MIKROSKOP ELEKTRONOWY
|
|
- Ludwika Przybylska
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 MIKROSKOP ELEKTRONOWY OPRACOWAŁ: MICHAŁ WCISŁO
2 MIKROSKOP ELEKTRONOWY 1) Ogólne informacje o mikroskopach elektronowych, - MIKROSKOP ELEKTRONOWY, przyrząd elektronooptyczne, w którym powiększony obraz przedmiotu otrzymuje się za pomocą wiązki elektronowej, odchylonej i skupionej przez soczewki elektronowe; pozwala uzyskać znacznie lepszą zdolność rozdzielczą niż mikroskop optyczny (do 0,2 nm), dzięki znacznie krótszej od fal świetlnych (o kilka rzędów wielkości) długości fal de Broglie'a odpowiadających elektronom (zdolność rozdzielcza mikroskopu elektronowego jest ograniczona przez efekty dyfrakcyjne). Najbardziej rozpowszechniony jest mikroskop elektronowy prześwietleniowy, w którym b. cienką (rzędu 10 nm) warstewkę badanego preparatu przenika skupiona wiązka elektronowa. Główną częścią mikroskopu elektronowego jest komora próżniowa; wyrzutnia elektronowa emituje wiązkę elektronów, które są przyspieszane polem o napięciu od kilku kv do kilku MV(najczęściej kv) i osiągają znaczną prędkość; wiązka elektronowa skupiona przez soczewki elektronowe, średnicy rzędu kilku do 10 µm, przenika przez badany preparat, a następnie zostaje powiększona przez układ soczewek elektronowych i pada na ekran fluorescencyjny lub błonę fot., tworząc b. silnie powiększony obraz prześwietlanego preparatu. Z punktu widzenia wykorzystywanego obrazu rozróżnia się mikroskopy elektronowe : 1) prześwietlające (najczęściej stosowane) ; 2) odbiciowe; 3) zwierciadlane; 4) emisyjne; 5) cieniowe. Z punktu widzenia sposobu tworzenia obrazu rozróżnia się : 1) m.e. oświetlające jednocześnie cały obraz; 2) m.e. rastrowe analizujące preparat punkt po punkcie ; 3) m.e. polowe. Mikroskopy elektronowe są wykorzystywane gł. w badaniach krystalograf., biol., med., a także w fizyce ciała stałego. Pierwszy mikroskop elektronowy zbudowali (wg. Idei mikroskopu optycznego) w 1931 Niemcy M. Knoll i E. Ruska; pierwszy mikroskop elektronowy użytkowy wyprodukowała 1938 firma Siemens. Porównanie mikroskopu elektronowego z mikroskopem optycznym: Metoda tworzenia powiększonego obrazu przedmiotu w prześwietleniowej mikroskopii optycznej i elektronowej oparta jest na podobnych zasadach optyki. W typowym mikroskopie optycznym światło żarówki zostaje skupione przez soczewkę kondensora (lub lustro wklęsłe) i przechodzi przez częściowo przeźroczysty preparat. Obraz preparatu jest następnie powiększany przez soczewki obiektywu, okularu i odtwarzany bezpośrednio na siatkówce ludzkiego oka. Podobnie tworzony jest obraz w prześwietleniowym mikroskopie elektronowym, jakkolwiek użyte promieniowanie (światło), rodzaj soczewek, jak tez warunki odtworzenia obrazu widocznego okiem obserwatora, różnią się dość istotnie. Tabela 1 zawiera cechy charakterystyczne zasady tworzenia obrazu w porównywanych typach mikroskopów:
3 Cecha urządzenia: Oświetlenie Tabela 1. Podobieństwa i różnice w mikroskopach optycznych i elektronowych Mikroskop optyczny, prześwietleniowy Światło widzialne, = nm x x, lub więcej Prześwietleniowy mikroskop elektronowy Wiązka elektronów, = 0,004 nm Maksymalne powiększenie Zdolność rozdzielcza 1 m do 0,22 nm Sposób obserwacji Bezpośredni pośredni (obraz tworzony jest na ekranie fluoryzującym) Preparaty Przeźroczyste optycznie Przeźroczyste dla wiązki elektronów (niekoniecznie przeźroczyste dla światła widzialnego) Stosowane soczewki Szklane, kwarcowe Elektromagnetyczne, elektrostatyczne BUDOWA MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO: Schemat układu optycznego prostego mikroskopu elektronowego działo elektronowe K1 V1 K2 P pompa dyfuzyjna Ob P Pr zbiornik próżni E V2 F pompa rotacyjna
4 Rys. 1. Uproszczony schemat prześwietleniowego mikroskopu elektronowego: K1, K2 soczewki kondensorowe, P preparat, Ob soczewka obiektywowa, P soczewka pośrednia, Pr soczewka projekcyjna, E ekran pokryty luminoforem, F kaseta z kliszami fotograficznymi, V zawory próżniowe 2. Wiązka elektronów Światło widzialne jest zastąpione w mikroskopii elektronowej wiązką elektronów, przyśpieszonych pod wpływem silnego pola elektrycznego. Źródłem elektronów jest tzw. działo elektronowe (rys.2). Niewielki drut wolframowy, wygięty w kształcie litery V, rozgrzany prądem do temperatury powyżej 1000 o C, emituje chmurę elektronów na skutek efektu termoemisji. Pomiędzy katodą, którą jest drut wolframowy, a anodą umieszczoną w dolnej części działa, wytworzona jest różnica potencjałów np V. Elektrony, które przeszły z katody do próżni, zostają przyśpieszone polem elektrostatycznym i skierowane w stronę otworu w anodzie. Skupienie wiązki osiąga się przez wykorzystanie pola elektrostatycznego wytworzonego przez tzw. cylinder Wehnelta, który znajduje się na drodze wiązki między katodą, a anodą. Jest to soczewka elektrostatyczna, wytwarzająca ujemne pole potencjału powodujące odpychanie ujemnie naładowanych elektronów. W efekcie, wiązka zostaje wstępnie skupiona i skierowana do dalszej części kolumny mikroskopu. Katoda Cylinder Wehnelta U p Anoda Wiązka elektronów Rys. 2. Schemat działa elektronowego Zgodnie z teorią dualizmu korpuskularno-falowego, każda cząstka materii posiadająca ładunek elektryczny i rozpędzona do prędkości bliskiej prędkości światła, wykazuje cechy fali elektromagnetycznej
5 o długości fali zależnej od jej masy i prędkości. Energia kinetyczna elektronu o masie m o poruszającego się z prędkością v wynosi E k mo v 2 2 Elektron o ładunku e, rozpędzony w polu potencjału wytworzonego przez napięcie przyśpieszające U p uzyskuje energię równą e U, czyli p e U p mo v 2 2 eu Można zatem wyliczyć przybliżoną prędkość elektronu: v 2 m Długość fali związanej z poruszającą się cząstką materii zgodnie z równaniem de Broigle a wynosi: m v Po podstawieniu do powyższego wzoru obliczonej prędkości elektronu, wartości stałej Plancka, wartości ładunku elektrycznego i masy spoczynkowej elektronu (m = m o ), otrzymamy po uproszczeniu wzór na długość fali 12,25 U p gdzie: - długość fali w [Å] Up napięcie przyspieszające w [V] Jest to wzór wyrażający przybliżoną wartość długości fali dla niezmiennej masy elektronu. Jednakże, przy napięciach większych od ok. 6 kv elektrony osiągają tak dużą prędkość, że zaczyna być zauważalny efekt relatywistycznego przyrostu ich masy. Masa elektronu rośnie wraz z jego prędkością: o p m m o v 1 c 2 2 Podstawiając powyższe równanie do równania de Broigle`a otrzymujemy wzór na długość fali uwzględniający relatywistyczny przyrost masy elektronów: U p 12,25 U p 1 1, Obliczając dla przykładu długość fali dla V otrzymamy = 0,004 nm
6 . 0,05 0,04 DŁUGOŚĆ FALI, A 0,03 0,02 m=f(u p ) 0,01 JEM 2010 U p =200 kv m=m o 0 0 0,5 1 1,5 2 NAPIĘCIE PRZYŚPIESZAJĄCE, MV Rys. 3. Wpływ napięcia przyśpieszającego na długość fali wiązki elektronowej 4. Budowa soczewki elektromagnetycznej Schemat budowy typowej soczewki elektromagnetycznej pokazany jest na rys. 4. Cewka, zasilana prądem stałym, obudowana jest płaszczem z materiału ferromagnetycznego. W środkowej części płaszcza utworzona jest szczelina, uniemożliwiająca pełne zamknięcie pola magnetycznego w płaszczu ferromagnetycznym. Końce szczeliny są biegunami magnesu N i S, wokół których w specyficzny sposób układają się linie sił pola magnetycznego. Kształt linii pola magnetycznego jest bardzo precyzyjnie ustalany przez nabiegunniki soczewki. Najmniejszy błąd wymiarowy, lub wada materiałowa w nabiegunnikach, może silnie zakłócić kształt pola magnetycznego i spowodować wadliwe działanie soczewki. Stabilność układu powiększającego wymaga bardzo wysokiej stabilizacji prądu soczewek, od którego zależy pole magnetyczne wytworzone w soczewkach. Również niewielkie wahania napięcia przyśpieszającego, zmieniając nieznacznie prędkość elektronów, mogą spowodować drgania obrazu na ekranie. Z tego powodu, napięcie przyśpieszające jest stabilizowane z dokładnością lepszą niż 0,1 V (zmiany napięcia nie powinny przekraczać ±10-6 wartości nominalnej). Podobnie wysoką dokładność stosuje się również przy stabilizacji prądu soczewek elektromagnetycznych.
7 x N N S S nabiegunniki cewka okrycie z materiału ferromagnetycznego Rys. 4. Schemat działania soczewki elektromagnetycznej: kąt odchylenia toru wiązki jest tym większy, im większa jest odległość x elektronu od osi układu 5. Układ próżniowy Wiązka elektronów może być emitowana w mikroskopie jedynie w warunkach wysokiej próżni. Próżnia we wnętrzu kolumny jest wytwarzana na drodze wielostopniowego pompowania za pomocą systemu pomp i zaworów kierujących kolejnymi etapami pompowania. Uproszczony schemat systemu próżniowego pokazano na rys. 1. W rzeczywistości system zaworów sterujących w układzie próżniowym jest bardziej złożony. Umożliwia on między innymi odpompowanie powietrza z wstępnej komory (śluzy) przez którą wprowadza się próbkę do wnętrza kolumny bez zapowietrzenia mikroskopu. W mimośrodowym wirniku pompy umieszczone są łopatki, którymi powietrze wtłaczane jest do otworu wylotowego ukrytego pod warstwa oleju. Olej ma na celu uszczelnienie zaworu, oraz układu łopatek i komory wewnętrznej. W ten sposób można osiągnąć próżnię ok Tr. Jest to jednak próżnia niewystarczająca do pracy mikroskopu. Dokładniejsze usunięcie resztek powietrza z kolumny uzyskuje się poprzez otwarcie zaworów łączących wnętrze kolumny z pompą dyfuzyjną i rotacyjną. Resztki gazów pompowane są wtedy przez pompę dyfuzyjna do zbiornika próżni, a stąd odciągane przez pompę rotacyjna na zewnątrz. Pompa dyfuzyjna wytwarza próżnię ok 10-4 Tr, co wystarcza do uzyskania sprzyjających warunków dla emisji wiązki elektronowej. Może ona jednak pracować tylko w warunkach wstępnej próżni wytworzonej przez pompę rotacyjną, poniżej 10-2 Tr. Zasada działania pompy (rys.5b) opiera się na zjawisku wytwarzania się różnicy ciśnień w strefach parowania i kondensacji par cieczy. W układzie pompy dyfuzyjnej, olej silikonowy znajdujący się w dolnym zbiorniku, jest podgrzewany do temperatury wrzenia i pary oleju wyrzucane są dyszami na boczne ścianki cylindra pompy. Na chłodzonych ściankach pompy, pary oleju zostają skroplone i ponownie
8 spływają do zbiornika. Ciągły obieg wrzenia i skraplania par oleju powoduje różnicę ciśnień między górnym a dolnym otworem pompy, dając efekt pompowania. Wśród nowoczesnych pomp wytwarzających wysoką próżnię, w systemach mikroskopów elektronowych wykorzystuje się często pompy jonowe lub molekularne (rys. 5c,d). Pompa jonowa jest podłączona bezpośrednio od kolumny mikroskopu i nie ma otworu odprowadzającego gazy na zewnątrz. Zasada działania pompy jonowej polega na jonizowaniu cząsteczek gazy pod wpływem wysokiego napięcia (5 kv) i adsorbowania ich przez gąbczastą metaliczną (tytanową) powierzchnię katod. Po dłuższym czasie, pompa jonowa ulega zatkaniu, ponieważ porowate nawierzchnie elektrod nie mogą już więcej wchłonąć gazu i wtedy należy przeprowadzić zabieg oczyszczenia katod przez podgrzanie ich w warunkach dostatecznie wysokiej próżni i uwolnienia zaadsorbowanych gazów. Pompy molekularne przypominają budowa zwykłe pompy wirnikowe, gdzie obracająca się turbina powoduje efekt pompowania gazu. Pompa molekularna pracuje jednak w wysokiej próżni wytworzonej wstępnie przez pompę rotacyjną. W związku z tym, turbinka wirnika może osiągać bardzo duże szybkości obrotowe, które umożliwiają mechaniczne wyrzucenie drobin gazu do wlotu pompy rotacyjnej. Zaletą pompy molekularnej, jak też jonowej, jest duża czystość próżni i zmniejszenie efektu kontaminacji na obserwowanych preparatach elektronomikroskopowych. a) b)
9 c) d) Rys. 5. Pompy stosowane w układach próżniowych mikroskopów elektronowych: a) pompa rotacyjna; b) pompa dyfuzyjna; d) pompa jonowa; e) pompa molekularna Porównanie mikroskopów TYP MIKROSKOPU ŚWIETLNY ELEKTRONOWY SKANINGOWY ELEKTRONOWY TRANSMISYJNY Emisja światło wiązka elektronowa wiązka elektronowa Ośrodek atmosfera próżnia(pon.10-4 Pa) próżnia(pon.10-5 Pa) Rozdzielczość 1 m 4 nm~ 0,2 nm~ Kontrast pochłanianie/odbicie efekt elektronów rozpraszanie dyfrakcja wtórnych Obiektyw obiektyw optyczny szklany obiektyw elektromagnetyczny obiektyw elektromagnetyczny Głębia ostrości płytka bardzo głęboka głęboka Metoda zmiany powiększenia wymiana obiektywu szerokość skanowania wzbudzanie powiększenia układu obiektywu Grubość próbki 0,5 m min 10 mm max 1 m max Przygotowanie próbki łatwe względnie łatwe niełatwe Mikroskop skaningowy Mikroskop skaningowy należy do grupy mikroskopów elektronowych, w których wiązka elektronów wytwarzana jest w podobny sposób, jak w przypadku TEM. Podobny jest również układ próżniowy, tak jak w każdym mikroskopie elektronowym. Wiązka, emitowana przez działo elektronowe, skupiona przez układ kondensora, następnie jest kierowana na powierzchnię masywnego preparatu. Preparatem może być zwykły zgład metalograficzny. Na drodze wiązki elektronów znajdują się elektromagnesy odchylające wiązkę w kierunku X-X i w kierunku do niego prostopadłym, Y-Y. Silnie skupiona wiązka, o średnicy 0,1-1 m biegnie po powierzchni preparatu podobnie jak plamka na ekranie telewizora. Jednak jej ruch po powierzchni próbki jest ograniczony do bardzo małych odległości X i Y. Obok próbki znajduje się licznik elektronów odbitych od powierzchni próbki, które wpadając do niego powodują powstanie sygnału prądowego. Sygnał jest wzmacniany elektronicznie i przesyłany do monitora TV, w którym intensywność świecenia plamki na ekranie jest proporcjonalna do sygnału z detektora. Plamka na kineskopie przesuwa
10 się z taką samą częstotliwością, jak wiązka po powierzchni próbki. Na monitorze zatem tworzy się obraz odpowiadający topografii powierzchni od której zostały odbite elektrony. Powiększenie obrazu w mikroskopie skaningowym jest równe stosunkowi szerokości ekranu monitora do szerokości pola, po którym przebiega wiązka skanująca powierzchnię próbki. Zmianę powiększenia uzyskuje się zmniejszając, lub zwiększając odchylenie wiązki biegnącej po powierzchni próbki w kierunku X i Y. Zdolność rozdzielcza mikroskopu zależy przede wszystkim od średnicy wiązki: im mniejsza wiązka, tym większą uzyskuje się rozdzielczość obrazu. Na ogół jednak, powiększenia uzyskiwane za pomocą mikroskopu skaningowego nie przekraczają jednak kilkudziesięciu tysięcy razy. Są znacznie mniejsze niż w przypadku mikroskopów prześwietleniowych. Wiązka elektronów padających na powierzchnię próbki nie tylko powoduje odbicie elektronów. Część elektronów zostaje pochłonięta, a utworzony prąd może być użyty do wytworzenia obrazu elektronów pochłoniętych. Obraz tworzy się na monitorze TV tak samo jak w poprzednim przypadku dla elektronów odbitych, z tym jednak, że intensywność świecenia plamki na monitorze jest związana z wartością prądu wiązki pochłoniętej. Padające na próbkę wysokoenergetyczne elektrony wybijają z atomów elektrony wtórne. Badanie widma promieniowania wtórnego i dyfrakcji elektronów wtórnych i odbitych dostarcza ciekawych informacji, m.in. o strukturze krystalograficznej materiału. Zastosowanie skaningowego mikroskopu skaningowego do badań metaloznawczych: 1. Duża głębia ostrości mikroskopu skaningowego czyni go szczególnie przydatnym do badań fraktograficznych czyli do badań topografii przełomów. Polegają one na obserwacji powierzchni przedmiotów utworzonych w wyniku działania naprężeń prowadzących do rozdzielenia materiału. Pozwala to poznać mechanizmy procesu pękania, ciągliwy, transkrystaliczny, zmęczeniowy.ponieważ pęknięcie rozwija się najczęściej w najbardziej osłabionych obszarach próbki, na przełomie mogą być ujawnione różne szczegóły strukturalne, np. wydzielenia obcych faz, wady materiałowe w postaci porów, pustek i mikropęknięć. Próbki do badań nie wymagają specjalnego przygotowania, stawiane są tylko ograniczenia co do ich wielkości. 2. Do badań morfologii powierzchni badanie jakości powierzchni powłok ochronnych badanie uszkodzeń warstwy wierzchniej różnych elementów do diagnozowania zniszczeń korozyjnych ogniska i produkty korozji 3. Badań struktury czyli budowy wewnętrznej tworzyw ( określenie mikrostruktury stopw, badanie jakości warstwy nawęglonej czy naazotowanej)
11 PRZEKRÓJ KOLUMNY MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO SKANINGOWEGO SME
12 DANE TECHNICZNE : Elektronowy Mikroskop Skaningowy JED TECHNICS LTD JAPAN JSM Zdolność rozdzielcza 4nm. Powiększenie x 15 do x Napięcie przyspieszające 0,5 do 30 kv. Rodzaj obrazu - tworzony z elektronów wtórnych. Odległość robocza (working distance) 8 do 48mm. Max wymiary preparatu: d = 76mm, h = 10mm. Jego najnowszy nastepca (JSM-6360) z calkowicie nowym rozwiazaniem kolumny, softwarem do obrobki obrazu i innymi mozliwosciami kosztuje od ,00 do ,- Euro w zaleznosci od wyposazenia. Wersja najdrozsza to JSM-6360LA (L- to symbol "low vacuum" - zmiennej prozni, A- analytical tzn wyposazony w spektrometr EDS do analizy ilosciowej i jakosciowej).
13 Jesli chodzi o mikroskopy skaningowe z emisja polowa to cena waha sie od ,00 do ,00 Euro w zaleznosci od przystawek. Dzis zainteresowanie mikroskopami skaningowymi tylko z wysoka proznia jest znacznie mniejsze. Wiekszosc Klientow chce miec (w miare posiadanych srodkow) mikroskopy ktore umozliwiaja prace w niskiej i wysokiej prozni.funkcja ta jest przelaczana przy pomocy przycisku. Daje to wieksze mozliwosci badawcze, preparaty niemetaliczne, ceramike, tekstylia, wlokna sztuczne mozna ogladac bez napylania i bez zadnego przygotoania nie zaburzajac struktur. Ma to oczywiscie tez bardzo duze znaczenie dla biologow, bo konstrukcja ta pozwala ogladac preparaty o duzym stopniu uwodnienia.
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach
Bardziej szczegółowoh λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Bardziej szczegółowoPromieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X
Promieniowanie X Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X Lampa rentgenowska Lampa rentgenowska Promieniowanie rentgenowskie
Bardziej szczegółowoAnalityczna mikroskopia elektronowa w badaniach struktury materiałów metalicznych
Artykuł ukazał się w popularno-naukowym czasopiśmie Fizyka w szkole, nr 6, str. 4-26, 2006, autor: Ludwik Błaż Analityczna mikroskopia elektronowa w badaniach struktury materiałów metalicznych 1. Wstęp
Bardziej szczegółowoL. Błaż: wykłady z przedmiotu Instrumentalne metody badawcze, rok III kursu magisterskiego studiów zaocznych, specjalność: przeróbka plastyczna
Analityczna mikroskopia elektronowa 1. Wstęp Metoda tworzenia powiększonego obrazu przedmiotu w prześwietleniowej mikroskopii optycznej i elektronowej oparta jest na podobnych zasadach optyki. W typowym
Bardziej szczegółowoŚwiatło fala, czy strumień cząstek?
1 Światło fala, czy strumień cząstek? Teoria falowa wyjaśnia: Odbicie Załamanie Interferencję Dyfrakcję Polaryzację Efekt fotoelektryczny Efekt Comptona Teoria korpuskularna wyjaśnia: Odbicie Załamanie
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoAnalityczna mikroskopia elektronowa w badaniach struktury materiałów metalicznych
Analityczna mikroskopia elektronowa w badaniach struktury materiałów metalicznych LUDWIK BŁAŻ 1. Wstęp Chcąc poznać szerzej otaczający nas świat, często sięgamy po takie narzędzia jak luneta lub nowoczesny
Bardziej szczegółowoPrzykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk
Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego mgr inż. Katarzyna Kasprzyk Mikroskop skaningowy Pierwszy mikroskop elektronowy transmisyjny powstał w 1931r
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz
Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie
Bardziej szczegółowoOPTYKA. Leszek Błaszkieiwcz
OPTYKA Leszek Błaszkieiwcz Ojcem optyki jest Witelon (1230-1314) Zjawisko odbicia fal promień odbity normalna promień padający Leszek Błaszkieiwcz Rys. Zjawisko załamania fal normalna promień padający
Bardziej szczegółowoFORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH
Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym
Bardziej szczegółowo39 DUALIZM KORPUSKULARNO FALOWY.
Włodzimierz Wolczyński 39 DUALIZM KORPUSKULARNO FALOWY. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE. FALE DE BROGILE Fale radiowe Fale radiowe ultrakrótkie Mikrofale Podczerwień IR Światło Ultrafiolet UV Promienie X (Rentgena)
Bardziej szczegółowoWYMAGANIA EDUKACYJNE Z FIZYKI
WYMAGANIA EDUKACYJNE Z FIZYKI KLASA III Drgania i fale mechaniczne Wymagania na stopień dopuszczający obejmują treści niezbędne dla dalszego kształcenia oraz użyteczne w pozaszkolnej działalności ucznia.
Bardziej szczegółowoElektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści
Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.
Bardziej szczegółowoĆw.6. Badanie własności soczewek elektronowych
Pracownia Molekularne Ciało Stałe Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Brygida Mielewska, Tomasz Neumann Zagadnienia do przygotowania: 1. Budowa mikroskopu elektronowego 2. Wytwarzanie wiązki
Bardziej szczegółowopobrano z serwisu Fizyka Dla Każdego - http://fizyka.dk - zadania z fizyki, wzory fizyczne, fizyka matura
12. Fale elektromagnetyczne zadania z arkusza I 12.5 12.1 12.6 12.2 12.7 12.8 12.9 12.3 12.10 12.4 12.11 12. Fale elektromagnetyczne - 1 - 12.12 12.20 12.13 12.14 12.21 12.22 12.15 12.23 12.16 12.24 12.17
Bardziej szczegółowo+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M.
Zwierciadło płaskie, prawo odbicia. +OPTYKA.stacjapogody.waw.pl K.M. Promień padający, odbity i normalna leżą w jednej płaszczyźnie, prostopadłej do płaszczyzny zwierciadła Obszar widzialności punktu w
Bardziej szczegółowoRuch ładunków w polu magnetycznym
Ruch ładunków w polu magnetycznym Ryszard J. Barczyński, 2016 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Ruch ładunków w polu magnetycznym
Bardziej szczegółowo17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.
OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C. 60 o
Bardziej szczegółowoRozładowanie promieniowaniem nadfioletowym elektroskopu naładowanego ujemnie, do którego przymocowana jest płytka cynkowa
Pokazy Rozładowanie promieniowaniem nadfioletowym elektroskopu naładowanego ujemnie, do którego przymocowana jest płytka cynkowa Zjawisko fotoelektryczne Zjawisko fotoelektryczne polega na tym, że w wyniku
Bardziej szczegółowoWyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona
Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. Termin: 23 III 2009 Nr. ćwiczenia: 412 Temat ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona Nr.
Bardziej szczegółowoWyznaczanie stosunku e/m elektronu
Ćwiczenie 27 Wyznaczanie stosunku e/m elektronu 27.1. Zasada ćwiczenia Elektrony przyspieszane w polu elektrycznym wpadają w pole magnetyczne, skierowane prostopadle do kierunku ich ruchu. Wyznacza się
Bardziej szczegółowoBADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego 1. MAKROSTRUKTURA 2. MIKROSTRUKTURA 3. STRUKTURA KRYSTALICZNA Makrostruktura
Bardziej szczegółowoWidmo fal elektromagnetycznych
Czym są fale elektromagnetyczne? Widmo fal elektromagnetycznych dr inż. Romuald Kędzierski Podstawowe pojęcia związane z falami - przypomnienie pole falowe część przestrzeni objęta w danej chwili falą
Bardziej szczegółowo- 1 - OPTYKA - ĆWICZENIA
- 1 - OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C.
Bardziej szczegółowoWzmacniacz wizji. Kineskop. Trafopowielacz Działo elektronowe. Cewki
Monitory CRT Nazwa i początki CRT- (ang. Cathode-Ray Tube) to przyjęte w języku polskim potoczne oznaczenie dla modeli monitorów komputerowych, których ekran oparty jest na kineskopie. W monitorach tego
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów
1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów
Bardziej szczegółowoZdolność rozdzielcza decyduje o możliwościach badawczych mikroskopów!
Zdolność rozdzielcza decyduje o możliwościach badawczych mikroskopów! Abbé E. (1873) wykazanie ograniczenia mikroskopii świetlnej przez długość użytej fali. Obiekt może być widoczny, jeśli jego rozmiary
Bardziej szczegółowoPrawa optyki geometrycznej
Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)
Bardziej szczegółowoDoświadczalne wyznaczanie ogniskowej cienkiej soczewki skupiającej
Doświadczalne wyznaczanie ogniskowej cienkiej skupiającej Wprowadzenie Soczewka ciało przezroczyste dla światła ograniczone zazwyczaj dwiema powierzchniami kulistymi lub jedną kulistą i jedną płaską 1.
Bardziej szczegółowoFIZYKA KLASA III GIMNAZJUM
2016-09-01 FIZYKA KLASA III GIMNAZJUM SZKOŁY BENEDYKTA Treści nauczania Tom III podręcznika Tom trzeci obejmuje następujące punkty podstawy programowej: 5. Magnetyzm 6. Ruch drgający i fale 7. Fale elektromagnetyczne
Bardziej szczegółowoRadioodbiornik i odbiornik telewizyjny RADIOODBIORNIK
Radioodbiornik i odbiornik telewizyjny RADIOODBIORNIK ODKRYWCA FAL RADIOWYCH Fale radiowe zostały doświadczalnie odkryte przez HEINRICHA HERTZA. Zalicza się do nich: fale radiowe krótkie, średnie i długie,
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 6 Elektronowy mikroskop transmisyjny w badaniach struktury metali metodą elektronograficzną Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zbadanie struktury
Bardziej szczegółowoVII. CZĄSTKI I FALE VII.1. POSTULAT DE BROGLIE'A (1924) De Broglie wysunął postulat fal materii tzn. małym cząstkom przypisał fale.
VII. CZĄSTKI I FALE VII.1. POSTULAT DE BROGLIE'A (1924) De Broglie wysunął postulat fal materii tzn. małym cząstkom przypisał fale. Światło wykazuje zjawisko dyfrakcyjne. Rys.VII.1.Światło padające na
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa
ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska
Bardziej szczegółowo6. Badania mikroskopowe proszków i spieków
6. Badania mikroskopowe proszków i spieków Najprostszy układ optyczny stanowią dwie współosiowe soczewki umieszczone na końcach tubusu (rysunek 42). Odwzorowanie mikroskopowe jest dwustopniowe: obiektyw
Bardziej szczegółowoScenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody
Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody 1. Wątek i TEMAT: B 31 Wyjście (wycieczka) do Pracowni Mikroskopii Skaningowej Nauk Biologicznych i Geologicznych.
Bardziej szczegółowoV OGÓLNOPOLSKI KONKURS Z FIZYKI Fizyka się liczy Eliminacje TEST 27 lutego 2013r.
V OGÓLNOPOLSKI KONKURS Z FIZYKI Fizyka się liczy Eliminacje TEST 27 lutego 2013r. 1. Po wirującej płycie gramofonowej idzie wzdłuż promienia mrówka ze stałą prędkością względem płyty. Torem ruchu mrówki
Bardziej szczegółowoLekcja 80. Budowa oscyloskopu
Lekcja 80. Budowa oscyloskopu Oscyloskop, przyrząd elektroniczny służący do badania przebiegów czasowych dla na ogół szybkozmiennych impulsów elektrycznych. Oscyloskop został wynaleziony przez Thomasa
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ
ĆWICZENIE 84 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ Cel ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali emisji lasera lub innego źródła światła monochromatycznego, wyznaczenie stałej siatki
Bardziej szczegółowoI. PROMIENIOWANIE CIEPLNE
I. PROMIENIOWANIE CIEPLNE - lata '90 XIX wieku WSTĘP Widmo promieniowania elektromagnetycznego zakres "pokrycia" różnymi rodzajami fal elektromagnetycznych promieniowania zawartego w danej wiązce. rys.i.1.
Bardziej szczegółowoDr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska
Podstawy fizyki Wykład 11 Dr Piotr Sitarek Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 3, Wydawnictwa Naukowe PWN, Warszawa 2003. K.Sierański, K.Jezierski,
Bardziej szczegółowoBadanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit
LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 5 Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami optycznymi. Badane elementy: Zestaw ćwiczeniowy Laser
Bardziej szczegółowoĆw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów
16 KATEDRA FIZYKI STOSOWANEJ PRACOWNIA FIZYKI Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów Wprowadzenie Mikroskop jest przyrządem optycznym dającym znaczne powiększenia małych przedmiotów
Bardziej szczegółowoMatura z fizyki i astronomii 2012
Matura z fizyki i astronomii 2012 Zadania przygotowawcze do matury na poziomie podstawowym 7 maja 2012 Arkusz A1 Czas rozwiązywania: 120 minut Liczba punktów do uzyskania: 50 Zadanie 1 (1 pkt) Dodatni
Bardziej szczegółowoTheory Polish (Poland)
Q3-1 Wielki Zderzacz Hadronów (10 points) Przeczytaj Ogólne instrukcje znajdujące się w osobnej kopercie zanim zaczniesz rozwiązywać to zadanie. W tym zadaniu będą rozpatrywane zagadnienia fizyczne zachodzące
Bardziej szczegółowo3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e22)
Wyznaczanie stosunku e/m(e) 157 3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e) Celem ćwiczenia jest wyznaczenie stosunku ładunku e do masy m elektronu metodą badania odchylenia wiązki elektronów w poprzecznym polu magnetycznym.
Bardziej szczegółowoKwantowe własności promieniowania, ciało doskonale czarne, zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne.
Kwantowe własności promieniowania, ciało doskonale czarne, zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne. DUALIZM ŚWIATŁA fala interferencja, dyfrakcja, polaryzacja,... kwant, foton promieniowanie ciała doskonale
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki wykład 8
Podstawy fizyki wykład 8 Dr Piotr Sitarek Katedra Fizyki Doświadczalnej, W11, PWr Optyka geometryczna Polaryzacja Odbicie zwierciadła Załamanie soczewki Optyka falowa Interferencja Dyfrakcja światła D.
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 53. Soczewki
Ćwiczenie 53. Soczewki Małgorzata Nowina-Konopka, Andrzej Zięba Cel ćwiczenia Pomiar ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiająca i rozpraszająca), obliczenie ogniskowej soczewki rozpraszającej.
Bardziej szczegółowoSpektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne
Bardziej szczegółowo!!!DEL są źródłami światła niespójnego.
Dioda elektroluminescencyjna DEL Element czynny DEL to złącze p-n. Gdy zostanie ono spolaryzowane w kierunku przewodzenia, to w obszarze typu p, w warstwie o grubości rzędu 1µm, wytwarza się stan inwersji
Bardziej szczegółowoKonkurs fizyczny szkoła podstawowa. 2018/2019. Etap wojewódzki
UWAGA: W zadaniach o numerach od 1 do 4 spośród podanych propozycji odpowiedzi wybierz i zaznacz tą, która stanowi prawidłowe zakończenie ostatniego zdania w zadaniu. Zadanie 1. (0 1pkt.) Podczas zbliżania
Bardziej szczegółowoŁukowe platerowanie jonowe
Łukowe platerowanie jonowe Typy wyładowania łukowego w zależności od rodzaju emisji elektronów z grzaną katodą z termoemisyjną katodą z katodą wnękową łuk rozłożony łuk z wędrującą plamką katodową dr K.Marszałek
Bardziej szczegółowoPODSTAWY MECHANIKI KWANTOWEJ
PODSTAWY MECHANIKI KWANTOWEJ De Broglie, na podstawie analogii optycznych, w roku 194 wysunął hipotezę, że cząstki materialne także charakteryzują się dualizmem korpuskularno-falowym. Hipoteza de Broglie
Bardziej szczegółowoInkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM
Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena
Bardziej szczegółowo( 5 4 ) Urządzenie do nanoszenia cienkich warstw metalicznych i/lub ceramicznych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 163335 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 289562 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 21. 03. 1991 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl5: C23C 14/56
Bardziej szczegółowoWidmo promieniowania
Widmo promieniowania Spektroskopia Każde ciało wysyła promieniowanie. Promieniowanie to jest składa się z wiązek o różnych długościach fal. Jeśli wiązka światła pada na pryzmat, ulega ono rozszczepieniu,
Bardziej szczegółowoFizyka kwantowa. promieniowanie termiczne zjawisko fotoelektryczne. efekt Comptona dualizm korpuskularno-falowy. kwantyzacja światła
W- (Jaroszewicz) 19 slajdów Na podstawie prezentacji prof. J. Rutkowskiego Fizyka kwantowa promieniowanie termiczne zjawisko fotoelektryczne kwantyzacja światła efekt Comptona dualizm korpuskularno-falowy
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)
LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik
Bardziej szczegółowo41P6 POWTÓRKA FIKCYJNY EGZAMIN MATURALNYZ FIZYKI I ASTRONOMII - V POZIOM PODSTAWOWY
41P6 POWTÓRKA FIKCYJNY EGZAMIN MATURALNYZ FIZYKI I ASTRONOMII - V Optyka fizyczna POZIOM PODSTAWOWY Dualizm korpuskularno-falowy Atom wodoru. Widma Fizyka jądrowa Teoria względności Rozwiązanie zadań należy
Bardziej szczegółowoCiało doskonale czarne absorbuje całkowicie padające promieniowanie. Parametry promieniowania ciała doskonale czarnego zależą tylko jego temperatury.
1 Ciało doskonale czarne absorbuje całkowicie padające promieniowanie. Parametry promieniowania ciała doskonale czarnego zależą tylko jego temperatury. natężenie natężenie teoria klasyczna wynik eksperymentu
Bardziej szczegółowoFizyka współczesna. Pracownia dydaktyki fizyki. Instrukcja dla studentów. Tematy ćwiczeń
Pracownia dydaktyki fizyki Fizyka współczesna Instrukcja dla studentów Tematy ćwiczeń I. Wyznaczanie stałej Plancka z wykorzystaniem zjawiska fotoelektrycznego II. Wyznaczanie stosunku e/m I. Wyznaczanie
Bardziej szczegółowoOptyka stanowi dział fizyki, który zajmuje się światłem (także promieniowaniem niewidzialnym dla ludzkiego oka).
Optyka geometryczna Optyka stanowi dział fizyki, który zajmuje się światłem (także promieniowaniem niewidzialnym dla ludzkiego oka). Założeniem optyki geometrycznej jest, że światło rozchodzi się jako
Bardziej szczegółowoPOMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak
POMIARY OPTYCZNE Wykład Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej Pokój 8/ bud. A- http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ OPTYKA GEOMETRYCZNA Codzienne obserwacje: światło
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej
Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki
Bardziej szczegółowoFizyka elektryczność i magnetyzm
Fizyka elektryczność i magnetyzm W5 5. Wybrane zagadnienia z optyki 5.1. Światło jako część widma fal elektromagnetycznych. Fale elektromagnetyczne, które współczesny człowiek potrafi wytwarzać, i wykorzystywać
Bardziej szczegółowoSpis treści. Historia
Mikroskop to instrument służący do obserwacji małych obiektów, zwykle niewidocznych gołym okiem (tzn. nie mieszczących się w zakresie rozdzielczości ludzkiego oka). Znamy obecnie m.in. mikroskopy optyczne,
Bardziej szczegółowoOptyka geometryczna MICHAŁ MARZANTOWICZ
Optyka geometryczna Optyka geometryczna światło jako promień, opis uproszczony Optyka falowa światło jako fala, opis pełny Fizyka współczesna: światło jako cząstka (foton), opis pełny Optyka geometryczna
Bardziej szczegółowoZjawisko Halla Referujący: Tomasz Winiarski
Plan referatu Zjawisko Halla Referujący: Tomasz Winiarski 1. Podstawowe definicje ffl wektory: E, B, ffl nośniki ładunku: elektrony i dziury, ffl podział ciał stałych ze względu na własności elektryczne:
Bardziej szczegółowoLaboratorium z Krystalografii. 2 godz.
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium z Krystalografii 2 godz. Zbadanie zależności intensywności linii Kα i Kβ promieniowania charakterystycznego X emitowanego przez anodę
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki wykład 2
D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,
Bardziej szczegółowoNOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
Bardziej szczegółowoMetody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT
Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl
Bardziej szczegółowoIII. EFEKT COMPTONA (1923)
III. EFEKT COMPTONA (1923) Zjawisko zmiany długości fali promieniowania roentgenowskiego rozpraszanego na swobodnych elektronach. Zjawisko to stoi u podstaw mechaniki kwantowej. III.1. EFEKT COMPTONA Rys.III.1.
Bardziej szczegółowoS P E K T R O S K O P S Z K O L N Y P R Y Z M A T Y C ZN Y 1
Przeznaczenie S P E K T R O S K O P S Z K O L N Y P R Y Z M A T Y C ZN Y 1 Spektroskop szkolny służy do demonstracji i doświadczeń przy nauczaniu fizyki, zarówno w gimnazjach jak i liceach. Przy pomocy
Bardziej szczegółowoLaboratorium z Krystalografii. 2 godz.
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium z Krystalografii 2 godz. Zbadanie zależności intensywności linii Ka i Kb promieniowania charakterystycznego X emitowanego przez anodę
Bardziej szczegółowoWiązka elektronów: produkcja i transport. Sławomir Wronka
Wiązka elektronów: produkcja i transport Szkoła Fizyki Akceleratorów Medycznych, Świerk 2007 Ruch cząstki w polu elektrycznym 2 Pole elektryczne powoduje zmianę energii kinetycznej mv 2 mv02 = q U 2 2
Bardziej szczegółowoSkaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl.
Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/15/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego ARKUSZ INFORMACJI TECHNICZNEJ Wszystkie parametry podane
Bardziej szczegółowoĆw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów
16 K A T E D R A F I ZYKI S T O S O W AN E J P R A C O W N I A F I Z Y K I Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów Wprowadzenie Mikroskop jest przyrządem optycznym dającym znaczne powiększenia
Bardziej szczegółowoWykład Budowa atomu 2
Wykład 7.12.2016 Budowa atomu 2 O atomach cd Model Bohra podsumowanie Serie widmowe O czym nie mówi model Bohra Wzbudzenie, emisja, absorpcja O liniach widmowych Kwantowomechaniczny model atomu sformułowanie
Bardziej szczegółowoOpis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki.
Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki. 1. Równanie soczewki i zwierciadła kulistego. Z podobieństwa trójkątów ABF i LFD (patrz rysunek powyżej) wynika,
Bardziej szczegółowozadania zamknięte W zadaniach od 1. do 10. wybierz i zaznacz jedną poprawną odpowiedź.
zadania zamknięte W zadaniach od 1. do 10. wybierz i zaznacz jedną poprawną odpowiedź. Zadanie 1. (1 p.) Wybierz ten zestaw wielkości fizycznych, który zawiera wyłącznie wielkości skalarne. a. ciśnienie,
Bardziej szczegółowoZwierciadło kuliste stanowi część gładkiej, wypolerowanej powierzchni kuli. Wyróżniamy zwierciadła kuliste:
Fale świetlne Światło jest falą elektromagnetyczną, czyli rozchodzącymi się w przestrzeni zmiennymi i wzajemnie przenikającymi się polami: elektrycznym i magnetycznym. Szybkość światła w próżni jest największa
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Zagadnienia optyki"
Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.
Bardziej szczegółowoFala jest zaburzeniem, rozchodzącym się w ośrodku, przy czym żadna część ośrodka nie wykonuje zbyt dużego ruchu
Ruch falowy Fala jest zaburzeniem, rozchodzącym się w ośrodku, przy czym żadna część ośrodka nie wykonuje zbyt dużego ruchu Fala rozchodzi się w przestrzeni niosąc ze sobą energię, ale niekoniecznie musi
Bardziej szczegółowoMAGNETYZM. PRĄD PRZEMIENNY
Włodzimierz Wolczyński 47 POWTÓRKA 9 MAGNETYZM. PRĄD PRZEMIENNY Zadanie 1 W dwóch przewodnikach prostoliniowych nieskończenie długich umieszczonych w próżni, oddalonych od siebie o r = cm, płynie prąd.
Bardziej szczegółowo12.Opowiedz o doświadczeniach, które sam(sama) wykonywałeś(aś) w domu. Takie pytanie jak powyższe powinno się znaleźć w każdym zestawie.
Fizyka Klasa III Gimnazjum Pytania egzaminacyjne 2017 1. Jak zmierzyć szybkość rozchodzenia się dźwięku? 2. Na czym polega zjawisko rezonansu? 3. Na czym polega zjawisko ugięcia, czyli dyfrakcji fal? 4.
Bardziej szczegółowoSCENARIUSZ LEKCJI Z WYKORZYSTANIEM TIK
SCENARIUSZ LEKCJI Z WYKORZYSTANIEM TIK Temat: Soczewki. Zdolność skupiająca soczewki. Prowadzący: Karolina Górska Czas: 45min Wymagania szczegółowe podstawy programowej (cytat): 7.5) opisuje (jakościowo)
Bardziej szczegółowoWyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego
Ćwiczenie O5 Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego O5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wykorzystanie zjawiska dyfrakcji i interferencji światła do wyznaczenia rozmiarów
Bardziej szczegółowoPromieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne
Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub
Bardziej szczegółowoPodstawowe właściwości elektronu
Podstawowe właściwości elektronu Ładunek elektronu (e) (-)1.602 x 10-19 C 1 ev 1.602 x 10-19 J Masa spoczynkowa m o Energia kinetyczna (ładunek x różnica potencjałów) Stała Plancka Szybkość światła w próżni
Bardziej szczegółowoMAGNETYZM, INDUKCJA ELEKTROMAGNETYCZNA. Zadania MODUŁ 11 FIZYKA ZAKRES ROZSZERZONY
MODUŁ MAGNETYZM, INDUKCJA ELEKTROMAGNETYCZNA OPRACOWANE W RAMACH PROJEKTU: FIZYKA ZAKRES ROZSZERZONY WIRTUALNE LABORATORIA FIZYCZNE NOWOCZESNĄ METODĄ NAUCZANIA. PROGRAM NAUCZANIA FIZYKI Z ELEMENTAMI TECHNOLOGII
Bardziej szczegółowoPRZEDMIOTOWY SYSTEM OCENIANIA Z FIZYKI
PRZEDMIOTOWY SYSTEM OCENIANIA Z FIZYKI Ogólne kryteria oceniania z fizyki: 1) stopień celujący otrzymuje uczeń, który: - w wysokim stopniu opanował wiedzę i umiejętności z fizyki określone programem nauczania,
Bardziej szczegółowoPDF stworzony przez wersję demonstracyjną pdffactory
Promieniowanie elektromagnetyczne (fala elektromagnetyczna) rozchodzące się w przestrzeni zaburzenie pola elektromagnetycznego. Zaburzenie to ma charakter fali poprzecznej, w której składowa elektryczna
Bardziej szczegółowoInterferencja i dyfrakcja
Podręcznik zeszyt ćwiczeń dla uczniów Interferencja i dyfrakcja Politechnika Gdańska, Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej ul. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk, tel. +48 58 348 63 70 http://e-doswiadczenia.mif.pg.gda.pl
Bardziej szczegółowoInterferencja i dyfrakcja
Podręcznik metodyczny dla nauczycieli Interferencja i dyfrakcja Politechnika Gdańska, Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej ul. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk, tel. +48 58 348 63 70 http://e-doswiadczenia.mif.pg.gda.pl
Bardziej szczegółowo