1.2. INTERPRETACJA OBRAZÓW MIKR.OSKOPOWYCH

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "1.2. INTERPRETACJA OBRAZÓW MIKR.OSKOPOWYCH"

Transkrypt

1 1.2. INTERPRETACJA OBRAZÓW MIKR.OSKOPOWYCH Komórki są trójwymiarowe. W mikroskopie widzimy je w postaci obrazu płaskiego. Do obserwacji w mikroskopie zwykle przygotowuje się z komórek cienkie skrawki, które są jedynie wycinkiem komórki. Naw~t wtedy, gdy oglądamy całe komórki w mikroskopie świetlnym, w miarę zwiększania powiększenia zmniejsza się głębia ostrości i oglądamy wyrainie równiet jedynie określoną płaszczyznę w obrębie komórki, tak zwany przekrój optyczny. Pod mikroskopem widzimy wobec tego obraz płaski, dwuwymiarowy z reguły,pewnego wycinka komórki. Gdy grubość wycinka zbl;2a się do zera~ oglądamy przek~ój ' komórki. Z tych przekrojów wnioskujemy o trójwymiarowym wyglądzie komórki. Przy pomiarach przekrojów struktur dokładność wzrasta, gdy grubość skraw~ ka maleje. Zmniejszenie grubości skrawków ograniczone jest przyczynami tech~ nicznymi. Z jednej strony ograniczeni jesteśmy m02liwością mikrotomu, a z

2 drugiej - maleją c ym kontrastem między tłem a strukturą w zbyt cienkich skrawkach. W praktyce wybiera się opt y malną grubo ść skrawków, różną w badaniach różnych obiektów różnymi metodami. Wa ż ną strukturą komórki j est błona, stanowiąca i stotny składnik różnych organelli komór kowych. W mikroskopie świetlnym jest ona widoczna jedynie jako granica między różnym i optycznie prze strzeniami. W mikroskopie elektronowym, przy standardowej obróbce preparatu (utrwalanie' aldehydem glutarowym i czterotlenkiem osmu, kontrastowanie solami ołowiu i,uranylu),,bl-ona,' priekrojona prostopadle do powierzchni daje obraz w postaci dwóch równoległych warstw elektronowo gęstych ziarni s toś c i przedzielonych warstwą o mniej szej gęstości (ryc. 6). Gru~ość całości wynosi około 7, 5 nm. ~ nie~tóryc~ błonach jedna lub obie warstwy elektronowo gęste mogą być pogrubi~ ne : Na obrazach mniej powiększonych warstwy te ziewaję się 'w j' edną elektrori"ó'w'o" gę- ' stą warstwę.. '.' '.~,... ~~...,..."... ~~ ~...'. '.,..' "..'.' ~.:~~~}....'"~'P.fP:""..'...'.. '. "......,... " '. ".. Wł~(f' ~X ~4:f.:;;P.'Jff!łf~~ł\lji 2 nm 3,5 Ryc.6. Schematyczny obraz poprzecznego przekroju błony oglądanej w mikroskopie elektronowym po utrwaleniu czterotlenkiem osmu Obraz błony przeds~awia się 'r ó żnie w zależno ś ci od kąta nachylen i a powierzchni błony do powierzchni przekroju. Ilu s tracją tego j est r yc ina 7. Na przekroju prostopadłym do powi erzchni błona tworzy ostro ograniczoną linię gęsto uło ż ony c h ziarni s tośc i. Na przekrojach sko ś nych tworz y znac znie s zerszą, mniej ostro zaznaczoną linię bardziej rozproszonych ziarnistości., Wreszcie na przekroju równoległ y m widać rzadko rozproszone ziarnisto ś ci i błona staje się niewidoczna. Ta różnorodnoś ć obrazów błon w mikroskopie elektronowym powoduje pewien błąd w ich ocenie. Nawet gdy błona jest dobrze widoczna, trudno czasami wnioskować o kształcie bryły otoczonej błoną.obraz w postac i pierścienia może dać za~ ówno przekrój przez pęcherzy k, jak i przekrój przez cewkę., Do k ładny obraz konkre tnej struktury uz ys kuje się wtedy, gdy wy kona się s erię \skrawków ~bej;ującę 7~łę-;t;;:kt~;ę:- 'zt;ki C- h- -;k 'r;;'wkó~ o ż na--;-yk~;;a'ć- ' 2 model ~.t t ukt;:;;;~odpowi ;dniopow i ęks'z 'óne obra zy skrawków przenosi się na ' PłYtk1-"Z-'wo-s'k u modelowego tyle razy grubs ze od skrawków, ile wyn os i poo Ss o.,.::- ::;: ',.... :.. : ~.'.' "I,. I,, " ;, " 1 I Ryc.7. Schematyczny obraz błony oglądanej w mikroskopie elektronowym w zależno ś ci od kąta nachylenia powierzchni błony; u góry - przekrój, ' u dołu - iilidqk skrawka i błon y z boku większenie obrazu. W płytkach wycina się zarysy struktur i odpowiednio ze s tawia wycinki. W ten sposób powstaje powiększony model struktury. Przedstawiony wyżej obraz błony oglądanej w mikroskopie elektronowym jest typowy dla każdej błony komórki, ale niewiele mówi o jej funkcjonowaniu. tym dowiadujemy się między innymi z właściwości składników, błony. W skład błon wchodzą polarne lipidy i białka. Wyekstrahowane lipidy błon, gdy rozdzielają dwa roztwory wodne, układają się samorzutnie w podwójną warstewkę cząstecze k zwróconych grupami polarnymi na zewnątrz do roztworów wodnych, a ł ańcuchami hydrofobowymi do środka. Taka dwucząsteczkowa warstewka jest termodynamicznie stabilna i może być zrębem strukturowym błony. Tak samo układają się cząsteczki lipidów w błonach komórk~ (ryc. BA). Część białek przylega do powierzchni błony lipidowej. Są to białka powierzchni~we, związane siłami jonowymi. Inne białka zagłębiają się w błonę, sięgając z jednej strony błony na drugą. Są to białka integralne,wiązane siłami hydrofobowymi. Wiele informacji o budowie błony uzyskano dzięki technice łamania zamrożonych preparatów. Kroplę zawiesiny komórek lub wyizolowanych błon zamraża się gwałtownie na miedzianym stoliku i uderzeniem noża odłamuje jej część ( ryc. 9A). Powierz c hnię łamania części kropli pozostającej na stoliku napyla się rozproszonym atomowo węgl e m i pod,kątem 45 0 platyną. Węgiel tworzy trwałą warstewkę przylegającą szczelnie do powierzchni łamania. Warstewk~

3 A B ~d" " " i. i I Yc.12. Siatki pol1liarowe do pomiarów stereologicznych: A - siatka równoległych linii biegę c ych w odległości d w dwóch prostopadłych do siebie kierunkach, B - układ linii o - długości d rozrzuconych losowo li teratura e i b e l E.R., 1973, Stereological techniques for electron microscopic morphometry, w: Principles and techniques of electron microscopy ( red. M.A. Hayat). Van Nostrand Reinhold Co., New York. e i b e l E.R., 1980, Stereological methods. ; 01. l, Practical methods for bi ological morphometry. Vol. 2, Theoretical foundations. Academic Press. London. I POMIAR OBJĘTOŚCI WZGLĘDNEJ BRYŁ W celu zmierzenia przekrojów brył wykonuje się na przezroczystej płytce i iatkę dwóch grup równoległych linii ustawionych względem siebie prosto Jadle. Linie rozmieszczone sę w identycznych odległościach - równych d ~ ryc. 12). Miejsca przecięć linii siatki twortę system równomiernie rozlieszczonych punktów. Najmniejsza odległość między punktaft!,i d jest równa Jdległości między liniami. Każdy punkt siatki reprezentuje identycznę po,ierzchnię równę d 2. Siatk~ nakłada się na zdjęcia przekroju komórki li ; zy liczbę punktów Pi w obrębie interesujęcej nas struktury i ~raz liczbę Junktów P w obrębie całego przekroju, np. komórki. Objętość względną strukt u~y określa równanie (6) gdzie: Vv jest objętością względną struktury i, Pi - sumaryczną liczbą punktów iznajdujących się w obrębie przekrojów struktury i, P - sumaryczną liczbą punktów znajdujących się w obrębie całego przekroju. Powie.kszenie ~djęcia i O dległoścllinii siatki - ~ ~ optymalnie dobrane, gdy w przekrój pojedynciej struktury trafia nie więcej nit jeden punkt.

4 s POMIAR POWIERZCHNI WZGLĘDNEJ BŁON W pomiarach wykorzystuje się liniową zale2ność długości linii przekroów błon od powierzchni błon. Długość linii przekrojów można określić za omocą kwadratowej siatki pomiarowej przedstawionej na rycinie 12A. ~a ~rze~ roj ach mierzy się sumaryczną długość wszystkich linit" siafki pomiar'dw'ej "w brębi e przekroju badanej struktury (tkanki, komórki, cytoplazmy itp.) oraz iczbę p~zecięć linii siatki pomiarowej z przekrojami błon. Przy obliczaiu wyników korzysta się z następującego wzoru: Ryc.13. Różne położenie pęcherzyków - P w stosunku do skrawka - S. Widok od strony prostopadłej do powierzchni,skrawania s = łl V L (7) dzi e: Sv to powierzchnia względna błon w danym obiekcie (tkance, komórc e, ytoplazmie itp.), I - liczba przecięć linii siatki pomiarowej z przekroami błon, L - sumaryczna długość linii pomiarowych w obrębie przekroju dalego obiektu. W praktyce nie liczy się przecięć na przekrojach, lecz na powiększon yc h,brazach tych przekrojów. Wobec tego długość linii należy po~zielić przez l owiększenie, natomiast wzór 7 przyjmuje postać: 21 l powiększenie (B) J wag a! W pomiarach powierzchn i błon należy zwrócić uwagę na trzy iród ' a błędu: a) M ier ząc powierzchnię błon należy pamiętać o założeniu, że przebieg )łdn jest losowy. Gdy błony w komórce są zorientowane w jednym kierunku, 1ależy kierunek linii siatki pomiarowej ustawiać na przekroju w sposób 10- iow y albo stosować si a tkę pomiarową o losowym układzie linii (ryc.12b). b) Błony przekrojone pod ostrym kątem mogą być niewidoczne, co powoduje ~aniżenie wyników. c) Badania stereologiczne oparte sę na założeniu, że pomiarów dokonuje,ię na przekrojach dwuwymiarowych. W praktyce skrawki mają określoną gru IOŚĆ. Skutkiem tego błony drobnych struktur (siateczka śródplazmatyczna, jrzebienie mitochondrialne itp.) mogę być widoczne, mimo że wchodzą do krawka jedynie na małą głębokość (ryc. 13). W takich przypadkach należy.prowadzić Odpowiednią poprawkę do wyników (Weibel i Paumgartner, 1978). wagi przedstawione w punkcie b i c mogę spowodować równie2 błęd w ocenie Jbjętości brył.

5 ~ojów zewnętlznej błony mitochondlialnej olaz sumalyczną długość linii iatki w oblębie cytoplazmy hepatocytów z mitochondliami włącznie. Obliczela i dalsze oplacowanie wyników plzeplowadt jak w ćwiczeniu 21. n ~as analizy 10 zdjęć: 70 minut. M a t e L i a ł: zdjęć z mikloskopu elektlonowego folmatu 18 x 24 cm o powiększeniu końlwym x jak w ćwiczeniu 20, kwadlatowa siatka pomialowa o liniach od- 19łych o 15 mm, kalkulatol. POMIAR ŚREONICY STRUKTUR KULISTYCH Za pomocą steleologii można określić pneciętną średnicę i inne wy~~i~,rx" :Luktur komólkowych, jeżeli znany jest ich kształt. Stosunkowo prostym :zykładem są stluktury kuliste. 5tLuktuLY innych kształtów wymagają z Fe-, Iły skomplikowanego matematycznego oplacowania wyników. 00 okleślenia średnicy stluktul kulistych posługujemy się idealną kulą Iko modelem. Kula poklojona na dużą liczbę skrawków równej glubości daje 'zekroje o Lóżnej średnicy. Średnice uszelegowane w klasy według wielko :i dają chalaktelystyczny histogram (LYC. 14), z któlego wynika, że li : ebność plzeklójów wzrasta w miarę zbliżania się do Lzeczywistej ślednicy IIi. Podobnie postępujemy z przekrojami komólek. Mierzymy na nich średnice lżej liczby przekrojów kulistych stluktur, np. jądel' i układamy je w,asy odpowiednich wielkości. Wyniki plzedstawione glaficzniedają histogram ' ~obny jak na Lycinie 14. Różnica polega głównie na tym, że po przeklocze-, ~ najliczniej Leprezentowanej klasy wielkości otlzymujemy mniej liczne, ększe plzekloje. Odchylenie od waltości teoretycznych przedstawionych na 'cinie 14 jest skutkiem pewnych różnic w wielkości poszczególnych lądel. ' zeciętną ślednicą j,del nie jest wobec tego średnica największa plzekroiw jak w modelu, lecz ślodek najliczniejszej klasy. 0,2 0,4 0,6 0,8 1 Ryc.14. HistogLam średnic seryjnych sklawków równej grubości z idealnej kuli; n oznacza liczebność przekrojów w klasie S P L Z ę t i m a t e r i a ł: Mikroskop z mikrometlem okularowym,szkiełko podstawowe z podziałką WZOLcową, plepalaty mikloskopowe z wątloby szczura lub innej tkanki przygotowane jak' w ćwiczeniu 12 i 14, 'papier milimetrowy,. liczenie V Imiar przeciętnej średnicy kulistych jąder Do pomialów można wykolzystać zdjęcia z ćwiczenia 18 lub dokonać pomiaiw bezpoślednio na prepalatach w mikloskopię z miklometlem okulalowym wy :alowanym według skali WzoLcowej (patlz ćw.17). PomieLz ślednice 750 losowo wyblanych przekrojów jądel. Wyniki zestaw co najmniej dziesięciu, a najwyżej szesnastu klasach wielkości i plzedstaw, histoglamie, tak jak na rycinie 14. ŚLodek klasy o największej liczeb Iści jest plzeciętną ślednicą jąder. Dokładniejsze wyliczenie tej ślednicy okleślenie błędu standaldowego wymaga baldziej skomplikowanych obliczeń. as ćwiczenia: 120 minut.

6

7

8

9

10

11

12

13

DOKŁADNOŚĆ POMIARU DŁUGOŚCI 1

DOKŁADNOŚĆ POMIARU DŁUGOŚCI 1 DOKŁADNOŚĆ POMIARU DŁUGOŚCI 1 I. ZAGADNIENIA TEORETYCZNE Niepewności pomiaru standardowa niepewność wyniku pomiaru wielkości mierzonej bezpośrednio i złożona niepewność standardowa. Przedstawianie wyników

Bardziej szczegółowo

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI ĆWICZENIE 43 BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI Układ optyczny mikroskopu składa się z obiektywu i okularu rozmieszczonych na końcach rury zwanej tubusem. Przedmiot ustawia się w odległości większej

Bardziej szczegółowo

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Piotr Targowski i Bernard Ziętek Pracownia Optoelektroniki Specjalność: Fizyka Medyczna WYZNAZANIE MAIERZY [ABD] UKŁADU OPTYZNEGO Zadanie II Zakład Optoelektroniki

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 361 Badanie układu dwóch soczewek

Ćwiczenie 361 Badanie układu dwóch soczewek Nazwisko... Data... Wdział... Imię... Dzień tg.... Godzina... Ćwiczenie 36 Badanie układu dwóch soczewek Wznaczenie ogniskowch soczewek metodą Bessela Odległość przedmiotu od ekranu (60 cm 0 cm) l Soczewka

Bardziej szczegółowo

TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA

TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA TOLERANCJE WYMIAROWE SAPA Tolerancje wymiarowe SAPA zapewniają powtarzalność wymiarów w normalnych warunkach produkcyjnych. Obowiązują one dla wymiarów, dla których nie poczyniono innych ustaleń w trakcie

Bardziej szczegółowo

PRZEKROJE RYSUNKOWE CZ.1 PRZEKROJE PROSTE. Opracował : Robert Urbanik Zespół Szkół Mechanicznych w Opolu

PRZEKROJE RYSUNKOWE CZ.1 PRZEKROJE PROSTE. Opracował : Robert Urbanik Zespół Szkół Mechanicznych w Opolu PRZEKROJE RYSUNKOWE CZ.1 PRZEKROJE PROSTE Opracował : Robert Urbanik Zespół Szkół Mechanicznych w Opolu IDEA PRZEKROJU stosujemy, aby odzwierciedlić wewnętrzne, niewidoczne z zewnątrz, kształty przedmiotu.

Bardziej szczegółowo

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 77 POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Ława optyczna z podziałką, oświetlacz z zasilaczem i płytka z wyciętym wzorkiem, ekran Komplet soczewek z oprawkami

Bardziej szczegółowo

+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M.

+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M. Zwierciadło płaskie, prawo odbicia. +OPTYKA.stacjapogody.waw.pl K.M. Promień padający, odbity i normalna leżą w jednej płaszczyźnie, prostopadłej do płaszczyzny zwierciadła Obszar widzialności punktu w

Bardziej szczegółowo

Rozwiązanie: Część teoretyczna

Rozwiązanie: Część teoretyczna Zgodnie z prawem Hooke a idealnie sprężysty pręt o długości L i polu przekroju poprzecznego S pod wpływem przyłożonej wzdłuż jego osi siły F zmienia swoją długość o L = L F/(S E), gdzie współczynnik E

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ POMIAR OGNISKOWYCH SOCZEWEK CIENKICH 1. Cel dwiczenia Zapoznanie z niektórymi metodami badania ogniskowych soczewek cienkich. 2. Zakres wymaganych zagadnieo: Prawa odbicia

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne. Ćwiczenie 4 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ Wprowadzenie teoretyczne. Soczewka jest obiektem izycznym wykonanym z materiału przezroczystego o zadanym kształcie i symetrii obrotowej. Interesować

Bardziej szczegółowo

BIOLOGIA KOMÓRKI KOMÓRKI EUKARIOTYCZNE W MIKROSKOPIE ŚWIETLNYM JASNEGO POLA I KONTRASTOWO- FAZOWYM; BARWIENIA CYTOCHEMICZNE KOMÓREK

BIOLOGIA KOMÓRKI KOMÓRKI EUKARIOTYCZNE W MIKROSKOPIE ŚWIETLNYM JASNEGO POLA I KONTRASTOWO- FAZOWYM; BARWIENIA CYTOCHEMICZNE KOMÓREK BIOLOGIA KOMÓRKI KOMÓRKI EUKARIOTYCZNE W MIKROSKOPIE ŚWIETLNYM JASNEGO POLA I KONTRASTOWO- FAZOWYM; BARWIENIA CYTOCHEMICZNE KOMÓREK KOMÓRKI EUKARIOTYCZNE W MIKROSKOPIE ŚWIETLNYM JASNEGO POLA I KONTRASTOWO-FAZOWYM;

Bardziej szczegółowo

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia

Prof. Eugeniusz RATAJCZYK. Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Prof. Eugeniusz RATAJCZYK Makrogemetria Pomiary odchyłek kształtu i połoŝenia Rodzaje odchyłek - symbole Odchyłki kształtu okrągłości prostoliniowości walcowości płaskości przekroju wzdłuŝnego Odchyłki

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE. Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej.

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE. Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej. LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 3 Temat: Wyznaczenie ogniskowej soczewek za pomocą ławy optycznej.. Wprowadzenie Soczewką nazywamy ciało przezroczyste ograniczone

Bardziej szczegółowo

ZAGADNIENIA NA EGZAMIN POPRAWKOWY Z MATEMATYKI W KLASIE IV TECHNIKUM.

ZAGADNIENIA NA EGZAMIN POPRAWKOWY Z MATEMATYKI W KLASIE IV TECHNIKUM. ZAGADNIENIA NA EGZAMIN POPRAWKOWY Z MATEMATYKI W KLASIE IV TECHNIKUM. I. Podstawowe pojęcia statystyki. 1. Sposoby prezentowania danych, interpretacja wykresów. 2. Mediana i dominanta. 3. Średnia arytmetyczna

Bardziej szczegółowo

W module Część-ISO wykonać kubek jak poniżej

W module Część-ISO wykonać kubek jak poniżej W module Część-ISO wykonać kubek jak poniżej rozpoczniemy od wyciągnięcia walca o średnicy 75mm i wysokości 90mm z płaszczyzny xy wykonujemy szkic do wyciągnięcia zamykamy szkic, oraz wprowadzamy wartość

Bardziej szczegółowo

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne ZADANIE D2 Nazwa zadania: Światełko na tafli wody Mając do dyspozycji fotodiodę, źródło prądu stałego (4,5V bateryjkę), przewody, mikroamperomierz oraz

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła

Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła Ćwiczenie z fizyki Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki oraz współczynnika załamania światła Michał Łasica klasa IIId nr 13 22 grudnia 2006 1 1 Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej soczewki 1.1

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-3

Ć W I C Z E N I E N R O-3 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-3 WYZNACZANIE OGNISKOWYCH SOCZEWEK ZA POMOCĄ METODY BESSELA I.

Bardziej szczegółowo

OPTYKA GEOMETRYCZNA Własności układu soczewek

OPTYKA GEOMETRYCZNA Własności układu soczewek OPTYKA GEOMETRYCZNA Własności układu soczewek opracował: Dariusz Wardecki Wstęp Soczewką optyczną nazywamy bryłę z przezroczystego materiału, ograniczoną (przynajmniej z jednej strony) zakrzywioną powierzchnią

Bardziej szczegółowo

Ć w i c z e n i e K 3

Ć w i c z e n i e K 3 Akademia Górniczo Hutnicza Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki Katedra Wytrzymałości, Zmęczenia Materiałów i Konstrukcji Nazwisko i Imię: Nazwisko i Imię: Wydział Górnictwa i Geoinżynierii Grupa

Bardziej szczegółowo

PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY

PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY Z MATEMATYKI ZESTAW NR 64130 WYGENEROWANY AUTOMATYCZNIE W SERWISIE WWW.ZADANIA.INFO POZIOM ROZSZERZONY CZAS PRACY: 180 MINUT 1 Zadania zamknięte ZADANIE 1 (1 PKT) Wielomian P(x)

Bardziej szczegółowo

Planimetria 1 12 godz.

Planimetria 1 12 godz. Planimetria 1 1 godz. Funkcje trygonometryczne kąta ostrego 1 definicje funkcji trygonometrycznych kąta ostrego wartości funkcji trygonometrycznych kątów 30º, 45º, 60º Trygonometria zastosowania Rozwiązywanie

Bardziej szczegółowo

OPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH

OPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH OPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH Prawa Euklidesa: 1. Promień padający i odbity znajdują się w jednej płaszczyźnie przechodzącej przez prostopadłą wystawioną do powierzchni zwierciadła w punkcie odbicia.

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego Ćwiczenie O5 Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego O5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wykorzystanie zjawiska dyfrakcji i interferencji światła do wyznaczenia rozmiarów

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5 POMIARY TWARDOŚCI. 1. Cel ćwiczenia. 2. Wprowadzenie

Ćwiczenie 5 POMIARY TWARDOŚCI. 1. Cel ćwiczenia. 2. Wprowadzenie Ćwiczenie 5 POMIARY TWARDOŚCI 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaznajomienie studentów ze metodami pomiarów twardości metali, zakresem ich stosowania, zasadami i warunkami wykonywania pomiarów oraz

Bardziej szczegółowo

Temat ćwiczenia. Pomiary gwintów

Temat ćwiczenia. Pomiary gwintów POLITECHNIKA ŚLĄSKA W YDZIAŁ TRANSPORTU Temat ćwiczenia Pomiary gwintów I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się studentów z metodami pomiarów gwintów II. Wprowadzenie Pojęcia ogólne dotyczące gwintów metrycznych

Bardziej szczegółowo

Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej

Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej Metody badań kamienia naturalnego: Oznaczanie wytrzymałości na zginanie pod działaniem siły skupionej 1. Zasady metody Zasada metody polega na stopniowym obciążaniu środka próbki do badania, ustawionej

Bardziej szczegółowo

KOOF Szczecin: www.of.szc.pl

KOOF Szczecin: www.of.szc.pl 3OF_III_D KOOF Szczecin: www.of.szc.pl XXXII OLIMPIADA FIZYCZNA (198/1983). Stopień III, zadanie doświadczalne D Źródło: Nazwa zadania: Działy: Słowa kluczowe: Komitet Główny Olimpiady Fizycznej; Waldemar

Bardziej szczegółowo

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr : Soczewki Cel ćwiczenia: Wyznaczenie ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiającej i rozpraszającej) oraz ogniskowej soczewki rozpraszającej

Bardziej szczegółowo

POWTÓRZENIE - GEODEZJA OGÓLNA dział 9 ELEMENTY RACHUNKU WYRÓWNAWCZEGO

POWTÓRZENIE - GEODEZJA OGÓLNA dział 9 ELEMENTY RACHUNKU WYRÓWNAWCZEGO POWTÓRZENIE - GEODEZJA OGÓLNA dział 9 ELEMENTY RACHUNKU WYRÓWNAWCZEGO SPOSTRZEŻENIA JEDNAKOWO DOKŁADNE. Spostrzeżenia jednakowo dokładne to takie, które wykonane są: tym samym przyrządem, tą samą metodą

Bardziej szczegółowo

(MIKROSKOP ELEKTRONOWY, ORGANELLE KOMÓRKOWE).

(MIKROSKOP ELEKTRONOWY, ORGANELLE KOMÓRKOWE). ĆWICZENIE 2. Temat: ULTRASTRUKTURA KOMÓRKI (1). (MIKROSKOP ELEKTRONOWY, ORGANELLE KOMÓRKOWE). 1. Podstawy technik mikroskopowo-elektronowych (Schemat N/2/1) 2. Budowa i działanie mikroskopu elektronowego

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 53. Soczewki

Ćwiczenie 53. Soczewki Ćwiczenie 53. Soczewki Małgorzata Nowina-Konopka, Andrzej Zięba Cel ćwiczenia Pomiar ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiająca i rozpraszająca), obliczenie ogniskowej soczewki rozpraszającej.

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej

Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW LABORATORIUM Z FIZYKI Wyznaczanie ogniskowej soczewki za pomocą ławy optycznej Wstęp Jednym z najprostszych urządzeń optycznych

Bardziej szczegółowo

Temat ćwiczenia: Zasady stereoskopowego widzenia.

Temat ćwiczenia: Zasady stereoskopowego widzenia. Uniwersytet Rolniczy w Krakowie Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Temat ćwiczenia: Zasady stereoskopowego widzenia. Zagadnienia 1. Widzenie monokularne, binokularne

Bardziej szczegółowo

OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS

OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS Zagadnienia teoretyczne. Spektrofotometria jest techniką instrumentalną, w której do celów analitycznych wykorzystuje się przejścia energetyczne zachodzące

Bardziej szczegółowo

(12) OPI S OCHRONN Y WZORU PRZEMYSŁOWEGO

(12) OPI S OCHRONN Y WZORU PRZEMYSŁOWEGO (12) OPI S OCHRONN Y WZORU PRZEMYSŁOWEGO (19) PL (11 ) Rp.1265 (21) Numer zgłoszenia: 1910 2 (51) Klasyfikacja: 09-01 (22) Data zgłoszenia: 04.12.199 9 (54) Butelk a (30) Pierwszeństwo : 04.06.1999 (WO

Bardziej szczegółowo

Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów optycznych.

Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów optycznych. msg O 7 - - Temat: Badanie soczewek, wyznaczanie odległości ogniskowej. Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 1 PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 2 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 3

Bardziej szczegółowo

Przykładowe zadania dla poziomu podstawowego Zadanie 1. Zadanie 2. Zadanie 3. Zadanie 4. Zadanie 5.

Przykładowe zadania dla poziomu podstawowego Zadanie 1. Zadanie 2. Zadanie 3. Zadanie 4. Zadanie 5. Przykładowe zadania dla poziomu podstawowego Zadanie. ( pkt) W układzie współrzędnych zaznaczono 5 początkowych wyrazów nieskończonego ciągu a. arytmetycznego ( ) n y - a) Podaj trzeci wyraz tego ciągu.

Bardziej szczegółowo

Katedra Zarządzania i Inżynierii Produkcji 2013r. Materiały pomocnicze do zajęć laboratoryjnych

Katedra Zarządzania i Inżynierii Produkcji 2013r. Materiały pomocnicze do zajęć laboratoryjnych Materiały pomocnicze do zajęć laboratoryjnych 1 Używane w trakcie ćwiczeń moduły programu Autodesk Inventor 2008 Tworzenie złożenia Tworzenie dokumentacji płaskiej Tworzenie części Obserwacja modelu/manipulacja

Bardziej szczegółowo

PROJEKT WSPÓŁFINANSOWANY ZE ŚRODKÓW UNII EUROPEJSKIEJ W RAMACH EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU SPOŁECZNEGO

PROJEKT WSPÓŁFINANSOWANY ZE ŚRODKÓW UNII EUROPEJSKIEJ W RAMACH EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU SPOŁECZNEGO PROJEKT WSPÓŁFINANSOWANY ZE ŚRODKÓW UNII EUROPEJSKIEJ W RAMACH EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU SPOŁECZNEGO Podnoszenie kompetencji uczniowskich w dziedzinie nauk matematyczno-przyrodniczych i technicznych z wykorzystaniem

Bardziej szczegółowo

Fizyka (Biotechnologia)

Fizyka (Biotechnologia) Fizyka (Biotechnologia) Wykład I Marek Kasprowicz dr Marek Jan Kasprowicz pokój 309 marek.kasprowicz@ur.krakow.pl www.ar.krakow.pl/~mkasprowicz Marek Jan Kasprowicz Fizyka 013 r. Literatura D. Halliday,

Bardziej szczegółowo

SPIS TREŚCI WSTĘP... 8 1. LICZBY RZECZYWISTE 2. WYRAŻENIA ALGEBRAICZNE 3. RÓWNANIA I NIERÓWNOŚCI

SPIS TREŚCI WSTĘP... 8 1. LICZBY RZECZYWISTE 2. WYRAŻENIA ALGEBRAICZNE 3. RÓWNANIA I NIERÓWNOŚCI SPIS TREŚCI WSTĘP.................................................................. 8 1. LICZBY RZECZYWISTE Teoria............................................................ 11 Rozgrzewka 1.....................................................

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie momentu magnetycznego obwodu w polu magnetycznym

Wyznaczanie momentu magnetycznego obwodu w polu magnetycznym Ćwiczenie E6 Wyznaczanie momentu magnetycznego obwodu w polu magnetycznym E6.1. Cel ćwiczenia Na zamkniętą pętlę przewodnika z prądem, umieszczoną w jednorodnym polu magnetycznym, działa skręcający moment

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne sieci komputerowe

Nowoczesne sieci komputerowe WYŻSZA SZKOŁA BIZNESU W DĄBROWIE GÓRNICZEJ WYDZIAŁ ZARZĄDZANIA INFORMATYKI I NAUK SPOŁECZNYCH Instrukcja do laboratorium z przedmiotu: Nowoczesne sieci komputerowe Instrukcja nr 3 Dąbrowa Górnicza, 2010

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

Inwentaryzacja zasobów drzewnych

Inwentaryzacja zasobów drzewnych Inwentaryzacja zasobów drzewnych Metody inwentaryzacji zapasu. Charakterystyka metody reprezentacyjnej. Przypomnienie Metody inwentaryzacji: - pomiarowa - szacunkowa - pomiarowo-szacunkowa - reprezentacyjna

Bardziej szczegółowo

D-01.01.01 Odtwarzanie trasy i punktów wysokościowych D-01.01.01. ODTWORZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH

D-01.01.01 Odtwarzanie trasy i punktów wysokościowych D-01.01.01. ODTWORZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH D-01.01.01 Odtwarzanie trasy i punktów wysokościowych D-01.01.01. ODTWORZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH 1. WSTĘP 1.1. Przedmiot specyfikacji technicznej (ST) Przedmiotem niniejszej ST są wymagania

Bardziej szczegółowo

Materiały edukacyjne dla doradców Na podstawie projektu gotowego z kolekcji Muratora M03a Moje Miejsce. i audytorów energetycznych

Materiały edukacyjne dla doradców Na podstawie projektu gotowego z kolekcji Muratora M03a Moje Miejsce. i audytorów energetycznych Optymalizacja energetyczna budynków Świadectwo energetycznej Fizyka budowli dla z BuildDesk. domu jednorodzinnego. Instrukcja krok po kroku Materiały edukacyjne dla doradców Na podstawie projektu gotowego

Bardziej szczegółowo

Wyznaczenie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego

Wyznaczenie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego Wyznaczenie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego Obowiązkowa znajomość zagadnień Charakterystyka drgań gasnących i niegasnących, ruch harmoniczny. Wahadło fizyczne, długość zredukowana

Bardziej szczegółowo

Plan wynikowy klasa 3

Plan wynikowy klasa 3 Plan wynikowy klasa 3 Przedmiot: matematyka Klasa 3 liceum (technikum) Rok szkolny:........................ Nauczyciel:........................ zakres podstawowy: 28 tyg. 3 h = 84 h (78 h + 6 h do dyspozycji

Bardziej szczegółowo

Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Metrologia: charakterystyki podstawowych przyrządów pomiarowych dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Przyrządy z noniuszami: Noniusz jest pomocniczą podziałką, służącą do powiększenia dokładności

Bardziej szczegółowo

Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela

Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela Ćwiczenie O4 Pomiar ogniskowych soczewek metodą Bessela O4.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie ogniskowych soczewek skupiających oraz rozpraszających z zastosowaniem o metody Bessela. O4.2.

Bardziej szczegółowo

BADANIE PRZELEWU MIERNICZEGO

BADANIE PRZELEWU MIERNICZEGO BADANIE PRZELEWU MIERNICZEGO Pytania zaliczające: 1. Pomiar przepływu za pomocą jednego z przelewów mierniczych. 2. Charakterystyka przelewu mierniczego. METODA PRZELEWOWA bezpośrednia metoda pomiaru przepływu;

Bardziej szczegółowo

Ćw. nr 41. Wyznaczanie ogniskowych soczewek za pomocą wzoru soczewkowego

Ćw. nr 41. Wyznaczanie ogniskowych soczewek za pomocą wzoru soczewkowego 1 z 7 JM-test-MathJax Ćw. nr 41. Wyznaczanie ogniskowych soczewek za pomocą wzoru soczewkowego Korekta 24.03.2014 w Błąd maksymalny (poprawione formuły na niepewności maksymalne dla wzorów 41.1 i 41.11)

Bardziej szczegółowo

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela.

Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 20 luty 2012 Stolik optyczny

Bardziej szczegółowo

Materiały pomocnicze 14 do zajęć wyrównawczych z Fizyki dla Inżynierii i Gospodarki Wodnej

Materiały pomocnicze 14 do zajęć wyrównawczych z Fizyki dla Inżynierii i Gospodarki Wodnej Materiały pomocnicze 4 do zajęć wyrównawczych z Fizyki dla Inżynierii i Gospodarki Wodnej. Zwierciadło płaskie. Zwierciadło płaskie jest najprostszym przyrządem optycznym. Jest to wypolerowana płaska powierzchnia

Bardziej szczegółowo

PL 189448 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 189448 (13) B1. (51) IntCl7 A63F 9/08. (54) Łamigłówka. (73) Uprawniony z patentu:

PL 189448 B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 189448 (13) B1. (51) IntCl7 A63F 9/08. (54) Łamigłówka. (73) Uprawniony z patentu: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 189448 (21) Numer zgłoszenia: 338426 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 14.07.1998 (86) Data i numer zgłoszenia

Bardziej szczegółowo

Sprzęt pomiarowy. Instrukcja obsługi

Sprzęt pomiarowy. Instrukcja obsługi Sprzęt pomiarowy Instrukcja obsługi Akcesoria do pomiarów Mikrometr stolikowy (1) do kalibracji Siatki o różnych odstępach (2) w mm i calach Siatki z oczkami (3) Siatki z osiami współrzędnych Długości

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do

(54) Sposób pomiaru cech geometrycznych obrzeża koła pojazdu szynowego i urządzenie do RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)167818 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 3 7 2 5 (22) Data zgłoszenia: 0 6.0 3.1 9 9 2 (51) Intcl6: B61K9/12

Bardziej szczegółowo

Wprowadzenie do rysowania w 3D. Praca w środowisku 3D

Wprowadzenie do rysowania w 3D. Praca w środowisku 3D Wprowadzenie do rysowania w 3D 13 Praca w środowisku 3D Pierwszym krokiem niezbędnym do rozpoczęcia pracy w środowisku 3D programu AutoCad 2010 jest wybór odpowiedniego obszaru roboczego. Można tego dokonać

Bardziej szczegółowo

PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW

PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW ZADANIE PIONÓW: ustawienie instrumentu i sygnału centrycznie nad punktem. ZADANIE PIONOWNIKOW: badanie pionowości,

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R M-2

Ć W I C Z E N I E N R M-2 INSYU FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I ECHNOLOGII MAERIAŁÓW POLIECHNIKA CZĘSOCHOWSKA PRACOWNIA MECHANIKI Ć W I C Z E N I E N R M- ZALEŻNOŚĆ OKRESU DRGAŃ WAHADŁA OD AMPLIUDY Ćwiczenie M-: Zależność

Bardziej szczegółowo

Sieci obliczeniowe poprawny dobór i modelowanie

Sieci obliczeniowe poprawny dobór i modelowanie Sieci obliczeniowe poprawny dobór i modelowanie 1. Wstęp. Jednym z pierwszych, a zarazem najważniejszym krokiem podczas tworzenia symulacji CFD jest poprawne określenie rozdzielczości, wymiarów oraz ilości

Bardziej szczegółowo

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne Matematyka. Poznać, zrozumieć Kształcenie w zakresie podstawowym. Klasa 3 Poniżej podajemy umiejętności, jakie powinien zdobyć uczeń z każdego

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego

Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego Dent/digitest 3 Opracował: mgr inż. Jan Kalita 1 Spis treści. 1. Opis techniczny 3 1.1. Przeznaczenie fantomu. 3 1.2. Budowa fantomu. 4 2. Procedura

Bardziej szczegółowo

Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem

Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem Ćwiczenie E7 Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem E7.1. Cel ćwiczenia Prąd elektryczny płynący przez przewodnik wytwarza wokół niego pole magnetyczne. Ćwiczenie polega na pomiarze

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca

Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca Jak poznać Wszechświat, jeśli nie mamy bezpośredniego dostępu do każdej jego części? Ta trudność jest codziennością dla astronomii. Obiekty astronomiczne

Bardziej szczegółowo

Format arkusza. Obramowanie

Format arkusza. Obramowanie Format arkusza Podstawowa w Polsce norma arkuszy papieru jest zgodna z międzynarodową normą ISO 216. Najbardziej znanym formatem tego rodzaju jest A4. Stosunek boków w formacie A jest zawsze jak 1 do 2,

Bardziej szczegółowo

TELEDETEKCJA Z ELEMENTAMI FOTOGRAMETRII WYKŁAD 10

TELEDETEKCJA Z ELEMENTAMI FOTOGRAMETRII WYKŁAD 10 TELEDETEKCJA Z ELEMENTAMI FOTOGRAMETRII WYKŁAD 10 Fotogrametria to technika pomiarowa oparta na obrazach fotograficznych. Wykorzystywana jest ona do opracowywani map oraz do różnego rodzaju zadań pomiarowych.

Bardziej szczegółowo

TEST. str. 1. Punktacja testu: odpowiedź poprawna 2 punkty, odpowiedź błędna 0 punktów. Na rozwiązanie testu i krzyżówki masz 70 minut. POWODZENIA!

TEST. str. 1. Punktacja testu: odpowiedź poprawna 2 punkty, odpowiedź błędna 0 punktów. Na rozwiązanie testu i krzyżówki masz 70 minut. POWODZENIA! Przed Tobą test zadań zamkniętych i krzyżówka. W każdym zadaniu zamkniętym tylko jedna odpowiedź jest poprawna. Swoje odpowiedzi do testu zaznacz w karcie odpowiedzi. Krzyżówkę rozwiąż na kartce, na której

Bardziej szczegółowo

1. BADANIE SPIEKÓW 1.1. Oznaczanie gęstości i porowatości spieków

1. BADANIE SPIEKÓW 1.1. Oznaczanie gęstości i porowatości spieków 1. BADANIE SPIEKÓW 1.1. Oznaczanie gęstości i porowatości spieków Gęstością teoretyczną spieku jest stosunek jego masy do jego objętości rzeczywistej, to jest objętości całkowitej pomniejszonej o objętość

Bardziej szczegółowo

Metrologia Techniczna

Metrologia Techniczna Zakła Metrologii i Baań Jakości Wrocław, nia Rok i kierunek stuiów Grupa (zień tygonia i gozina rozpoczęcia zajęć) Metrologia Techniczna Ćwiczenie... Imię i nazwisko Imię i nazwisko Imię i nazwisko Błęy

Bardziej szczegółowo

1. WSTĘP 1.1. Przedmiot STWiORB Przedmiotem niniejszej STWiORB są wymagania wykonania, odbioru oraz montażu materacy gabionowych w ramach zadania:

1. WSTĘP 1.1. Przedmiot STWiORB Przedmiotem niniejszej STWiORB są wymagania wykonania, odbioru oraz montażu materacy gabionowych w ramach zadania: M.20.00.00 INNE ROBOTY MOSTOWE 1. WSTĘP 1.1. Przedmiot STWiORB Przedmiotem niniejszej STWiORB są wymagania wykonania, odbioru oraz montażu materacy gabionowych w ramach zadania: PROJEKTY PRZEBUDOWY NIENORMATYWNYCH

Bardziej szczegółowo

Plik pobrany ze strony www.zadania.pl

Plik pobrany ze strony www.zadania.pl Plik pobrany ze strony www.zadania.pl Wpisuje zdający przed rozpoczęciem pracy PESEL ZDAJĄCEGO Miejsce na nalepkę z kodem szkoły PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY Z MATEMATYKI Instrukcja dla zdającego Arkusz I

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne sieci komputerowe

Nowoczesne sieci komputerowe WYŻSZA SZKOŁA BIZNESU W DĄBROWIE GÓRNICZEJ WYDZIAŁ ZARZĄDZANIA INFORMATYKI I NAUK SPOŁECZNYCH Instrukcja do laboratorium z przedmiotu: Nowoczesne sieci komputerowe Instrukcja nr 1 Dąbrowa Górnicza, 2010

Bardziej szczegółowo

PL 215189 B1. INSTYTUT OPTYKI STOSOWANEJ, Warszawa, PL INSTYTUT BADAWCZY DRÓG I MOSTÓW, Warszawa, PL 21.06.2010 BUP 13/10

PL 215189 B1. INSTYTUT OPTYKI STOSOWANEJ, Warszawa, PL INSTYTUT BADAWCZY DRÓG I MOSTÓW, Warszawa, PL 21.06.2010 BUP 13/10 PL 215189 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215189 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 386785 (22) Data zgłoszenia: 11.12.2008 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Różne sposoby widzenia świata materiał dla ucznia, wersja z instrukcją

Różne sposoby widzenia świata materiał dla ucznia, wersja z instrukcją CZĘŚĆ A CZŁOWIEK Pytania badawcze: Różne sposoby widzenia świata materiał dla ucznia, wersja z instrukcją Czy obraz świata jaki rejestrujemy naszym okiem jest zgodny z rzeczywistością? Jaki obraz otoczenia

Bardziej szczegółowo

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru Ćwiczenie nr 9 Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru I. Zestaw przyrządów 1. Spektrometr 2. Lampy spektralne: helowa i rtęciowa 3. Pryzmaty szklane, których własności mierzymy II. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

7 3 D. 15. ZADANIE 9. Przekątne są prostopadłe i dzielą się na połowę w punkcie przecięcia w: A. trójkącie B. trapezie C. rombie D.

7 3 D. 15. ZADANIE 9. Przekątne są prostopadłe i dzielą się na połowę w punkcie przecięcia w: A. trójkącie B. trapezie C. rombie D. ZADANIE. Wynikiem działania + 5 : 5 4 jest liczba: A. B. 3 C. D. 3 ZADANIE. Wynikiem działania 3 : 0, + 0, 4 jest liczba: 3 3 A., 4 B. 3 C. 3 ZADANIE 3. Wynikiem działania 3 : 0, jest liczba: 3 5 7 3 D.

Bardziej szczegółowo

Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów

Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów 16 KATEDRA FIZYKI STOSOWANEJ PRACOWNIA FIZYKI Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów Wprowadzenie Mikroskop jest przyrządem optycznym dającym znaczne powiększenia małych przedmiotów

Bardziej szczegółowo

P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9.

P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9. Literatura: P. R. Bevington and D. K. Robinson, Data reduction and error analysis for the physical sciences. McGraw-Hill, Inc., 1992. ISBN 0-07- 911243-9. A. Zięba, 2001, Natura rachunku niepewności a

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroenergetyki 2

Podstawy Elektroenergetyki 2 POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY Katedra Elektroenergetyki, Fotoniki i Techniki Świetlnej Laboratorium z przedmiotu: Podstawy Elektroenergetyki 2 Kod: ES1A500 037 Ćwiczenie nr 6 BADANIE REZYSTANCJI

Bardziej szczegółowo

Standardowe tolerancje wymiarowe WWW.ALBATROS-ALUMINIUM.COM

Standardowe tolerancje wymiarowe WWW.ALBATROS-ALUMINIUM.COM Standardowe tolerancje wymiarowe WWW.ALBATROSALUMINIUM.COM Tolerancje standardowe gwarantowane przez Albatros Aluminium obowiązują dla wymiarów co do których nie dokonano innych uzgodnień podczas potwierdzania

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166562 (13) B1

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166562 (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166562 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 292871 (22) Data zgłoszenia: 19.12.1991 (51) IntCl6: B65D 1/16 B21D

Bardziej szczegółowo

Procedura techniczna wyznaczania poziomu mocy akustycznej źródeł ultradźwiękowych

Procedura techniczna wyznaczania poziomu mocy akustycznej źródeł ultradźwiękowych Procedura techniczna wyznaczania poziomu mocy akustycznej źródeł ultradźwiękowych w oparciu o pomiary poziomu ciśnienia akustycznego w punktach pomiarowych lub liniach omiatania na półkulistej powierzchni

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE NR 8 ELEMENTY MUROWE CEGŁY: BADANIE CECH ZEWNĘTRZNYCH

ĆWICZENIE NR 8 ELEMENTY MUROWE CEGŁY: BADANIE CECH ZEWNĘTRZNYCH ĆWICZENIE NR 8 ELEMENTY MUROWE CEGŁY: BADANIE CECH ZEWNĘTRZNYCH NORMY PN-EN 771-1:2011 - Wymagania dotyczące elementów murowych. Część 1: Elementy murowe ceramiczne PN-EN 772-9:2006 - Metody badań elementów

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi programu PowRek

Instrukcja obsługi programu PowRek Instrukcja obsługi programu PowRek środa, 21 grudnia 2011 Spis treści Przeznaczenie programu... 4 Prezentacja programu... 5 Okno główne programu... 5 Opis poszczególnych elementów ekranu... 5 Nowy projekt...

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-4

Ć W I C Z E N I E N R O-4 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-4 BADANIE WAD SOCZEWEK I Zagadnienia do opracowania Równanie soewki,

Bardziej szczegółowo

Zakres wiadomości i umiejętności z przedmiotu GEODEZJA OGÓLNA dla klasy 1ge Rok szkolny 2014/2015r.

Zakres wiadomości i umiejętności z przedmiotu GEODEZJA OGÓLNA dla klasy 1ge Rok szkolny 2014/2015r. Zakres wiadomości i umiejętności z przedmiotu GEODEZJA OGÓLNA dla klasy 1ge - Definicja geodezji, jej podział i zadania. - Miary stopniowe. - Miary długości. - Miary powierzchni pola. - Miary gradowe.

Bardziej szczegółowo

Podstawowe [P] zna przedmiotowe zasady oceniania omawia regulamin pracowni. omawia wyposażenie apteczki i sprzęt ppoż.

Podstawowe [P] zna przedmiotowe zasady oceniania omawia regulamin pracowni. omawia wyposażenie apteczki i sprzęt ppoż. WYMAGANIA Z ZAJĘĆ TECHNICZNYCH W GIMNAZJUM NR 4 GLIWICE Osiągnięcia szczegółowe uczniów Dział podręcznika Temat lekcji Treści nauczania Wiadomości Umiejętności Podstawowe [P] Ponadpodstawowe [PP] Podstawowe

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

PL 215409 B3. BORCZYK MONIKA, Bielsko-Biała, PL 22.06.2009 BUP 13/09. MONIKA BORCZYK, Bielsko-Biała, PL 31.12.2013 WUP 12/13 RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL 215409 B3. BORCZYK MONIKA, Bielsko-Biała, PL 22.06.2009 BUP 13/09. MONIKA BORCZYK, Bielsko-Biała, PL 31.12.2013 WUP 12/13 RZECZPOSPOLITA POLSKA PL 215409 B3 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215409 (21) Numer zgłoszenia: 384078 (22) Data zgłoszenia: 17.12.2007 (61) Patent dodatkowy

Bardziej szczegółowo

W tym celu korzystam z programu do grafiki wektorowej Inkscape 0.46.

W tym celu korzystam z programu do grafiki wektorowej Inkscape 0.46. 1. Wprowadzenie Priorytetem projektu jest zbadanie zależności pomiędzy wartościami średnich szybkości przemieszczeń terenu, a głębokością eksploatacji węgla kamiennego. Podstawowe dane potrzebne do wykonania

Bardziej szczegółowo

Zwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste:

Zwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste: Fale świetlne Światło jest falą elektromagnetyczną, czyli rozchodzącymi się w przestrzeni zmiennymi i wzajemnie przenikającymi się polami: elektrycznym i magnetycznym. Szybkość światła w próżni jest największa

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 28.09.1995, PCT/DK95/00388

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 28.09.1995, PCT/DK95/00388 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (21) Numer zgłoszenia: 319401 (22) Data zgłoszenia: 28.09.1995 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

szkło klejone laminowane szkło klejone z użyciem folii na całej powierzchni.

szkło klejone laminowane szkło klejone z użyciem folii na całej powierzchni. SZKŁO LAMINOWANE dokument opracowany przez: w oparciu o Polskie Normy: PN-B-13083 Szkło budowlane bezpieczne PN-EN ISO 12543-5, 6 Szkło warstwowe i bezpieczne szkło warstwowe PN-EN 572-2 Szkło float definicje

Bardziej szczegółowo