RAPORT Nr <258/ХШ/РР SPEKTRALNY REJESTRATOR TEMPERATURY SRT. ях&рны^мфпьйовшщ WARSZAWA 1971 IN STYTUT В/ШĄŃ : J Ą DROW Y С Н

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "RAPORT Nr <258/ХШ/РР SPEKTRALNY REJESTRATOR TEMPERATURY SRT. ях&рны^мфпьйовшщ WARSZAWA 1971 IN STYTUT В/ШĄŃ : J Ą DROW Y С Н"

Transkrypt

1 Nr 1258/XYHI/PP IN STYTUT В/ШĄŃ : J Ą DROW Y С Н ях&рны^мфпьйовшщ ИНСТИТУТ INSTITUTE- ÓF NOG!LEAR RESEARCH; RAPORT Nr <258/ХШ/РР SPEKTRALNY REJESTRATOR TEMPERATURY SRT 3. LICK1 WARSZAWA 1971

2 This report has been reproduced directly from the best available copy Распространяет: ИНФОРМАЦИОННЫЙ ЦЕНТР ПО ЯДЕРНОЙ ЭНЕРГИЙ при Уполномоченном Правительства ПНР по Использованию Ядерной Энергии Дворец Культуры и Науки Варшава, П о л ь ш а Available from: NTJCLEAH ENERGY ШТОВДАПСЖ CESOJER of the Polish Government Commissioner for Use of Nuclear Energy Palace of Culture and Science Warsaw, Poland Drukuje i rozprowadza! OŚSODEK татонмасл O EHERGII JADROWBJ przy Pełnomocniku. Rłą&tł dla Sprasr Wykorzystania Energii Jądrowej Warssswa, Pałac Kultury i Banki Wydaje Instytut Badań Jądrowych Nakład 400 egz., Objętość ark. wyd. 4,56, Ark. druks'si, Data złożenia maszynopisu przez autora 2?.Х.48?0, Oddsno do druku 11.1-Й Druk ukończono W mu : SV-09/250/66, Zam. nr 83/71

3 XHSTTTU? BADAM J DROVTCB SPBKTR1I#Y REJESTRATOR TEMPERATURY / SRT / ТШ SPECTRAL TEMPERATURĘ RECORDER / SET / СПЕКТРАЛЬНЫЙ РЕШСТРАТиР Т?:..:.!..?лТ^РЫ /СРТ / Janusz Licki W pracy przedstawiono spektralny rejestrator temperatury, -a skrócie srwany SRT, przeinaczony do pomiaru lrysokich teaperatur /do 25OO E/ ga Ów /plazasy/ w komorach spalania i kanałach generatorów MED, Temperaturę głau określa eię aetodą rejestracji besiraglęanego natężenia nasyconej linii rezonansowej. Spektralny rejestrator temperatury składa się z:monochrousatora połączonego г fotopowielaczem, rejestratora, wzorcowej lampy wolfremovej kondensora i zwierciadła płaskiego. W pracy szczegółowo opie&no s poszczególne elementy układu, skalowanie całego układu i poaiar temperatury gazu, Dokładnośó pomiaru teaiperatwy gazów prsy рошюсу SRT zależy od grubości optycanej plasray, sssrokosci sscseliny

4 i etoisunku grubości irar 1nry prsyścieruao j w kanale do szerokości kanału* pracy prsedstawiono aetody sfcap*ry»srifcslld O okr«śl r>±» dokiadbośoi poaiaru. Obecność «arstwy prayśoleonej w kanale generatora gsaiejesa dekładaośe* poai&ru temperstory. ujeamy trptjv sożna ogradi.e»yć Зо mibiarosa praea odpo- -sjbćr essrofcoźci szcseliny aiorłochro^tora i atrotmnie ^kaisaissi natęźesia apsktralnsj liail. The s per pressnte the spectral temperature recorder in short cajj«d. SR5, which Is designed to seasurs hl^h /to 25OO S/ ef gassg /plassa/ in the coaibustion and KED duot. Эхе temperature of gasss Is by the aethod of rseordiąg of absolut saturated lias intensity, The spectral t recorder coasiats of a Eionochraaator which is connect*d with photomiiltlplier, recorder, stanc'.art trmgstea 1акр г Qond nser aud jcj.rror. In the paper there ie gi^ren a detailed description of several alemants of the eyates, the calibration of tł-. ayateib asd tha temperature aeaeursiasnt of g&s^s. The accuracy of taaperfttttro of gases, by aeans of SST- depends oa the optical thicknass of & plaessi» the width of slit of ffioneehroxaater and the ratio of the boimd ry layer thiclmsee to the duct width. In the pap r are presented the experimental methods of determination the accuracy /of temperature Beasurem&t/. A boxmdaurv layer ia the generator duet impairs the accuracy of teiep«ra«tur* aeaexcreaent 2t«negative influence шау be t the Blalaua by the suitable ehoioe tfe# width of of BOLosbroaai^r assi recording intensity froa regioa of the «udjrae line intensity,

5 Аннотация В работе представлен спектральный регистратор температуры» сокращенно СРТ. Прибор предназначен для измерений высоких температур (до 2500 К) газов (плазмы) в камерах сгорания и каналах М1Д генераторов. Температура газов определяется методом регистрации абсолютных иптенсивностей насыщенной резонансной линии. Спектральный регистратор состоит из монохроматора соединенного с фотоумножителем, регистратора, эталонной вольфрамной лампы, конденсора и зеркала. В работе даны подробная опись отдельных элементов системы, градуировку системы и измерения температуры газов. Точность измерений тепературы газов при помощи СРТ зависит от оптической толщины плазмы,ширины щели ыонохроаатора и относительной толщины пристенночного слоя. Б работе представлены экспериментальные методы определения точности измерений. Присутствие пристенночного слоя в канале генератора снижает точность измерений. Его отрицательное влияние можно ограничить до минимума при помощи соотвеявущего выбора ширины щели ионохроматора и регистрирования области максимума интенсивности спектральной линии. iii

6 I. QDIB II Bxadoirs,.!, opis ppggoze^óljyyeli aleiasatóy a<, Prajrrsąd b. Układ rejestr j 1, Fotopowielscz ć. Sejsstrator o. Układ do ukalowaaia т. 1йшра wsoroova г układea zasilający 2. Zwierciadło płaski III. ОЪе>гз^а itbładu ^. Skalowanie układu b. Porlar teaperatury gazu c. Dokładność poaiaru temperatury gazu przy ропюсу SRT d Pomiar temperatury gazu w obeoności ^arat^y prisyściennej Г7, Literatura V. Uzupełnienie ±r

7 I. OPIS PH2TS2#DU У г а егпа с żeni е Spektralny rejestrator temperatury j st prs patentu PRL Nr na "Sposób spektralnego pomiaru wysokich tenperatur gazów oraz urządaenie spektralne do stoe «ftuxia tego аровоьи" [1] będącego własnością Inetytutut B&uiń Jądrowych «Wsrssawa» fwóreaaii wyn&lasku są; prof.dr Wojciech Brzozowski i dr Szyson Suck wer s Prototyp t go ursą&senia scetai wykonauy i przebadany v Pracowni Spektroskopii Р1агшу w Zakładzie Pisyki i «chnik± Plaeay pod kierimkiea dr Szymona Suckewera. Spektralny rejestrator temperatury (SRT) prseznaosony jest do posiiaru «ysokich temperatur g&zóy /płomieni/ w коstorach a pałania p kanałach generatorów MHD itp. Zwykle wysoki teaperattiry ^zów w tyoh układach określa się Bstodą edwróoenia linii sodu [2,3,4,5«б]. Podstawową wadą urządzeń pabl&rauyoht opartych na tej ssendzis, jest niesosliwoź<5 aatyohiaiast-owego określenia temperatury gaau. Układy te nie pog&al&ją również na badanie bardzo szybkich smian temperatury. Dokładność t&&ioh pomiarów j st niewielka gdy w gazie wj~ stępują olała rozpraszające światło biegnące ze źródła wzorcowego. Hemparatura jeet wielkością, która ma zasadniczy wpływ na prsebieg prawie wszystkich zjawisk fizycznych i technologicznych. Dokładna snajeffiość tesaperaturj gazu jeet niezbędna do sresumienia procesów saohodsących w koaorse /lub kanale generatora MHD/ jak rówaiaź do kierowania, przebiegiee tych procesów. D G*1U nadaj«się spektralny rejestrator teauperat'-sry, b wi sa usośliwia ciągłą rejestrację teepermtixry badanego obiektu. W połączeniu s oscylografem uaożliwia pomiar szybkich ssilan taaaperstury. Wateą saletą tego przyrządu jest

8 prostota działania i łat^ć bełu^*. У ainiejss^j pracy prsśsdet&wiono przyrząd jgmisxu isapar&tury gazu do 2500 * Rozpoczęte prace nad. rosss rs Ql E zakresu miorsonych tаварага tur do S e Do pomiaru temperatury gaizu przy ponocy spaktralnsgo rajaatratora temperatury potrsetmy jast jeden otwór pomiarowy w кошогев /lub fra.nal'a/ tzw. e Jsżeli dysponuj шу lotc»ybi t prsjrs^se SRT można gazu жш-ósmo r«j straoji linii Jak 1»e'fcodą tej Unii [7] Praca ta adresowana jest do użytkowników SRT r stąd też jest w ni j sscaegółcmy opis prsyrsądu i j go 2aaada działania spektralnego rejestratora tamperafcury opisana jett ir pracy S.Suckewers. [в] na Międzynarodowya Sy^pozjus Generator ówmed w Warsza%rie 1968 r. Poaiar temp&ratury ga.su tym układem pol ga na rajeetra» cji bezwzględnego natężenia rezonansowych linii sodu lub innych pierwiastków /np pot-su/ ^r obesarze BakeiEusi natężenia tych linii. Pierwiastki te* o ii ni występują w gazi, ттрго^аава się do gazu w postaci &lk hol wyoh roztw r<fo wodorotlenków /HaOH lub EOH/ [7] lub wodnych rostworów soli E^CO,» w których sód występuje w portael domieszek [b]. Hatężenie linii spektralnej zależy nie tylk od temperatury ale i od eseregu innych parasietrów, z których najważniejszymi są:koncentracja atomów posiewu /sodu lub po* 3u/, grubość optycena promieniującej warstwy gazu warstwy przyściennej.

9 Aby móc wytnie zjć temperaturę na psdst&slo natężenia linii f oal» y uprsodnio określić sal«in«ćć natężenia linii od. posostftłyeh poxaaotirow. Część BW*J drfegi premieaiewanie prsebyra wewaątrs gdsi jeat p eh2anigm. Zj&ircLeko te nazywa się Wyobreźsy aobie że t? ksmale /koaorz apal&nia/ 1»»'йвга1осйа wers^wę gaz^ł o gpubośol 1 i konceatrmcji J/ ato»óv aaitująoyeh &шщ linię, Zgodnie % pr*wsm KlrcKhoffa warstwa gazu grubości их i tesperaturse f wy prosi ni owi У L - aatęśenis рг 1еМ. ^ш^а ela-ta dobkonal csarn go *' tssap«r turs f dla dltł ści fali Л. - wsp^esyaaik &ba rpo;ji premieniewania о AT *ч г śe± fali A, który B&leuj od kenceatracji Rtoaó^ i stslj jh cha.rakterystiją~ oysh te % щу Dokłsdns wyrażeni n w usupsłaieniu, Prsj prsseobsdsosllu t pr^aieaie»«aia przce waretwę o gruboж isastępaj osłabienie i s r sp.strywan«j grub śei waret^y /ed 0 do I / smstępti^ąo ^yraienie ш. eatężenl dxdx-b X T tt-e в v i lisdi spelrlrfelnej тягаъя j et lub т&тх omtętsiiiu priebiovaai oi&la Zaltoty t d tm* srubośoi ptyesaej ^i dla fiaasj Mali- e T '^ «-i * s rórmania /1/ te natężani linii j st properojenajja do X^T

10 Na rysunku 1, zaczerpniętym z pracy [1], prcypadek te* reprezentuje kontur oznaczony liczbą 1?. Przy X% j iy> i natężenie linii w obszarze średka linii Я o Jeerfe równe natę.żeijlu promlemlowania ciał* deckesale os*rm*g«. Na rye. 1 reprezeatują ten preypadek kentury oznacsene licsbasł U Z pracy [j\ vyalka, że ju± dla 7С лт -1-5" natężeale linii sp#ktral»*j w centrala»j części «eiąga varteec natężenia pr K& &lo*rania olała le czarnego /następuje nasycenie linii/. Prsj tenperaturse T» 2OOO*K edpowlaiia t» gęsteśoi J/ 4.10 ш&*ш6*/айг?r%j dsulseye wsreeeie ji at^ców posiewu rezseersa się "płaakfi" ceatralsa csęśd linii. Hastępuje rovniet poesersiaie linii ea jej /Ic iatva 15 i^ rys«1/, t aparatury gasu, prsy p^sfirsj rej*s'fcratera t«sper tt ry 9 spr^^adaa eię de tutiforienla awneohr aater% n& środek iiaii (Л о ) 1 vyorasia tak asereketfci ezoselisy еаэсьг^ша-ёвга &A j^ ł 9 aby ebjąć esczellną linii, w Шбгуя j«j natężeni jeet rdime natężeniu dl«. niexbjt d^źysh k^sieentracji atemów peaiewu są eałe - as^atr«s& e Ozsaesa t 9 że d9 takich ps>potrs«tay j«st aeneohreaater o dużej gdolmeśei rozi układ rejestrujący odpwiednie wzaecnieniu. peaiaru teep^ratury gazu epektralnys rejestratora» z»le y od warteśsi współ zyrmik* wyświecania йшае^ linii [8], kreślsneg następująco Ha ryeunkp. 2 [8] przedstawione zależność dokładaeści określenia tpup&ratury plas^r prsy роюооу SRT od wartości wopółczynni

11 Жтщрвш. ciągła ва -fcys ryounk» «4рсяг1а&а temperaturze gazu T»25OO i;. Abj usyskać dokładność lepszą ni* 2* potrzeba by X hjłm większe ed 0.3. Wartość wspózozynnika wyświecanie. Unii zależy od kształtu liaii i od wybr&nej szerokości eaeselinj «yjściowej monoohrcmatora. Jeśli wybierzemy eerekodei szczeliny tak jak to «robiono dla konturu 15 z rya. 1 t» współczynnik ec jest prawie rómiy jedności. Do poblarów wybierać należy małe eserokości szczelin wyjściowych monoobrematora. Zapewnia to równi<si dtufcą wartość et a\mjra eygaału do tła [1O]. Wydzielając sa posooą spektralnego prsyrs^iu /копоcbrosatora/ «łeatralną cześć linii, i rejestrując jej natężenie za pomocą foto powielacza i rejestratora» aożna w sposób oiągły określić temperaturę plazmy po uprzednia wysk&lg^anlu układu. Podając sygnał z fotopowlelacza na oscylograf Rożna rejestioirać szybkie zniaiiy temperatury gazu. Do określenia temperatury gazu potrzebny jest wzorzec wysokich temperatur. Zastosowano tu wstęgową lampę wolframową» Używa się jej do skalowania układu. Ohreśla się wtedy zależność wychylenia pisaka w rejestratorze od temperatury lampy wzorcowej i na tej podstawie sporządza się skalę temperatur. pracy [7] przeprowadzono jednoczesne pomiary temperatury plazmy dwoma przyrządami; MI4 /opartym na uogólnionej metodzie odwrócenia l i n i i/ i SRT /opartym na rejestracji bezwzględnego natężenia linii/ Na rye.3 przedstawiono porównanie wyników [7]. I I. BODOWA I OPIS P0SZCZBG6LHTCH ELEKBHTtfW SPSE3RAI SS0 REJESTRATORA TEMPERATURY Schemat blokowy całego zestawu spektralnego rejestratora temperatury przedstawiono na rys.4. Spektralny rejestrator temperatury gazów składa się z następujących zespołów:

12 a - przyrządu spektralnego /monoehromatora/ b - układu rejestrującego 1 - fotopowielać za 2» rejestratora o - układu do skalowania /cechowania/ 1 - wzorcowej lampy z układem zasilającym 2 - zwierciadła płaskiego dalszej części pracy opisane są poszczególne zespoły. II a. Przyrząd spektralny /monoehromator/ Do pomiaru wysokich temperatur gazów potrzebny jest ssonochroisator о dużej zdolności rozdzielczej. Poszczególne linie rezonansowe /sodu lub potasu/ powinny być w ni* dobrze rozdzielone» Zwykle peaiary wykonuje się na jednej z linii sodu {X o «5890 i luk X o Я ) lub potasu (X o ж lub Я «4047 1). Przed pomiarami monocbroeetor należy dokładnie ustawić ва środek linii. Dokoaujeay tego prsy pomocy odpcvladedaj laapy np. niekociśnisniowej la«py sodowej jeśli poaiary prowadzić będziesy mi rezonansowej linii sodu» prsypadku braku odpowiedniej lampy aożna zgrubnie ustawić BO&eohroBator na A w oparciu o skalę długości fal w monoobromatorse a następnie v czasie pomiarów przez dokładne wybranie aakeinua wychylenia pisaka rejestratora przy Biniaalnyeh zmianach położenie pryzmatu. Ważnym zagadnieniem jest odpowiednie wybranie szerokości szczeliny wejściowej i wyjściowej /St i S2/ monochrobb&tora, gdyż to w istotny sposób wpływa na dokładność pomiaru tenperatury. Do spektralnego rejestrowania tenperatury w Pracowni Spektroskopii Plazny /B-T?III/ zafetbsowa&o monoehromator SPM-2 produkcji Carl-Zeiss Jena. preyrsądsie tym szerokości obu szczelin /31 i 82/ są jednakowe. Dyspersja linio- ^8, monoohroaatora z prysjatem esklanym G60 dla X»4000&

13 wynosi 20 1/ssą zaś dla X =6000 i ^ynoei 90 i/ншь Kondensor z diafragsa ustawiony jest w odległości dwóch ogniskowych od szczeliny wejściowej BŁonochrosE&tora, Csęeto wziernik ogranicza kąt bryłowy pod którym шойвгау obserwować plazmę w kanale. Biafragma юа zapewnić równość kątów bryłowych pod jasimi monochromator, a właściwie Jego asczelina wejściowa, widzi lampy wzorcowej i plazmę v kanale. II b. Układ r e j a e t r u j ą c y II D,1. gotopowielacz Do spektralnego rejestratora teaperatury potrzebny jest fetopowielacz o stosunkowo dużym wsaocnieniu prądowym gdyż eserokoeoi sscseliny wyjściowej Konechronatora. są zwykle sałe. Typ saetosovanege powielacza elektronowego saleźy od tego w jakiia zakresie długości fal będsieisy pracować. HajlcpBse eą do tego fotepowielacse z fotokatodą typu U (S13) lub TU. Charakterystykę spektralnej czułsśoi fotokatody typu U (S13) prsedstawiono na rys. 5 [141 * Do spektralnego rejestratora temperatury zastosowano fotopowielacs M12FQS35. Posiada on duże wzaocnlenie prądowe (10 ), saeroki zsjcres spektralnej czułości fotokatody /fotokatoda typu 313/^ «ałe wymiary [11, 12, 13]. fotopowielacsu tym występują dvi* elektrody prowadzące, które ograniczają skuteczną powierzchnię fotokatody Bitniejesając v ten spesób ргад cieuny od obszarów brzegowych fotokatody. Wzmocnienie prrądow^ elektronowego powielacza w csasie całego pomiaru peviimo być stałe. Wobeo togo niezbędne jest zastosowanie stabuisovtmego zasilacza wysokiego napięcia,aby uzyskać stałość wzmocnienia prądowego z dokładnością + 1$ aalezy zasilać 12 stopniowy

14 M12FQ335 wysokim napięciem stabilizowanym s dokładnością f' 08 *- дм да /zgodnie ae wzorem s^ fl - gdzie M = wzmoonitnie prądowe U. s napięcie zaeilania *П z ilość dynod/ Ds zasilania elektronowego pewielaesa M12PQS35 zastosowano zaeilaca P2S-5- II e b.2 a Reieetrator Ciągły zapis temperatury gazu otrsymujeacy press sstosotmnle rejestratora. Do układu potrsebny jest rejestrator e> odpowiedniej ccułoścl. Prced poaiare» temperatury gasu jisleży wyelcaloimć rejestrator. Dokładny opis cechowania podany jest w następnej części pracy. Do spektralnego rejestratora temperatury saateseiran a Moter Kompensator typ ekst1" proóukoji HEB. Rejestrator ten posiada ж>и±яой6 oiągłej regulacji jego csu łoi с i i wyboru rótnych prędkości papieru. II c. Układ do akłlewania /oechowania/ II o«1» Wzorcowa "****'pa s Jako wzorzec w spektralnym rejstraterse stosuje się wstęgową lampę wclframewą,. Utywa się jej do skalewania całege układu pemiarowege. Umie sto га się ją aa oal pr«rt«- padiej do esi ogtycsnsj moaochrceatera. Dla katdej lampy spersadsa si* jej charlkteryetyke term»tryczną. Jest to zależność temperatury włókna lampy od prądu płynącego w obwodzie lampy. Temperaturę włókna lampy określa się optycznym pirometrem ze znikającym włóknem. Typowa charakterystyka przedstawiona jeet na rys. 6. 8

15 Do aasilania wstęgowej l&spy wolframowej produkcji Philips potrtebny jest sasilaaa 20 И 10?. prototypowych ureądseni&ch SET do tego celu s&stoeowano transfoneatory 220 Y/9 V о иосу as* 200 W zasilane g autotransformatorów Dla zbadania stabilności pr-aoy tych zaailacey prsepre»ausono pomiary porównawcze E wykorsy staniem saailaesa e Sodllec a,. Jesi b, to vybokoetfebiliso^ani,' sa siląc с prądu stałego г ciągłą regulaoją posiadająoy stabilność napięciową 10 ртву faaiaaie s«pięcia sasilającego. II с o 2, foiarcj-adło _ płas^e ITkład nsleży turtawić tak, źa рггу pevnyra lustra proaisniowanie gagu o wysokiej po odbiciu od swierciadła i prsejiseiu prses soczewkę pada na szczelinę wejściową monochrobatora. Prsy obroeie lustra o 90^- w csasie skalowani a» światło s lasapy wzorcowej pada na sscselinę wejściową mo&ochrosatora, Ha rys»7 prsedstawiono fotografię całego układu spektralnego rejestratora temperatxzry z ręcsnysa ob^ot л lustra. III. Obgłuffa układu BT W piracy ae spektralnym rejeetratorea temperatury wyróżnić można dwa etapy; a - skalowanie całego układu b - pomiar temperatury gazu /płomienia/ III & gkalowania spektralnego rejestratora tecroeratury Cechowanie c&łego układu należy prseprowadsać prsed i po poaiarse teeperattn-y gasu. Skalowanie po pomiarach temperatury wykonuje się w celu sprawi«enib esy psraaetry układu /np. wsaocnienie fotopowielacs»/ nie uległy w czaeie eksperyment^ 9

16 Lampę vsoreoira do skalowania układu ustawia się tak by drogi optyosno od lampy i od plazay do szczeliny wejściowej monochromafeora były jednakowe. Cechowanie układu przeprowadzamy w następujący sposób s =. ustawiamy «onochromator /i/ na wybraną do pomiarów długość fali,» ust&laay szerokość szczeliny wejściowej i wyjściowej moneehromatora /31 i 32/ Hajlepiej wybrać jak najamiejesą szerokość szczeliny. Sprawa ta jeet b&rdsiej słożona w praypadku dużych grubośei warstwy preyśeiennej. Prolsłe» ten dokładniej oadwiony będzie w następnym rozdziale, - ustrwiamy zwierciadło /6/ tak aby proaieniowenie wychodzące z lajapy padało na szcselinę wejściową monoahroaatora, - uatalaay w jakie zakresie temperatur będsiaay pr*3wadei<* TOsiary, Potrzebne jest to do wybrania wartośoi sapięsia nasilania fotopowielacsa /3/. Wychylenie pisejoi /4/ przy wybranej najwyższej tempereturse powinno aieśeić się w sairesie rejestratora i irinno być DliEfeie WB&LB? s&lnesu dozwolonemu wychyleniu 9 - następnie określamy zależność" sychylsnia pieate w rejestratora od prądu podawł&ego na lampę wsoreotrą. Typową taką oharakterystykę przedstawiono na rys. 8 e Hachylenie bej charakterystyki zależy od wzmocnienia prądowego fotopowlelacsa. Erzywą podaną na rye. 8 otrzyaaao рггу zasilaniu fotopowielacsa M12PQS35 napięciem Ha podstawie zależności temperatury lampy od prądu płynącego przez wstęgę wolframową /rys. 6/ określamy podziałkę temperatur. Skala ta jeet nierównomierna. III b. Po wy skalowaniu układu pray stępujemy do poai&ru temperatury gazu o Zwierciadło płaskie uatawlaay tak aby promieniowanie, pochodzące $d ^isów w komorze spalani*, po przejśoiu prs«s kondensor /7 rys. 4/ podało na szczelinę wejśoiową aonochromatora. Sygnał z fotopowielaćza 10

17 йа rejeetziator. 2 wychylenia piies&fea rejestrato ra e4 ayttyes3^ na safe&ii.aktualną temperaturę gasra 3 Jeśeli 3#et ditigetrwaly i. odbyva się w truźsysa warunkach, wibrssje co pwaien о.аав aależy sprawiać ustasrisnie spektralnego m, ^.ksiiuiaa natężenia linii. Fotografię stai vi«jk& poaiarowago toapersttsrj gasó» w ftcetylenosre-tle&owa.;} k«khirrse epaleuaia a&inetaloranej w Ztółedsie lizyki i feofaniki Plasmy IBJ Świerk pokąsano na rye. 9. III e e Dokładność, geal^u. tg^vgqratury gazu epektralc^a Dokładność posiaru teapera-.tury g&zu. prsy роваоеу SET od dokłsdausśgis zastosjowvaej aetody poaaiaru s skalowania układu i odesyfcasla wartości wychylenia pisaka «rejastratorse. Dokładność sajaej metody pomiaru określona jeet wartością współcsynnlka / c / wyświecania danej linii. W pracy [?] podano szereg metod określania współczynnika ec. Prałrfeycznie w trakoie posuarów pojęcie o dokładności aetody «aozlivia prsejśeie s jednej linii dubletu rezonansowego na drugą [7]. Jeśli is кошогге spalania wykonano dwa otwory prselotewa te współczynnik e a»żna określić aą isetodą odwrócenia li&jju Inna metoda polega na sn&lisie konturów badanyoh spektralnych linii III d* jpomierff, t«apgrat\3ry gagu w obecneaci w kpkorse eisffilą w 1i* lub ^.2ytF obecnoeei warstwy przyściennej w btnale genera tara SHD na koat^r lixiii spektralnej i n* dokłads^ść trson ^ ргае&сл [7 i 18]. Stifierdsono tam, ż 11

18 występowania w kanale warstwy prgyściannej kontury linii stają elf eaaoodwrócone. W centralnej oaęśoi linii ^stępuje minimum wywołane pochłanianiem promieniowania w warstwie przyściennej«ilustruje to rya. 10 [18]. S&ŁBOodwrócenie linii spektralnej powoduj saniejssenis wartości wapdłcsynnika wyświecenia danej linii. E& dwóch rysunkach /11a i 11Ъ/ prsedstawiono salażność współ-» csynnika e od względnej grubości warstwy przyściennej dla rćżnyeh grubości optycanyeh pl&saay i różnych sserokośoi szczeliny wyjściowej monochromatera [i8l. Z rys» 11a wynika, żs dla aalych grubości optyosmjch pis- &my i di-iżych ^z^jlednych grubości waretiry prsyściennej s^ależy poiaiary wyleonywać na bard so s^łych ssisrokoś ciach esc ~ liny aonochj'oibafcora /&Хн s0 o is -4 Q 3 / aby aapewnid dobrą dokładność pomiaru temperatury gaau a idaczej wygląda sytuacja dla większych grubości optycznych gsssu.. Dla dużych grubości warstwy preyściennej dokładniejaae stają się wtedy po8iia:ry tesaperatury przy ^iękssych szerokościach sscaeliny monocnromatora /rys, 11b/? tzn e Д^-м eo.si-f-i «os. a więc do pomiaru można zastosować monoehroaator o małej zdolności rozdzielczej. Dokładność pomiaru temperatury gazu, przy рошосу SRT, w obecności waretwy prgyściennej w kanale można znaćśnie poprawić rejestrując natężenie nie centralnej ceęści linii lecz obszaru położonego w obszarze jednego z maksimów. Jeat to szczególnie istotne dla dużych grubości optycznych plazay. Maksima są wtedy szerokie. Stosując monochromtor o dużej sdolnoścl rozdzielczej można znacznie polepszyć dokładność pomiaru. Ha rys.12 przedstawiono współczynniki wyświecania linii sodu w funkcji względnej grubości warstwy przyściennej w prsypadku gdy spektralny przyrząd nastawiony jest na obszar maksiiram natężenia linii /a ale na środek linii/. 12

19 Współczynnik c тал odpowiada przypadkowi gdy szerokość SECzaliny дх^ jest nieskończenie mała, Z porównania гув»11ь i 12 wynika ( że ustawiając monochroraator na leaksimum na~ tąśenia linii i wybierając oałe szerokości szczeliny &Ay{ t»0 2 lub 0,3 I шо^ла anacznie poprawić dokładność poaieru i mierzyć temperaturę z dokładnością lepszą niż 2?C w praypadku względnych gruboeei warstwy przyeciennej aś de T>c5 e 10" /prsy 'Хд^-Е. =500/. A zatem wybierając odpowiednio szerokość szczeliny wyjściowej monochrornatora i rejestrując natężenie albo centralnej części linii /dla maiycb grubości optycsnyoh plazmy i małych grubości warstwy prsyśeieunej umiejazych niż 10 szerokości kanału/ alb obszaru шакг±шиш natężenia linii można znacznie sraaiejsayć ujemny wpły\» waratwy przyściennej na dokładność pomiaru temperatury gszu przy рош'осу spektralnego rejestratora tecperatury.? 0 D Z I? I О К i I I E Pragnę podziękować prof, dr W S.Brzozowskiemu i dr 3 Sucke^erowi - autoroa wynalazku -га przejrzenie rękopisu pracy i рошос okazaną w czasie jej wykonywania. Pragnę również podziękować za udzieloną pomoc w czasie pisania pracy mgr inż. A.CzarnoHiskieBm, J.Białkowskiemu i T.DeręcfcLemu.

20 IV. LITERATURA 1. W.Brzozowski, S.Suckewer, Patent PRL /19ь7 г./ 2. Н.Н.Соболев, Труды ФИАН СССР, Т. VII /1956/ 3. A.G.Gaydon, The Spectroecopy of Flames, Chapman-Hall, London I.Surugue,A. Moutet, Experimental Methods in Combustiom Research, Pergamon Prejs, J.Poućelet, P.Ricateau, R.Devime, H.Lecroart, X.Hgugenduo,, Symposium MHD, Newcastle upor Tyne, I96z 6. -1,А.Васильева, В.В.Кириллов, А.П.Нефедов, Теплофизика Высоких Температур 7, 495 /1968/ 7. S.Suckewer, J.Lioki, B.Hizera, P.Żelazny "ELectrocity from Ш) 1968" Vol.IV, SM-107/96 Nukleonika H f 153 /1969/ 8. S.Suckever "ELectricity from KRD 196B H Vol.IV, S»-107/94 Nukleonika 14, 139 /1969/ 9. C.b. Фриш, Оптические спектры атомов, Москва, Electronics for spectrosoopists, Hilger and Watts, London PhotovervieIfacher, VEB Carl Zeiss Jena 12.Z.Faust, Przetworniki fotoelektryczne, WE i Ł, W-wa E.S.Lion, Przyrządy do badań naukowych, WNT, W-wa 1962 i4.photomultiplier tubes, Philips product data, J.Licki, B.Mizera, S.Suckewer, Raport IBJ 1129/XVIII/PP 1969 i6.e.rogrien, Plasują Spectroscopy, McGrav Hill Book Company, W.W.MC G^e,I.D.Winefordner, J.Quant.Spectr.Rad.Tranef., 7, 261 /1967/ 18. J.Llcki, S.Suckewer, Raport IBJ 1122/XVIII/PP B.H.Ariaetrong, J.Quant. Spectrosc. Radiat»Transfer., 7, 61 /1967/ 14

21 V. UZUPEŁNIENIE Współczynnik pochłaniania Xjg- dla linii spektralnej poszerzonej ciśnieniowe» i w wyniku efektu Dopplera wyraża się następująco: Ф«3 -С 81 I/ f е з d * * gdzie m & ^ A o - długość fali w środku linii. Dla linii sodowej X o =5690 & Лв - poszsrzenie dopplerowskie Ł X o = " o ^ - masa elektronu gdzie д - ciężar atomowy atomów emitujących daną linię - siła oscylatora dla przejścia s poziomu i do poziomu k. Dla atomu aodu dla linii 7i e «5890 % fi K =0.62 [15] - koncentracja atomów posiewu w stanie i /zdolnych do absorpcji promieniowania powstającego z przejścia między stanem к a st&nem i/. t parauetr t ł i i N t 2 gdsle AXL - poszerzenie lorentzowskle linii. W pracy [17] eksperyiaeatalnle określono, że a-1.05 dla A o a*589o % T-2700 K prsy spalaniu acetylenu я tlenem pod normalnym ciśnieniem 15

22 <s41 giaść od środka linii wyrażona w posserzonl&ch dopplerovafctoh tó* Jł ~ Gaiki nyetęptijąoej w równaniu /1/ ai ssożaa aaality Qsaie wyliezyć. praoaeh [2, 19] podano szereg me tod prsybliśoaego oblioseńia jej wartości. 16

23 46 prcmiemowme aa fa doshonołe czarr/eco i3 1 Kontury linii spektralnej dla różnych grubości optycznych gazu. ОЪjaśnienie podano w tekście

24 25 \ 15 т Р ;; 00 L.- 0 D.1 '1 0,2 ~ ЦЗ 0,4 05 ОБ 07 Q& 03 I ю Нуя. 2 Zalotność dokładności określenia temperatury gazu metodą rejestraoji od wartości wcpoiobynnika wydvleoaiiia danoj linii <.

25 1700 Rye. 3 Porównanie vekazan dwdoh przyrssądóir mlersąayoh jednoox«śnie temperaturę Л - HT4 SRT

26 т \ 8 Л-\\\Л-Л\ ) f -u 0-2OOQV 5 I 1 2 1V яке мое ч 1 4 Rys. 4 Scheiaat blokowy sc-aktralnego rejestratora temperatury 1 - monochromator S1 - szczelina wejściewa monochromatora Б2 - szczelina wyjściowa Błonochrosatora 2 - fotopowielacz 3 - zaellacz wysokiego napięcia 4 - rejestrator 5-1ашра vzorcowa /wstęgowa lampa wolframowa/ 6 - zwierciadło płaskie 7 - soczewka skupiająca z diafragmą 8 - kanał z wslernikiem 9 - gaz o wysokiej temperaturze /płomień/ 20

27 100 [ N[%]\ 1 "I 80 г I QD L A [A] Bye. 5 Charakterystyka spektralnej estjłośei fotokatody typu S13 21

28 2600 ТГК] 2m \ Q $ 1А ЛА1 By а. 6 CliaraJrteiyrtyka teraoaetryczoa fraaovsj Зллру wox- 22

29 Bye,, 7 Spektralny rejestrator tempera tiary 1 - fotopovialacs M 1 ZPQS35 w obudowie 2» monochroaator SPM amperomierz 4 - zasilacz do laapy wouramcnrej /trameforeator 22OV/9V о mocy«200 / 5 - lampa wolfra&ova w obudowie 6 «kondensor E diafr&gmą 7 - zwierciadło płaskie v obudowie 8 - rejeatrator 9 - etabillzovaay zasilace do fotopowielacza 10 - ezyna. monochr ornat ora

30 Rye. 8 Żalesnoć 6 wychylenia pisaka w rejeatratorze typu ek ВГС1 od prądu płynącego przez laapę wolframową. Jednostki 2п они rsęunych wybrane tak, że jedynka osnacza oaiy sakr** rmj*«tratora.

31 Eye. 9 Vldok układu pomiarowego r aoatyl.nowo-uenową *ошога -tlenowa komora

32 "Г J_ i. i Przepływ turbulenłraij 1,0 О Rye, 10 Kontury spektralnej linii Haj589Ol dl* róśnyoh grubości warstwy prsyśeienaej w kanale g*n»rat?-^ ШП Ъ - stosunek grubości warstwy przyaeiennej do szerokości kanału Tp - temperatura plasąy w eentralbtj esęśoi kanału Te - teaperatura ścianki g - grubość optyczna plaasay & - parametr tłumienia 26

33 го Przepływ laminarny 0.2 'К - - -t 10" 10 3 ю Eye. 11 a Zależność wapółazynnika < wydwiecania linii sodu Л о = dla róźnyoh azerokoeci eaczellny wyjściowej monochromatore / ux n/od yzgiętoej gt-ubości warstwy przyiścietmej /b/ gdzie b=h/ Ё, h- grubość wartwy przyściennej Ł -ecroko^c kanału, Tp - teeiperatu a ^-aiu w centralnej części kanału, Tc-teraperatura ścianki kanału, gu-x^r-l.

34 го со Przepływ laminarnu о Rye, U b Zależność współczynnika < wyświecania linii eodu Xo =5890 dla różnych szerokości eaozeliisy wyjściowej laonochroimitore МХн/ od grubości warstwy prejdoierm»j /b/. Wagyatkie oimaoaenia takie fak na ryfc«,11a,

35 QC ṁax Przepływ lominornij g-500 a 4,0 Гр*2500 К Т с Ч500 К 10 : 10 Rye. 12 Zależność współczynnika -f wyświecania epektralnej linii acdu Л о =!589cS od względnej grubości W9retwy przyściennej /b/. JTzyrząd epektralny'nastawiony na obezar яаквшшт natuen,, i l n l l. Vezyfitkle oznaczenia takie jah ла -ув и

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego 1 I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej nietermicznego źródła promieniowania (dioda LD

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA PIROMETRÓW I METODYKA PRZEPROWADZANIA POMIARÓW

CHARAKTERYSTYKA PIROMETRÓW I METODYKA PRZEPROWADZANIA POMIARÓW CHARAKTERYSTYKA PIROMETRÓW I METODYKA PRZEPROWADZANIA POMIARÓW Wykaz zagadnień teoretycznych, których znajomość jest niezbędna do wykonania ćwiczenia: Prawa promieniowania: Plancka, Stefana-Boltzmana.

Bardziej szczegółowo

UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO. Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2. Elektroluminescencja

UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO. Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2. Elektroluminescencja UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2 Elektroluminescencja SZCZECIN 2002 WSTĘP Mianem elektroluminescencji określamy zjawisko emisji spontanicznej

Bardziej szczegółowo

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów J 10.1. Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA Obowiązujące zagadnienia teoretyczne: 1. Podstawy teorii pasmowej ciał stałych metale, półprzewodniki, izolatory

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 9. Pomiar rezystancji metodą porównawczą.

Ćwiczenie nr 9. Pomiar rezystancji metodą porównawczą. Ćwiczenie nr 9 Pomiar rezystancji metodą porównawczą. 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie różnych metod pomiaru rezystancji, a konkretnie zapoznanie się z metodą porównawczą. 2. Dane

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko

Bardziej szczegółowo

ANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE. Instrukcja wykonawcza

ANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 72A ANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE 1. Wykaz przyrządów Spektroskop Lampy spektralne Spektrofotometr SPEKOL Filtry optyczne Suwmiarka Instrukcja wykonawcza 2. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Miernictwo - W10 - dr Adam Polak Notatki: Marcin Chwedziak. Miernictwo I. dr Adam Polak WYKŁAD 10

Miernictwo - W10 - dr Adam Polak Notatki: Marcin Chwedziak. Miernictwo I. dr Adam Polak WYKŁAD 10 Miernictwo I dr Adam Polak WYKŁAD 10 Pomiary wielkości elektrycznych stałych w czasie Pomiary prądu stałego: Technika pomiaru prądu: Zakresy od pa do setek A Czynniki wpływające na wynik pomiaru (jest

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED

Ćwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED Ćwiczenie. Parametry statyczne diod LED. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi właściwościami i charakterystykami diod LED. Poznanie ograniczeń i sposobu zasilania tego typu

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2015 1. CEL I ZAKRES

Bardziej szczegółowo

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów Z n a k s p r a w y G C S D Z P I 2 7 1 07 2 0 1 5 S P E C Y F I K A C J A I S T O T N Y C H W A R U N K Ó W Z A M Ó W I E N I A f U s ł u g i s p r z» t a n i a o b i e k t Gó w d y s k i e g o C e n

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie energii dysocjacji molekuły jodu (I 2 )

Wyznaczanie energii dysocjacji molekuły jodu (I 2 ) S1 Wyznaczanie energii dysocjacji molekuły jodu (I 2 ) 1 Cel ćwiczenia Bezpośrednim celem ćwiczenia jest wyznaczenie energii dysocjacji molekuły I 2. W trakcie przygotowywania doświadczenia oraz realizacji

Bardziej szczegółowo

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Wykład 6 Zastosowania wzmacniaczy operacyjnych: konwertery prąd-napięcie i napięcie-prąd, źródła prądowe i napięciowe, przesuwnik fazowy Konwerter prąd-napięcie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE Politechnika Łódzka Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych 90-924 Łódź, ul. Wólczańska 221/223, bud. B18 tel. 42 631 26 28 faks 42 636 03 27 e-mail secretary@dmcs.p.lodz.pl http://www.dmcs.p.lodz.pl

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

WAT - WYDZIAŁ ELEKTRONIKI INSTYTUT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH. Przedmiot: CZUJNIKI I PRZETWORNIKI Ćwiczenie nr 1 PROTOKÓŁ / SPRAWOZDANIE

WAT - WYDZIAŁ ELEKTRONIKI INSTYTUT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH. Przedmiot: CZUJNIKI I PRZETWORNIKI Ćwiczenie nr 1 PROTOKÓŁ / SPRAWOZDANIE Grupa: WAT - WYDZIAŁ ELEKTRONIKI INSTYTT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH Przedmiot: CZJNIKI I PRZETWORNIKI Ćwiczenie nr 1 PROTOKÓŁ / SPRAWOZDANIE Temat: Przetworniki tensometryczne /POMIARY SIŁ I CIŚNIEŃ PRZY

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Temat: Badanie właściwości elektrycznych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych.. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, charakterystyk

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

PRACOWNIA ELEKTRONIKI PRACOWNIA ELEKTRONIKI Ćwiczenie nr 4 Temat ćwiczenia: Badanie wzmacniacza UNIWERSYTET KAZIMIERZA WIELKIEGO W BYDGOSZCZY INSTYTUT TECHNIKI 1. 2. 3. Imię i Nazwisko 1 szerokopasmowego RC 4. Data wykonania

Bardziej szczegółowo

Pomiar rezystancji metodą techniczną

Pomiar rezystancji metodą techniczną Pomiar rezystancji metodą techniczną Cel ćwiczenia. Poznanie metod pomiarów rezystancji liniowych, optymalizowania warunków pomiaru oraz zasad obliczania błędów pomiarowych. Zagadnienia teoretyczne. Definicja

Bardziej szczegółowo

LVI Olimpiada Fizyczna Zawody III stopnia

LVI Olimpiada Fizyczna Zawody III stopnia LVI Olimpiada Fizyczna Zawody III stopnia ZADANIE DOŚIADCZALNE Praca wyjścia wolframu Masz do dyspozycji: żarówkę samochodową 12V z dwoma włóknami wolframowymi o mocy nominalnej 5 oraz 2, odizolowanymi

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 1 ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 15.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych właściwości wzmacniaczy mocy małej częstotliwości oraz przyswojenie umiejętności

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 (EZ1C500 055) BADANIE DIOD I TRANZYSTORÓW Białystok 2006

Bardziej szczegółowo

Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne

Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne Zagadnienia: 1. Absorbcja światła. 2. Współrzędne trójchromatyczne barwy, Prawa Gassmana. 3. Trójkąt barw. Trójkąt nasyceń. 4. Rozpraszanie światła. 5.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy

Ćwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy Ćwiczenie nr 65 Badanie wzmacniacza mocy 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych parametrów wzmacniaczy oraz wyznaczenie charakterystyk opisujących ich właściwości na przykładzie wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne ZADANIE D2 Nazwa zadania: Światełko na tafli wody Mając do dyspozycji fotodiodę, źródło prądu stałego (4,5V bateryjkę), przewody, mikroamperomierz oraz

Bardziej szczegółowo

Systemy i architektura komputerów

Systemy i architektura komputerów Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Systemy i architektura komputerów Laboratorium nr 4 Temat: Badanie tranzystorów Spis treści Cel ćwiczenia... 3 Wymagania... 3 Przebieg ćwiczenia...

Bardziej szczegółowo

O 2 O 1. Temat: Wyznaczenie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego

O 2 O 1. Temat: Wyznaczenie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego msg M 7-1 - Temat: Wyznaczenie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego Zagadnienia: prawa dynamiki Newtona, moment sił, moment bezwładności, dynamiczne równania ruchu wahadła fizycznego,

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Podstaw Pomiarów

Laboratorium Podstaw Pomiarów Laboratorium Podstaw Pomiarów Ćwiczenie 5 Pomiary rezystancji Instrukcja Opracował: dr hab. inż. Grzegorz Pankanin, prof. PW Instytut Systemów Elektronicznych Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych

Bardziej szczegółowo

Badanie wzmacniacza operacyjnego

Badanie wzmacniacza operacyjnego Badanie wzmacniacza operacyjnego CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości wzmacniaczy operacyjnych i komparatorów oraz możliwości wykorzystania ich do realizacji bloków funkcjonalnych poprzez dobór

Bardziej szczegółowo

1. Przeznaczenie testera.

1. Przeznaczenie testera. 1. Przeznaczenie testera. Q- tester jest przeznaczony do badania kwarcowych analogowych i cyfrowych zegarków i zegarów. Q- tester służy do mierzenia odchyłki dobowej (s/d), odchyłki miesięcznej (s/m),

Bardziej szczegółowo

1. W gałęzi obwodu elektrycznego jak na rysunku poniżej wartość napięcia Ux wynosi:

1. W gałęzi obwodu elektrycznego jak na rysunku poniżej wartość napięcia Ux wynosi: 1. W gałęzi obwodu elektrycznego jak na rysunku poniżej wartość napięcia Ux wynosi: A. 10 V B. 5,7 V C. -5,7 V D. 2,5 V 2. Zasilacz dołączony jest do akumulatora 12 V i pobiera z niego prąd o natężeniu

Bardziej szczegółowo

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa 1/5 E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa Celem ćwiczenia jest poznanie podstaw zjawiska konwersji energii świetlnej na elektryczną, zasad działania fotoogniwa oraz wyznaczenie jego podstawowych

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY FIZYKI LASERÓW Wstęp

PODSTAWY FIZYKI LASERÓW Wstęp PODSTAWY FIZYKI LASERÓW Wstęp LASER Light Amplification by Stimulation Emission of Radiation Składa się z: 1. ośrodka czynnego. układu pompującego 3.Rezonator optyczny - wnęka rezonansowa Generatory: liniowe

Bardziej szczegółowo

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub

Bardziej szczegółowo

Deuterowa korekcja tła w praktyce

Deuterowa korekcja tła w praktyce Str. Tytułowa Deuterowa korekcja tła w praktyce mgr Jacek Sowiński jaceksow@sge.com.pl Plan Korekcja deuterowa 1. Czemu służy? 2. Jak to działa? 3. Kiedy włączyć? 4. Jak/czy i co regulować? 5. Jaki jest

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. I. Cel ćwiczenia ĆWICZENIE 6 Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. Badanie właściwości wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie wspólnego kolektora. II.

Bardziej szczegółowo

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO CEL poznanie charakterystyk tranzystora bipolarnego w układzie WE poznanie wybranych parametrów statycznych tranzystora bipolarnego w układzie WE PRZEBIEG ĆWICZENIA: 1.

Bardziej szczegółowo

Badanie schematu rozpadu jodu 128 I

Badanie schematu rozpadu jodu 128 I J8 Badanie schematu rozpadu jodu 128 I Celem doświadczenie jest wyznaczenie schematu rozpadu jodu 128 I Wiadomości ogólne 1. Oddziaływanie kwantów γ z materią [1,3] a) efekt fotoelektryczny b) efekt Comptona

Bardziej szczegółowo

Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych

Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych UKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych Laboratorium Układów Elektronicznych Poznań 2008 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 7. Pomiar mocy czynnej, biernej i cosφ

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 7. Pomiar mocy czynnej, biernej i cosφ INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 7 Pomiar mocy czynnej, biernej i cosφ Wstęp Układy elektryczne w postaci szeregowego połączenia RL, podczas zasilania z sieci napięcia przemiennego, pobierają moc czynną, bierną

Bardziej szczegółowo

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów

Bardziej szczegółowo

NISKONAPIĘCIOWE PRZEKŁADNIKI PRĄDOWE

NISKONAPIĘCIOWE PRZEKŁADNIKI PRĄDOWE NISKONAPIĘCIOWE PRZEKŁADNIKI PRĄDOWE Miernik parametrów sieci - ND20. www.lumel.com.pl SPIS TREŚCI Charakterystyka ogólna przekładników...3 Seria LCTM z uzwojeniem pierwotnym (odpowiednik WSK 40)...5 Seria

Bardziej szczegółowo

Schemat układu zasilania diod LED pokazano na Rys.1. Na jednej płytce połączone są różne diody LED, które przełącza się przestawiając zworkę.

Schemat układu zasilania diod LED pokazano na Rys.1. Na jednej płytce połączone są różne diody LED, które przełącza się przestawiając zworkę. Ćwiczenie 3. Parametry spektralne detektorów. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi parametrami detektorów i ich podstawowych parametrów. Poznanie zależności związanych z oddziaływaniem

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych złączowych Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów polowych złączowych

Bardziej szczegółowo

Badanie schematu rozpadu jodu 128 J

Badanie schematu rozpadu jodu 128 J J8A Badanie schematu rozpadu jodu 128 J Celem doświadczenie jest wyznaczenie schematu rozpadu jodu 128 J Wiadomości ogólne 1. Oddziaływanie kwantów γ z materią (1,3) a/ efekt fotoelektryczny b/ efekt Comptona

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 1. Regulacja i pomiar napięcia stałego oraz porównanie wskazań woltomierzy.

Ćwiczenie nr 1. Regulacja i pomiar napięcia stałego oraz porównanie wskazań woltomierzy. Ćwiczenie nr 1 Regulacja i pomiar napięcia stałego oraz porównanie wskazań woltomierzy. 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest analiza wpływów i sposobów włączania przyrządów pomiarowych do obwodu elektrycznego

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 9 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

BADANIE ZEWNĘTRZNEGO ZJAWISKA FOTOELEKTRYCZNEGO

BADANIE ZEWNĘTRZNEGO ZJAWISKA FOTOELEKTRYCZNEGO ĆWICZENIE 91 BADANIE ZEWNĘTRZNEGO ZJAWISKA FOTOELEKTRYCZNEGO Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki prądowo napięciowej I(U) fotokomórki w zależności od wartości strumienia promieniowania padającego;

Bardziej szczegółowo

3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e22)

3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e22) Wyznaczanie stosunku e/m(e) 157 3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e) Celem ćwiczenia jest wyznaczenie stosunku ładunku e do masy m elektronu metodą badania odchylenia wiązki elektronów w poprzecznym polu magnetycznym.

Bardziej szczegółowo

R 1. Układy regulacji napięcia. Pomiar napięcia stałego.

R 1. Układy regulacji napięcia. Pomiar napięcia stałego. kłady regulacji napięcia. Pomiar napięcia stałego.. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodami regulacji napięcia stałego, stosowanymi w tym celu układami elektrycznymi, oraz metodami

Bardziej szczegółowo

Aparatura w absorpcyjnej spektrometrii atomowej

Aparatura w absorpcyjnej spektrometrii atomowej Lidia Kozak, Przemysław Niedzielski Lidia Kozak, Przemysław Niedzielski Spektrometry absorpcji atomowej zbudowane są z następujących podstawowych części: źródła promieniowania, atomizera, monochromatora,

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat. PL 216395 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216395 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384627 (51) Int.Cl. G01N 27/00 (2006.01) H01L 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

1 Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x 2, x 1, x 0 )= (1, 3, 5, 7, 12, 13, 15 (4, 6, 9))*.

1 Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x 2, x 1, x 0 )= (1, 3, 5, 7, 12, 13, 15 (4, 6, 9))*. EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 0/0 Odpowiedzi do zadań dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia (okręgowe) Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x,

Bardziej szczegółowo

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Dualizm korpuskularno falowy światła. 2. Pochodzenie pasm energetycznych w

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki nstrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEMENTY ELEKTRONCZNE TS1C300 018 BAŁYSTOK 013 1. CEL ZAKRES ĆWCZENA LABORATORYJNEGO

Bardziej szczegółowo

NISKONAPIĘCIOWE PRZEKŁADNIKI PRĄDOWE

NISKONAPIĘCIOWE PRZEKŁADNIKI PRĄDOWE NISKONAPIĘCIOWE PRZEKŁADNIKI PRĄDOWE 5 A WWW.LUMEL.COM.PL Charakterystyka ogólna przekładników...3 Seria LCTM z uzwojeniem pierwotnym (odpowiednik WSK 40)...5 Seria LCTR z otworem na przewód (odpowiednik

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej TIA ZIENNE LAORATORIM PRZYRZĄÓW PÓŁPRZEWONIKOWYCH Ćwiczenie nr 8 adanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOFET I. Zagadnienia

Bardziej szczegółowo

Akademickie Centrum Czystej Energii. Ogniwo paliwowe

Akademickie Centrum Czystej Energii. Ogniwo paliwowe Ogniwo paliwowe 1. Zagadnienia elektroliza, prawo Faraday a, pierwiastki galwaniczne, ogniwo paliwowe 2. Opis Główną częścią ogniwa paliwowego PEM (Proton Exchange Membrane) jest membrana złożona z katody

Bardziej szczegółowo

Pytania do ćwiczeń na I-szej Pracowni Fizyki

Pytania do ćwiczeń na I-szej Pracowni Fizyki Ćw. nr 5 Oscylator harmoniczny. 1. Ruch harmoniczny prosty. Pojęcia: okres, wychylenie, amplituda. 2. Jaka siła powoduje ruch harmoniczny spręŝyny i ciała do niej zawieszonego? 3. Wzór na okres (Studenci

Bardziej szczegółowo

Projektowanie systemów pomiarowych

Projektowanie systemów pomiarowych Projektowanie systemów pomiarowych 03 Konstrukcja mierników analogowych Zasada działania mierników cyfrowych Przetworniki pomiarowe wielkości elektrycznych 1 Analogowe przyrządy pomiarowe Podział ze względu

Bardziej szczegółowo

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów Cele: Wyznaczenie charakterystyk dla diod i tranzystorów. Dla diod określa się zależność I d =f(u d ) prądu od napięcia i napięcie progowe U p. Dla tranzystorów

Bardziej szczegółowo

OPTOELEKTRONIKA IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

OPTOELEKTRONIKA IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH. 1 IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH. Cel ćwiczenia: Wyznaczenie postawowych parametrów spektralnych fotoprzewozącego etektora poczerwieni. Opis stanowiska: Monochromator-SPM- z

Bardziej szczegółowo

BADANIE ELEMENTÓW RLC

BADANIE ELEMENTÓW RLC KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE BADANIE ELEMENTÓW RLC REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENIA - zapoznanie się z systemem laboratoryjnym NI ELVIS II, - zapoznanie się z podstawowymi

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METOD I TECHNIK BADAŃ MATERIAŁÓW

LABORATORIUM METOD I TECHNIK BADAŃ MATERIAŁÓW LABORATORIUM METOD I TECHNIK BADAŃ MATERIAŁÓW ĆWICZENIE NR 11 BADANIA SKŁADU CHEMICZNEGO ( STALOSKOP ) I. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodą analizy staloskopowej oraz identyfikacja

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze różnicowe

Wzmacniacze różnicowe Wzmacniacze różnicowe 1. Cel ćwiczenia : Zapoznanie się z podstawowymi układami wzmacniaczy różnicowych zbudowanych z wykorzystaniem wzmacniaczy operacyjnych. 2. Wprowadzenie Wzmacniacze różnicowe są naj

Bardziej szczegółowo

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki.

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. 1. Równanie soczewki i zwierciadła kulistego. Z podobieństwa trójkątów ABF i LFD (patrz rysunek powyżej) wynika,

Bardziej szczegółowo

Wykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0.. 200/2000/20000/ 200000 lux

Wykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0.. 200/2000/20000/ 200000 lux Wykaz urządzeń Lp Nazwa urządzenia 1 Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0 200/2000/20000/ 200000 lux 2 Komora klimatyczna Komora jest przeznaczona do badania oporu

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORATORIUM ELEKTRONIKI Ćwiczenie 3 Wybór i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnego el ćwiczenia elem ćwiczenia jest poznanie wpływu ustawienia punktu pracy tranzystora na pracę wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Ćw. 27. Wyznaczenie elementów L C metoda rezonansu

Ćw. 27. Wyznaczenie elementów L C metoda rezonansu 7 K A T E D R A F I ZYKI S T O S O W AN E J P R A C O W N I A F I Z Y K I Ćw. 7. Wyznaczenie elementów L C metoda rezonansu Wprowadzenie Obwód złożony z połączonych: kondensatora C cewki L i opornika R

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze operacyjne

Wzmacniacze operacyjne Wzmacniacze operacyjne Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest badanie podstawowych układów pracy wzmacniaczy operacyjnych. Wymagania Wstęp 1. Zasada działania wzmacniacza operacyjnego. 2. Ujemne sprzężenie

Bardziej szczegółowo

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D. OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C. 60 o

Bardziej szczegółowo

O F E R T A H o t e l Z A M E K R Y N * * * * T a m, g d z i e b łł k i t j e z i o r p r z e p l a t a s ił z s o c z y s t z i e l e n i t r a w, a r a d o s n e t r e l e p t a z m i a r o w y m s z

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 7 Temat: Pomiar kąta załamania i kąta odbicia światła. Sposoby korekcji wad wzroku. 1. Wprowadzenie Zestaw ćwiczeniowy został

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra utomatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIK EKS1300024 WYBRNE ZSTOSOWNI DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH BIŁYSTOK

Bardziej szczegółowo

Rys.2. Schemat działania fotoogniwa.

Rys.2. Schemat działania fotoogniwa. Ćwiczenie E16 BADANIE NATĘŻENIA PRĄDU FOTOELEKTRYCZNEGO W ZALEŻNOŚCI OD ODLEGŁOŚCI ŹRÓDŁA ŚWIATŁA Cel: Celem ćwiczenia jest zbadanie zależności natężenia prądu generowanego światłem w fotoogniwie od odległości

Bardziej szczegółowo

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru

Bardziej szczegółowo

Dioda półprzewodnikowa

Dioda półprzewodnikowa COACH 10 Dioda półprzewodnikowa Program: Coach 6 Projekt: na MN060c CMA Coach Projects\PTSN Coach 6\ Elektronika\dioda_2.cma Przykład wyników: dioda2_2.cmr Cel ćwiczenia - Pokazanie działania diody - Wyznaczenie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0..

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0.. Nazwisko... Data... Nr na liście... Imię... Wydział... Dzień tyg.... Godzina... Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa Początkowa wartość kąta 0.. 1 25 49 2 26 50 3 27 51 4 28 52 5 29 53 6 30 54

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: UKŁADY ELEKTRONICZNE 2 (TS1C500 030) Tranzystor w układzie wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 Kod: ES1C400 026 BADANIE WYBRANYCH DIOD I TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK

Bardziej szczegółowo

Rys.1 Rozkład mocy wnikającej do dielektryka przy padaniu fali płaskiej Natężenie pola wewnątrz dielektryka maleje wykładniczo. Określa to wzór: (1)

Rys.1 Rozkład mocy wnikającej do dielektryka przy padaniu fali płaskiej Natężenie pola wewnątrz dielektryka maleje wykładniczo. Określa to wzór: (1) Temat nr 22: Badanie kuchenki mikrofalowej 1.Wiadomości podstawowe Metoda elektrotermiczna mikrofalowa polega na wytworzeniu ciepła we wsadzie głównie na skutek przepływu prądu przesunięcia (polaryzacji)

Bardziej szczegółowo

Rozmycie pasma spektralnego

Rozmycie pasma spektralnego Rozmycie pasma spektralnego Rozmycie pasma spektralnego Z doświadczenia wiemy, że absorpcja lub emisja promieniowania przez badaną substancję występuje nie tylko przy częstości rezonansowej, tj. częstości

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Ćwiczenie 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych tranzystorów polowych złączowych oraz z izolowaną

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13 Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13 Temat: Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie budowy, zasady

Bardziej szczegółowo

I PRACOWNIA FIZYCZNA, UMK TORUŃ

I PRACOWNIA FIZYCZNA, UMK TORUŃ I PRACOWNIA FIZYCZNA, UMK TORUŃ Instrukcja do ćwiczenia nr 59 WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA W SZKLE METODĄ KĄTA NAJMNIEJSZEGO ODCHYLENIA Instrukcje wykonali: G. Maciejewski, I. Gorczyńska

Bardziej szczegółowo

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa w Gdyni Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa w Gdyni Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów Z n a k s p r a w y G C S D Z P I 2 7 1 03 7 2 0 1 5 S P E C Y F I K A C J A I S T O T N Y C H W A R U N K Ó W Z A M Ó W I E N I A W y k o n a n i e r e m o n t u n a o b i e k c i e s p o r t o w y mp

Bardziej szczegółowo

SOLLICH 1203 CPM CATHODIC PROTECTION MICROSYSTEM

SOLLICH 1203 CPM CATHODIC PROTECTION MICROSYSTEM 2015-05-14 ATLAS SOLLICH ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH ATLAS - SOLLICH ul. Rębiechowo - Złota 9 80-297 Banino tel/fax: +48 58 349 66 77 www.atlas-sollich.pl e-mail: sollich@atlas-sollich.pl OPIS I DANE

Bardziej szczegółowo

I0.ZSP APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ INSTRUKCJA OBSŁUGI (DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA)

I0.ZSP APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ INSTRUKCJA OBSŁUGI (DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA) APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ INSTRUKCJA OBSŁUGI (DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA) LISTWOWY POWIELACZ SYGNAŁÓW ANALOGOWYCH ZSP-41-2 WARSZAWA, Kwiecień 2011 APLISENS

Bardziej szczegółowo

PRZYRZĄDY POMIAROWE. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

PRZYRZĄDY POMIAROWE. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego PRZYRZĄDY POMIAROWE Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Przyrządy pomiarowe Ogólny podział: mierniki, rejestratory, detektory, charakterografy.

Bardziej szczegółowo

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów Z n a k s p r a w y G C S D Z P I 2 7 1 0 4 52 0 1 5 S P E C Y F I K A C J A I S T O T N Y C H W A R U N K Ó W Z A M Ó W I E N I A W y k o n a n i e p o m i a r ó w i n s t a l a c j i e l e k t r y c

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-6

Ć W I C Z E N I E N R O-6 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-6 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FAL PODSTAWOWYCH BARW W WIDMIE ŚWIATŁA BIAŁEGO

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ ZAKŁAD ELEKTROWNI LABORATORIUM POMIARÓW I AUTOMATYKI W ELEKTROWNIACH BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH Instrukcja do ćwiczenia Łódź 1996 1. CEL ĆWICZENIA

Bardziej szczegółowo

POMIARY OSCYLOSKOPOWE. Instrukcja wykonawcza

POMIARY OSCYLOSKOPOWE. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 51 POMIARY OSCYLOSKOPOWE Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów a. Oscyloskop dwukanałowy b. Dwa generatory funkcyjne (jednym z nich może być generator zintegrowany z oscyloskopem) c. Przesuwnik

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie metody

Bardziej szczegółowo

NAGRZEWANIE ELEKTRODOWE

NAGRZEWANIE ELEKTRODOWE INSTYTUT INFORMATYKI STOSOWANEJ POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ Ćwiczenia Nr 7 NAGRZEWANIE ELEKTRODOWE 1.WPROWADZENIE. Nagrzewanie elektrodowe jest to nagrzewanie elektryczne oparte na wydzielaniu, ciepła przy przepływie

Bardziej szczegółowo

OPIS PATENTOWY PATENTU TYMCZASOWEGO. Patent tymczasowy dodatkowy. Zgłoszono: Zgłoszenie ogłoszono:

OPIS PATENTOWY PATENTU TYMCZASOWEGO. Patent tymczasowy dodatkowy. Zgłoszono: Zgłoszenie ogłoszono: POISKA RZECZPOSPOLITA LUDOWA OPIS PATENTOWY PATENTU TYMCZASOWEGO 121566 Patent tymczasowy dodatkowy patentunr Int. Cl.3 G02B 11/32 G02B 15/14 Zgłoszono: 27.10.79 (P. 219266) Pierwszeństwo: URZĄD PATENTOWY

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów Spis treści Ćwiczenie - 3 Parametry i charakterystyki tranzystorów 1 Cel ćwiczenia 1 2 Podstawy teoretyczne 2 2.1 Tranzystor bipolarny................................. 2 2.1.1 Charakterystyki statyczne

Bardziej szczegółowo

LVII Olimpiada Fizyczna (2007/2008)

LVII Olimpiada Fizyczna (2007/2008) LVII Olimpiada Fizyczna (2007/2008) Zadanie doświadczalne Masz do dyspozycji: baterię słoneczną, sześć różnych oporników o oporach 100Ω, 500Ω, 1000Ω, 2200Ω, 3000Ω, 4300Ω określonych z dokładnością 5%,

Bardziej szczegółowo

PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG

PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG 86/21 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 21(2/2) ARCHIVES OF FOUNDARY Year 2006, Volume 6, Nº 21 (2/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG M.

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

PRACOWNIA ELEKTRONIKI PRACOWNIA ELEKTRONIKI Temat ćwiczenia: BADANIE WZMACNIA- CZA SELEKTYWNEGO Z OBWODEM LC NIWERSYTET KAZIMIERZA WIELKIEGO W BYDGOSZCZY INSTYTT TECHNIKI. 2. 3. Imię i Nazwisko 4. Data wykonania Data oddania

Bardziej szczegółowo