1.2. INTERPRETACJA OBRAZÓW MIKR.OSKOPOWYCH

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "1.2. INTERPRETACJA OBRAZÓW MIKR.OSKOPOWYCH"

Transkrypt

1 1.2. INTERPRETACJA OBRAZÓW MIKR.OSKOPOWYCH Komórki są trójwymiarowe. W mikroskopie widzimy je w postaci obrazu płaskiego. Do obserwacji w mikroskopie zwykle przygotowuje się z komórek cienkie skrawki, które są jedynie wycinkiem komórki. Naw~t wtedy, gdy oglądamy całe komórki w mikroskopie świetlnym, w miarę zwiększania powiększenia zmniejsza się głębia ostrości i oglądamy wyrainie równiet jedynie określoną płaszczyznę w obrębie komórki, tak zwany przekrój optyczny. Pod mikroskopem widzimy wobec tego obraz płaski, dwuwymiarowy z reguły,pewnego wycinka komórki. Gdy grubość wycinka zbl;2a się do zera~ oglądamy przek~ój ' komórki. Z tych przekrojów wnioskujemy o trójwymiarowym wyglądzie komórki. Przy pomiarach przekrojów struktur dokładność wzrasta, gdy grubość skraw~ ka maleje. Zmniejszenie grubości skrawków ograniczone jest przyczynami tech~ nicznymi. Z jednej strony ograniczeni jesteśmy m02liwością mikrotomu, a z

2 drugiej - maleją c ym kontrastem między tłem a strukturą w zbyt cienkich skrawkach. W praktyce wybiera się opt y malną grubo ść skrawków, różną w badaniach różnych obiektów różnymi metodami. Wa ż ną strukturą komórki j est błona, stanowiąca i stotny składnik różnych organelli komór kowych. W mikroskopie świetlnym jest ona widoczna jedynie jako granica między różnym i optycznie prze strzeniami. W mikroskopie elektronowym, przy standardowej obróbce preparatu (utrwalanie' aldehydem glutarowym i czterotlenkiem osmu, kontrastowanie solami ołowiu i,uranylu),,bl-ona,' priekrojona prostopadle do powierzchni daje obraz w postaci dwóch równoległych warstw elektronowo gęstych ziarni s toś c i przedzielonych warstwą o mniej szej gęstości (ryc. 6). Gru~ość całości wynosi około 7, 5 nm. ~ nie~tóryc~ błonach jedna lub obie warstwy elektronowo gęste mogą być pogrubi~ ne : Na obrazach mniej powiększonych warstwy te ziewaję się 'w j' edną elektrori"ó'w'o" gę- ' stą warstwę.. '.' '.~,... ~~...,..."... ~~ ~...'. '.,..' "..'.' ~.:~~~}....'"~'P.fP:""..'...'.. '. "......,... " '. ".. Wł~(f' ~X ~4:f.:;;P.'Jff!łf~~ł\lji 2 nm 3,5 Ryc.6. Schematyczny obraz poprzecznego przekroju błony oglądanej w mikroskopie elektronowym po utrwaleniu czterotlenkiem osmu Obraz błony przeds~awia się 'r ó żnie w zależno ś ci od kąta nachylen i a powierzchni błony do powierzchni przekroju. Ilu s tracją tego j est r yc ina 7. Na przekroju prostopadłym do powi erzchni błona tworzy ostro ograniczoną linię gęsto uło ż ony c h ziarni s tośc i. Na przekrojach sko ś nych tworz y znac znie s zerszą, mniej ostro zaznaczoną linię bardziej rozproszonych ziarnistości., Wreszcie na przekroju równoległ y m widać rzadko rozproszone ziarnisto ś ci i błona staje się niewidoczna. Ta różnorodnoś ć obrazów błon w mikroskopie elektronowym powoduje pewien błąd w ich ocenie. Nawet gdy błona jest dobrze widoczna, trudno czasami wnioskować o kształcie bryły otoczonej błoną.obraz w postac i pierścienia może dać za~ ówno przekrój przez pęcherzy k, jak i przekrój przez cewkę., Do k ładny obraz konkre tnej struktury uz ys kuje się wtedy, gdy wy kona się s erię \skrawków ~bej;ującę 7~łę-;t;;:kt~;ę:- 'zt;ki C- h- -;k 'r;;'wkó~ o ż na--;-yk~;;a'ć- ' 2 model ~.t t ukt;:;;;~odpowi ;dniopow i ęks'z 'óne obra zy skrawków przenosi się na ' PłYtk1-"Z-'wo-s'k u modelowego tyle razy grubs ze od skrawków, ile wyn os i poo Ss o.,.::- ::;: ',.... :.. : ~.'.' "I,. I,, " ;, " 1 I Ryc.7. Schematyczny obraz błony oglądanej w mikroskopie elektronowym w zależno ś ci od kąta nachylenia powierzchni błony; u góry - przekrój, ' u dołu - iilidqk skrawka i błon y z boku większenie obrazu. W płytkach wycina się zarysy struktur i odpowiednio ze s tawia wycinki. W ten sposób powstaje powiększony model struktury. Przedstawiony wyżej obraz błony oglądanej w mikroskopie elektronowym jest typowy dla każdej błony komórki, ale niewiele mówi o jej funkcjonowaniu. tym dowiadujemy się między innymi z właściwości składników, błony. W skład błon wchodzą polarne lipidy i białka. Wyekstrahowane lipidy błon, gdy rozdzielają dwa roztwory wodne, układają się samorzutnie w podwójną warstewkę cząstecze k zwróconych grupami polarnymi na zewnątrz do roztworów wodnych, a ł ańcuchami hydrofobowymi do środka. Taka dwucząsteczkowa warstewka jest termodynamicznie stabilna i może być zrębem strukturowym błony. Tak samo układają się cząsteczki lipidów w błonach komórk~ (ryc. BA). Część białek przylega do powierzchni błony lipidowej. Są to białka powierzchni~we, związane siłami jonowymi. Inne białka zagłębiają się w błonę, sięgając z jednej strony błony na drugą. Są to białka integralne,wiązane siłami hydrofobowymi. Wiele informacji o budowie błony uzyskano dzięki technice łamania zamrożonych preparatów. Kroplę zawiesiny komórek lub wyizolowanych błon zamraża się gwałtownie na miedzianym stoliku i uderzeniem noża odłamuje jej część ( ryc. 9A). Powierz c hnię łamania części kropli pozostającej na stoliku napyla się rozproszonym atomowo węgl e m i pod,kątem 45 0 platyną. Węgiel tworzy trwałą warstewkę przylegającą szczelnie do powierzchni łamania. Warstewk~

3 A B ~d" " " i. i I Yc.12. Siatki pol1liarowe do pomiarów stereologicznych: A - siatka równoległych linii biegę c ych w odległości d w dwóch prostopadłych do siebie kierunkach, B - układ linii o - długości d rozrzuconych losowo li teratura e i b e l E.R., 1973, Stereological techniques for electron microscopic morphometry, w: Principles and techniques of electron microscopy ( red. M.A. Hayat). Van Nostrand Reinhold Co., New York. e i b e l E.R., 1980, Stereological methods. ; 01. l, Practical methods for bi ological morphometry. Vol. 2, Theoretical foundations. Academic Press. London. I POMIAR OBJĘTOŚCI WZGLĘDNEJ BRYŁ W celu zmierzenia przekrojów brył wykonuje się na przezroczystej płytce i iatkę dwóch grup równoległych linii ustawionych względem siebie prosto Jadle. Linie rozmieszczone sę w identycznych odległościach - równych d ~ ryc. 12). Miejsca przecięć linii siatki twortę system równomiernie rozlieszczonych punktów. Najmniejsza odległość między punktaft!,i d jest równa Jdległości między liniami. Każdy punkt siatki reprezentuje identycznę po,ierzchnię równę d 2. Siatk~ nakłada się na zdjęcia przekroju komórki li ; zy liczbę punktów Pi w obrębie interesujęcej nas struktury i ~raz liczbę Junktów P w obrębie całego przekroju, np. komórki. Objętość względną strukt u~y określa równanie (6) gdzie: Vv jest objętością względną struktury i, Pi - sumaryczną liczbą punktów iznajdujących się w obrębie przekrojów struktury i, P - sumaryczną liczbą punktów znajdujących się w obrębie całego przekroju. Powie.kszenie ~djęcia i O dległoścllinii siatki - ~ ~ optymalnie dobrane, gdy w przekrój pojedynciej struktury trafia nie więcej nit jeden punkt.

4 s POMIAR POWIERZCHNI WZGLĘDNEJ BŁON W pomiarach wykorzystuje się liniową zale2ność długości linii przekroów błon od powierzchni błon. Długość linii przekrojów można określić za omocą kwadratowej siatki pomiarowej przedstawionej na rycinie 12A. ~a ~rze~ roj ach mierzy się sumaryczną długość wszystkich linit" siafki pomiar'dw'ej "w brębi e przekroju badanej struktury (tkanki, komórki, cytoplazmy itp.) oraz iczbę p~zecięć linii siatki pomiarowej z przekrojami błon. Przy obliczaiu wyników korzysta się z następującego wzoru: Ryc.13. Różne położenie pęcherzyków - P w stosunku do skrawka - S. Widok od strony prostopadłej do powierzchni,skrawania s = łl V L (7) dzi e: Sv to powierzchnia względna błon w danym obiekcie (tkance, komórc e, ytoplazmie itp.), I - liczba przecięć linii siatki pomiarowej z przekroami błon, L - sumaryczna długość linii pomiarowych w obrębie przekroju dalego obiektu. W praktyce nie liczy się przecięć na przekrojach, lecz na powiększon yc h,brazach tych przekrojów. Wobec tego długość linii należy po~zielić przez l owiększenie, natomiast wzór 7 przyjmuje postać: 21 l powiększenie (B) J wag a! W pomiarach powierzchn i błon należy zwrócić uwagę na trzy iród ' a błędu: a) M ier ząc powierzchnię błon należy pamiętać o założeniu, że przebieg )łdn jest losowy. Gdy błony w komórce są zorientowane w jednym kierunku, 1ależy kierunek linii siatki pomiarowej ustawiać na przekroju w sposób 10- iow y albo stosować si a tkę pomiarową o losowym układzie linii (ryc.12b). b) Błony przekrojone pod ostrym kątem mogą być niewidoczne, co powoduje ~aniżenie wyników. c) Badania stereologiczne oparte sę na założeniu, że pomiarów dokonuje,ię na przekrojach dwuwymiarowych. W praktyce skrawki mają określoną gru IOŚĆ. Skutkiem tego błony drobnych struktur (siateczka śródplazmatyczna, jrzebienie mitochondrialne itp.) mogę być widoczne, mimo że wchodzą do krawka jedynie na małą głębokość (ryc. 13). W takich przypadkach należy.prowadzić Odpowiednią poprawkę do wyników (Weibel i Paumgartner, 1978). wagi przedstawione w punkcie b i c mogę spowodować równie2 błęd w ocenie Jbjętości brył.

5 ~ojów zewnętlznej błony mitochondlialnej olaz sumalyczną długość linii iatki w oblębie cytoplazmy hepatocytów z mitochondliami włącznie. Obliczela i dalsze oplacowanie wyników plzeplowadt jak w ćwiczeniu 21. n ~as analizy 10 zdjęć: 70 minut. M a t e L i a ł: zdjęć z mikloskopu elektlonowego folmatu 18 x 24 cm o powiększeniu końlwym x jak w ćwiczeniu 20, kwadlatowa siatka pomialowa o liniach od- 19łych o 15 mm, kalkulatol. POMIAR ŚREONICY STRUKTUR KULISTYCH Za pomocą steleologii można określić pneciętną średnicę i inne wy~~i~,rx" :Luktur komólkowych, jeżeli znany jest ich kształt. Stosunkowo prostym :zykładem są stluktury kuliste. 5tLuktuLY innych kształtów wymagają z Fe-, Iły skomplikowanego matematycznego oplacowania wyników. 00 okleślenia średnicy stluktul kulistych posługujemy się idealną kulą Iko modelem. Kula poklojona na dużą liczbę skrawków równej glubości daje 'zekroje o Lóżnej średnicy. Średnice uszelegowane w klasy według wielko :i dają chalaktelystyczny histogram (LYC. 14), z któlego wynika, że li : ebność plzeklójów wzrasta w miarę zbliżania się do Lzeczywistej ślednicy IIi. Podobnie postępujemy z przekrojami komólek. Mierzymy na nich średnice lżej liczby przekrojów kulistych stluktur, np. jądel' i układamy je w,asy odpowiednich wielkości. Wyniki plzedstawione glaficzniedają histogram ' ~obny jak na Lycinie 14. Różnica polega głównie na tym, że po przeklocze-, ~ najliczniej Leprezentowanej klasy wielkości otlzymujemy mniej liczne, ększe plzekloje. Odchylenie od waltości teoretycznych przedstawionych na 'cinie 14 jest skutkiem pewnych różnic w wielkości poszczególnych lądel. ' zeciętną ślednicą j,del nie jest wobec tego średnica największa plzekroiw jak w modelu, lecz ślodek najliczniejszej klasy. 0,2 0,4 0,6 0,8 1 Ryc.14. HistogLam średnic seryjnych sklawków równej grubości z idealnej kuli; n oznacza liczebność przekrojów w klasie S P L Z ę t i m a t e r i a ł: Mikroskop z mikrometlem okularowym,szkiełko podstawowe z podziałką WZOLcową, plepalaty mikloskopowe z wątloby szczura lub innej tkanki przygotowane jak' w ćwiczeniu 12 i 14, 'papier milimetrowy,. liczenie V Imiar przeciętnej średnicy kulistych jąder Do pomialów można wykolzystać zdjęcia z ćwiczenia 18 lub dokonać pomiaiw bezpoślednio na prepalatach w mikloskopię z miklometlem okulalowym wy :alowanym według skali WzoLcowej (patlz ćw.17). PomieLz ślednice 750 losowo wyblanych przekrojów jądel. Wyniki zestaw co najmniej dziesięciu, a najwyżej szesnastu klasach wielkości i plzedstaw, histoglamie, tak jak na rycinie 14. ŚLodek klasy o największej liczeb Iści jest plzeciętną ślednicą jąder. Dokładniejsze wyliczenie tej ślednicy okleślenie błędu standaldowego wymaga baldziej skomplikowanych obliczeń. as ćwiczenia: 120 minut.

6

7

8

9

10

11

12

13

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI ĆWICZENIE 43 BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI Układ optyczny mikroskopu składa się z obiektywu i okularu rozmieszczonych na końcach rury zwanej tubusem. Przedmiot ustawia się w odległości większej

Bardziej szczegółowo

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 77 POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Ława optyczna z podziałką, oświetlacz z zasilaczem i płytka z wyciętym wzorkiem, ekran Komplet soczewek z oprawkami

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-3

Ć W I C Z E N I E N R O-3 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-3 WYZNACZANIE OGNISKOWYCH SOCZEWEK ZA POMOCĄ METODY BESSELA I.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła

Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła Michał Łasica klasa IIId nr 13 22 grudnia 2006 1 1 Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki 1.1

Bardziej szczegółowo

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Prof. Eugeniusz RATAJCZYK Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Rodzaje odchyłek - symbole Odchyłki kształtu okrągłości prostoliniowości walcowości płaskości przekroju wzdłuŝnego Odchyłki

Bardziej szczegółowo

TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA

TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA Tolerancje wymiarowe SAPA zapewniają powtarzalność wymiarów w normalnych warunkach produkcyjnych. Obowiązują one dla wymiarów, dla których nie poczyniono innych ustaleń w trakcie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 361 Badanie układu dwóch soczewek

Ćwiczenie 361 Badanie układu dwóch soczewek Nazwisko... Data... Wdział... Imię... Dzień tg.... Godzina... Ćwiczenie 36 Badanie układu dwóch soczewek Wznaczenie ogniskowch soczewek metodą Bessela Odległość przedmiotu od ekranu (60 cm 0 cm) l Soczewka

Bardziej szczegółowo

+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M.

+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M. Zwierciadło płaskie, prawo odbicia. +OPTYKA.stacjapogody.waw.pl K.M. Promień padający, odbity i normalna leżą w jednej płaszczyźnie, prostopadłej do płaszczyzny zwierciadła Obszar widzialności punktu w

Bardziej szczegółowo

BIOLOGIA KOMÓRKI KOMÓRKI EUKARIOTYCZNE W MIKROSKOPIE ŚWIETLNYM JASNEGO POLA I KONTRASTOWO- FAZOWYM; BARWIENIA CYTOCHEMICZNE KOMÓREK

BIOLOGIA KOMÓRKI KOMÓRKI EUKARIOTYCZNE W MIKROSKOPIE ŚWIETLNYM JASNEGO POLA I KONTRASTOWO- FAZOWYM; BARWIENIA CYTOCHEMICZNE KOMÓREK BIOLOGIA KOMÓRKI KOMÓRKI EUKARIOTYCZNE W MIKROSKOPIE ŚWIETLNYM JASNEGO POLA I KONTRASTOWO- FAZOWYM; BARWIENIA CYTOCHEMICZNE KOMÓREK KOMÓRKI EUKARIOTYCZNE W MIKROSKOPIE ŚWIETLNYM JASNEGO POLA I KONTRASTOWO-FAZOWYM;

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne. Ćwiczenie 4 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ Wprowadzenie teoretyczne. Soczewka jest obiektem izycznym wykonanym z materiału przezroczystego o zadanym kształcie i symetrii obrotowej. Interesować

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE. Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej.

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE. Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej. LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej.. Wprowadzenie Soczewką nazywamy ciało przezroczyste ograniczone

Bardziej szczegółowo

KOOF Szczecin: www.of.szc.pl

KOOF Szczecin: www.of.szc.pl 3OF_III_D KOOF Szczecin: www.of.szc.pl XXXII OLIMPIADA FIZYCZNA (198/1983). Stopień III, zadanie doświadczalne D Źródło: Nazwa zadania: Działy: Słowa kluczowe: Komitet Główny Olimpiady Fizycznej; Waldemar

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym

Bardziej szczegółowo

Ć w i c z e n i e K 3

Ć w i c z e n i e K 3 Akademia Górniczo Hutnicza Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki Katedra Wytrzymałości, Zmęczenia Materiałów i Konstrukcji Nazwisko i Imię: Nazwisko i Imię: Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Grupa

Bardziej szczegółowo

(MIKROSKOP ELEKTRONOWY, ORGANELLE KOMÓRKOWE).

(MIKROSKOP ELEKTRONOWY, ORGANELLE KOMÓRKOWE). ĆWICZENIE 2. Temat: ULTRASTRUKTURA KOMÓRKI (1). (MIKROSKOP ELEKTRONOWY, ORGANELLE KOMÓRKOWE). 1. Podstawy technik mikroskopowo-elektronowych (Schemat N/2/1) 2. Budowa i działanie mikroskopu elektronowego

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej

Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW LABORATORIUM Z FIZYKI Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej Wstęp Jednym z najprostszych urządzeń optycznych

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 53. Soczewki

Ćwiczenie 53. Soczewki Ćwiczenie 53. Soczewki Małgorzata Nowina-Konopka, Andrzej Zięba Cel ćwiczenia Pomiar ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiająca i rozpraszająca), obliczenie ogniskowej soczewki rozpraszającej.

Bardziej szczegółowo

W module Część-ISO wykonać kubek jak poniżej

W module Część-ISO wykonać kubek jak poniżej W module Część-ISO wykonać kubek jak poniżej rozpoczniemy od wyciągnięcia walca o średnicy 75mm i wysokości 90mm z płaszczyzny xy wykonujemy szkic do wyciągnięcia zamykamy szkic, oraz wprowadzamy wartość

Bardziej szczegółowo

OPTYKA GEOMETRYCZNA Własności układu soczewek

OPTYKA GEOMETRYCZNA Własności układu soczewek OPTYKA GEOMETRYCZNA Własności układu soczewek opracował: Dariusz Wardecki Wstęp Soczewką optyczną nazywamy bryłę z przezroczystego materiału, ograniczoną (przynajmniej z jednej strony) zakrzywioną powierzchnią

Bardziej szczegółowo

Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Przyrządy z noniuszami: Noniusz jest pomocniczą podziałką, służącą do powiększenia dokładności

Bardziej szczegółowo

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela.

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 20 luty 2012 Stolik optyczny

Bardziej szczegółowo

Planimetria 1 12 godz.

Planimetria 1 12 godz. Planimetria 1 1 godz. Funkcje trygonometryczne kąta ostrego 1 definicje funkcji trygonometrycznych kąta ostrego wartości funkcji trygonometrycznych kątów 30º, 45º, 60º Trygonometria zastosowania Rozwiązywanie

Bardziej szczegółowo

Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów optycznych.

Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów optycznych. msg O 7 - - Temat: Badanie soczewek, wyznaczanie odległości ogniskowej. Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów

Bardziej szczegółowo

Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów

Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów 16 KATEDRA FIZYKI STOSOWANEJ PRACOWNIA FIZYKI Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów Wprowadzenie Mikroskop jest przyrządem optycznym dającym znaczne powiększenia małych przedmiotów

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R M-2

Ć W I C Z E N I E N R M-2 INSYU FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I ECHNOLOGII MAERIAŁÓW POLIECHNIKA CZĘSOCHOWSKA PRACOWNIA MECHANIKI Ć W I C Z E N I E N R M- ZALEŻNOŚĆ OKRESU DRGAŃ WAHADŁA OD AMPLIUDY Ćwiczenie M-: Zależność

Bardziej szczegółowo

Sprzęt pomiarowy. Instrukcja obsługi

Sprzęt pomiarowy. Instrukcja obsługi Sprzęt pomiarowy Instrukcja obsługi Akcesoria do pomiarów Mikrometr stolikowy (1) do kalibracji Siatki o różnych odstępach (2) w mm i calach Siatki z oczkami (3) Siatki z osiami współrzędnych Długości

Bardziej szczegółowo

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr : Soczewki Cel ćwiczenia: Wyznaczenie ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiającej i rozpraszającej) oraz ogniskowej soczewki rozpraszającej

Bardziej szczegółowo

Materiały pomocnicze 14 do zajęć wyrównawczych z Fizyki dla Inżynierii i Gospodarki Wodnej

Materiały pomocnicze 14 do zajęć wyrównawczych z Fizyki dla Inżynierii i Gospodarki Wodnej Materiały pomocnicze 4 do zajęć wyrównawczych z Fizyki dla Inżynierii i Gospodarki Wodnej. Zwierciadło płaskie. Zwierciadło płaskie jest najprostszym przyrządem optycznym. Jest to wypolerowana płaska powierzchnia

Bardziej szczegółowo

Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela

Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela Ćwiczenie O4 Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela O4.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie ogniskowych soczewek skupiających oraz rozpraszających z zastosowaniem o metody Bessela. O4.2.

Bardziej szczegółowo

PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW

PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW ZADANIE PIONÓW: ustawienie instrumentu i sygnału centrycznie nad punktem. ZADANIE PIONOWNIKOW: badanie pionowości,

Bardziej szczegółowo

P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9.

P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9. Literatura: P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9. A. Zięba, 2001, Natura rachunku niepewności a

Bardziej szczegółowo

Materiały edukacyjne dla doradców Na podstawie projektu gotowego z kolekcji Muratora M03a Moje Miejsce. i audytorów energetycznych

Materiały edukacyjne dla doradców Na podstawie projektu gotowego z kolekcji Muratora M03a Moje Miejsce. i audytorów energetycznych Optymalizacja energetyczna budynków Świadectwo energetycznej Fizyka budowli dla z BuildDesk. domu jednorodzinnego. Instrukcja krok po kroku Materiały edukacyjne dla doradców Na podstawie projektu gotowego

Bardziej szczegółowo

Katedra Zarządzania i Inżynierii Produkcji 2013r. Materiały pomocnicze do zajęć laboratoryjnych

Katedra Zarządzania i Inżynierii Produkcji 2013r. Materiały pomocnicze do zajęć laboratoryjnych Materiały pomocnicze do zajęć laboratoryjnych 1 Używane w trakcie ćwiczeń moduły programu Autodesk Inventor 2008 Tworzenie złożenia Tworzenie dokumentacji płaskiej Tworzenie części Obserwacja modelu/manipulacja

Bardziej szczegółowo

Sieci obliczeniowe poprawny dobór i modelowanie

Sieci obliczeniowe poprawny dobór i modelowanie Sieci obliczeniowe poprawny dobór i modelowanie 1. Wstęp. Jednym z pierwszych, a zarazem najważniejszym krokiem podczas tworzenia symulacji CFD jest poprawne określenie rozdzielczości, wymiarów oraz ilości

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

D-01.01.01 Odtwarzanie trasy i punktów wysokościowych D-01.01.01. ODTWORZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH

D-01.01.01 Odtwarzanie trasy i punktów wysokościowych D-01.01.01. ODTWORZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH D-01.01.01 Odtwarzanie trasy i punktów wysokościowych D-01.01.01. ODTWORZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH 1. WSTĘP 1.1. Przedmiot specyfikacji technicznej (ST) Przedmiotem niniejszej ST są wymagania

Bardziej szczegółowo

WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA

WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA 1 WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA WYDZIAŁ NOWYCH TECHNOLOGII I CHEMII FIZYKA Ćwiczenie laboratoryjne nr 43 WYZNACZANIE ABERRACJI SFERYCZNEJ SOCZEWEK I ICH UKŁADÓW Autorzy: doc. dr inż. Wiesław Borys dr inż.

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 5 Temat: Interferometr Michelsona 7.. Cel i zakres ćwiczenia 7 INTERFEROMETR MICHELSONA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i

Bardziej szczegółowo

1. WSTĘP 1.1. Przedmiot STWiORB Przedmiotem niniejszej STWiORB są wymagania wykonania, odbioru oraz montażu materacy gabionowych w ramach zadania:

1. WSTĘP 1.1. Przedmiot STWiORB Przedmiotem niniejszej STWiORB są wymagania wykonania, odbioru oraz montażu materacy gabionowych w ramach zadania: M.20.00.00 INNE ROBOTY MOSTOWE 1. WSTĘP 1.1. Przedmiot STWiORB Przedmiotem niniejszej STWiORB są wymagania wykonania, odbioru oraz montażu materacy gabionowych w ramach zadania: PROJEKTY PRZEBUDOWY NIENORMATYWNYCH

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)167818 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 3 7 2 5 (22) Data zgłoszenia: 0 6.0 3.1 9 9 2 (51) Intcl6: B61K9/12

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego

Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego Dent/digitest 3 Opracował: mgr inż. Jan Kalita 1 Spis treści. 1. Opis techniczny 3 1.1. Przeznaczenie fantomu. 3 1.2. Budowa fantomu. 4 2. Procedura

Bardziej szczegółowo

WIROWYCH. Ćwiczenie: ĆWICZENIE BADANIE PRĄDÓW ZAKŁ AD ELEKTROENERGETYKI. Opracował: mgr inż. Edward SKIEPKO. Warszawa 2000

WIROWYCH. Ćwiczenie: ĆWICZENIE BADANIE PRĄDÓW ZAKŁ AD ELEKTROENERGETYKI. Opracował: mgr inż. Edward SKIEPKO. Warszawa 2000 SZKOŁA GŁÓWNA SŁUŻBY POŻARNICZEJ KATEDRA TECHNIKI POŻARNICZEJ ZAKŁ AD ELEKTROENERGETYKI Ćwiczenie: ĆWICZENIE BADANIE PRĄDÓW WIROWYCH Opracował: mgr inż. Edward SKIEPKO Warszawa 000 Wersja 1.0 www.labenergetyki.prv.pl

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 19.04.2002, PCT/GB02/01828 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 19.04.2002, PCT/GB02/01828 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 197715 (21) Numer zgłoszenia: 368077 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 19.04.2002 (86) Data i numer zgłoszenia

Bardziej szczegółowo

Obrazowanie za pomocą soczewki

Obrazowanie za pomocą soczewki Marcin Bieda Obrazowanie za pomocą soczewki (Instrukcja obsługi) Aplikacja została zrealizowana w ramach projektu e-fizyka, współfinansowanym przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Bardziej szczegółowo

Plan wynikowy klasa 3

Plan wynikowy klasa 3 Plan wynikowy klasa 3 Przedmiot: matematyka Klasa 3 liceum (technikum) Rok szkolny:........................ Nauczyciel:........................ zakres podstawowy: 28 tyg. 3 h = 84 h (78 h + 6 h do dyspozycji

Bardziej szczegółowo

7 3 D. 15. ZADANIE 9. Przekątne są prostopadłe i dzielą się na połowę w punkcie przecięcia w: A. trójkącie B. trapezie C. rombie D.

7 3 D. 15. ZADANIE 9. Przekątne są prostopadłe i dzielą się na połowę w punkcie przecięcia w: A. trójkącie B. trapezie C. rombie D. ZADANIE. Wynikiem działania + 5 : 5 4 jest liczba: A. B. 3 C. D. 3 ZADANIE. Wynikiem działania 3 : 0, + 0, 4 jest liczba: 3 3 A., 4 B. 3 C. 3 ZADANIE 3. Wynikiem działania 3 : 0, jest liczba: 3 5 7 3 D.

Bardziej szczegółowo

KONKURS PRZEDMIOTOWY Z CHEMII DLA UCZNIÓW GIMNAZJÓW 2008/2009

KONKURS PRZEDMIOTOWY Z CHEMII DLA UCZNIÓW GIMNAZJÓW 2008/2009 ...... kod pracy ucznia pieczątka nagłówkowa szkoły Drogi Uczniu, KONKURS PRZEDMIOTOWY Z CHEMII DLA UCZNIÓW GIMNAZJÓW 2008/2009 Witaj na I etapie konkursu chemicznego. Przeczytaj uważnie instrukcję i postaraj

Bardziej szczegółowo

WYTYCZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH

WYTYCZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH WYTYCZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH S-01.01.01. CPV45100000-8 22 SPIS TREŚCI 1 Część ogólna Wytyczenie trasy i punktów wysokościowych... 24 1.1 Nazwa nadana zamówieniu przez Zamawiającego.... 24

Bardziej szczegółowo

szkło klejone laminowane szkło klejone z użyciem folii na całej powierzchni.

szkło klejone laminowane szkło klejone z użyciem folii na całej powierzchni. SZKŁO LAMINOWANE dokument opracowany przez: w oparciu o Polskie Normy: PN-B-13083 Szkło budowlane bezpieczne PN-EN ISO 12543-5, 6 Szkło warstwowe i bezpieczne szkło warstwowe PN-EN 572-2 Szkło float definicje

Bardziej szczegółowo

TELEDETEKCJA Z ELEMENTAMI FOTOGRAMETRII WYKŁAD 10

TELEDETEKCJA Z ELEMENTAMI FOTOGRAMETRII WYKŁAD 10 TELEDETEKCJA Z ELEMENTAMI FOTOGRAMETRII WYKŁAD 10 Fotogrametria to technika pomiarowa oparta na obrazach fotograficznych. Wykorzystywana jest ona do opracowywani map oraz do różnego rodzaju zadań pomiarowych.

Bardziej szczegółowo

Zwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste:

Zwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste: Fale świetlne Światło jest falą elektromagnetyczną, czyli rozchodzącymi się w przestrzeni zmiennymi i wzajemnie przenikającymi się polami: elektrycznym i magnetycznym. Szybkość światła w próżni jest największa

Bardziej szczegółowo

Wprowadzenie do rysowania w 3D. Praca w środowisku 3D

Wprowadzenie do rysowania w 3D. Praca w środowisku 3D Wprowadzenie do rysowania w 3D 13 Praca w środowisku 3D Pierwszym krokiem niezbędnym do rozpoczęcia pracy w środowisku 3D programu AutoCad 2010 jest wybór odpowiedniego obszaru roboczego. Można tego dokonać

Bardziej szczegółowo

Metrologia Techniczna

Metrologia Techniczna Zakła Metrologii i Baań Jakości Wrocław, nia Rok i kierunek stuiów Grupa (zień tygonia i gozina rozpoczęcia zajęć) Metrologia Techniczna Ćwiczenie... Imię i nazwisko Imię i nazwisko Imię i nazwisko Błęy

Bardziej szczegółowo

Różne sposoby widzenia świata materiał dla ucznia, wersja z instrukcją

Różne sposoby widzenia świata materiał dla ucznia, wersja z instrukcją CZĘŚĆ A CZŁOWIEK Pytania badawcze: Różne sposoby widzenia świata materiał dla ucznia, wersja z instrukcją Czy obraz świata jaki rejestrujemy naszym okiem jest zgodny z rzeczywistością? Jaki obraz otoczenia

Bardziej szczegółowo

Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona

Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Interferencyjny pomiar krzywizny soczewki przy pomocy pierścieni Newtona Jakub Orłowski 6 listopada 2012 Streszczenie W doświadczeniu dokonano pomiaru krzywizny soczewki płasko-wypukłej z wykorzystaniem

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi programu PowRek

Instrukcja obsługi programu PowRek Instrukcja obsługi programu PowRek środa, 21 grudnia 2011 Spis treści Przeznaczenie programu... 4 Prezentacja programu... 5 Okno główne programu... 5 Opis poszczególnych elementów ekranu... 5 Nowy projekt...

Bardziej szczegółowo

Dokładność metrologiczna bezdotykowego skanera 3D wg Normy VDI/VDE 2634 przykłady pomiarów, certyfikowanym, polskim skanerem 3D firmy SMARTTECH

Dokładność metrologiczna bezdotykowego skanera 3D wg Normy VDI/VDE 2634 przykłady pomiarów, certyfikowanym, polskim skanerem 3D firmy SMARTTECH AUTORZY: Krzysztof Gębarski, Dariusz Jasiński SMARTTECH Łomianki ul. Racławicka 30 www.skaner3d.pl biuro@smarttech3d.com Dokładność metrologiczna bezdotykowego skanera 3D wg Normy VDI/VDE 2634 przykłady

Bardziej szczegółowo

Fot: 536 537 Widok bocznych powierzchni okazu. Fot: 538 540 Przekrój poprzeczny oraz zbliżenia powierzchni bocznych.

Fot: 536 537 Widok bocznych powierzchni okazu. Fot: 538 540 Przekrój poprzeczny oraz zbliżenia powierzchni bocznych. Okaz 93 MCh/P/11593 - Kalamit Brzeszcze Owalny, nieznacznie spłaszczony fragment łodygi. Powierzchnie poprzeczne cięte ukośnie. Wyraźne prążkowanie zachowane tylko na połowie obwodu. Niezbyt wyraźnie widoczny

Bardziej szczegółowo

PODSTAWOWA TERMINOLOGIA METROLOGICZNA W PRAKTYCE LABORATORYJNEJ

PODSTAWOWA TERMINOLOGIA METROLOGICZNA W PRAKTYCE LABORATORYJNEJ Klub Polskich Laboratoriów Badawczych POLLAB PODSTAWOWA TERMINOLOGIA METROLOGICZNA W PRAKTYCE LABORATORYJNEJ Andrzej Hantz Centrum Metrologii im. Zdzisława Rauszera RADWAG Wagi Elektroniczne Metrologia

Bardziej szczegółowo

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne Matematyka. Poznać, zrozumieć Kształcenie w zakresie podstawowym. Klasa 3 Poniżej podajemy umiejętności, jakie powinien zdobyć uczeń z każdego

Bardziej szczegółowo

ZAAWANSOWANYCH MATERIAŁÓW I TECHNOLOGII

ZAAWANSOWANYCH MATERIAŁÓW I TECHNOLOGII WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA Wydział Nowych Technologii i Chemii KATEDRA ZAAWANSOWANYCH MATERIAŁÓW I TECHNOLOGII Temat: Grafika inżynierska Podstawy Inżynierii Wytwarzania T 1: elementy przestrzeni rzuty

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R E-15

Ć W I C Z E N I E N R E-15 NSTYTUT FZYK WYDZAŁ NŻYNER PRODUKCJ TECNOLOG MATERAŁÓW POLTECNKA CZĘSTOCOWSKA PRACOWNA ELEKTRYCZNOŚC MAGNETYZMU Ć W C Z E N E N R E-15 WYZNACZANE SKŁADOWEJ POZOMEJ NATĘŻENA POLA MAGNETYCZNEGO ZEM METODĄ

Bardziej szczegółowo

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK CIENKICH

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK CIENKICH Ćwiczenie 77 E. Idczak POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK CIENKICH Cel ćwiczenia: zapoznanie się z procesem wytwarzania obrazów przez soczewki cienkie oraz z metodami wyznaczania odległości ogniskowych

Bardziej szczegółowo

PL 189448 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 189448 (13) B1. (51) IntCl7 A63F 9/08. (54) Łamigłówka. (73) Uprawniony z patentu:

PL 189448 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 189448 (13) B1. (51) IntCl7 A63F 9/08. (54) Łamigłówka. (73) Uprawniony z patentu: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 189448 (21) Numer zgłoszenia: 338426 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 14.07.1998 (86) Data i numer zgłoszenia

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca

Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca Jak poznać Wszechświat, jeśli nie mamy bezpośredniego dostępu do każdej jego części? Ta trudność jest codziennością dla astronomii. Obiekty astronomiczne

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-4

Ć W I C Z E N I E N R O-4 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-4 BADANIE WAD SOCZEWEK I Zagadnienia do opracowania Równanie soewki,

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH Politechnika Śląska w Gliwicach INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW PRÓBA UDARNOŚCI METALI Opracował: Dr inż. Grzegorz Nowak Gliwice

Bardziej szczegółowo

Współczesne metody badań instrumentalnych

Współczesne metody badań instrumentalnych Współczesne metody badań instrumentalnych Wykład III Techniki fotograficzne Fotografia w świetle widzialnym Techniki fotograficzne Techniki fotograficzne techniki rejestracji obrazów powstałych wskutek

Bardziej szczegółowo

Soczewki konstrukcja obrazu. Krótkowzroczność i dalekowzroczność.

Soczewki konstrukcja obrazu. Krótkowzroczność i dalekowzroczność. Soczewki konstrukcja obrazu Krótkowzroczność i dalekowzroczność. SOCZEWKA jest to przezroczyste ciało ograniczone powierzchniami kulistymi Soczewki mogą być Wypukłe Wklęsłe i są najczęściej skupiające

Bardziej szczegółowo

PODZIAŁ PODSTAWOWY OBIEKTYWÓW FOTOGRAFICZNYCH

PODZIAŁ PODSTAWOWY OBIEKTYWÓW FOTOGRAFICZNYCH OPTYKA PODZIAŁ PODSTAWOWY OBIEKTYWÓW FOTOGRAFICZNYCH OBIEKTYWY STAŁO OGNISKOWE 1. OBIEKTYWY ZMIENNO OGNISKOWE (ZOOM): a) O ZMIENNEJ PRZYSŁONIE b) O STAŁEJ PRZYSŁONIE PODSTAWOWY OPTYKI FOTOGRAFICZNEJ PRZYSŁONA

Bardziej szczegółowo

DALMIERZE LASEROWE. stanleylasers.com

DALMIERZE LASEROWE. stanleylasers.com DALMIERZE LASEROWE stanleylasers.com PROFESJONALNA PRACA TYLKO NARZĘDZIAMI STANLEY Precyzyjny i dokładny pomiar jest kluczem każdego dobrze wykonanego zadania. Dlatego gama nowych dalmierzy laserowych

Bardziej szczegółowo

Plik pobrany ze strony www.zadania.pl

Plik pobrany ze strony www.zadania.pl Plik pobrany ze strony www.zadania.pl Wpisuje zdający przed rozpoczęciem pracy PESEL ZDAJĄCEGO Miejsce na nalepkę z kodem szkoły PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY Z MATEMATYKI Instrukcja dla zdającego Arkusz I

Bardziej szczegółowo

CZĘŚĆ A 18 pkt. 3. Które z poniższych brył A, B, C, D przedstawiają bryłę zaznaczoną kolorem szarym?

CZĘŚĆ A 18 pkt. 3. Które z poniższych brył A, B, C, D przedstawiają bryłę zaznaczoną kolorem szarym? WYDZIAŁ ARCHITEKTURY POLITECHNIKI GDAŃSKIEJ T E S T K W A L I F I K A C Y J N Y Z P R E D Y S P O Z Y C J I D O Z A W O D U A R C H I T E K T A GDAŃSK, 6 CZERWCA 2009, CZAS TRWANIA TESTU (CZĘŚĆ A + B +

Bardziej szczegółowo

Deuterowa korekcja tła w praktyce

Deuterowa korekcja tła w praktyce Str. Tytułowa Deuterowa korekcja tła w praktyce mgr Jacek Sowiński jaceksow@sge.com.pl Plan Korekcja deuterowa 1. Czemu służy? 2. Jak to działa? 3. Kiedy włączyć? 4. Jak/czy i co regulować? 5. Jaki jest

Bardziej szczegółowo

TEST. str. 1. Punktacja testu: odpowiedź poprawna 2 punkty, odpowiedź błędna 0 punktów. Na rozwiązanie testu i krzyżówki masz 70 minut. POWODZENIA!

TEST. str. 1. Punktacja testu: odpowiedź poprawna 2 punkty, odpowiedź błędna 0 punktów. Na rozwiązanie testu i krzyżówki masz 70 minut. POWODZENIA! Przed Tobą test zadań zamkniętych i krzyżówka. W każdym zadaniu zamkniętym tylko jedna odpowiedź jest poprawna. Swoje odpowiedzi do testu zaznacz w karcie odpowiedzi. Krzyżówkę rozwiąż na kartce, na której

Bardziej szczegółowo

Optyka w fotografii Ciemnia optyczna camera obscura wykorzystuje zjawisko prostoliniowego rozchodzenia się światła skrzynka (pudełko) z małym okrągłym otworkiem na jednej ściance i przeciwległą ścianką

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWA SPECYFIKACJA TECHNICZNA SST -01.00.00 PRACE PRZYGOTOWAWCZE I ROZBIORKOWE

SZCZEGÓŁOWA SPECYFIKACJA TECHNICZNA SST -01.00.00 PRACE PRZYGOTOWAWCZE I ROZBIORKOWE SZCZEGÓŁOWA SPECYFIKACJA TECHNICZNA SST -01.00.00 PRACE PRZYGOTOWAWCZE I ROZBIORKOWE Nazwa Inwestycji: Budowa sieci wodociągowej wraz z przyłączami domowymi terenowego zbiornika retencyjnego na wodę oraz

Bardziej szczegółowo

B&M OPTIK http://www.bmo.pl WSZELKIE PRAWA ZASTRZEśONE

B&M OPTIK http://www.bmo.pl WSZELKIE PRAWA ZASTRZEśONE Strona z 8 05-0-5 B&M OPTIK http://www.bmo.pl WSZELKIE PRAWA ZASTRZEśONE. Cięcie szkła Pracownik pobiera w magazynie surowców materiał w postaci bloków szklanych lub tafli, z archiwum pobiera dokumentację

Bardziej szczegółowo

KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU

KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU Uniwersytet Rzeszowski WYDZIAŁ KIERUNEK Matematyczno-Przyrodniczy Fizyka techniczna SPECJALNOŚĆ RODZAJ STUDIÓW stacjonarne, studia pierwszego stopnia KARTA INFORMACYJNA PRZEDMIOTU NAZWA PRZEDMIOTU WG PLANU

Bardziej szczegółowo

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki.

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. 1. Równanie soczewki i zwierciadła kulistego. Z podobieństwa trójkątów ABF i LFD (patrz rysunek powyżej) wynika,

Bardziej szczegółowo

Badanie ABC-one 2010 Miejscowe spalanie tłuszczu

Badanie ABC-one 2010 Miejscowe spalanie tłuszczu Badanie ABC-one 2010 Miejscowe spalanie tłuszczu 1. Wprowadzenie Celem babania było sprawdzenie działania sprzętu Slim Belly oraz Slim Back&Legs na miejscowe spalanie tłuszczu oraz ocena skuteczności obydwu

Bardziej szczegółowo

Podstawowe [P] zna przedmiotowe zasady oceniania omawia regulamin pracowni. omawia wyposażenie apteczki i sprzęt ppoż.

Podstawowe [P] zna przedmiotowe zasady oceniania omawia regulamin pracowni. omawia wyposażenie apteczki i sprzęt ppoż. WYMAGANIA Z ZAJĘĆ TECHNICZNYCH W GIMNAZJUM NR 4 GLIWICE Osiągnięcia szczegółowe uczniów Dział podręcznika Temat lekcji Treści nauczania Wiadomości Umiejętności Podstawowe [P] Ponadpodstawowe [PP] Podstawowe

Bardziej szczegółowo

8. Analiza danych przestrzennych

8. Analiza danych przestrzennych 8. naliza danych przestrzennych Treścią niniejszego rozdziału będą analizy danych przestrzennych. naliza, ogólnie mówiąc, jest procesem poszukiwania (wydobywania) informacji ukrytej w zbiorze danych. Najprostszym

Bardziej szczegółowo

Wewnętrzna budowa materii

Wewnętrzna budowa materii Atom i układ okresowy Wewnętrzna budowa materii Atom jest zbudowany z jądra atomowego oraz krążących wokół niego elektronów. Na jądro atomowe składają się protony oraz neutrony, zwane wspólnie nukleonami.

Bardziej szczegółowo

Często spotykany jest również asymetryczny rozkład gamma (Г), opisany za pomocą parametru skali θ i parametru kształtu k:

Często spotykany jest również asymetryczny rozkład gamma (Г), opisany za pomocą parametru skali θ i parametru kształtu k: Statystyczne opracowanie danych pomiarowych W praktyce pomiarowej często spotykamy się z pomiarami wielokrotnymi, gdy podczas pomiaru błędy pomiarowe (szumy miernika, czynniki zewnętrzne) są na tyle duże,

Bardziej szczegółowo

Dodatek 1. C f. A x. h 1 ( 2) y h x. powrót. xyf

Dodatek 1. C f. A x. h 1 ( 2) y h x. powrót. xyf B Dodatek C f h A x D y E G h Z podobieństwa trójkątów ABD i DEG wynika z h x a z trójkątów DC i EG ' ' h h y ' ' to P ( ) h h h y f to ( 2) y h x y x y f ( ) i ( 2) otrzymamy to yf xy xf f f y f h f yf

Bardziej szczegółowo

KADD Metoda najmniejszych kwadratów funkcje nieliniowe

KADD Metoda najmniejszych kwadratów funkcje nieliniowe Metoda najmn. kwadr. - funkcje nieliniowe Metoda najmniejszych kwadratów Funkcje nieliniowe Procedura z redukcją kroku iteracji Przykłady zastosowań Dopasowanie funkcji wykładniczej Dopasowanie funkcji

Bardziej szczegółowo

Procedura techniczna wyznaczania poziomu mocy akustycznej źródeł ultradźwiękowych

Procedura techniczna wyznaczania poziomu mocy akustycznej źródeł ultradźwiękowych Procedura techniczna wyznaczania poziomu mocy akustycznej źródeł ultradźwiękowych w oparciu o pomiary poziomu ciśnienia akustycznego w punktach pomiarowych lub liniach omiatania na półkulistej powierzchni

Bardziej szczegółowo

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D. OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C. 60 o

Bardziej szczegółowo

Kolano 90 - giętarka do rur stała (warsztatowa)

Kolano 90 - giętarka do rur stała (warsztatowa) Kolano 90 - giętarka do rur stała (warsztatowa) A Wymiar C (C = A - B) Kątownik B Giętarka warsztatowa W zależności od wymiaru A, który należy dotrzymać (odległość od końcówki rury do ściany), wyliczyć

Bardziej szczegółowo

SCENARIUSZ LEKCJI Temat lekcji: Soczewki i obrazy otrzymywane w soczewkach

SCENARIUSZ LEKCJI Temat lekcji: Soczewki i obrazy otrzymywane w soczewkach Scenariusz lekcji : Soczewki i obrazy otrzymywane w soczewkach Autorski konspekt lekcyjny Słowa kluczowe: soczewki, obrazy Joachim Hurek, Publiczne Liceum Ogólnokształcące z Oddziałami Dwujęzycznymi w

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA LOGISTYKI I TRANSPORTU PRZEMYSŁOWEGO NR 1 POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO Katowice, październik 5r. CEL ĆWICZENIA Poznanie zjawiska przesunięcia fazowego. ZESTAW

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych

Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych Komputerowa Analiza Danych Doświadczalnych Prowadząca: dr inż. Hanna Zbroszczyk e-mail: gos@if.pw.edu.pl tel: +48 22 234 58 51 www: http://hirg.if.pw.edu.pl/~gos/students/kadd Politechnika Warszawska Wydział

Bardziej szczegółowo

Technologia elementów optycznych

Technologia elementów optycznych Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.

Bardziej szczegółowo

SKRĘCANIE WAŁÓW OKRĄGŁYCH

SKRĘCANIE WAŁÓW OKRĄGŁYCH KRĘCANIE AŁÓ OKRĄGŁYCH kręcanie występuje wówczas gdy para sił tworząca moment leży w płaszczyźnie prostopadłej do osi elementu konstrukcyjnego zwanego wałem Rysunek pokazuje wał obciążony dwiema parami

Bardziej szczegółowo

PL 215409 B3. BORCZYK MONIKA, Bielsko-Biała, PL 22.06.2009 BUP 13/09. MONIKA BORCZYK, Bielsko-Biała, PL 31.12.2013 WUP 12/13 RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL 215409 B3. BORCZYK MONIKA, Bielsko-Biała, PL 22.06.2009 BUP 13/09. MONIKA BORCZYK, Bielsko-Biała, PL 31.12.2013 WUP 12/13 RZECZPOSPOLITA POLSKA PL 215409 B3 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215409 (21) Numer zgłoszenia: 384078 (22) Data zgłoszenia: 17.12.2007 (61) Patent dodatkowy

Bardziej szczegółowo

WYKONANIE MAPY EWIDENCJI GRUNTÓW

WYKONANIE MAPY EWIDENCJI GRUNTÓW TEMAT 6 WYKONANIE MAPY EWIDENCJI GRUNTÓW Na podstawie danych uzyskanych z obliczenia i wyrównania przybliŝonego ciągu zamkniętego (dane współrzędne punktów 1, 2, 3, 4, 5) oraz wyników pomiaru punktów 11,

Bardziej szczegółowo