Cennik za wykonywanie czynności wzorcowania przyrządów pomiarowych oraz wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia w Głównym Urzędzie Miar *

Transkrypt

1 Cennik za wykonywanie czynności wzorcowania przyrządów pomiarowych oraz wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia w łównym Urzędzie Miar * Zakład Długości i Kąta Lp. Przyrząd pomiarowy Wzorcowanie - wielkość mierzona Zakres pomiarowy/metoda Niepewność CMC Źródło spójności pomiarowej Miejsce realizacji** Uwagi tyczące miejsca realizacji Uwagi t. wzorcowania Lab. Cena całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje t. ustalanej ceny Długość: Promieniowania Mise en Pratique Promieniowania laserów 1 laser stabilizowany mise en pratique - zdudnianie optyczne częstotliwości długość fali w próżni 633 nm 0,04 fm TAK M ,00 2 laser stabilizowany mise en pratique - zdudnianie optyczne częstotliwości częstotliwość 474 THz 24 khz TAK M ,00 3 inny laser stabilizowany - zdudnianie optyczne częstotliwości długość fali w próżni ( ) nm 1E-09 lambda w próżni M ,00 4 inny laser stabilizowany - zdudnianie optyczne częstotliwości częstotliwość ( ) THz 1E-09 M ,00 Długość: Wymiary liniowe Przyrządy pomiaru długości 5 (laserowy, pomiaru długości) interferometr (system) - z wzorcowym interferometrem laserowym błąd wskazanego przemieszczenia (0 30) m Q[0.08;0.06L] µm; L w m TAK M ,00

2 6 (laserowy, pomiaru długości) interferometr (refraktometr) - z wzorcowym barometrem, higrometrem i miernikiem temperatury kompensacja długości fali ,5E-07n TAK M11 780,00 7 przyrząd EDM (dalmierz laserowy) - z interferometrem laserowym błąd wskazanej odległości (0 50) m 0,7 mm M11 195,00 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,5 stawka za 1 rbg 8 maszyna pomiarowa 1-D pomiaru długości - z interferometrem laserowym błąd wskazanego [wymiaru; przemieszczenia] (0 3) m Q[1.06; 0.93L] µm; L w m TAK P M ,00 podanej ceny należy liczyć koszty delegacji 9 komparator wzorcowania płytek wzorcowych - z kontrolnymi płytkami wzorcowymi błąd wskazanego przemieszczenia ±20 µm 12 nm P M ,00 podanej ceny należy liczyć koszty delegacji Wzorce końcowe 10 płytka wzorcowa - interferencyjnie (reszty ułamkowe, lampa Cd) długość środkowa ( ) mm Q[34; 0.44L] nm; L w mm TAK M11 130,00 11 płytka wzorcowa - interferencyjnie (reszty ułamkowe, lasery) długość środkowa ( ) mm Q[20.4; 0.2L] nm; L w mm M11 130,00 12 płytka wzorcowa - interferencyjnie odchylenie od płaskości (0 5,7) µm 17 nm PTB dla płytek wzorcowych o długości ( ) mm M11 65,00 13 płytka wzorcowa - z komparatorem dwuczujnikowym długość środkowa ( ) mm Q[49; 0.6L] nm; L w mm TAK M11 26,00 14 płytka wzorcowa - z komparatorem dwuczujnikowym zmienność długości (0 350) nm 19 nm dla płytek wzorcowych o długości ( ) mm M11 65,00

3 15 długa płytka wzorcowa - interferencyjnie, beztykowo długość środkowa ( ) mm Q[0.05; 0.47L] µm; L w m M11 650,00 16 długa płytka wzorcowa - interferencyjnie, tykowo w długość środkowa pozycji poziomej (z płytką 10 mm) ( ) mm Q[112; 0.59L] nm; L w mm TAK M11 650,00 17 długa płytka wzorcowa - porównawczo, tykowo w pozycji poziomej długość środkowa ( ) mm Q[119; 0.39L] nm; L w mm M11 650,00 18 długa płytka wzorcowa - z komparatorem dwuczujnikowym w pozycji pionowej zmienność długości (0 600) nm 19 nm dla płytek wzorcowych o długości ( ) mm M11 65,00 19 wzorzec nastawczy mikrometrów - interferencyjnie, tykowo w długość środkowa pozycji poziomej (z płytką 10 mm) ( ) mm Q[112; 0.59L] nm; L w mm TAK M11 455,00 20 długa płytka wzorcowa - interferencyjnie odchylenie od płaskości (0 5,7) µm 17 nm PTB dla płytek wzorcowych o M11 65,00 długości ( ) mm 21 wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMP odległość powierzchni 700 mm Q[0.5;0,9L] µm, L w m TAK M13 650,00 cena za wzorzec chodkowy 300 mm; za każde kolejne 100 mm 1,75 x stawka za rbg Wzorce kreskowe 22 wzorzec kreskowy kładny - z interferometrem laserowym odległość kresek (1 500) mm Q[198; 0.41L] nm; L w mm TAK M11 650,00 cena za 10 odcinków pomiarowych; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 stawka za 1 rbg 23 wzorzec kreskowy mikroskopowy - z interferometrem laserowym odległość kresek (0,01 10) mm 198 nm M11 390,00 cena za 10 odcinków pomiarowych; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 stawka za 1 rbg

4 24 przymiar wstęgowy - z interferometrem laserowym odległość kresek (0 50) m Q[20; 5.5L] µm; L w m TAK M11 273,00 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 stawka za 1 rbg 25 przymiar sztywny - z interferometrem laserowym odległość kresek (0 5) m Q[20; 5.0L] µm; L w m M11 143,00 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 stawka za 1 rbg 26 przymiar półsztywny - z interferometrem laserowym odległość kresek (0 5) m Q[20; 5.0L] µm; L w m M11 143,00 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 stawka za 1 rbg 27 przymiar półsztywny pomiaru średnicy i obwodu - odległość kresek z interferometrem laserowym (0 5) m Q[20; 5.0L] µm; L w m M11 143,00 cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 stawka za 1 rbg Wzorce średnicy 28 walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za średnica pomocą maszyny 1-D (10 100) mm Q[0.4;4.0L] µm, L w m TAK M13 260,00 29 walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za średnica < φ 500 mm 0,7 µm pomocą maszyny WMP wysokość walca 700 mm M13 169,00 cena za walec zewnętrzny 100 mm wysokości; za każde kolejne 100 mm 0,5 stawka za 1 rbg 30 walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny 1-D średnica (10 200) mm Q[0.4;3.2L] µm, L w m TAK M13 273,00 31 walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMP średnica < φ 500 mm 0,5 µm M13 182,00 cena za walec wewnętrzny 100 mm średnicy; za każde kolejne 100 mm 0,2 stawka za 1 rbg

5 32 sfera (kula) - za pomocą maszyny WMP średnica < φ 500 mm 0,5 µm M13 182,00 cena za sferę 100 mm średnicy; za każde kolejne 100 mm 0,2 stawka za 1 rbg Długość: Kąt Podziałki kątowe 33 pryzma wielościenna - za pomocą dwóch autokolimatorów i stołu obrotowego kąt między powierzchniami pomiarowymi (0º 360º);liczba ścian ,36" TAK M ,00 Cena za wzorcowanie pryzmy 36-ściennej. Dla pryzm o innej liczbie ścian należy stawkę godzinową pomnożyć przez liczbę roboczogodzin: - 24-ścienna: 13,2 rbg; - 12-ścienna: 7,2 rbg; - 8-ścienna: 5,2 rbg. 34 pryzma wielościenna - porównawcza za pomocą goniometru kąt między powierzchniami pomiarowymi 360º 1,4" M12 520,00 Cena za wzorcowanie pryzmy 12-ściennej. Dla pryzm o innej liczbie ścian należy stawkę godzinową pomnożyć przez liczbę roboczogodzin: - 24-ścienna: 8 rbg; - 8-ścienna: 3 rbg 35 pryzma wielościenna - za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu kąt między powierzchniami pomiarowymi 360º; max liczba ścian pryzmy: 72 >= 0,07" M ,00 Cena za wzorcowanie pryzmy 72-ściennej. Dla pryzm o innej liczbie ścian należy stawkę godzinową pomnożyć przez liczbę roboczogodzin: - 36-ścienna: 20 rbg; - 24-ścienna: 14 rbg; - 12-ścienna: 8 rbg; - 8-ścienna: 6 rbg 36 pryzma wielościenna - za pomocą autokolimatora błąd piramidalności dla pryzm o max liczbie ścian 72 0,82" M12 156,00

6 37 stół podziałowy - z pryzmą wielościenną kąt podziału (błąd wskazywanego kąta podziału) 360º 1,1" M12 520,00 Cena za wzorcowanie za pomocą pryzmy 24- ściennej. Przy wzorcowaniu z wykorzystaniem pryzmy 36-ściennej należy liczyć 1,5 rbg pomnożone przez stawkę godzinową 38 głowica podziałowa - z pryzmą wielościenną kąt podziału (błąd wskazywanego kąta podziału) 360º 1,1" M12 520,00 Cena za wzorcowanie za pomocą pryzmy 24- ściennej. Przy wzorcowaniu z wykorzystaniem pryzmy 36-ściennej należy liczyć 1,5 rbg pomnożone przez stawkę godzinową 39 goniometr - z pryzmą wielościenną kąt podziału (błąd wskazywanego kąta podziału) 360º 0,5" P M12 520,00 Cena za wzorcowanie za pomocą pryzmy 24- ściennej. Przy wzorcowaniu z wykorzystaniem pryzmy 36-ściennej należy liczyć 1,5 rbg pomnożone przez stawkę godzinową. Wzorcowanie w miejscu ustawienia; ceny licza się koszty delegacji. 40 stół obrotowy, obrotowa kowana podziałka kątowa kąt ustawienia 360º 1,1" TAK - z pryzmą wielościenną poza siedzibą wzorcowane są przetworniki,p wbuwane w stacjonarny układ pomiarowy M12 325,00 Cena za wzorcowanie za pomocą pryzmy 24- ściennej. Przy wzorcowaniu z wykorzystaniem pryzmy 36-ściennej należy liczyć 1,5 rbg pomnożone przez stawkę godzinową; przy wzorcowaniu poza siedzibą ceny licza się koszt delegacji. Przyrządy pomiaru kąta 41 autokolimator - za pomocą generatora małych kątów błąd wskazywanego kąta (0 40)' 0,3" TAK M12 520,00

7 42 poziomnica elektroniczna - za pomocą generatora małych kątów błąd wskazywanego kąta nachylenia (0 40)' zależna od rozdzielczości poziomnicy (>= 0,3") M12 390,00 43 poziomnica elektroniczna - za pomocą optycznej głowicy podziałowej błąd wskazywanego kąta nachylenia 360º zależna od rozdzielczości poziomnicy M12 325,00 44 poziomnica elektroniczna - za pomocą wzorcowej powierzchni poziomej błąd wskazania zerowego kąta nachylenia ± 10 mm/m 0,5 a (a - rozdzielczość poziomnicy) M12 32,50 45 pochyłomierz - za pomocą optycznej głowicy podziałowej błąd wskazywanego kąta nachylenia 360º zależny od rozdzielczości pochyłomierza M12 260,00 46 pochyłomierz - za pomocą wzorcowej powierzchni poziomej błąd wskazania zerowego kąta nachylenia ± 10 mm/m 0,5 a (a - rozdzielczość pochyłomierza) M12 65,00 47 optyczna poziomnica kątowa błąd wskazywanego kąta - za pomocą optycznej nachylenia głowicy podziałowej 360º 10,6" M12 260,00 48 optyczna poziomnica kątowa błąd wskazania zerowego kąta - za pomocą wzorcowej nachylenia powierzchni poziomej ± 10 mm/m 0,2 dz.el. M12 26,00 49 optyczna poziomnica kątowa odchylenie od płaskości - za pomocą płytek powierzchni pomiarowych wzorcowych ± 10 µm 1,5 µm M12 52,00 50 poziomnica koincydencyjna - błąd wskazywanego kąta za pomocą optycznej nachylenia głowicy podziałowej 360º 0,025 mm/m M12 182,00

8 51 poziomnica koincydencyjna - błąd wskazania zerowego kąta za pomocą wzorcowej nachylenia powierzchni poziomej ± 10 mm/m 0,2 dz.el. M12 26,00 52 poziomnica koincydencyjna - odchylenie od płaskości za pomocą płytek powierzchni pomiarowych wzorcowych ± 10 µm 1,5 µm M12 52,00 Wzorce kąta 53 płytka kątowa - za pomocą goniometru kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 180º 2,2" TAK M12 13,00 Cena t. płytki 1-kątowej Kusznikowa lub Johanssona, za każdy kolejny kąt na płytce należy liczyć 0,06 rbg x stawka. Płytka kątowa przywieralna, 1-kątowa, cena wynosi 0,25 rbg x stawka, za każdy kolejny kąt na płytce należy liczyć 0,21 x stawka 54 płytka kątowa - za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu obrotowego kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] 360º 0,08" dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach M12 260,00 Cena tyczy wyznaczenia wartości jednego kąta pomiarowego 55 kątownik 90 (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za prostopadłość (0 180)º 0,5" TAK pomocą maszyny WMP max. wymiary kątownika (700 x 500) mm M13 234,00 cena za kątownik o długości ramienia 100 mm; za każde kolejne 100 mm 0,8 stawka za 1 rbg 56 kątownik 90 (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za prostoliniowość (0 500) µm 0,5 µm TAK pomocą maszyny WMP max. wymiary kątownika (700 x 500) mm M13 234,00 cena za kątownik o długości ramienia 100 mm; za każde kolejne 100 mm 0,8 stawka za 1 rbg; w przypadku pomiaru prostopadłości opłata za prostoliniowość nie jest pobierana

9 57 kątownik 90 (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za płaskość (0 500) µm 0,5 µm TAK pomocą maszyny WMP max. wymiary kątownika (700 x 500) mm M13 169,00 cena za kątownik o długości ramienia 100 mm; za każde kolejne 100 mm 0,8 stawka za 1 rbg; w przypadku pomiaru prostopadłości opłata za prostoliniowość nie jest pobierana 58 kątownik 90 walcowy - za pomocą maszyny WMP prostopadłość (0 180)º 0,5" TAK wysokość kątownika 700 mm M13 364,00 cena za kątownik o wysokości 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,4 stawka za 1 rbg 59 kątownik 90 walcowy - za pomocą maszyny WMP prostoliniowość (0 500) µm 0,5 µm TAK wysokość kątownika 700 mm M13 299,00 cena za kątownik o wysokości 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,4 stawka za 1 rbg; w przypadku pomiaru prostopadłości opłata za prostoliniowość nie jest pobierana 60 kątownik 90 walcowy - za pomocą maszyny WMP płaskość (0 500) µm 0,5 µm TAK wysokość kątownika 700 mm M13 234,00 cena za kątownik o wysokości 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,4 stawka za 1 rbg; w przypadku pomiaru prostopadłości opłata za płaskość nie jest pobierana 61 wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP kąt stożka φ 500 mm 2,2" wysokość stożka h 250 mm M13 234,00 cena za wzorzec stożka o wysokości 50 mm; za każde kolejne 50 mm 0,6 stawka za 1 rbg 62 wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP średnica φ 500 mm 0,5 µm wysokość stożka h 250 mm M13 169,00 cena za wzorzec stożka o wysokości 50 mm; za każde kolejne 50 mm 0,6 stawka za 1 rbg

10 Długość: Kształt Wzorce płaskości 63 płaska płytka interferencyjna - za pomocą interferometru laserowgo płaskość (0 5,7) µm 16 nm PTB dla obiektu o średnicy 150 mm M13 260,00 64 płytka interferencyjna płaskorównoległa - za pomocą optimetru projekcyjnego odchylenie od równoległości (0 20) µm 0,3 µm M13 117,00 65 płytka interferencyjna płaskorównoległa - za pomocą optimetru projekcyjnego błąd wskazywanego wymiaru (15 65,37) mm 0,3 µm M13 65,00 66 płyta pomiarowa - za pomocą autokolimatora płaskość 70 µm; Q[0.5;0.5L] µm, L w m TAK Poza wzorcuje się płyty o,p wymiarach większych niż (630 x 400) mm długość płyty 2500 mm M13 780,00 cena za płytę pomiarową o przekątnej 500 mm; za każde kolejne 250 mm 0,8 stawka za 1 rbg 67 płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP płaskość max (0 x 500) µm 0,5 µm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm M13 325,00 cena za płytę pomiarową o przekątnej 300 mm; za każde kolejne 100 mm 0,4 stawka za 1 rbg Wzorce okrągłości 68 walec zewnętrzny - za pomocą przyrządu pomiaru okrągłości okrągłość ± 200 µm 0,1 µm TAK średnica 150 mm; wysokość 300 µm M13 221,00 69 walec wewnętrzny - za pomocą przyrządu pomiaru okrągłości okrągłość ± 200 µm 0,1 µm TAK średnica (5 150) mm M13 221,00 70 sfera (półkula) - za pomocą przyrządu pomiaru okrągłości okrągłość 0.1 µm 0,04 µm M13 650,00 71 wzorzec powiększenia (np. wałek ze ścięciem) - za pomocą profilometru okrągłość 300 µm 0,25 µm TAK PTB M13 585,00

11 Wzorce prostoliniowości liniał powierzchniowy - za pomocą autokolimatora wzorzec prostoliniowości walcowy płaskość lub prostoliniowość 40 µm 0,5 µm TAK prostoliniowość (0 x 500) µm 0,6 µm Poza wzorcuje się liniały o,p długości większych niż 1500 mm długość liniału L 1000 mm M13 403,00 M13 299,00 cena za liniał powierzchniowy o długości 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,2 stawka za 1 rbg cena za kątownik o wysokości 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,6 stawka za 1 rbg. 74 liniał krawędziowy - za pomocą profilometru prostoliniowość 3 µm 0,3 µm dla L = 50 mm i 0,5 µm dla L PTB = 200 mm długość L od mm M13 416,00 Długość: eometria złożona Wzorce struktury geometrycznej powierzchni 75 wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO typ A) - za pomocą mikrointerferometru wysokość schodka lub głębokość nierówności od µm Q[10;2d] nm, d w µm TAK M13 650,00 76 wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości wysokość schodka lub głębokość schodka (np. ISO typ nierówności A) - za pomocą profilometru od µm Q[30;0.5d] nm, d w µm TAK PTB M13 650,00 77 wzorzec sprawdzania stanu ostrza (np. ISO typ B) - za pomocą profilometru stosunek wartości parametru Ra (dla dwóch powierzchni) od 0,5 1,5 µm 0,08 µm PTB M13 325,00 78 wzorzec sprawdzania stanu ostrza (np. ISO typ B) - za pomocą mikrointerferometru głębokość lub szerokość (nierówności) wysokość nierówności h 1 µm, szerokość 30 nm nierówności S od 5 µm 20 µm M13 390,00 79 wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO typ C) - za pomocą profilometru parametry amplitudy Ra, Rq od µm; Rp, rv, Rz, Rt (wg PN- EN ISO 4287) Q[15;25Ra] nm, Ra w µm; Q[40;50Rp] nm, Rp w µm; TAK PTB M13 650,00

12 80 wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO typ C) - za pomocą mikrointerferometru parametry amplitudy Ra 0.1 µm 4 nm M13 455,00 81 wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO typ C) - za pomocą profilometru parametr długości fali RSm 500 µm 0,3 µm PTB M13 260,00 82 wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO typ C) - za pomocą mikrointerferometru parametr długości fali RSm 80 µm 4 nm M13 260,00 83 wzorzec chropowatości (np. ISO typ D) parametry chropowatości ISO Ra, Rq od Q[15; 30Ra] nm; µm; Rp, Rv, Rz, Rt (wg Ra w µm, Q[40; PN-EN ISO 4287) 80 Rp], Rp w µm TAK PTB M13 650,00 84 wzorzec współrzędnościowy (np. ISO typ E) - za pomocą przyrządu pomiaru okrągłości okrągłość (0-200) µm 0,04 µm M13 455,00 85 wzorzec współrzędnościowy (np. ISO typ E) - za pomocą profilometru parametr chropowatości Pt (0-400) µm 0,03 PTB M13 260,00 Wzorce sprawdzania WMP 86 płyta z kulami/otworami - za pomocą maszyny WMP współrzędne środków kul max (500 x 500) mm Q[0.8;1.5] µm, L w TAK m M ,00 87 płyta z kulami/otworami - za pomocą maszyny WMP współrzędne środków otworów max (500 x 500) mm Q[0.8;1.5] µm, L w TAK m M ,00 88 pręt z kulami - za pomocą maszyny WMP odległości kul 700 mm Q[0.54;0.99L] µm, L w m M13 455,00 cena za odcinek pręta z 2 kulami; za każdą kolejną kulę 1 stawka za 1 rbg Przyrządy pomiarowe 2-D, 3-D 89 współrzędnościowa maszyna pomiarowa WMP - błąd wymiaru za pomocą płytek wzorcowych 1000 mm Q[0.5;1L] µm, L w m P M ,00

13 90 współrzędnościowa maszyna pomiarowa WMP - błąd wymiaru za pomocą wzorca płytowego z kulami 1000 mm Q[0.5;1L] µm, L w m P M ,00 91 profilometr stykowy - za pomocą wzorców głębokości błąd wskazywanego wymiaru nierówności, płytki (skława pionowa) interferencyjnej i płytek wzorcowych Pt 100 µm, Ra 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) w zależności od poza - w zastosowanego przypadku PTB,P wzorca, np. 25 nm przyrządów dla Ra=0,8 µm stacjonarnych M13 390,00 92 profilometr stykowy - za pomocą wzorców geometrycznych (odstępów) błąd wskazywanego wymiaru (skława pozioma) Pt 100 µm, Ra 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) w zależności od poza - w zastosowanego przypadku PTB,P wzorca, np. 25 nm przyrządów dla Ra=0,8 µm stacjonarnych M13 325,00 93 profilometr stykowy - za pomocą płytki interferencyjnej błąd wskazywanego kształtu (prostoliniowości) Pt 100 µm, Ra 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) w zależności od poza - w zastosowanego przypadku PTB,P wzorca, np. 25 nm przyrządów dla Ra=0,8 µm stacjonarnych M13 325,00 94 profilometr stykowy - za pomocą wzorca współrzędnościowego błąd wskazywanego kształtu (układu współrzędnych) Pt 100 µm, Ra 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) w zależności od zastosowanego wzorca, np. 25 nm dla Ra=0,8 µm poza - w przypadku,p przyrządów stacjonarnych M13 325,00 95 profilometr stykowy - za pomocą wzorców materialnych chropowatości błąd wskazywanych parametrów chropowatości Pt 100 µm, Ra 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) w zależności od poza - w zastosowanego przypadku PTB,P wzorca, np. 25 nm przyrządów dla Ra=0,8 µm stacjonarnych M13 325,00 96 profilometr stykowy - za pomocą wzorców błąd przenoszenia geometrycznych (odstępów) Pt 100 µm, Ra 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) w zależności od poza - w zastosowanego przypadku PTB,P wzorca, np. 25 nm przyrządów dla Ra=0,8 µm stacjonarnych M13 325,00 Twarść 97 wgłębnik Vickersa - za pomocą mikroskopu z głowicą goniometryczną wymiar - kąt ( )º 5' M13 78,00 98 wgłębnik Vickersa - za pomocą passametru wymiar - średnica trzpienia (6,0 6,5) mm 0,001 mm M13 19,50

14 99 wgłębnik Vickersa - za pomocą mikroskopu warsztatowego niewspółosiowość (0 0,1) mm 0,002 mm M13 19, wgłębnik Vickersa - za pomocą mikroskopu warsztatowego wysokość części roboczej (0 0,40) mm 0,002mm M13 13, wgłębnik Knoopa - za pomocą mikroskopu z głowicą goniometryczną wymiar - kąty ( ) 5' M13 143, wgłębnik Knoopa - za pomocą passametru wymiar - średnica trzpienia (6,0 6,5) mm 0,001 mm M13 19, tulejka Shore'a (A, D) - za pomocą mikroskopu wymiar - średnica wewnętrzna (3±0,5) mm 0,002 mm M13 78, wgłębnik Shore'a (A, D) - za pomocą mikroskopu wymiar - średnica zewnętrzna trzpienia (2 4) mm 0,01mm M13 78, wgłębnik Shore'a (A, D) - za pomocą mikroskopu wymiar - wysokość trzpienia (1,5 2,5) mm 0,01mm M13 78, wgłębnik Shore'a (D) - za pomocą mikroskopu wymiar - promień trzpienia Shore D (0,08 0,12) mm 0,005mm M13 91, wgłębnik Shore'a (A) - za pomocą mikroskopu wymiar - średnica ścięcia trzpienia Shore A (0,75 0,85) mm 0,01 mm M13 78, tulejka Shore'a (A, D) - za pomocą mikroskopu wymiar - średnica zewnętrzna (15 20) mm 0,02 mm M13 39, wgłębnik Shore'a (A, D) - za pomocą mikroskopu z głowicą goniometryczną wymiar - kąt stożka (30±1)o; (35±2) 5' M13 78,00

15 Długość: Różne wymiary Współczynnik załamania światła 110 wzorzec refraktometryczny stały za pomocą goniometru (wzorcowanie) współczynnik załamania światła n = (1,2 2,2) 3 E-06 M12 390, wzorzec refraktometryczny stały za pomocą współczynnik załamania światła n = (1,4 1,7) 2 E-05 refraktometru (wzorcowanie) M12 390, wzorzec refraktometryczny ciekły za pomocą współczynnik załamania światła n = (1,3 1,7) 2 E-05 refraktometru (wzorcowanie) M12 390,00 Podana cena obejmuje wykonanie wzorcowania w jednej długości fali i w trzech temperaturach. Za każdą datkową długość fali (też trzy temperatury) należy liczyć 2 rbg pomnożone przez stawkę godzinową 113 wzorzec refraktometryczny ciekły za pomocą refraktometru (materiał odniesienia) współczynnik załamania światła n = (1,3 1,7) 2 E-05 M12 260,00 dla 10 ml 114 refraktometr typu Pulfricha współczynnik załamania światła n = (1,3 1,8) 2 E-05 P M12 390, refraktometr fotoelektryczny współczynnik załamania światła n = (1,3 1,7) 2 E-05 TAK M12 390, refraktometr wizualny współczynnik załamania światła n = (1,3 1,7) 1 E-04 TAK M12 260, refraktometr ręczny współczynnik załamania światła w = (0 75)% 0,01% M12 195, wzorzec polarymetryczny (kwarcowa płytka kontrolna) skręcalność optyczna (-10 40) 0,01 PTB M12 195,00

16 119 wzorzec polarymetryczny (materiał odniesienia) skręcalność optyczna 78,34º 78,36º 0,01 PTB M12 260,00 dla 100 ml 120 polarymetr fotoelektryczny skręcalność optyczna -90º 90º 0,001 PTB,P poza siedzibą wzorcowane są polarymetry typu PW; przy zgłoszeniu jednorazowo min. 3 przyrządów M12 390,00 przy wzorcowaniu poza siedzibą ceny licza się koszt delegacji. 121 polarymetr wizualny skręcalność optyczna 360º 0,03 PTB M12 260,00 Masa: Twarść Twarść 122 wzorzec twarści Rockwella I rzędu - za pomocą stanowiska wzorcowego twarści Rockwella I rzędu twarść Rockwella (20 88) HRA, (20 100) HRB, (20 70) HRC 0,3 HRA, 0,3 HRC, 0,4 HRB TAK M13 130, wzorzec twarści Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twarści Brinella twarść Brinella (32 218)HB1/10; (96 650)HB1/30; (16 109)HB2,5/31,25; (32 218)HB2,5/62,5; (96 650)HB2,5/187,5; (32 218)HB5/250; (96 650)HB5/750; (16 109)HB10/500; (32 218)HB10/1000; (96 650)HB10/3000 1%, 1%, 1%, 0,8%, 0,8%, 1%, 1%, 0,8%, 0,7%, 0,7% M13 156,00 cena za wzorcowanie dla skal powyżej HBW2,5/187,5. Poniżej tej skali i dla niej koszt większy datkowo o 0,4 stawka za 1 rbg 124 wzorzec twarści Rockwella - za pomocą twarść Rockwella stanowiska wzorcowego twarści Rockwella II rzędu (20 88) HRA, (20 100) HRB, (20 70) HRC 0,5 HRA, 0,5 HRC; 0,6 HRB TAK M13 117,00

17 125 wzorzec twarści Vickersa - za pomocą stanowiska twarść Vickersa wzorcowego twarści Vickersa (1,2+0,07/d(mm)) % dla ( )HV dla HV0,05 HV0,1; skal: HV0,05; HV0,1; (1,9+0,05/d(mm)) HV0,2; HV0,3; HV0,5; % dla TAK HV1; HV2; HV3; HV5; HV0,2 HV0,5; HV10; HV30; HV50; (1,2+0,02/d(mm)) HV100 % dla HV1 HV10; 2% dla HV30 HV100 M13 169,00 cena za wzorcowanie powyżej HV1. Poniżej HV1 koszt większy datkowo o 0,3 stawka za 1 rbg 126 wzorzec twarści Knoopa - za pomocą stanowiska wzorcowego twarści Vickersa z wgłębnikiem Knoopa twarść Knoopa ( )HK dla skal: HK0,1; HK0,5; HK1 2,8% M13 208, twarściomierz Brinella - za pomocą siłomierzy klasy 1 siła 9,807 N N 0,12 % P M13 65,00 tyczy jednego obciążenia 128 twarściomierz Brinella - za 0,0003 mm, 0,001 długość (0 1,0) mm; (1 7) mm pomocą wzorca kreskowego mm P M13 260,00 tyczy jednego powiększenia 129 twarściomierz Brinella - za pomocą wzorców twarści Brinella twarść Brinella <200 HB dla skal: HB2,5/31,25; HB2,5/62,5; HB5/250; HB10/1000; ( )HB dla skal: HB2,5/187,5; HB5/750; HB10/3000 0,02 P M13 260,00 dla jednej skali 130 twarściomierz Rockwella - za pomocą siłomierzy klasy 1 siła 29,42 N 1471 N 0,12 % P tylko w przypadku twarściomierzy uniwersalnych umożliwiających M13 pomiar twarści metodą Vickersa lub Brinella 65,00 tyczy jednego obciążenia 131 twarściomierz Rockwella - za pomocą urządzenia Kalrock długość (0 0,2) mm 0,0005 mm P tylko w przypadku twarściomierzy uniwersalnych umożliwiających pomiar twarści metodą Vickersa lub Brinella M13 260,00

18 132 twarściomierz Rockwella - za pomocą wzorców twarści Rockwella twarść Rockwella (70 88) HRA, (80 100) HRB, (20 70) HRC 0,5 HRC, 0,5 HRA, 0,6 HRB P tylko w przypadku twarściomierzy uniwersalnych umożliwiających M13 pomiar twarści metodą Vickersa lub Brinella 195,00 dla jednej skali 133 twarściomierz Vickersa - za pomocą siłomierzy klasy 1 siła (0,098 N 980,07) N 0,12 % P M13 65,00 tyczy jednego obciążenia 134 twarściomierz Vickersa - za pomocą wzorca kreskowego długość (0 1) mm 0,0003 mm P M13 260,00 tyczy jednego powiększenia 135 twarściomierz Vickersa - za pomocą wzorców twarści Vickersa twarść Vickersa ( ) HV dla skal: 8% dlahv0,05, 6 HV0,05; HV0,1; HV0,2; % dla HV0,1, 4 % HV0,3; HV0,5; HV1; dla HV0,2 HV0,5, HV2; HV3; HV5; HV10; 2% dla HV30; HV50; HV100 HV1 HV100 P M13 260,00 dla jednej skali 136 twarściomierz Knoopa - za pomocą siłomierzy klasy 1 siła 0,098 N 19,614 N 0,12% P M13 65,00 tyczy jednego obciążenia 137 twarściomierz Knoopa - za pomocą wzorca kreskowego długość (0 0,2) mm 0,0003 mm P M13 260,00 tyczy jednego powiększenia 138 twarściomierz Knoopa - za pomocą wzorca twarści Knoopa twarść Knoopa ( )HK0,1; 0,03 P M13 260,00 dla jednej skali 139 twarściomierz dynamiczny i inny - za pomocą wzorców twarść Brinella twarści Brinella ( )HB dla skal: HB2,5/187,5; HB10/3000 0,02 P M13 260, twarściomierz dynamiczny i inny - za pomocą wzorców twarść Rockwella twarści Rockwella (70 88) HRA, (80 100) HRB, (20 70) HRC 0,6 HRC, 0,6 HRA, 1,0 HRB P M13 195, twarściomierz dynamiczny i inny - za pomocą wzorców twarść Vickersa twarści Vickersa ( ) dla skal: HV30; HV10, HV5 0,02 P M13 260,00

19 142 twarściomierz Shore'a (A,D) - za pomocą wagi przesuwnikowej siła (0 100) Sh A, - odpowiada 0,55 8,065 N (20 100) ShD - odpowiada (8,9 44,5) N 0,2 Sh M13 260, próbka - za pomocą twarściomierza Brinella twarść Brinella HB1/10; HB1/30; HB2,5/31,25; HB2,5/62,5; HB2,5/187,5; HB5/250; HB5/750; HB10/500; HB10/100; HB10/3000 0,02 M13 260, próbka (70 88) - za pomocą twarść Rockwella twarściomierza Rockwella HRA, (80 100) HRB, (20 70) HRC 0,7 HRC, 0,7 HRA, 1,0 HRB poza - w przypadku gdy próbka stanowi,p część integralną maszyny M13 130, próbka - za pomocą twarściomierza Vickersa twarść Vickersa ( )HV dla skal: HV0,2; HV0,3; HV0,5; HV1; HV2; HV3; HV5; 2,5 % HV10; HV30; HV50; HV100 M13 260, próbka - za pomocą twarściomierza Knoopa twarść Knoopa HK0,1; HK1 2,8 % M13 260,00 Zakład Promieniowania i Drgań Lp. Przyrząd pomiarowy Wzorcowanie - wielkość mierzona Zakres pomiarowy/metoda Niepewność CMC Źródło spójności pomiarowej Miejsce realizacji** Uwagi tyczące miejsca realizacji Uwagi t. wzorcowania Lab. Cena całkowita za wzorcowanie Dodatkowe informacje t. ustalanej ceny Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne): Fotometria 1 Lampa wolframowa światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 3- lampowy) (5-3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK PTB M ,00 8,5 rbg-pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej)

20 2 Lampa wolframowa światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 4- lampowy) (5-3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK PTB M ,00 8,5 rbg-pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 3 Lampa wolframowa światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 5- lampowy) (5-3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK PTB M ,00 8,5 rbg-pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 4 Lampa wolframowa światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 3- lampowy) (5-3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK PTB M ,00 6,5 rbg-pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 5 Lampa wolframowa światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 4- lampowy) (5-3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK PTB M ,00 6,5 rbg-pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 6 Lampa wolframowa światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 5- lampowy) (5-3100) cd metoda z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK PTB M ,00 6,5 rbg-pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej)

21 7 Lampa wolframowa stabilnośc lampy wolframowej względem światłości M23 390,00 stabilizowanie jednej lampy 8 Lampa wolframowa strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 3- lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej teperaturze barwowej (5-3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES M ,00 5,5 rbg-pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2 rbg każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 9 Lampa wolframowa strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 4 - lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej teperaturze barwowej (5-3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES M ,00 5,5 rbg-pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2 rbg każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 10 Lampa wolframowa strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 5 - lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej teperaturze barwowe (5-3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES M ,00 5,5 rbg-pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 2 rbg każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) 11 Lampa wolframowa strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 3- lampowy); wzorcowanie przy napięciu 215 V (5-3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES M23 845,00 4,5 rbg-pierwsza lampa 1 rbg- każda następna lampa, 12 Lampa wolframowa strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 4- lampowy); wzorcowanie przy napięciu 215 V (5-3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES M23 975,00 4,5 rbg-pierwsza lampa 1 rbg- każda następna lampa, 13 Lampa wolframowa strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 5- lampowy); wzorcowanie przy napięciu 215 V (5-3000) lm metoda porównawcza z użyciem wzorca odniesienia od 1,5% TAK MIKES M ,00 4,5 rbg-pierwsza lampa 1 rbg- każda następna lampa, 14 Lampa wolframowa stabilnośc lampy wolframowej względem strumienia świetlnego M23 390,00 stabilizowanie jednej lampy

22 15 Luksomierze L-12, L-20, L- 20A, L-50. L-51, L-52, L- 100, RF-100, LS 100 natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 481,00 dla czterech punktów pomiarowych 16 Luksomierze L-12, L-20, L- 20A, L-50. L-51, L-52, L- 100, RF-100, LS 100 natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 559,00 dla pięciu punktów pomiarowych 17 Luksomierze L-12, L-20, L- 20A, L-50. L-51, L-52, L- 100, RF-100, LS 100 natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 650,00 dla sześciu punktów pomiarowych 18 Luksomierze L-12, L-20, L- 20A, L-50. L-51, L-52, L- 100, RF-100, LS 100 natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 754,00 dla siedmiupunktów pomiarowych 19 Luksomierze L-12, L-20, L- 20A, L-50. L-51, L-52, L- 100, RF-100, LS 100 natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 850,00 dla ośmiu punktów pomiarowych 20 Luksomierz Minolta i ULX firmy INS natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 650, ( ) lx metoda Fotometr precyzyjny typ z użyciem wzorca natężenie oświetlenia przy lampie 1105, fotometr Candelametr światłości i prawa wolframowej jako luksomierz odwrotności kwadratów Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 715,00 od 2% TAK M23 637,00 dla czterech punktów pomiarowych

23 Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz Luksomierz TES -1330, luksomierz Abatronic typ AB- 1301, luksomierz Sinometer typ LX-1010B Luksomierz TES -1330, luksomierz Abatronic typ AB- 1301, luksomierz Sinometer typ LX-1010B Luksomierz TES -1330, luksomierz Abatronic typ AB- 1301, luksomierz Sinometer typ LX-1010B Luksomierz TES -1330, luksomierz Abatronic typ AB- 1301, luksomierz Sinometer typ LX-1010B Luksomierz TES -1330, luksomierz Abatronic typ AB- 1301, luksomierz Sinometer typ LX-1010B natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 689,00 od 2% TAK M23 741,00 od 2% TAK M23 793,00 od 2% TAK M23 845,00 od 2% TAK M23 474,50 od 2% TAK M23 591,50 od 2% TAK M23 682,50 od 2% TAK M23 760,50 od 2% TAK M23 845,00 dla pięciu punktów pomiarowych dla sześciu punktów pomiarowych dla siedmiupunktów pomiarowych dla ośmiu punktów pomiarowych dla czterech punktów pomiarowych dla pięciu punktów pomiarowych dla sześciu punktów pomiarowych dla siedmiupunktów pomiarowych dla ośmiu punktów pomiarowych

24 32 Inne luksomierze nie wymienione w cenniku natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 611,00 dla czterech punktów pomiarowych 33 Inne luksomierze nie wymienione w cenniku natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 728,00 dla pięciu punktów pomiarowych 34 Inne luksomierze nie wymienione w cenniku natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 819,00 dla sześciu punktów pomiarowych 35 Inne luksomierze nie wymienione w cenniku natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 897,00 dla siedmiupunktów pomiarowych 36 Inne luksomierze nie wymienione w cenniku natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda z użyciem wzorca światłości i prawa odwrotności kwadratów od 2% TAK M23 975,00 dla ośmiu punktów pomiarowych 37 Komora świetlna natężenie oświetlenia przy różnych źródłach światła, współrzędne chromatyczności x, y różnych źródeł światła ( ) lx, ( ) K metoda z użyciem luksomierza i kolorymetru trójchromatycznego od 4% M ,00 38 Mierniki światła białego natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej ( ) lx metoda porównawcza z użyciem luksomierza wzorcowego od 4% TAK M23 455,00 39 Źródło oparte na lampie wolframowej luminancja dla źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK M23 650,00

25 40 Materiał fotoluminescencyjny luminancja materiału fotoluminescyjnego (0,3mcd/m2 1cd/m2) metoda bezpośrednia z użyciem miernika 0,10 wzorcowego luminancji wg PN-92/N /02 i DIN M23 390, jedna próbka 41 Materiał fotoluminescencyjny luminancja materiału fotoluminescyjnego (0,3mcd/m2 1cd/m2) metoda bezpośrednia z użyciem miernika 0,10 wzorcowego luminancji wg ISO i ISO M23 650, jedna próbka 42 Miernik luminancji: LM-10, Minolta LS 100, LS 110, Fotometr Candelametr jako miernik luminancji, miernik luminancji firmy Hagner luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 400) cd/m2 metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK M23 845,00 43 Mierniki luminancji: (L-100, RF-100) + PL1.RF- luminancja źródła opartego na 100,Fotometr firmy DELTA lampie wolframowej OHM jako miernik luminancji (1,5 400) cd/m2 metoda metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK M23 585,00 44 Mierniki luminancji: L-51 + PL-68 i CLM-200 luminancja źródła opartego na lampie wolframowej (1,5 400) cd/m2 metoda metoda z użyciem wzorca światłości i wzorca współczynnika przepuszczania od 3% TAK M23 715,00 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne): Właściwości odbiorników 45 Odbiornik szerokopasmowy widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego (0,01 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 PTB zakres ( ) nm co 50 nm M23 845,00 46 Odbiornik szerokopasmowy widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego (0,01 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 PTB zakres ( ) nm co 20 nm M ,00 47 Odbiornik szerokopasmowy widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego (0,01 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 PTB zakres ( ) nm co 50 nm M ,00

26 48 Odbiornik szerokopasmowy widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego (0,01 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 PTB zakres ( ) nm co 20 nm M ,00 49 Odbiornik szerokopasmowy widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego (0,01 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 PTB zakres ( ) nm co 12,5 nm M ,00 50 Odbiornik szerokopasmowy widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego (0,01 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 PTB zakres ( nm co 50 nm M ,00 51 Odbiornik szerokopasmowy widmowa czułość względem mocy odbiornika szerokopasmowego (0,01 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,01 PTB zakres ( nm co 25 nm M ,00 52 Dowolny odbiornik czułość względem mocy promieniowania laserowego (0,01 1) A/W metoda porównawcza bezpośrednia 0,40% TAK PTB jedna długość fali promieniowania laserowego M23 780,00 jedna długość fali promieniowania laserowego Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne): Widmowe właściwości emisyjne źródeł 53 Miernik UVA widmowe natężenie napromienienia przy źródle 365 nm (0,08 4,00) mw/cm2 metoda porównawcza z użyciem radiometru wzorcowego od 9% M23 455,00 Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne): Widmowe właściwości materiałów 54 Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika widmowy współczynnik przepuszczania przepuszczania kierunkowego kierunkowego τ wzorcowane materiałów neutralnych widmowo w odniesieniu wzorca pierwotnego 0,001 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) wzorcowanie jednego wzorca przy M21 71,50 jednej długości fali

27 55 Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego widmowy współczynnik współczynnika przepuszczania kierunkowego przepuszczania materiałów selektywnych kierunkowego τ wzorcowane widmowo w odniesieniu wzorca pierwotnego 0,001 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) wzorcowanie jednego wzorca przy M21 71,50 jednej długości fali 56 Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika widmowy współczynnik przepuszczania przepuszczania kierunkowego kierunkowego τ wzorcowane materiałów neutralnych widmowo w odniesieniu wzorca wtórnego 0,001 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) wzorcowanie jednego wzorca przy M21 58,50 jednej długości fali 57 Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego widmowy współczynnik współczynnika przepuszczania kierunkowego przepuszczania materiałów selektywnych kierunkowego τ wzorcowane widmowo w odniesieniu wzorca wtórnego 0,001 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) wzorcowanie jednego wzorca przy M21 58,50 jednej długości fali 58 Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0,1 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) dla każdego wzorca pomiar przy dwóch długościach fali (usługa standarwa) M21 585,00

28 59 Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0,1 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) dla każdego wzorca pomiar dla każdej następnej dlugości fali ponad usługę standarwą M21 195,00 60 Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego widmowy współczynnik współczynnika przepuszczania kierunkowego przepuszczania materiałów neutralnych widmowo kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie 0,1 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) dla każdego wzorca pomiar przy dwóch długościach fali (usługa standarwa) M21 585,00 61 Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego widmowy współczynnik współczynnika przepuszczania kierunkowego przepuszczania materiałów neutralnych widmowo kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie 0,1 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) dla każdego wzorca pomiar dla każdej następnej dlugości fali ponad usługę standarwą M21 195,00

29 62 Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0,1 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd dla każdego wzorca wykorzystywan pomiar przy dwóch y jest w pracy P długościach fali ciągłej (usługa laboratorium standarwa) pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz M21 780,00 W przypadku wzorcowania poza siedzibą ceny całkowitej za wzorcowanie należy liczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej 63 Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0,1 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd dla każdego wzorca wykorzystywan pomiar dla każdej y jest w pracy P następnej dlugości ciągłej fali ponad usługę laboratorium standarwą pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz M21 195,00 64 Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego widmowy współczynnik współczynnika przepuszczania kierunkowego przepuszczania materiałów neutralnych widmowo kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą 0,1 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd dla każdego wzorca wykorzystywan pomiar przy dwóch y jest w pracy P długościach fali ciągłej (usługa laboratorium standarwa) pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz M21 780,00 W przypadku wzorcowania poza siedzibą ceny całkowitej za wzorcowanie należy liczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej

30 65 Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego widmowy współczynnik współczynnika przepuszczania kierunkowego przepuszczania materiałów neutralnych widmowo kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą 0,1 1,000 Zakresy widmowe ( ) nm Niepewność widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego wyliczana jest z wielomianu dla gęstości optycznej z uwzględnieniem zależności τ(λ) = 10-D(λ) W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd dla każdego wzorca wykorzystywan pomiar dla każdej y jest w pracy P następnej dlugości ciągłej fali ponad usługę laboratorium standarwą pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz M21 195,00 66 Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu wzorca pierwotnego gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0 3 Abs Zakresy widmowe ( ) nm ( ) nm 0,00079 D² + 0,00097 D + 0,0025 dla ( ) nm 0, D 4 + 0,00042 D³ + 0,00011 D² + 0,00057 D + 0,0066 dla ( ) nm wzorcowanie jednego wzorca przy M21 71,50 jednej długości fali 67 Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu wzorca pierwotnego gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo 0 3 Abs Zakresy widmowe ( ) nm ( ) nm 0,00079 D² + 0,00097 D + 0,0025 dla ( ) nm 0, D 4 + 0,00042 D³ + 0,00011 D² + 0,00057 D + 0,0066 dla ( ) nm wzorcowanie jednego wzorca przy jednej długości fali M21 71,50 68 Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu wzorca wtórnego gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0 3 Abs Zakres widmowy ( ) nm 0,00079 D² + 0,00103 D + 0,0035 dla ( ) nm wzorcowanie jednego wzorca przy M21 58,50 jednej długości fali

31 69 Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu wzorca wtórnego gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo 0 3 Abs Zakres widmowy ( ) nm 0,00079 D² + 0,00103 D + 0,0035 dla ( ) nm wzorcowanie jednego wzorca przy M21 58,50 jednej długości fali 70 Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0 1 Abs Zakres widmowy ( ) nm 0,00083 D² + 0,0013 D + 0,0031 dla każdego wzorca pomiar przy dwóch długościach fali (usługa standarwa) M21 585,00 71 Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0 1 Abs Zakres widmowy ( ) nm 0,00083 D² + 0,0013 D + 0,0031 dla każdego wzorca pomiar dla każdej następnej dlugości fali ponad usługę standarwą M21 195,00 72 Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0 1 Abs Zakres widmowy ( ) nm 0,00083 D² + 0,0013 D + 0,0031 dla każdego wzorca pomiar przy dwóch długościach fali (usługa standarwa) M21 585,00 73 Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo 0 1 Abs Zakres widmowy ( ) nm 0,00083 D² + 0,0013 D + 0,0031 dla każdego wzorca pomiar dla każdej następnej dlugości fali ponad usługę standarwą M21 195,00