Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej INŻYNIERIA PRODUKCJI. Dr hab. inż. JAN FELBA Profesor nadzwyczajny PWr

Transkrypt

1 Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej INŻYNIERI PRODUKCJI Dr hab. inż. JN FELB Profesor nadzwyczajny PWr 1

2 PROGRM WYKŁDU WSTĘP ORGNIZCJ PRODUKCJI STEROWNIE PRODUKCJĄ LOGISTYK ZRZĄDZNIE JKOŚCIĄ, TQM KOMUNIKCYJNE SPEKTY ZRZĄDZNI PLNOWNIE DOŚWIDCZEŃ DOE INŻYNIERI JKOŚCI; PODEJŚCIE TGUCHI EGO SYSTEM ZRZĄDZNI JKOŚCIĄ ISO 2

3 ZSDY RCJONLNEJ ORGNIZCJI PROCESU PRODUKCYJNEGO ZSD LINIOWOŚCI MIRĄ OCENY LINIOWOŚCI JEST WSPÓŁCZYNNIK I L I l l l p rz, l p najkrótsza (w linii prostej) droga przemieszczania przedmiotów pracy, l rz rzeczywista droga ruchu przedmiotów (określana przy użyciu tzw. wykresów sznurkowych) ZSD CIĄGŁOŚCI I c O C t p C p C p P p Pp 1 1 W C O t okres technologiczny cyklu produkcyjnego, C p cykl produkcyjny, P p przerwy w cyklu produkcyjnym, p W p współczynnik przerw (przestoju) cyklu produkcyjnego, STOPIEŃ CIĄGŁOŚCI PROCESÓW PRODUKCYJNYCH MOŻN SCHRKTERYZOWĆ WSPÓŁCZYNNIKIEM I c 3

4 KOMPUTEROWO ZINTEGROWNE SYSTEMY WYTWRZNI CP (Computer ided Planning) KOMPUTEROWO WSPOMGNE PLNOWNIE PROCESÓW; TECHNICZNE PRZYGOTOWNIE PRODUKCJI DNE : GEOMETRI PRZEDMIOTU (WYMIRY, TOLERNCJE, TOPOLOGI Z PROGRMU CD); ILOŚĆ SZTUK, WIELKOŚĆ SERII, ITP. DNE OPISUJĄCE WYMGNI POZ GEOMETRYCZNE OKREŚLONE (MTERIŁ, ZLECNĄ OBRÓBKĘ, CHROPOWTOŚĆ POWIERZCHNI), DNE DOTYCZĄCE MSZYN TECHNOLOGICZNYCH KONIECZNYCH DL OTRZYMNI ZDNYCH CECH KONSTRUKCYJNYCH WYROBU ELEMENTY SZTUCZNEJ INTELIGENCJI (I) BZUJĄCE N SIECICH NEURONOWYCH SYSTEMY EKSPERTOWE 4

5 ISTOT STEROWNI PRODUKCJĄ STEROWNIE PRODUKCJĄ TO FUNKCJ KIEROWNI, I REGULCJI PRZEPŁYWU MTERIŁÓW OBEJMUJĄC CYKL WYTWRZNI, POCZĄWSZY OD OKREŚLENI ZPOTRZEBOWNI N SUROWCE, Ż PO DOSTWY PRODUKTU FINLNEGO STEROWNIE PRZEPŁYWEM PRODUKCJI PLNOWNIE PLNY OPERCYJNE : PRZYDZIELNIE ZDŃ PRODUKCYJNYCH, DOSTRCZNIE WYPOSŻENI NRZĘDZIOWEGO, MTERIŁÓW, INSTRUKCJI USTLENIE KOLEJNOŚCI I TERMINU WYKONYWNI ZDŃ, KTULIZCJ STNU ZWNSOWNI PRC, KOREKCJ PROGRMÓW, BDNI JKOŚCI WYKONNI, BDNIE POZIOMU KOSZTU RELIZCJI PLNY STRTEGICZNE PLNY TKTYCZNE : PLNY ZSOBÓW MTERIŁOWYCH I PRODUKCYJNYCH, PLNY STEROWNI JKOŚCIĄ PRODUKTÓW, PLNY UTRZYMNI RUCHU I NIEZWODNOŚCI URZĄDZEŃ, SIECI I INSTLCJI PRODUKCYJNYCH 5

6 ISTOT LOGISTYKI PODSTWOWE SKŁDNIKI PROCESÓW LOGISTYCZNYCH: FIZYCZNY PRZEPŁYW STRUKTUR RZECZOWYCH, PROCESY INFORMCYJNO- DECYZYJNE, UTRZYMYWNIE ZPSÓW RZECZOWYCH CELE LOGISTYKI: ZPEWNIENIE WŁŚCIWEGO POZIOMU OBSŁUGI KLIENT, UMOCNIENIE POZYCJI RYNKOWEJ, REDUKCJ KOSZTÓW. INFRSTRUKTUR PROCESÓW LOGISTYCZNYCH: ŚRODKI TECHNICZNE, TKIE JK BUDYNKI, BUDOWLE MGZYNOWE, ŚRODKI TRNSPORTU... KOSZTY LOGISTYCZNE 6

7 METODY I TECHNIKI ZRZĄDZNI JKOŚCIĄ DIGRM PRZYCZYNOWO-SKUTKOWY ISHIKWY PRZYCZYNY (5M) MNPOWER (SIŁ ROBOCZ, CZŁOWIEK) KWLIFIKCJE, PRZYZWYCZJENI, ZDOWOLENIE Z PRCY, STŻ, SMOPOCZUCIE ITP., METHOD (METOD) PROCEDURY, INSTRUKCJE, ZKRES OBOWIĄZKÓW, SPECYFIKCJE, NORMY, PRWO, REGUŁY, KNOW-HOW, TECHNOLOGI ITP., MCHINERY (MSZYN) LICENCJ, TRWŁOŚĆ, NOWOCZESNOŚĆ, WYDJNOŚĆ, PRECYZJ, BEZPIECZEŃSTWO, WRUNKI PRCY ITP., MTERIL (MTERIŁ) SUROWCE WEJŚCIOWE, PÓŁFBRYKTY, ELEMENTY, SUBSTYTUTY ITP., MNGEMENT (ZRZĄDZNIE, OTOCZENIE) STRUKTUR ORGNIZCYJN, ORGNIZCJ PRCY, ZMINOWOŚĆ, WRUNKI PRCY ITP. 7

8 METODY I TECHNIKI ZRZĄDZNI JKOŚCIĄ FME NLIZ SKUTKÓW I PRZYCZYN POTENCJLNYCH BŁĘDÓW 1. OBLICZENIE WSKŹNIK OCENY RYZYK C. Wskaźnik jest iloczynem P x Z x T i może wynosić od 1 do UPORZĄDKOWNIE MOŻLIWYCH BŁĘDÓW WEDŁUG ICH RNGI (sugerowanie kolejności działań naprawczych) 1. WSKZNI DZIŁŃ NPRWCZYCH (podjecie działań zapobiegawczych i korygujących w kolejności: wyeliminowania lub zminimalizowania prawdopodobieństwa wystąpienia błędu, zredukowania znaczenia błędu dla klienta do minimum, podwyższenie prawdopodobieństwa wykrycia błędu). GŁÓWNY NCISK NLEŻY POŁOŻYĆ N ZPOBIEGNIE BŁĘDU, NIE N ICH WYKRYWNIE I PÓŹNIEJSZE KORYGOWNIE 8

9 METODY I NRZĘDZI STTYSTYCZNE HISTOGRMY PRZYKŁD: wartości 4,6,7,9,8,12,9, ,7 - (n=46, min 4, max 21) ilość klas: 6 szerokość zakresu: 21-4 = 17+1 (!) szerokość klasy: 18/6 = 3 arkusz kreskowy sporządzenie histogramu z zaznaczeniem środków klasy 1. ZEBRNIE DNYCH POTRZEBNYCH DO WYKRESU (co najmniej n = 30 wartości) I POLICZENIE ILOŚCI PUNKTÓW POMIRU (n) 2. PODZIŁ ZKRESU POMIRU N KLSY 3. OKREŚLENIE SZEROKOŚĆ ZKRESU (ROZSTĘPU) RÓWNEGO RÓŻNICY POMIĘDZY WRTOŚCIĄ NJWIĘKSZĄ I WRTOŚCIĄ NJMNIEJSZĄ 4. USTLENIE SZEROKOŚCI KLSY = ROZSTĘP/LICZB KLS 5. SPORZĄDZENIE RKUSZU KRESKOWEGO

10 ROZWÓJ DoE PLNOWNIE DOŚWIDCZEŃ (Design of Experiments) JEST METODĄ STTYSTYCZNĄ WPROWDZONĄ PRZEZ Sir RONLD. FISHER W NGLII WE WCZESNYCH LTCH 20 UBIEGŁEGO WIEKU OPTYMLNE WRUNKI WYDJNOŚĆ UPRW NWDNINE, OPDY DESZCZU, SŁONECZN POGOD, NWOŻENIE, JKOŚĆ GLEBY DOŚWIDCZENI CZĘŚCIOWO-CZYNNIKOWE (lata 40) RSM (Responce Surface Modeling) (lata 50) JPONSKIE PROJEKTOWNIE JKOŚCI (lata 60-70); Genichi Taguchi PROJEKTOWNIE NUMERYCZNE tworzenie modelu numerycznego optymalizowanego obiektu, zaprojektowanie oraz wykonanie eksperymentu w oparciu o metodę projektowania doświadczeń, stworzenie przybliżonego modelu matematycznego odpowiedzi obiektu, w oparciu o procedurę analizy powierzchni odpowiedzi, optymalizacji wybranej funkcji celu, projektowania jakości w oparciu o analizę czułości odpowiedzi oraz analizę tolerancji. Obiekt prototypowy Model numeryczny Projektowanie eksperymentów naliza powierzchniowa odpowiedzi Obiekt zoptymalizowany 10

11 INTERPRETCJ WYNIKÓW UDZIŁ PROCENTOWY WRINCJ ZWIĄZN Z CZYNNIKIEM (INTERKCJĄ) ZWIER PEWIEN SKŁDNIK ZWIĄZNY Z BŁĘDEM V V V V V Ve e Vwartośćoczekiwanawariancji dlapojedynczegoczynika() V V -oczekiwanasumąkwadratówczynika() UDZIŁ PROCENTOWY P CZYNNIK P T 100% P e T 100% V e V e e T ( B C xb ) <15%! 50%? 11

12 LITERTUR 1. Czesław Skowronek, Zdzisław Sariusz-Wolski, Logistyka w przedsiębiorstwie, Polskie Wydawnictwo Ekonomiczne, Warszawa Marek Brzeziński (red), Organizacja i sterowanie produkcją; Projektowanie systemów i procesów sterowania produkcją, gencja Wydawnicza PLCET, Warszawa Dennis Lock, Podręcznik Zarządzania Jakością, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa Jarosław Witkowski (red), Logistyka w zarządzaniu przedsiębiorstwem, Wydawnictwo kademii Ekonomicznej we Wrocławiu, Wrocław Jenis J. Dahlgaard, Kai Kirstensen, Gopal K. Kanai, Podstawy zarządzania jakością, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa Piotr Blaik, Logistyka, Polskie Wydawnictwo Ekonomiczne, Warszawa Stanisław Nowosielski, Zarządzanie produkcją; ujęcie controllingowe, Wydawnictwo kademii Ekonomicznej we Wrocławiu, Wrocław Ranjit K. Roy, Design of experiments using the Taguchi approach, Jon Wiley & Sons, Inc, Jerzy Łańcucki (red), Podstawy kompleksowego zarządzania jakością TQM, Wydawnictwo kademii Ekonomicznej w Poznaniu, Poznań Michael R. Beauregard, Raymond J. Mikulak, Barbara. Olson, Experimenting for Breakthrough Improvement, Resource Engineering, Inc., Robin E. McDermott, Raymond J. Mikulak, Michael R. Beauregard, The basic of FEM, Resource Engineering, Inc., US Marvin. Moss, pplying TQM to product design and development, Marcel Dekker, Inc., Phillip J. Ross, Taguchi Techniques for Quality Engineering, McGraw-Hill Book Company L.M. Rumszycki, Matematyczne opracowanie wyników eksperymentu, Wydawnictwa Naukowo- Techniczne, Warszawa