PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 15/13
|
|
- Dominika Adamska
- 4 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia: (51) Int.Cl. G01B 7/00 ( ) H01J 37/26 ( ) G06F 19/00 ( ) (54) Układ synchronicznej cyfrowej detekcji amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pomiarowej w dynamicznym mikroskopie sił atomowych (73) Uprawniony z patentu: UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL (43) Zgłoszenie ogłoszono: BUP 15/13 (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: WUP 05/15 (72) Twórca(y) wynalazku: SŁAWOMIR PAWŁOWSKI, Zduńska Wola, PL GRZEGORZ DOBIŃSKI, Zgierz, PL MAREK EUGENIUSZ SMOLNY, Łódź, PL MICHAŁ PISKORSKI, Łódź, PL (74) Pełnomocnik: rzecz. pat. Wojciech Zajączkowski
2 2 PL B1 Opis wynalazku Przedmiotem wynalazku jest układ synchronicznej cyfrowej detekcji amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pomiarowej w dynamicznym mikroskopie sił atomowych, znajdujący zastosowanie w analizie właściwości fizycznych oraz topografii badanej powierzchni. Z pracy Springer Handbook of Nanotechnology pod edycją H. Bushana wydanie II 2007 na stronach znany jest układ detekcji amplitudy i fazy pierwszej harmonicznej przy użyciu wzmacniacza homodynowego. Z pracy Higher harmonics imaging in tapping-mode atomic-force microscopy opublikowanej przez R. W. Starka i W. M. Heckla w tomie 74, numerze 12 czasopisma Review of Scientific Instruments z grudnia 2003 znany jest układ umożliwiający jednoczesną detekcję amplitudy i fazy pierwszej oraz dowolnej harmonicznej sygnału pochodzącego z beleczki pomiarowej polegający na użyciu dwóch wzmacniaczy homodynowych, z tym że do drugiego doprowadzony jest sygnał referencyjny o częstotliwości będącej powieleniem częstotliwości wzbudzającej drgania beleczki pomiarowej. Z pracy wydanej w tomie 70, numerze 9 z września 1999 Review of Scientific Instruments autorstwa M. Starka i R. Guckenbergera pt. Fast low-cost phase detection setup for tapping-mode atomic force microscopy znany jest układ detekcji przesunięcia fazy pierwszej harmonicznej sygnału odbitego od powierzchni beleczki pomiarowej przy zastosowaniu przerzutnika bistabilnego oraz układ filtru dolnoprzepustowego lub też alternatywnego rozwiązania z wykorzystaniem generatora napięcia piłokształtnego oraz układu próbkująco pamiętającego. W obu tych przypadkach mierzone przesunięcie fazowe jest proporcjonalne do uśrednionej wartości napięcia pojawiającego się na wyjściu filtru dolnoprzepustowego bądź układu próbkująco-pamiętającego. Z pracy autorstwa R. Hillenbranda, M. Starka i R. Guckenbergerga pt. Higher-harmonics generation in tapping-mode atomic-force microscopy: Insights into the tip-sample interaction opublikowanej w Applied Physics Letters tom 76, numer 23 z czerwca 2000 r. znany jest układ detekcji amplitudy składowych harmonicznych drgań beleczki pomiarowej polegający na akwizycji sygnału z diody PSD przez przetwornik analogowo-cyfrowy, a następnie przetworzeniu go przy użyciu szybkiej transformaty Fouriera i algorytmów uśredniających. Z pracy autorstwa Toshio Ando, Noriyuki Kodera, Eisuke Takai, Daisuke Maruyama, Kiwamu Saito i Akitoshi Toda opublikowanej w PN AS 23 października 2001, w tomie 98, numerze 22 na stronach znany jest układ wykorzystujący przetwornik wartości skutecznej sygnału do uzyskania wartości błędu kontrolera PID. Istota układu synchronicznej cyfrowej detekcji amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pomiarowej w dynamicznym mikroskopie sił atomowych według wynalazku polega na tym, że zawiera programowalną pętlę sprzężenia fazowego połączoną z przetwornikiem analogowo-cyfrowym, który jest połączony z układem FPGA. Układ synchronicznej cyfrowej detekcji amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pomiarowej w dynamicznym mikroskopie sił atomowych według wynalazku, zapewnia zarówno generowanie sygnału błędu dla kontrolera PID, jak i detekcję amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału drgań beleczki pomiarowej powstałych na skutek interakcji sondy próbkującej z badaną powierzchnią. Korzystnym jest, że układ poprzez próbkowanie sygnału z częstotliwością będącą całkowitą wielokrotnością częstotliwości wzbudzającej drgania sondy eliminuje zjawisko przecieku widma występujące podczas obliczania przekształcenia Fouriera, a tym samym poprawia czułość detekcji harmonicznych oraz umożliwia odtworzenie prawidłowych przesunięć fazowych świadczących o właściwościach fizycznych badanej powierzchni, ponadto nie jest konieczne korygowania wartości obliczonych amplitud składowych widma częstotliwościowego co dodatkowo przyspiesza obliczenia. Korzystnym jest, że układ poprzez użycie przekształcenia Fouriera pozwala na równoczesne uzyskanie informacji o amplitudzie i przesunięciach fazowych wielu harmonicznych jednocześnie. Korzystnym jest, że układ można wykorzystać do obliczenia sygnału błędu dla kontrolera PID na podstawie amplitudy pierwszej harmonicznej. Korzystnym jest również, że układ jest w stanie obliczyć amplitudę pierwszej harmonicznej w czasie niewiele dłuższym od czasu pojedynczego okresu sygnału wzbudzającego drgania sondy pomiarowej.
3 PL B1 3 Układ synchronicznej cyfrowej detekcji amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pomiarowej w dynamicznym mikroskopie sił atomowych, według wynalazku przedstawiono na rysunku w postaci schematu. Wyjście układu bezpośredniej syntezy cyfrowej 10 połączone jest z elementem piezoelektrycznym 9, a także z wejściem sygnału referencyjnego programowalnej pętli sprzężenia fazowego 11. Sygnał zegarowy 12 wychodzący z pętli sprzężenia fazowego połączony jest z wejściem zegarowym przetwornika analogowo-cyfrowego 1. Laser 17 umieszczony jest w taki sposób aby, jego promień po odbiciu od beleczki pomiarowej 20 trafiał na diodę PSD 8. Powstały w niej sygnał napięciowy doprowadzony jest do filtru antyaliasingowego 4, za którym umieszczony jest przetwornik cyfrowoanalogowy 1. Cyfrowe linie danych oraz wyjściowy sygnał zegarowy 21 przetwornika połączone są z układem FPGA 14, w którym zaimplementowany jest algorytm obliczający szybkie przekształcenie Fouriera, algorytmy uśredniające, a także algorytm obliczający wartość pojedynczego prążka dyskretnego przekształcenia Fouriera oraz algorytmy obliczające fazę i amplitudę na podstawie przekształcenia Fouriera (CORDIC) lub tylko przybliżoną amplitudę (Alfa max plus Beta min). Dodatkowo układ FPGA 14 połączono z komputerem PC 15 umożliwiającym przesyłanie ustawień z programu użytkownika oraz widma sygnału do programu użytkownika. Układ FPGA 14 połączony za pomocą linii 2 jest także z przetwornikiem cyfrowo-analogowym 13, który z kolei połączony za pomocą linii 6 jest z komparatorem 5. Do drugiego wejścia komparatora podłączony jest sygnał określający punkt pracy 3, który określa stopień tłumienia drgań beleczki pomiarowej. Wyjście komparatora połączone jest jako sygnał 6 błędu regulatora PID 7. Wyjście regulatora PID połączono do wzmacniacza toru Z 19, który połączony jest w sposób umożliwiający wychylenie piezo skanera 16 w kierunku Z. Jednocześnie sygnał z wyjścia regulatora PID 7 jest informacją o topografii powierzchni 18. Działanie układu według wynalazku jest następujące. Sygnał wzbudzający drgania sondy próbkującej, generowany przez układ bezpośredniej syntezy cyfrowej 10 podawany do elementu piezoelektrycznego 9, jest on jednocześnie sygnałem referencyjnym dla programowalnej pętli sprzężenia fazowego 11, która służy do wytworzenia sygnału zegarowego 12 o częstotliwości 2 x (np. 64, 128, 256) razy większej od częstotliwości z jaką drga beleczka pomiarowa. Wytworzone w ten sposób impulsy zegarowe służą z kolei do taktowania przetwornika analogowo-cyfrowego 1, a także części zasobów logicznych układu FPGA 14 odpowiedzialnego za odczyt danych oraz obliczanie amplitudy oraz fazy drgań sondy pomiarowej. Próbkowanie z całkowitą wielokrotnością sygnału wejściowego eliminuje zjawisko przecieku widma i nie wymaga stosowania okienkowania, co dodatkowo zwiększa czułość opracowanej metody. Dodatkowo, generowanie impulsów zegarowych, których częstotliwość jest potęgą 2 pozwala zachować tę właściwość również przy analizie wyższych harmonicznych obliczanych z użyciem algorytmu szybkiej transformaty Fouriera i umożliwia odtworzenie przesunięć fazowych poszczególnych harmonicznych. Wartość amplitudy ulega konwersji na napięcie w przetworniku cyfrowo-analogowym 13 i trafia do komparatora 5, gdzie zostaje porównana z nastawą 3 określającą punkt pracy układu - wielkość tłumienia drgań ostrza na skutek jego oddziaływania z próbką. Powstały w ten sposób sygnał błędu 6 podawany jest do regulatora PID 7, który podstraja wzmacniacz wysokiego napięcia Z 19 tak, aby amplituda drgań ostrza 20 była zachowana na stałym poziomie. Sygnał regulacji 18 jest proporcjonalny do nierówności powierzchni i służy do utworzenia na ekranie komputera obrazu topograficznego. W związku z tym, iż cały proces próbkowania i przetwarzania jest synchronizowany, możliwe jest również obliczanie w czasie rzeczywistym zmian przesunięcia fazowego dowolnej składowej harmonicznej, sygnału pochodzącego z drgającej sondy pomiarowej w stosunku do sygnału wymuszającego jej drgania. Tak obliczone amplitudy i fazy składowych harmonicznych przesyłane są do systemu komputerowego 15, gdzie mogą być dalej analizowane i przetwarzane. Algorytm detekcji fazy i amplitudy drgań beleczki pomiarowej oblicza pierwszą harmoniczną zgodnie ze wzorem na dyskretne przekształcenie Fouriera: gdzie: X(m) - m-ta składowa wyjściowej DFT, m - indeks próbek wyjściowych DFT w dziedzinie częstotliwości, x(n) - ciąg próbek wejściowych,
4 4 PL B1 n - indeks próbek wejściowych w dziedzinie czasu, N - liczba próbek ciągu wejściowego oraz liczba punktów częstotliwości w ciągu wyjściowym DFT. Wzór ten dla pierwszej harmonicznej obliczanej z np. N = 2 8 = 256 elementowego ciągu próbek rzeczywistych x(n) przyjmuje postać: W układzie FPGA 14 następuje równoległe przetwarzanie części urojonej i rzeczywistej. W każdym cyklu zegara wartość odczytana z przetwornika analogowo-cyfrowego jest mnożona przez odpowiednią wartość funkcji sinus (dla części urojonej) oraz cosinus (dla części rzeczywistej). Zastosowanie wbudowanych w układy FPGA bloków DSP umożliwia również w tym samym cyklu sumowanie poszczególnych iloczynów. Odpowiednie wartości funkcji sinus zostały stablicowane i są wczytywane do dwuportowego bloku pamięci RAM w momencie konfiguracji układu FPGA. Użycie pamięci dwuportowej umożliwia wykorzystanie tych samych wartości, ale odpowiednio przesuniętych, jako mnożników dla części rzeczywistej i urojonej. Z uzyskanej w ten sposób pierwszej składowej widma obliczana jest przy użyciu algorytmu CORDIC amplituda oraz faza drgań sondy próbkującej lub przy użyciu algorytmu Alfa max plus Beta min przybliżona wartość tej amplitudy. Zastrzeżenie patentowe Układ synchronicznej cyfrowej detekcji amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pomiarowej w dynamicznym mikroskopie sił atomowych, znamienny tym, że zawiera programowalną pętlę sprzężenia fazowego (11) połączoną z przetwornikiem analogowo- -cyfrowym (1), który jest połączony z układem FPGA (14).
5 PL B1 5 Rysunek
6 6 PL B1 Departament Wydawnictw UPRP Cena 2,46 zł (w tym 23% VAT)
PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych
PL 216925 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216925 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389198 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213448 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386136 (51) Int.Cl. H03H 11/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 23.09.2008
Bardziej szczegółowo(57) Tester dynamiczny współpracujący z jednej strony (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Tester dynamiczny
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166151 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 0 5 8 3 (22) Data zgłoszenia: 06.06.1991 (51) IntCl5: G01R 31/28
Bardziej szczegółowoMETODA DETEKCJI AMPLITUDY I FAZY W TRYBIE KONTAKTU PRZERYWANEGO W DYNAMICZNYM MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH
6-2013 T R I B O L O G I A 87 Sławomir PAWŁOWSKI *, Grzegorz DOBIŃSKI * Andrzej MAJCHER **, Mirosław MROZEK ** METODA DETEKCJI AMPLITUDY I FAZY W TRYBIE KONTAKTU PRZERYWANEGO W DYNAMICZNYM MIKROSKOPIE
Bardziej szczegółowoRZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)175879 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 308877 (22) Data zgłoszenia: 02.06.1995 (51) IntCl6: H03D 7/00 G 01C
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA OPOLSKA, Opole, PL BUP 11/18. JAROSŁAW ZYGARLICKI, Krzyżowice, PL WUP 01/19
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 230966 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 423324 (51) Int.Cl. H02M 3/155 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 31.10.2017
Bardziej szczegółowoPL B BUP 14/16
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229798 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 410735 (51) Int.Cl. G01R 19/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 22.12.2014
Bardziej szczegółowoPL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203461 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354438 (51) Int.Cl. G01F 1/32 (2006.01) G01P 5/01 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data
Bardziej szczegółowo(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE03/00923 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 204399 (21) Numer zgłoszenia: 370760 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2003 (86) Data i numer zgłoszenia
Bardziej szczegółowoPL B1. INSTYTUT MECHANIKI GÓROTWORU POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Kraków, PL BUP 21/08. PAWEŁ LIGĘZA, Kraków, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209493 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382135 (51) Int.Cl. G01F 1/698 (2006.01) G01P 5/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1 (13) B1. (54) Sposób i układ do pomiaru energii elektrycznej G 01R 21/127. (73) Uprawniony z patentu: (43) Zgłoszenie ogłoszono:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 297 394 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 11.01.1993 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G 01R 21/127
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 05/13. PIOTR WOLSZCZAK, Lublin, PL WUP 05/16. rzecz. pat.
PL 221679 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221679 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 396076 (51) Int.Cl. G08B 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Układ i sposób zabezpieczenia generatora z podwójnym uzwojeniem na fazę od zwarć międzyzwojowych w uzwojeniach stojana
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 199508 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 353671 (51) Int.Cl. H02H 7/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 29.04.2002
Bardziej szczegółowoParametryzacja przetworników analogowocyfrowych
Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych wersja: 05.2015 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaprezentowanie istoty działania przetworników analogowo-cyfrowych (ADC analog-to-digital converter),
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203822 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358564 (51) Int.Cl. G01N 19/04 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL
PL 223692 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223692 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399602 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 10/14. KRZYSZTOF GOŁOFIT, Lublin, PL PIOTR ZBIGNIEW WIECZOREK, Warszawa, PL
PL 225188 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225188 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 401523 (51) Int.Cl. G06F 7/58 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów
PL 224727 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224727 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391882 (51) Int.Cl. G01S 5/18 (2006.01) G01S 3/80 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoUkład stabilizacji natężenia prądu termoemisji elektronowej i napięcia przyspieszającego elektrony zwłaszcza dla wysokich energii elektronów
PL 219991 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219991 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 398424 (51) Int.Cl. G05F 1/56 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1. HERTZ SYSTEMS LTD SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Zielona Góra, PL BUP 21/13 PRZEMYSŁAW CZESNOWICZ,
PL 221155 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221155 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 398668 (51) Int.Cl. H03L 7/06 (2006.01) G04F 5/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1 PRZEDSIĘBIORSTWO BADAWCZO- -PRODUKCYJNE I USŁUGOWO-HANDLOWE MICON SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, KATOWICE, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205621 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 368490 (22) Data zgłoszenia: 14.06.2004 (51) Int.Cl. H04L 29/00 (2006.01)
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób pomiaru składowych impedancji czujnika indukcyjnego i układ pomiarowy składowych impedancji czujnika indukcyjnego
PL 218944 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218944 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 391744 (22) Data zgłoszenia: 05.07.2010 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoRZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)
RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 161259 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 282353 (51) IntCl5: G01R 13/00 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 16.11.1989 Rzeczypospolitej Polskiej (54)Charakterograf
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ sterowania przemiennika częstotliwości z falownikiem prądu zasilającego silnik indukcyjny
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 199628 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 367654 (51) Int.Cl. H02P 27/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.05.2004
Bardziej szczegółowoPL B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica,Kraków,PL BUP 19/03
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 198698 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 352734 (51) Int.Cl. H05B 6/06 (2006.01) H02M 1/08 (2007.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA OPOLSKA, Opole, PL BUP 05/19. RYSZARD KOPKA, Opole, PL WIESŁAW TARCZYŃSKI, Opole, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 232570 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 425810 (51) Int.Cl. H02J 15/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.06.2018
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego
PL 223315 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223315 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399459 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA OPOLSKA, Opole, PL BUP 17/17. JAROSŁAW ZYGARLICKI, Krzyżowice, PL WUP 03/18
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228251 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 420600 (51) Int.Cl. H02H 3/32 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.02.2017
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 3. Właściwości przekształcenia Fouriera
Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Przetwarzanie sygnałów laboratorium ETD5067L Ćwiczenie 3. Właściwości przekształcenia Fouriera 1. Podstawowe właściwości przekształcenia
Bardziej szczegółowoZjawisko aliasingu. Filtr antyaliasingowy. Przecieki widma - okna czasowe.
Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Komputerowe wspomaganie eksperymentu Zjawisko aliasingu.. Przecieki widma - okna czasowe. dr inż. Roland PAWLICZEK Zjawisko aliasingu
Bardziej szczegółowoPL B1. Układ zabezpieczenia od zwarć doziemnych wysokooporowych w sieciach średniego napięcia. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211182 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385971 (51) Int.Cl. H02H 7/26 (2006.01) H02H 3/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL
PL 219313 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219313 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391153 (51) Int.Cl. H04B 7/00 (2006.01) H04B 7/005 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12
PL 218560 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218560 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 393408 (51) Int.Cl. H03F 3/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoIMPLEMENTATION OF THE SPECTRUM ANALYZER ON MICROCONTROLLER WITH ARM7 CORE IMPLEMENTACJA ANALIZATORA WIDMA NA MIKROKONTROLERZE Z RDZENIEM ARM7
Łukasz Deńca V rok Koło Techniki Cyfrowej dr inż. Wojciech Mysiński opiekun naukowy IMPLEMENTATION OF THE SPECTRUM ANALYZER ON MICROCONTROLLER WITH ARM7 CORE IMPLEMENTACJA ANALIZATORA WIDMA NA MIKROKONTROLERZE
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ tłumienia oscylacji filtra wejściowego w napędach z przekształtnikami impulsowymi lub falownikami napięcia
PL 215269 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215269 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385759 (51) Int.Cl. H02M 1/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowo(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 169318 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296640 (22) Data zgłoszenia: 16.11.1992 (51) IntCl6: H02M 7/155 C23F
Bardziej szczegółowoPL B1. Układ do przetwarzania interwału czasu na słowo cyfrowe metodą kompensacji wagowej
PL 227455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227455 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 413964 (22) Data zgłoszenia: 14.09.2015 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13
PL 222357 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222357 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400712 (22) Data zgłoszenia: 10.09.2012 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoH03K 3/86 (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPO SPO LITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:
RZECZPO SPO LITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173599 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 304553 (22) Data zgłoszenia: 04.08.1994 (51) IntCl6: H03K 3/86 (
Bardziej szczegółowoPL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13
PL 222455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222455 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399143 (51) Int.Cl. H02M 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Układ do pośredniego przetwarzania chwilowej wielkości napięcia elektrycznego na słowo cyfrowe
PL 227456 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227456 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 413967 (22) Data zgłoszenia: 14.09.2015 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoKomputerowe systemy pomiarowe. Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych
Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny laboratorium Wykład III Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych 1 - Linearyzatory, wzmacniacze, wzmacniacze
Bardziej szczegółowoXXXII Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej. XXXII Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej
Zestaw pytań finałowych numer : 1 1. Wzmacniacz prądu stałego: własności, podstawowe rozwiązania układowe 2. Cyfrowy układ sekwencyjny - schemat blokowy, sygnały wejściowe i wyjściowe, zasady syntezy 3.
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 22/09. CEZARY WOREK, Kraków, PL
PL 215148 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215148 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385023 (51) Int.Cl. H04B 1/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/15
PL 223865 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223865 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 406254 (22) Data zgłoszenia: 26.11.2013 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowo(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl7 H02M 7/42
RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 184340 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 323484 (22) Data zgłoszenia: 03.12.1997 (51) IntCl7 H02M 7/42 (54)
Bardziej szczegółowoPL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/06. JANUSZ BACZYŃSKI, Łódź, PL MICHAŁ BACZYŃSKI, Łódź, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208357 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 369252 (22) Data zgłoszenia: 23.07.2004 (51) Int.Cl. H04B 3/46 (2006.01)
Bardziej szczegółowo(13) B1 PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) fig. 1
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176527 (13) B1 ( 2 1) Numer zgłoszenia: 308212 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 18.04.1995 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G05B 11/12
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 4: Próbkowanie sygnałów
Politechnika Warszawska Instytut Radioelektroniki Zakład Radiokomunikacji STUDIA MAGISTERSKIE DZIENNE LABORATORIUM SYGNAŁÓW MODULACJI I SYSTEMÓW Ćwiczenie 4: Próbkowanie sygnałów Opracował dr inż. Andrzej
Bardziej szczegółowoPL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CIMAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bydgoszcz, PL BUP 04/16
PL 223987 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223987 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 409120 (22) Data zgłoszenia: 06.08.2014 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12
PL 218561 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218561 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 393413 (51) Int.Cl. G01N 27/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoOPIS PATENTOWY RZECZPOSPOLITA POLSKA URZĄD PATENTOWY
RZECZPOSPOLITA POLSKA OPIS PATENTOWY 153 906 Patent dodatkowy do patentu nr --- Zgłoszono: 85 12 03 (P. 256613) lrit. C1. 5 H03B 19/14 Pierwszeństwo --- URZĄD PATENTOWY RP Zgłoszenie ogłoszono: 8708 10
Bardziej szczegółowo(12) TŁUMACZENIE PATENTU EUROPEJSKIEGO (19) PL (11) PL/EP (96) Data i numer zgłoszenia patentu europejskiego:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) TŁUMACZENIE PATENTU EUROPEJSKIEGO (19) PL (11) PL/EP 2127498 (96) Data i numer zgłoszenia patentu europejskiego: 14.02.2008 08716843.1 (13) (51) T3 Int.Cl. H05B 41/288 (2006.01)
Bardziej szczegółowoPL B1. WOJSKOWY INSTYTUT TECHNICZNY UZBROJENIA, Zielonka, PL , MPSO XV Międzynarodowy Salon Przemysłu Obronnego
PL 216340 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216340 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385025 (51) Int.Cl. G01S 13/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób regulacji prądu silnika asynchronicznego w układzie bez czujnika prędkości obrotowej. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL
PL 224167 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224167 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391278 (51) Int.Cl. H02P 27/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób zabezpieczania termiczno-prądowego lampy LED oraz lampa LED z zabezpieczeniem termiczno-prądowym
PL 213343 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213343 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391516 (51) Int.Cl. F21V 29/00 (2006.01) F21S 8/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 10/16. JAROSŁAW GUZIŃSKI, Gdańsk, PL PATRYK STRANKOWSKI, Kościerzyna, PL
PL 226485 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226485 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409952 (51) Int.Cl. H02J 3/01 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/09
PL 214449 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214449 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384436 (22) Data zgłoszenia: 11.02.2008 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPrzetwarzanie analogowo-cyfrowe sygnałów
Przetwarzanie analogowo-cyfrowe sygnałów A/C 111111 1 Po co przekształcać sygnał do postaci cyfrowej? Można stosować komputerowe metody rejestracji, przetwarzania i analizy sygnałów parametry systemów
Bardziej szczegółowoUKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) 1. OPIS TECHNICZNY UKŁADÓW BADANYCH
UKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) WSTĘP Układy z pętlą sprzężenia fazowego (ang. phase-locked loop, skrót PLL) tworzą dynamicznie rozwijającą się klasę układów, stosowanych głównie
Bardziej szczegółowoPL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki k. Warszawy, PL BUP 20/10
PL 214845 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214845 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 387534 (51) Int.Cl. F16F 9/50 (2006.01) F16F 9/508 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoZgłoszenie ogłoszono: Twórcy wynalazku: Waldemar Kempski, Florian Krasucki, Marek Gelner
RZECZPOSPOLITA OPIS PATENTOWY 155 345 POLSKA Patent dodatkowy mm do patentu n r --------- Int. Cl.5 H02P 7/62 Uf Zgłoszono: 87 10 26 /P. 268469/ Pierwszeństwo URZĄD PATENTOWY Zgłoszenie ogłoszono: 89 05
Bardziej szczegółowo(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 186542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 327422 PL 186542 B1
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 186542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 327422 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 10.07.1998 (51 ) IntCl7 G01N 33/24 G01N
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/12
PL 219586 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219586 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 392996 (51) Int.Cl. H03F 1/30 (2006.01) H04R 3/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoA61B 5/0492 ( ) A61B
PL 213307 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213307 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 383187 (22) Data zgłoszenia: 23.08.2007 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoSymulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych
XXXVIII MIĘDZYUCZELNIANIA KONFERENCJA METROLOGÓW MKM 06 Warszawa Białobrzegi, 4-6 września 2006 r. Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika
Bardziej szczegółowoUkłady akwizycji danych. Komparatory napięcia Przykłady układów
Układy akwizycji danych Komparatory napięcia Przykłady układów Komparatory napięcia 2 Po co komparator napięcia? 3 Po co komparator napięcia? Układy pomiarowe, automatyki 3 Po co komparator napięcia? Układy
Bardziej szczegółowoDYSKRETNE PRZEKSZTAŁCENIE FOURIERA C.D.
CPS 6 DYSKRETE PRZEKSZTAŁCEIE FOURIERA C.D. Twierdzenie o przesunięciu Istnieje ważna właściwość DFT, znana jako twierdzenie o przesunięciu. Mówi ono, że: Przesunięcie w czasie okresowego ciągu wejściowego
Bardziej szczegółowoAnalizy Ilościowe EEG QEEG
Analizy Ilościowe EEG QEEG Piotr Walerjan PWSIM MEDISOFT 2006 Piotr Walerjan MEDISOFT Jakościowe vs. Ilościowe EEG Analizy EEG na papierze Szacunkowa ocena wartości częstotliwości i napięcia Komputerowy
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 232305 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 425576 (22) Data zgłoszenia: 17.05.2018 (51) Int.Cl. G01R 21/00 (2006.01)
Bardziej szczegółowoTemat: Wzmacniacze operacyjne wprowadzenie
Temat: Wzmacniacze operacyjne wprowadzenie.wzmacniacz operacyjny schemat. Charakterystyka wzmacniacza operacyjnego 3. Podstawowe właściwości wzmacniacza operacyjnego bardzo dużym wzmocnieniem napięciowym
Bardziej szczegółowoWZMACNIACZ OPERACYJNY
1. OPIS WKŁADKI DA 01A WZMACNIACZ OPERACYJNY Wkładka DA01A zawiera wzmacniacz operacyjny A 71 oraz zestaw zacisków, które umożliwiają dołączenie elementów zewnętrznych: rezystorów, kondensatorów i zwór.
Bardziej szczegółowoPL B BUP 26/ WUP 04/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)194002 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 340855 (22) Data zgłoszenia: 16.06.2000 (51) Int.Cl. G01B 7/14 (2006.01)
Bardziej szczegółowo2. Próbkowanie Sygnały okresowe (16). Trygonometryczny szereg Fouriera (17). Częstotliwość Nyquista (20).
SPIS TREŚCI ROZDZIAŁ I SYGNAŁY CYFROWE 9 1. Pojęcia wstępne Wiadomości, informacje, dane, sygnały (9). Sygnał jako nośnik informacji (11). Sygnał jako funkcja (12). Sygnał analogowy (13). Sygnał cyfrowy
Bardziej szczegółowoPL B1. TELEKOMUNIKACJA POLSKA SPÓŁKA AKCYJNA, Warszawa, PL BUP 11/09. JACEK IGALSON, Warszawa, PL WALDEMAR ADAMOWICZ, Warszawa, PL
PL 213874 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213874 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383846 (51) Int.Cl. G04G 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA OPOLSKA, Opole, PL BUP 11/18. RYSZARD KOPKA, Opole, PL WIESŁAW TARCZYŃSKI, Opole, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 230965 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 423164 (51) Int.Cl. H02J 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 16.10.2017
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 11. Podstawy akwizycji i cyfrowego przetwarzania sygnałów. Program ćwiczenia:
Ćwiczenie 11 Podstawy akwizycji i cyfrowego przetwarzania sygnałów Program ćwiczenia: 1. Konfiguracja karty pomiarowej oraz obserwacja sygnału i jego widma 2. Twierdzenie o próbkowaniu obserwacja dwóch
Bardziej szczegółowo(62) Numer zgłoszenia, z którego nastąpiło wydzielenie:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228588 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 420374 (22) Data zgłoszenia: 19.12.2012 (51) Int.Cl. G01R 19/00 (2006.01) G01R 35/00 (2006.01) Urząd Patentowy
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA OPOLSKA
POLITECHNIKA OPOLSKA KATEDRA MECHANIKI I PODSTAW KONSTRUKCJI MASZYN MECHATRONIKA Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Analiza sygnałów czasowych Opracował: dr inż. Roland Pawliczek Opole 2016 1 2 1. Cel
Bardziej szczegółowoZakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych
Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia Ćwiczenie 1 Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych budowa i zasada działania przyrządów analogowych magnetoelektrycznych
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 04/11. KRZYSZTOF GOŁOFIT, Lublin, PL WUP 06/14
PL 217071 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217071 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388756 (51) Int.Cl. H03K 3/023 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Instytut Automatyki Systemów Energetycznych,Wrocław,PL BUP 26/ WUP 08/09. Barbara Plackowska,Wrocław,PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202961 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354738 (51) Int.Cl. G01F 23/14 (2006.01) F22B 37/78 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoFFT i dyskretny splot. Aplikacje w DSP
i dyskretny splot. Aplikacje w DSP Marcin Jenczmyk m.jenczmyk@knm.katowice.pl Wydział Matematyki, Fizyki i Chemii 10 maja 2014 M. Jenczmyk Sesja wiosenna KNM 2014 i dyskretny splot 1 / 17 Transformata
Bardziej szczegółowo(13) B1 PL 164139 B1 RZECZPO SPO LITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 164139. (21) Numer zgłoszenia: 283169. (51) IntCl5: G01G3/14
RZECZPO SPO LITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 164139 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 283169 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 01.01.1990 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl5: G01G3/14 (54)
Bardziej szczegółowo(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)
RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 181834 (21) Numer zgłoszenia: 326385 (22) Data zgłoszenia: 30.10.1996 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:
Bardziej szczegółowoStatyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7
Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej
Bardziej szczegółowoPodstawy Przetwarzania Sygnałów
Adam Szulc 188250 grupa: pon TN 17:05 Podstawy Przetwarzania Sygnałów Sprawozdanie 6: Filtracja sygnałów. Filtry FIT o skończonej odpowiedzi impulsowej. 1. Cel ćwiczenia. 1) Przeprowadzenie filtracji trzech
Bardziej szczegółowoPL 217306 B1. AZO DIGITAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Gdańsk, PL 27.09.2010 BUP 20/10. PIOTR ADAMOWICZ, Sopot, PL 31.07.
PL 217306 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217306 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387605 (22) Data zgłoszenia: 25.03.2009 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowo(12) OPIS PATENTOWY (19) PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 183623 (21) Numer zgłoszenia: 323116 (22) Data zgłoszenia: 12.11.1997 (13) B1 (51 ) IntCl7 G01R 27/18 (54)Sposób
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 08/10
PL 216657 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216657 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 386193 (22) Data zgłoszenia: 30.09.2008 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 21/12
PL 227155 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227155 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394445 (51) Int.Cl. G06F 15/80 (2006.01) G06F 13/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej
Bardziej szczegółowoPL B1. C & T ELMECH SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Pruszcz Gdański, PL BUP 07/10
PL 215666 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215666 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386085 (51) Int.Cl. H02M 7/48 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPrzetworniki AC i CA
KATEDRA INFORMATYKI Wydział EAIiE AGH Laboratorium Techniki Mikroprocesorowej Ćwiczenie 4 Przetworniki AC i CA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania wybranych rodzajów przetworników
Bardziej szczegółowoPL B1. INSTYTUT TECHNIKI I APARATURY MEDYCZNEJ ITAM, Zabrze, PL BUP 09/13
PL 216829 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216829 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 396673 (51) Int.Cl. A61N 1/372 (2006.01) H04B 10/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 02/12
PL 219314 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219314 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391709 (51) Int.Cl. H04B 1/00 (2006.01) H04B 1/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 16/11
PL 219996 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219996 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 390194 (51) Int.Cl. G01P 7/00 (2006.01) G01L 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 26/16
PL 227999 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227999 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 412711 (51) Int.Cl. H02M 3/07 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoGenerowanie sygnałów na DSP
Zastosowania Procesorów Sygnałowych dr inż. Grzegorz Szwoch greg@multimed.org p. 732 - Katedra Systemów Multimedialnych Generowanie sygnałów na DSP Wstęp Dziś w programie: generowanie sygnałów za pomocą
Bardziej szczegółowo