RAPORT Nr <258/ХШ/РР SPEKTRALNY REJESTRATOR TEMPERATURY SRT. ях&рны^мфпьйовшщ WARSZAWA 1971 IN STYTUT В/ШĄŃ : J Ą DROW Y С Н

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "RAPORT Nr <258/ХШ/РР SPEKTRALNY REJESTRATOR TEMPERATURY SRT. ях&рны^мфпьйовшщ WARSZAWA 1971 IN STYTUT В/ШĄŃ : J Ą DROW Y С Н"

Transkrypt

1 Nr 1258/XYHI/PP IN STYTUT В/ШĄŃ : J Ą DROW Y С Н ях&рны^мфпьйовшщ ИНСТИТУТ INSTITUTE- ÓF NOG!LEAR RESEARCH; RAPORT Nr <258/ХШ/РР SPEKTRALNY REJESTRATOR TEMPERATURY SRT 3. LICK1 WARSZAWA 1971

2 This report has been reproduced directly from the best available copy Распространяет: ИНФОРМАЦИОННЫЙ ЦЕНТР ПО ЯДЕРНОЙ ЭНЕРГИЙ при Уполномоченном Правительства ПНР по Использованию Ядерной Энергии Дворец Культуры и Науки Варшава, П о л ь ш а Available from: NTJCLEAH ENERGY ШТОВДАПСЖ CESOJER of the Polish Government Commissioner for Use of Nuclear Energy Palace of Culture and Science Warsaw, Poland Drukuje i rozprowadza! OŚSODEK татонмасл O EHERGII JADROWBJ przy Pełnomocniku. Rłą&tł dla Sprasr Wykorzystania Energii Jądrowej Warssswa, Pałac Kultury i Banki Wydaje Instytut Badań Jądrowych Nakład 400 egz., Objętość ark. wyd. 4,56, Ark. druks'si, Data złożenia maszynopisu przez autora 2?.Х.48?0, Oddsno do druku 11.1-Й Druk ukończono W mu : SV-09/250/66, Zam. nr 83/71

3 XHSTTTU? BADAM J DROVTCB SPBKTR1I#Y REJESTRATOR TEMPERATURY / SRT / ТШ SPECTRAL TEMPERATURĘ RECORDER / SET / СПЕКТРАЛЬНЫЙ РЕШСТРАТиР Т?:..:.!..?лТ^РЫ /СРТ / Janusz Licki W pracy przedstawiono spektralny rejestrator temperatury, -a skrócie srwany SRT, przeinaczony do pomiaru lrysokich teaperatur /do 25OO E/ ga Ów /plazasy/ w komorach spalania i kanałach generatorów MED, Temperaturę głau określa eię aetodą rejestracji besiraglęanego natężenia nasyconej linii rezonansowej. Spektralny rejestrator temperatury składa się z:monochrousatora połączonego г fotopowielaczem, rejestratora, wzorcowej lampy wolfremovej kondensora i zwierciadła płaskiego. W pracy szczegółowo opie&no s poszczególne elementy układu, skalowanie całego układu i poaiar temperatury gazu, Dokładnośó pomiaru teaiperatwy gazów prsy рошюсу SRT zależy od grubości optycanej plasray, sssrokosci sscseliny

4 i etoisunku grubości irar 1nry prsyścieruao j w kanale do szerokości kanału* pracy prsedstawiono aetody sfcap*ry»srifcslld O okr«śl r>±» dokiadbośoi poaiaru. Obecność «arstwy prayśoleonej w kanale generatora gsaiejesa dekładaośe* poai&ru temperstory. ujeamy trptjv sożna ogradi.e»yć Зо mibiarosa praea odpo- -sjbćr essrofcoźci szcseliny aiorłochro^tora i atrotmnie ^kaisaissi natęźesia apsktralnsj liail. The s per pressnte the spectral temperature recorder in short cajj«d. SR5, which Is designed to seasurs hl^h /to 25OO S/ ef gassg /plassa/ in the coaibustion and KED duot. Эхе temperature of gasss Is by the aethod of rseordiąg of absolut saturated lias intensity, The spectral t recorder coasiats of a Eionochraaator which is connect*d with photomiiltlplier, recorder, stanc'.art trmgstea 1акр г Qond nser aud jcj.rror. In the paper there ie gi^ren a detailed description of several alemants of the eyates, the calibration of tł-. ayateib asd tha temperature aeaeursiasnt of g&s^s. The accuracy of taaperfttttro of gases, by aeans of SST- depends oa the optical thicknass of & plaessi» the width of slit of ffioneehroxaater and the ratio of the boimd ry layer thiclmsee to the duct width. In the pap r are presented the experimental methods of determination the accuracy /of temperature Beasurem&t/. A boxmdaurv layer ia the generator duet impairs the accuracy of teiep«ra«tur* aeaexcreaent 2t«negative influence шау be t the Blalaua by the suitable ehoioe tfe# width of of BOLosbroaai^r assi recording intensity froa regioa of the «udjrae line intensity,

5 Аннотация В работе представлен спектральный регистратор температуры» сокращенно СРТ. Прибор предназначен для измерений высоких температур (до 2500 К) газов (плазмы) в камерах сгорания и каналах М1Д генераторов. Температура газов определяется методом регистрации абсолютных иптенсивностей насыщенной резонансной линии. Спектральный регистратор состоит из монохроматора соединенного с фотоумножителем, регистратора, эталонной вольфрамной лампы, конденсора и зеркала. В работе даны подробная опись отдельных элементов системы, градуировку системы и измерения температуры газов. Точность измерений тепературы газов при помощи СРТ зависит от оптической толщины плазмы,ширины щели ыонохроаатора и относительной толщины пристенночного слоя. Б работе представлены экспериментальные методы определения точности измерений. Присутствие пристенночного слоя в канале генератора снижает точность измерений. Его отрицательное влияние можно ограничить до минимума при помощи соотвеявущего выбора ширины щели ионохроматора и регистрирования области максимума интенсивности спектральной линии. iii

6 I. QDIB II Bxadoirs,.!, opis ppggoze^óljyyeli aleiasatóy a<, Prajrrsąd b. Układ rejestr j 1, Fotopowielscz ć. Sejsstrator o. Układ do ukalowaaia т. 1йшра wsoroova г układea zasilający 2. Zwierciadło płaski III. ОЪе>гз^а itbładu ^. Skalowanie układu b. Porlar teaperatury gazu c. Dokładność poaiaru temperatury gazu przy ропюсу SRT d Pomiar temperatury gazu w obeoności ^arat^y prisyściennej Г7, Literatura V. Uzupełnienie ±r

7 I. OPIS PH2TS2#DU У г а егпа с żeni е Spektralny rejestrator temperatury j st prs patentu PRL Nr na "Sposób spektralnego pomiaru wysokich tenperatur gazów oraz urządaenie spektralne do stoe «ftuxia tego аровоьи" [1] będącego własnością Inetytutut B&uiń Jądrowych «Wsrssawa» fwóreaaii wyn&lasku są; prof.dr Wojciech Brzozowski i dr Szyson Suck wer s Prototyp t go ursą&senia scetai wykonauy i przebadany v Pracowni Spektroskopii Р1агшу w Zakładzie Pisyki i «chnik± Plaeay pod kierimkiea dr Szymona Suckewera. Spektralny rejestrator temperatury (SRT) prseznaosony jest do posiiaru «ysokich temperatur g&zóy /płomieni/ w коstorach a pałania p kanałach generatorów MHD itp. Zwykle wysoki teaperattiry ^zów w tyoh układach określa się Bstodą edwróoenia linii sodu [2,3,4,5«б]. Podstawową wadą urządzeń pabl&rauyoht opartych na tej ssendzis, jest niesosliwoź<5 aatyohiaiast-owego określenia temperatury gaau. Układy te nie pog&al&ją również na badanie bardzo szybkich smian temperatury. Dokładność t&&ioh pomiarów j st niewielka gdy w gazie wj~ stępują olała rozpraszające światło biegnące ze źródła wzorcowego. Hemparatura jeet wielkością, która ma zasadniczy wpływ na prsebieg prawie wszystkich zjawisk fizycznych i technologicznych. Dokładna snajeffiość tesaperaturj gazu jeet niezbędna do sresumienia procesów saohodsących w koaorse /lub kanale generatora MHD/ jak rówaiaź do kierowania, przebiegiee tych procesów. D G*1U nadaj«się spektralny rejestrator teauperat'-sry, b wi sa usośliwia ciągłą rejestrację teepermtixry badanego obiektu. W połączeniu s oscylografem uaożliwia pomiar szybkich ssilan taaaperstury. Wateą saletą tego przyrządu jest

8 prostota działania i łat^ć bełu^*. У ainiejss^j pracy prsśsdet&wiono przyrząd jgmisxu isapar&tury gazu do 2500 * Rozpoczęte prace nad. rosss rs Ql E zakresu miorsonych tаварага tur do S e Do pomiaru temperatury gaizu przy ponocy spaktralnsgo rajaatratora temperatury potrsetmy jast jeden otwór pomiarowy w кошогев /lub fra.nal'a/ tzw. e Jsżeli dysponuj шу lotc»ybi t prsjrs^se SRT można gazu жш-ósmo r«j straoji linii Jak 1»e'fcodą tej Unii [7] Praca ta adresowana jest do użytkowników SRT r stąd też jest w ni j sscaegółcmy opis prsyrsądu i j go 2aaada działania spektralnego rejestratora tamperafcury opisana jett ir pracy S.Suckewers. [в] na Międzynarodowya Sy^pozjus Generator ówmed w Warsza%rie 1968 r. Poaiar temp&ratury ga.su tym układem pol ga na rajeetra» cji bezwzględnego natężenia rezonansowych linii sodu lub innych pierwiastków /np pot-su/ ^r obesarze BakeiEusi natężenia tych linii. Pierwiastki te* o ii ni występują w gazi, ттрго^аава się do gazu w postaci &lk hol wyoh roztw r<fo wodorotlenków /HaOH lub EOH/ [7] lub wodnych rostworów soli E^CO,» w których sód występuje w portael domieszek [b]. Hatężenie linii spektralnej zależy nie tylk od temperatury ale i od eseregu innych parasietrów, z których najważniejszymi są:koncentracja atomów posiewu /sodu lub po* 3u/, grubość optycena promieniującej warstwy gazu warstwy przyściennej.

9 Aby móc wytnie zjć temperaturę na psdst&slo natężenia linii f oal» y uprsodnio określić sal«in«ćć natężenia linii od. posostftłyeh poxaaotirow. Część BW*J drfegi premieaiewanie prsebyra wewaątrs gdsi jeat p eh2anigm. Zj&ircLeko te nazywa się Wyobreźsy aobie że t? ksmale /koaorz apal&nia/ 1»»'йвга1осйа wers^wę gaz^ł o gpubośol 1 i konceatrmcji J/ ato»óv aaitująoyeh &шщ linię, Zgodnie % pr*wsm KlrcKhoffa warstwa gazu grubości их i tesperaturse f wy prosi ni owi У L - aatęśenis рг 1еМ. ^ш^а ela-ta dobkonal csarn go *' tssap«r turs f dla dltł ści fali Л. - wsp^esyaaik &ba rpo;ji premieniewania о AT *ч г śe± fali A, który B&leuj od kenceatracji Rtoaó^ i stslj jh cha.rakterystiją~ oysh te % щу Dokłsdns wyrażeni n w usupsłaieniu, Prsj prsseobsdsosllu t pr^aieaie»«aia przce waretwę o gruboж isastępaj osłabienie i s r sp.strywan«j grub śei waret^y /ed 0 do I / smstępti^ąo ^yraienie ш. eatężenl dxdx-b X T tt-e в v i lisdi spelrlrfelnej тягаъя j et lub т&тх omtętsiiiu priebiovaai oi&la Zaltoty t d tm* srubośoi ptyesaej ^i dla fiaasj Mali- e T '^ «-i * s rórmania /1/ te natężani linii j st properojenajja do X^T

10 Na rysunku 1, zaczerpniętym z pracy [1], prcypadek te* reprezentuje kontur oznaczony liczbą 1?. Przy X% j iy> i natężenie linii w obszarze średka linii Я o Jeerfe równe natę.żeijlu promlemlowania ciał* deckesale os*rm*g«. Na rye. 1 reprezeatują ten preypadek kentury oznacsene licsbasł U Z pracy [j\ vyalka, że ju± dla 7С лт -1-5" natężeale linii sp#ktral»*j w centrala»j części «eiąga varteec natężenia pr K& &lo*rania olała le czarnego /następuje nasycenie linii/. Prsj tenperaturse T» 2OOO*K edpowlaiia t» gęsteśoi J/ 4.10 ш&*ш6*/айг?r%j dsulseye wsreeeie ji at^ców posiewu rezseersa się "płaakfi" ceatralsa csęśd linii. Hastępuje rovniet poesersiaie linii ea jej /Ic iatva 15 i^ rys«1/, t aparatury gasu, prsy p^sfirsj rej*s'fcratera t«sper tt ry 9 spr^^adaa eię de tutiforienla awneohr aater% n& środek iiaii (Л о ) 1 vyorasia tak asereketfci ezoselisy еаэсьг^ша-ёвга &A j^ ł 9 aby ebjąć esczellną linii, w Шбгуя j«j natężeni jeet rdime natężeniu dl«. niexbjt d^źysh k^sieentracji atemów peaiewu są eałe - as^atr«s& e Ozsaesa t 9 że d9 takich ps>potrs«tay j«st aeneohreaater o dużej gdolmeśei rozi układ rejestrujący odpwiednie wzaecnieniu. peaiaru teep^ratury gazu epektralnys rejestratora» z»le y od warteśsi współ zyrmik* wyświecania йшае^ linii [8], kreślsneg następująco Ha ryeunkp. 2 [8] przedstawione zależność dokładaeści określenia tpup&ratury plas^r prsy роюооу SRT od wartości wopółczynni

11 Жтщрвш. ciągła ва -fcys ryounk» «4рсяг1а&а temperaturze gazu T»25OO i;. Abj usyskać dokładność lepszą ni* 2* potrzeba by X hjłm większe ed 0.3. Wartość wspózozynnika wyświecanie. Unii zależy od kształtu liaii i od wybr&nej szerokości eaeselinj «yjściowej monoohrcmatora. Jeśli wybierzemy eerekodei szczeliny tak jak to «robiono dla konturu 15 z rya. 1 t» współczynnik ec jest prawie rómiy jedności. Do poblarów wybierać należy małe eserokości szczelin wyjściowych monoobrematora. Zapewnia to równi<si dtufcą wartość et a\mjra eygaału do tła [1O]. Wydzielając sa posooą spektralnego prsyrs^iu /копоcbrosatora/ «łeatralną cześć linii, i rejestrując jej natężenie za pomocą foto powielacza i rejestratora» aożna w sposób oiągły określić temperaturę plazmy po uprzednia wysk&lg^anlu układu. Podając sygnał z fotopowlelacza na oscylograf Rożna rejestioirać szybkie zniaiiy temperatury gazu. Do określenia temperatury gazu potrzebny jest wzorzec wysokich temperatur. Zastosowano tu wstęgową lampę wolframową» Używa się jej do skalowania układu. Ohreśla się wtedy zależność wychylenia pisaka w rejestratorze od temperatury lampy wzorcowej i na tej podstawie sporządza się skalę temperatur. pracy [7] przeprowadzono jednoczesne pomiary temperatury plazmy dwoma przyrządami; MI4 /opartym na uogólnionej metodzie odwrócenia l i n i i/ i SRT /opartym na rejestracji bezwzględnego natężenia linii/ Na rye.3 przedstawiono porównanie wyników [7]. I I. BODOWA I OPIS P0SZCZBG6LHTCH ELEKBHTtfW SPSE3RAI SS0 REJESTRATORA TEMPERATURY Schemat blokowy całego zestawu spektralnego rejestratora temperatury przedstawiono na rys.4. Spektralny rejestrator temperatury gazów składa się z następujących zespołów:

12 a - przyrządu spektralnego /monoehromatora/ b - układu rejestrującego 1 - fotopowielać za 2» rejestratora o - układu do skalowania /cechowania/ 1 - wzorcowej lampy z układem zasilającym 2 - zwierciadła płaskiego dalszej części pracy opisane są poszczególne zespoły. II a. Przyrząd spektralny /monoehromator/ Do pomiaru wysokich temperatur gazów potrzebny jest ssonochroisator о dużej zdolności rozdzielczej. Poszczególne linie rezonansowe /sodu lub potasu/ powinny być w ni* dobrze rozdzielone» Zwykle peaiary wykonuje się na jednej z linii sodu {X o «5890 i luk X o Я ) lub potasu (X o ж lub Я «4047 1). Przed pomiarami monocbroeetor należy dokładnie ustawić ва środek linii. Dokoaujeay tego prsy pomocy odpcvladedaj laapy np. niekociśnisniowej la«py sodowej jeśli poaiary prowadzić będziesy mi rezonansowej linii sodu» prsypadku braku odpowiedniej lampy aożna zgrubnie ustawić BO&eohroBator na A w oparciu o skalę długości fal w monoobromatorse a następnie v czasie pomiarów przez dokładne wybranie aakeinua wychylenia pisaka rejestratora przy Biniaalnyeh zmianach położenie pryzmatu. Ważnym zagadnieniem jest odpowiednie wybranie szerokości szczeliny wejściowej i wyjściowej /St i S2/ monochrobb&tora, gdyż to w istotny sposób wpływa na dokładność pomiaru tenperatury. Do spektralnego rejestrowania tenperatury w Pracowni Spektroskopii Plazny /B-T?III/ zafetbsowa&o monoehromator SPM-2 produkcji Carl-Zeiss Jena. preyrsądsie tym szerokości obu szczelin /31 i 82/ są jednakowe. Dyspersja linio- ^8, monoohroaatora z prysjatem esklanym G60 dla X»4000&

13 wynosi 20 1/ssą zaś dla X =6000 i ^ynoei 90 i/ншь Kondensor z diafragsa ustawiony jest w odległości dwóch ogniskowych od szczeliny wejściowej BŁonochrosE&tora, Csęeto wziernik ogranicza kąt bryłowy pod którym шойвгау obserwować plazmę w kanale. Biafragma юа zapewnić równość kątów bryłowych pod jasimi monochromator, a właściwie Jego asczelina wejściowa, widzi lampy wzorcowej i plazmę v kanale. II b. Układ r e j a e t r u j ą c y II D,1. gotopowielacz Do spektralnego rejestratora teaperatury potrzebny jest fetopowielacz o stosunkowo dużym wsaocnieniu prądowym gdyż eserokoeoi sscseliny wyjściowej Konechronatora. są zwykle sałe. Typ saetosovanege powielacza elektronowego saleźy od tego w jakiia zakresie długości fal będsieisy pracować. HajlcpBse eą do tego fotepowielacse z fotokatodą typu U (S13) lub TU. Charakterystykę spektralnej czułsśoi fotokatody typu U (S13) prsedstawiono na rys. 5 [141 * Do spektralnego rejestratora temperatury zastosowano fotopowielacs M12FQS35. Posiada on duże wzaocnlenie prądowe (10 ), saeroki zsjcres spektralnej czułości fotokatody /fotokatoda typu 313/^ «ałe wymiary [11, 12, 13]. fotopowielacsu tym występują dvi* elektrody prowadzące, które ograniczają skuteczną powierzchnię fotokatody Bitniejesając v ten spesób ргад cieuny od obszarów brzegowych fotokatody. Wzmocnienie prrądow^ elektronowego powielacza w csasie całego pomiaru peviimo być stałe. Wobeo togo niezbędne jest zastosowanie stabuisovtmego zasilacza wysokiego napięcia,aby uzyskać stałość wzmocnienia prądowego z dokładnością + 1$ aalezy zasilać 12 stopniowy

14 M12FQ335 wysokim napięciem stabilizowanym s dokładnością f' 08 *- дм да /zgodnie ae wzorem s^ fl - gdzie M = wzmoonitnie prądowe U. s napięcie zaeilania *П z ilość dynod/ Ds zasilania elektronowego pewielaesa M12PQS35 zastosowano zaeilaca P2S-5- II e b.2 a Reieetrator Ciągły zapis temperatury gazu otrsymujeacy press sstosotmnle rejestratora. Do układu potrsebny jest rejestrator e> odpowiedniej ccułoścl. Prced poaiare» temperatury gasu jisleży wyelcaloimć rejestrator. Dokładny opis cechowania podany jest w następnej części pracy. Do spektralnego rejestratora temperatury saateseiran a Moter Kompensator typ ekst1" proóukoji HEB. Rejestrator ten posiada ж>и±яой6 oiągłej regulacji jego csu łoi с i i wyboru rótnych prędkości papieru. II c. Układ do akłlewania /oechowania/ II o«1» Wzorcowa "****'pa s Jako wzorzec w spektralnym rejstraterse stosuje się wstęgową lampę wclframewą,. Utywa się jej do skalewania całege układu pemiarowege. Umie sto га się ją aa oal pr«rt«- padiej do esi ogtycsnsj moaochrceatera. Dla katdej lampy spersadsa si* jej charlkteryetyke term»tryczną. Jest to zależność temperatury włókna lampy od prądu płynącego w obwodzie lampy. Temperaturę włókna lampy określa się optycznym pirometrem ze znikającym włóknem. Typowa charakterystyka przedstawiona jeet na rys. 6. 8

15 Do aasilania wstęgowej l&spy wolframowej produkcji Philips potrtebny jest sasilaaa 20 И 10?. prototypowych ureądseni&ch SET do tego celu s&stoeowano transfoneatory 220 Y/9 V о иосу as* 200 W zasilane g autotransformatorów Dla zbadania stabilności pr-aoy tych zaailacey prsepre»ausono pomiary porównawcze E wykorsy staniem saailaesa e Sodllec a,. Jesi b, to vybokoetfebiliso^ani,' sa siląc с prądu stałego г ciągłą regulaoją posiadająoy stabilność napięciową 10 ртву faaiaaie s«pięcia sasilającego. II с o 2, foiarcj-adło _ płas^e ITkład nsleży turtawić tak, źa рггу pevnyra lustra proaisniowanie gagu o wysokiej po odbiciu od swierciadła i prsejiseiu prses soczewkę pada na szczelinę wejściową monochrobatora. Prsy obroeie lustra o 90^- w csasie skalowani a» światło s lasapy wzorcowej pada na sscselinę wejściową mo&ochrosatora, Ha rys»7 prsedstawiono fotografię całego układu spektralnego rejestratora temperatxzry z ręcsnysa ob^ot л lustra. III. Obgłuffa układu BT W piracy ae spektralnym rejeetratorea temperatury wyróżnić można dwa etapy; a - skalowanie całego układu b - pomiar temperatury gazu /płomienia/ III & gkalowania spektralnego rejestratora tecroeratury Cechowanie c&łego układu należy prseprowadsać prsed i po poaiarse teeperattn-y gasu. Skalowanie po pomiarach temperatury wykonuje się w celu sprawi«enib esy psraaetry układu /np. wsaocnienie fotopowielacs»/ nie uległy w czaeie eksperyment^ 9

16 Lampę vsoreoira do skalowania układu ustawia się tak by drogi optyosno od lampy i od plazay do szczeliny wejściowej monochromafeora były jednakowe. Cechowanie układu przeprowadzamy w następujący sposób s =. ustawiamy «onochromator /i/ na wybraną do pomiarów długość fali,» ust&laay szerokość szczeliny wejściowej i wyjściowej moneehromatora /31 i 32/ Hajlepiej wybrać jak najamiejesą szerokość szczeliny. Sprawa ta jeet b&rdsiej słożona w praypadku dużych grubośei warstwy preyśeiennej. Prolsłe» ten dokładniej oadwiony będzie w następnym rozdziale, - ustrwiamy zwierciadło /6/ tak aby proaieniowenie wychodzące z lajapy padało na szcselinę wejściową monoahroaatora, - uatalaay w jakie zakresie temperatur będsiaay pr*3wadei<* TOsiary, Potrzebne jest to do wybrania wartośoi sapięsia nasilania fotopowielacsa /3/. Wychylenie pisejoi /4/ przy wybranej najwyższej tempereturse powinno aieśeić się w sairesie rejestratora i irinno być DliEfeie WB&LB? s&lnesu dozwolonemu wychyleniu 9 - następnie określamy zależność" sychylsnia pieate w rejestratora od prądu podawł&ego na lampę wsoreotrą. Typową taką oharakterystykę przedstawiono na rys. 8 e Hachylenie bej charakterystyki zależy od wzmocnienia prądowego fotopowlelacsa. Erzywą podaną na rye. 8 otrzyaaao рггу zasilaniu fotopowielacsa M12PQS35 napięciem Ha podstawie zależności temperatury lampy od prądu płynącego przez wstęgę wolframową /rys. 6/ określamy podziałkę temperatur. Skala ta jeet nierównomierna. III b. Po wy skalowaniu układu pray stępujemy do poai&ru temperatury gazu o Zwierciadło płaskie uatawlaay tak aby promieniowanie, pochodzące $d ^isów w komorze spalani*, po przejśoiu prs«s kondensor /7 rys. 4/ podało na szczelinę wejśoiową aonochromatora. Sygnał z fotopowielaćza 10

17 йа rejeetziator. 2 wychylenia piies&fea rejestrato ra e4 ayttyes3^ na safe&ii.aktualną temperaturę gasra 3 Jeśeli 3#et ditigetrwaly i. odbyva się w truźsysa warunkach, wibrssje co pwaien о.аав aależy sprawiać ustasrisnie spektralnego m, ^.ksiiuiaa natężenia linii. Fotografię stai vi«jk& poaiarowago toapersttsrj gasó» w ftcetylenosre-tle&owa.;} k«khirrse epaleuaia a&inetaloranej w Ztółedsie lizyki i feofaniki Plasmy IBJ Świerk pokąsano na rye. 9. III e e Dokładność, geal^u. tg^vgqratury gazu epektralc^a Dokładność posiaru teapera-.tury g&zu. prsy роваоеу SET od dokłsdausśgis zastosjowvaej aetody poaaiaru s skalowania układu i odesyfcasla wartości wychylenia pisaka «rejastratorse. Dokładność sajaej metody pomiaru określona jeet wartością współcsynnlka / c / wyświecania danej linii. W pracy [?] podano szereg metod określania współczynnika ec. Prałrfeycznie w trakoie posuarów pojęcie o dokładności aetody «aozlivia prsejśeie s jednej linii dubletu rezonansowego na drugą [7]. Jeśli is кошогге spalania wykonano dwa otwory prselotewa te współczynnik e a»żna określić aą isetodą odwrócenia li&jju Inna metoda polega na sn&lisie konturów badanyoh spektralnych linii III d* jpomierff, t«apgrat\3ry gagu w obecneaci w kpkorse eisffilą w 1i* lub ^.2ytF obecnoeei warstwy przyściennej w btnale genera tara SHD na koat^r lixiii spektralnej i n* dokłads^ść trson ^ ргае&сл [7 i 18]. Stifierdsono tam, ż 11

18 występowania w kanale warstwy prgyściannej kontury linii stają elf eaaoodwrócone. W centralnej oaęśoi linii ^stępuje minimum wywołane pochłanianiem promieniowania w warstwie przyściennej«ilustruje to rya. 10 [18]. S&ŁBOodwrócenie linii spektralnej powoduj saniejssenis wartości wapdłcsynnika wyświecenia danej linii. E& dwóch rysunkach /11a i 11Ъ/ prsedstawiono salażność współ-» csynnika e od względnej grubości warstwy przyściennej dla rćżnyeh grubości optycanyeh pl&saay i różnych sserokośoi szczeliny wyjściowej monochromatera [i8l. Z rys» 11a wynika, żs dla aalych grubości optyosmjch pis- &my i di-iżych ^z^jlednych grubości waretiry prsyściennej s^ależy poiaiary wyleonywać na bard so s^łych ssisrokoś ciach esc ~ liny aonochj'oibafcora /&Хн s0 o is -4 Q 3 / aby aapewnid dobrą dokładność pomiaru temperatury gaau a idaczej wygląda sytuacja dla większych grubości optycznych gsssu.. Dla dużych grubości warstwy preyściennej dokładniejaae stają się wtedy po8iia:ry tesaperatury przy ^iękssych szerokościach sscaeliny monocnromatora /rys, 11b/? tzn e Д^-м eo.si-f-i «os. a więc do pomiaru można zastosować monoehroaator o małej zdolności rozdzielczej. Dokładność pomiaru temperatury gazu, przy рошосу SRT, w obecności waretwy prgyściennej w kanale można znaćśnie poprawić rejestrując natężenie nie centralnej ceęści linii lecz obszaru położonego w obszarze jednego z maksimów. Jeat to szczególnie istotne dla dużych grubości optycznych plazay. Maksima są wtedy szerokie. Stosując monochromtor o dużej sdolnoścl rozdzielczej można znacznie polepszyć dokładność pomiaru. Ha rys.12 przedstawiono współczynniki wyświecania linii sodu w funkcji względnej grubości warstwy przyściennej w prsypadku gdy spektralny przyrząd nastawiony jest na obszar maksiiram natężenia linii /a ale na środek linii/. 12

19 Współczynnik c тал odpowiada przypadkowi gdy szerokość SECzaliny дх^ jest nieskończenie mała, Z porównania гув»11ь i 12 wynika ( że ustawiając monochroraator na leaksimum na~ tąśenia linii i wybierając oałe szerokości szczeliny &Ay{ t»0 2 lub 0,3 I шо^ла anacznie poprawić dokładność poaieru i mierzyć temperaturę z dokładnością lepszą niż 2?C w praypadku względnych gruboeei warstwy przyeciennej aś de T>c5 e 10" /prsy 'Хд^-Е. =500/. A zatem wybierając odpowiednio szerokość szczeliny wyjściowej monochrornatora i rejestrując natężenie albo centralnej części linii /dla maiycb grubości optycsnyoh plazmy i małych grubości warstwy prsyśeieunej umiejazych niż 10 szerokości kanału/ alb obszaru шакг±шиш natężenia linii można znacznie sraaiejsayć ujemny wpły\» waratwy przyściennej na dokładność pomiaru temperatury gszu przy рош'осу spektralnego rejestratora tecperatury.? 0 D Z I? I О К i I I E Pragnę podziękować prof, dr W S.Brzozowskiemu i dr 3 Sucke^erowi - autoroa wynalazku -га przejrzenie rękopisu pracy i рошос okazaną w czasie jej wykonywania. Pragnę również podziękować za udzieloną pomoc w czasie pisania pracy mgr inż. A.CzarnoHiskieBm, J.Białkowskiemu i T.DeręcfcLemu.

20 IV. LITERATURA 1. W.Brzozowski, S.Suckewer, Patent PRL /19ь7 г./ 2. Н.Н.Соболев, Труды ФИАН СССР, Т. VII /1956/ 3. A.G.Gaydon, The Spectroecopy of Flames, Chapman-Hall, London I.Surugue,A. Moutet, Experimental Methods in Combustiom Research, Pergamon Prejs, J.Poućelet, P.Ricateau, R.Devime, H.Lecroart, X.Hgugenduo,, Symposium MHD, Newcastle upor Tyne, I96z 6. -1,А.Васильева, В.В.Кириллов, А.П.Нефедов, Теплофизика Высоких Температур 7, 495 /1968/ 7. S.Suckewer, J.Lioki, B.Hizera, P.Żelazny "ELectrocity from Ш) 1968" Vol.IV, SM-107/96 Nukleonika H f 153 /1969/ 8. S.Suckever "ELectricity from KRD 196B H Vol.IV, S»-107/94 Nukleonika 14, 139 /1969/ 9. C.b. Фриш, Оптические спектры атомов, Москва, Electronics for spectrosoopists, Hilger and Watts, London PhotovervieIfacher, VEB Carl Zeiss Jena 12.Z.Faust, Przetworniki fotoelektryczne, WE i Ł, W-wa E.S.Lion, Przyrządy do badań naukowych, WNT, W-wa 1962 i4.photomultiplier tubes, Philips product data, J.Licki, B.Mizera, S.Suckewer, Raport IBJ 1129/XVIII/PP 1969 i6.e.rogrien, Plasują Spectroscopy, McGrav Hill Book Company, W.W.MC G^e,I.D.Winefordner, J.Quant.Spectr.Rad.Tranef., 7, 261 /1967/ 18. J.Llcki, S.Suckewer, Raport IBJ 1122/XVIII/PP B.H.Ariaetrong, J.Quant. Spectrosc. Radiat»Transfer., 7, 61 /1967/ 14

21 V. UZUPEŁNIENIE Współczynnik pochłaniania Xjg- dla linii spektralnej poszerzonej ciśnieniowe» i w wyniku efektu Dopplera wyraża się następująco: Ф«3 -С 81 I/ f е з d * * gdzie m & ^ A o - długość fali w środku linii. Dla linii sodowej X o =5690 & Лв - poszsrzenie dopplerowskie Ł X o = " o ^ - masa elektronu gdzie д - ciężar atomowy atomów emitujących daną linię - siła oscylatora dla przejścia s poziomu i do poziomu k. Dla atomu aodu dla linii 7i e «5890 % fi K =0.62 [15] - koncentracja atomów posiewu w stanie i /zdolnych do absorpcji promieniowania powstającego z przejścia między stanem к a st&nem i/. t parauetr t ł i i N t 2 gdsle AXL - poszerzenie lorentzowskle linii. W pracy [17] eksperyiaeatalnle określono, że a-1.05 dla A o a*589o % T-2700 K prsy spalaniu acetylenu я tlenem pod normalnym ciśnieniem 15

22 <s41 giaść od środka linii wyrażona w posserzonl&ch dopplerovafctoh tó* Jł ~ Gaiki nyetęptijąoej w równaniu /1/ ai ssożaa aaality Qsaie wyliezyć. praoaeh [2, 19] podano szereg me tod prsybliśoaego oblioseńia jej wartości. 16

23 46 prcmiemowme aa fa doshonołe czarr/eco i3 1 Kontury linii spektralnej dla różnych grubości optycznych gazu. ОЪjaśnienie podano w tekście

24 25 \ 15 т Р ;; 00 L.- 0 D.1 '1 0,2 ~ ЦЗ 0,4 05 ОБ 07 Q& 03 I ю Нуя. 2 Zalotność dokładności określenia temperatury gazu metodą rejestraoji od wartości wcpoiobynnika wydvleoaiiia danoj linii <.

25 1700 Rye. 3 Porównanie vekazan dwdoh przyrssądóir mlersąayoh jednoox«śnie temperaturę Л - HT4 SRT

26 т \ 8 Л-\\\Л-Л\ ) f -u 0-2OOQV 5 I 1 2 1V яке мое ч 1 4 Rys. 4 Scheiaat blokowy sc-aktralnego rejestratora temperatury 1 - monochromator S1 - szczelina wejściewa monochromatora Б2 - szczelina wyjściowa Błonochrosatora 2 - fotopowielacz 3 - zaellacz wysokiego napięcia 4 - rejestrator 5-1ашра vzorcowa /wstęgowa lampa wolframowa/ 6 - zwierciadło płaskie 7 - soczewka skupiająca z diafragmą 8 - kanał z wslernikiem 9 - gaz o wysokiej temperaturze /płomień/ 20

27 100 [ N[%]\ 1 "I 80 г I QD L A [A] Bye. 5 Charakterystyka spektralnej estjłośei fotokatody typu S13 21

28 2600 ТГК] 2m \ Q $ 1А ЛА1 By а. 6 CliaraJrteiyrtyka teraoaetryczoa fraaovsj Зллру wox- 22

29 Bye,, 7 Spektralny rejestrator tempera tiary 1 - fotopovialacs M 1 ZPQS35 w obudowie 2» monochroaator SPM amperomierz 4 - zasilacz do laapy wouramcnrej /trameforeator 22OV/9V о mocy«200 / 5 - lampa wolfra&ova w obudowie 6 «kondensor E diafr&gmą 7 - zwierciadło płaskie v obudowie 8 - rejeatrator 9 - etabillzovaay zasilace do fotopowielacza 10 - ezyna. monochr ornat ora

30 Rye. 8 Żalesnoć 6 wychylenia pisaka w rejeatratorze typu ek ВГС1 od prądu płynącego przez laapę wolframową. Jednostki 2п они rsęunych wybrane tak, że jedynka osnacza oaiy sakr** rmj*«tratora.

31 Eye. 9 Vldok układu pomiarowego r aoatyl.nowo-uenową *ошога -tlenowa komora

32 "Г J_ i. i Przepływ turbulenłraij 1,0 О Rye, 10 Kontury spektralnej linii Haj589Ol dl* róśnyoh grubości warstwy prsyśeienaej w kanale g*n»rat?-^ ШП Ъ - stosunek grubości warstwy przyaeiennej do szerokości kanału Tp - temperatura plasąy w eentralbtj esęśoi kanału Te - teaperatura ścianki g - grubość optyczna plaasay & - parametr tłumienia 26

33 го Przepływ laminarny 0.2 'К - - -t 10" 10 3 ю Eye. 11 a Zależność wapółazynnika < wydwiecania linii sodu Л о = dla róźnyoh azerokoeci eaczellny wyjściowej monochromatore / ux n/od yzgiętoej gt-ubości warstwy przyiścietmej /b/ gdzie b=h/ Ё, h- grubość wartwy przyściennej Ł -ecroko^c kanału, Tp - teeiperatu a ^-aiu w centralnej części kanału, Tc-teraperatura ścianki kanału, gu-x^r-l.

34 го со Przepływ laminarnu о Rye, U b Zależność współczynnika < wyświecania linii eodu Xo =5890 dla różnych szerokości eaozeliisy wyjściowej laonochroimitore МХн/ od grubości warstwy prejdoierm»j /b/. Wagyatkie oimaoaenia takie fak na ryfc«,11a,

35 QC ṁax Przepływ lominornij g-500 a 4,0 Гр*2500 К Т с Ч500 К 10 : 10 Rye. 12 Zależność współczynnika -f wyświecania epektralnej linii acdu Л о =!589cS od względnej grubości W9retwy przyściennej /b/. JTzyrząd epektralny'nastawiony na obezar яаквшшт natuen,, i l n l l. Vezyfitkle oznaczenia takie jah ла -ув и

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko

Bardziej szczegółowo

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów Z n a k s p r a w y G C S D Z P I 2 7 1 07 2 0 1 5 S P E C Y F I K A C J A I S T O T N Y C H W A R U N K Ó W Z A M Ó W I E N I A f U s ł u g i s p r z» t a n i a o b i e k t Gó w d y s k i e g o C e n

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

Systemy i architektura komputerów

Systemy i architektura komputerów Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Systemy i architektura komputerów Laboratorium nr 4 Temat: Badanie tranzystorów Spis treści Cel ćwiczenia... 3 Wymagania... 3 Przebieg ćwiczenia...

Bardziej szczegółowo

Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne

Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne Zagadnienia: 1. Absorbcja światła. 2. Współrzędne trójchromatyczne barwy, Prawa Gassmana. 3. Trójkąt barw. Trójkąt nasyceń. 4. Rozpraszanie światła. 5.

Bardziej szczegółowo

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne ZADANIE D2 Nazwa zadania: Światełko na tafli wody Mając do dyspozycji fotodiodę, źródło prądu stałego (4,5V bateryjkę), przewody, mikroamperomierz oraz

Bardziej szczegółowo

Deuterowa korekcja tła w praktyce

Deuterowa korekcja tła w praktyce Str. Tytułowa Deuterowa korekcja tła w praktyce mgr Jacek Sowiński jaceksow@sge.com.pl Plan Korekcja deuterowa 1. Czemu służy? 2. Jak to działa? 3. Kiedy włączyć? 4. Jak/czy i co regulować? 5. Jaki jest

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY FIZYKI LASERÓW Wstęp

PODSTAWY FIZYKI LASERÓW Wstęp PODSTAWY FIZYKI LASERÓW Wstęp LASER Light Amplification by Stimulation Emission of Radiation Składa się z: 1. ośrodka czynnego. układu pompującego 3.Rezonator optyczny - wnęka rezonansowa Generatory: liniowe

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 1. Regulacja i pomiar napięcia stałego oraz porównanie wskazań woltomierzy.

Ćwiczenie nr 1. Regulacja i pomiar napięcia stałego oraz porównanie wskazań woltomierzy. Ćwiczenie nr 1 Regulacja i pomiar napięcia stałego oraz porównanie wskazań woltomierzy. 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest analiza wpływów i sposobów włączania przyrządów pomiarowych do obwodu elektrycznego

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. I. Cel ćwiczenia ĆWICZENIE 6 Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. Badanie właściwości wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie wspólnego kolektora. II.

Bardziej szczegółowo

Rys.2. Schemat działania fotoogniwa.

Rys.2. Schemat działania fotoogniwa. Ćwiczenie E16 BADANIE NATĘŻENIA PRĄDU FOTOELEKTRYCZNEGO W ZALEŻNOŚCI OD ODLEGŁOŚCI ŹRÓDŁA ŚWIATŁA Cel: Celem ćwiczenia jest zbadanie zależności natężenia prądu generowanego światłem w fotoogniwie od odległości

Bardziej szczegółowo

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów Cele: Wyznaczenie charakterystyk dla diod i tranzystorów. Dla diod określa się zależność I d =f(u d ) prądu od napięcia i napięcie progowe U p. Dla tranzystorów

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METOD I TECHNIK BADAŃ MATERIAŁÓW

LABORATORIUM METOD I TECHNIK BADAŃ MATERIAŁÓW LABORATORIUM METOD I TECHNIK BADAŃ MATERIAŁÓW ĆWICZENIE NR 11 BADANIA SKŁADU CHEMICZNEGO ( STALOSKOP ) I. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodą analizy staloskopowej oraz identyfikacja

Bardziej szczegółowo

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki.

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. 1. Równanie soczewki i zwierciadła kulistego. Z podobieństwa trójkątów ABF i LFD (patrz rysunek powyżej) wynika,

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-6

Ć W I C Z E N I E N R O-6 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-6 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FAL PODSTAWOWYCH BARW W WIDMIE ŚWIATŁA BIAŁEGO

Bardziej szczegółowo

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METROLOGII

LABORATORIUM METROLOGII LABORATORIUM METROLOGII POMIARY TEMPERATURY NAGRZEWANEGO WSADU Cel ćwiczenia: zapoznanie z metodyką pomiarów temperatury nagrzewanego wsadu stalowego 1 POJĘCIE TEMPERATURY Z definicji, która jest oparta

Bardziej szczegółowo

Dioda półprzewodnikowa

Dioda półprzewodnikowa COACH 10 Dioda półprzewodnikowa Program: Coach 6 Projekt: na MN060c CMA Coach Projects\PTSN Coach 6\ Elektronika\dioda_2.cma Przykład wyników: dioda2_2.cmr Cel ćwiczenia - Pokazanie działania diody - Wyznaczenie

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 7 Temat: Pomiar kąta załamania i kąta odbicia światła. Sposoby korekcji wad wzroku. 1. Wprowadzenie Zestaw ćwiczeniowy został

Bardziej szczegółowo

Rozmycie pasma spektralnego

Rozmycie pasma spektralnego Rozmycie pasma spektralnego Rozmycie pasma spektralnego Z doświadczenia wiemy, że absorpcja lub emisja promieniowania przez badaną substancję występuje nie tylko przy częstości rezonansowej, tj. częstości

Bardziej szczegółowo

PRZYRZĄDY POMIAROWE. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

PRZYRZĄDY POMIAROWE. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego PRZYRZĄDY POMIAROWE Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Przyrządy pomiarowe Ogólny podział: mierniki, rejestratory, detektory, charakterografy.

Bardziej szczegółowo

Wykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0.. 200/2000/20000/ 200000 lux

Wykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0.. 200/2000/20000/ 200000 lux Wykaz urządzeń Lp Nazwa urządzenia 1 Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0 200/2000/20000/ 200000 lux 2 Komora klimatyczna Komora jest przeznaczona do badania oporu

Bardziej szczegółowo

OPTOELEKTRONIKA IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

OPTOELEKTRONIKA IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH. 1 IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH. Cel ćwiczenia: Wyznaczenie postawowych parametrów spektralnych fotoprzewozącego etektora poczerwieni. Opis stanowiska: Monochromator-SPM- z

Bardziej szczegółowo

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa w Gdyni Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa w Gdyni Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów Z n a k s p r a w y G C S D Z P I 2 7 1 03 7 2 0 1 5 S P E C Y F I K A C J A I S T O T N Y C H W A R U N K Ó W Z A M Ó W I E N I A W y k o n a n i e r e m o n t u n a o b i e k c i e s p o r t o w y mp

Bardziej szczegółowo

SOLLICH 1203 CPM CATHODIC PROTECTION MICROSYSTEM

SOLLICH 1203 CPM CATHODIC PROTECTION MICROSYSTEM 2015-05-14 ATLAS SOLLICH ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH ATLAS - SOLLICH ul. Rębiechowo - Złota 9 80-297 Banino tel/fax: +48 58 349 66 77 www.atlas-sollich.pl e-mail: sollich@atlas-sollich.pl OPIS I DANE

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ ZAKŁAD ELEKTROWNI LABORATORIUM POMIARÓW I AUTOMATYKI W ELEKTROWNIACH BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH Instrukcja do ćwiczenia Łódź 1996 1. CEL ĆWICZENIA

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób określania koncentracji tlenu międzywęzłowego w materiale półprzewodnikowym

(54) Sposób określania koncentracji tlenu międzywęzłowego w materiale półprzewodnikowym RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 172863 P O L S K A (21) Numer zgłoszenia 3 0 1 7 1 5 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 3 1.1 2.1 9 9 3 Rzeczypospolitej Polskiej (51) Int.Cl.6 H01L 21/66

Bardziej szczegółowo

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D. OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C. 60 o

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE

ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE Cel ćwiczenia Poznanie podstawowej metody określania biochemicznych parametrów płynów ustrojowych oraz wymagań technicznych stawianych urządzeniu pomiarowemu.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Ćwiczenie 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych tranzystorów polowych złączowych oraz z izolowaną

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej TIA ZIENNE LAORATORIM PRZYRZĄÓW PÓŁPRZEWONIKOWYCH Ćwiczenie nr 8 adanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOFET I. Zagadnienia

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3 Sporządzanie Charakterystyk Triody

Ćwiczenie 3 Sporządzanie Charakterystyk Triody WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI POLITECHNIKI KRAKOWSKIEJ Instytut Fizyki LABORATORIUM PODSTAW ELEKTROTECHNIKI, ELEKTRONIKI I MIERNICTWA Ćwiczenie 3 Sporządzanie Charakterystyk Triody POJĘCIA I

Bardziej szczegółowo

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr : Soczewki Cel ćwiczenia: Wyznaczenie ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiającej i rozpraszającej) oraz ogniskowej soczewki rozpraszającej

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym

Bardziej szczegółowo

O F E R T A H o t e l Z A M E K R Y N * * * * T a m, g d z i e b łł k i t j e z i o r p r z e p l a t a s ił z s o c z y s t z i e l e n i t r a w, a r a d o s n e t r e l e p t a z m i a r o w y m s z

Bardziej szczegółowo

iii W К RAKOWIE INSTITUTE OF NtidLEAJa DOBÓR PARAMETRÓW ELEKTROSTATYCZNEJ SOCZEWKI UNIPOTENCJALNEJ. PROGRAM DLA MASZYNY ODRA 1204 1NP No 852/E

iii W К RAKOWIE INSTITUTE OF NtidLEAJa DOBÓR PARAMETRÓW ELEKTROSTATYCZNEJ SOCZEWKI UNIPOTENCJALNEJ. PROGRAM DLA MASZYNY ODRA 1204 1NP No 852/E 1NP No 852/E ^ W К RAKOWIE INSTITUTE OF NtidLEAJa " '- : " V'-' C R A C O W ; REPORT No 852/E DOBÓR PARAMETRÓW ELEKTROSTATYCZNEJ SOCZEWKI UNIPOTENCJALNEJ. PROGRAM DLA MASZYNY ODRA 1204 S. LAZARSftl, E.LIPIftSKA,

Bardziej szczegółowo

Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów optycznych.

Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów optycznych. msg O 7 - - Temat: Badanie soczewek, wyznaczanie odległości ogniskowej. Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów

Bardziej szczegółowo

NR.1331/XI/R RAPORT NR. 1331/XI/R CYFROWY INTEGRATOR ŁADUNKU S, GŁO WACKI WARSZAWA 1971

NR.1331/XI/R RAPORT NR. 1331/XI/R CYFROWY INTEGRATOR ŁADUNKU S, GŁO WACKI WARSZAWA 1971 NR.1331/XI/R RAPORT NR. 1331/XI/R CYFROWY INTEGRATOR ŁADUNKU S, GŁO WACKI WARSZAWA 1971 Shis raport пае been reproduced directly from the best available copy Распространяет: ИНФОРМАЩОННЫЙ ЦЕНТР ПО ЯДЕРНОЙ

Bardziej szczegółowo

Pracownia Automatyki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 2 str. 1/7 ĆWICZENIE 2

Pracownia Automatyki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 2 str. 1/7 ĆWICZENIE 2 Pracownia Automatyki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 2 str. 1/7 ĆWICZENIE 2 WYBRANE ELEKTRYCZNE CZUJNIKI-PRZETWORNIKI PRZESUNIĘĆ LINIOWYCH I KĄTOWYCH 1.CEL ĆWICZENIA: zapoznanie się z podstawowymi

Bardziej szczegółowo

WYDZIAŁ.. LABORATORIUM FIZYCZNE

WYDZIAŁ.. LABORATORIUM FIZYCZNE W S E i Z W WASZAWE WYDZAŁ.. LABOATOUM FZYCZNE Ćwiczenie Nr 10 Temat: POMA OPOU METODĄ TECHNCZNĄ. PAWO OHMA Warszawa 2009 Prawo Ohma POMA OPOU METODĄ TECHNCZNĄ Uporządkowany ruch elektronów nazywa się

Bardziej szczegółowo

Tranzystor. C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma Coach Projects\PTSN Coach 6 \Elektronika\Tranzystor_cz2b.cmr

Tranzystor. C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma Coach Projects\PTSN Coach 6 \Elektronika\Tranzystor_cz2b.cmr Tranzystor Program: Coach 6 Projekt: komputer H : C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma Coach Projects\PTSN Coach 6 \Elektronika\Tranzystor_cz1.cmr C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma

Bardziej szczegółowo

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa w Gdyni Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyńskie Centrum Sportu jednostka budżetowa w Gdyni Rozdział 2. Informacja o trybie i stosowaniu przepisów Z n a k s p r a w y G C S D Z P I 2 7 1 0 2 8 2 0 1 5 S P E C Y F I K A C J A I S T O T N Y C H W A R U N K Ó W Z A M Ó W I E N I A f W y k o n a n i e ro b ó t b u d o w l a n y c h w b u d y n k u H

Bardziej szczegółowo

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela.

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 20 luty 2012 Stolik optyczny

Bardziej szczegółowo

Rozwiązanie zadania opracowali: H. Kasprowicz, A. Kłosek

Rozwiązanie zadania opracowali: H. Kasprowicz, A. Kłosek Treść zadania praktycznego Rozwiązanie zadania opracowali: H. Kasprowicz, A. Kłosek Opracuj projekt realizacji prac związanych z uruchomieniem i sprawdzeniem działania zasilacza impulsowego małej mocy

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

Prawa optyki geometrycznej

Prawa optyki geometrycznej Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska

Politechnika Warszawska Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny Laboratorium Teletechniki Skrypt do ćwiczenia T.02. Woltomierz RMS oraz Analizator Widma 1. Woltomierz RMS oraz Analizator Widma Ćwiczenie to ma na celu poznanie

Bardziej szczegółowo

Przetworniki AC i CA

Przetworniki AC i CA KATEDRA INFORMATYKI Wydział EAIiE AGH Laboratorium Techniki Mikroprocesorowej Ćwiczenie 4 Przetworniki AC i CA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania wybranych rodzajów przetworników

Bardziej szczegółowo

OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS

OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS Zagadnienia teoretyczne. Spektrofotometria jest techniką instrumentalną, w której do celów analitycznych wykorzystuje się przejścia energetyczne zachodzące

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne sieci komputerowe

Nowoczesne sieci komputerowe WYŻSZA SZKOŁA BIZNESU W DĄBROWIE GÓRNICZEJ WYDZIAŁ ZARZĄDZANIA INFORMATYKI I NAUK SPOŁECZNYCH Instrukcja do laboratorium z przedmiotu: Nowoczesne sieci komputerowe Instrukcja nr 1 Dąbrowa Górnicza, 2010

Bardziej szczegółowo

Właściwości światła laserowego

Właściwości światła laserowego Właściwości światła laserowego Cechy charakterystyczne światła laserowego: rozbieżność (równoległość) wiązki, pasmo spektralne, gęstość mocy spójność (koherencja). Równoległość wiązki Dyfrakcyjną rozbieżność

Bardziej szczegółowo

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni IR II 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni Promieniowanie podczerwone ma naturę elektromagnetyczną i jego absorpcja przez materię podlega tym samym prawom,

Bardziej szczegółowo

LUPS-11ME LISTWOWY UNIWERSALNY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, kwiecień 2003 r.

LUPS-11ME LISTWOWY UNIWERSALNY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, kwiecień 2003 r. LISTWOWY UNIWERSALNY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA Wrocław, kwiecień 2003 r. 50-305 WROCŁAW TEL./FAX (+71) 373-52-27 ul. S. Jaracza 57-57a TEL. 0-602-62-32-71 str.2 SPIS TREŚCI

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA LOGISTYKI I TRANSPORTU PRZEMYSŁOWEGO NR 1 POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO Katowice, październik 5r. CEL ĆWICZENIA Poznanie zjawiska przesunięcia fazowego. ZESTAW

Bardziej szczegółowo

ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE

ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE RE. 0.4 1. CEL ĆWICZENIA Wyznaczenie podstawowych parametrów tranzystora unipolarnego takich jak: o napięcie progowe, o transkonduktancja,

Bardziej szczegółowo

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 5 Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami optycznymi. Badane elementy: Zestaw ćwiczeniowy Laser

Bardziej szczegółowo

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyński Ośrodek Sportu i Rekreacji jednostka budżetowa Rozdział 2.

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyński Ośrodek Sportu i Rekreacji jednostka budżetowa Rozdział 2. Z n a k s p r a w y G O S I R D Z P I 2 70 1 3 7 2 0 1 4 S P E C Y F I K A C J A I S T O T N Y C H W A R U N K Ó W Z A M Ó W I E N I A f U d o s t p n i e n i e w r a z z r o z s t a w i e n i e m o g

Bardziej szczegółowo

I N S T Y T U T F I Z Y K I U N I W E R S Y T E T U G D AŃSKIEGO I N S T Y T U T K S Z T A Ł C E N I A N A U C Z Y C I E L I

I N S T Y T U T F I Z Y K I U N I W E R S Y T E T U G D AŃSKIEGO I N S T Y T U T K S Z T A Ł C E N I A N A U C Z Y C I E L I I N S T Y T U T F I Z Y K I U N I W E R S Y T E T U G D AŃSKIEGO I N S T Y T U T K S Z T A Ł C E N I A N A U C Z Y C I E L I C ZĘŚĆ I I I Podręcznik dla nauczycieli klas III liceum ogólnokształcącego i

Bardziej szczegółowo

AX-850 Instrukcja obsługi

AX-850 Instrukcja obsługi AX-850 Instrukcja obsługi Informacje dotyczące bezpieczeństwa Aby uniknąć porażenia prądem elektrycznym lub obrażeń: Nigdy nie podłączaj do dwóch gniazd wejściowych lub do dowolnego gniazda wejściowego

Bardziej szczegółowo

BADANIE WŁAŚCIWOŚCI I UKŁADÓW PRACY ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA

BADANIE WŁAŚCIWOŚCI I UKŁADÓW PRACY ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA Ćwiczenie S 23 BADANIE WŁAŚCIWOŚCI I UKŁADÓW PRACY ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie studentów z właściwościami elektrycznych źródeł światła, układami w jakich

Bardziej szczegółowo

Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych

Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC na tranzystorach bipolarnych Wzmacniacz jest to urządzenie elektroniczne, którego zadaniem jest : proporcjonalne zwiększenie amplitudy wszystkich składowych widma sygnału

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

FA300Ex. Przetworniki punktu rosy. Karta katalogowa FA300Ex

FA300Ex. Przetworniki punktu rosy. Karta katalogowa FA300Ex FA300Ex Przetworniki punktu rosy Idealne rozwiązanie do pomiaru punktu rosy w aplikacjach ciśnieniowych i atmosferycznych m.in. do kontroli osuszaczy membranowych, adsorpcyjnych, dla 1 strefy zagrożenia

Bardziej szczegółowo

Zaznacz prawdziwą odpowiedź: Fale elektromagnetyczne do rozchodzenia się... ośrodka materialnego A. B.

Zaznacz prawdziwą odpowiedź: Fale elektromagnetyczne do rozchodzenia się... ośrodka materialnego A. B. Imię i nazwisko Pytanie 1/ Zaznacz właściwą odpowiedź: Fale elektromagnetyczne są falami poprzecznymi podłużnymi Pytanie 2/ Zaznacz prawdziwą odpowiedź: Fale elektromagnetyczne do rozchodzenia się... ośrodka

Bardziej szczegółowo

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Struktura pasmowa ciał stałych. 2. Klasyfikacja ciał stałych w oparciu o teorię

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY OZNACZANIE AKTYWNOŚCI, OKRESU PÓŁTRWANIA I MAKSYMALNEJ ENERGII PROMIENIOWANIA

POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY OZNACZANIE AKTYWNOŚCI, OKRESU PÓŁTRWANIA I MAKSYMALNEJ ENERGII PROMIENIOWANIA POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW OZNACZANIE AKTYWNOŚCI, OKRESU PÓŁTRWANIA I MAKSYMALNEJ ENERGII PROMIENIOWANIA Opiekun ćwiczenia: Jerzy Żak Miejsce ćwiczenia:

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych. Cel ćwiczenia: Zapoznać z budową, zasadą działania, charakterystykami

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale

Bardziej szczegółowo

DTR.SP-02 APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA

DTR.SP-02 APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA DTR.SP-02 APLISENS PRODUKCJA PRZETWORNIKÓW CIŚNIENIA I APARATURY POMIAROWEJ DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA SEPARATOR SYGNAŁÓW PRĄDOWYCH BEZ ENERGII POMOCNICZEJ TYPU SP-02 WARSZAWA, STYCZEŃ 2004r. 1 DTR.SP-02

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła

Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła Michał Łasica klasa IIId nr 13 22 grudnia 2006 1 1 Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki 1.1

Bardziej szczegółowo

Miernik wielofunkcyjny z pamięcią DO9847 - Test-Therm

Miernik wielofunkcyjny z pamięcią DO9847 - Test-Therm Miernik wielofunkcyjny z pamięcią DO9847 - Test-Therm DO9847 to przenośny wielofunkcyjny miernik z pamięcią, umożliwiający podłączenie różnorodnych sond pomiarowych. Kompaktowa obudowa i różnorodność sond

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 53. Soczewki

Ćwiczenie 53. Soczewki Ćwiczenie 53. Soczewki Małgorzata Nowina-Konopka, Andrzej Zięba Cel ćwiczenia Pomiar ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiająca i rozpraszająca), obliczenie ogniskowej soczewki rozpraszającej.

Bardziej szczegółowo

Seminarium Elektrycznych Metod i Przyrządów Pomiarowych

Seminarium Elektrycznych Metod i Przyrządów Pomiarowych Seminarium Elektrycznych Metod i Przyrządów Pomiarowych Mostki dwuprądowe Część pierwsza Mostki dwuprądowe Program seminarium:. Część pierwsza: Wstęp kład mostka dwuprądowego zrównoważonego Zasada działania

Bardziej szczegółowo

Siatka spiętrzająca opis czujnika do pomiaru natężenia przepływu gazów. 1. Zasada działania. 2. Budowa siatki spiętrzającej.

Siatka spiętrzająca opis czujnika do pomiaru natężenia przepływu gazów. 1. Zasada działania. 2. Budowa siatki spiętrzającej. Siatka spiętrzająca opis czujnika do pomiaru natężenia przepływu gazów. 1. Zasada działania. Zasada działania siatki spiętrzającej oparta jest na teorii Bernoulliego, mówiącej że podczas przepływów płynów

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 1. Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym.

Ćwiczenie 1. Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym. Ćwiczenie 1 Symulacja układu napędowego z silnikiem DC i przekształtnikiem obniżającym. Środowisko symulacyjne Symulacja układu napędowego z silnikiem DC wykonana zostanie w oparciu o środowisko symulacyjne

Bardziej szczegółowo

Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem

Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem Ćwiczenie E7 Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem E7.1. Cel ćwiczenia Prąd elektryczny płynący przez przewodnik wytwarza wokół niego pole magnetyczne. Ćwiczenie polega na pomiarze

Bardziej szczegółowo

Badanie licznika Geigera- Mullera

Badanie licznika Geigera- Mullera Badanie licznika Geigera- Mullera Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie charakterystyki napięciowej licznika Geigera-Müllera oraz wyznaczenie szczególnych napięć detektora Wstęp Licznik G-M jest

Bardziej szczegółowo

Pomiary rezystancji izolacji

Pomiary rezystancji izolacji Stan izolacji ma decydujący wpływ na bezpieczeństwo obsługi i prawidłowe funkcjonowanie instalacji oraz urządzeń elektrycznych. Dobra izolacja to obok innych środków ochrony również gwarancja ochrony przed

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH Gliwice, wrzesień 2005 Pomiar napięcia przemiennego Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie dokładności woltomierza cyfrowego dla

Bardziej szczegółowo

Spektrometr ICP-AES 2000

Spektrometr ICP-AES 2000 Spektrometr ICP-AES 2000 ICP-2000 to spektrometr optyczny (ICP-OES) ze wzbudzeniem w indukcyjnie sprzężonej plazmie (ICP). Wykorztystuje zjawisko emisji atomowej (ICP-AES). Umożliwia wykrywanie ok. 70

Bardziej szczegółowo

12.2. Kompensator o regulowanym prądzie i stałym rezystorze (Lindecka)

12.2. Kompensator o regulowanym prądzie i stałym rezystorze (Lindecka) . POMARY METODĄ KOMPENSACYJNĄ Opracowała: R. Antkowiak Na format elektroniczny przetworzył: A. Wollek Niniejszy rozdział stanowi część skryptu: Materiały pomocnicze do laboratorium z Metrologii elektrycznej

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE. Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej.

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE. Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej. LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej.. Wprowadzenie Soczewką nazywamy ciało przezroczyste ograniczone

Bardziej szczegółowo

2.3. Pomiary wielkości elektrycznych i mechanicznych. (1h wykładu)

2.3. Pomiary wielkości elektrycznych i mechanicznych. (1h wykładu) 2.3. Pomiary wielkości elektrycznych i mechanicznych. (1h wykładu) 2.3.1. Pomiary wielkości elektrycznych Rezystancja wejściowa mierników cyfrowych Przykład: Do sprawdzenia braku napięcia przemiennego

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ POMIAR OGNISKOWYCH SOCZEWEK CIENKICH 1. Cel dwiczenia Zapoznanie z niektórymi metodami badania ogniskowych soczewek cienkich. 2. Zakres wymaganych zagadnieo: Prawa odbicia

Bardziej szczegółowo

Podstawy miernictwa. Mierniki magnetoelektryczne

Podstawy miernictwa. Mierniki magnetoelektryczne Podstawy miernictwa Miernik - przyrząd pozwalający określić wartość mierzonej wielkości (np. napięcia elektrycznego, ciśnienia, wilgotności), zazwyczaj przy pomocy podziałki ze wskazówką lub wyświetlacza

Bardziej szczegółowo

PRZETWORNIK PRĄDOWY PP 2000-pH

PRZETWORNIK PRĄDOWY PP 2000-pH PWPN-T TEL-EKO PROJEKT Sp. z o.o. ul. Ślężna 146-148, 53-111 Wrocław tel./fax: (071) 337 20 20, 337 20 95 tel: (071) 337 20 95, 337 20 20, 337 08 79 www.teleko.pl e-mail: biuro@teleko.pl PRZETWORNIK PRĄDOWY

Bardziej szczegółowo

Celem ćwiczenia jest poznanie metod pomiaru podstawowych wielkości fizycznych w obwodach prądu stałego za pomocą przyrządów pomiarowych.

Celem ćwiczenia jest poznanie metod pomiaru podstawowych wielkości fizycznych w obwodach prądu stałego za pomocą przyrządów pomiarowych. 1. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie metod pomiaru podstawowych wielkości fizycznych w obwodach prądu stałego za pomocą przyrządów pomiarowych. 2. Wstęp teoretyczny. Pomiary podstawowych wielkości

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY LABORATORIUM PRZEMYSŁOWEGO. ĆWICZENIE 3a

PODSTAWY LABORATORIUM PRZEMYSŁOWEGO. ĆWICZENIE 3a PODSTAWY LABORATORIUM PRZEMYSŁOWEGO ĆWICZENIE 3a Analiza pierwiastkowa podstawowego składu próbek z wykorzystaniem techniki ASA na przykładzie fosforanów paszowych 1 I. CEL ĆWICZENIA Zapoznanie studentów

Bardziej szczegółowo

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 196881 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340516 (51) Int.Cl. G01R 11/40 (2006.01) G01R 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela

Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela Ćwiczenie O4 Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela O4.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie ogniskowych soczewek skupiających oraz rozpraszających z zastosowaniem o metody Bessela. O4.2.

Bardziej szczegółowo

35 OPTYKA GEOMETRYCZNA. CZĘŚĆ 2

35 OPTYKA GEOMETRYCZNA. CZĘŚĆ 2 Włodzimierz Wolczyński Załamanie światła 35 OPTYKA GEOMETRYCZNA. CZĘŚĆ 2 ZAŁAMANIE ŚWIATŁA. SOCZEWKI sin sin Gdy v 1 > v 2, więc gdy n 2 >n 1, czyli gdy światło wchodzi do ośrodka gęstszego optycznie,

Bardziej szczegółowo

PL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL

PL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203461 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354438 (51) Int.Cl. G01F 1/32 (2006.01) G01P 5/01 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

Pomiary podstawowych wielkości elektrycznych: prawa Ohma i Kirchhoffa. Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji

Pomiary podstawowych wielkości elektrycznych: prawa Ohma i Kirchhoffa. Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Elektronika Laboratorium nr 1 Temat: Pomiary podstawowych wielkości elektrycznych: prawa Ohma i Kirchhoffa Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji

Bardziej szczegółowo

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyński Ośrodek Sportu i Rekreacji jednostka budżetowa Rozdział 2.

Rozdział 1. Nazwa i adres Zamawiającego Gdyński Ośrodek Sportu i Rekreacji jednostka budżetowa Rozdział 2. Z n a k s p r a w y G O S I R D Z P I 2 7 1 0 3 12 0 1 4 S P E C Y F I K A C J A I S T O T N Y C H W A R U N K Ó W Z A M Ó W I E N I A f O b s ł u g a o p e r a t o r s k aw r a z z d o s t a w» s p r

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi kalibratora napięcia i prądu pętli

Instrukcja obsługi kalibratora napięcia i prądu pętli Informacje dotyczące bezpieczeństwa Aby uniknąć porażenia prądem elektrycznym lub obrażeń: Nigdy nie podłączaj do dwóch gniazd wejściowych lub do dowolnego gniazda wejściowego i uziemionej masy napięcia

Bardziej szczegółowo

Technik elektronik 311[07] Zadanie praktyczne

Technik elektronik 311[07] Zadanie praktyczne 1 Technik elektronik 311[07] Zadanie praktyczne Mała firma elektroniczna wyprodukowała tani i prosty w budowie prototypowy generator funkcyjny do zastosowania w warsztatach amatorskich. Podstawowym układem

Bardziej szczegółowo

Pojemnościowy przetwornik wilgotności oraz wilgotności i temperatury do zastosowań w klimatyzacji

Pojemnościowy przetwornik wilgotności oraz wilgotności i temperatury do zastosowań w klimatyzacji Karta kat. 90.7021 Str. 1/6 Pojemnościowy przetwornik wilgotności oraz wilgotności i temperatury do zastosowań w klimatyzacji Pomiar wilgotności względnej i temperatury powietrza Do grzejnictwa, klimatyzacji

Bardziej szczegółowo