarze wielkości cząstek emulsji oraz cząstek organicznych (np. żywic syntetycznych). Pomiar wielkości cząstek porowatych obarczony jest dużym błędem pomiarowym. Rozpraszanie światła. Nefelometria i turbidymetria są zaliczane do metod charakteryzujących się bardzo dużą czułością pomiarową Metoda nefelometryczna jest stosowana najczęściej w przypadku występowania cząstek o średnicy od około 200 nm do około 2000 nm, natomiast turbimetryczna dla cząstek o średnicy od około 100 nm do około nm [7]. Metody te stosowane są w przypadku bezbarwnych a diameter of from about 10 nm to about 10 5 nm [7]. The measuring principle is based on the Stockes law determining the falling particle terminal velocity U S : (1) used most often to determining the particle diameter from 2 µm to 50 µm. The result of the measurement is Stocke s diameter, which is not the weighted average D[4,3], and results from the comparison of the particle falling speed with ball settlement speed. In the case of the measurement carried out for tarsus shaped particles, i.e. cylinders with a very low slenderness ratio (e.g. kaolin), there are large deviations from their actual size. If particles are small, there are two competing processes: gravitational settling and Brown s stochastic motions. For the particles with dimensions slightly lower than 2 µm, the error of measurement is approximately 20%, and for the particle sizes below 2 µm the errors of measurement exceed even 100% [6]. Electrozone sensing (Coulter s counter) is the method used to measure particle sizes from approximately 400 to approximately nm [7]. The method was developed to measure the amount of blood cells which are the monomodal suspension in the electrolyte. We owe the Coulter phenomenon to its discoverer, Wallace Coulter, who measured changes in electrical conductance, cells suspended in saline solution passed through a small hole. This technique was developed in the mid-1950s when it was applied to measure the size of blood cells, which are monomodal suspension in dilute electrolyte [8]. The measurement principle is simple and consists in the flow of the dilute suspension under the influence of an applied voltage through the orifice of the predetermined diameter. This results in a change in capacitance, which is recorded as a current pulse [9]. Measurements must be carried out in an electrolyte, which requires the use of reference patterns, changing its characteristics in distilled water and an electrolyte. In the case of materials having a relatively wide range of particle sizes, there is a need to change the flow through orifice diameter. Using the Coulter counter, you can determine the volume of each particle and the sum of these volumes divided by their number will make it possible to determine D[3,0]. There are difficulties measuring the particle size of emulsion and organic particles (for example, synthetic resins). The measurement of porous particle size is encumbered with a considerable measurement error. Light scattering. Nephelometry and turbidimetry are categorised as the methods characterized by a very high measuring sensitivity. The nephelometric method is most often used in the case of particles with a diameter from about 200 nm to about 2000 nm, Transactions of FRI 1/2013 7

9 A. Baliński: Podstawowe zagadnienia związane z pomiarem wielkości i rozkładu wielkości cząstek lub zbliżonych do bezbarwnych zawiesin cząstek, najkorzystniej o rozkładzie wielkości zbliżonym do monodyspersyjnego i podobnym kształcie. Istotne jest również, aby cząstki nie ulegały koagulacji. W nefelometrii przeprowadzany jest pomiar intensywności światła rozproszonego przez roztwór zawierający w przeźroczystym ośrodku cząstki fazy rozproszonej. Warunkiem rozpraszania jest to, aby współczynniki załamania światła fazy rozpraszającej i fazy rozproszonej były różne. Największą rolę w rozpraszaniu odgrywa dyfrakcja i odbicie. W metodzie nefelometrycznej kąt pomiaru promieniowania rozproszonego wynosi najczęściej 90, co umożliwia oddzielenie promieniowania wiązki pierwotnej I 0 od intensywności światła rozproszonego I r. Intensywność światła rozproszonego I r na małych kulistych cząstkach koloidu jest opisana wzorem [10]: gdzie: F współczynnik zależny od geometrii układu optycznego aparatury, I 0 intensywność wiązki pierwotnej, n c liczba cząstek rozpraszających, r promień cząstek, ν liczba falowa, λ długość fali światła, V objętość cząstki. Turbidymetria polega na oznaczaniu ilościowym zawiesiny koloidalnej w badanej próbce, przez pomiar intensywności światła przepuszczanego przez tę próbkę (detektor jest umieszczony na jednej linii z próbką i źródłem światła). Światło padające o intensywności I 0 może w badanej próbce zostać rozproszone (I r ) lub zaabsorbowane (I abs ). Natężenie promieniowania przechodzącego I tr jest więc równe [10]: (2) I tr = I 0 I abs I r (3) W roztworach rzeczywistych (rozmiary cząstek fazy rozproszonej są mniejsze od 1 nm) I r można pominąć, natomiast w przypadku bezbarwnych roztworów koloidalnych, można pominąć I abs. Mierząc zatem wartość promieniowania transmitowanego I tr, można określić wartość promieniowania rozproszonego I r : I r = I 0 I tr (4) DLS (Dynamic Light Scattering) znana również jako PCS (Photon Correlation Spectroscopy) umożliwia pomiar wielkości cząstek od 5 nm do 5000 nm (najkorzystniej do 2000 nm) [3, 6, 8, 11]. W starszych przyrządach do analizy pomiaru wykorzystywana była jedynie teoria Fraunhofera rozpraszania while the turbimetric method is used for particles with a diameter from about 100 nm to about nm [7]. These methods are used in the case of colourless or near-colourless particle suspensions with advantageous distribution of values similar to the monodisperse and similar shape. It is also important that these particles will not be coagulated. In nephelometry, the measurement of intensity of scattered light through solution containing particles of the dispersion phase in the transparent centre is carried out. The condition for scattering is that the refractive indexes of dispersing phase and dispersed phase are different. The most important role in the scattering is played by diffraction and reflection. In the nephelometrical method, the measurement angle of scattered radiation is usually 90, which enables the separation of the primary beam radiation I 0 from the scattered light intensity I r. The scattered light intensity I r and on small spherical colloidal particles is described by the formula [10]: (2) where: F factor depending on the geometry of the optical system of the apparatus, I 0 primary beam intensity, n c number of scattering particles, r radius of the particle, ν wave number, λ wavelength of the light, V volume of the particle. Turbidimetry is a quantitative determination of a colloidal suspension in the test sample, by means of the measurement of light passing through the sample (the detector is in one line with the sample and the light source). Incident light with an intensity of I 0 can be scattered (I r ) or absorbed (I abs ) in the test sample. The intensity of the radiation passing through I tr is therefore equal to [10]: I tr = I 0 I abs I r (3) In the non-ideal solutions (particle sizes of the dispersed phase are less than 1 nm), I r can be omitted, while in the case of colourless colloidal solutions, you can omit I abs. By measuring the value of transmitted radiation I tr, you can specify the scattered radiation value I r : I r = I 0 I tr (4) DLS (Dynamic Light Scattering), also known as PCS (Photon Correlation Spectroscopy), is used to measure particle sizes from 5 nm to 5000 nm (preferably to 2000 nm) [3, 6, 8, 11]. In earlier devices for the analysis of the measurement, only Fraunhofer s light scattering theory was used, which assumes that the 8 Prace IOd 1/2013

10 A. Baliński: Basic issues related to the measurement of size and particle size distribution światła, która zakłada że średnica cząstki jest znacznie większa od długości fali zastosowanego światła (d > 5λ). Ponadto cząstki wszystkich rozmiarów muszą rozpraszać światło równomiernie, a sama cząstka nie jest przeźroczysta i nie przepuszcza światła. Założenia te nie są spełnione dla wielu materiałów, a w przypadku obecności bardzo małych cząstek, błędy pomiarowe dochodzą do 30% struktur materialnych, składających się z cząstek o średniej średnicy wynoszącej od kilku do kilkuset nanometrów. Dokonywany jest pomiar intensywności rozpraszania światła laserowego na powierzchni cząstek i ocena wielkości cząstek (rys. 3). diameter of the particle is greater than the wavelength of the light used (d> 5λ). In addition, the particles of all sizes must equally disperse the light, and the particle itself is not transparent and does not transmit the light. These assumptions are not met in the case of many materials, and, in the case of the presence of very small particles, errors of measurement are up to 30% of material structures, consisting of particles with an average diameter of from several to several hundred nanometres. There is measured the intensity of laser light scattering on the particle surface and the particle size assessment (Figure 3). I cząstki o dużej średnicy czas I cząstki o małej średnicy czas Rys. 3. Fluktuacje intensywności rozpraszania I światła o długości fali λ, rozproszonego na powierzchni cząstek o różnych średnicach d (I ~ d 6, I ~ 1/λ 4 ) Fig. 3. Fluctuations in intensity of light scattering I with wavelength λ scattered on the surface of different diameters particles d (I ~ d 6, I ~ 1/λ 4 ) Jeżeli wartość średnicy cząstki jest zbliżona do wartości długości fali zastosowanego światła, rozpraszanie światła staje się zjawiskiem złożonym, charakteryzującym się występowaniem maksimów i minimów intensywności rozpraszania. W związku z tym, najnowsze przyrządy stosują w pełnym zakresie pomiarów teorię Mie, która umożliwia rozwiązanie równania Maxwella, uwzględniając wzajemne oddziaływanie promieniowania elektromagnetycznego z materią oraz określając maksima i minima intensywności rozpraszania światła. Teoria Mie, zakłada że cząstki są kuliste, mogą absorbować światło i są traktowane jako multipole (monopol + lub, dipol, kwadrupol płaski i przestrzenny, oktupol przestrzenny). Podstawową cechą multipoli (z wyjątkiem monopoli) jest neutralność ich ładunku elektrycznego. Teoria Mie, w przeciwieństwie do teorii Fraunhofera (która dotyczy rzutu powierzchni cząstki) opiera się na pojęciu objętości cząstki i umożliwia transformację mierzonego rozkładu intensywności rozpraszania światła na objętość cząstek, a następnie na ich liczbę. Przeprowadzenie pomiaru wymaga dogłębnej znajomości współczynników refrakcji fazy rozpraszającej If the diameter of particles is similar to the wavelength of the used light, light scattering becomes a complex phenomenon characterized by the presence of maximums and minimums of the dispersion intensity. Therefore, the latest devices apply Mie theory to the full extent of measurements, which allows for solving the Maxwell equations, taking into account the interaction of electromagnetic radiation with matter and the maximums and minimums of the light scattering intensity. Mie theory assumes that the particles are spherical, can absorb light and are treated as a multipole (monopole + or, dipole, flat and three dimensional quadrupole and three-dimensional octupole). The main feature of multipoles (with the exception of monopoles) is their electric charge neutrality. In contrast to Fraunhofer theory (which relates to the particle surface projection), the Mie theory is based on the concept of particle volume and enables the transformation of the measured distribution of light dispersion intensity on the volume of particles, and then on their number. Carrying out the measurement requires thorough knowledge on the dispersion and dispersed phase refraction index and the dynamic viscosity of Transactions of FRI 1/2013 9

11 A. Baliński: Podstawowe zagadnienia związane z pomiarem wielkości i rozkładu wielkości cząstek i rozproszonej oraz lepkości dynamicznej badanego układu, określonej w ściśle założonej temperaturze. Przeprowadzane pomiary dotyczą całej próbki i nie powodują jej zniszczenia, czy też wywołania zmian strukturalnych. Rozkład objętościowy cząstek jest mierzony bezpośrednio i w przypadku stałej gęstości cząstek jest identyczny z rozkładem masowym. PCS stanowi zatem znaczny postęp w obszarze metod pomiarowych wielkości cząstek. W tego rodzaju metodzie dokonuje się pomiarów stochastycznych ruchów Browna i na tej podstawie analizuje wielkość cząstek. Jest zwykle stosowana do pomiaru wielkości cząstek w fazie ciekłej, aczkolwiek może być także stosowana do pomiaru wielkości cząstek występujących w aerozolach. Ma ona ograniczenia i nie może być stosowana, jeżeli stochastyczność ruchów Browna zostaje zaburzona oraz gdy cząstki są zbyt duże i ulegają sedymentacji. Górna granica stosowalności PCS zależy zwykle od gęstości próbki, natomiast dolna od jej skłonności sedymentacyjnych. Jest zalecana w przypadku pomiaru wielkości cząstek o kształcie sferycznym i zbliżonym do niego oraz rozkładzie monomodalnym o małej polidyspersyjności. Trudności interpretacji wyników związane są z zanieczyszczeniami badanej próbki oraz z ruchami konwekcyjnymi zaburzającymi stochastyczne ruchy Browna. Na rysunkach 4 7 przedstawiono przykładowe rozkłady oraz kumulanty procentowe intensywności rozpraszania, objętości i liczby koloidalnych cząstek o różnych ekwiwalentnych średnich średnicach uwodnionego krzemianu sodu SSS_1 i SSS_2. the tested system, as defined at the strictly predetermined temperature. The carried out measurements involve the entire sample and do not destroy it or cause structural changes. Particle volume distribution is measured directly and in a case of constant particle density is identical to the mass distribution. Therefore, PCS means a significant progress in the field of particle size measurement methods. There are carried out measurements of Brown s stochastic movements in this type of method and on this basis particle sizes are analysed. It is typically used to measure the number of particles in the liquid, although it can also be used in the measurement of the volume of particles in aerosols. It is restricted and may not be used, if stochasticity of Brown movements is interrupted and if the particles are too large and are subjected to sedimentation. The upper limit of the applicability of the PCS is usually dependent on the density of the sample, while the bottom limit on its sedimentation tendency. It is recommended in the case of measurement of the size of spherical particles and particles close to spherical shape, and with a monomodal distribution with low polydispersity. Difficulties with the interpretation of the results are related to contamination of the tested sample and the convection movements disrupting Brown s stochastic movements. Figures 4 7 show example distributions and the percentage cumulants of scattering intensity, volumes and the numbers of colloidal particles having different equivalent average diameters of hydrated sodium silicate SSS_1 and SSS_ % Intensywność Objętość Liczba cząstek Średnica cząstek, nm Rys. 4. Rozkład intensywności rozproszenia światła laserowego, objętości i liczby cząstek w koloidzie SSS_1, określony metodą PCS Fig. 4. Distribution of laser light dispersion intensity, volume and number of particles in colloid SSS_1, as determined by PCS method 10 Prace IOd 1/2013

12 A. Baliński: Basic issues related to the measurement of size and particle size distribution Kumulanta, % Średnica cząstek, nm Intensywność Objętość Liczba cząstek Rys. 5. Kumulanty procentowe rozkładu intensywności rozproszenia światła laserowego, objętości i liczby cząstek w koloidzie SSS_1, określony metodą PCS Fig. 5. Percentage cumulants of laser light dispersion intensity, volume and number of particles in colloid SSS_1, as determined by PCS method % Średnica cząstek, nm Intensywność Objętość Liczba cząstek Rys. 6. Rozkład intensywności rozproszenia światła laserowego, objętości i liczby cząstek w koloidzie SSS_2, określony metodą PCS Fig. 6. Distribution of laser light dispersion intensity, volume and number particles in colloid SSS_2, as determined by PCS method Kumulanta, % Średnica cząstek, nm Intensywność Objętość Liczba cząstek Rys. 7. Kumulanty procentowe rozkładu intensywności rozproszenia światła laserowego, objętości i liczby cząstek w koloidzie SSS_2, określony metodą PCS Fig. 7. Percentage cumulants of laser light dispersion intensity, volume and number of particles in colloid SSS_2, as determined by PCS method Transactions of FRI 1/

13 A. Baliński: Podstawowe zagadnienia związane z pomiarem wielkości i rozkładu wielkości cząstek Wnioski Nie istnieje standardowa metoda określenia wielkości cząstek. Każda ze stosowanych metod pomiaru wielkości cząstek, oparta na pojęciu kuli ekwiwalentnej, jest prawidłowa. Wiarygodne porównanie pomiarów, np. średniej średnicy cząstek występujących w różnych układach rozproszonych, jest możliwe tylko w przypadku zastosowania analogicznej metody pomiarowej. Podając wyniki pomiarów wielkości cząstek, należy przedstawić zastosowaną metodę pomiaru D[x,y] = f[(n,d],(d)], gdzie n jest liczbą badanych cząstek, natomiast d jest ich średnicą. Podziękowania Publikacja powstała w wyniku badań prowadzonych w ramach projektu KBN 7T08B : Badania wpływu struktury uwodnionego krzemianu sodu na wytrzymałość kohezyjną wieloskładnikowego układu mas formierskich utwardzanych chemicznie. Conclusions There is no standardized method for determining particle size. Each of the used particle size measurement methods, based on the concept of an equivalent sphere, is correct. A reliable comparison of measurements, such as an average diameter of particles present in a variety of dispersed systems is possible only when using a similar measurement method. Providing the results of particle size measurements, it is necessary to submit the used measurement method D[x,y] = f[(n,d],(d)], where n is the number of particles, and d is their diameter. Acknowledgements The publication was developed as a result of research carried out under the KBN project 7T08B : Research on the effects of hydrated sodium silicate cohesive strenght of the molding multiple chemically curing. Literatura/References 1. Retrieved March 11, Czechowski, K., Wronska, I. (2011). Powłoki nanostrukturalne na narzędzia skrawające. Mechanik, 84(12), Baliński A. (2000). Wybrane zagadnienia technologii mas formierskich ze spoiwami nieorganicznymi. Struktura uwodnionego krzemianu sodu i jej wpływ na wiązanie mas formierskich. Kraków: Instytut Odlewnictwa. 4. Baliński A. (2009). O strukturze uwodnionego krzemianu sodu jako spoiwa mas formierskich. Kraków: Instytut Odlewnictwa. 5. PN-EN ISO 3252:2002 Metalurgia proszków. 6. Rawle A. (1997). The importance of particle size and Zeta potential. UK: Malvern Instruments Ltd. 7. Retrieved March 11, Allen T. (1992). Particle Size Measurement. UK: Chapman & Hall. 9. Retrieved March 11, zcha.umed.pl/data/accounts/.../instrukcja_metody_optyczne.doc. Retrieved March 11, PCS Applications Training Manual. Part 5: Zeta Potential Theory. (1998). UK: Malvern Instruments Ltd. 12 Prace IOd 1/2013

14 PRACE INSTYTUTU ODLEWNICTWA TRANSACTIONS OF FOUNDRY RESEARCH INSTITUTE Volume LIII Year 2013 Number 1 DOI: /iod BADANIE POWIERZCHNIOWYCH ZANIECZYSZCZEŃ JONOWYCH WYSTĘPUJĄCYCH NA PŁYTKACH OBWODÓW DRUKOWANYCH IONIC CONTAMINATION TESTS ON PRINTED CIRCUIT BOARDS Magdalena Bacior 1), Aleksandra Siewiorek, Artur Kudyba, Natalia Sobczak 2) 1) Uniwersytet Rolniczy im. H. Kołłątaja w Krakowie, Wydział Rolniczo-Ekonomiczny, Katedra Chemii i Fizyki, ul. Balicka 122, Kraków, 2) Instytut Odlewnictwa, Centrum Badań Wysokotemperaturowych, ul. Zakopiańska 73, Kraków 1) University of Agriculture in Krakow, Faculty of Agriculture and Economics, Department of Chemistry and Physics, ul. Balicka 122, Kraków, 2) Foundry Research Institute, Center for High-Temperature Studies, ul. Zakopiańska 73, Kraków Streszczenie W pracy przedstawiono wyniki badań wpływu rodzaju pokrycia płytek obwodów drukowanych PCB na ilość występujących na ich powierzchni zanieczyszczeń jonowych. Badania wykonano w temperaturze pokojowej na płytkach PCB z trzema rodzajami pokrycia: HASL LF bezołowiowe, ENIG, OSP pokrycie organiczne. Słowa kluczowe: zanieczyszczenia jonowe, płytki PCB Abstract The paper presents the results of the effect of coating type on the amount of ionic contaminants present on printed circuit boards. The study was performed at the RT on the PCB with three types of coatings: HASL LF lead-free, ENIG, OSP organic coating. Keywords: ionic contamination, PCB Wprowadzenie Płytki obwodu drukowanego PCB (ang. Printed Circuit Board) wchodzą w skład wielu urządzeń elektronicznych. Można je spotkać zarówno w sprzęcie powszechnego użytku, jak również w sprzęcie specjalistycznym. PCB jest to płytka izolacyjna odpowiedniej grubości i sztywności, pokryta licznymi przewodzącymi ścieżkami i polami lutowniczymi. W wielowarstwowych płytkach ścieżka połączeń jest trójwymiarowa i łączy elementy poszczególnych warstw. Jako materiał przewodzący zwykle stosuje się miedź lub nikiel z dodatkiem fosforu (około 9% wag. P) [1]. Na pola lutownicze oraz ścieżki przewodzące nanosi się powłoki ochronne (np. HASL LF, ENIG, OSP), których głównym celem jest zapobieganie procesowi utleniania materiału przewodzącego (Cu lub Ni-P) w okresie między wytworzeniem płytki a procesem lutowania komponentów elektronicznych na płytce. Powłoki ochronne wpływają też na jakość połączenia lutowanego, ponieważ tworzone z ich udziałem związki Introduction The printed circuit boards (PCB) are included in many electronic devices. They can be found both in consumer electronics, as well as in specialised equipment. The printed circuit board PCB is the insulation board with a suitable thickness and stiffness, covered with numerous conductive tracks and soldering fields. In multi-layer boards, the connection track is three-dimensional and combines elements of individual layers. Copper or nickel with phosphorus additive (about 9% by weight of P) [1] are normally used as conductive materials. On the soldering fields and conductive tracks are applied protective coatings (e.g., HASL LF, ENIG, OSP), the main aim of which is to prevent the oxidation process of the conductive material (Cu or Ni-P) in the period between the board formation and the soldering process of electronic components on the board. The protective coatings also affect the quality of the soldered connection, because of intermetallic compounds generated with 13

15 M. Bacior, A. Siewiorek, A. Kudyba, N. Sobczak: Badanie powierzchniowych zanieczyszczeń jonowych... międzymetaliczne na granicy rozdziału powłoka/ lutowie wpływają na właściwości elektryczne, mechaniczne i niezawodność połączenia lutowanego [2]. W pracach [3, 4] badano wpływ rodzaju pokrycia oraz stosowanego topnika na lutowność płytek PCB stopem bezołowiowym SAC305. Badania wykonano w temperaturze 260 C na płytkach z trzema rodzajami pokrycia (HASL LF bezołowiowe, ENIG, OSP), stosując 2 gatunki topnika (EF2202 i RF800). Najkrótszy czas zwilżania zanotowano w przypadku płytek z pokryciem OSP. Dla płytek z pokryciem ENIG czas zwilżania był najdłuższy. Zanieczyszczenia obecne na zespołach elektronicznych, w warunkach zwiększonej wilgotności mogą powodować obniżenie oporności powierzchniowej izolacji i w konsekwencji wzrost upływu prądu, korozję chemiczną i elektrochemiczną pokryć galwanicznych, powstawanie dendrytów. Prowadzi to do uszkodzeń wyrobów elektronicznych, a więc pogarsza ich niezawodność. Dlatego istotne jest mycie podzespołów w celu usunięcia cząstek ciał obcych, pozostałości topnika i innych zanieczyszczeń [1, 5]. Zespoły elektroniczne na płytkach drukowanych powstają w wyniku szeregu skomplikowanych procesów, takich jak: wytwarzanie obwodów drukowanych, nanoszenie powłok ochronnych, montaż podzespołów, lutowanie, mycie. Każdy z procesów może być źródłem zanieczyszczeń. Wyróżniamy trzy typy zanieczyszczeń [1, 2, 5]: jonowe, niejonowe i inne, wśród których zanieczyszczenia jonowe są zanieczyszczeniami najgroźniejszymi. Pod wpływem wody rozpadają się one na jony i przewodzą prąd. Przykładowo chlorek sodu występujący w pocie ludzkim pod wpływem wilgoci rozpada się na jony: NaCl Na + + Cl -. Pozostawienie zanieczyszczeń jonowych szczególnie chlorków i bromków na podłożu prowadzi do korozji na skutek różnicy potencjału między metalami mającymi kontakt przez wilgoć oraz do przepływu prądu związanego z obecnością jonów. Największe źródło zanieczyszczeń stanowią procesy, w których biorą udział topniki czyli na przykład nakładanie powłok metalowych na płytki drukowane metodą HASL oraz lutowanie. W trakcie lutowania źródłem jonów mogą być topniki, produkty termicznej degradacji topników, a w wyższej temperaturze lutowania stopami bezołowiowymi produkty reakcji między topnikami a tlenkami na końcówkach elementów lutowanych i lutowiu. W zależności od metody pomiarowej wyróżniamy różne wartości dopuszczalnego zanieczyszczenia. Dla pomiarów przy użyciu jonografu wartość ta wynosi 3,1 µg NaCl/cm 2 [5, 8]. Według innych źródeł przyjmuje się, że zanieczyszczenia na płytkach drukowanych i podzespołach elektronicznych wchodzących do montażu nie powinny przekraczać wartości 0,8 µg NaCl/cm 2 [6, 7]. W pracy przedstawiono wyniki badań wpływu rodzaju pokrycia płytek PCB na ilość występujących their participation on the split line coating/solder affect the electrical, mechanical characteristics as well as the reliability of a soldered connection [2]. An influence of coating type and applicable fluxing agent on the solderability of PCBs with the SAC305 lead-free alloy was tested under the works [3, 4]. Tests were performed at a temperature of 260 C on the boards with three types of coating (HASL LF lead-free, ENIG, OSP), using two types of fluxing agents (EF2202 and RF800). The shortest moistening time was observed in the case of boards coated with OSP. The longest moistening time was observed in the case of boards coated with ENIG. Contaminants present in the electronic assemblies, in the increased moisture conditions may result in the reduction of insulation surface resistance and in consequence the increase in electrical leakage, chemical and electrochemical corrosion of galvanic coatings, formation of dendrites. This leads to damage of electronic products, and thus impairs their reliability. Therefore, it is important to wash components in order to remove foreign bodies, particles, residues of fluxing agent and other impurities [1, 5]. Electronic components on the circuit boards are the result of a series of complex processes, such as production of printed circuits, application of protective coatings, installation of components, soldering, cleaning. Each of the processes can be a source of impurities. There are three types of contaminants [1, 2, 5]: ionic, non-ionic and other, among which ionic contaminants are the most serious contaminants. Under the influence of water, they decompose into ions and conduct electricity. For example, sodium chloride appearing in human sweat decomposes into ions: NaCl Na + + Cl - under the influence of moisture. Leaving the ionic contaminants, particularly chlorides and bromides, on the substrate leads to corrosion due to the potential difference between the metals having contact due to moisture, and the current flow associated with the presence of ions. The largest sources of contaminants are processes involving fluxing agents, that is for example, applying the metal coatings on the PCB boards with the HASL method and soldering. While soldering the fluxing agents, the products of the fluxing agent thermal degradation can be the source of ions, and at the higher temperature of soldering with lead-free alloys products of the reaction between fluxing agents and oxides on the ends of soldered components and solder. Depending on the method of measurement, there are different values of allowable contamination. For measurements with the help of ionograph, this value is 3.1 µg NaCl/cm 2 [5, 8]. According to other sources, it is assumed that the contamination of PCB and electronic components included in the installation should not exceed 0.8 µg NaCl/cm 2 [6, 7]. 14 Prace IOd 1/2013

16 M. Bacior, A. Siewiorek, A. Kudyba, N. Sobczak: Ionic contamination tests on printed circuit boards zanieczyszczeń jonowych na płytkach obwodów drukowanych. Badania wykonano w temperaturze pokojowej na płytkach PCB z trzema rodzajami pokrycia (HASL LF bezołowiowe, ENIG, OSP pokrycie organiczne). Materiały i metodyka badawcza Materiały do badań Materiałami do badań były płytki obwodów drukowanych PCB (producent ELTAR) z trzema rodzajami pokryć, których szczegółowa charakterystyka podana jest w tabeli 1. The results of the impact of such PCB boards coating on the amount of ionic contaminants present in printed circuit boards were presented in the paper. The tests were performed at a room temperature on PCB with three types of coating (HASL LF lead-free, ENIG, OSP organic coating). Materials and research methods Test material The test materials were printed circuit boards PCB (manufacturer ELTAR) with three types of coating. The detailed description is given in table 1. Tabela 1. Rodzaje pokryć na płytkach PCB stosowanych do badań zanieczyszczeń jonowych Table 1. Types of PCB finishes used in ionic contamination tests Rodzaj pokrycia Type of coating HASL LF ENIG OSP Opis / Description (ang. Hot Air Solder Leveling process), bezołowiowe lutowie (SnCu lub SnAgCu) o grubości 1,3 35 µm naniesione na Cu Hot Air Solder Levelling process, lead-free solder (SnCu or SnAgCu) with a thickness of µm applied on Cu (ang. Electroless Nickel Immersion Gold coating), warstwa 0,05 0,25 µm złota na 1 8 µm niklu naniesiona na Cu Electroless Nickel Immersion Gold coating, µm layer of gold on 1 8 µm of nickel applied on Cu (ang. Organic Surface Preservatives), związki organiczne: pochodne benzimidazoli, imidazoli, arylofenyloimidazoli o typowej grubości 0,2 0,5 µm naniesione na Cu Organic Surface Preservatives, organic compounds: derivatives of benzimidazoles, imidazoles and arylofenyloimidazoles with a typical thickness of µm applied on Cu Grubość warstwy Cu, µm Cu coating thickness, µm i 35 / 18 and i 35 / 18 and 35 Badano poziom zanieczyszczeń jonowych powierzchni płytek obwodów drukowanych oraz identycznych płytek z dolutowanymi do nich komponentami. Badane próbki różniły się rodzajem i grubością pokrycia. Były to płytki z pokryciem naniesionym metodą HASL, płytki z pokryciem ENIG oraz płytki z pokryciem OSP, o grubościach 18 µm i 35 µm. Powierzchnia każdej płytki wynosiła 143 cm 2. Przykładową płytkę PCB z pokryciem ENIG przedstawiono na rysunku 1. W drugim etapie badań powierzchnie płytek bez komponentów poddano działaniu topników EF2202 oraz RF800 a następnie ponownie zbadano poziom występujących na nich zanieczyszczeń. Metodyka i aparatura badawcza Do sprawdzenia czystości płytek drukowanych (PCB) zastosowano jonograf Contamino CT100 firmy Métronélec, Francja (rys. 2). Jonograf ten jest urządzeniem pozwalającym w prosty i precyzyjny sposób zmierzyć poziom zanieczyszczenia jonami płytek obwodów drukowanych [9]. The level of surface ionic contamination of the printed circuit boards and identical boards with soldered components was tested. Test samples differed in the type and thickness of the coating. They were boards with coating applied with the HASL method, boards with ENIG coating and boards with TSO coating with a thicknesses of 18 µm and 35 µm. The surface of each board was 143 cm 2. A sample PCB board with the ENIG coating is shown in Figure 1. In the second stage of the tests, the surfaces of the board without components were treated with the fluxing agent EF2202 and RF800, and then was carried out the re-examination of the present contaminant level. Methodology and test apparatus Ionograph Contamino CT100 Métronélec, France (Figure 2) has been used to check the cleanliness of the printed circuit board (PCB). This ionograph is the device that allows you to easily and accurately measure the ion contamination level of printed circuit boards [9]. Transactions of FRI 1/

17 M. Bacior, A. Siewiorek, A. Kudyba, N. Sobczak: Badanie powierzchniowych zanieczyszczeń jonowych... a) b) a) b) Rys. 1. Wygląd przykładowej płytki PCB z pokryciem ENIG o grubości 18 µm: a) bez wlutowanych komponentów; b) z wlutowanymi komponentami Fig. 1. Example of PCB ENIG 18: a) without soldered components; b) with soldered components Rys. 2. Jonograf Contamino CT100, Métronélec (Francja) Fig. 2. Ionic contamination tester Contamino CT100, Métronélec (France) Nawet po bardzo dobrym czyszczeniu płytek drukowanych można zarejestrować na nich pewien osad. Do jego ekstrakcji stosuje się roztwór ultraczystego izopropanolu i zdejonizowanej wody (propanol-2). Alkohol rozpuszcza składniki niepolarne, natomiast woda reszty polarne osadu [10]. Przed rozpoczęciem pomiarów sporządzono 5 litrów 50% roztworu ultraczystego izopropanolu i zdejonizowanej wody. Na początku każdej serii pomiarowej zmierzono temperaturę roztworu i jego gęstość oraz korzystając z wykresu kalibracyjnego, zależności stężenia procentowego roztworu od jego gęstości dla danej temperatury sprawdzono, czy stężenie roztworu mieści się między 45% a 55% i przystąpiono do pomiarów. Przed każdym pomiarem dokonywano automatycznej regeneracji roztworu. Wyniki badań Wyniki badań zanieczyszczeń jonowych w funkcji czasu t powierzchni płytek PCB bez wlutowanych komponentów przedstawiono na rysunkach 3 i 4. Even after a very good cleaning of the printed circuit boards, some deposits can be seen on them. The ultra-pure isopropanol and deionized water (2-propanol) solution is used for its extraction. Alcohol dissolves non-polar components while water dissolves the polar rest of the deposit [10]. 5 litres of 50% ultra-clear isopropanol and deionized water solution had been prepared before measurements started. The temperature of the solution and its density were measured at the beginning of each measurement series, and with the help of the calibration graph of the relation between the solution percentage concentration and the density at the given temperature, it was examined whether the concentration of the solution is between 45% and 55%, and then measurement started. Automatic regeneration of the solution had been made before each measurement. Test results The results of ionic contamination tests as a function of time t of the PCB boards surface without soldered components are shown in figures 3 and Prace IOd 1/2013

18 M. Bacior, A. Siewiorek, A. Kudyba, N. Sobczak: Ionic contamination tests on printed circuit boards Rys. 3. Zależność zanieczyszczenia jonowego wyrażonego w µg NaCl/cm 2 powierzchni płytek PCB o różnych pokryciach, bez wlutowanych komponentów w funkcji czasu: a) pokrycie ENIG, grubość warstwy miedzi 18 µm; b) pokrycie ENIG, 35 µm; c e) pokrycie HASL LF, 18 µm; f) pokrycie HASL LF, 35 µm Fig. 3. Ionic contamination expressed as µg NaCl/cm 2 for different PCB surface, without soldered components as a function of time: a) ENIG surface finish, the thickness of copper layer 18 µm; b) ENIG surface finish, 35 µm; c e) HASL LF surface finish, 18 µm; f) HASL LF surface finish, 35 µm Transactions of FRI 1/

19 M. Bacior, A. Siewiorek, A. Kudyba, N. Sobczak: Badanie powierzchniowych zanieczyszczeń jonowych... Rys. 4. Zależność zanieczyszczenia jonowego wyrażonego w µg NaCl/cm 2 powierzchni płytek PCB o różnych pokryciach, bez wlutowanych komponentów w funkcji czasu: a b) pokrycie OSP, grubość warstwy miedzi 18 µm; c) pokrycie OSP, 35 µm Fig. 4. Ionic contamination expressed as µg NaCl/cm 2 for different PCB surface finishes without soldered components as a function of time: a b) OSP surface finish, the thickness of copper layer 18 µm; c) OSP surface finish, 35 µm W grupie płytek bez wlutowanych elementów najmniejszą średnią wartość zanieczyszczenia uzyskano dla powierzchni ENIG o grubości warstwy miedzi 18 µm: 0,01 µg NaCl/cm 2, a największą dla powierzchni HASL LF, 18 µm: 0,149 µg NaCl/cm 2. Zanieczyszczenia jonowe na powierzchni płytek PCB z wlutowanymi elementami przedstawiono na rysunkach 5 i 6. Najmniej zanieczyszczone były płytki z pokryciem HASL LF, 18 µm: 0,289 µg NaCl/cm 2, a najbardziej zanieczyszczone płytki z pokryciem organicznym, o grubości warstwy miedzi 18 µm: 0,441 µg NaCl/cm 2. Wykresy zamieszczone na rysunkach 7 i 8 przedstawiają zanieczyszczenia płytek poddanych działaniu topnika EF2202. Najniższą wartość zanieczyszczenia w tej grupie miały płytki z powłoką OSP, 18 µm: 0,545 µg NaCl/cm 2, a najwyższą płytki z pokryciem organicznym o grubości warstwy miedzi równej 35 µm: 1,172 µg NaCl/cm 2. Zanieczyszczenia powierzchni płytek PCB, poddanych działaniu topnika RF800 przedstawiają wykresy 9 i 10. Otrzymane wartości mieszczą się w zakresie między 0,828 µg NaCl/ In the group of boards without soldered components, the lowest average value of contamination was obtained for the ENIG surface with the thickness of the copper 18 µm: 0.01 g NaCl/cm 2, and the highest for the HASL LF surface, 18 µm: µg NaCl/cm 2 ). Ionic contaminants on the surface of the PCB boards with soldered components are shown in figures 5 and 6. The least contaminated boards had HASL LF coating, 18 µm: g NaCl/cm 2, and most contaminated boards had an organic coating, with a copper layer thickness of 18 µm: µg NaCl/cm 2. Graphs presented in Figures 7 and 8 show the contamination of boards treated with the EF2202 fluxing agent. The lowest amount of contamination in this group had the boards with the OSP coating, 18 µm: µg NaCl/cm 2, and the highest boards with the organic coating with the copper layer thickness of 35 µm: µg NaCl/cm 2. Surface contamination of the PCB boards, treated with the RF800 fluxing agent is shown in graphs 9 and Prace IOd 1/2013

20 M. Bacior, A. Siewiorek, A. Kudyba, N. Sobczak: Ionic contamination tests on printed circuit boards cm 2 dla OSP 18 µm a 1,057 µg NaCl/cm 2 dla płytek z pokryciem HASL LF, 18 µm. Zestawienie wyznaczonych wartości zanieczyszczeń jonowych wraz z ich wartościami średnimi zaprezentowano w tabeli 2, w nawiasach podano oznaczenia badanych płytek. The obtained values are in the range between µg NaCl/cm 2 for OSP 18 µm and µg NaCl/ cm 2 for boards with HASL LF, coating 18 µm. The summary of the set values of ionic contamination and their mean values are shown in Table 2, designations of tested boards are in brackets. Rys. 5. Zależność zanieczyszczenia jonowego wyrażonego w µg NaCl/cm 2 powierzchni płytek PCB o różnych pokryciach z wlutowanymi komponentami w funkcji czasu: a b) pokrycie ENIG, grubość warstwy miedzi 18 µm; c d) pokrycie ENIG, 35 µm; e f) pokrycie HASL LF, 18 µm Fig. 5. Ionic contamination expressed as µg NaCl/cm 2 for different PCB surface finishes without soldered components as a function of time: a b) ENIG surface finish, the thickness of copper layer 18 µm; c d) ENIG surface finish, 35 µm; e f) HASL LF surface finish, 18 µm Transactions of FRI 1/

Proposal of thesis topic for mgr in. (MSE) programme in Telecommunications and Computer Science

Proposal of thesis topic for mgr in. (MSE) programme in Telecommunications and Computer Science Proposal of thesis topic for mgr in (MSE) programme 1 Topic: Monte Carlo Method used for a prognosis of a selected technological process 2 Supervisor: Dr in Małgorzata Langer 3 Auxiliary supervisor: 4

Bardziej szczegółowo

Akademia Morska w Szczecinie. Wydział Mechaniczny

Akademia Morska w Szczecinie. Wydział Mechaniczny Akademia Morska w Szczecinie Wydział Mechaniczny ROZPRAWA DOKTORSKA mgr inż. Marcin Kołodziejski Analiza metody obsługiwania zarządzanego niezawodnością pędników azymutalnych platformy pływającej Promotor:

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH Gliwice, wrzesień 2005 Pomiar napięcia przemiennego Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie dokładności woltomierza cyfrowego dla

Bardziej szczegółowo

Cracow University of Economics Poland. Overview. Sources of Real GDP per Capita Growth: Polish Regional-Macroeconomic Dimensions 2000-2005

Cracow University of Economics Poland. Overview. Sources of Real GDP per Capita Growth: Polish Regional-Macroeconomic Dimensions 2000-2005 Cracow University of Economics Sources of Real GDP per Capita Growth: Polish Regional-Macroeconomic Dimensions 2000-2005 - Key Note Speech - Presented by: Dr. David Clowes The Growth Research Unit CE Europe

Bardziej szczegółowo

WPŁYW CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI MATERIAŁU NA GRUBOŚĆ POWŁOKI PO ALFINOWANIU

WPŁYW CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI MATERIAŁU NA GRUBOŚĆ POWŁOKI PO ALFINOWANIU 51/17 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2005, Rocznik 5, Nr 17 Archives of Foundry Year 2005, Volume 5, Book 17 PAN - Katowice PL ISSN 1642-5308 WPŁYW CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI MATERIAŁU NA GRUBOŚĆ POWŁOKI PO ALFINOWANIU

Bardziej szczegółowo

Formation of Graded Structures and Properties in Metal Matrix Composites by use of Electromagnetic Field

Formation of Graded Structures and Properties in Metal Matrix Composites by use of Electromagnetic Field Ludmil Drenchev Jerzy J. Sobczak Formation of Graded Structures and Properties in Metal Matrix Composites by use of Electromagnetic Field This project is funded by the Ministry of Education, Youth and

Bardziej szczegółowo

WPŁYW MIESZANKI EGZOTERMICZNEJ NA BAZIE Na 2 B 4 O 7 I NaNO 3 NA WYTRZYMAŁOŚĆ NA ROZCIĄGANIE STOPU AlSi7Mg

WPŁYW MIESZANKI EGZOTERMICZNEJ NA BAZIE Na 2 B 4 O 7 I NaNO 3 NA WYTRZYMAŁOŚĆ NA ROZCIĄGANIE STOPU AlSi7Mg 4/ Archives of Foundry, Year 006, Volume 6, Archiwum Odlewnictwa, Rok 006, Rocznik 6, Nr PAN Katowice PL ISSN 64-508 WPŁYW MIESZANKI EGZOTERMICZNEJ NA BAZIE Na B 4 O 7 I NaNO NA WYTRZYMAŁOŚĆ NA ROZCIĄGANIE

Bardziej szczegółowo

Krytyczne czynniki sukcesu w zarządzaniu projektami

Krytyczne czynniki sukcesu w zarządzaniu projektami Seweryn SPAŁEK Krytyczne czynniki sukcesu w zarządzaniu projektami MONOGRAFIA Wydawnictwo Politechniki Śląskiej Gliwice 2004 SPIS TREŚCI WPROWADZENIE 5 1. ZARZĄDZANIE PROJEKTAMI W ORGANIZACJI 13 1.1. Zarządzanie

Bardziej szczegółowo

Evaluation of the main goal and specific objectives of the Human Capital Operational Programme

Evaluation of the main goal and specific objectives of the Human Capital Operational Programme Pracownia Naukowo-Edukacyjna Evaluation of the main goal and specific objectives of the Human Capital Operational Programme and the contribution by ESF funds towards the results achieved within specific

Bardziej szczegółowo

Fig 5 Spectrograms of the original signal (top) extracted shaft-related GAD components (middle) and

Fig 5 Spectrograms of the original signal (top) extracted shaft-related GAD components (middle) and Fig 4 Measured vibration signal (top). Blue original signal. Red component related to periodic excitation of resonances and noise. Green component related. Rotational speed profile used for experiment

Bardziej szczegółowo

MODYFIKACJA SILUMINU AK20. F. ROMANKIEWICZ 1 Politechnika Zielonogórska,

MODYFIKACJA SILUMINU AK20. F. ROMANKIEWICZ 1 Politechnika Zielonogórska, 42/44 Solidification of Metals and Alloys, Year 2000, Volume 2, Book No. 44 Krzepnięcie Metali i Stopów, Rok 2000, Rocznik 2, Nr 44 PAN Katowice PL ISSN 0208-9386 MODYFIKACJA SILUMINU AK20 F. ROMANKIEWICZ

Bardziej szczegółowo

Call 2013 national eligibility criteria and funding rates

Call 2013 national eligibility criteria and funding rates Call 2013 national eligibility criteria and funding rates POLAND a) National eligibility criteria Funding Organisation National Contact Point National Center for Research and Development (Narodowe Centrum

Bardziej szczegółowo

2014-3-30. Urbanek J., Jabłoński A., Barszcz T ssswedfsdfurbanek J., Jabłoński A., Barszcz T., Wykonanie pomiarów

2014-3-30. Urbanek J., Jabłoński A., Barszcz T ssswedfsdfurbanek J., Jabłoński A., Barszcz T., Wykonanie pomiarów Wykonanie pomiarów sygnałów wibroakustycznych przy stałych oraz zmiennych warunkach eksploatacyjnych na stanowisku testowym. Część II: Analiza poprawności pomiarów. Autorzy: Urbanek J., Jabłoński A., Barszcz

Bardziej szczegółowo

Metodyki projektowania i modelowania systemów Cyganek & Kasperek & Rajda 2013 Katedra Elektroniki AGH

Metodyki projektowania i modelowania systemów Cyganek & Kasperek & Rajda 2013 Katedra Elektroniki AGH Kierunek Elektronika i Telekomunikacja, Studia II stopnia Specjalność: Systemy wbudowane Metodyki projektowania i modelowania systemów Cyganek & Kasperek & Rajda 2013 Katedra Elektroniki AGH Zagadnienia

Bardziej szczegółowo

Materiałowe i technologiczne uwarunkowania stanu naprężeń własnych i anizotropii wtórnej powłok cylindrycznych wytłaczanych z polietylenu

Materiałowe i technologiczne uwarunkowania stanu naprężeń własnych i anizotropii wtórnej powłok cylindrycznych wytłaczanych z polietylenu POLITECHNIKA ŚLĄSKA ZESZYTY NAUKOWE NR 1676 SUB Gottingen 7 217 872 077 Andrzej PUSZ 2005 A 12174 Materiałowe i technologiczne uwarunkowania stanu naprężeń własnych i anizotropii wtórnej powłok cylindrycznych

Bardziej szczegółowo

DETECTION OF MATERIAL INTEGRATED CONDUCTORS FOR CONNECTIVE RIVETING OF FUNCTION-INTEGRATIVE TEXTILE-REINFORCED THERMOPLASTIC COMPOSITES

DETECTION OF MATERIAL INTEGRATED CONDUCTORS FOR CONNECTIVE RIVETING OF FUNCTION-INTEGRATIVE TEXTILE-REINFORCED THERMOPLASTIC COMPOSITES Kompozyty 11: 2 (2011) 152-156 Werner A. Hufenbach, Frank Adam, Maik Gude, Ivonne Körner, Thomas Heber*, Anja Winkler Technische Universität Dresden, Institute of Lightweight Engineering and Polymer Technology

Bardziej szczegółowo

ROZPRAWY NR 128. Stanis³aw Mroziñski

ROZPRAWY NR 128. Stanis³aw Mroziñski UNIWERSYTET TECHNOLOGICZNO-PRZYRODNICZY IM. JANA I JÊDRZEJA ŒNIADECKICH W BYDGOSZCZY ROZPRAWY NR 128 Stanis³aw Mroziñski STABILIZACJA W ASNOŒCI CYKLICZNYCH METALI I JEJ WP YW NA TRWA OŒÆ ZMÊCZENIOW BYDGOSZCZ

Bardziej szczegółowo

Domy inaczej pomyślane A different type of housing CEZARY SANKOWSKI

Domy inaczej pomyślane A different type of housing CEZARY SANKOWSKI Domy inaczej pomyślane A different type of housing CEZARY SANKOWSKI O tym, dlaczego warto budować pasywnie, komu budownictwo pasywne się opłaca, a kto się go boi, z architektem, Cezarym Sankowskim, rozmawia

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia Ramanowska

Spektroskopia Ramanowska Spektroskopia Ramanowska Część A 1.Krótki wstęp historyczny 2.Oddziaływanie światła z osrodkiem materialnym (rozpraszanie światła) 3.Opis klasyczny zjawiska Ramana 4. Widmo ramanowskie. 5. Opis półklasyczny

Bardziej szczegółowo

TECHNICAL CATALOGUE WHITEHEART MALLEABLE CAST IRON FITTINGS EE

TECHNICAL CATALOGUE WHITEHEART MALLEABLE CAST IRON FITTINGS EE TECHNICAL CATALOGUE WHITEHEART MALLEABLE CAST IRON FITTINGS EE Poland GENERAL INFORMATION USE Whiteheart malleable cast iron fittings brand EE are used in threaded pipe joints, particularly in water, gas,

Bardziej szczegółowo

MODELOWANIE POŁĄCZEŃ TYPU SWORZEŃ OTWÓR ZA POMOCĄ MES BEZ UŻYCIA ANALIZY KONTAKTOWEJ

MODELOWANIE POŁĄCZEŃ TYPU SWORZEŃ OTWÓR ZA POMOCĄ MES BEZ UŻYCIA ANALIZY KONTAKTOWEJ Jarosław MAŃKOWSKI * Andrzej ŻABICKI * Piotr ŻACH * MODELOWANIE POŁĄCZEŃ TYPU SWORZEŃ OTWÓR ZA POMOCĄ MES BEZ UŻYCIA ANALIZY KONTAKTOWEJ 1. WSTĘP W analizach MES dużych konstrukcji wykonywanych na skalę

Bardziej szczegółowo

Fixtures LED HEDRION

Fixtures LED HEDRION K A R T Y K ATA L O G O W E Fixtures LED HEDRION Oprawy lampy LED Hedrion do zastosowań profesjonalnych Fixtures LED lamps Hedrion for professional applications NATRIUM Sp. z o.o. ul. Grodziska 15, 05-870

Bardziej szczegółowo

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru

Bardziej szczegółowo

NIEPEWNOŚĆ POMIARÓW POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ WEDŁUG ZNOWELIZOWANEJ SERII NORM PN-EN ISO 3740

NIEPEWNOŚĆ POMIARÓW POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ WEDŁUG ZNOWELIZOWANEJ SERII NORM PN-EN ISO 3740 PRACE INSTYTUTU TECHNIKI BUDOWLANEJ - KWARTALNIK BUILDING RESEARCH INSTITUTE - QUARTERLY 2 (162) 2012 ARTYKUŁY - REPORTS Anna Iżewska* NIEPEWNOŚĆ POMIARÓW POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ WEDŁUG ZNOWELIZOWANEJ

Bardziej szczegółowo

OCENA PORÓWNAWCZA WYNIKÓW OBLICZEŃ I BADAŃ WSPÓŁCZYNNIKA PRZENIKANIA CIEPŁA OKIEN

OCENA PORÓWNAWCZA WYNIKÓW OBLICZEŃ I BADAŃ WSPÓŁCZYNNIKA PRZENIKANIA CIEPŁA OKIEN PRACE INSTYTUTU TECHNIKI BUDOWLANEJ - KWARTALNIK nr 1 (137) 2006 BUILDING RESEARCH INSTITUTE - QUARTERLY No 1 (137) 2006 Zbigniew Owczarek* Robert Geryło** OCENA PORÓWNAWCZA WYNIKÓW OBLICZEŃ I BADAŃ WSPÓŁCZYNNIKA

Bardziej szczegółowo

TACHOGRAPH SIMULATOR DTCOSIM

TACHOGRAPH SIMULATOR DTCOSIM TACHOGRAPH SIMULATOR DTCOSIM Service Manual USB-KSIM interface General description The simulator is a device that is used as a replacement for tachograph in the vehicle where the tachograph is not mandatory,

Bardziej szczegółowo

photo graphic Jan Witkowski Project for exhibition compositions typography colors : +48 506 780 943 : janwi@janwi.com

photo graphic Jan Witkowski Project for exhibition compositions typography colors : +48 506 780 943 : janwi@janwi.com Jan Witkowski : +48 506 780 943 : janwi@janwi.com Project for exhibition photo graphic compositions typography colors Berlin London Paris Barcelona Vienna Prague Krakow Zakopane Jan Witkowski ARTIST FROM

Bardziej szczegółowo

Zarządzanie sieciami telekomunikacyjnymi

Zarządzanie sieciami telekomunikacyjnymi SNMP Protocol The Simple Network Management Protocol (SNMP) is an application layer protocol that facilitates the exchange of management information between network devices. It is part of the Transmission

Bardziej szczegółowo

P R A C A D Y P L O M O W A

P R A C A D Y P L O M O W A POLITECHNIKA POZNAŃSKA Wydział Maszyn Roboczych i Transportu P R A C A D Y P L O M O W A Autor: inż. METODA Ε-CONSTRAINTS I PRZEGLĄDU FRONTU PARETO W ZASTOSOWANIU DO ROZWIĄZYWANIA PROBLEMU OPTYMALIZACJI

Bardziej szczegółowo

PRACA DYPLOMOWA Magisterska

PRACA DYPLOMOWA Magisterska POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Samochodów i Maszyn Roboczych PRACA DYPLOMOWA Magisterska Studia stacjonarne dzienne Semiaktywne tłumienie drgań w wymuszonych kinematycznie układach drgających z uwzględnieniem

Bardziej szczegółowo

EGARA 2011. Adam Małyszko FORS. POLAND - KRAKÓW 2-3 12 2011r

EGARA 2011. Adam Małyszko FORS. POLAND - KRAKÓW 2-3 12 2011r EGARA 2011 Adam Małyszko FORS POLAND - KRAKÓW 2-3 12 2011r HISTORIA ELV / HISTORY ELV 1992r. 5 Program działań na rzecz ochrony środowiska / EAP (Environmental Action Plan) 1994r. Strategia dobrowolnego

Bardziej szczegółowo

PRACE INSTYTUTU ODLEWNICTWA

PRACE INSTYTUTU ODLEWNICTWA PRACE INSTYTUTU ODLEWNICTWA Tom LII Rok 2012 Zeszyt 3 DOI: 10.7356/iod.2012.13 WPŁYW RODZAJU POKRYCIA ORAZ STOSOWANEGO TOPNIKA NA LUTOWNOŚĆ PŁYTEK PCB STOPEM SAC305 EFFECT OF SURFACE COATING AND FLUX TYPE

Bardziej szczegółowo

miniature, low-voltage lighting system MIKRUS S

miniature, low-voltage lighting system MIKRUS S P R O F E S S I O N A L L I G H T I N G miniature, low-voltage lighting system /system/ elements 20 20 47 6 6 profile transparent 500-94010000 1000-94020000 2000-94030000 20 6 6 20 connector I 94060000

Bardziej szczegółowo

Financial support for start-uppres. Where to get money? - Equity. - Credit. - Local Labor Office - Six times the national average wage (22000 zł)

Financial support for start-uppres. Where to get money? - Equity. - Credit. - Local Labor Office - Six times the national average wage (22000 zł) Financial support for start-uppres Where to get money? - Equity - Credit - Local Labor Office - Six times the national average wage (22000 zł) - only for unymployed people - the company must operate minimum

Bardziej szczegółowo

RADIO DISTURBANCE Zakłócenia radioelektryczne

RADIO DISTURBANCE Zakłócenia radioelektryczne AKREDYTOWANE LABORATORIUM BADAWCZE Page (Strona) 2 of (Stron) 9 Following requirements should be taken into account in the case of making use of Test Report and giving information about the tests performed

Bardziej szczegółowo

Cracow University of Economics Poland

Cracow University of Economics Poland Cracow University of Economics Poland Sources of Real GDP per Capita Growth: Polish Regional-Macroeconomic Dimensions 2000-2005 - Keynote Speech - Presented by: Dr. David Clowes The Growth Research Unit,

Bardziej szczegółowo

Doświadczenia z użyciem węgli procesowych w bentonicie

Doświadczenia z użyciem węgli procesowych w bentonicie ARCH IVES of FOUNDRY ENGINEERING Published quarterly as the organ of the Foundry Commission of the Polish Academy of Sciences ISSN (1897-3310) Volume 8 Special Issue 2/2008 31 35 6/2 Doświadczenia z użyciem

Bardziej szczegółowo

Przemysłowe zastosowania technologii generatywnych

Przemysłowe zastosowania technologii generatywnych Industrial applications of additive manufacturing technologies Przemysłowe zastosowania technologii generatywnych Edward Chlebus, Bogdan Dybała, Tomasz Boratyoski, Mariusz Frankiewicz, Tomasz Będza CAMT

Bardziej szczegółowo

WPŁYW PARAMETRÓW OBRÓBKI CIEPLNEJ TAŚM ZE STALI X6CR17 NA ICH WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNE I STRUKTURĘ

WPŁYW PARAMETRÓW OBRÓBKI CIEPLNEJ TAŚM ZE STALI X6CR17 NA ICH WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNE I STRUKTURĘ 2 Prace IMŻ 2 (2012) Krzysztof RADWAŃSKI, Jerzy WIEDERMANN Instytut Metalurgii Żelaza Andrzej ADAMIEC Przeróbka Plastyczna na Zimno Baildon Sp. z o.o. Jarosław GAZDOWICZ Instytut Metalurgii Żelaza WPŁYW

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Porada, Katarzyna Strza³ka-Go³uszka LED diody elektroluminescencyjne

Zbigniew Porada, Katarzyna Strza³ka-Go³uszka LED diody elektroluminescencyjne Zbigniew Porada, Katarzyna Strza³ka-Go³uszka LED diody elektroluminescencyjne Sierpieñ 2013 PODRÊCZNIK DLA ELEKTRYKÓW praca zbiorowa pod redakcj¹ Jana Strojnego LED diody elektroluminescencyjne Autorzy:

Bardziej szczegółowo

PARAMETRY TECHNICZNE DEKLAROWANE PRZEZ PRODUCENTA POTWIERDZONE BADANIAMI / RATINGS ASSIGNED BY THE MANUFACTURER AND PROVED BY TESTS 393 V LOVOS-10/280

PARAMETRY TECHNICZNE DEKLAROWANE PRZEZ PRODUCENTA POTWIERDZONE BADANIAMI / RATINGS ASSIGNED BY THE MANUFACTURER AND PROVED BY TESTS 393 V LOVOS-10/280 Strona/Page 2/15 PARAMETRY TECHNICZNE DEKLAROWANE PRZEZ PRODUCENTA POTWIERDZONE BADANIAMI / RATINGS ASSIGNED BY THE MANUFACTURER AND PROVED BY TESTS Typ Type Napięcie trwałej pracy Continuous operating

Bardziej szczegółowo

THEORETICAL STUDIES ON CHEMICAL SHIFTS OF 3,6 DIIODO 9 ETHYL 9H CARBAZOLE

THEORETICAL STUDIES ON CHEMICAL SHIFTS OF 3,6 DIIODO 9 ETHYL 9H CARBAZOLE THEORETICAL STUDIES ON CHEMICAL SHIFTS OF 3,6 DIIODO 9 ETHYL 9H CARBAZOLE Teobald Kupkaa, Klaudia Radula-Janika, Krzysztof Ejsmonta, Zdzisław Daszkiewicza, Stephan P. A. Sauerb a Faculty of Chemistry,

Bardziej szczegółowo

Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur

Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 1 Instytut Technologii Elektronowej ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT

Bardziej szczegółowo

YAKY, YAKYżo 0,6/1 kv. Kable elektroenergetyczne z izolacją PVC. Norma IEC - 60502-1:2004. Konstrukcja. Zastosowanie. Właściwości

YAKY, YAKYżo 0,6/1 kv. Kable elektroenergetyczne z izolacją PVC. Norma IEC - 60502-1:2004. Konstrukcja. Zastosowanie. Właściwości Kable elektroenergetyczne z izolacją PVC Power cables with PVC insulation YKY, YKYżo 0,6/1 kv Norma Standard IEC - 60502-1:2004 3 2 1 Konstrukcja Construction Żyła przewodząca aluminiowa luminium Izolacja

Bardziej szczegółowo

TRANSPORT W RODZINNYCH GOSPODARSTWACH ROLNYCH

TRANSPORT W RODZINNYCH GOSPODARSTWACH ROLNYCH INŻYNIERIA W ROLNICTWIE. MONOGRAFIE 16 ENGINEERING IN AGRICULTURE. MONOGRAPHS 16 WIESŁAW GOLKA TRANSPORT W RODZINNYCH GOSPODARSTWACH ROLNYCH TRANSPORTATION IN RURAL FAMILY FARMS Falenty 2014 WYDAWNICTWO

Bardziej szczegółowo

Tytuł System magazynowania ciepła na różnym poziomie temperatur. Krótki opis projektu: Short description of the project:

Tytuł System magazynowania ciepła na różnym poziomie temperatur. Krótki opis projektu: Short description of the project: Tytuł System magazynowania ciepła na różnym poziomie temperatur. Title of the project - System of the heat storage at different temperature level. Krótki opis projektu: Opracowanie systemu akumulacji ciepła

Bardziej szczegółowo

OCENA MOśLIWOŚCI WYKORZYSTANIA HODOWLI ŚWIŃ RASY ZŁOTNICKIEJ

OCENA MOśLIWOŚCI WYKORZYSTANIA HODOWLI ŚWIŃ RASY ZŁOTNICKIEJ ASSESSMENT OF POTENTIAL FOR ZŁOTNICKA SPOTTED PIG BREEDING IN ORGANIC FARMS OCENA MOśLIWOŚCI WYKORZYSTANIA HODOWLI ŚWIŃ RASY ZŁOTNICKIEJ PSTREJ W GOSPODARSTWACH EKOLOGICZNYCH Janusz Tomasz Buczyński (1),

Bardziej szczegółowo

Parametry częstotliwościowe przetworników prądowych wykonanych w technologii PCB 1 HDI 2

Parametry częstotliwościowe przetworników prądowych wykonanych w technologii PCB 1 HDI 2 dr inż. ALEKSANDER LISOWIEC dr hab. inż. ANDRZEJ NOWAKOWSKI Instytut Tele- i Radiotechniczny Parametry częstotliwościowe przetworników prądowych wykonanych w technologii PCB 1 HDI 2 W artykule przedstawiono

Bardziej szczegółowo

G14L LPG toroidal tank

G14L LPG toroidal tank G14L LPG toroidal tank Product Description 4-hole version of the unique STAKO patented design of the full (centre-filled) toroidal tank. The valve plate enhances the functionality of the tank compared

Bardziej szczegółowo

Projekt rejestratora obiektów trójwymiarowych na bazie frezarki CNC. The project of the scanner for three-dimensional objects based on the CNC

Projekt rejestratora obiektów trójwymiarowych na bazie frezarki CNC. The project of the scanner for three-dimensional objects based on the CNC Dr inż. Henryk Bąkowski, e-mail: henryk.bakowski@polsl.pl Politechnika Śląska, Wydział Transportu Mateusz Kuś, e-mail: kus.mate@gmail.com Jakub Siuta, e-mail: siuta.jakub@gmail.com Andrzej Kubik, e-mail:

Bardziej szczegółowo

Working Tax Credit Child Tax Credit Jobseeker s Allowance

Working Tax Credit Child Tax Credit Jobseeker s Allowance Benefits Depending on your residency status (EU citizen or not) there are various benefits available to help you with costs of living. A8 nationals need to have been working for a year and be registered

Bardziej szczegółowo

Mieszadła z łamanymi łopatkami. Wpływ liczby łopatek na wytwarzanie zawiesin

Mieszadła z łamanymi łopatkami. Wpływ liczby łopatek na wytwarzanie zawiesin TOMÁŠ JIROUT FRANTIŠEK RIEGER Wydział Mechaniczny. Czeski Uniwersytet Techniczny. Praha EDWARD RZYSKI Wydział Inżynierii Procesowej i Ochrony Środowiska. Politechnika Łódzka. Łódź Mieszadła z łamanymi

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie

Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie Paweł Ramos, Barbara Pilawa, Maciej Adamski STRESZCZENIE Katedra i Zakład Biofizyki Wydziału Farmaceutycznego

Bardziej szczegółowo

-Special. Ceny wraz z dopłatą surowcową Prices without any addition new! Ø 32 Strona/Page 4,5. Black Panther DN 630 +

-Special. Ceny wraz z dopłatą surowcową Prices without any addition new! Ø 32 Strona/Page 4,5. Black Panther DN 630 + P O L S K A -Special SP102-1/2014-PL/GB Frezy HDS HDS-Endmills Wysokowydajna alternatywa dla konwencjonalnych frezów HSS i frezów pełnowęglikowych. The powerful alternative compared with conventional H.S.S.-and

Bardziej szczegółowo

Filozofia z elementami logiki Klasyfikacja wnioskowań I część 2

Filozofia z elementami logiki Klasyfikacja wnioskowań I część 2 Filozofia z elementami logiki Klasyfikacja wnioskowań I część 2 Mariusz Urbański Instytut Psychologii UAM Mariusz.Urbanski@amu.edu.pl Plan: definicja pojęcia wnioskowania wypowiedzi inferencyjne i wypowiedzi

Bardziej szczegółowo

FOOTWEAR RESEARCH AND INNOVATIVE MANUFACTURING TECHNOLOGIES OBUWIE BADANIA I INNOWACYJNE TECHNOLOGIE WYTWARZANIA. Editor/Redaktor Tadeusz Sadowski

FOOTWEAR RESEARCH AND INNOVATIVE MANUFACTURING TECHNOLOGIES OBUWIE BADANIA I INNOWACYJNE TECHNOLOGIE WYTWARZANIA. Editor/Redaktor Tadeusz Sadowski FOOTWEAR RESEARCH AND INNOVATIVE MANUFACTURING TECHNOLOGIES OBUWIE BADANIA I INNOWACYJNE TECHNOLOGIE WYTWARZANIA Editor/Redaktor Tadeusz Sadowski CONTENTS Introduction - Tadeusz Sadowski..... 9 I. Innovative

Bardziej szczegółowo

KOLEKCJE PŁYTEK CERAMICZNYCH COLLECTIONS OF CERAMIC TILES

KOLEKCJE PŁYTEK CERAMICZNYCH COLLECTIONS OF CERAMIC TILES KOLEKCJE PŁYTEK CERAMICZNYCH COLLECTIONS OF CERAMIC TILES INSPIROWANE DREWNEM INSPIRED BY WOOD KOLEKCJE COLLECTIONS 21,5 x 98,5 TROPHY 2 HASEL 6 THORNO 1 PAGO 20 16 x 98,5 HASEL 6 THORNO 1 PAGO 20 Objaśnienie

Bardziej szczegółowo

SPOSÓB WYZNACZANIA MAKSYMALNEGO PRZYROSTU TEMPERATURY W PROCESIE TARCIA METALI

SPOSÓB WYZNACZANIA MAKSYMALNEGO PRZYROSTU TEMPERATURY W PROCESIE TARCIA METALI 3-2009 T R I B O L O G I A 97 Maria MACIĄG * SPOSÓB WYZNACZANIA MAKSYMALNEGO PRZYROSTU TEMPERATURY W PROCESIE TARCIA METALI METHOD OF DETERMINING THE MAXIMUM TEMPERATURE INCREMENT IN THE PROCESS OF METALLIC

Bardziej szczegółowo

U3000/U3100 Mini (Dla Komputera Eee na systemie operacyjnym Linux) Krótka Instrukcja

U3000/U3100 Mini (Dla Komputera Eee na systemie operacyjnym Linux) Krótka Instrukcja U3000/U3100 Mini (Dla Komputera Eee na systemie operacyjnym Linux) Krótka Instrukcja ASUS_U3000_U3100_mini.indd 1 2/2/08 4:01:51 PM PL3656 Pierwsza edycja Styczeń 2008 Copyright 2008 ASUSTeK COMPUTER INC.

Bardziej szczegółowo

Rozszerzenie zmysłów poprzez komputer pomiary termiczne, optyczne i elektryczne

Rozszerzenie zmysłów poprzez komputer pomiary termiczne, optyczne i elektryczne Rozszerzenie zmysłów poprzez komputer pomiary termiczne, optyczne i elektryczne Mario Gervasio, Marisa Michelini, Rossana Viola Research Unit in Physics Education, University of Udine, Italy Streszczenie:

Bardziej szczegółowo

Aktualne Problemy Biomechaniki, nr 8/2014 163

Aktualne Problemy Biomechaniki, nr 8/2014 163 Aktualne Problemy Biomechaniki, nr 8/2014 163 Piotr WODARSKI, Marek Andrzej BIENIEK Zabrze Zabrze Katedra Streszczenie: Wykorzystanie nowoczesnych systemów Technologii Wirtualnej kaski 3D, w wybranych

Bardziej szczegółowo

PLSH1 (JUN14PLSH101) General Certificate of Education Advanced Subsidiary Examination June 2014. Reading and Writing TOTAL

PLSH1 (JUN14PLSH101) General Certificate of Education Advanced Subsidiary Examination June 2014. Reading and Writing TOTAL Centre Number Surname Candidate Number For Examiner s Use Other Names Candidate Signature Examiner s Initials Section Mark Polish Unit 1 Reading and Writing General Certificate of Education Advanced Subsidiary

Bardziej szczegółowo

No matter how much you have, it matters how much you need

No matter how much you have, it matters how much you need CSR STRATEGY KANCELARIA FINANSOWA TRITUM GROUP SP. Z O.O. No matter how much you have, it matters how much you need Kancelaria Finansowa Tritum Group Sp. z o.o. was established in 2007 we build trust among

Bardziej szczegółowo

Aktualizacja Oprogramowania Firmowego (Fleszowanie) Microprocessor Firmware Upgrade (Firmware downloading)

Aktualizacja Oprogramowania Firmowego (Fleszowanie) Microprocessor Firmware Upgrade (Firmware downloading) Aktualizacja Oprogramowania Firmowego (Fleszowanie) Microprocessor Firmware Upgrade (Firmware downloading) ROGER sp.j. Gościszewo 59 82-416 Gościszewo Poland tel. 055 2720132 fax 055 2720133 www.roger.pl

Bardziej szczegółowo

BADANIA SYMULACYJNE PROCESU HAMOWANIA SAMOCHODU OSOBOWEGO W PROGRAMIE PC-CRASH

BADANIA SYMULACYJNE PROCESU HAMOWANIA SAMOCHODU OSOBOWEGO W PROGRAMIE PC-CRASH BADANIA SYMULACYJNE PROCESU HAMOWANIA SAMOCHODU OSOBOWEGO W PROGRAMIE PC-CRASH Dr inż. Artur JAWORSKI, Dr inż. Hubert KUSZEWSKI, Dr inż. Adam USTRZYCKI W artykule przedstawiono wyniki analizy symulacyjnej

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA KOSZALIŃSKA. Zbigniew Suszyński. Termografia aktywna. modele, przetwarzanie sygnałów i obrazów

POLITECHNIKA KOSZALIŃSKA. Zbigniew Suszyński. Termografia aktywna. modele, przetwarzanie sygnałów i obrazów POLITECHNIKA KOSZALIŃSKA Zbigniew Suszyński Termografia aktywna modele, przetwarzanie sygnałów i obrazów KOSZALIN 2014 MONOGRAFIA NR 259 WYDZIAŁU ELEKTRONIKI I INFORMATYKI ISSN 0239-7129 ISBN 987-83-7365-325-2

Bardziej szczegółowo

WENYLATORY PROMIENIOWE ROOF-MOUNTED CENTRIFUGAL DACHOWE WPD FAN WPD

WENYLATORY PROMIENIOWE ROOF-MOUNTED CENTRIFUGAL DACHOWE WPD FAN WPD WENYATORY PROMIENIOWE ROOF-MOUNTED CENTRIFUGA DACHOWE WPD FAN WPD Wentylatory promieniowe dachowe typu WPD przeznaczone są do Roof-mounted centrifugal fans type WPD are intended wentylacji wyciągowej pomieszczeń

Bardziej szczegółowo

How much does SMARTech system cost?

How much does SMARTech system cost? 1. How much does an intelligent home system cost? With over six years of experience in construction of Intelligent Home Systems we have done a value analysis of systems and services usually purchased by

Bardziej szczegółowo

WYKORZYSTANIE ANALIZY WSKAŹNIKÓW ZDOLNOŚCI DO OPTYMALIZACJI PROCESU WYTWARZANIA MASY FORMIERSKIEJ

WYKORZYSTANIE ANALIZY WSKAŹNIKÓW ZDOLNOŚCI DO OPTYMALIZACJI PROCESU WYTWARZANIA MASY FORMIERSKIEJ 168/18 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 18 (2/2) ARCHIVES OF FOUNDRY Year 2006, Volume 6, N o 18 (2/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 WYKORZYSTANIE ANALIZY WSKAŹNIKÓW ZDOLNOŚCI DO OPTYMALIZACJI

Bardziej szczegółowo

Zbigniew H. ŻUREK BADANIA STANU FERROMAGNETYCZNYCH ELEMENTÓW MASZYN W POLU MAGNETYCZNYM

Zbigniew H. ŻUREK BADANIA STANU FERROMAGNETYCZNYCH ELEMENTÓW MASZYN W POLU MAGNETYCZNYM POLITECHNIKA ŚLĄSKA ZESZYTY NAUKOWE NR 1678 SUB Gottingen 7 217 872 263 2005 A 12193 Zbigniew H. ŻUREK BADANIA STANU FERROMAGNETYCZNYCH ELEMENTÓW MASZYN W POLU MAGNETYCZNYM GLIWICE 2005 SPIS TREŚCI Wykaz

Bardziej szczegółowo

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH Scientific Bulletin of Che lm Section of Technical Sciences No. 1/2008 WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH WE WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNICE POMIAROWEJ MAREK MAGDZIAK Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji, Politechnika

Bardziej szczegółowo

Akcja COST FP0902 jako przykład międzynarodowej współpracy w zakresie metodyki badań pozyskiwania biomasy leśnej do celów energetycznych

Akcja COST FP0902 jako przykład międzynarodowej współpracy w zakresie metodyki badań pozyskiwania biomasy leśnej do celów energetycznych Akcja COST FP0902 jako przykład międzynarodowej współpracy w zakresie metodyki badań pozyskiwania biomasy leśnej do celów energetycznych Krzysztof Jodłowski, Michał Kalinowski Instytut Badawczy Leśnictwa

Bardziej szczegółowo

Streszczenia / Abstracts 2 / 2014

Streszczenia / Abstracts 2 / 2014 Anna Olbrycht Powłoki metalowe jako zabezpieczenie antykorozyjne konstrukcji stalowych Metal coatings as corrosion protection of steel structures W artykule przedstawiono cele i zasady nakładania powłok

Bardziej szczegółowo

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych Scientific Works of Institute of Ceramics and Building Materials Nr 13 ISSN 1899-3230 Rok VI Warszawa Opole 2013 Teksty publikowane w Pracach Instytutu Ceramiki

Bardziej szczegółowo

WSTĘPNE MODELOWANIE ODDZIAŁYWANIA FALI CIŚNIENIA NA PÓŁSFERYCZNY ELEMENT KOMPOZYTOWY O ZMIENNEJ GRUBOŚCI

WSTĘPNE MODELOWANIE ODDZIAŁYWANIA FALI CIŚNIENIA NA PÓŁSFERYCZNY ELEMENT KOMPOZYTOWY O ZMIENNEJ GRUBOŚCI WSTĘPNE MODELOWANIE ODDZIAŁYWANIA FALI CIŚNIENIA NA PÓŁSFERYCZNY ELEMENT KOMPOZYTOWY O ZMIENNEJ GRUBOŚCI Robert PANOWICZ Danuta MIEDZIŃSKA Tadeusz NIEZGODA Wiesław BARNAT Wojskowa Akademia Techniczna,

Bardziej szczegółowo

PROGRAM STAŻU. Nazwa podmiotu oferującego staż / Company name IBM Global Services Delivery Centre Sp z o.o.

PROGRAM STAŻU. Nazwa podmiotu oferującego staż / Company name IBM Global Services Delivery Centre Sp z o.o. PROGRAM STAŻU Nazwa podmiotu oferującego staż / Company name IBM Global Services Delivery Centre Sp z o.o. Miejsce odbywania stażu / Legal address Muchoborska 8, 54-424 Wroclaw Stanowisko, obszar działania/

Bardziej szczegółowo

ANALIZA ODDZIAŁYWANIA SYSTEMU ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ NA STABILIZACJĘ WYBRANYCH WŁAŚCIWOŚCI WALCÓW HUTNICZYCH

ANALIZA ODDZIAŁYWANIA SYSTEMU ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ NA STABILIZACJĘ WYBRANYCH WŁAŚCIWOŚCI WALCÓW HUTNICZYCH 54/19 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 19 Archives of Foundry Year 2006, Volume 6, Book 19 PAN - Katowice PL ISSN 1642-5308 ANALIZA ODDZIAŁYWANIA SYSTEMU ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ NA STABILIZACJĘ

Bardziej szczegółowo

ESCA+AES Electron Spectroscopy for Chemical Analysis + Auger Electron Spectroscopy

ESCA+AES Electron Spectroscopy for Chemical Analysis + Auger Electron Spectroscopy ESCA+AES Electron Spectroscopy for Chemical Analysis + Auger Electron Spectroscopy Badanie składu chemicznego powierzchni z wykorzystaniem elektronów ESCA zasada metody Electron Spectroscopy for Chemical

Bardziej szczegółowo

OBRÓBKA CIEPLNO-PLASTYCZNA ŻELIWA SFEROIDALNEGO

OBRÓBKA CIEPLNO-PLASTYCZNA ŻELIWA SFEROIDALNEGO 43/19 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 19 Archives of Foundry Year 2006, Volume 6, Book 19 PAN - Katowice PL ISSN 1642-5308 OBRÓBKA CIEPLNO-PLASTYCZNA ŻELIWA SFEROIDALNEGO T. SZYKOWNY 1, K.CIECHACKI

Bardziej szczegółowo

WYKAZ PRÓB / SUMMARY OF TESTS

WYKAZ PRÓB / SUMMARY OF TESTS 7652/NBR/8 Strona/Page 2/46 Próba stabilności cieplnej Thermal stability test Próba stabilności cieplnej Thermal stability test Próba stabilności cieplnej Thermal stability test Próba stabilności cieplnej

Bardziej szczegółowo

OKREŚLENIE PRĘDKOŚCI PORUSZANIA SIĘ SZKODNIKÓW Z WYKORZYSTANIEM KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU

OKREŚLENIE PRĘDKOŚCI PORUSZANIA SIĘ SZKODNIKÓW Z WYKORZYSTANIEM KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU Inżynieria Rolnicza 2(90)/2007 OKREŚLENIE PRĘDKOŚCI PORUSZANIA SIĘ SZKODNIKÓW Z WYKORZYSTANIEM KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU Joanna Rut, Katarzyna Szwedziak, Marek Tukiendorf Zakład Techniki Rolniczej i

Bardziej szczegółowo

Jazz EB207S is a slim, compact and outstanding looking SATA to USB 2.0 HDD enclosure. The case is

Jazz EB207S is a slim, compact and outstanding looking SATA to USB 2.0 HDD enclosure. The case is 1. Introduction Jazz EB207S is a slim, compact and outstanding looking SATA to USB 2.0 HDD enclosure. The case is made of aluminum and steel mesh as one of the coolest enclosures available. It s also small

Bardziej szczegółowo

Technologie proekologiczne stosowane do produkcji płytek obwodów drukowanych. Anna Girulska. Poznań, czerwiec 2005

Technologie proekologiczne stosowane do produkcji płytek obwodów drukowanych. Anna Girulska. Poznań, czerwiec 2005 Technologie proekologiczne stosowane do produkcji płytek obwodów drukowanych Anna Girulska Poznań, czerwiec 2005 1 Eldos - krótka historia Certyfikaty Produkty Wkład w EKOPROJEKTOWANIE 2 Sp.z o.o. Wrocław

Bardziej szczegółowo

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2014/2015

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2014/2015 Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki Karta przedmiotu Wydział Inżynierii Środowiska obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 014/015 Kierunek studiów: Inżynieria Środowiska

Bardziej szczegółowo

VIP OPRAWY SYSTEMOWE LIGHTING SYSTEMS

VIP OPRAWY SYSTEMOWE LIGHTING SYSTEMS 100 200 300 40 80 120 160 100 200 300 VIP bezpośredni i bezpośrednio-pośredni realizowany za pomocą płyty opalizowanej oraz rastrów aluminiowych. montażowych oprawy te cechuje duża uniwersalność konfiguracji

Bardziej szczegółowo

Unit of Social Gerontology, Institute of Labour and Social Studies ageing and its consequences for society

Unit of Social Gerontology, Institute of Labour and Social Studies ageing and its consequences for society Prof. Piotr Bledowski, Ph.D. Institute of Social Economy, Warsaw School of Economics local policy, social security, labour market Unit of Social Gerontology, Institute of Labour and Social Studies ageing

Bardziej szczegółowo

Instrukcja konfiguracji usługi Wirtualnej Sieci Prywatnej w systemie Mac OSX

Instrukcja konfiguracji usługi Wirtualnej Sieci Prywatnej w systemie Mac OSX UNIWERSYTETU BIBLIOTEKA IEGO UNIWERSYTETU IEGO Instrukcja konfiguracji usługi Wirtualnej Sieci Prywatnej w systemie Mac OSX 1. Make a new connection Open the System Preferences by going to the Apple menu

Bardziej szczegółowo

CECHY TECHNICZNO-UŻYTKOWE A WARTOŚĆ WYBRANYCH TECHNICZNYCH ŚRODKÓW PRODUKCJI W ROLNICTWIE

CECHY TECHNICZNO-UŻYTKOWE A WARTOŚĆ WYBRANYCH TECHNICZNYCH ŚRODKÓW PRODUKCJI W ROLNICTWIE Inżynieria Rolnicza 9(107)/2008 CECHY TECHNICZNO-UŻYTKOWE A WARTOŚĆ WYBRANYCH TECHNICZNYCH ŚRODKÓW PRODUKCJI W ROLNICTWIE Zbigniew Kowalczyk Katedra Inżynierii Rolniczej i Informatyki, Uniwersytet Rolniczy

Bardziej szczegółowo

Wylewanie pianek miekkich i twardych - PUR. Pouring of soft and hard foams - PUR. www.pronar.pl TECHNOLOGIA POLIURETANÓW / POLYURETHANE TECHNOLOGY

Wylewanie pianek miekkich i twardych - PUR. Pouring of soft and hard foams - PUR. www.pronar.pl TECHNOLOGIA POLIURETANÓW / POLYURETHANE TECHNOLOGY TECHNOLOGIA POLIURETANÓW / POLYURETHANE TECHNOLOGY Wylewanie pianek miekkich i twardych - PUR Spienianie poliuretanów umożliwia wykonanie detali o różnym stopniu elastyczności. Oferujemy: produkty z pianek

Bardziej szczegółowo

Ankiety Nowe funkcje! Pomoc magda.szewczyk@slo-wroc.pl. magda.szewczyk@slo-wroc.pl. Twoje konto Wyloguj. BIODIVERSITY OF RIVERS: Survey to students

Ankiety Nowe funkcje! Pomoc magda.szewczyk@slo-wroc.pl. magda.szewczyk@slo-wroc.pl. Twoje konto Wyloguj. BIODIVERSITY OF RIVERS: Survey to students Ankiety Nowe funkcje! Pomoc magda.szewczyk@slo-wroc.pl Back Twoje konto Wyloguj magda.szewczyk@slo-wroc.pl BIODIVERSITY OF RIVERS: Survey to students Tworzenie ankiety Udostępnianie Analiza (55) Wyniki

Bardziej szczegółowo

PROJECT. Syllabus for course Global Marketing. on the study program: Management

PROJECT. Syllabus for course Global Marketing. on the study program: Management Poznań, 2012, September 20th Doctor Anna Scheibe adiunct in the Department of Economic Sciences PROJECT Syllabus for course Global Marketing on the study program: Management I. General information 1. Name

Bardziej szczegółowo

Wprowadzenie do cytometrii przepływowej: co i jak mierzy cytometr

Wprowadzenie do cytometrii przepływowej: co i jak mierzy cytometr Fakultet: Cytometria zastosowanie w badaniach biologicznych Wprowadzenie do cytometrii przepływowej: co i jak mierzy cytometr Nadzieja Drela Zakład Immunologii WB UW ndrela@biol.uw.edu.pl FLOW = fluid

Bardziej szczegółowo

LEARNING AGREEMENT FOR STUDIES

LEARNING AGREEMENT FOR STUDIES LEARNING AGREEMENT FOR STUDIES The Student First and last name(s) Nationality E-mail Academic year 2014/2015 Study period 1 st semester 2 nd semester Study cycle Bachelor Master Doctoral Subject area,

Bardziej szczegółowo

Nowy produkt na rynku / Product launch Opaska ogniochronna / Fire shutoff strap Typ RAB 30 Type RAB 30

Nowy produkt na rynku / Product launch Opaska ogniochronna / Fire shutoff strap Typ RAB 30 Type RAB 30 Nowy produkt na rynku / Product launch Opaska ogniochronna / Fire shutoff strap Typ RAB 30 Type RAB 30 POLTECHNIK Sp. z o.o. Sp. k. http://poltechnik.pl info@poltechnik.pl tel. 71 353 86 94 On the way

Bardziej szczegółowo

KOMUNIKAT 2. The 44 th International Biometrical Colloquium and IV Polish-Portuguese Workshop on Biometry. Conference information:

KOMUNIKAT 2. The 44 th International Biometrical Colloquium and IV Polish-Portuguese Workshop on Biometry. Conference information: AT 1 KOMUNIKAT 2 The 44 th International Biometrical Colloquium and IV Polish-Portuguese Workshop on Biometry Conference information: AT 1 PLACE OF CONFERENCE Address: ACH - DS "Krakowiak" 30-150 Kraków

Bardziej szczegółowo

Urz¹dzenia elektryczne w strefach zagro onych wybuchem

Urz¹dzenia elektryczne w strefach zagro onych wybuchem Micha³ Œwier ewski Urz¹dzenia elektryczne w strefach zagro onych wybuchem Kwiecieñ 2012 PODRÊCZNIK DLA ELEKTRYKÓW praca zbiorowa pod redakcj¹ Jana Strojnego Urz¹dzenia elektryczne w strefach zagro onych

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi. binding machine KRIS. instruction manual. 80-393 GDAŃSK ul. Krynicka 1 tel.: (058) 55 43 555 fax: (058) 55 43 500 ODDZIAŁ:

Instrukcja obsługi. binding machine KRIS. instruction manual. 80-393 GDAŃSK ul. Krynicka 1 tel.: (058) 55 43 555 fax: (058) 55 43 500 ODDZIAŁ: Instrukcja obsługi instruction manual 80-393 GDAŃSK ul. Krynicka 1 tel.: (058) 55 43 555 fax: (058) 55 43 500 ODDZIAŁ: 02-784 WARSZAWA ul. Janowskiego 9 tel.: (022) 648 03 48..49 fax: (022) 648 03 50 bindownica

Bardziej szczegółowo

The use of objective statistical processing for presenting the data in scientific publications

The use of objective statistical processing for presenting the data in scientific publications The use of objective statistical processing for presenting the data in scientific publications Zastosowanie obiektywnej analizy statystycznej w celu prezentacji danych w publikacjach naukowych Fedortsiv

Bardziej szczegółowo

OCENA WYBRANYCH CECH JAKOŚCI MROŻONEK ZA POMOCĄ AKWIZYCJI OBRAZU

OCENA WYBRANYCH CECH JAKOŚCI MROŻONEK ZA POMOCĄ AKWIZYCJI OBRAZU Inżynieria Rolnicza 4(129)/2011 OCENA WYBRANYCH CECH JAKOŚCI MROŻONEK ZA POMOCĄ AKWIZYCJI OBRAZU Katarzyna Szwedziak, Dominika Matuszek Katedra Techniki Rolniczej i Leśnej, Politechnika Opolska Streszczenie:

Bardziej szczegółowo