NOWOŚCI. mikroskop pomiarowy MF. projektor pomiarowy PJ-H30. szczegółowe informacje na stronie 376. Seria 172 szczegółowe informacje na stronie 384.

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "NOWOŚCI. mikroskop pomiarowy MF. projektor pomiarowy PJ-H30. szczegółowe informacje na stronie 376. Seria 172 szczegółowe informacje na stronie 384."

Transkrypt

1 NOWOŚCI mikroskop pomiarowy MF szczegółowe informacje na stronie 376. projektor pomiarowy PJ-H30 szczegółowe informacje na stronie 384.

2 Optyczne przyrzady pomiarowe lupy pomiarowe lupy kieszonkowe strony mikroskopy centrujące strony mikroskop stereoskopowy MSM-400 strony mikroskop pomiarowy TM-500 wyposażenie mikroskopy pomiarowe model MF mikroskop pomiarowy Hyper MF/MF-U projektor pomiarowy PJ-A3000 wyposażenie projektor pomiarowy PJ-H30 wyposażenie strony strony projektor pomiarowy PV-5110 projektor pomiarowy PH-A14 projektor pomiarowy PH-3515 F wyposażenie dla projektorow procesor danych QM-Data 200 sensor krawędzi OPTOEYE 200 strony strony system mocowań OPTI-FIX strony

3 precyzyjne lupy pomiarowe Do pomiarów długości, kąta, średnic, grubości linii, podziałki gwintów, itp. Łatwa wymiana płytek pomiarowych. Łatwy pomiar. Seria 183 lupa pomiarowa Nr. Powiększenie Pole obrazu Masa g Wymiary x 24,5 40 Ø 37 x x 24,5 42 Ø 37 x 45 zestawy (lupy pomiarowe z płytkami pomiarowymi) Nr. Skład zestawu , , , , , , , , , , , , , Podswietlenie Seria 183 płytki pomiarowe średnica płytek pomiarowych: 30 włącznie z opakowaniem Wyposażenie specjalne uchwyt lupy z oświetleniem (bez baterii) batteria LR Nr siatka wspołrzędnych, kąty, promienie Nr kąty, promienie, długości, otwory Nr grubości Nr kąty, promienie, otwory, długości, siatka wspołrzędnych w Nr kąty, promienie, otwory, długości Nr kąty, promienie, długości Nr siatka wspołrzędnych, otwory Nr długości w Nr kąty, promienie Nr podziałki gwintów (metryczne) Nr podziałki gwintów skok/cal Nr kąty, promienie, długości Nr długości w Inch Nr ISO-podziałki gwintów 0,25 / 0,3 / 0,35 / 0,4 / 0,45 / 0,5 / 0,7 / 0,8 / 1,0 362

4 lupy kieszonkowe Stojaca, pewny uchwyt. Łatwa obsługa. Włacznie z futerałem i ściereczką do czyszczenia. Seria 183 wykonanie pisakowe Nr. Powiększenie Pole obrazu Masa g Wymiary x 3,4 17 Ø 14,5 x 125 Seria 183 wykonanie stojace Nr. Powiększenie Pole obrazu Masa g Wymiary x 3,3 90 Ø 31,5 x 115 Seria 183 wykonanie stojace Nr. Powiększenie Pole obrazu Masa g Wymiary x 1,6 82 Ø 31,5 x 100 lupy kieszonkowe Tubus teleskopowy umożliwia wyraźne zobrazowanie detalu. Seria Nr. Powiększenie Pole obrazu Ø Masa g Wymiary x Ø 32 x 43 Seria Nr. Powiększenie Pole obrazu Ø Masa g Wymiary x Ø 32 x 40 Seria Nr. Powiększenie Pole obrazu Ø Masa g Wymiary x Ø 32 x

5 mikroskop centrujący CF 10 Seria 375 mikroskop centrujący CF 10 korpus w zestawie cylindryczny trzpien: Ø 14 Inhalt: okular 10 x, z plytka z krzyżem pajeczym i promieniami światło odbite 02AKD500 transformator Zestaw nie zawiera obiektywów Seria 375 obiektywy Obiektyw Nr. Odstep roboczy Pole obrazu Ø Powiększenie 1 x ,0 10 x 2 x ,0 20 x 3 x ,3 30 x 5 x ,4 50 x 10 x ,2 100 x Seria 375 okulary z zamontowaną płytką pomiarową Powiększenie: 10 x Pole obrazu: Ø 22 Typ A Typ B Typ C Typ D

6 Zestaw składa się z Nr Nr Nr Nr Nr AKD mikroskop centrujący CF 20 Seria 375 zestawy do obiektywy na poprzedniej stronie mikroskop centrujący z cylindrycznym trzpieniem do mocowania Ø okular 10 x binokular 10 x, o rozstawie w zakresie: okular z podziałką kątową 10 x, Zakres obrotu: 360, podziałka: skala 1, noniusz okular z podwójnym obrazem 10 x okular z obrotową płytką pomiarową (do stosowania tylko z obiektywem 3x) mikroskop centrujący bez trzpienia do mocowania Zestaw nie zawiera obiektywów Nr okular 10 x (Nr ) Nr binokular 10 x (Nr ) Nr Adapter C-Mount Nr okular z podziałką kątową 10 x (Nr ) Nr okular z podwójnym obrazem 10 x (Nr ) Nr Nr okular z obrotową płytką pomiarową (stosować tylko z obiektywem 3 x) (Nr ) 1 x 2 x 3 x 5 x 10 x Nr Nr Nr Nr Nr Nr Nr. 02AKD

7 mikroskop stereoskopowy MSM-400 Jasny, ostry trójwymiarowy obraz o dużej rozdzielczości i wierności kolorów. Zminimalizowanie zmęczenia oczu, dzięki temu podwyższenie efektywności i produktywności pracy. Powiększenie może zostać dopasowane do typu przyrządu za pomocą łatwego do obsługi zmiennika powiększenia (MSM 412) lub obiektywu Zoom (MSM Z414 L). Bezstopniowy Zoom (standard w MSM Z414 L) umożliwia powiększenie całkowite między 10- a 40-razy. Ogniskowanie następuje przy pomocy ergonomicznie ukształtowanych pokręteł, które znajdują się po obu stronach mikroskopu. Dzięki takiemu ułożeniu przyrząd jest łatwy do obsługi zarówno dla osób praworęcznych jak i leworęcznych. Do mikroskopu można podłączyć kamery cyfrowe lub kamery video CCD, w celu dokumentacji i archiwizacji zdjęć. Kamery umożliwiają jednocześnie obserwację zadanych detali. Seria 377 Wyposażenie standardowe dwie muszle wglądowe, pokrowiec K (MSM-412) D (MSM-Z414 L) Artykuły użytkowe MC środek czyszczący do laboratoriów, foto-optyki i mikroskopów (120 ml) Wyczerpujące informacje o tym i innych pro duktach znajdziecie w naszych szczegółowych prospektach. 366

8 mikroskop stereoskopowy MSM-400 Seria 377 Model MSM-412 MSM-Z414 L Nr K D System optyczny typ Greenough, zobrazowanie boczne i wysokości, wew.skok kąta 12 Tubus optyczny binokular, nachylenie tubusu 45, regulowany odstęp źrenicy od 54 do 76, regulowane wyrównywanie dioptrii (tylko lewy okular) binokular, nachylenie tubusu 45, regulowany odstęp źrenicy od 54 do 76, regulowane wyrównywanie dioptrii (oba okulary) System zmiany powiększenia rewolwer, 2 stopnie bezstopniowy Zoom Obiektywy 1 x, 2 x (rewolwer) 1 x do 4 x (współczynnik Zoom: 4) Obiektywy dodatkowe 0,5 x, 0,75 x, 1,5 x (opcjonalnie) Okular WF10 x (pole widzenia: 20, standard), WF5 x (pole widzenia: 22), WF15 x (pole widzenia: 13), WF20 x (pole widzenia: 10) Powiększenie całkowite 10 x, 20 x (okular w standardzie 10 x) 10 x do 40 x (okular w standardzie 10 x) Odstep roboczy Zakres zmiany wysokości 44 Światło przechodzące źródło światła: halogen (12 V, 10 W), z kolor. filtrem Światło odbite źródło światła: halogen (12 V, 15 W) Zasilanie 230 V AC, 50/60 Hz Moc 20 W Masa całkowita 4,7 kg 5,1 kg Okulary WF10X / D WF5X / WF10X / WF15X / WF20X / MSM K MSM-Z D DD D Pierścieniowa oprawa świetlna D 0.5X D 0.75X D 1.5X D Obiektywy dodatkowe 367

9 mikroskop stereoskopowy MSM-400 Jasny, ostry trójwymiarowy obraz o dużej rozdzielczości i wierności kolorów. Zminimalizowanie zmęczenia oczu, dzięki temu podwyższenie efektywności i produktywności pracy. Powiększenie może zostać dopasowane do typu przyrządu za pomocą łatwego do obsługi zmiennika powiększenia (MSM 465). Bezstopniowy Zoom umożliwia powiększenie całkowite między 10- a 40-razy. Ogniskowanie następuje przy pomocy ergonomicznie ukształtowanych pokręteł, które znajdują się po obu stronach mikroskopu. Dzięki takiemu ułożeniu przyrząd jest łatwy do obsługi zarówno dla osób praworęcznych jak i leworęcznych. Do mikroskopu można podłączyć kamery cyfrowe lub kamery video CCD, w celu dokumentacji i archiwizacji zdjęć. Kamery umożliwiają jednocześnie obserwację zadanych detali. Seria 377 Wyposażenie standardowe dwie muszle wglądowe, pokrowiec K (MSM-465) Artykuły użytkowe MC środek czyszczący do laboratoriów, foto-optyki i mikroskopów (120 ml) D (MSM-Z475 TL) Wyczerpujące informacje o tym i innych pro duktach znajdziecie w naszych szczegółowych prospektach. 368

10 mikroskop stereoskopowy MSM-400 Seria 377 Model MSM-465 MSM-Z475 TL Nr K D System optyczny system równoległy, zobrazowanie boczne i wysokości Tubus optyczny binokular, nachylenie tubusu 45, regulowany odstęp źrenicy od 54 do 76, regulowane wyrównywanie dioptrii Trinokular, nachylenie tubusu 35, regulowany odstęp źrenicy od 32 do 79 (tylko lewy okular) System zmiany powiększenia rewolwer, 4 stopnie obiektyw zoom Obiektywy 0,6 x, 1,2 x, 2,5 x, 5 x (rewolwer) 0,75 x do 5 x Obiektywy dodatkowe 0,5 x, 1,5 x, 2 x 0,5 x, 0,63 x, 1,5 x, 2 x (opcjonalnie) Okular WF10 x (pole widzenia: 23, standard), WF6,25 x (pole widzenia: 23), WF15 x (pole widzenia: 17,6), WF20 x (pole widzenia: 13,4), WF32 x (pole widzenia: 10) Powiększenie całkowite 6 x, 12 x, 25 x, 50 x (okular w standardzie 10 x) 7,5 x do 50 x (okular w standardzie 10 x) Odstep roboczy Zakres zmiany wysokości 50 Masa całkowita 6,3 kg 6,9 kg Okulary SWF10X / D WF6.25X / WF15X / WF20X / WF32X / SWF10X / C-Mount D MSM-Z D MSM K D D Pierścieniowa oprawa świetlna 0.5X D 0.63X D 1,5X D 2X D Obiektywy dodatkowe 0.3X D 0.5X D 0.625X D 1.5X D 2X D DD 369

11 mikroskop pomiarowy TM-500 Seria 176 Wyposażenie standardowe okular 15 x obiektyw 2 x stolik krzyżowy 50 x 50 ( CED) stolik krzyżowy 100 x 50 ( CED) Stolik krzyżowy wcześniej zamontowany, bez głowicy mikrometrycznej Wyposażenie specjalne patrz strony Artykuły użytkowe MC środek czyszczący do laboratoriów, foto-optyki i mikroskopów (120 ml) CED z głowicami ( / wyposażenie specjalne) (inne głowice mikrometryczne znajdziecie od strony 94, 97) Model TM-505 TM-510 Nr CED CED Zakres pomiarowy XY 50 x x 50 System pomiarowy głowice mikrometryczne (wyposażenie specjalne) Max. wysokość detalu Max. waga detalu 5 kg Odczyt kąta 360 (wartość podziałki skali 6 przez noniusz) Okular 15 x Obiektyw 2 x Powiększenie 30 x Światło przechodzące 24 V, 2 W regulowane natężenie Światło odbite 24 V, 2 W regulowane natężenie Wymiary 210 x 333 x x 333 x 391 Masa 13,5 kg 14,5 kg Seria 176 obiektywy Obiektyw Okular 10 x ( ) Okular 15 x ( )* Okular 20 x ( ) 2 x ( )* 20 x (6,5 ) 30 x (6,5 ) 40 x (5,0 ) 5 x ( ) 50 x (2,6 ) 75 x (2,6 ) 100 x (2,0 ) 10 x ( ) 100 x (1,3 ) 150 x (1,3 ) 200 x (1,0 ) * = wyposażenie standardowe dane w nawiasach podają średnicę pola obrazu. Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 370

12 mikroskop pomiarowy TM-500 Seria 176 diagram systemowy płyty pomiarowe na stronie 373 Adapter stół obrotowy Zakres obrotu: 360 Wartość podziałki skali: 1 Noniusz: 6 Wymiar pow. roboczej: Ø 112 Płyta szklana Ø 66 (Nr ) Wysokość: 22 Masa: 1,7 kg mikroskop pomiarowy TM-500 wyposażenie specjalne Seria 176 Wyposażenie specjalne dla TM-505 stół obrotowy stół obrotowy wyposażenie specjalne dla TM-510 stół obrotowy Zakres obrotu: 360 Wartość podziałki skali: 1 Noniusz: 2 Wymiar pow. roboczej: Ø 146 Płyta szklana Ø 100 (Nr ) Wysokość: 20,5 Masa: 2,5 kg Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 371

13 mikroskop pomiarowy TM 500 wyposażenie specjalne Seria 176 wyposażenie specjalne dla TM-505 przyrząd kłowy przechylny wyposażenie specjalne dla TM-510 przyrząd kłowy przechylny przyrząd kłowy przechylny Nastawienie kąta: ± 10 Wartość podziałki skali: 1 Max. wielkość wyrobu: przy 0 : nachylenie: Ø 70 x 140 przy nachyleniu ± 10 : Ø 45 x 140 Masa: 2,4 kg Seria 176 uchwyt zaciskowy pryzma pozioma z zaciskami przyrząd kłowy przechylny Nastawienie kąta: ± 10 Wartość podziałki skali: 1 Max. wielkość wyrobu: bei 0 : nachylenie: Ø 80 x 140 przy nachyleniu ± 10 : Ø 65 x 140 Masa: 2,5 kg Seria 176 pionowe urządzenie pomiarowe uchwyt zaciskowy Max. wysokość detalu: 35 Długość rowka teowego: 152 Rozstaw otworów: 84 i 120 Masa: 0,42 kg Pryzma pozioma Max. wielkość wyrobu: Ø 25 Wymiary: 90 x 65 x 100 Masa: 0,8 kg Seria 176 głowica mikrometryczna z obrotowym wrzecionem i wyjściem danych pionowe urządzenie pomiarowe Seria 176 głowica mikrometryczna z nieobrotowym wrzecionem i wyjściem danych i wyjściem danych głowica mikrometryczna głowica mikrometryczna Uchwyt do mocowania: Ø 8 dla czujników i diatestów Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 372

14 mikroskop pomiarowy TM-500 wyposażenie specjalne Uchwyt do mocowania: Ø 8 dla czujników i diatestów głowica mikrometryczna głowica mikrometryczna głowice mikrometryczne Seria 176 głowica mikrometryczna z nieobrotowym wrzecionem i wyjściem danych / -390 (Y- i osi X) Seria 176 głowica mikrometryczna z nieobrotowym wrzecionem i wyjściem danych głowice mikrometryczne głowice mikrometryczne mechaniczne głowice mikrometryczne elektroniczne głowice mikrometryczne DIGIMATIC patrz od strony 94, gwint metryczny podziałka 0,25 1, gwint metryczny podziałka 1,25 2, okręgi Ø 0,05 Ø 4, moduł ewolwenty 0,1 1,0 kąt przyporu kąt kąt gwint Whitworth 60 skok/cal 26 skok/cal gwint Whitworth 24 skok/cal 18 skok/cal gwint Whitworth 16 skok/cal 11 skok/cal gwint UNC 80 skok/cal 28 skok/cal gwint UNC 24 skok/cal 14 skok/cal gwint UNC 13 skok/cal 10 skok/cal krzyż pajęczy (wyposażenie standardowe) gwint NF 80 skok/cal 28 skok/cal gwint NF 24 skok/cal 14 skok/cal gwint NF 13 skok/cal 10 skok/cal moduł ewolwenty 0,1 1,0 kąt przyporu gwint ISO podziałka 0,075 0, gwint ISO podziałka 0,75 2,0 Seria 176 płytki pomiarowe Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 373

15 mikroskop pomiarowy TM-500 wyposażenie specjalne pierścieniowa oprawa świetlna Pierścieniowa oprawa świetlna jest dodatkowym fluoroscencyjnym oświetleniem, pozwalającym na uniknięcie błędów w rozpoznawaniu kolorów obrazu. Dzięki okrągłemu kształtowi i umiejscowieniu oprawy wokół obiektywu detal jest równomiernie, bez cieni, oświetlony. Doposażenie do mikroskopu pomiarowego serii TM DD Pierścieniowa oprawa świetlna 12AAE044 Adapter DD źrodło światła zimnego źrodło światła zimnego Pobór mocy: 50 VA Moc: 35 W Regulacja jasności: bezstopniowa Wsuwanie filtra: boczne Wymiary: 168 x 120 x 268 Masa: 1,3 kg źrodło światła zimnego z Artykuły użytkowe żarówka 8 V, 30 W podwójny światłowód Światłowód: 2-ramienny z ogniskowaniem Długośc: 550 Średnica: podwójny światłowód giętki światłowód Giętki światłowód: 1-ramienny Długośc: 1200 Średnica: światłowód 374

16 wymiary stołu pomiarowego dla TM x M4 glebokosc 10 otwor 4 x 5 Ø szczegółowy rysunek rowka teowego dla TM-500 otwor 4 x 5 Ø 4 x M4 glebokosc szczegółowy rysunek rowka teowego Nr Zakres pomiarowy 50 x x 50 Wymiary stołu pomiarowego 152 x x 152 Wymiary stolika szklanego 96 x x 96 Nr. katalogowy stolika Max. waga detalu 5 kg 5 kg Metoda pomiarowa głowice mikrometryczne głowice mikrometryczne Średnica uchwytu Wysokość stołu 44,5 52,5 Wymiar mocowania stołu 100 x x 70 Odstęp rowków teowych Masa 2,72 kg 4,17 kg Do przyrządu TM-500 TM

17 mikroskopy pomiarowe model MF Mikroskopia w nowych wymiarach Nowa seria mikroskopów pomiarowych MF posiada zalety takie jak jakość obrazu, łatwą obsługę, funkcjonalność pomiarową i odpowiednie zakresy pomiarowe, które są szczególnie przydatne w przemyśle. Innowacyjna optyka z wspaniałymi obiektywami. Optymalna wielkość przyrządu. TV-system / foto-mikrografia: możliwość zamontowania do wszystkich modeli (adapter C-Mount). Dzięki dużemu odstępowi roboczemu i wysokiej rozdzielczości optycznej obiektywy znajdują szczególne zastosowanie w przemyśle. Seria 176 MF-B2010 B MF-B3017 B Model MF-A1010 B / MF-B1010 B MF-A2010 B / MF-B2010 B MF-A2017 B / MF-B2017 B MF-A3017 B / MF-B3017 B Nr D / D D / D D / D D / D Zakres pomiarowy XY stołu 100 x x x x 170 Okular wyposażenie specjalne: jedno- lub dwuokularowy Rozdzielczość wskazania XY Einstellbar 0,001, 0,0005, 0,0001 Liczba wskazania osi MF-A: 2; MF-B: 3 Funkcje wskazania zerowanie, rozdzielczość, kierunek liczenia, wyjście danych przez złącze RS-232 C Odchylenia pom. długości XY: (3 + 0,02 L) µm / Z: ((5 + 0,04 L) µm dla MF-B) L = dł. pomiaru () Odcinek ogniskowania szybkie i dokładne ustawianie pokrętłem Wymiary stołu 280 x x x x 342 Wymiary szkła stołu 180 x x x x 240 Zakres obrotu ± 5 ± 5 Max. wysokość detalu Max. waga detalu 5 kg 10 kg 20 kg 20 kg Wymiary łączne (szer. x gł. x wys.) 555 x 741 x x 741 x x 887 x x 887 x 750 Masa 55 kg 59 kg 130 kg 138 kg Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. Model: MF-Model Tubus optyczny Typ: jedno- lub dwuokularowy (wyposażenie specjalne) Obraz: boczny (z krzyżem kąt 25 ) Adapter do kamery: obecny Obiektywy Powiększenie: 3 x (wyposażenie standardowe), 1 x, 5 x, 10 x, 20 x, 50 x, 100 x Okular Powiększenie: wyposażenie specjalne do wyboru: monokular 1 sztuka 10 x, dwuokular 2 sztuki 10 x, iw wyposażeniu specjalnym zawarty optyczny tubus Pole obrazu: 24 (pole obrazu Ø 8 przy obiektywie 3 x) Światło przechodzące Metoda oświetlenia: wg Koehlera Źródło światła: halogen (12 V, 50 W) żywotność ok. 50 godzin (513667) Intensywność światła: wymiarowa Uwagi: z przesłoną aperturową, filtr zielony (938905) Światło odbite Metoda oświetlenia: telecentryczna Źródło światła: halogen (12 V, 50 W) żywotność ok. 50 godzin (513667) Intensywność światła: wymiarowa Uwagi: z przesłoną aperturową Wyczerpujące informacje o tym i innych pro duktach znajdziecie w naszych szczegółowych prospektach. 376

18 mikroskopy pomiarowe model MF Seria 176 diagram systemowy Monokular tubus Nr włącznie okular 10 x Adapter C-Mount Nr Adapter do kamery 0,5 x Nr Pilot ogniskowej Nr Binokular tubus Nr włącznie para okularów 10 x Okular 10 x (2 sztuki) Nr MF Vision Unit wyposażenie dodatkowe okular 15 x (2 sztuki) Nr Okular 20 x (2 sztuki) Nr Oświetlenie dodatkowe Nr Okular z podziałką kątową 10 x Nr Model 3017 Cyfrowy okular z podziałką kątową 10 x Nr Okular z podwójnym obrazem 10 x Nr Stół obrotowy Nr Okular z obrotową płytką szklaną Nr opcja warsztatowa Model 1010 Model 2010 Model 2017 Obiektyw 1 x Nr Stół obrotowy Nr Szyna do adapteru Nr Szyna do adapteru Nr Obiektyw 3 x Nr Obiektyw 5 x Nr Obiektyw 10 x Nr Obiektyw 20 x Nr Uchwyt zaciskowy Nr Pryzma pozioma Nr Przyrząd kłowy przechylny Nr Uchwyt zaciskowy Nr Pryzma pozioma Nr Przyrząd kłowy przechylny Nr Uchwyt zaciskowy Nr Pryzma pozioma Nr Przyrząd kłowy przechylny Nr Obiektyw 50 x Nr Filtr GIF Nr. 12AAA645 Obiektyw 100 x Nr Filtr LB 80 Nr. 12AAA646 Wzorzec szklany Nr Filtr ND 2 Nr. 12AAA643 = wyposażenie standardowe Filtr ND 8 Nr. 12AAA644 Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 377

19 mikroskop pomiarowy Hyper MF / MF-U High End Bardzo małe odchylenie pomiaru długości. Wszystkie 3 osie sterowane napędem silnikowym. Maksymalny ciężar detalu 30 kg. Okular z liczbą pól widzenia 24. Duży wybór objektywów i doposażenia. Odchylenia pomiaru długości: X Y (0,9 + 0,3L/100) µm Z (z LAF) (1,5 + L/100) µm Rozdzielczość liniałów: 0,00001 Zakres pomiarowy: 250 x 150 x 150 Hyper MF-U Hyper MF z VISION UNIT i PC Hyper MF widok z boku Hyper MF-U widok z przodu Model Hyper MF Hyper MF-U Zakres pomiarowy () 250 (X-oś) x 150 (Y-oś) x 150 (Z-oś) Rozdzielczość 0,00001 Odchylenia pom. X Y-oś (0,9 + 0,3 L/100) µm długości Z-oś (1,5 + L/100) µm Przesuw osi sterowany motorycznie Max. waga detalu 30 kg Podswietlenie Światło przechodzące 12 V, 50 W światło zimne przez światłowód z wbudowaną przesłoną aperturową Auflicht 12 V, 100 W światło zimne przez światłowód z wbudowaną przesłoną aperturową Obiektywy 1 x, 3 x, 5 x, 10 x, 20 x,50 x, 100 x 1 x, 2 x, 5 x, 10 x, 20 x, 50 x, 100 x Okulary 10 x, 15 x, 20 x Rodzaj obrazu pole jasne pole jasne / pole ciemne Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. Wyczerpujące informacje o tym i innych pro duktach znajdziecie w naszych szczegółowych prospektach. 378

20 Wyposażenie standardowe obiektyw 10 x 12AAD990 stół pomiarowy (PJ-A3005 F-150) stół pomiarowy (PJ-A3010 F-200) x lampy halogenowe (24 V/150 W) pokrowiec 12AAD379 przesłona ochronna na obiektyw projektory pomiarowe PJ-A3000 Projektor stołowy do kontroli małych i średnich detali. Pionowy, obrotowy ekran z krzyżem pajęczym. Prosty w obsłudze wspórzędnościowy stół pomiarowy z możliwością szybkiego i dokładnego ustawienia. Bezpośrednie, łatwe do odczytania, znajdujące się na wysokości oczu wskazania XY zapewniają pewne i bezbłędne pomiary. Wbudowany halogen ze światłem przechodzącym i oświetlenie światłem odbitym. Standardowo wyposażony w cyfrowy wskaźnik kąta. Seria 302 Artykuły użytkowe MC środek czyszczący do laboratoriów, foto-optyki i mikroskopów (120 ml) D Bezpośredni odczyt wyników pomiarowych na 6-cio miejscowym wskaźniku gwarantuje pewne i bezbłędne pomiary. Wbudowany, cyfrowy wskaźnik kąta, możliwy odczyt w stopniach lub układzie dziesiętnym. Rozdzielczość: 1 lub 0,01. Model PJ-A3000 Seria Ekran średnica 315 wskaźnik kąta przełączalne stopień/układ dziesiętny, rozdzielczość: przełączalna 0,01 / 1 zakres wskazań: ± 360 (liczy do ± 370 ) Funkcje przełączanie ABS/INC, ZERO Niepewność powiększenia 0,1 % światło przechodzące, 0,15 % światło odbite Podswietlenie oprawa oświetleniowa lampy halogenowe (24 V, 150 W) system oświetlenia telecentryczny Zasilanie 230 V, 50/60 Hz Masa PJ-A3005 F-150: 116 kg; PJ-A3010 F-200: 140 kg współrzędnościowych stołów pomiarowych Model PJ-A3005 F-150 PJ-A3010 F-200 Wyczerpujące informacje o tym i innych pro duktach znajdziecie w naszych szczegółowych prospektach. Nr D D Zakres pomiarowy osi XY 150 x x 100 Rozdzielczość 0,001 System pomiarowy wbudowane szklane liniały pomiarowe Wymiary stołu 280 x x 250 Max. wysokość detalu do 103,5 do 92,5 Max. waga detalu 5 kg Funkcje zerowanie +/ wybór kierunku wyjście RS-232 C szybkie przestawienie osi XY Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 379

21 projektory pomiarowe PJ-A3000 Seria 302 diagram systemowy Mitutoyo oprogramowanie 2D COSMOS Wyposażenie standardowe obiektyw 10 x Optoeye 200 przewody od liniałów pomiarowych muszą być podłączone bezpośrednio do QM-Data 200 wzorcowe płyty pomiarowe średnica detalu Odstep roboczy max. wysokość detalu Światło przechodzące Światło odbite Powiększenie 10 x 20 x 50 x 100 x 10 x 20 x 50 x 100 x Średnica pola widzenia () PJ-A3005F-150 PJ-A3010F ,5 15,7 6,3 3,1 31,5 15,7 6,3 3,1 W () PJ-A3005F-150 PJ-A3010F ,5 12, ,6 5 H () PJ-A3005F ,5 103,5 103,5 103,5 103,5 103,5 103,5 103,5 PJ-A3010F ,5 92,5 92,5 92,5 92,5 92,5 92,5 92,5 D1 () PJ-A3005F PJ-A3010F D2 () PJ-A3005F-150 PJ-A3010F

22 projektory pomiarowe PJ-A3000 wyposażenie specjalne Wyposażenie specjalne obiektyw 20x obiektyw 50x obiektyw 100x półprzepuszczalne zwierciadło do obiektywu 10 x półprzepuszczalne zwierciadło do obiektywu 20 x obiektywy do serii PJ-A3000 Wszystkie obiektywy dostarczane są z półprzepuszczalnymi zwierciadłami. W obiektywach 50 x i 100 x zwierciadła te są wbudowane. 10 x (wyposażenie standardowe) 20 x x x Seria 176 / stół obrotowy Nr. Obrót Rozdzielczość Noniusz Wymiar pow. Efektywny Ø Wysokość Masa Ø kg ,5 2,5 przyrząd kłowy przechylny Nr. Nachylenie Rozdzielczość Max. detal Ø Max. dł. detalu Masa kg ± (65) 140 2,5 ( ) przy nachyleniu D płyta adaptująca Masa: 2 kg płyta adaptująca Płyta do zamocowania stołu obrotowego, uchwytu zaciskowego i przyrządu kłowego (tylko do PJ-A3010 F-200) D Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 381

23 projektory pomiarowe PJ-A3000 wyposażenie specjalne Seria 176 uchwyt zaciskowy pryzma pozioma z zaciskami uchwyt zaciskowy Max. wysokość detalu: 35 Długość rowka teowego: 152 Rozstaw otworów: 84 und 120 Masa: 0,42 kg podziałka szklana Do sprawdzenia powiększenia podziałka szklana Do sprawdzenia powiększenia i pomiarów na ekranie Pryzma pozioma Max. wielkość wyrobu: Ø 25 Wymiary: 90 x 65 x 100 Masa: 0,8 kg podziałka szklana Dokładność: norma zakładowa Zakres pomiarowy: 50 Wartość podziałki skali: 0,1 Błędy graniczne: (3 + 5 L/1000) µm L = dł. pomiaru w zielony filt Dla poprawy ostrości konturów szafka pod projektor pomiarowy podziałka szklana Dokładność: Zakres pomiarowy: norma zakładowa Nr = 300 Nr = 200 Wartość podziałki skali: 0,5 Błędy graniczne: ( L/1000) µm L = dł. pomiaru w filtr zielony zwierciadło światła odbitego Do stosowania przy mało refleksyjnych detalach szafka pod projektor pomiarowy Wielkość stołu: 440 x 830 Wysokość: 660 Artykuły użytkowe MC środek czyszczący do laboratoriów, foto-optyki i mikroskopów (120 ml) Obiektyw Nr. Seria 10 x PJ-A x PJ-A3000 Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 382

24 projektory pomiarowe PJ-A3000 wyposażenie specjalne wzorcowe płyty pomiarowe patrz strony 400 Typ RE siatka prostokątna Typ PO siatka biegunowa Typ RA promienie Typ GO kąty Typ M gwint metryczny ISO Typ DE uzębienie ewolwentowe Typ CO kombinowane z siatki prostokątnej i biegunowej Für Siatka prostokątna (Typ RE) Siatka biegunowa (Typ PO) Promienie (Typ RA) Kąty (Typ GO) Gwint metryczny ISO (Typ M) Uzębienie ewolwentowe (Typ DE) Kombinowane (RE i PO) (Typ CO) PJ-A3000 Nr Nr Nr Nr Nr Nr Nr wymiary stołu pomiarowego dla PJ-A3000 szczegółowy rysunek rowka teowego 12AAD990 Nr. 12AAD990 Zakres pomiarowy 150 x 50 Wymiary stołu pomiarowego 280 x 152 Wymiary stolika szklanego 196 x 96 x 5 Nr. katalogowy stolika Max. waga detalu 5 kg Metoda pomiarowa Linear Scale Średnica uchwytu Wysokość stołu 52,5 Wymiar mocowania stołu 100 x 70 Odstęp rowków teowych 120 Masa 16 kg Do przyrządu PJ-A

25 Messprojektoren PJ-H30 Oświetlenie światłem odbitym ze zmienną regulacją Obrót soczewki kondensora jak również zmiana kąta położenia półprzepuszczalnego zwierciadła w obiektywie optymalnie poprawiają obraz powierzchni mało refleksyjnych. Nowy system oświetlenia krawędzi zwiększa natężenie światła na rzutowany detal Wysoka dokładność pomiarowa (wychodzi poza normy JIS) Stół pomiarowy z szybkim przesuwem jedną ręką w obu osiach w celu łatwego przełączania między szybkim pozycjonowaniem, a precyzyjnym ustawianiem. Zasilacz prądu stałego pozwala na soft start przyrządu i maksymalne wydłużenie żywotności żarówek halogenowych. Dobrze widoczny czytnik z dużymi cyframi. Wbudowany precyzyjny sensor krawędzi (Optoeye) w modelach PJ-H 30 B/D. Seria 303 Wyposażenie standardowe obiektyw 10 x x lampy halogenowe (24 V/150 W) pokrowiec przesłona ochronna na obiektyw Wyposażenie specjalne obiektyw 5 x obiektyw 20 x obiektyw 50 x obiektyw 100 x Pozostałe wyposażenie specjalne patrz strona 387 Artykuły użytkowe MC środek czyszczący do laboratoriów, foto-optyki i mikroskopów (120 ml) pokrętło ręcznego ogniskowania D ergonomicznie zoptymalizowane ogniskowanie Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. wbudowany automatyczny sensor krawędzi Wyczerpujące informacje o tym i innych pro duktach znajdziecie w naszych szczegółowych prospektach. 384

26 projektory pomiarowe PJ-H30 Model PJ-H30A Nr D D D z ręcznym ogniskowaniem PJ-H30B Nr D D D z ręcznym ogniskowaniem i wbudowanym Optoeye PJ-H30D Nr D D D z motorycznym ogniskowaniem i wbudowanym Optoeye Stół pomiarowy Zakres pomiarowy 200 x x x 170 Wymiary stołu 350 x x x 342 Wymiary stolika szklanego 250 x x x 240 Zakres obrotu ± 3 (w prawo) ± 5 (w lewo) Maksymalne obciążenie 10 kg 20 kg (szklanego stolika) Szybki przesuw dla osi X i Y Jednostka Maksymalna wysokość detalu 105 ogniskująca Mechanizm napędu/ ustawiania (model PJ-H30A/B) Pionowy napęd obiektywu (przyrząd ze stałym stołem), pokrętło (1 / pełny obrót) Mechanizm napędu/ ustawiania (model PJ-H30D) Pionowy napęd obiektywu (przyrząd ze stałym stołem, napęd z silnikiem (Jog/ Shuttle -Regler dla ustawień zgrubnych i precyzyjnych: co 4 µm dla ustawień precyzyjnych, różna prędkość: max. 5 /s) Oświetlenie Światło przechodzące Źródło światła: lampy halogenowe 24 V / 150 W / 50 h, telecentryczne oświetlenie Zoom, wbudowany filtr absorbujący ciepło i wentylator, bezstopniowa regulacja światła, osłabienie uderzenia natężenia prądu, mechanizm ślizgowy do wymiany lamp Światło odbite Źródło światła: lampy halogenowe 24 V / 150 W / 50 h, telecentryczne oświetlenie Zoom, wbudowany filtr absorbujący ciepło i wentylator, bezstopniowa regulacja światła, soft start światła (osłabienie uderzenia natężenia prądu), mechanizm ślizgowy do wymiany lamp Filtr (opcjonalnie) filtr GIF (do oświetlenia światłem przechodzącym) System pomiarowy bardzo dokładne liniały szklane* 1 Cyfrowy czytnik Rozdzielczość 0,001 /cal (do wyboru) Wskazane osie X i Y Funkcje zerowanie, zmiana kierunku, wejście Optoeye, wyjście RS-232 C Odchylenia pomiaru długości* 2 (3 + 0,02 L) µm L: długość pomiarowa () Uwaga: bez obciążenia, na osi X/Y Sensor krawędzi Model PJ-H30A opcjonalnie poprzez OPTOEYE 200. Sensor krawędzi umożliwia odczyt wartości pomiarowej dla każdej osi. Model PJ-H30B/D czujnik krawędzi zintegrowany w miejscu przecięcia linii krzyża; niezależnie od kierunku przy świetle przechodzącym * 3, najmniejsza odczytywana średnica: Ø 2 (rzutowanego obrazu), najmniejszy odczytywany odstęp krawędzi: 1 (rzutowanego obrazu), powtarzalność: s = 1 µm* 4 Maksymalne zużycie prądu 420 W Wymiary przyrządu 835 (B) x 836 (T) x (H) 756 (B) x 963 (T) x (H) 956 (B) x 963 (T) x (H) Masa przyrządu 178 kg 205 kg 212 kg * 1 : złożony patent (w Japonii) * 2 : metoda pomiarowa odpowiada JIS B 7184 * 3 : brak dostatecznego oświetlenia może spowodować nie rozpoznanie krawędzi * 4 : wartość osiągnięta w testach Mitutoyo Artykuły użytkowe MC środek czyszczący do laboratoriów, foto-optyki i mikroskopów (120 ml) oś optyczna Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty o systemach mocujących optifix. 385

NOWOŚCI. mikroskop pomiarowy MF. projektor pomiarowy PJ-H30. szczegółowe informacje na stronie 376. Seria 172 szczegółowe informacje na stronie 384.

NOWOŚCI. mikroskop pomiarowy MF. projektor pomiarowy PJ-H30. szczegółowe informacje na stronie 376. Seria 172 szczegółowe informacje na stronie 384. NOWOŚCI mikroskop pomiarowy MF szczegółowe informacje na stronie 376. projektor pomiarowy PJ-H30 szczegółowe informacje na stronie 384. Optyczne przyrzady pomiarowe lupy pomiarowe lupy kieszonkowe strony

Bardziej szczegółowo

Wyposażenie projektorów pomiarowych

Wyposażenie projektorów pomiarowych Specyfikacja uzupełniająca Odstępy linii siatek 10X : 0,1 mm 20X : 0,05 mm 50X : 0,02 mm 100X : 0,01 mm Wyposażenie projektorów pomiarowych Grupa 1 Dla projektorów pomiarowych Te standardowe siatki pomiarowe

Bardziej szczegółowo

Projektor pomiarowy serii PJ-A3000

Projektor pomiarowy serii PJ-A3000 Projektor pomiarowy serii PJ-A3000 Seria 302 Projektory pomiarowe serii PJ-A3000 to modele średniej wielkości charakteryzujące się dużą wszechstronnością wykorzystania i łatwością obsługi. Łatwy do odczytu

Bardziej szczegółowo

Projektor pomiarowy serii PJ-A3000

Projektor pomiarowy serii PJ-A3000 Projektor pomiarowy serii PJ-A3000 Specyfikacja techniczna Obraz obserwowany Ekran projektora Obiektyw Dokładność powiększenia konturowe padające Ogniskowanie Rozdzielczość [µm] Zasilanie Odwrócony Średnica

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy szkolne Mbl 101 b binokular monokularowa Mbl 101 M Mbl 120 b binokularowa Mbl 120 M Mbl 120 t Mbl 120 lcd typ rodzaj nr kat.

Mikroskopy szkolne Mbl 101 b binokular monokularowa Mbl 101 M Mbl 120 b binokularowa Mbl 120 M Mbl 120 t Mbl 120 lcd typ rodzaj nr kat. Mikroskopy szkolne MBL 101 B Obrotowa nasadka okularowa: : binokular (30 ) Miska rewolwerowa 4 miejscowa Obiektywy achromatyczne: 4 x 0,10 (N.A.),10 x 0,25 (N.A.),40 x 0,65 (N.A.),100 x 1,25 (N.A.) Kondensor

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy stereoskopowe Strona 468. Mikroskopy pomiarowe Strona 472. Moduły mikroskopowe Strona 495. Okulary i obiektywy Strona 497

Mikroskopy stereoskopowe Strona 468. Mikroskopy pomiarowe Strona 472. Moduły mikroskopowe Strona 495. Okulary i obiektywy Strona 497 Pomiary optyczne Oświetlacze Strona 46 Lupy Strona 466 Mikroskopy stereoskopowe Strona 468 Mikroskopy pomiarowe Strona 472 Moduły mikroskopowe Strona 49 Okulary i obiektywy Strona 497 Projektory pomiarowe

Bardziej szczegółowo

NOWOŚCI Linear Scale Typ AT 715

NOWOŚCI Linear Scale Typ AT 715 NOWOŚCI Linear Scale Typ AT 715 szczegółowe informacje na stronie 327. TM numer patentu patrz strona 458 Linear Scale liniały pomiarowe A DIGIMATIC strony 316 320 wskaźnik DIGIMATIC do liniałów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA SPECYFIKACJA TECHNICZNA model obciążenia NEXUS 412A analogowy, 2 obiektywy 0.01-0.025-0.05-0.1-0.2-0.3-0.5-1 kgf (HV) NEXUS 413A analogowy, 3 obiektywy 0.01-0.025-0.05-0.1-0.2-0.3-0.5-1 kgf (HV) NEXUS

Bardziej szczegółowo

Postępowanie WB RM ZAŁĄCZNIK NR Mikroskop odwrócony z fluorescencją

Postępowanie WB RM ZAŁĄCZNIK NR Mikroskop odwrócony z fluorescencją Postępowanie WB.2410.6.2016.RM ZAŁĄCZNIK NR 5 L.p. Nazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa netto (zł) Wartość netto (zł) (kolumna

Bardziej szczegółowo

Systemy obróbki obrazu

Systemy obróbki obrazu Systemy obróbki obrazu system obróbki obrazu QUICK IMAGE system obróbki obrazu QUICK SCOPE manualny system obróbki obrazu QUICK SCOPE CNC strona 424 strona 425 strona 425 system obróbki obrazu 3D CNC QUICK

Bardziej szczegółowo

MarShaft. Urządzenia do pomiaru wałków

MarShaft. Urządzenia do pomiaru wałków MarShaft. Pomiary części typu wałki w produkcji MarShaft MAN Ręczna, stykowa maszyna do pomiaru wałków MarShaft SCOPE. Optyczne urządzenie do pomiaru wałków MarShaft CNC. Automatyczne, stykowe centrum

Bardziej szczegółowo

Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY. opis i rozmieszczenie

Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY. opis i rozmieszczenie Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY opis i rozmieszczenie ZADANIE 1: Mikroskopy optyczne stanowiące wyposaŝenie laboratorium histopatologicznego Pomieszczenie ( 2.22 ) - Kierownik Zakładu Mikroskop konsultacyjny

Bardziej szczegółowo

Lupy Strony 480 do 481. Mikroskopy stereoskopowe Strony 482 do 486. Mikroskopy pomiarowe Strony 487 do 501

Lupy Strony 480 do 481. Mikroskopy stereoskopowe Strony 482 do 486. Mikroskopy pomiarowe Strony 487 do 501 Pomiary optyczne Lupy Strony 480 do 481 Mikroskopy stereoskopowe Strony 482 do 486 Mikroskopy pomiarowe Strony 487 do 501 Moduły mikroskopowe i obiektywy Strony 502 do 511 Projektory pomiarowe Strony 512

Bardziej szczegółowo

Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Przyrządy z noniuszami: Noniusz jest pomocniczą podziałką, służącą do powiększenia dokładności

Bardziej szczegółowo

Mikroskop Cyfrowy Levenhuk DTX 500 Mobi

Mikroskop Cyfrowy Levenhuk DTX 500 Mobi Dane aktualne na dzień: 18-10-2017 19:56 Link do produktu: http://www.e-matgdynia.pl/mikroskop-cyfrowy-levenhuk-dtx-500-mobi-p-3503.html Mikroskop Cyfrowy Levenhuk DTX 500 Mobi Cena Dostępność Numer katalogowy

Bardziej szczegółowo

COMAC. Mikroskop porównawczy do analiz kryminalistycznych

COMAC. Mikroskop porównawczy do analiz kryminalistycznych COMAC Mikroskop porównawczy do analiz kryminalistycznych COMAC - mikroskop do kryminalistycznych analiz porównawczych, takich jak: Analiza dokumentów Ślady użycia narzędzi Analiza amunicji zespolonej i

Bardziej szczegółowo

Lupy Strony 480 do 481. Mikroskopy stereoskopowe Strony 482 do 486. Mikroskopy pomiarowe Strony 487 do 501

Lupy Strony 480 do 481. Mikroskopy stereoskopowe Strony 482 do 486. Mikroskopy pomiarowe Strony 487 do 501 Pomiary optyczne Lupy Strony 480 do 481 Mikroskopy stereoskopowe Strony 482 do 486 Mikroskopy pomiarowe Strony 487 do 501 Moduły mikroskopowe i obiektywy Strony 502 do 511 Projektory pomiarowe Strony 512

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ MIKROSKOP 1. Cel dwiczenia Zapoznanie się z budową i podstawową obsługo mikroskopu biologicznego. 2. Zakres wymaganych zagadnieo: Budowa mikroskopu. Powstawanie obrazu

Bardziej szczegółowo

Wysokościomierze Strony 232 do 240

Wysokościomierze Strony 232 do 240 Wysokościomierze Wysokościomierze Strony 232 do 240 Wysokościomierze z przetwarzaniem danych Strony 241 do 244 231 Lekki wysokościomierz noniuszowy Seria 506 Dokładny i szybki odczyt z matowo chromowanej

Bardziej szczegółowo

Wartość. Cechy użytkowe Możliwość zawieszenia pionowa lub pozioma Elementy mocujące w komplecie

Wartość. Cechy użytkowe Możliwość zawieszenia pionowa lub pozioma Elementy mocujące w komplecie Część V wyposażenie specjalistyczne dla Zakładu Nauk Morfologicznych, Biologii i Nauk o Zdrowiu ( biologia) L.p. Nazwa. Tablica Informacyjna do projektów badawczych mała 2. Tablica Informacyjna do projektów

Bardziej szczegółowo

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 51: Współczynnik załamania światła dla ciał stałych

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 51: Współczynnik załamania światła dla ciał stałych Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 5: Współczynnik załamania światła dla ciał stałych Cel ćwiczenia: Wyznaczenie współczynnika załamania światła dla szkła i pleksiglasu metodą pomiaru grubości

Bardziej szczegółowo

POMIARY METODAMI POŚREDNIMI NA MIKROSKOPIE WAR- SZTATOWYM. OBLICZANIE NIEPEWNOŚCI TYCH POMIARÓW

POMIARY METODAMI POŚREDNIMI NA MIKROSKOPIE WAR- SZTATOWYM. OBLICZANIE NIEPEWNOŚCI TYCH POMIARÓW Józef Zawada Instrukcja do ćwiczenia nr P12 Temat ćwiczenia: POMIARY METODAMI POŚREDNIMI NA MIKROSKOPIE WAR- SZTATOWYM. OBLICZANIE NIEPEWNOŚCI TYCH POMIARÓW Cel ćwiczenia Celem niniejszego ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: Zarządzenie nr 17/2017 Myślenice, dnia 006.2017 r. Zmiana Załącznika nr 1 do SIWZ SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zgodnie z art. 38 ust. 4 Prawa zamówień publicznych

Bardziej szczegółowo

Ksenonowe źródło światła zimnego z wbudowaną kamerą endoskopową Videosmart XV-3001

Ksenonowe źródło światła zimnego z wbudowaną kamerą endoskopową Videosmart XV-3001 Ksenonowe źródło światła zimnego z wbudowaną kamerą endoskopową Videosmart XV-3001 Jako źródło światła zastosowano 35W promiennik metal-haloid, tzw. mini-ksenon, który pozwala ograniczyć rozmiar urządzenia

Bardziej szczegółowo

NOWOŚCI mikrometr Laser Scan - jednostka wskaźnikowa USB LSM-5200

NOWOŚCI mikrometr Laser Scan - jednostka wskaźnikowa USB LSM-5200 NOWOŚCI ikroetr Laser Scan - jednostka wskaźnikowa USB LSM-5200 szczegółowe inforacje na stronie 336. Laserowe systey poiarowe ikroetr Laser Scan jednostka poiarowa strony 333 335 ikroetr Laser Scan LSM

Bardziej szczegółowo

20 x 5 7, x 5 9,55 11,60 13,25 17,40. 23,80 30 x 5 37,10 50,30 (453) 7,90 8,70 13,10 15,00 21,40. 26,40 35 x 7 52,00 91,30 129,00.

20 x 5 7, x 5 9,55 11,60 13,25 17,40. 23,80 30 x 5 37,10 50,30 (453) 7,90 8,70 13,10 15,00 21,40. 26,40 35 x 7 52,00 91,30 129,00. Kątownik ślusarski Wykonanie: Stal, ocynkowany, obrobiony ze wszystkich stron. Zastosowanie: Do prostego ustawiania i oznaczania. 4601 4602 Kątownik płaski Kątownik ze stopką nr długość ramion 4601 4602

Bardziej szczegółowo

Lupy Strona 412. Mikroskopy pomiarowe Strona 414. Moduły mikroskopowe Strona 440. Okulary i obiektywy Strona 443. Projektory pomiarowe Strona 451

Lupy Strona 412. Mikroskopy pomiarowe Strona 414. Moduły mikroskopowe Strona 440. Okulary i obiektywy Strona 443. Projektory pomiarowe Strona 451 Pomiary optyczne Lupy Strona 412 Mikroskopy pomiarowe Strona 414 Moduły mikroskopowe Strona 440 Okulary i obiektywy Strona 443 Projektory pomiarowe Strona 41 411 Lupy precyzyjne Seria 183 Idealna do różnego

Bardziej szczegółowo

KATEDRA TECHNOLOGII MASZYN I AUTOMATYZACJI PRODUKCJI ĆWICZENIE NR 2 POMIAR KRZYWEK W UKŁADZIE WSPÓŁRZĘDNYCH BIEGUNOWYCH

KATEDRA TECHNOLOGII MASZYN I AUTOMATYZACJI PRODUKCJI ĆWICZENIE NR 2 POMIAR KRZYWEK W UKŁADZIE WSPÓŁRZĘDNYCH BIEGUNOWYCH KATEDRA TECHNOLOGII MASZYN I AUTOMATYZACJI PRODUKCJI TEMAT ĆWICZENIA: ĆWICZENIE NR 2 POMIAR KRZYWEK W UKŁADZIE WSPÓŁRZĘDNYCH BIEGUNOWYCH ZADANIA DO WYKONANIA: 1. Pomiar rzeczywistego zarysu krzywki. 2.

Bardziej szczegółowo

5 Gwintowniki. 17 Mocowanie detalu 17 KATALOG IMADŁA. Mocowanie detalu. Wiertła HSS. Wiertła VHM. Nowość - teraz w oddzielnym katalogu

5 Gwintowniki. 17 Mocowanie detalu 17 KATALOG IMADŁA. Mocowanie detalu. Wiertła HSS. Wiertła VHM. Nowość - teraz w oddzielnym katalogu 1 Wiertła HSS Mocowanie detalu Nowość - teraz w oddzielnym katalogu Wiercenie 2 Wiertła VHM Wiertła z płytkami wymiennymi 4 Rozwiertaki i pogłębiacze 5 Gwintowniki Gwint 6 Frezy cyrkulacyjne do gwintów

Bardziej szczegółowo

1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM

1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM 1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM Producent:... Typ/model:... Kraj pochodzenia:... LP. 1. Minimalne wymagane

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 2 do SIWZ Specyfikacja techniczna opis przedmiotu zamówienia minimalne wymagania

Załącznik nr 2 do SIWZ Specyfikacja techniczna opis przedmiotu zamówienia minimalne wymagania WNB.2420.15.2012.AM Załącznik nr 2 do SIWZ Specyfikacja techniczna opis przedmiotu zamówienia minimalne wymagania Zadanie nr 1 mikroskop biologiczny z systemem fotograficznym mikroskopu stereoskopowego

Bardziej szczegółowo

DOKŁADNOŚĆ I PRECYZJA

DOKŁADNOŚĆ I PRECYZJA DOKŁADNOŚĆ I PRECYZJA OFERTA SPECJALNA CERTYFIKAT ZGODNIE DIN EN ISO 9001:2008 OFERTA OBOWIĄZUJE DO 30.09.2016 r. Głębokościomierz czujnikowy cyfrowy z okrągłą pstawą z przedłużaczem 10, 20, 40, 70 i 100

Bardziej szczegółowo

wyjście danych RS232 (RB6)

wyjście danych RS232 (RB6) DOKŁADNOŚĆ I PRECYZJA! WAŻNA DO 21122014 Oferta specjalna nr 16 LUB WYCZERPANIA ASORTYMENTU Certyfikacja wg DIN EN ISO 9001:2008 Numer rejestru: 12 100 12704 TMS Suwmiarka cyfrowa, system Absolute, DIN

Bardziej szczegółowo

Projekt nr POIG /09. Tytuł: Rozbudowa przedsiębiorstwa w oparciu o innowacyjne technologie produkcji konstrukcji przemysłowych

Projekt nr POIG /09. Tytuł: Rozbudowa przedsiębiorstwa w oparciu o innowacyjne technologie produkcji konstrukcji przemysłowych Projekt nr POIG.04.04.00-24-013/09 Tytuł: Rozbudowa przedsiębiorstwa w oparciu o innowacyjne technologie produkcji konstrukcji przemysłowych Projekt współfinansowany przez Unię Europejską z Europejskiego

Bardziej szczegółowo

Frezarka uniwersalna

Frezarka uniwersalna Frezarka uniwersalna Dane ogólne 1) uniwersalna frezarka konwencjonalna, wyposażona we wrzeciono poziome i pionowe, 2) przeznaczenie do obróbki żeliwa, stali, brązu, mosiądzu, miedzi, aluminium oraz stopy

Bardziej szczegółowo

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI ĆWICZENIE 43 BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI Układ optyczny mikroskopu składa się z obiektywu i okularu rozmieszczonych na końcach rury zwanej tubusem. Przedmiot ustawia się w odległości większej

Bardziej szczegółowo

Projektor pomiarowy serii PJ-A3000

Projektor pomiarowy serii PJ-A3000 Projektor pomiarowy serii PJ-A3000 Seria 302 Projektory pomiarowe serii PJ-A3000 to modele średniej wielkości charakteryzujące się dużą wszechstronnością wykorzystania i łatwością obsługi. Łatwy do odczytu

Bardziej szczegółowo

Mikroskop Levenhuk Rainbow 2L PLUS Amethyst\Fioletowy

Mikroskop Levenhuk Rainbow 2L PLUS Amethyst\Fioletowy Dane aktualne na dzień: 23-10-2017 06:58 Link do produktu: http://www.e-matgdynia.pl/mikroskop-levenhuk-rainbow-2l-plus-amethystfioletowy-p-3397.html Mikroskop Levenhuk Rainbow 2L PLUS Amethyst\Fioletowy

Bardziej szczegółowo

Instytut Obrabiarek i TBM, Politechnika Łódzka

Instytut Obrabiarek i TBM, Politechnika Łódzka 1 Autor dr inż. Stanisław Bąbol Instrukcja do ćwiczenia nr 4 Temat ćwiczenia Cel ćwiczenia: MIKROSKOPY WARSZTATOWE Celem ćwiczenia jest zapoznanie studentów z budową mikroskopów, ich wyposażenia oraz z

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia. Dostawa aparatury pomiarowej i badawczej

Opis przedmiotu zamówienia. Dostawa aparatury pomiarowej i badawczej 1. Zał. Nr 1 Opis przedmiotu Przedmiotem jest dostawa fabrycznie nowego sprzętu, urządzeń i narzędzi wykorzystywanych przy przeglądach drogowych obiektów inżynierskich w podziale na 3 n/w zadania Zadanie

Bardziej szczegółowo

Głębokościomierz mikrometryczny Digimatic

Głębokościomierz mikrometryczny Digimatic Głębokościomierz mikrometryczny Digimatic Seria 329 Typ z wymiennymi trzpieniami Wymienne trzpienie ø 4mm o docieranych końcówkach pomiarowych. Grzechotka zapewnia stałą siłę docisku. Blokada trzpienia

Bardziej szczegółowo

PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik Nr 1A. 1 PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1. PARAMETRY TECHNICZNE MIKROSKOP LABORATORYJNY Katedra Hodowli Roślin i Nasiennictwa WYMAGANE PARAMETRY PARAMETRY OFEROWANE a)

Bardziej szczegółowo

Głębokościomierz mikrometryczny

Głębokościomierz mikrometryczny Głębokościomierz mikrometryczny Wzorzec długości Bęben i tuleja matowo chromowane, ø 18 mm pomiarowy 25 mm Skok gwintu wrzeciona 0,5 mm z blokadą wrzeciona Błąd posuwu głowicy ±3 µm (0-25 mm) Płaskość

Bardziej szczegółowo

Pionowe centrum obróbkowe TBI VC 1570

Pionowe centrum obróbkowe TBI VC 1570 Pionowe centrum obróbkowe TBI VC 1570 Uniwersalne i precyzyjne urządzenie do obróbki 3 osiowej, najbogatszy standard wyposażenia na rynku TBI Technology Sp. z o.o. ul. Bosacka 52 47-400 Racibórz tel.:

Bardziej szczegółowo

Surftest SJ-210. Specyfikacja techniczna. Napęd Zakres pomiarowy 4,8 mm [Typ S] 5,6 mm [typ-s] 0,75 mm/s

Surftest SJ-210. Specyfikacja techniczna. Napęd Zakres pomiarowy 4,8 mm [Typ S] 5,6 mm [typ-s] 0,75 mm/s SJ-210 Seria 178 - Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości powierzchni Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości powierzchni. SJ-210 posiada następujące zalety: System z płozą z przyjaznym dla użytkownika

Bardziej szczegółowo

Mikroskop pomiarowy TM-500

Mikroskop pomiarowy TM-500 Mikroskop pomiarowy TM-500 Specyfikacja techniczna Obraz obserwowany Obraz prosty Odczyt kąta Zakres : 360 Minimalny odczyt : 6' (z noniusza) Obiektyw 2X (176-138) Odległość robocza : 67 Opcjonalne : 5X,

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy stomatologiczne AM-3000

Mikroskopy stomatologiczne AM-3000 Mikroskopy stomatologiczne AM-3000 Mikroskopy serii AM-3000 są diagnostycznymi mikroskopami chirurgicznymi przeznaczonymi do stomatologii i laryngologii. Mikroskopy w standardzie posiadają 5 stopniową

Bardziej szczegółowo

Zakres pomiarowy mm. Długość szczęki. Długość szczęki. Długość szczęki

Zakres pomiarowy mm. Długość szczęki. Długość szczęki. Długość szczęki dokładność zgodna z DIN 862 ze stali nierdzewnej skala i noniusz chromowany na matowo dla pomiarów wewnętrznych, zewnętrznych oraz głębokości Odczyt Wykonanie 40 00 85 005 70 30 0,05 ze śrubą mocującą

Bardziej szczegółowo

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 77 POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Ława optyczna z podziałką, oświetlacz z zasilaczem i płytka z wyciętym wzorkiem, ekran Komplet soczewek z oprawkami

Bardziej szczegółowo

PYTANIA I ODPOWIEDZI, WYJAŚNIENIA DO SIWZ ORAZ ZMIANA TERMINÓW SKŁADANIA I OTWARCIA OFERT

PYTANIA I ODPOWIEDZI, WYJAŚNIENIA DO SIWZ ORAZ ZMIANA TERMINÓW SKŁADANIA I OTWARCIA OFERT BIURO ZAMÓWIEŃ PUBLICZNYCH UNIWERSYTETU JAGIELLOŃSKIEGO Ul. Straszewskiego 25/9, 31-113 Kraków tel. +4812-663-39-03, fax +4812-663-39-14; e-mail: bzp@uj.edu.pl www.uj.edu.pl Do wszystkich Wykonawców Kraków,

Bardziej szczegółowo

Głębokościomierze mikrometryczne Strona 223. Głębokościomierze Strona 226. Wyposażenie głębokościomierzy Strona 232

Głębokościomierze mikrometryczne Strona 223. Głębokościomierze Strona 226. Wyposażenie głębokościomierzy Strona 232 Przyrządy do pomiaru głębokości Głębokościomierze mikrometryczne Strona 223 Głębokościomierze Strona 226 Wyposażenie głębokościomierzy Strona 232 222 Głębokościomierze mikrometryczne Skala Bęben i tuleja

Bardziej szczegółowo

Nr postępowania WF-37-43/13. Warszawa, 06 sierpnia 2013 r. Strona 1 z 11

Nr postępowania WF-37-43/13. Warszawa, 06 sierpnia 2013 r. Strona 1 z 11 Zamawiający: Uniwersytet Warszawski ul. Krakowskie Przedmieście 26/28 00 927 Warszawa Adres do korespondencji: Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki ul. Hoża 69, 00-681 Warszawa tel./fax (0 22) 55 32 213

Bardziej szczegółowo

Lampy czołowe LED serii 08-79

Lampy czołowe LED serii 08-79 Lampy czołowe LED serii 08-79 Model: 08-790-W opaska czołowa, kolor biały 08-790-S opaska czołowa, kolor czarny 08-795-W opaska krzyżowa, kolor biały 08-795-S opaska krzyżowa, kolor czarny Nowoczesna lampa

Bardziej szczegółowo

Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne

Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT INŻYNIERII ŚRODOWISKA PROWADZĄCY: mgr inż. Łukasz Amanowicz Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne 3 TEMAT ĆWICZENIA: Badanie składu pyłu za pomocą mikroskopu

Bardziej szczegółowo

MITUTOYO PROMOCJA! Jesień / Zima 01. 10. 2006 31.01.2007

MITUTOYO PROMOCJA! Jesień / Zima 01. 10. 2006 31.01.2007 MITUTOYO PROMOCJA! Jesień / Zima 01. 10. 2006 31.01.2007 Przyrząd do pomiaru chropowatości Przyrząd do pomiaru chropowatości powierzchni Surftest SJ-201 Łącznie z oprogramowaniem SJ-Tools Przenośne, wytrzymałe

Bardziej szczegółowo

MASZYNY MASZYNY. - prasa hydrauliczna 20 t. -prasa hydrauliczna 40 t - giętarka do rur

MASZYNY MASZYNY. - prasa hydrauliczna 20 t. -prasa hydrauliczna 40 t - giętarka do rur MASZYNY - prasa hydrauliczna 20 t S MASZYNY -prasa hydrauliczna 40 t - giętarka do rur 41 Prasa hydrauliczna 20T Prasa hydrauliczna do 20 T Nr. kat. SCT31-20 Uniwersalna prasa hydrauliczna SCT31-20 o nacisku

Bardziej szczegółowo

5-osiowe centrum obróbkowe TBI U5

5-osiowe centrum obróbkowe TBI U5 5-osiowe centrum obróbkowe TBI U5 Bogaty standard wyposażenia dedykowany do obróbki skomplikowanych kształtów w pięciu płaszczyznach. TBI Technology Sp. z o.o. ul. Bosacka 52 47-400 Racibórz tel.: +48

Bardziej szczegółowo

ZAŁĄCZNIK NR 1 DO OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU WMP/Z/42/2014. Specyfikacja sprzętu laboratoryjnego Zadanie nr 1

ZAŁĄCZNIK NR 1 DO OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU WMP/Z/42/2014. Specyfikacja sprzętu laboratoryjnego Zadanie nr 1 ZAŁĄCZNIK NR 1 DO OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU WMP/Z/42/2014 Specyfikacja sprzętu laboratoryjnego Zadanie nr 1 Mieszadło mechaniczne ze statywem i złączką (2 sztuki): mieszadło analogowe, wyświetlacz prędkości

Bardziej szczegółowo

ŚWIADECTWO WZORCOWANIA

ŚWIADECTWO WZORCOWANIA LP- MET Laboratorium Pomiarów Metrologicznych Długości i Kąta ul. Dobrego Pasterza 106; 31-416 Kraków tel. (+48) 507929409; (+48) 788652233 e-mail: lapmet@gmail.com http://www.lpmet..pl LP-MET Laboratorium

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA ZP/UR/153/2013 Załącznik nr 2 do SIWZ SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie 1 pn: Dostawa mikroskopu metalograficznego Opis przedmiotu zamówienia: Dostarczenie, instalacja, nieodpłatne szkolenie

Bardziej szczegółowo

Specyfikacja techniczna obrabiarki. wersja 2013-02-03, wg. TEXT VMX42 U ATC40-05 VMX42 U ATC40

Specyfikacja techniczna obrabiarki. wersja 2013-02-03, wg. TEXT VMX42 U ATC40-05 VMX42 U ATC40 Specyfikacja techniczna obrabiarki wersja 2013-02-03, wg. TEXT VMX42 U ATC40-05 VMX42 U ATC40 KONSTRUKCJA OBRABIARKI HURCO VMX42 U ATC40 Wysoka wytrzymałość mechaniczna oraz duża dokładność są najważniejszymi

Bardziej szczegółowo

Pionowe centrum obróbkowe TBI VC 1270 Smart Mill

Pionowe centrum obróbkowe TBI VC 1270 Smart Mill Pionowe centrum obróbkowe TBI VC 1270 Smart Mill Inteligentne rozwiązanie, dzięki zastosowaniu optymalnego cenowo sterowania Siemens oraz konfiguracji maszyny umożliwiającej pełną funkcjonalność. TBI Technology

Bardziej szczegółowo

PROJEKTORY DO KINA DOMOWEGO

PROJEKTORY DO KINA DOMOWEGO PROJEKTORY DO KINA DOMOWEGO K750 Projektor do kina domowego LED + Laser Acer K750 jest pierwszym na świecie projektorem o rozdzielczości 1080p wyposażonym w hybrydowe źródło światła laser/led, które zwiększa

Bardziej szczegółowo

Mitutoyo. Promocja zimowa PJ-A3005F-150 7.090, HR-110MR 3.330, TM-505. Zestaw TM 3.870, obowiązuje od listopada 2011 r. do stycznia 2012 r.

Mitutoyo. Promocja zimowa PJ-A3005F-150 7.090, HR-110MR 3.330, TM-505. Zestaw TM 3.870, obowiązuje od listopada 2011 r. do stycznia 2012 r. Mitutoyo Promocja zimowa PJ-A3005F-150 7.090, HR-110MR 3.330, TM-505 Zestaw TM 3.870, obowiązuje od listopada 011 r. do stycznia 01 r. U-WAVE Bezprzewodowy system przesyłania danych pomiarowych Kabel U-WAVE-T

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 RZECZPO SPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307033 (22) Data zgłoszenia: 31.01.1995 (51) Int.Cl.6: A61B 3/107

Bardziej szczegółowo

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni

ScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni ScrappiX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Scrappix jest innowacyjnym urządzeniem do kontroli wizyjnej, kontroli wymiarów oraz powierzchni przedmiotów okrągłych

Bardziej szczegółowo

ODPOWIEDŹ DO ZAPYTANIA O WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

ODPOWIEDŹ DO ZAPYTANIA O WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Rzeszów, dnia 3.08.2016 ODPOWIEDŹ DO ZAPYTANIA O WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy zamówienia Dostawa przyrządów pomiarowych(4 części)w ramach zadania: Poprawa jakości i warunków kształcenia zawodowego w

Bardziej szczegółowo

Technika pomiarowa 3 / 40. Graniczny sprawdzian trzpieniowy H7

Technika pomiarowa 3 / 40. Graniczny sprawdzian trzpieniowy H7 Graniczny sprawdzian trzpieniowy H7 ze stroną przechodnią i nieprzechodnią ze stali przeznaczonej na sprawdziany do kontroli otworów pod kątem dokładności wymiarowej wykonanie zgodne z DIN 7162/7164 wymiary

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT OBRABIAREK I TECHNOLOGII BUDOWY MASZYN. Ćwiczenie B-2 POMIAR PROSTOLINIOWOŚCI PROWADNIC ŁOŻA OBRABIARKI

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT OBRABIAREK I TECHNOLOGII BUDOWY MASZYN. Ćwiczenie B-2 POMIAR PROSTOLINIOWOŚCI PROWADNIC ŁOŻA OBRABIARKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT OBRABIAREK I TECHNOLOGII BUDOWY MASZYN Ćwiczenie B-2 Temat: POMIAR PROSTOLINIOWOŚCI PROWADNIC ŁOŻA OBRABIARKI Opracowanie: dr inż G Siwiński Aktualizacja i opracowanie elektroniczne:

Bardziej szczegółowo

Zestaw specjalny do pomiaru detali cylindrycznych

Zestaw specjalny do pomiaru detali cylindrycznych Zestaw specjalny do pomiaru detali cylindrycznych Zakres mierzonych średnic od 20 do 220 mm Minimalna odległość między pryzmami 50 mm Maksymalna odległość między pryzmami 580 mm W skład zestawu wchodzi:

Bardziej szczegółowo

Wysokościomierze Strona 234. Wyposażenie wysokościomierzy Strona 241

Wysokościomierze Strona 234. Wyposażenie wysokościomierzy Strona 241 Wysokościomierze Wysokościomierze Strona 234 Wyposażenie wysokościomierzy Strona 241 Wysokościomierz z procesorem danych Strona 243 233 Lekki wysokościomierz noniuszowy Seria 506 Wysokościomierz suwmiarkowy

Bardziej szczegółowo

ZŁAP OFERTĘ! Od 1 listopada do 19 grudnia 2014 NARZĘDZIA POMIAROWE NAJWYŻSZEJ JAKOŚCI

ZŁAP OFERTĘ! Od 1 listopada do 19 grudnia 2014 NARZĘDZIA POMIAROWE NAJWYŻSZEJ JAKOŚCI Promocja obowiązuje od 1 listopada do 19 grudnia 2014 r. Producent zastrzega sobie prawo do dokonywania zmian technicznych i modyfikacji produktów. Ceny obowiązują wyłącznie dla klientów biznesowych. Wszystkie

Bardziej szczegółowo

CEMB ER 60 - wyważarka do kół samochodów osobowych i dostawczych

CEMB ER 60 - wyważarka do kół samochodów osobowych i dostawczych CEMB ER 60 - wyważarka do kół samochodów osobowych i dostawczych MAKSIMUM WYDAJNOŚCI PRZY MINIMUM PRZESTRZENI automatyczny pomiar dwóch wymiarów koła laser wskazujący miejsce naklejenia ciężarka na godz.

Bardziej szczegółowo

Kamera termowizyjna MobIR M8. Dane Techniczne

Kamera termowizyjna MobIR M8. Dane Techniczne Kamera termowizyjna MobIR M8 Dane Techniczne Termowizyjny Typ detektora: Zakres spektralny: Czułość sensora: Pole widzenia/ Ogniskowa: Ostrzenie obrazu: Zbliżenie elektroniczne: Obraz Niechłodzony FPA

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA Ćwiczenie 81 A. ubica WYZNACZANIE PROMIENIA RZYWIZNY SOCZEWI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA Cel ćwiczenia: poznanie prążków interferencyjnych równej grubości, wykorzystanie tego

Bardziej szczegółowo

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru Ćwiczenie nr 9 Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru I. Zestaw przyrządów 1. Spektrometr 2. Lampy spektralne: helowa i rtęciowa 3. Pryzmaty szklane, których własności mierzymy II. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

ENIE KLAS DLA 6 LATKÓW W ZESPOLE SZKÓŁ NR 1 UL. BOHATERÓW WARSZAWY I UL. KOPERNIKA W MR

ENIE KLAS DLA 6 LATKÓW W ZESPOLE SZKÓŁ NR 1 UL. BOHATERÓW WARSZAWY I UL. KOPERNIKA W MR ZAŁĄCZNIK NR 1 WYPOSAŻENIE SPRZĘT WYPOSAŻENIE KLAS DLA 6 LATKÓW W ZESPOLE SZKÓŁ NR 1 UL. BOHATERÓW WARSZAWY I UL. KOPERNIKA W MRĄGOWIE Kompletny zestaw składa się z: projektora, ekranu, stolika 1 System

Bardziej szczegółowo

POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW

POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Ćwiczenie nr 4 TEMAT: POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW ZADANIA DO WYKONANIA:. zmierzyć trzy wskazane kąty zadanego przedmiotu kątomierzem

Bardziej szczegółowo

LUPA DWUOKULAROWA [ BAP_ doc ]

LUPA DWUOKULAROWA [ BAP_ doc ] LUPA DWUOKULAROWA [ ] Strona 1 z 5 PREZENTACJA PRODUKTU Rysunek Spis części, sprawdzenie zestawu 1. Pierścień regulacji okularu prawego 2. Para obiektywów 2x lub 4x 3. Dysk przezroczysty 4. Podstawa z

Bardziej szczegółowo

PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 1A. do SIWZ Zadanie nr 1. KATEDRA HODOWLI ROŚLIN I NASIENNICTWA MIKROSKOP LABORATORYJNY Głowica Okulary szerokokątne Kąt pochylenia okularów Miska

Bardziej szczegółowo

Contracer CV Seria Przyrządy do pomiaru konturu Przyrząd przeznaczony do "łatwych" i "szybkich" pomiarów konturu.

Contracer CV Seria Przyrządy do pomiaru konturu Przyrząd przeznaczony do łatwych i szybkich pomiarów konturu. Contracer CV-2100 Przyrząd przeznaczony do "łatwych" i "szybkich" pomiarów konturu. Contracer CV-2100N4 oraz CV-2100M4 oferują następujące korzyści: Szybki i prosty a jednocześnie zawansowany pomiar konturu.

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw 1) Instrukcja wykonawcza

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw 1) Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 76A WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw ) Instrukcja wykonawcza. Wykaz przyrządów Spektrometr (goniometr) Lampy spektralne Pryzmaty. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 41 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO. Wprowadzenie teoretyczne

ĆWICZENIE 41 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO. Wprowadzenie teoretyczne ĆWICZENIE 4 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO Wprowadzenie teoretyczne Rys. Promień przechodzący przez pryzmat ulega dwukrotnemu załamaniu na jego powierzchniach bocznych i odchyleniu o kąt δ. Jeżeli

Bardziej szczegółowo

8-calowa cyfrowa ramka do zdjęć! Wbudowane 128 MB

8-calowa cyfrowa ramka do zdjęć! Wbudowane 128 MB PF-801 firmy Genius jest najwyższej jakości 8-calowym ekranem o wysokiej rozdzielczości, przeznaczonym do wyświetlania ulubionych zdjęć w naturalnych, wibrujących kolorach i z realistycznym bogactwem szczegółów,

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji TEMAT: Ćwiczenie nr 4 POMIARY KĄTÓW I STOŻKÓW ZADANIA DO WYKONANIA:. zmierzyć 3 wskazane kąty zadanego przedmiotu

Bardziej szczegółowo

Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC

Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC Renens, Lipiec 2009 Trimos S.A. Av.de Longe m alle 5 C H- 1020 Renens T. +41 21 633 01 12 F. +41 21 633 01 02 Najnowszej generacji długościomierz z trzema osiami sterowanymi w trybie CNC Najwyższa dokładność

Bardziej szczegółowo

Sprzęt pomiarowy. Instrukcja obsługi

Sprzęt pomiarowy. Instrukcja obsługi Sprzęt pomiarowy Instrukcja obsługi Akcesoria do pomiarów Mikrometr stolikowy (1) do kalibracji Siatki o różnych odstępach (2) w mm i calach Siatki z oczkami (3) Siatki z osiami współrzędnych Długości

Bardziej szczegółowo

Z fotelem dla operatora KM 105/110 R Bp

Z fotelem dla operatora KM 105/110 R Bp Z fotelem dla operatora KM 105/110 R Bp Nowa linia samojezdnych zamiatarek z fotelem dla operatora wyposażonych w opatentowany system automatycznego oczyszczania filtra Tact (dotychczas stosowanego w odkurzaczach

Bardziej szczegółowo

PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 1A do SIWZ. PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1. Mikroskop badawczy Baza mikroskopu Oświetlacz halogenowy jasnego pola Nasadka Okulary Obiektywy Katedra Ochrony Roślin

Bardziej szczegółowo

Z fotelem dla operatora KM 105/110 R Bp

Z fotelem dla operatora KM 105/110 R Bp Z fotelem dla operatora KM 105/110 R Bp Nowa linia samojezdnych zamiatarek z fotelem dla operatora wyposażonych w opatentowany system automatycznego oczyszczania filtra Tact (dotychczas stosowanego w odkurzaczach

Bardziej szczegółowo

TESA HITS QUALITY DRIVES PRODUCTIVITY

TESA HITS QUALITY DRIVES PRODUCTIVITY TESA Hits Ważne do 30.06.2016 Ceny nie zawierają podatku VAT Version PL EUR TESA HITS QUALITY DRIVES PRODUCTIVITY NEW TWIN-T10 PRZENOŚNY WYŚWIETLACZ DO CZU- JNIKÓW INDUKCYJNYCH Duży wyświetlacz analogowy

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ CENOWY A B C D E F G

FORMULARZ CENOWY A B C D E F G (pieczęć Wykonawcy) FORMULARZ CENOWY CZĘŚĆ II: Dostawa urządzeń 2.1.1 Dalmierz laserowy a) fabrycznie nowy (nieeksploatowany, wyprodukowany nie wcześniej niż w 2014 roku) b) zasięg pomiaru min. 80 m c)

Bardziej szczegółowo

CEMB ER 60 - wyważarka do kół samochodów osobowych i dostawczych

CEMB ER 60 - wyważarka do kół samochodów osobowych i dostawczych CEMB ER 60 - wyważarka do kół samochodów osobowych i dostawczych MAKSIMUM WYDAJNOŚCI PRZY MINIMUM PRZESTRZENI automatyczny pomiar dwóch wymiarów koła laser wskazujący miejsce naklejenia ciężarka na godz.

Bardziej szczegółowo

Mikrometr wewnętrzny szczękowy Digimatic

Mikrometr wewnętrzny szczękowy Digimatic Mikrometr wewnętrzny szczękowy Digimatic Seria 345 Docierane powierzchnie z węglika spiekanego. 345-250-10 Nr Dokładność Waga g Cena 345-250-10 5-30 mm ±5 µm 305 695,00 345-251-10 25-50 mm ±6 µm 310 730,00

Bardziej szczegółowo

na dostawę endoskopu z wyposażeniem wraz z laserowymi narzędziami do pomiarów geometrycznych elementów maszyn

na dostawę endoskopu z wyposażeniem wraz z laserowymi narzędziami do pomiarów geometrycznych elementów maszyn Warszawa, dnia 22.10.2015r. ZAPYTANIE OFERTOWE na dostawę endoskopu z wyposażeniem wraz z laserowymi narzędziami do pomiarów geometrycznych elementów maszyn Do niniejszego postępowania nie mają zastosowania

Bardziej szczegółowo

Instytut Obrabiarek i TBM, Politechnika Łódzka

Instytut Obrabiarek i TBM, Politechnika Łódzka 1 Autor dr inż. Stanisław Bąbol Instrukcja do ćwiczenia nr 11 Temat ćwiczenia POMIAR GWINTÓW Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie studentów z metodami i techniką pomiaru gwintów oraz z przyrządami

Bardziej szczegółowo

ADIR. A (mm) B (mm) C (mm) Kg

ADIR. A (mm) B (mm) C (mm) Kg Wielofunkcyjne, numerycznie sterowane centrum fresarskie: 3 osie z możliwością interpolacji, stół roboczy z nastawą pneumatyczną (-90 /0 /+90 ). A (mm) B (mm) C (mm) Kg 3.060 1.440 1.650 1.000 W OPCJI:

Bardziej szczegółowo

Zastrzeżony znak handlowy Copyright Institut Dr. Foerster 2010. Koercyjne natężenie pola Hcj

Zastrzeżony znak handlowy Copyright Institut Dr. Foerster 2010. Koercyjne natężenie pola Hcj Zastrzeżony znak handlowy Copyright Institut Dr. Foerster 2010 Koercyjne natężenie pola Hcj KOERZIMAT 1.097 HCJ jest sterowanym komputerowo przyrządem pomiarowym do szybkiego, niezależnego od geometrii

Bardziej szczegółowo