Technika sensorowa. Czujniki mikromechaniczne cz. 2
|
|
- Amelia Żurek
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Technika sensorowa Czujniki mikromechaniczne cz. 2 dr inż. Wojciech Maziarz, prof. dr hab. T. Pisarkiewicz Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel Kontakt: Wojciech.Maziarz@agh.edu.pl 1
2 Czujniki wytwarzane w procesach zintegrowanych Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia 2
3 W. Maziarz, Zintegrowany sensor gazów wytworzony w technologii mikromechanicznej, Rozprawa doktorska, Kraków 2006 Czujniki wytwarzane w procesach zintegrowanych Półprzewodnikowy czujnik gazu wersja I 3
4 W. Maziarz, Zintegrowany sensor gazów wytworzony w technologii mikromechanicznej, Rozprawa doktorska, Kraków 2006 Czujniki wytwarzane w procesach zintegrowanych Podłoża czujników gazu płytka Si przed wycięciem struktur Sensor gazu w obudowie TO-5 4
5 Czujniki wytwarzane w procesach zintegrowanych Wytworzenie półprzewodnikowego czujnika gazu wersja III W. Maziarz, Zintegrowany sensor gazów wytworzony w technologii mikromechanicznej, Rozprawa doktorska, Kraków
6 Czujniki wytwarzane w procesach zintegrowanych Połączenie krzem - szkło Mostek z piezorezystorami (przekrój) 6
7 Proces technologiczny wytwarzania piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia 7
8 Czujniki wytwarzane w procesach zintegrowanych Czujnik ciśnienia z piezoelektryczną warstwą ZnO T ox tlenek termiczny (izolacja od podłoża) ZnO technologia rozpylenia 8
9 Czujniki wytwarzane w procesach zintegrowanych Czujniki ciśnienia firmy Motorola X - ducer 9
10 Czujniki wytwarzane w procesach Zintegrowane układy kompensacji zintegrowanych w czujniku tradycyjnym w czujniku X - ducer 10
11 Czujniki wytwarzane w procesach zintegrowanych Czujnik ciśnienia firmy Motorola - budowa Pomiar ciśnienia bezwzględnego Pomiar ciśnienia różnicowego 11
12 Czujnik przyśpieszenia Struktura pionowa Struktura boczna 12
13 Czujnik przyśpieszenia Pojemnościowy czujnik przyśpieszenia Piezorezystywny czujnik przyśpieszenia Szczegóły belki 13
14 Zastosowania mikrodźwigni Bardzo czułe wskaźniki zmian substancji biochemicznych (gazów, cieczy, oparów). Reakcja biochemiczna na mikrobelce może skutkować ugięciem belki, zmianą temperatury lub naprężeń powierzchniowych Detekcja: zmiana częstotliwości rezonansowej lub kąta odbicia. Belka pokryta substancją aktywną. 14
15 Zastosowania mikrodźwigni wzrost nanostruktur Wzrost CNT na końcu mikrobelki Zmiana częst. rezonansowej umożliwia wyznaczenie masy osadzonych CNT z dokł. ~4 pg (4x g). Możliwy wzrost i pomiar wagi CNT w tym samym czasie Growing Nanostructures on Micro Cantilever Provides New Platform for Materials Discovery, 15
16 Czujnik wilgotności wykorzystujący mikrobelki Mikrobelki SiO 2 Czułość większa niż dla Si nieczuły na pary etanolu Wytworzone w kombinowanym procesie suchego trawienia izotropowego i anizotropowego 16 Microfabrication and Characterization of SiO 2 Microcantilever for High Sensitive Moisture Sensor, Qi Chen i inni,
17 Czujnik gazów szkodliwych wykorzystujący mikrobelki Tanie, miniaturowe, bardzo czułe. Możliwa detekcja wielu związków jednocześnie. Warstwy gazoczułe: polimery, enzymy Detekcja na poziomie ppb Safer and More Secure through Science: Aiding Homeland Security with Chemical Sensors, 17
18 Bioczujnik wykorzystujący mikrobelki wykrywanie wirusowego zapalenia wątroby mikrobelka 150um x 50um pokryta związkiem (receptor molekuł) wyłapującym helikazę HCV zmiana częst. rezonansowej mikrobelki Nanomechanical microcantilever operated in vibration modes with use of RNA aptamer as receptor molecules for label-free detection of HCV helicase, Biosensors and Bioelectronics, Volume 23, Issue 4, 30 November 2007, Pages
19 Zastosowanie mikrobelek w AFM wykorzystuje siły oddz. międzyatomowych Igła przemiata (skanuje) powierzchnię Rozdzielczość rzędu pojedynczych atomów Schemat mikroskopu sił atomowych (AFM) z optyczną detekcją ugięcia mikrobelki 19
20 Mikrosonda Mikroskopu AFM (Atomic Force Microscope) L 1 = 175 m L 2 = 75 m w = 20 m b = 90 m l = 2 m 20
21 Aktuatory Problem smarowania rozwiązany? (argon +opary 1-pentanolu tworzą cienką warstwę poślizgową) Mikrosilnik elektrostatyczny średnica rotora 0.1 mm Helping a micromachine to work, news html 21
22 Aktuatory mikrozawiasy 22
23 Aktuatory soczewka Fresnela M. Wu, University of California, Los Angeles Mikrosoczewka Fresnela zawieszona na sterowanej platformie, 4 zawiasy 23
24 Aktuatory - mikrolustra Mikrolustro unoszone i opuszczane za pomocą mikrosilnika Pionowe lustro wytworzone na obrotowym elemencie umożliwiającym precyzyjny obrót. Utrzymywane w miejscu przez zatrzaski zawiasów i sprężyn. 24
25 Aktuatory przełącznik optyczny bazujący na mikrolustrach We wszystkich przełącznikach optycznych, mikrolustra odbijają sygnał niezależnie od tego, z jaką prędkością zachodzi transmisja i jaki jest protokół. Technologia uważana za dominującą w przyszłości do budowy przełączników fotonicznych. 25
26 Aktuatory przełącznik optyczny bazujący na mikrolustrach Silicon Light Machines of Sunnyvale, California Pojedynczy piksel Grating Light Valve Elektrostatyczne odchylenie naprzemiennych wstążek powoduje zmianę własności optycznych powierzchni piksela z odbijających na rozpraszające. 26
27 Aktuatory przełącznik optyczny bazujący na mikrolustrach Optical Micromachines, Inc. Optyczny przełącznik dwustanowy Przełącznik optyczny Technologia SOI, trawienie DRIE 27
28 United States Patent , Yokeless hidden hinge digital micromirror device, System telewizji projekcyjnej (Texas Instruments) Mikrozwierciadło Al ze sterowaniem cyfrowym Układ DMD +DLP -Digital Light Processing -Digital Micro-mirror Devices Mikrozwierciadło Al ze sterowaniem cyfrowym Układ DMD +DLP -Digital Light Processing -Digital Micro-mirror Devices Struktura adresująca CMOS SRAM Matryca mikrozwierciadeł Typowe parametry: 768 X 576 pixeli, tj zwierciadeł Zasada działania: Lustra pochylane elektrostatycznie Światło wiązki lasera pada na DLP Odbija się w konkretne miejsce na ekranie lub poza nim (obszar czarny) 28
29 Obrazowanie wielowidmowe (hiperspectral imaging) Technika rejestracji obrazu będąca uogólnieniem fotografii barwnej na pełną przestrzeń barw w zakresie światła widzialnego, a także mikrofal, dalekiej i bliskiej podczerwieni oraz ultrafioletu. Układ HIP używany w medycynie jako narzędzie diagnostyczne podgląd uszkodzeń tkanek i gojenia się ran. Schemat układu DMD używanego w systemie Hyperspectral Image Projector. Skąłd się on z matrycy 1024x768 luster, każde z nich ma szerokość 14 um (1/7 grubości włosa). 29
30 Głowice drukarek atramentowych miniaturowe dysze Budowa dyszy Zasada działania 30
31 Mikrozawory Redwood Microssytems of Menlo Park, California Zawór normalnie otwarty: podgrzanie cieczy kontrolnej zamkniętej wewnątrz komory powoduje ugięcie membrany Si i zablokowanie przepływu cieczy. 31
32 Mikrozawory TiNi Alloy Company of San Leandro, California Zawór normalnie zamknięty: sprężyny TiNi są normalnie ugięte i przepływ cieczy jest zamknięty, podgrzanie powoduje odkształcenie membrany do pozycji płaskiej i odblokowanie przepływu cieczy. Szafirowa kulka + sprężyna zapewniają docisk. 32
33 Mikropompa Instytut Fraunhofera, Monachium, Niemcy Wymiary: mm 3 Pobudzenie elektrostatyczne membrany moduluje objętość cieczy w komorze. Membrana sekwencyjnie zasysa i wyrzuca płyn z mikropompy. 33
34 Akcelerometr dwuosiowy MEMS Firma MEMSIC, Inc. Zasada działania wykorzystuje bąbelek gazu (!). Obszar w środku to rezystor podgrzewający ów bąbelek. Naokoło niego mieszczą się termopary wykrywające położenie bąbla, gdy urządzenie jest przechylane lub działa na nie przyśpieszenie. 34
35 Aktuatory mikrosilnik magnetyczny 35
36 Mikrosystemy 36
37 Mikrosystemy Wibracyjny żyroskop MEMS wykonany w Sandia umożliwiający integrację MEMS i elektroniki w tym samym podłożu krzemowym 37
38 Mikrosystemy Model pierwszej Toyoty w skali 1:1000 (dł. 4.8mm). Pojazd w pełni funkcjonalny. Mikrosamochód (Nippondenso Co., Ltd, Japan) Silnik elektromagnetyczny, szybkość 2 cm/s 38
39 Mikromaszyny w zastosowaniach medycznych Minimalnie inwazyjna terapia (MIT) Minimalnie inwazyjna chirurgia (MIS) Miniaturowa łódź podwodna (4 x 0.8 mm) w naczyniu krwionośnym (Micro TECH Duisburg) 39
40 Mikromaszyny w zastosowaniach medycznych Manipulator endoskopowy do chirurgii guza KEITH J. REBELLO, Applications of MEMS in Surgery, 40
41 Co dalej? NEMS Nano-Electro-Mechanical Systems Urządzenia integrujące funkcjonalność elektryczną i mechaniczną w nanoskali. Krytyczne podczas tworzenia medycznych urz. diagnostycznych, wyświetlaczy, urz. przechowywania danych. Mogą służyć do testowania i przenoszenia pojedynczych biomolekuł, co nie jest możliwe w makroskali. Mogą pracować tam, gdzie większe struktury nie pasują (np. wewnątrz ciała ludzkiego). Nanomateriały (nanowarstwy, nanodruty, nanostruktury itd.) Nanotechnologie Materiały funkcjonalizowane Nanorurki węglowe: tranzystory i struktury logiczne Elektronika molekularna: tranzystory, przełączniki, połączenia, pamięci Elektronika oparta o plastik: giętkie obwody, połączenia drukowane itp.. 41
42 Materiały dodatkowe, źródła W. Maziarz, Wspołczesne czujniki ciśnienia, Elektronik 1 (2002) N. Maluf, An Introduction to Microelectromechanical Systems Engineering, Artech House, Inc., Boston, M. Gad-el-Hak, (red.), The MEMS handbook, The Mechanical Engineering Handbook Series. CRC Press, Boca Raton, S. Beeby, G. Ensell, M. Kraft i N. White, MEMS Mechanical Sensors, Microelectromechanical Systems (MEMS) Series. Artech House, Inc., Boston, J. Dziuban, Technologia i zastosowanie mikromechanicznych struktur krzemowych i krzemowoszklanych w technice mikrosystemow, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław, J. M. Łysko, Anizotropia trawienia i piezorezystancji w kryształach połprzewodnikow. Przykłady wykorzystania w przyrządach MEMS, Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa, Michael A. Cullinan i inni, Scaling electromechanical sensors down to the nanoscale, Sensors and Actuators A 187 (2012) FILM: metoda LIGA
Sensory w systemach wbudowanych
Sensory w systemach wbudowanych Przegląd nowoczesnych przetworników: mikroaktuatory dr inż. Wojciech Maziarz Wydział IET, Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel. 12 617 30 39 Kontakt: Wojciech.Maziarz@agh.edu.pl
Bardziej szczegółowoCzujniki mikromechaniczne
Czujniki mikromechaniczne WSTĘP Narzędzia mikroelektroniki zastosowane do struktur mechanicznych pozwalają wytworzyć nie tylko proste czujniki o wymiarach mikronowych ale całe struktury - mikrosystemy.
Bardziej szczegółowoMikrosystemy Wprowadzenie. Prezentacja jest współfinansowana przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego w projekcie pt.
Mikrosystemy Wprowadzenie Prezentacja jest współfinansowana przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego w projekcie pt. Innowacyjna dydaktyka bez ograniczeń - zintegrowany rozwój
Bardziej szczegółowoSensory w systemach wbudowanych
Sensory w systemach wbudowanych Technologia MEMS wytwarzanie współczesnych czujników dr inż. Wojciech Maziarz, Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel. 12 617 30 39 Kontakt: Wojciech.Maziarz@agh.edu.pl 1 Czujniki
Bardziej szczegółowoSensory w systemach wbudowanych
Sensory w systemach wbudowanych Przegląd nowoczesnych czujników: cz. gazu, ciśnienia, wilgotności i temperatury dr inż. Wojciech Maziarz Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel. 12 617 30 39 Kontakt: Wojciech.Maziarz@agh.edu.pl
Bardziej szczegółowoTechnika sensorowa. Czujniki mikromechaniczne - cz.1
Technika sensorowa Czujniki mikromechaniczne - cz.1 dr inż. Wojciech Maziarz, prof. dr hab. T. Pisarkiewicz Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel. 12 617 30 39 Kontakt: Wojciech.Maziarz@agh.edu.pl 1 Czujniki
Bardziej szczegółowoTechnika sensorowa. Czujniki piezorezystancyjne. dr inż. Wojciech Maziarz Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel
Technika sensorowa Czujniki piezorezystancyjne dr inż. Wojciech Maziarz Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel. 12 617 30 39 Wojciech.Maziarz@agh.edu.pl 1 Czujniki działające w oparciu o efekt Tensometry,
Bardziej szczegółowoTechnika sensorowa. Czujniki wielkości mechanicznych. dr inż. Wojciech Maziarz Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel
Technika sensorowa Czujniki wielkości mechanicznych dr inż. Wojciech Maziarz Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel. 1 617 30 39 Wojciech.Maziarz@agh.edu.pl 1 Czujniki wielkości mechanicznych Wielkości mechaniczne
Bardziej szczegółowoBadania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych
Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Monika KWOKA, Jacek SZUBER Instytut Elektroniki Politechnika Śląska Gliwice PLAN PREZENTACJI 1. Podsumowanie dotychczasowych prac:
Bardziej szczegółowo(zwane również sensorami)
Czujniki (zwane również sensorami) Ryszard J. Barczyński, 2016 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Czujniki Czujniki służą do
Bardziej szczegółowoCzujniki światłowodowe
Czujniki światłowodowe Pomiar wielkości fizycznych zaburzających propagację promieniowania Idea pomiaru Dioda System optyczny Odbiornik Wejście pośrednie przez modulator Wielkość mierzona wejście czujnik
Bardziej szczegółowoTechnika sensorowa. Czujniki magnetyczne cz.2
Technika sensorowa Czujniki magnetyczne cz.2 dr inż. Wojciech Maziarz, prof. dr hab. T. Pisarkiewicz Katedra Elektroniki C-1, p.301, tel. 12 617 30 39 Kontakt: Wojciech.Maziarz@agh.edu.pl 1 Magnetorezystory
Bardziej szczegółowoCzujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są
Czujniki Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Czujniki Czujniki służą do przetwarzania interesującej
Bardziej szczegółowoPiezorezystancyjny czujnik ciśnienia: pomiar i wyznaczenie parametrów metrologicznych czujnika i przetwornika ciśnienia
MIKROSYSTEMY - laboratorium Ćwiczenie 3 Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: pomiar i wyznaczenie parametrów metrologicznych czujnika i przetwornika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. W ćwiczeniu zostaną
Bardziej szczegółowoLaboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Bardziej szczegółowoMechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki)
Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Sensory (czujniki) 1 Zestawienie najważniejszych wielkości pomiarowych w układach mechatronicznych Położenie (pozycja), przemieszczenie Prędkość liniowa,
Bardziej szczegółowoUkłady scalone i elementy systemów mikroelektromechanicznych (MEMS)
Układy scalone i elementy systemów mikroelektromechanicznych (MEMS) Układy scalone Układ scalony - mikrominiaturowy układ elektroniczny, w którym wszystkie lub część elementów wraz z połączeniami są wykonane
Bardziej szczegółowoCentrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii
Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii sprawozdanie za okres I 2010 XII 2011 Prof. dr hab. Jan Misiewicz www.cmzin.pwr.wroc.pl Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii (CMZiN) Jest
Bardziej szczegółowoKONSTRUKCJA CYFROWEJ NAŚWIETLARKI OBWODÓW DRUKOWANYCH
KONSTRUKCJA CYFROWEJ NAŚWIETLARKI OBWODÓW DRUKOWANYCH PIOTR DOMANOWSKI, RYSZARD WOCIANIEC Uniwersytet Technologiczno-Przyrodniczy, Wydział Inżynierii Mechanicznej, 85-796 Bydgoszcz, ul. Sylwestra Kaliskiego
Bardziej szczegółowoPRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE
Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechatronika MECHATRONIKA TECHNICZNA Technical mechatronics Forma studiów: stacjonarne Kod przedmiotu: A01 Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy na kierunku: Mechatronika Rodzaj zajęd:
Bardziej szczegółowoWSTĘP... 1 Sławomir Wiak. 1. PODSTAWY MECHATRONIKI... 7 Sławomir Wiak, Krzysztof Smółka
WSTĘP... 1 Sławomir Wiak 1. PODSTAWY MECHATRONIKI... 7 Sławomir Wiak, Krzysztof Smółka 1.1. Definicja mechatroniki... 7 1.2. Produkty mechatroniczne... 12 1.3. Analiza procesowa systemów mechatronicznych...
Bardziej szczegółowoPRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE
Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechatronika Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy na kierunku: Mechatronika Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium PODSTAWY MECHATRONIKI Basis of mechatronics Forma studiów: stacjonarne
Bardziej szczegółowoSensory i systemy pomiarowe Prezentacja Projektu SYNERIFT. Michał Stempkowski Tomasz Tworek AiR semestr letni 2013-2014
Sensory i systemy pomiarowe Prezentacja Projektu SYNERIFT Michał Stempkowski Tomasz Tworek AiR semestr letni 2013-2014 SYNERIFT Tylne koła napędzane silnikiem spalinowym (2T typu pocket bike ) Przednie
Bardziej szczegółowoModelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia
Modelowanie mikrosystemów - laboratorium Ćwiczenie 1 Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest dobranie
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki wykład 2
D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,
Bardziej szczegółowoGrafen materiał XXI wieku!?
Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?
Bardziej szczegółowoModelowanie mikrosystemów - laboratorium. Ćwiczenie 1. Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia
Modelowanie mikrosystemów - laboratorium Ćwiczenie 1 Modelowanie ugięcia membrany krzemowej modelowanie pracy mikromechanicznego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest dobranie
Bardziej szczegółowoOdporny na korozję czujnik ciśnienia dla mikroreaktorów chemicznych
MIKROMASZYNY I MIKRONAPĘDY DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH Laboratorium nr 1 Odporny na korozję czujnik ciśnienia dla mikroreaktorów chemicznych Charakterystyka badanego elementu: Odporny na korozję
Bardziej szczegółowoPomiar prędkości obrotowej
2.3.2. Pomiar prędkości obrotowej Metody: Kontaktowe mechaniczne (prądniczki tachometryczne różnych typów), Bezkontaktowe: optyczne (światło widzialne, podczerwień, laser), elektromagnetyczne (indukcyjne,
Bardziej szczegółowoPolitechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre
Bardziej szczegółowoMIKROSYSTEMY. Ćwiczenie nr 2a Utlenianie
MIKROSYSTEMY Ćwiczenie nr 2a Utlenianie 1. Cel ćwiczeń: Celem zajęć jest wykonanie kompletnego procesu mokrego utleniania termicznego krzemu. W skład ćwiczenia wchodzą: obliczenie czasu trwania procesu
Bardziej szczegółowoSUB-NANO Matryce czujników mikromecha-nicznych do detekcji bakterii Gram-ujemnych i ich endotoksyn T.Gotszalk
MIKRO- I NANO-SYSTEMY W CHEMII I DIAGNOSTYCE BIOMEDYCZNEJ MNS-DIAG PROJEKT KLUCZOWY WSPÓŁFINANSOWANY PRZEZ UNIĘ EUROPEJSKĄ Z EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU ROZWOJU REGIONALNEGO; UMOWA Nr. POIG.01.03.01-00-014/08-00
Bardziej szczegółowoPRZETWORNIKI POMIAROWE
PRZETWORNIKI POMIAROWE PRZETWORNIK POMIAROWY element systemu pomiarowego, który dokonuje fizycznego przetworzenia z określoną dokładnością i według określonego prawa mierzonej wielkości na inną wielkość
Bardziej szczegółowoWykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0.. 200/2000/20000/ 200000 lux
Wykaz urządzeń Lp Nazwa urządzenia 1 Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0 200/2000/20000/ 200000 lux 2 Komora klimatyczna Komora jest przeznaczona do badania oporu
Bardziej szczegółowoPROJEKTOWANIE UKŁADÓW VLSI
prof. dr hab. inż. Andrzej Kos Tel. 34.35, email: kos@uci.agh.edu.pl Pawilon C3, pokój 505 PROJEKTOWANIE UKŁADÓW VLSI Forma zaliczenia: egzamin Układy VLSI wczoraj i dzisiaj Pierwszy układ scalony -
Bardziej szczegółowoKryształy, półprzewodniki, nanotechnologie. Dr inż. KAROL STRZAŁKOWSKI Instytut Fizyki UMK w Toruniu skaroll@fizyka.umk.pl
Kryształy, półprzewodniki, nanotechnologie. Dr inż. KAROL STRZAŁKOWSKI Instytut Fizyki UMK w Toruniu skaroll@fizyka.umk.pl Plan ogólny Kryształy, półprzewodniki, nanotechnologie, czyli czym będziemy się
Bardziej szczegółowoTEKSTRONIKA - PRZYSZŁOŚCIOWY KIERUNEK ROZWOJU TEKSTYLIÓW
TEKSTRONIKA - PRZYSZŁOŚCIOWY KIERUNEK ROZWOJU TEKSTYLIÓW Katedra Automatyzacji Procesów Włókienniczych Wydział Inżynierii i Marketingu Tekstyliów Politechnika Łódzka 2003-11-30 GENEZA: TEKSTYLIA INTELIGENTNE
Bardziej szczegółowoPiezorezystancyjny czujnik ciśnienia: modelowanie membrany krzemowej podstawowego elementu piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia
MIKROSYSTEMY - laboratorium Ćwiczenie 1 Piezorezystancyjny czujnik ciśnienia: modelowanie membrany krzemowej podstawowego elementu piezorezystancyjnego czujnika ciśnienia Zadania i cel ćwiczenia. Celem
Bardziej szczegółowoFotonika. Plan: Wykład 9: MOEMS. MEMS, MOEMS, NEMS wprowadzenie Podział Przykładowe realizacje i koncepcje
Wykład 9: MOEMS Plan: MEMS, MOEMS, NEMS wprowadzenie Podział Przykładowe realizacje i koncepcje MEMS, NEMS, MOEMS Terminologia: MEMS Micro-Electro-Mechanical-System MOEMS Micro-Opto-Electro-Mechanical-System
Bardziej szczegółowoV Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM
V Konferencja Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie PROGRAM Kwantowe Nanostruktury Półprzewodnikowe do Zastosowań w Biologii i Medycynie Rozwój i Komercjalizacja
Bardziej szczegółowoSŁAWOMIR WIAK (redakcja)
SŁAWOMIR WIAK (redakcja) Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT Recenzenci: Prof. Janusz Turowski Politechnika Łódzka Prof. Ewa Napieralska Juszczak University Lille Nord de France, LSEE, UA, Francja Autorzy
Bardziej szczegółowoPROJECT OF FM TUNER WITH GESTURE CONTROL PROJEKT TUNERA FM STEROWANEGO GESTAMI
Bartosz Wawrzynek I rok Koło Naukowe Techniki Cyfrowej dr inż. Wojciech Mysiński opiekun naukowy PROJECT OF FM TUNER WITH GESTURE CONTROL PROJEKT TUNERA FM STEROWANEGO GESTAMI Keywords: gesture control,
Bardziej szczegółowoPomiary wielkości nieelektrycznych Kod przedmiotu
Pomiary wielkości nieelektrycznych - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Pomiary wielkości nieelektrycznych Kod przedmiotu 06.2-WE-ED-PWN Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki
Bardziej szczegółowoInteligentne Systemy Pomiarowe i Sterujące (1) Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska
Inteligentne Systemy Pomiarowe i Sterujące (1) Instytut Informatyki Politechnika Poznańska zygmunt.kubiak@put.poznan.pl zygmunt.kubiak@cs.put.poznan.pl pok. 424Y, bud. WE lab. 424, bud. WE tel.: 0 61 665
Bardziej szczegółowoMOŻLIWOŚCI WYKORZYSTANIA PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO W BADANIACH MAŁYCH MASZYN ELEKTRYCZNYCH
Jarosław ZADROŻNY MOŻLIWOŚCI WYKORZYSTANIA PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO W BADANIACH MAŁYCH MASZYN ELEKTRYCZNYCH STRESZCZENIE Zakres zastosowania promieniowania optycznego w praktyce badań małych maszyn elektrycznych
Bardziej szczegółowo( F ) I. Zagadnienia. II. Zadania
( F ) I. Zagadnienia 1. Rozchodzenie się fal akustycznych w układach biologicznych. 2. Wytwarzanie i detekcja fal akustycznych w ultrasonografii. 3. Budowa aparatu ultrasonograficznego metody obrazowania.
Bardziej szczegółowo1 k. AFM: tryb bezkontaktowy
AFM: tryb bezkontaktowy Ramię igły wprowadzane w drgania o małej amplitudzie (rzędu 10 nm) Pomiar zmian amplitudy drgań pod wpływem sił (na ogół przyciągających) Zbliżanie igły do próbki aż do osiągnięcia
Bardziej szczegółowoMarek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO
Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego
Bardziej szczegółowoOdporny na korozję czujnik ciśnienia dla mikroreaktorów chemicznych
MIROSYSTEMY - LABRATORIUM Ćwiczenie nr 2 Odporny na korozję czujnik ciśnienia dla mikroreaktorów chemicznych Charakterystyka badanego elementu: Odporny na korozję czujnik ciśnienia został opracowany w
Bardziej szczegółowo(62) Numer zgłoszenia, z którego nastąpiło wydzielenie:
PL 223874 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223874 (21) Numer zgłoszenia: 413547 (22) Data zgłoszenia: 10.05.2013 (62) Numer zgłoszenia,
Bardziej szczegółowoWłaściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ
Właściwości optyczne Oddziaływanie światła z materiałem hν MATERIAŁ Transmisja Odbicie Adsorpcja Załamanie Efekt fotoelektryczny Tradycyjnie właściwości optyczne wiążą się z zachowaniem się materiałów
Bardziej szczegółowoFotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski
Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Photovoltaic and Sensors in Environmental Development of Malopolska Region ZWIĘKSZANIE WYDAJNOŚCI SYSTEMÓW FOTOWOLTAICZNYCH Plan prezentacji
Bardziej szczegółowoWYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI CELE PRZEDMIOTU
Zał. nr 4 do ZW /01 WYDZIAŁ PPT KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim Nanodiagnostyka Nazwa w języku angielskim Nanodiagnostics Kierunek studiów (jeśli dotyczy): Fizyka Techniczna Specjalność (jeśli
Bardziej szczegółowoEgzamin / zaliczenie na ocenę*
WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI Zał. nr 4 do ZW 33/01 KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim: OBRAZOWANIE MEDYCZNE Nazwa w języku angielskim: MEDICAL IMAGING Kierunek studiów (jeśli dotyczy):
Bardziej szczegółowoWłaściwości i zastosowanie układów mikroi nanomechanicznych w pomiarach nanosił
Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Zakład Metrologii Mikro- i Nanostruktur Autoreferat rozprawy doktorskiej Właściwości i zastosowanie układów mikroi nanomechanicznych
Bardziej szczegółowoTechnologie mikro- nano-
Technologie mikro- nano- część Prof. Golonki 1. Układy wysokotemperaturowe mogą być nanoszone na następujące podłoże ceramiczne: a) Al2O3 b) BeO c) AlN 2. Typowe grubości ścieżek w układach grubowarstwowych:
Bardziej szczegółowoSkalowanie układów scalonych
Skalowanie układów scalonych Technologia mikroelektroniczna Charakterystyczne parametry najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna
Bardziej szczegółowoWykład XIV: Właściwości optyczne. JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Wykład XIV: Właściwości optyczne JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych Treść wykładu: Treść wykładu: 1. Wiadomości wstępne: a) Załamanie
Bardziej szczegółowoTECHNOLOGIA STRUKTUR MOEMS
Różne wyniki trawienia krzemu TECHNOLOGIA STRUKTUR MOEMS prof. nzw. Romuald B. Beck Wykład 3 Warszawa, czerwiec 2008 Wytwarzanie belki (belka krzemowa) Magnetic Force Microscope MFM Ostrze do analizy MFM
Bardziej szczegółowoZAŁĄCZNIK NR 1 DO OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU WMP/Z/42/2014. Specyfikacja sprzętu laboratoryjnego Zadanie nr 1
ZAŁĄCZNIK NR 1 DO OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU WMP/Z/42/2014 Specyfikacja sprzętu laboratoryjnego Zadanie nr 1 Mieszadło mechaniczne ze statywem i złączką (2 sztuki): mieszadło analogowe, wyświetlacz prędkości
Bardziej szczegółowoNanowłókna krzemowe (włókna o średnicy poniżej długości fali) oraz włókna chiralne. Silica Nanofibres (Subwavelength-Diameter) and Chiral Fibres
Nanowłókna krzemowe (włókna o średnicy poniżej długości fali) oraz włókna chiralne Silica Nanofibres (Subwavelength-Diameter) and Chiral Fibres Wprowadzenie (nanowłókna) Prowadzenie mocy Wytwarzanie krzemowego
Bardziej szczegółowoSesja prezentacji Wydziału Chemicznego
9 50 11 10 Sesja prezentacji Wydziału Chemicznego Spotkania z Przemysłem, 8 marca 2018 Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej Centrum Zarządzania Innowacjami i Transferem Technologii Sesja prezentacji
Bardziej szczegółowoPlan wykładu. 1. Budowa monitora LCD 2. Zasada działania monitora LCD 3. Podział matryc ciekłokrystalicznych 4. Wady i zalety monitorów LCD
Plan wykładu 1. Budowa monitora LCD 2. Zasada działania monitora LCD 3. Podział matryc ciekłokrystalicznych 4. Wady i zalety monitorów LCD Monitor LCD Monitor LCD (ang. Liquid Crystal Display) Budowa monitora
Bardziej szczegółowoDr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska
Podstawy fizyki Wykład 11 Dr Piotr Sitarek Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 3, Wydawnictwa Naukowe PWN, Warszawa 2003. K.Sierański, K.Jezierski,
Bardziej szczegółowoPL B1. INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ, Warszawa, PL BUP 26/06
PL 212025 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212025 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 375716 (51) Int.Cl. H01L 27/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoNastawniki (aktuatory, aktory)
Nastawniki (aktuatory, aktory) SCHEMAT SYSTEMU MECHATRONICZNEGO WEJŚCIE UKŁAD MECHANICZNY WYJŚCIE NASTAWNIKI CZUJNIKI procesor(y) Nastawnikiem (aktuatorem - ang. actuator) nazywa się urządzenie, które
Bardziej szczegółowoSensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu
Sensoryka i pomiary przemysłowe - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu 06.0-WE-AiRD-SiPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki
Bardziej szczegółowoPL B1. UNIWERSYTET W BIAŁYMSTOKU, Białystok, PL BUP 23/14
PL 220183 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 403760 (51) Int.Cl. G01N 1/42 (2006.01) G01N 1/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoI. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.
Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym
Bardziej szczegółowoWspółczesne metody badań instrumentalnych
Współczesne metody badań instrumentalnych Wykład III Techniki fotograficzne Fotografia w świetle widzialnym Techniki fotograficzne Techniki fotograficzne techniki rejestracji obrazów powstałych wskutek
Bardziej szczegółowoRZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 300055 (22) Data zgłoszenia: 12.08.1993 (5 1) IntCl6: H01L21/76 (54)
Bardziej szczegółowoCzujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.
Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni
Bardziej szczegółowoElementy pomiaru AFM
Elementy pomiaru AFM - Dobór właściwej metody i konfiguracji mikroskopu - Przygotowanie i zamocowanie próbki - Dobranie i zamocowanie igły - Regulacja i ustawienie parametrów pracy: Regulacja pozycji fotodiody
Bardziej szczegółowoKARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych Electrical measurements
Bardziej szczegółowoMETROLOGIA. MIERNICTWO
METROLOGIA. MIERNICTWO Z 099360-BG DURCZAK KAROL Pomiary wielkości geometrycznych w technice / Karol Durczak. - Wyd. 2. Poznań : Wydaw. Akademii Rolniczej im. Augusta Cieszkowskiego, 2006. - 268 s. : il.
Bardziej szczegółowoArttech Cinema 01-961 Warszawa, ul. Wrzeciono 12A/17 tel. 0 (prefix) 22 828-81-80 fax 0 (prefix) 22 828-82-81 www.arttechcinema.pl
Arttech Cinema 01-961 Warszawa, ul. Wrzeciono 12A/17 tel. 0 (prefix) 22 828-81-80 fax 0 (prefix) 22 828-82-81 www.arttechcinema.pl Od foto-chemii do bitów i bajtów Digital Cinema Initiatives DCI: NOTA
Bardziej szczegółowoCharakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk
Charakteryzacja właściwości elektronowych i optycznych struktur AlGaN GaN Dagmara Pundyk Promotor: dr hab. inż. Bogusława Adamowicz, prof. Pol. Śl. Zadania pracy Pomiary transmisji i odbicia optycznego
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE
LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale
Bardziej szczegółowoKarta katalogowa 40.2050 Strona 1 / 5
Karta katalogowa 40.2050 Strona 1 / 5 Sp. z o.o. 53-021 Wrocław ul. Korfantego 28 tel. 071/339 82 39, fax 071/339 73 79 tel. 071/339 87 56, NIP 899-22-97-851 dtrans p31 Przetwornik ciśnienia Typ 402050
Bardziej szczegółowoDIAGNOSTYKA MASZYN POMIARY
DIAGNOSTYKA MASZYN POMIARY dr inż. Robert Barański D1, pok. 207 robertb@agh.edu.pl http://home.agh.edu.pl/~robertb/ Diagnostyka techniczna Zajmuje się oceną stanu technicznego maszyny lub urządzenia technicznego
Bardziej szczegółowoWybrane elementy elektroniczne. Rezystory NTC. Rezystory NTC
Wybrane elementy elektroniczne Rezystory NTC Czujniki temperatury Rezystancja nominalna 20Ω 40MΩ (typ 2kΩ 40kΩ) Współczynnik temperaturowy -2-5% [%/K] Max temperatura pracy 120 200 (350) [ºC] Współczynnik
Bardziej szczegółowoCZUJNIKI I UKŁADY POMIAROWE
POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Mechaniczny Energetyki i Lotnictwa Instytut Techniki Lotniczej i Mechaniki Stosowanej Zakład Automatyki i Osprzętu Lotniczego CZUJNIKI I UKŁADY POMIAROWE Czujniki przykładowe
Bardziej szczegółowoTechnikalia multimedialne. R. Robert Gajewski omklnx.il.pw.edu.pl/~rgajewski www.il.pw.edu.pl/~rg s-rg@siwy.il.pw.edu.pl
Technikalia multimedialne R. Robert Gajewski omklnx.il.pw.edu.pl/~rgajewski www.il.pw.edu.pl/~rg s-rg@siwy.il.pw.edu.pl Historyczne alternatywy! Folie i rzutnik! Slajdy! duży nakład pracy, przy przygotowywaniu!
Bardziej szczegółowoNaukowe Koło Nowoczesnych Technologii
Naukowe Koło Nowoczesnych Technologii Naukowe Koło Nowoczesnych Technologii Opiekun: dr hab., prof. ndzw. Tadeusz Szumiata Przewodniczący: Mateusz Staszewski, MiBM semestr IV Poszczególne dziedziny działań
Bardziej szczegółowoPomiary w oparciu o pomiary drogi i różniczkowanie - (elektryczne lub numeryczne)
Pomiary prędkości (kątowej, liniowej) Pomiary w oparciu o pomiary drogi i różniczkowanie - (elektryczne lub numeryczne) Różniczkowanie numeryczne W dziedzinie czasu (ilorazy różnicowe) W dziedzinie częstotliwości.
Bardziej szczegółowoKARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU
KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu E-1EZ2-1002-s2 Pomiary elektryczne wielkości Nazwa modułu nieelektrycznych_e2n Electrical measurements of non-electrical Nazwa modułu w języku angielskim quantities
Bardziej szczegółowoLaboratorum teledetekcji. Sensory akustyczne. płk dr hab. inż. Mateusz Pasternak
Laboratorum teledetekcji Sensory akustyczne płk dr hab. inż. Mateusz Pasternak 22 683 76 67 mpasternak@wat.edu.pl http://mpasternak.wel.wat.edu.pl/ najprostsze źródła dźwięku minimalne długości fal -10
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoDiagnostyka układów elektrycznych i elektronicznych pojazdów samochodowych. 1.1.1. Podstawowe wielkości i jednostki elektryczne
Diagnostyka układów elektrycznych i elektronicznych pojazdów samochodowych 1. Prąd stały 1.1. Obwód elektryczny prądu stałego 1.1.1. Podstawowe wielkości i jednostki elektryczne 1.1.2. Natężenie prądu
Bardziej szczegółowoSPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy
Bardziej szczegółowoAplikacje Systemów. Nawigacja inercyjna. Gdańsk, 2016
Aplikacje Systemów Wbudowanych Nawigacja inercyjna Gdańsk, 2016 Klasyfikacja systemów inercyjnych 2 Nawigacja inercyjna Podstawowymi blokami, wchodzącymi w skład systemów nawigacji inercyjnej (INS ang.
Bardziej szczegółowoMikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Bardziej szczegółowoRok akademicki: 2013/2014 Kod: RAR AM-s Punkty ECTS: 3. Kierunek: Automatyka i Robotyka Specjalność: Automatyka i metrologia
Nazwa modułu: Materiały i konstrukcje inteligentne Rok akademicki: 2013/2014 Kod: RAR-2-106-AM-s Punkty ECTS: 3 Wydział: Inżynierii Mechanicznej i Robotyki Kierunek: Automatyka i Robotyka Specjalność:
Bardziej szczegółowoKarta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2012/2013. Forma studiów: Stacjonarne Kod kierunku: 06.
Państwowa Wyższa Szko la Zawodowa w Nowym Sa czu Karta Instytut Techniczny obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2012/201 Kierunek studiów: Mechatronika Profil: Ogólnoakademicki
Bardziej szczegółowoAFM. Mikroskopia sił atomowych
AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości
Bardziej szczegółowoIM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO
IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z metodą pomiaru grubości cienkich warstw za pomocą interferometrii odbiciowej światła białego, zbadanie zjawiska pęcznienia warstw
Bardziej szczegółowoRejestracja obrazu. Budowa kamery
Rejestracja obrazu. Budowa kamery Wykorzystane materiały: A. Przelaskowski, Techniki Multimedialne, skrypt, Warszawa, 2011 E. Rafajłowicz, W. Rafajłowicz, Wstęp do przetwarzania obrazów przemysłowych,
Bardziej szczegółowoMIKROELEKTRONIKA [gr.], dział. elektroniki zajmujący się działaniem, konstrukcją Fifth i technologią Level układów scalonych.
Click Co to to jest edit mikroelektronika Master title style Click to edit Master text styles Second Level MIKROELEKTRONIKA [gr.], dział Third Level elektroniki zajmujący się działaniem, Fourth Level konstrukcją
Bardziej szczegółowoMIKRO- I NANO-SYSTEMY W CHEMII I DIAGNOSTYCE BIOMEDYCZNEJ MNS-DIAG
MIKRO- I NANO-SYSTEMY W CHEMII I DIAGNOSTYCE BIOMEDYCZNEJ MNS-DIAG PROJEKT KLUCZOWY WSPÓŁFINANSOWANY PRZEZ UNIĘ EUROPEJSKĄ Z EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU ROZWOJU REGIONALNEGO; UMOWA Nr. POIG.01.03.01-00-014/08-00
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 12/16
PL 225546 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225546 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 413122 (51) Int.Cl. H01J 37/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowo